CN102508049A - 一种基于Hankel函数外推的天线中场测试方法 - Google Patents

一种基于Hankel函数外推的天线中场测试方法 Download PDF

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李南京
周杨
张麟兮
郭淑霞
陈卫军
胡楚锋
刘琦
李瑛�
刘宁
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Abstract

本发明涉及一种基于Hankel函数外推的天线中场测试方法,其特征在于:根据暗室条件选择满足中场条件的中场距离,对被测天线进行测试,获得被测天线的中场数据
Figure DDA0000111196350000011
采用Hankel函数的外推方法将所得的中场数据变换成远场EF(k,R)。本发明的方法,根据被测天线的工作波长λ,口径尺寸D计算该天线的中场测试条件R0和远场测试条件R1,判断室内测试距离R能否满足中场条件。根据暗室条件选择满足中场条件的中场距离,对被测天线进行测试,获得被测天线的中场数据
Figure DDA0000111196350000012
采用Hankel函数的外推方法将所得的中场数据变换成远场数据EF(k,R)。优越性是:能通过中场测试数据获得远场数据,大大缩减了测试距离,实现了大尺寸天线的室内测试。

Description

一种基于Hankel函数外推的天线中场测试方法
技术领域
本发明涉及一种基于Hankel函数外推的天线中场测试方法,由天线中场变换到远场的外推方法,可应用于天线的中场测试。属于微波领域.
背景技术
天线的测量中,对于低频小天线而言,远场要求不难满足。但对于高频电大天线而言,要求的远场距离就变得大得多。例如,要测量一个口径尺寸为6m的天线,在1GHz时,远场距离不能小于240m,在10GHz时,远场距离则不能小于2400m。目前对电大尺寸天线的测量有两种方法,用紧缩场或外场进行测试,费用高昂;另一种方法是用中场平面扫描的方法在微波暗室内完成天线测试,但是该方法只针对强方向性天线而且扫描也很耗时,具有一定的局限。
发明内容
要解决的技术问题
为了避免现有技术的不足之处,本发明提出一种基于Hankel函数外推的天线中场测试方法,避免在电大尺寸天线测量中需要用紧缩场和外场而带来高额费用,或不受中场扫描方法的局限。
技术方案
一种基于Hankel函数外推的天线中场测试方法,其特征在于若室内测试距离R不能满足远场条件而满足中场条件,测试步骤如下:
步骤1:根据暗室条件选择满足中场条件的中场距离,对被测天线进行测试,获得被测天线的中场数据
Figure BDA0000111196330000011
步骤2:采用Hankel函数的外推方法将所得的中场数据变换成远场EF(k,R)
Figure BDA0000111196330000021
其中:k为传播常数,
Figure BDA0000111196330000022
为原点到场点的矢量的相角,
Figure BDA0000111196330000023
原点到源的矢量的相角,R0为原点到场点的距离,
Figure BDA0000111196330000024
为Hankel函数;
所述中场条件为:
Figure BDA0000111196330000025
其中:λ为被测天线的工作波长,D为天线的口径尺寸。
有益效果
本发明提出的一种基于Hankel函数外推的天线中场测试方法,根据被测天线的工作波长λ,口径尺寸D计算该天线的中场测试条件R0和远场测试条件R1,判断室内测试距离R能否满足中场条件。根据暗室条件选择满足中场条件的中场距离,对被测天线进行测试,获得被测天线的中场数据采用Hankel函数的外推方法将所得的中场数据变换成远场数据EF(k,R)。优越性是:能通过中场测试数据获得远场数据,大大缩减了测试距离,实现了大尺寸天线的室内测试。
通过本外推方法即能从测试得到的中场数据获得远场数据,大大缩减了测试距离,节约经费,在天线测试中具有很好的实用意义。
附图说明
图1:测试流程图
图2:辐射场的几何关系示意图
图3:被测天线归一化方向图
图4:中场和远场的增益
具体实施方式
现结合实施例、附图对本发明作进一步描述:
现用实际测试对给测试方法作进一步的阐述,将一导航天线作为被测天线,测试频率f=1224MHz,长度2.4m,如图3所示。
根据被测天线参数,确定其远场条件R′之47m,要满足中场只要4.6≤R0≤47,所以选择在中场测试来完成此天线的测量。在此选择测试距离17m。
测试步骤如下:
1、将被测天线水平放置暗室天线测试系统的转台上,进行测试,采集天线方位面的S21数据。
2、用同样的方法对标准增益天线进行测试,采集其S21数据。
3、对被测天线的数据和标准天线的数据分别外推。将中场数据作FFT变换,再将式中卷积号右边的级数作FFT变换,进而将两结果相乘,然后逆傅里叶变换,得出结果完成卷积运算,获得远场结果。
4、得到的被测天线外推远场和仿真的远场对照,具有很好的一致性。
5、将被测天线外推的远场数据与标准天线外推的远场数据比较,得到增益。增益的计算公式如下:G=S21测-S21标+G

Claims (1)

1.一种基于Hankel函数外推的天线中场测试方法,其特征在于若室内测试距离R不能满足远场条件而满足中场条件,测试步骤如下:
步骤1:根据暗室条件选择满足中场条件的中场距离,对被测天线进行测试,获得被测天线的中场数据
Figure FDA0000111196320000011
步骤2:采用Hankel函数的外推方法将所得的中场数据变换成远场EF(k,R)
Figure FDA0000111196320000012
其中:k为传播常数,
Figure FDA0000111196320000013
为原点到场点的矢量的相角,原点到源的矢量的相角,R0为原点到场点的距离,
Figure FDA0000111196320000015
为Hankel函数;
所述中场条件为:其中:λ为被测天线的工作波长,D为天线的口径尺寸。
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