JP3716940B2 - 電磁波吸収特性の測定方法 - Google Patents

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Description

【0001】
【産業上の利用分野】
本発明は、電波吸収体の吸収特性を測定するための電磁波吸収特性の測定方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
電波吸収体の吸収特性の測定方法の1つとして斜め入射測定法がある。図4は、アーチ法と称される従来の電波吸収体の吸収特性を測定するための斜め入射測定装置の一例を示す図である。これを簡単に説明するならば、放射アンテナ10とプローブアンテナ12とが、ともに円弧状の支持部材14により支持される。また、支持部材14の円弧の中心点に電波吸収体16が配置される。さらに、シグナルソース18で出力された測定周波数信号が放射アンテナ10から電波吸収体16に入射方向がθの角度で照射され、その反射電波がθの角度の反射方向に配置されたプローブアンテナ12に入射されて受信機20で直接受信される。
【0003】
そして、電波吸収体16による反射電波を直接受信して得られる電磁界の強さと、電波吸収体16に代えて置き換えられる同じ大きさの校正用金属導体板による反射電波を直接受信して得られる電磁界の強さとの比から吸収特性が演算される。
【0004】
ここで、放射アンテナの放射近傍界領域にあっては、アンテナからの距離に対して放射エネルギーの分布が大きく変化することが知られている。また、測定周波数信号の位相差の変化による測定誤差を排除するために、電波吸収体16の位置で平面波とみなせるだけの距離Rを、放射アンテナ10と電波吸収体16の間に設ける必要がある。また、同様な理由により、プローブアンテナ12と電波吸収体16の間にも距離Rを設ける必要がある。
【0005】
この距離Rは、放射アンテナ10とプローブアンテナ12の開口径が同じでこの開口径をdとし、電波吸収体16の寸法をDとし、測定周波数信号の波長をλとすれば、電波吸収体16の開口径dは、
=D・sin(90°−θ)
であり、下記の数1を満たしていなければならない。
【0006】
【数1】
【0007】
なお、放射アンテナ10とプローブアンテナ12の開口径が異なるならば、または電波吸収体16の開口径が縦と横で異なるならば、数1による距離Rの値の大きい方が採用される。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
上述のアーチ法による電磁波吸収特性測定装置にあっては、測定周波数信号が高い周波数である場合、または電波吸収体16の寸法Dが大きなものである場合に距離Rを大きくしなければならず、円弧状の支持部材14の半径が大きなものとなる。そして、電波吸収体16が吸収特性に優れているほど、反射電波の電磁界は弱くなる。この結果、プローブアンテナ12は微弱な反射電波を直接受信しなければならず、それだけ外部からの雑音電波等の悪影響を大きく受ける。そこで、正確な測定を行なうためには、電波無響室内で測定がなされなければならない。
【0009】
したがって、電磁波吸収特性測定装置自体が大型であって高価であるのに加えて、この装置を収納し得る大型の電波無響室の建設に多大な費用が必要であり、電波吸収体16の開発および評価を行なう上で大きな障害となっていた。
【0010】
本発明は、かかる従来技術の事情に鑑みてなされたもので、小型に構成し得る電磁波吸収特性の測定方法を提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】
かかる目的を達成するために、本発明の電磁波吸収特性の測定方法は、測定対象に斜めの入射方向で平面波の電波を照射する送信アンテナ機構と、前記測定対象による反射電波を受信し2次元平面上を走査して近傍電磁界分布を得る受信アンテナ機構と、を備えた測定装置を用いて、前記測定対象として電波吸収体または校正用金属導体板を配設せずに反射されない状態で、前記送信アンテナ機構から放射された電波が前記受信アンテナ機構に直接波として受信される近傍電磁界分布を予め求め、前記測定対象として前記電波吸収体を配設して、前記送信アンテナ機構から放射された電波の前記電波吸収体による反射電波を前記受信アンテナ機構で受信して近傍電磁界分布を求め、前記測定対象として前記電波吸収体と同じ大きさの前記校正用金属導体板を配設して、前記送信アンテナ機構から放射された電波の前記校正用金属導体板による反射電波を前記受信アンテナ機構で受信して近傍電磁界分布を求め、前記電波吸収体と前記校正用金属導体による反射電波を前記受信アンテナ機構で受信してそれぞれに得られた前記近傍電磁界分布を前記直接波として前記受信アンテナ機構で受信された前記近傍電磁界分布により前記送信アンテナ機構と前記受信アンテナ機構の直接結合の影響が排除されるように補正し、前記補正された近傍電磁界分布より遠方電磁界分布を演算するとともに前記電波吸収体と校正用金属導体の前記遠方電磁界分布の比から吸収特性を演算する。
【0012】
【作 用】
電波吸収体からの反射電波を受信する受信アンテナ機構を2次元平面上を走査させて近傍電磁界分布を求め、この近傍電磁界分布より遠方電磁界分布を演算するようにしたので、電波吸収体と受信アンテナ機構との間に必要とされる距離が短かなものとなり、装置を小型化し得る。そして、電波吸収体と校正用金属導体による反射電波のそれぞれで得られた近傍電磁界分布を、測定対象として電波吸収体または校正用金属導体板を配設せずに反射されない状態で送信アンテナ機構から放射された電波が受信アンテナ機構に直接波として受信された近傍電磁界分布により、直接結合による影響が排除されるように補正するので、送信アンテナ機構と受信アンテナ機構の直接結合による測定誤差を排除し得る。
【0013】
【実施例】
以下、本発明の第1の実施例につき、図1を参照して説明する。図1は、本発明の電磁波吸収特性測定装置の第1の実施例のブロック構成図である。
【0014】
図1において、シグナルソース18で発生された測定周波数信号が放射アンテナ10から電波として放射され、距離Rtxだけ離れて斜めに配置された電波吸収体16に入射角度θで照射される。図1にあっては、放射アンテナ10はX軸方向に指向性を有し、電波吸収体16はY軸を回転軸とする斜めの面に配設される。そして、電波吸収体16に平面波が照射されるように、距離Rtxは、図4に示す従来の測定装置と同様に数1を充すだけの寸法が必要である。なお、シグナルソース18と放射アンテナ10により送信アンテナ機構が形成されている。
【0015】
そして、電波吸収体16からZ軸方向に距離Rrxだけ離れて、電波吸収体16による反射電波をX−Y2次元平面上で図示しない機構により平面走査されるようにプローブアンテナ12が配設され、入射された信号が受信機20に与えられる。図1にあっては、入射角度θが45°であるために、電波吸収体16による反射波の指向方向は、プローブアンテナ12が走査されるX−Y平面に対して垂直である。さらに、受信機20はシグナルソース18から測定周波数信号の一部が参照信号として与えられ、プローブアンテナ12で受信された反射波の電磁界の強さに応じた信号が演算手段22に与えられる。なお、受信機20とプローブアンテナ12により受信アンテナ機構が形成されている。また、電波吸収体16が入射角θを45°以外で配設されたならば、反射波の指向方向がプローブアンテナ12の走査面に垂直とならないが、受信される近傍電磁界分布より反射波の方向性を考慮して遠方電磁界分布が適宜に演算される。そしてまた、プローブアンテナ12の走査面が、X−Y2次平面でなく、Y軸を回転軸とする斜めの面であっても良く、遠方電磁界分布を適宜に演算し得る。
【0016】
ここで、プローブアンテナ12と電波吸収体16との間の距離Rrxは、プローブアンテナ12に近傍電磁界が入射されれば良く、Rrx<Rtxと短かく設定できる。
【0017】
かかる構成において、まず電波吸収体16による反射電波を2次元平面上を走査されるプローブアンテナ12で受信して近傍電磁界分布を求め、この近傍電磁界分布から演算手段22により遠方電磁界分布が演算される。この近傍電磁界分布から遠方電磁界分布を演算する手法については、電子通信学会誌1979年10月号(Vol.62,No.10)第1145頁乃至第1153頁等に詳記されており、説明を省略する。
【0018】
次に、電波吸収体16に代えて、同じ大きさの校正用金属導体板に置き換えて近傍電磁界分布を求め、そして演算手段22により遠方電磁界分布が演算される。
【0019】
さらに、電波吸収体16と校正用金属導体板とからそれぞれに得られた遠方電磁界分布より、それぞれ最大の強さの電磁界を演算し、これらの電磁界の強さの比が、演算手段22で比較されて吸収特性が演算される。この電磁界の強さを比較する吸収特性の演算は、従来のアーチ法等と同様であり、その説明を省略する。
【0020】
上記に説明したごとき本発明の電磁波吸収特性測定装置の第1の実施例にあっては、近傍電磁界分布より遠方電磁界分布を演算するので、電波吸収体16とプローブアンテナ12との間の距離Rrxを短かくすることができ、電磁波吸収特性測定装置全体を従来のアーチ法等の装置に比較して小型化できる。そして、電磁波吸収特性測定装置を小型化できるために、これを収納する電波無響室も小さくて足りる。また、電波吸収体16とプローブアンテナ12との間の距離Rrxが短かいために、外部からの雑音電波の影響を受けにくい。しかも、電波吸収体16からの微弱な反射電波が入射され易く、それだけ測定装置のダイナミックレンジを広いものとすることができる。さらに、ダイナミックレンジとして充分な余裕があるので、放射アンテナ10を開口径の小さなものを用いても充分に測定精度が確保できるため、放射アンテナ10と電波吸収体16との間の距離Rtxとして必要となる寸法を短かなものにすることができ、装置をより小型化することが可能である。
【0021】
上記説明より明らかなように、本発明の電磁波吸収特性測定装置において測定できる電波吸収体16の寸法は、放射アンテナ10の開口径および放射アンテナ10と電波吸収体16との間の距離Rtxにより制約される。
【0022】
そこで、具体的に例を示してこれを説明すれば、例えば測定周波数信号を1〜3GHzとし放射アンテナ10として半波長ダイポールを用いた場合は、放射アンテナ10の縦方向の開口径dはλ/2であり、横方向の開口径dは0とみなせる。そして、電波吸収体16の縦方向の開口径dは縦方向の寸法Dv×sin(90°−θ)であり、横方向の開口径dは横方向の寸法Dhである。そこで、縦方向の寸法Dvの最大外径は、数2で示され、横方向の寸法Dhの最大外径は、数3で示される。
【0023】
【数2】
【0024】
【数3】
【0025】
なお、数2および数3において、Dv,Dh,Rtxは[m]、測定周波数fは[GHz]、θは[degree]を単位とする。
【0026】
下記の表1は、半波長ダイポールを用いてRtx=1mとした場合の測定周波数信号に対する電波吸収体16の最大外径Dv×Dhを示す。
【0027】
【表1】
【0028】
また、測定周波数信号を17〜20GHzとし放射アンテナ10として10.7×4.3mmの開口を有するWR42型方形導波管を用いた場合では、放射アンテナ10の縦方向の開口径dは0.0107mであり、横方向の開口径dは0.0043mである。そこで、縦方向の寸法Dvの最大外径は、数4で示され、横方向の寸法Dhの最大外径は、数5で示される。
【0029】
【数4】
【0030】
【数5】
【0031】
そして、下記の表2は、WR42型方形導波管を用いてRtx=1mとした場合の測定周波数信号に対する電波吸収体16の最大外径Dv×Dhを示す。
【0032】
【表2】
【0033】
図2は、本発明の電磁波吸収特性測定装置の第2の実施例の要部を説明する図であり、(a)はオフセットパラボラ反射鏡と1次放射器を含む送信アンテナ機構の構造図であり、(b)はオフセットパラボラ反射鏡の正面図である。
【0034】
図2において、オフセットパラボラ反射鏡30の焦点に、オフセットパラボラ反射鏡30に向けて1次放射器32が配設され、1次放射器32から放射状に放射された測定周波数信号の電波がオフセットパラボラ反射鏡30で反射されて平面波に変換されて電波吸収体16に照射される。オフセットパラボラ反射鏡30の両側は、エッジ部分からの回析波を抑制すべく、図2(b)のごとくのこぎり歯状とされる。
【0035】
かかる構成の送信アンテナ機構を有する本発明の電磁波吸収特性測定装置の第2の実施例にあっては、オフセットパラボラ反射鏡30で平面波が発生されるので、オフセットパラボラ反射鏡30と電波吸収体16との間の距離を任意に短かくすることができ、実質的に送信アンテナ機構と電波吸収体16との距離を短かくすることが可能である。また、オフセットパラボラ反射鏡30を適宜に設定して開口径の広い平面波を発生させれば、開口径の大きな電波吸収体16を測定することができる。
【0036】
図3は、本発明の電磁波吸収特性測定装置の第3の実施例の動作を説明するフローチャートである。
【0037】
第3の実施例にあっては、ブロック構成図は図1に示す第1の実施例と同じである。まず、予め測定すべき電波吸収体16に代えて反射の極めて少ない校正用電波吸収体に置き換え、または電波吸収体16を配設すべき位置から電波を反射する部材を全て除いて、放射アンテナ10から放射された電波が電波吸収体16等で反射されない状態で、プローブアンテナ12に放射アンテナ10から直接波として受信される近傍電磁界分布が求められ、適宜に記憶される(ステップ1)。次に、電波吸収体16に代えて、校正用金属導電板を配設してその近傍電磁界分布が求められ適宜に記憶される(ステップ2)。そして、測定すべき電波吸収体16を配設してその近傍電磁界分布が求められ、適宜に記憶される(ステップ3)。
【0038】
続いて、ステップ2で求められた校正用金属導電板による近傍電磁界分布が、ステップ1で求められた反射されない状態の近傍電磁界分布により補正され、放射アンテナ10とプローブアンテナ12の直接結合による影響が排除されるように補正された近傍電磁界分布が記憶される(ステップ4)。また、ステップ3で求められた電波吸収体16による近傍電磁界分布がステップ1で求められた近傍電磁界分布により補正されて記憶される(ステップ5)。
【0039】
さらに、ステップ4,5によって補正された校正用金属導電板と電波吸収体16との近傍電磁界分布から、それぞれ遠方電磁界分布が演算されて記憶される(ステップ6)。そして、校正用金属導電板と電波吸収体16とのそれぞれの遠方電磁界分布より、それぞれ最大の強さの電磁界が演算され、これらの電磁界の強さの比較により吸収特性が演算される(ステップ7)。なお、上記動作の各ステップは、演算手段22により適宜に行なわれる。
【0040】
上記のごとき第3の実施例にあっては、放射アンテナ10からの直接波がプローブアンテナ12で受信される直接結合の影響を排除することができ、微弱な反射波が直接波によりマスキングされるようなことがなく、それだけダイナミックレンジが改善される。発明者らの研究によれば、校正用電波吸収体の反射減衰レベルまで本発明装置のダイナミックレンジが改善できる。
【0041】
なお、上記実施例の説明にあっては、放射アンテナ10の指向方向をX軸としているが、これに限られないことは勿論である。
【0042】
【発明の効果】
以上説明したところから明らかなように、本発明の電磁波吸収特性の測定方法は、以下のごとき格別な効果を奏する。
【0043】
請求項1記載の電磁波吸収特性の測定方法は、電波吸収体と受信アンテナ機構との間の距離を従来のこの種の装置に比べて短かくすることができ、電磁波吸収特性測定装置を小型化することができる。そして、この小型化により、この装置を収納する電波無響室も小さくて足り、システム全体として経済的に構成できるとともに、測定装置のダイナミックレンジが改善できる。さらに、送信アンテナ機構から放射された電波が受信アンテナ機構に直接波として受信される直接結合による影響が排除され、これによってもダイナミックレンジの改善が一層図られる。そこで、これらのダイナミックレンジの改善に応じて送信アンテナ機構の開口径を小さく設定するならば、電波吸収体と送信アンテナ機構との間の距離をより短かくすることも可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の電磁波吸収特性測定装置の第1の実施例のブロック構成図である。
【図2】 本発明の電磁波吸収特性測定装置の第2の実施例の要部を説明する図であり、(a)はオフセットパラボラ反射鏡と1次放射器を含む送信アンテナ機構の構造図であり、(b)はオフセットパラボラ反射鏡の正面図である。
【図3】 本発明の電磁波吸収特性測定装置の第3の実施例の動作を説明するフローチャートである。
【図4】 アーチ法と称される従来の電波吸収体の吸収特性を測定するための斜め入射測定装置の一例を示す図である。
【符号の説明】
10 放射アンテナ
12 プローブアンテナ
16 電波吸収体
18 シグナルソース
20 受信機
22 演算手段
30 オフセットパラボラ反射鏡
32 1次放射器

Claims (1)

  1. 測定対象に斜めの入射方向で平面波の電波を照射する送信アンテナ機構と、前記測定対象による反射電波を受信し2次元平面上を走査して近傍電磁界分布を得る受信アンテナ機構と、を備えた測定装置を用いて、前記測定対象として電波吸収体または校正用金属導体板を配設せずに反射されない状態で、前記送信アンテナ機構から放射された電波が前記受信アンテナ機構に直接波として受信される近傍電磁界分布を予め求め、前記測定対象として前記電波吸収体を配設して、前記送信アンテナ機構から放射された電波の前記電波吸収体による反射電波を前記受信アンテナ機構で受信して近傍電磁界分布を求め、前記測定対象として前記電波吸収体と同じ大きさの前記校正用金属導体板を配設して、前記送信アンテナ機構から放射された電波の前記校正用金属導体板による反射電波を前記受信アンテナ機構で受信して近傍電磁界分布を求め、前記電波吸収体と前記校正用金属導体による反射電波を前記受信アンテナ機構で受信してそれぞれに得られた前記近傍電磁界分布を前記直接波として前記受信アンテナ機構で受信された前記近傍電磁界分布により前記送信アンテナ機構と前記受信アンテナ機構の直接結合の影響が排除されるように補正し、前記補正された近傍電磁界分布より遠方電磁界分布を演算するとともに前記電波吸収体と校正用金属導体の前記遠方電磁界分布の比から吸収特性を演算することを特徴とした電磁波吸収特性の測定方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN102544771A (zh) * 2012-02-26 2012-07-04 中国电子科技集团公司第十研究所 多信道数字抗干扰天线系统的全面实时校准方法

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4896192A (en) * 1987-12-14 1990-01-23 Minolta Camera Kabushiki Kaisha Image forming apparatus
JP4593188B2 (ja) * 2004-07-14 2010-12-08 マスプロ電工株式会社 妨害排除能力試験装置
KR101102575B1 (ko) * 2010-03-26 2012-01-03 서울시립대학교 산학협력단 유전율 측정을 위한 프로브와 유전율 측정 시스템 및 방법
CN102508049A (zh) * 2011-11-22 2012-06-20 西北工业大学 一种基于Hankel函数外推的天线中场测试方法
CN103245841B (zh) * 2013-04-28 2015-07-01 西北工业大学 一种基于球面近场扫描外推的天线方向图测试方法
CN103630761B (zh) * 2013-11-20 2017-06-23 中国电子科技集团公司第四十一研究所 一种多探头球面近场通道校准装置及方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102544771A (zh) * 2012-02-26 2012-07-04 中国电子科技集团公司第十研究所 多信道数字抗干扰天线系统的全面实时校准方法
CN102544771B (zh) * 2012-02-26 2013-10-30 中国电子科技集团公司第十研究所 多信道数字抗干扰天线系统的全面实时校准方法

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