JP3772130B2 - 発光素子及びこれを適用したディスプレー装置 - Google Patents

発光素子及びこれを適用したディスプレー装置 Download PDF

Info

Publication number
JP3772130B2
JP3772130B2 JP2002114415A JP2002114415A JP3772130B2 JP 3772130 B2 JP3772130 B2 JP 3772130B2 JP 2002114415 A JP2002114415 A JP 2002114415A JP 2002114415 A JP2002114415 A JP 2002114415A JP 3772130 B2 JP3772130 B2 JP 3772130B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
electrode
doping region
light emitting
electrodes
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2002114415A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2002359398A (ja
Inventor
秉 竜 崔
銀 京 李
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Electronics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electronics Co Ltd filed Critical Samsung Electronics Co Ltd
Publication of JP2002359398A publication Critical patent/JP2002359398A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3772130B2 publication Critical patent/JP3772130B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/30Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
    • H01S5/32Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/20Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular shape, e.g. curved or truncated substrate
    • H01L33/24Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular shape, e.g. curved or truncated substrate of the light emitting region, e.g. non-planar junction
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/15Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components having potential barriers, specially adapted for light emission
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y20/00Nanooptics, e.g. quantum optics or photonic crystals
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/26Materials of the light emitting region
    • H01L33/34Materials of the light emitting region containing only elements of Group IV of the Periodic Table

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Led Devices (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は発光効率に優れかつ発光効率を極大化させうる構造を有する発光素子及びこれを適用したディスプレー装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
シリコン半導体基板には論理素子、演算素子及びドライブ素子などを高い信頼性で高集積化でき、シリコンが安いために化合物半導体に比べてより安価で、高集積回路を実現しうる利点がある。したがって、大部分の集積回路はシリコン(Si)を基本材料として使用している。
【0003】
前記のようなシリコンが有する利点を十分に生かし、集積回路との製造工程上の互換性ある安価の光電子デバイスを具現するためにシリコンに基づいた発光素子を作ろうとする研究が進行しつつある。多孔性シリコン及びナノクリスタルシリコンは発光特性を有するのが実験的に確認され、これに関する研究が進行されている。
【0004】
図1はバルク型の単結晶シリコンの表面に形成された多孔性シリコン領域の断面及びその多孔性シリコン領域での価電子帯(valence band)と伝導帯(conduction band)との間のエネルギーバンドギャップを示す。
【0005】
多孔性シリコンは、バルク型の単結晶Siを、例えば、フッ酸(HF)が含まれた電解質溶液に入れ、そのバルク型Siの表面を電気化学的に陽極処理(anodic electrochemical dissolution)することによって製造されうる。
【0006】
バルク型シリコンをHF溶液に入れたままで陽極処理を行う時、そのバルク型シリコンの表面側には図1に示されたように、多数の孔1aを有する多孔性シリコン領域1が形成される。孔1a部分には膨出部(HFにより融解されない部分)1bに比べてSi−H結合がより多く存在する。多孔性シリコン領域1での価電子帯エネルギーEvと伝導帯エネルギーEcとのネルギーバンドギャップは多孔性シリコン領域1の形状と反対に現れる。
【0007】
したがって、エネルギーバンドギャップ図面で膨出部に取囲まれた窪み(多孔性シリコン領域1、図では孔1aに取囲まれた膨出部1b)は量子拘束効果(quantum confinement effect)を示してバルク型シリコンのエネルギーバンドギャップより大きくなり、この部分に電子とホールとがトラップされて発光結合を行う。
【0008】
例えば、多孔性シリコン領域1で、孔1aに取囲まれた膨出部1bを量子拘束効果を示す単結晶シリコンワイヤー状に形成すれば、電子とホールとはこのワイヤーにトラップされて発光結合をし、ワイヤーの大きさ(幅と長さ)によって発光波長は近赤外線から青色波長まで可能である。この際、孔1aの周期は図1に示したように、例えば約5nm、多孔性シリコン領域の最大厚さは、例えば約3nmである。
【0009】
したがって、多孔性シリコンに基づく発光素子を製造し、多孔性シリコン領域1が形成された単結晶シリコンに所定の電圧を印加すれば、多孔性特性によって所望の波長領域の光を発光させうる。
【0010】
しかし、前述したような多孔性シリコンに基づいた発光素子は、まだ発光素子としての信頼性が確保されておらず、外部量子効率(EQE:ExternalQuantum Efficiency)が約0.1%と低い問題点がある。
【0011】
図2はナノクリスタルシリコンを用いた発光素子の一例を概略的に示す断面図である。ナノクリスタルシリコンを用いた発光素子は、p型単結晶シリコン基板2と、基板2上に形成された非晶質シリコン層3と、非晶質シリコン層3上に形成された絶縁膜5と、基板2の下面及び絶縁膜5上に各々形成された下部、上部電極6、7を含む層構造を有し、非晶質シリコン層3内に形成された量子点状のナノクリスタルシリコン4とを具備する。
【0012】
非晶質シリコン層3を酸素雰囲気下で700℃に急昇温させて再結晶化させれば、量子点状のナノクリスタルシリコン4が形成される。この際、前記非晶質シリコン層3の厚さは3nmで、ナノクリスタルシリコン4の大きさは約2〜3nmである。
【0013】
前述したようなナノクリスタルシリコン4を用いた発光素子は上下部電極7、6を通じて逆方向に電圧をかければ、シリコン基板2とナノクリスタルシリコン4との間の非晶質シリコンの両端に大きな電界が生じて高エネルギー状態の電子と正孔が生成され、これらがナノクリスタルシリコン4内にトンネリングされて発光結合を行う。この際、ナノクリスタルシリコンを用いた発光素子において発光波長はナノクリスタルシリコン量子点の大きさが小さいほど短くなる。
【0014】
このようなナノクリスタルシリコン4を用いた発光素子は、ナノクリスタルシリコン量子点の大きさ制御及び均一性を確保しにくく、効率が極めて低い。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は前記問題点を改善するために案出されたものであって、多孔性シリコン及びナノクリスタルシリコンを用いた発光素子より発光効率に優れ、かつ両側面で発光される構造を有して発光効率を極大化させる発光素子及びこれを適用したディスプレー装置を提供するのにその目的がある。
【0016】
【課題を解決するための手段】
前記目的を達成するための本発明に係る発光素子は、n型またはp型のシリコンまたはダイヤモンド基板と、前記基板の少なくとも一面に前記基板とのp−n接合部位で量子拘束効果により発光が生じるように所定のドープ剤により前記基板と反対型にドーピングされた少なくとも1つのドーピング領域と、前記ドーピング領域のp−n接合部位から発光された光を前記基板の両面を通じて出射させる電極とを含み、前記基板のドーピング領域は、前記ドーピング領域を極端に浅く形成させる制御膜の開口部に形成されていることを特徴とする。
【0017】
前記ドーピング領域は、前記基板の一面に形成され、前記電極は、前記基板の一面及びその反対面上に、前記ドーピング領域のp−n接合部位から発光された光の両面出射が可能に形成された第1及び第2電極とを含みうる。
【0018】
この際、前記第1及び第2電極のうち少なくとも何れか1つは透明電極よりなることが望ましい。
【0019】
前記ドーピング領域は、前記基板の一面及び反対面に各々形成された第1及び第2ドーピング領域を含み、前記電極は、前記第1ドーピング領域のp−n接合部位から発光させるために、前記基板の一面及び反対面に各々形成された第1及び第2電極と、前記第2ドーピング領域のp−n接合部位から発光させるために、前記基板の反対面及び一面に各々形成された第3及び第4電極とを含み、前記基板の一面に形成された第1及び第4電極は相互離隔され、前記基板の反対面に形成された第2及び第3電極は相互離隔されるように形成されうる。
【0020】
前記基板は、第1及び第2基板よりなり、前記ドーピング領域は、前記第1及び第2基板の外面に各々形成された第1及び第2ドーピング領域を含み、前記電極は、前記第1及び第2基板の外面上に各々形成された第1及び第2電極と、前記第1及び第2基板間に形成された共通電極とを含みうる。
【0021】
前記制御膜は、前記ドーピング領域の形成時マスクとして機能することが望ましい。
【0022】
記制御膜は、前記ドーピング領域が極端に浅く形成されるように適正な厚さを有するシリコン酸化膜であることが望ましい。
【0023】
前記目的を達成するために本発明は、複数の発光素子を備えるディスプレー装置において、前記発光素子は、n型またはp型のシリコンまたはダイヤモンド基板と、前記基板の少なくとも一面に前記基板とのp−n接合部位で量子拘束効果により発光が生じるように所定のドープ剤により前記基板と反対型にドーピングされた少なくとも1つのドーピング領域と、前記ドーピング領域のp−n接合部位で光を発光させ、前記基板の両面を通じて出射させるように形成された電極とを含み、前記ドーピング領域は、前記ドーピング領域を極端に浅く形成させる制御膜の開口部に形成され、両面に発光された光を出射させ、両方向ディスプレーを可能にしたことを特徴とする。
【0024】
【発明の実施の形態】
以下、添付した図に基づき本発明をく詳しく説明する。
【0025】
図3を参照するに、本発明に係る発光素子は、基板11と、基板11の少なくとも一面に基板11とのp−n接合部位14で量子拘束効果により発光されるように所定のドープ剤により基板11と反対型にドーピングされた少なくとも1つのドーピング領域15と、ドーピング領域15のp−n接合部位14で光を発光させ、基板11の両面を通じて出射させる電極構造とを含んで構成される。また、本発明に係る発光素子は基板11のドーピング領域15が形成される面上に、ドーピング領域15の形成時にマスクとして機能をし、ドーピング領域15を極端に浅く形成させる制御膜13をさらに具備することが望ましい。この制御膜13は、本発明に係る発光素子のドーピング領域15を形成するためには必要なものであって、ドーピング領域15の形成後に選択的に除去されうる。
【0026】
基板11はSiを含む所定の半導体物質、例えば、Si、SiCまたはダイアモンドよりなり、n型にドーピングされたことが望ましい。
【0027】
ドーピング領域15は所定のドープ剤、例えば、ホウ素または燐を制御膜13の開口を通じて前記基板11内に拡散させ、基板11と反対型、例えば、p型ドーピングされた領域である。
【0028】
ドーピング時にドーピング領域15の基板11との境界部分、すなわち、p−n接合部位14に量子ウェル、量子点及び量子線のうち少なくとも何れか1つが形成されて量子拘束効果による発光が起こるように、ドーピング領域15は極端に浅く形成されたことが望ましい。
【0029】
ここで、p−n接合部位14には、量子ウェルが主に形成され、量子点や量子線が形成されることもある。また、p−n接合部位14には前記量子ウェル、量子点、量子線のうち2種以上を複合形成することもある。以下、説明の便宜上、p−n接合部位14に量子ウェルが形成されたと説明する。以下、p−n接合部位14に量子ウェルが形成されたと説明したとしても、これは量子ウェル、量子点及び量子線のうち少なくとも何れか1つを意味するものと見なされる。
【0030】
図4Aはドーピング領域15を非平衡拡散により極端に浅く形成する時、p−n接合部位14の構造を示す。図4Bは非平衡拡散により図4Aに示されたp−n接合部位14に表面の長手方向、側方向に形成される量子ウェル(QW)のエネルギーバンドを示す。図4Bにおいて、Ecは伝導帯エネルギー準位、Evは価電子帯エネルギー準位、Efはフェルミエネルギー準位を各々示し、このようなエネルギー準位については半導体関連技術分野ではよく知られているので、その詳細な説明は省略する。
【0031】
図4A及び図4Bに示されたように、p−n接合部位14は他のドーピング層が交互に形成された量子ウェル構造を有するが、ウェルとバリヤーとは約2、3nmである。
【0032】
このようにp−n接合部位14に量子ウェルを形成する極端に浅いドーピングは制御膜13の厚さ及び拡散工程条件などを最適に制御することによって形成されうる。
【0033】
拡散工程のうち適正な拡散温度及び基板11表面の変形されたポテンシャルにより拡散プロファイルの厚さが、例えば、10−20nmに調節され、このように極端に浅い拡散プロファイルには量子ウェルが生成される。ここで、基板11表面は初期制御膜の厚さと表面前処理により変形され、このような変形は工程の進行につれて深化される。
【0034】
基板11がシリコンを含む所定の半導体物質よりなる場合、制御膜13はドーピング領域15を極端に浅く形成させる適正厚さを有するSiOであることが望ましい。この制御膜13は、例えば、基板11上にSiOを形成した後、拡散工程のための開口部分をフォトリソグラフィー工程を用いてエッチングすることによってマスク構造で形成される。
【0035】
拡散技術分野で知られたところによれば、シリコン酸化膜の厚さが適正厚さ(数千Å)より厚いか、または低温であれば、主に空席が拡散に影響を与えて拡散が深く起こり、シリコン酸化膜の厚さが適正厚さより薄いか、高温であれば、Si自己間隙が主に拡散に影響を与えて拡散が深く起こる。したがって、SiOをSi自己間隙及び空席が類似した割合で生じる適正厚さに形成すれば、Si自己間隙と空席とが相互結合されてドープ剤の拡散を促進しなくなるので、極端に浅いドーピングが可能となる。ここで、空席及び自己間隙と関連した物理的な性質は拡散と関連した技術分野ではよく知られているので、より詳細な説明は省略する。
【0036】
本発明の第1実施例に係る発光素子はドーピング領域15が基板11の一面にのみ形成された構造である。
【0037】
ここで、基板11はp型ドーピングされ、ドーピング領域15はn型ドーピングされうる。
【0038】
本発明の第1実施例において、電極構造はドーピング領域15が形成された基板11の一面及びその反対面上にドーピング領域15のp−n接合部位14で発光された光の両面出射が可能に形成された第1及び第2電極17、19で構成される。
【0039】
第1電極17は基板11の一面にドーピング領域15と電気的に接続されるように不透明金属電極で形成されうる。このように、第1電極を不透明金属で形成する場合、第1電極17は、図3に示されたように、制御膜17のドーピング領域15を形成するための開口内に形成され、光を出射するためのウィンドウを除いた領域に形成される。この第1電極17はドーピング領域15の形成後に形成される。ここで、第1電極17はドーピング領域15の全般に亙って、例えば、ITOを用いて透明電極よりなる。
【0040】
第2電極19は、基板11の反対面の全般に亙って、例えば、ITOを用いて透明電極で形成されうる。代案として、前記第2電極19は不透明金属より形成されうるが、この場合、第2電極19は図3に示された第1電極17と同様に光を出射するためのウィンドウ(図示せず)を除いた領域に形成される。
【0041】
前述したように構成された本発明に係る発光素子の第1電極17と第2電極19に電源(電流)を与えることによって注入された電子と正孔は量子ウェルで量子拘束効果により光を放出する。発光された光は第1電極17に取囲まれたウィンドウ及び透明な第2電極19を通じて基板11の両面に出射される。ここで、前記放出される光量及び波長は印加される電流量に依存する。
【0042】
図5を参照するに、本発明に係る発光素子は、基板11の一面及び反対面に各々極端に浅い第1及び第2ドーピング領域25、35及びドーピング領域25、35のp−n接合部位24、34で光を発光させ、基板11の両面を通じて出射させる電極構造を備えられる。ここで、図3と同一な参照符号は実質的に同一部材を示す。
【0043】
例えば、前記電極構造は、本発明の第2実施例に係る発光素子を示した図5のように、第1ドーピング領域25のp−n接合部位24で発光させるために、基板11の一面及び反対面に各々形成された第1及び第2電極27、29と、第2ドーピング領域35のp−n接合部位34で発光させるために、基板11の反対面及び一面に各々形成された第3及び第4電極37、39とを含んで構成されうる。
【0044】
基板11の一面に形成された第1及び第4電極27、39は相異なる符号の電源端子を連結可能に相互離隔されたことが望ましい。同様に、基板11の反対面に形成された第2及び第3電極29、37も相異なる符号の電源端子を連結可能に相互離隔されたことが望ましい。また、第1電極27は第4電極39の内側に第1ドーピング領域25に電気的に接触するように形成され、第3電極37は第2電極29の内側に第2ドーピング領域35に電気的に接触するように形成されたことが望ましい。そして、第1ドーピング領域25を極端に浅くドーピングさせる制御膜23は基板11の一面上の第1及び第4電極27、39間に形成され、第2ドーピング領域35を極端に浅くドーピングさせる制御膜33は基板11の反対面上の第2及び第3電極29、37間に形成されたことが望ましい。
【0045】
第1及び第3電極27、37は各々ドーピング領域25、35のp−n接合部位24、34で発光された光が出射されるように、基板11の一面及び反対面にウィンドウを除いた領域に不透明金属で形成されうる。代案として、第1及び第3電極27、37は、例えば、ITOを用いて透明電極として別途のウィンドウ無しに形成されうる。
【0046】
前述したような本発明の第2実施例において、ドーピング領域25、35を形成する方法及びその物理的な特性、制御膜23、33の材質、その物理的な機能は、図3に基づいて本発明の第1実施例で説明したドーピング領域15及び制御膜13と同一なので、ここではその反復的な説明は省略する。
【0047】
図6を参照するに、本発明の第3実施例に係る発光素子は一面にドーピング領域15が形成された基本発光素子の一対を、ドーピング領域15の形成されていない面とを対向して結合させ、基板11間に共通電極49を形成した構造である。ここで、図3と同一な参照符号は実質的に同一な機能を行う部材を示す。
【0048】
したがって、本発明の第3実施例に係る発光素子は、1対の基板11、基板11のそれぞれの外面に形成されたドーピング領域15、基板11の外面に各々形成された電極17、基板11間に形成された共通電極を含んで構成される。本実施例において、共通電極49はITOなどを用いて透明電極で形成されうる。このような本発明の第3実施例に係る発光素子は、図3に示された本発明の第1実施例に係る発光素子1対をその第2電極19とを相互対向するように結合して形成しうる。ここで、共通電極49は不透明金属よりなりうる。
【0049】
前述したような本発明の実施例に係る発光素子は、p−n接合部位で発光された光を両方向に全て出射させうる構造であるために、両方向に出射される光を全て利用できて発光効率を極大化しうる。
【0050】
前述したような本発明に係る発光素子は、ディスプレー装置に発光デバイスとして適用されうる。図7に示されたように、本発明に係る発光素子を発光デバイス10として採用したディスプレー装置は両方向ディスプレーができる。この際、発光デバイス10は複数個の本発明に係る発光素子よりなる。一方、前記ディスプレー装置は、発光デバイス10の背面から出射された光路を所望の方向に変えられる少なくとも1つの反射ミラー70をさらに備えられる。本発明に係る発光素子は半導体物質を用いて半導体製造工程を通じて超小型に形成されうるので、2次元に配列された本発明に係る発光素子アレイを用いて、両方向性を有する薄型固状ディスプレー装置を具現可能なのは明白である。
【0051】
一方、本発明に係る発光素子は照明システムに適用可能であるが、この際、照明システムは照明システムの用途及び照度要求に対応して少なくとも1つ以上の本発明に係る発光素子よりなる。
【0052】
【発明の効果】
前述したような本発明に係る発光素子は極端に浅くドーピングされてそのp−n接合部位で量子拘束効果により発光されうるドーピング領域を備え、多孔性シリコン及びナノクリスタルシリコンを用いた発光素子より発光効率に優れ、かつ前記p−n接合部位で発光された光を両側に出射させ、両方向に出射された光を全て利用可能なので、発光効率を極大化しうる。
【図面の簡単な説明】
【図1】バルク型の単結晶シリコン表面に形成された多孔性シリコン領域の断面及びその多孔性シリコン領域での価電子帯と伝導帯とのエネルギーバンドギャップを示す図である。
【図2】ナノクリスタルシリコンを用いた発光素子の一例を概略的に示す断面図である。
【図3】本発明の第1実施例に係るシリコン発光素子を概略的に示す図である。
【図4A】ドーピング領域を非平衡拡散により極端に浅く形成する時、p−n接合部位の構造を概略的に示す図である。
【図4B】非平衡拡散により図4Aに示されたp−n接合部位に、表面の長手方向、側方向に形成される量子ウェルのエネルギーバンドを示す図である。
【図5】本発明の第2実施例に係る発光素子を概略的に示す図である。
【図6】本発明の第3実施例に係る発光素子を概略的に示す図である。
【図7】本発明に係る発光素子を発光デバイスとして適用した両方向性を有するディスプレー装置を概略的に示す図である。
【符号の説明】
10 発光デバイス
11 基板
13 制御膜
14 p−n接合部位
15 ドーピング領域
17、27 第1電極
19、29 第2電極
23 制御膜
24 第1p−n接合部位
25 第1ドーピング領域
34 第2p−n接合部位
35 第2ドーピング領域
37 第3電極
39 第4電極
49 共通電極

Claims (16)

  1. n型またはp型のシリコンまたはダイヤモンド基板と、
    前記基板の少なくとも一面に前記基板とのp−n接合部位で量子拘束効果により発光が生じるように所定のドープ剤により前記基板と反対型にドーピングされた少なくとも1つのドーピング領域と、
    前記ドーピング領域のp−n接合部位から発光された光を前記基板の両面を通じて出射させる電極とを含み、
    前記ドーピング領域は、前記ドーピング領域を極端に浅く形成させる制御膜の開口部に形成されていることを特徴とする発光素子。
  2. 前記ドーピング領域は前記基板の一面に形成され、
    前記電極は、
    前記基板の一面及びその反対面上に、前記ドーピング領域のp−n接合部位から発光された光の両面出射が可能に形成された第1及び第2電極を含むことを特徴とする請求項1に記載の発光素子。
  3. 前記第1及び第2電極のうち少なくとも何れか1つは透明電極よりなることを特徴とする請求項2に記載の発光素子。
  4. 前記ドーピング領域は、前記基板の一面及び反対面に各々形成された第1及び第2ドーピング領域を含み、
    前記電極は、
    前記第1ドーピング領域のp−n接合部位で発光させるために、前記基板の一面及び反対面に各々形成された第1及び第2電極と、
    前記第2ドーピング領域のp−n接合部位で発光させるために、前記基板の反対面及び一面に各々形成された第3及び第4電極とを含み、前記基板の一面に形成された第1及び第4電極は相互離隔され、前記基板の反対面に形成された第2及び第3電極は相互離隔されたことを特徴とする請求項1に記載の発光素子。
  5. 前記第1電極は前記第4電極の内側に形成され、前記第3電極は前記第2電極の内側に形成されたことを特徴とする請求項4に記載の発光素子。
  6. 前記基板は、第1及び第2基板よりなり、
    前記ドーピング領域は、
    前記第1及び第2基板の外面に各々形成された第1及び第2ドーピング領域を含み、
    前記電極は、
    前記第1及び第2基板の外面上に各々形成された第1及び第2電極と、
    前記第1及び第2基板間に形成された共通電極とを含むことを特徴とする請求項1に記載の発光素子。
  7. 前記制御膜は、前記ドーピング領域の形成時マスクとして機能することを特徴とする請求項1ないし6のうち何れか一項に記載の発光素子。
  8. 前記制御膜は、前記ドーピング領域が極端に浅く形成されるように適正厚さを有するシリコン酸化膜であることを特徴とする請求項1に記載の発光素子。
  9. 複数の発光素子を備えるディスプレー装置において、
    前記発光素子は、
    n型またはp型のシリコンまたはダイヤモンド基板と、
    前記基板の少なくとも一面に前記基板とのp−n接合部位で量子拘束効果により発光が生じるように所定のドープ剤により前記基板と反対型にドーピングされた少なくとも1つのドーピング領域と、
    前記ドーピング領域のp−n接合部位で光を発光させ、前記基板の両面を通じて出射させるように形成された電極とを含み、
    前記ドーピング領域は、前記ドーピング領域を極端に浅く形成させる制御膜の開口部に形成され、
    両面に発光された光を出射させ、両方向ディスプレーを可能にしたことを特徴とするディスプレー装置。
  10. 前記ドーピング領域は前記基板の一面に形成され、
    前記電極は、
    前記基板の一面及びその反対面上に、前記ドーピング領域のp−n接合部位で発光された光の両面出射が可能に形成された第1及び第2電極を含むことを特徴とする請求項9に記載のディスプレー装置。
  11. 前記第1及び第2電極のうち少なくとも何れか1つは透明電極よりなることを特徴とする請求項10に記載のディスプレー装置。
  12. 前記ドーピング領域は、前記基板の一面及び反対面に各々形成された第1及び第2ドーピング領域を含み、
    前記電極は、
    前記第1ドーピング領域のp−n接合部位から発光させるために、前記基板の一面及び反対面に各々形成された第1及び第2電極と、
    前記第2ドーピング領域のp−n接合部位から発光させるために、前記基板の反対面及び一面に各々形成された第3及び第4電極とを含み、前記基板の一面に形成された第1及び第4電極は相互離隔され、前記基板の反対面に形成された第2及び第3電極は相互離隔されたことを特徴とする請求項9に記載のディスプレー装置。
  13. 前記第1電極は前記第4電極の内側に形成され、前記第3電極は前記第2電極の内側に形成されたことを特徴とする請求項12に記載のディスプレー装置。
  14. 前記基板は、第1及び第2基板よりなり、
    前記ドーピング領域は、
    前記第1及び第2基板の外面に各々形成された第1及び第2ドーピング領域を含み、
    前記電極は、
    前記第1及び第2基板の外面上に各々形成された第1及び第2電極と、
    前記第1及び第2基板間に形成された共通電極とを含むことを特徴とする請求項9に記載のディスプレー装置。
  15. 前記制御膜は、前記ドーピング領域の形成時マスクとして機能することを特徴とする請求項9ないし14のうち何れか一項に記載のディスプレー装置。
  16. 前記制御膜は、前記ドーピング領域が極端に浅く形成されるように適正厚さを有するシリコン酸化膜であることを特徴とする請求項9に記載のディスプレー装置。
JP2002114415A 2001-04-17 2002-04-17 発光素子及びこれを適用したディスプレー装置 Expired - Fee Related JP3772130B2 (ja)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR20010020495 2001-04-17
KR2001-020495 2002-03-23
KR1020020015903A KR100828351B1 (ko) 2001-04-17 2002-03-23 발광 소자 및 이를 적용한 디스플레이 장치
KR2002-015903 2002-03-23

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002359398A JP2002359398A (ja) 2002-12-13
JP3772130B2 true JP3772130B2 (ja) 2006-05-10

Family

ID=26638990

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002114415A Expired - Fee Related JP3772130B2 (ja) 2001-04-17 2002-04-17 発光素子及びこれを適用したディスプレー装置

Country Status (6)

Country Link
US (1) US6677610B2 (ja)
EP (1) EP1251568A3 (ja)
JP (1) JP3772130B2 (ja)
KR (1) KR100828351B1 (ja)
CN (1) CN1381907A (ja)
TW (1) TW544949B (ja)

Families Citing this family (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6697403B2 (en) * 2001-04-17 2004-02-24 Samsung Electronics Co., Ltd. Light-emitting device and light-emitting apparatus using the same
KR100940530B1 (ko) 2003-01-17 2010-02-10 삼성전자주식회사 실리콘 광소자 제조방법 및 이에 의해 제조된 실리콘광소자 및 이를 적용한 화상 입력 및/또는 출력장치
KR100459894B1 (ko) * 2002-02-09 2004-12-04 삼성전자주식회사 실리콘 수광소자
KR100459898B1 (ko) * 2002-03-07 2004-12-04 삼성전자주식회사 실리콘 발광소자 및 이를 채용한 디스플레이 장치
KR100464321B1 (ko) * 2002-11-20 2004-12-31 삼성전자주식회사 실리콘 광소자 및 이를 적용한 화상 입출력장치
TWI350404B (en) * 2002-12-13 2011-10-11 Semiconductor Energy Lab Light emitting device
US20040129223A1 (en) * 2002-12-24 2004-07-08 Park Jong Hyurk Apparatus and method for manufacturing silicon nanodot film for light emission
CN1293643C (zh) * 2002-12-30 2007-01-03 中国科学院半导体研究所 Cmos结构的硅基发光器件
KR20040076330A (ko) * 2003-02-25 2004-09-01 삼성전자주식회사 실리콘 광소자 및 이를 적용한 광신호 입출력장치
US8718437B2 (en) * 2006-03-07 2014-05-06 Qd Vision, Inc. Compositions, optical component, system including an optical component, devices, and other products
WO2007103310A2 (en) * 2006-03-07 2007-09-13 Qd Vision, Inc. An article including semiconductor nanocrystals
US8936373B2 (en) * 2005-10-27 2015-01-20 Koninklijke Philips N.V. Directional light output devices such as multi-view displays
TW200729132A (en) * 2006-01-18 2007-08-01 Au Optronics Corp Double-sided display
US8835941B2 (en) * 2006-02-09 2014-09-16 Qd Vision, Inc. Displays including semiconductor nanocrystals and methods of making same
US9874674B2 (en) 2006-03-07 2018-01-23 Samsung Electronics Co., Ltd. Compositions, optical component, system including an optical component, devices, and other products
US7569984B2 (en) * 2006-06-19 2009-08-04 Atomic Energy Council-Institute Of Nuclear Energy Research White-light fluorescent lamp having luminescence layer with silicon quantum dots
EP2087563B1 (en) 2006-11-15 2014-09-24 The Regents of The University of California Textured phosphor conversion layer light emitting diode
TW200830593A (en) * 2006-11-15 2008-07-16 Univ California Transparent mirrorless light emitting diode
WO2008073400A1 (en) 2006-12-11 2008-06-19 The Regents Of The University Of California Transparent light emitting diodes
US8836212B2 (en) * 2007-01-11 2014-09-16 Qd Vision, Inc. Light emissive printed article printed with quantum dot ink
WO2009014707A2 (en) 2007-07-23 2009-01-29 Qd Vision, Inc. Quantum dot light enhancement substrate and lighting device including same
US8128249B2 (en) * 2007-08-28 2012-03-06 Qd Vision, Inc. Apparatus for selectively backlighting a material
WO2009151515A1 (en) 2008-05-06 2009-12-17 Qd Vision, Inc. Solid state lighting devices including quantum confined semiconductor nanoparticles
WO2009137053A1 (en) 2008-05-06 2009-11-12 Qd Vision, Inc. Optical components, systems including an optical component, and devices
US9207385B2 (en) 2008-05-06 2015-12-08 Qd Vision, Inc. Lighting systems and devices including same
EP2270882A1 (en) * 2009-06-30 2011-01-05 Koninklijke Philips Electronics N.V. Light emitting diode circuit for ambient light
JP2012074752A (ja) * 2012-01-18 2012-04-12 Oki Data Corp 表示装置
TWI509842B (zh) * 2013-09-02 2015-11-21 Lextar Electronics Corp 發光二極體的封裝結構及其製造方法
JP2017092075A (ja) * 2015-11-02 2017-05-25 株式会社ソディック 発光素子
WO2020141861A1 (ko) * 2018-12-31 2020-07-09 주식회사 나노엑스 양면 발광 led 칩
US11592166B2 (en) 2020-05-12 2023-02-28 Feit Electric Company, Inc. Light emitting device having improved illumination and manufacturing flexibility
US11876042B2 (en) 2020-08-03 2024-01-16 Feit Electric Company, Inc. Omnidirectional flexible light emitting device

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5529178A (en) * 1978-08-24 1980-03-01 Semiconductor Res Found Ac driving composite light emission diode device
US4684964A (en) * 1980-10-08 1987-08-04 Rca Corporation Silicon light emitting device and a method of making the device
US5156979A (en) * 1986-01-21 1992-10-20 Fuji Electric Co., Ltd. Semiconductor-based radiation-detector element
JPH0327577A (ja) * 1989-06-23 1991-02-05 イーストマン・コダックジャパン株式会社 発光ダイオ―ドアレイ
US5412226A (en) * 1989-11-20 1995-05-02 British Telecommunications Public Limited Company Semi-conductor structures
JP3243303B2 (ja) * 1991-10-28 2002-01-07 ゼロックス・コーポレーション 量子閉じ込め半導体発光素子及びその製造方法
JPH06296045A (ja) * 1993-04-08 1994-10-21 Rohm Co Ltd 側面発光/受光半導体装置および両面発光表示装置
US5600157A (en) * 1993-04-28 1997-02-04 Oki Electric Industry Co., Ltd. Light-emitting and light-sensing diode array device, and light-emitting and light-sensing diode with improved sensitivity
JPH08148280A (ja) * 1994-04-14 1996-06-07 Toshiba Corp 半導体装置およびその製造方法
WO1997049132A1 (en) * 1996-06-20 1997-12-24 Jeffrey Frey Light-emitting semiconductor device
JP4071360B2 (ja) * 1997-08-29 2008-04-02 株式会社東芝 半導体装置
US6037612A (en) * 1997-09-11 2000-03-14 Kokusai Denshin Denwa Kabushiki Kaisha Semiconductor light emitting device having nanostructure porous silicon and mesostructure porous silicon
GB0014042D0 (en) * 2000-06-08 2000-08-02 Univ Surrey A radiation-emissive optoelectric device and a method of making same
US6697403B2 (en) * 2001-04-17 2004-02-24 Samsung Electronics Co., Ltd. Light-emitting device and light-emitting apparatus using the same

Also Published As

Publication number Publication date
KR100828351B1 (ko) 2008-05-08
EP1251568A2 (en) 2002-10-23
TW544949B (en) 2003-08-01
KR20020081553A (ko) 2002-10-28
US6677610B2 (en) 2004-01-13
CN1381907A (zh) 2002-11-27
JP2002359398A (ja) 2002-12-13
EP1251568A3 (en) 2008-02-27
US20020149015A1 (en) 2002-10-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3772130B2 (ja) 発光素子及びこれを適用したディスプレー装置
JP3723148B2 (ja) 発光素子及びこれを適用した発光デバイス装置
KR100446622B1 (ko) 실리콘 광소자 및 이를 적용한 발광 디바이스 장치
US7800117B2 (en) Pixel structure for a solid state light emitting device
JP2006024936A (ja) 発光素子実装用サブマウント基板及びその製造方法
TW201133930A (en) Improved multi-junction LED
JP2008004587A (ja) 半導体発光素子及びその製造方法並びに化合物半導体発光ダイオード
JP2004527921A (ja) 高効率シリコン発光装置及び変調器
US7888686B2 (en) Pixel structure for a solid state light emitting device
JP4978825B2 (ja) ツェナーダイオードの製造方法
EP4297207A1 (en) Laser element, laser element array, and laser element manufacturing method
CN112466954B (zh) 一种半导体器件及其制造方法
JPH0645644A (ja) Si発光装置とその製造方法
KR100866789B1 (ko) 발광소자 및 이를 적용한 발광 디바이스 장치
KR20020081551A (ko) 발광 소자 및 그 제조방법 및 이를 적용한 발광 디바이스장치
JP3033625B2 (ja) 量子化Si光半導体装置
JP2005129928A (ja) 受発光素子及びその製造方法
JP2007220853A (ja) 発光デバイス装置
JPH08274375A (ja) 多孔質半導体発光素子及びその製造方法
TWI470834B (zh) 半導體發光結構及其製造方法
KR20150112483A (ko) 발광 소자 및 그 제조 방법
WO2015008433A1 (ja) 発光素子
KR19990085519A (ko) 발광 다이오드의 제조방법
JP2008306135A (ja) 結晶シリコン素子
JP2007311545A (ja) 結晶シリコン素子及び結晶シリコン素子の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040928

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20041227

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050426

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20050823

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20051121

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20051227

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20060207

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20060213

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100217

Year of fee payment: 4

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees