CN105572652B - 一种利用外推获得具有多次散射目标远场rcs的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提出一种基于近场完备双站信息的近场散射外推方法。该方法首先在获取目标全角域的近场双站散射信息后,对各角度下采集的近场散射数据进行外推处理,然后根据互易定理,将外推后的数据等效为“远场发射、近场接收”数据。接下来对该数据再进行一次外推,使其满足“远场发射、远场接收”的条件,最后取出对角线上的元素获得各角度的远场RCS。
Description
技术领域
本发明涉及一种近场-远场雷达散射截面(RCS)外推方法,特别是针对具有多次散射目标体的近远场变换处理方法,属于散射测量领域。
背景技术
文献“An improved image-based circular near-field to far-fieldtransformation,IEEE Transactions on antennas and propagation,2013,61(2),p989-993”公开了一种基于合成孔径成像的RCS(Radar Cross Section)外推技术原理,该技术是假设目标的空间反射率分布函数不受照射条件变化的影响,是目标本身的客观特性。基于此近似处理,外推技术可应用于近似不需要双站信息的场合,通过ISAR成像获知目标散射率分布,从而确定目标散射,此过程使用了散射中心模型,即忽略了各散射中心的多次耦合。文献所述方法仅根据单站近场散射数据去推算远场的单站RCS,所有的双站信息都没有被采用,这样使得对具有多次散射目标的外推结果误差较大。在理论上,根据近远场散射之间的链条关系,从近场信息评估远场RCS时需要完备的双站散射信息。
发明内容
要解决的技术问题
为了克服针对孤立点散射中心模型所提出的外推方法,在计算复杂耦合目标时性能下降,带来较大误差的问题。本发明提出一种基于多次散射目标的近远场外推方法。
技术方案
本发明提出一种基于近场完备双站信息的近场散射外推方法。该方法首先在获取目标全角域的近场双站散射信息后,对各角度下采集的近场散射数据进行外推处理,然后根据互易定理,将外推后的数据等效为“远场发射、近场接收”数据。接下来对该数据再进行一次外推,使其满足“远场发射、远场接收”的条件,最后取出对角线上的元素获得各角度的远场RCS。
一种基于多次散射目标的近远场外推方法,其特征在于步骤如下:
步骤1:在测量半径满足近场条件R<2D2/λ的空间内,对待测目标进行散射测量得到完备的近场双站散射数据ENN(θtN,θrN),ENN(θtN,θrN)采用矩阵形式表示;其中,上标NN表示近场发射、近场接收;θtN表示各发射角度,范围为-180°~180°,间隔为1°,t=1,2,……,361;θrN表示各接收角度,范围为-180°~180°,间隔为1°,r=1,2,……,361;
步骤2:采用基于合成孔径成像的外推算法,将ENN(θtN,θrN)的每一行作外推计算得到ENF(θtN,θrF);其中,上标NF表示近场发射、远场接收;
步骤3:根据互易定理,将步骤2得到的外推数据ENF(θtN,θrF)等效为EFN(θrN,θtF);其中,上标FN表示远场发射、近场接收;
步骤4:采用基于合成孔径成像的外推算法,将EFN(θrN,θtF)的每一列作外推计算得到EFF(θrF,θtF);其中,上标FF表示远场发射、远场接收;
步骤5:提取EFF(θrF,θtF)矩阵对角线数据,即为各角度下的后向单站RCS。
有益效果
本发明提出的一种基于多次散射目标的近远场外推方法,由于采用了目标近场完备的双站信息,考虑到散射体其它方向散射场的波谱对某个方向散射总场的贡献,提出“多发多收”模式下的外推方法。用电磁仿真软件FEKO对二面角和腔体目标结构进行仿真,并通过Matlab软件进行外推计算,结果表明外推远场RCS与远场RCS吻合良好,在耦合区均值误差均小于0.5dB。在工程应用中对于具有多次散射的复杂目标RCS计算具有较高的精度。
附图说明
图1:本发明的处理流程图
图2:(a)二面角的几何模型;(b)二面角的矩形直腔
图3:二面角结构外推远场RCS及远场RCS比较
图4:矩形直腔外推远场RCS及远场RCS比较
具体实施方式
现结合实施例、附图对本发明作进一步描述:
本发明解决其技术问题所采用的技术方案:一种基于多次散射目标的近远场外推方法,其特点是包括下述步骤:
步骤1、在距离满足近场条件R<2D2/λ的空间测量得到待测目标完备的近场双站散射数据ENN(θtN,θrN)。其中,上标NN表示“近场接收,近场发射”,θtN表示各发射角度,θrN表示各接收角度。
步骤2、采用基于成像的外推算法,将每一次“单发多收”得到的近场数据ENN(θtN,θrN)作外推处理,t=1,2,……n。
步骤3、将所有角度下的外推远场数据进行整理,作为-180°~180°全角域下“近场发射、远场接收”的结果ENF(θtN,θrF),以矩阵形式来表示,其中每一行代表“单发多收”情况下的外推结果。
步骤4、根据互易定理,将步骤3中的外推结果等效为“近场接收、远场发射”的数据,记为EFN(θrN,θtF)。提取出矩阵的每一列,即某一角度下的“近场接收、远场发射”的数据EFN(θrN,θtF),t=1,2,...,n,并对其进行外推处理。
步骤5、再次将所有角度下外推得到的“远场发射、远场接收”数据进行整理。从而获得-180°~180°全角域下“远场发射、远场接收”的RCS数据EFF(θrF,θtF)。最后,提取矩阵对角线分布数据,即为各角度下的后向单站RCS。
实例1:
参照图2-a选择一个边长为0.5m的直二面角结构模型,测试频率为1.645GHz,波长为0.1824m。根据近场测量条件R≤2D2/λ=5.5m,其中为目标最大尺寸,因此仿真时近场距离选取R=2m。具体步骤如下:
1)利用电磁仿真软件FEKO对直二面角模型进行建模仿真,在距离待测目标R=2m的方位面上进行近场双站散射数据采集。天线在某一点处进行发射,同时在距离目标R远的圆周上间隔1°进行接收。以此类推,天线在圆周上逐点轮流进行“单发多收”采集,从而得到完备的近场双站数据,记为ENN(θtN,θrN)。
2)将1)中得到的每一次“单发多收”近场数据按照公式:
进行近远场外推转换。
3)将2)中所有角度下的外推远场数据整理,得到361×361的矩阵。
4)提取出3)中矩阵的每一列,重复步骤2)、3)。经过两次外推处理,得到“远场发射、远场接收”的数据,再提取出矩阵的对角线元素,最终得到二面角目标的远场RCS。
得到的外推结果参照图3,与FEKO中采用矩量法(MOM)计算的二面角远场RCS进行对比,可以看出,两者吻合良好,在耦合区的平均误差为0.42dB。
实例2:
参照图2-b选择一个长0.68m,宽0.61m,高0.44m的直腔体结构模型,测试频率为1.5GHz,波长为0.2m。根据近场测量条件R≤2D2/λ=4.6m,其中D=0.68m为目标最大尺寸,仿真时近场距离选取R=2m。按照实例1中同样的步骤进行仿真,得到的外推结果参照图4,与腔体的远场RCS进行对比,两者重合度也很高,在耦合区的平均误差为0.38dB。验证了该方法的有效性。
Claims (1)
1.一种基于多次散射目标的近远场外推方法,其特征在于步骤如下:
步骤1:在测量半径满足近场条件R<2D2/λ的空间内,对待测目标进行散射测量得到完备的近场双站散射数据ENN(θtN,θrN),ENN(θtN,θrN)采用矩阵形式表示;其中,上标NN表示近场发射、近场接收;θtN表示各发射角度,范围为-180°~180°,间隔为1°,t=1,2,……,361;θrN表示各接收角度,范围为-180°~180°,间隔为1°,r=1,2,……,361,D为目标最大尺寸;
步骤2:采用基于合成孔径成像的外推算法,将ENN(θtN,θrN)的每一行作外推计算得到ENF(θtN,θrF);其中,上标NF表示近场发射、远场接收;
步骤3:根据互易定理,将步骤2得到的外推数据ENF(θtN,θrF)等效为EFN(θrN,θtF);其中,上标FN表示远场发射、近场接收;
步骤4:采用基于合成孔径成像的外推算法,将EFN(θrN,θtF)的每一列作外推计算得到EFF(θrF,θtF);其中,上标FF表示远场发射、远场接收;
步骤5:提取EFF(θrF,θtF)矩阵对角线数据,即为各角度下的后向单站远场RCS。
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