JP3829522B2 - 画像形成装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、独立に制御可能な複数の発光素子を用いた複写機やプリンター等の画像形成装置に関し、特に、発光素子アレイ中に不良素子が存在しても、画質劣化の防止が可能な画像形成装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年電子写真方式による光プリンターやデジタル複写機等の画像形成装置の画像品質の向上が要求され、印字画像の高精度化、すなわち解像度等の向上および高速化が進んでいる。
【0003】
このような従来の画像形成装置としては、例えば、特開平9−200431号公報に示されるものがある。この画像形成装置は、複数の面発光半導体レーザを2次元的に配列させたレーザアレイと、レーザアレイに駆動信号を出力して画像信号に応じて変調された複数のレーザ光を複数の面発光半導体レーザから出射させる駆動回路と、レーザアレイから出射されるレーザ光を感光体上に結像させて複数の光スポットを形成する拡大光学系とを有する。面発光半導体レーザは、LEDや蛍光表示管に比べて発光強度が強く、面発光半導体レーザを2次元的に配列させることにより、光スポットを高密度に集積化することが可能となるため、さらなる高解像度化、高速化には、大変有効なものといえる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、従来の画像形成装置によると、面発光半導体レーザの発光パターンを感光体に結像して画像を形成しているため、レーザアレイ中に発光しない半導体レーザ(不良素子)が1個でも存在すると、それが画質欠陥として現れてしまうという問題がある。この不良素子は、製造過程で発生するだけでなく、使用中においてもレーザアレイの劣化や破壊によって発生する。
一方、不良素子の存在しないレーザアレイを高歩留まりで製造することは難しく、コスト高を招くという問題ある。特に、高記録密度に対応した多数の発光素子を有するアレイの場合にその問題が大きい。
【0005】
従って、本発明の目的は、発光素子アレイ中に不良素子が存在しても、画質劣化の防止が可能な画像形成装置を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記目的を達成するため、複数の発光素子を有する発光素子アレイを備えた画像形成装置において、前記複数の発光素子に駆動電流を供給する複数の電流源と、スイッチング動作により前記複数の電流源からの前記駆動電流の供給経路を切り換えるスイッチ回路と有する駆動手段と、前記複数の発光素子のうち発光不良となった不良素子に隣接する前記発光素子への駆動電流を、前記画像信号に応じて前記スイッチ回路を制御して前記複数の電流源からの前記駆動電流の供給経路を切り換えることにより変更する制御手段とを備えたことを特徴とする画像形成装置を提供する。上記構成によれば、不良素子に隣接する発光素子への駆動電流を画像信号に応じて変更することにより、不良素子が発光するべき光量分を隣接する発光素子が発光することが可能になる。
【0007】
【発明の実施の形態】
図1は、本発明の第1の実施の形態に係る画像形成装置を示す。この画像形成装置1は、光ビームを出射する複数のレーザ素子2aからなるレーザアレイ2と、レーザアレイ2から出射された光ビームを整形して感光体ドラム4の表面に結像させるフィールドレンズ3Aおよび結像レンズ3Bからなる拡大光学系3と、図示しない駆動装置によって回転する感光体ドラム4と、レーザアレイ2を駆動するアレイ駆動回路5と、アレイ駆動回路5を制御する光量制御部7とを有する。なお、同図において、Xは主走査方向、Yは副走査方向、Zは光軸方向をそれぞれ示す。
【0008】
図2は、レーザアレイ2を示す。このレーザアレイ2は、行方向(主走査方向)Xにn個、主走査方向Xに対して所定の角度θを有する列方向Y′にm個の計n×m個(例えば、1200×12個)のレーザ素子2a、例えば面発光半導体レーザを2次元状に配列したものである。
【0009】
図3は、アレイ駆動回路5および光量制御部7を示す。このアレイ駆動回路5は、列単位でレーザ素子2aを選択駆動する列選択用ドライバー回路群50と、行単位でレーザ素子2aを選択駆動する行選択用ドライバー回路51と、列選択信号SR1 , SR2 ,...,SRn を出力して列選択用ドライバー回路群50を制御する列制御回路52とを備える。
【0010】
列選択用ドライバー回路群50は、複数の列選択用のドライバー回路501 , 502 ,...,50n から構成されている。
【0011】
行選択用ドライバー回路51は、レーザアレイ2の各行に対応して設けられた電流源IS1 ,IS2 ,...,ISm-1 ,ISm と、電流源IS1 〜ISm と複数の発光素子2aとの間に設けられたスイッチ回路510とを備える。スイッチ回路510は、電流源IS1 〜ISm にそれぞれ直列に接続された第1のスイッチSW11 〜SW1m および第2のスイッチSW21 〜SW2m と、第1のスイッチSW11 〜SW1m と第2のスイッチSW21 〜SW2m との接続点間を接続する接続線5112 〜511m と、接続線5112 〜511m に設けられた第3のスイッチSW32 〜SW3m とを備える。
【0012】
第1のスイッチSW11 〜SW1m は、画素データに応じて開閉されるものである。第2のスイッチSW21 〜SW2m は、対応する行に不良素子が存在する場合に、不良素子が発光すべき期間になると開き、それ以外のときは閉じているものである。なお、第2のスイッチSW21 〜SW2m を開いたときは、レーザ素子2aのアノード線がフローティング状態となるので、図示しないスイッチ等でGNDレベルに接続するのよい。第3のスイッチSW32 〜SW3m は、隣接する電流源IS1 〜ISm の出力を接続するものであり、隣接する一対の行のうち一方の行に不良素子が存在する場合に、不良素子が発光すべき期間になると閉じるものである。なお、隣接する第3のスイッチSW3は、本実施の形態では、同時に閉じないように制御しているが、制御の簡略化のために1つ置きに配置してもよい。
【0013】
レーザ素子2aのアノードは、同一列に配置されるレーザ素子2a毎に共通線551 , 552 , ...,55n に接続されており、各列毎に対応する列選択用のドライバー回路501 〜50n に接続されている。レーザ素子2aのカソードは、同一行に配置されるレーザ素子2a毎に共通線561 , ...,56m-1 ,56m に接続されており、スイッチ回路510を介して各行毎に対応する電流源IS1 〜ISm に接続されている。
【0014】
列制御回路52は、例えば、シフトレジスタ回路等によって列選択用のドライバー回路501 〜50n を順次ON/OFFするものである。
【0015】
光量制御部7は、画像データを記憶する画像メモリ70と、光ビームの光量が所定の値に達しないレーザ素子2a(以下「不良素子」という。)の位置情報を記憶する不良素子メモリ71と、画像メモリ70に記憶されている画像データ、および不良素子メモリ71に記憶されている不良素子の位置情報に基づいて、行選択信号SCを出力して行選択用ドライバー回路51を制御する行制御回路72とを備える。行制御回路72は、不良素子に隣接する発光素子2aへの駆動電流を不良素子の画像データに応じて変更するものである。
【0016】
図4は、第1,第2および第3のスイッチSW1,SW2,SW3の動作を示す。ここで、図3のLD(m−1,1)で示すレーザ素子2aが発光不良の場合の動作を説明する。説明を簡単にするために、画素データは、すべて”1”であり、LDは、すべてシーケンスに従って発光するものとする。
【0017】
列制御回路52は、列選択信号SR1 〜SRn を図4に示すタイミングで列選択用のドライバー回路501 〜50n に出力してドライバー回路501 〜50n を順次ON/OFFする。列選択用のドライバー回路501 〜50n は、レーザ素子2aのアノードに所定の供給電流を供給する。光量制御部7の行制御回路72は、画像メモリ70に記憶されている画像データ、および不良素子メモリ71に記憶されている不良素子の位置情報に基づいて、行選択信号SCを出力してスイッチ回路510の第1,第2および第3のスイッチSW1,SW2,SW3を図4に示すタイミングで開閉させる。
【0018】
列選択信号SR1 によって第1列のLD(1,1)〜LD(m,1)が選択される。画素データはすべて”1”であるから、行制御回路72からの行選択信号SCにより、スイッチ回路510の第1のスイッチSW11 〜SW1m は、すべて閉じる。一方、第2のスイッチSW2m-1 は、対応する2行目に不良素子LD(m−1,1)が存在するため、開いたままとなり、第2のスイッチSW2m を含む他の第2のスイッチSW2は、対応する行に不良素子が存在しないので、閉じる。さらに、LD(m−1,1)が不良であるため、第3のスイッチSW3m を閉じ、不良素子に隣接するLD(m,1)で示すレーザ素子2aには、電流源ISm からの電流と電流源ISm -1からの電流の合成電流が流れる。電流源IS1 〜ISm とドライバ回路501 から電流が供給された第1列目のレーザ素子2aは、発光して光ビームを出射する。レーザ素子2aの出射光は、拡大光学系3を介して感光体4の表面に結像し、列方向Y’にm個分の光スポットからなる静電潜像を形成する。
【0019】
次に、第2列が選択されるが、第2列には不良素子が存在しないため、第3のスイッチSW3m を開き、第2のスイッチSW2はすべて閉じる。画像データに依存する第1のスイッチSW1は、すべて閉じる。これにより各LDは対応した行に接続されている電流源SI1 〜SIm の電流によって駆動され、発光する。以降列を順に走査し、再び第1列が選択されるときは先に示した補正を行う。このようにしてレーザ素子2aから出射した光ビームを主走査方向Xと列方向Y′に走査することで、感光体4の表面に約14400個の光スポットからなる1枚分の静電潜像が形成される。
【0020】
図5は、感光体ドラム4上の光スポットパターンを示す。副走査方向Yのレーザ素子2aの間隔をL、拡大光学系3の倍率をAとすると、同一列内を同時発光させた場合の感光体ドラム4上の光スポットの潜像も同図に示すように副走査方向YにA×Lだけ離れた位置に形成される。主走査線4aの走査間隔をdとすると、(A×L÷d)回副走査方向Yに発光を繰り返すことにより主走査方向Xに隣り合う光スポットの潜像を形成することができる。従って、主走査線4aの間隔の整数倍になるように拡大光学系3の倍率、およびレーザ素子2aの間隔Lを設計し、列の走査開始間隔がdに等しくなるよう走査を繰り返せば、主走査方向X1ライン分の光スポットの潜像の形成が行える。
【0021】
図6は、レーザ素子2aの駆動電流と光量との関係を示す。不良素子LD(m−1,1)に隣接するLD(m,1)が同図に示すようなI−L特性を持つとすると、電流源ISm の電流値をI1 、電流源ISm-1 の電流値をI2 −I1 とすると、合成電流値は、I2 となり、LD(m,1)は、2倍の光量2Pで発光することになる。これにより、隣接した2素子の光量の和は、不良素子がある場合とない場合で等しく2Pとなる。
【0022】
図7(a),(b)は、同一列上に配置されているレーザ素子2aの数が4個の場合の印字結果を示す。同一列上に不良素子がない場合は、同一列上の4つのレーザ素子2aによって感光体ドラム4上に形成される光スポット8は、4×4のマトリックス状になり、同図(a)に示すように、記録用紙に4×4のマトリックスで描画される。同一列上に1つの不良素子がある場合は、同図(b)に示すように、1列分ドットが欠けた状態で描画される。この場合は、不良素子に隣接するレーザ素子2aの電流値は、先に示したように2つの素子の光量に対応しているので、不良素子による画像欠陥は目立たなくなる。
【0023】
表1は、第1の実施の形態におけて、全画素データが”1”ではない場合の補正側のLDに流れる電流値の様子を示す。
【表1】
【0024】
この表1は、隣接するLD(m,1)とLD(m−1,1)においてLD(m−1,1)が不良の場合のLD(m,1)に流れる電流値を画素データに対応して示している。これによれば、不良素子であるLD(m−1,1)のみが発光しなければならない場合においても、隣接のLD(m,1)が発光するので画質劣化は目立たなくなる。
【0025】
なお、光源に2次元アレイを用いた場合には、隣接する素子による感光体ドラム4上の光スポット8は、図5に示したように、副走査方向Yに離れて形成されるので、本方式によって補正する場合には図示しない制御回路によって、不良素子の画像データを予め隣接素子と隣り合うようにシフトしている。例えば、4副走査ライン分離れているとすれば、4副走査ライン分だけデータをシフトしておかなければならない。
【0026】
図8は、本発明の第2の実施の形態に係るアレイ駆動回路を示す。このアレイ駆動回路5は、隣接する電流源IS1 〜ISm の間に補助電流源IS’2 〜IS’m を設け、補助電流源IS’2 〜IS’m を第4のスイッチSW42 〜SW4m を介して接続線5112 〜511m にそれぞれ接続したものである。
【0027】
上述した表1から分かるように、LD(m−1,1)が不良であり、かつLD(m−1,1)のみが発光すべきとき、LD(m,1)への印加電流値はI2 −I1 となる。LDの特性によってはI2 −I1 では発光閾値電流を超えない場合も考えられる。このような場合に、第2の実施の形態によれば、不良素子のみが発光すべき場合のみ第4のスイッチSW4m を閉じることで、LD(m,1)には、電流源ISm とIS’m の合成電流が流れる。ここで、補助電流源IS’m の電流値を2I1 −I2 とすると、合成電流値は、I1 となり、LD(m,1)は、光量Pで発光することができる。従って、不良素子が存在しても、隣接素子の発光光量を制御することで画質劣化を抑制することができる。
【0028】
表2は、第2の実施の形態におけて、全画素データが”1”ではない場合の補正側のLDに流れる電流値の様子を示す。
【表2】
【0029】
この表2は、隣接するLD(m,1)とLD(m−1,1)においてLD(m−1,1)が不良の場合のLD(m,1)に流れる電流を画素データに対応して示している。これによれば、不良素子であるLD(m−1,1)のみが発光しなければならない場合においても、隣接のLD(m,1)に発光閾値を超える電流が流れて発光するので、画質劣化は目立たなくなる。
【0030】
次に、本発明の第3の実施の形態の画像形成装置について説明する。この第3の実施の形態は、アレイ駆動回路5は、図8に示したのと同様であるが、不良素子の両隣の発光素子2aで不良素子のデータを補正するように構成されている。例えば、LD(m−1,1)で示すレーザ素子2aが発光不良の場合、LD(m−1,1)の両隣のLD(m,1)とLD(m−2,1)の光量を補正するため、第1のスイッチSW1m ,SW1m-2 および第2のスイッチSW2m ,SW2m-2 を閉じるとともに、第3のスイッチSW3m ,SW3’m-1 を閉じ、第3のスイッチSW3’m ,SW3m-1 を開け、第4のスイッチSW4m ,SW4m-1 を閉じる。この場合は、電流源IS’m,IS’m-1 は、不良素子LD(m−1,1)の両隣LD(m,1)とLD(m−2,1)のそれぞれの光量が、基準光量の1.5倍となる合成電流が印加されるように調整する。つまり両隣の光量を1.5倍にすることで3素子分の光量の和が3Pとなり、不良素子がない場合と等しくなる。
【0031】
図9は、本発明の第4の実施の形態に係る画像形成装置を示す。この第4の実施の形態は、第1の実施の形態において、感光体4に投影される光ビームの光量をレーザ素子2a毎に検出する光量検出系6を付加し、光量制御部7の不良素子メモリ71のデータを変更可能としたものであり、他は第1の実施の形態と同様に構成されている。
【0032】
光量検出系6は、拡大光学系3と感光体ドラム4の間の光路上に配置されたハーフミラー60と、ハーフミラー60で反射したレーザアレイ2からの光ビームを光量検出器62に集光する集光レンズ61とを備える。
【0033】
図10は、第4の実施の形態の光量制御部7を示す。この第4の実施の形態の光量制御部7は、第1の実施の形態と同様に、画像メモリ70と、不良素子メモリ71と、行制御回路73とを備え、さらに、光量検出系6からの光量測定値に基づいてレーザ素子2aの良否を判定するLD良否判定部74を備える。
【0034】
LD良否判定部74は、光量検出系6からの光量測定値とレーザ素子2aの良否判定基準レベルと比較し、光量測定値が基準レベルより低い場合は、不良素子を検出したことを示す不良検出信号を不良素子メモリ71に出力するものである。
【0035】
不良素子メモリ71は、LD良否判定部74からの不良検出信号に基づいて不良素子の位置を記憶する。
【0036】
このような第4の実施の形態によれば、初期設定だけではなく、レーザ素子2aの発光光量をモニタし、その結果によりレーザ素子2aの良否判定をしているので、使用中にレーザ素子2aが破壊された場合でも、画質劣化を防止することができる。
【0037】
なお、本発明は、上記実施の形態に限定されず、種々に変形実施が可能である。例えば、上記実施の形態では、アノード側で電流値を制御する場合について説明したが、陰極側で制御してもよい。
また、上記実施の形態では、2次元レーザアレイをマトリックス駆動によって駆動したが、光源がLEDバーであっても、またマトリックス駆動の駆動方法にもよらなくてもよいことは言う迄もない。
【0038】
【発明の効果】
以上説明した通り、本発明の画像形成装置によれば、不良素子に隣接する発光素子の駆動条件を不良素子の画像信号に応じて変更することにより、不良素子による画像欠陥が目立たなくなるので、発光素子アレイ中に不良素子が存在しても、画質劣化の防止が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態に係る画像形成装置の概略構成図
【図2】第1の実施の形態に係るレーザアレイの正面図
【図3】第1の実施の形態に係るアレイ駆動回路および光量制御部の回路図
【図4】第1の実施の形態に係る画像形成装置の動作を示すタイミングチャート
【図5】第1の実施の形態に係る感光体ドラム上の光スポットパターンを示す図
【図6】第1の実施の形態に係る発光素子への駆動電流と光量との関係を示す図
【図7】(a),(b)は印字結果を示す図
【図8】本発明の第2の実施の形態に係るアレイ駆動回路図
【図9】本発明の第4の実施の形態に係る画像形成装置の概略構成図
【図10】第4の実施の形態の光量制御部のブロック図
【符号の説明】
1 画像形成装置
2 レーザアレイ
2a レーザ素子
3 拡大光学系
3A フィールドレンズ
3B 結像レンズ
4 感光体ドラム
4a 主走査線
5 アレイ駆動回路
6 光量検出系
7 光量制御部
8 光スポット
50 列選択用ドライバー回路群
501 〜50n 列選択用のドライバー回路
51 行選択用ドライバー回路群
52 列制御回路
551 〜55n 共通線
561 〜56m 共通線
60 ハーフミラー
61 集光レンズ
62 光量検出器
70 画像メモリ
71 不良素子メモリ
72 行制御回路
74 LD不良安定部
510 スイッチ回路
5112 〜511m 接続線
IS1 〜ISm 電流源
IS’2 〜IS’m 補助電流源
SC 行選択信号
SR1 〜SRn 列選択信号
SW11 〜SW1m 第1のスイッチ
SW21 〜SW2m 第2のスイッチ
SW32 〜SW3m 第3のスイッチ
SW42 〜SW4m 第4のスイッチ
X 主走査線方向
Y 副走査方向
Y′ 列方向
Z 光軸方向
Claims (8)
- 複数の発光素子を有する発光素子アレイを備えた画像形成装置において、
前記複数の発光素子に駆動電流を供給する複数の電流源と、スイッチング動作により前記複数の電流源からの前記駆動電流の供給経路を切り換えるスイッチ回路と有する駆動手段と、
前記複数の発光素子のうち発光不良となった不良素子に隣接する前記発光素子への駆動電流を、前記画像信号に応じて前記スイッチ回路を制御して前記複数の電流源からの前記駆動電流の供給経路を切り換えることにより変更する制御手段とを備えたことを特徴とする画像形成装置。 - 前記複数の電流源は、隣接する第1および第2の発光素子に前記駆動電流をそれぞれ供給する第1および第2の電流源を有し、
前記スイッチ回路は、スイッチング動作により前記第1および第2の電流源からの前記駆動電流の供給経路を切り換える構成を有し、
前記制御手段は、前記画像信号に応じて前記スイッチ回路を制御して前記第1および第2の電流源からの前記駆動電流を、前記第1および第2の発光素子のうち、発光不良となった不良素子以外の前記第1の発光素子あるいは前記第2の発光素子に供給させることを特徴とする請求項1記載の画像形成装置。 - 前記複数の電流源は、隣接する第1および第2の発光素子に前記駆動電流をそれぞれ供給する第1および第2の電流源と、前記駆動電流より小なる電流値の補助電流を出力する補助電流源とを有し、
前記スイッチ回路は、スイッチング動作により前記第1および第2の電流源からの前記駆動電流、および前記補助電流源からの前記補助電流の供給経路を切り換える構成を有し、
前記制御手段は、前記画像信号に応じて前記スイッチ回路を制御して前記第1の電流源あるいは前記第2の電流源からの前記駆動電流に前記補助電流源からの前記補助電流を付加した電流を、前記第1および第2の発光素子のうち、発光不良となった不良素子以外の前記第1の発光素子あるいは前記第2の発光素子に供給させることを特徴とする請求項1項記載の画像形成装置。 - 前記補助電流源は、前記駆動電流に付加することにより、前記第1および第2の発光素子のうち、発光不良となった不良素子以外の前記第1の発光素子あるいは前記第2の発光素子の発光閾値を超える前記補助電流を出力することを特徴とする請求項3項記載の画像形成装置。
- 前記駆動手段は、前記駆動電流の半分の電流値の前記補助電流を出力することを特徴とする請求項3記載の画像形成装置。
- 前記発光素子アレイは、前記複数の発光素子として複数のレーザ素子を2次元状に配列したレーザアレイであることを特徴とする請求項1記載の画像形成装置。
- 複数の発光素子を有する発光素子アレイを備えた画像形成装置において、
前記複数の発光素子に駆動電流を供給する複数の電流源と、スイッチング動作により前記複数の電流源からの前記駆動電流の供給経路を切り換えるスイッチ回路と有する駆動手段と、
前記複数の発光素子のうち発光不良となった不良素子を検出する不良素子検出手段と、
前記不良素子に隣接する前記発光素子への駆動電流を、前記画像信号に応じて前記スイッチ回路を制御して前記複数の電流源からの前記駆動電流の供給経路を切り換えることにより変更する制御手段とを備えたことを特徴とする画像形成装置。 - 前記不良素子検出手段は、前記複数の発光素子から出射された前記光ビームの光量を個別に検出する光量検出手段と、前記光量検出手段によって個別に検出された前記光ビームの光量に基づいて前記複数の発光素子が前記不良素子か否かを判定する判定手段とを備えたことを特徴とする請求項7記載の画像形成装置。
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