JP3709496B2 - シリコン単結晶引上げ装置の上部構造 - Google Patents

シリコン単結晶引上げ装置の上部構造 Download PDF

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、シリコン単結晶棒を引上げる装置の上部構造に関する。更に詳しくは、引上げ装置のチャンバ内を清浄化するための構造に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、単結晶棒を引上げるワイヤがワイヤ巻取りドラムにより巻取られ、このドラムが単結晶棒の軸線を中心に回転し、このドラムの引上げ回転軸に沿って左右で巻き方向が対称となるようにドラムの周壁に一対の螺旋状の溝が設けられ、これらの溝に同一巻込み方向に巻込み案内されるように一対のワイヤ部材が垂下され、更にこれらのワイヤ部材の下端に種結晶保持体が接続されたワイヤ巻取り機構が開示されている(特開平9−156887号)。
このように構成されたワイヤ巻取り機構では、一対のワイヤ部材に均等に荷重が分散されるため、ワイヤ部材への負担が軽減され、細くて柔軟な撓み弾性を有するワイヤ部材を使用することができ、ワイヤ部材の巻上げ動作もスムーズになる。この結果、ワイヤ巻取りドラムの小径化及び小型化と、装置全体の小型化及び軽量化を図ることができるようになっている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、上記従来の特開平9−156887号公報に示されたワイヤ巻取り機構では、ワイヤ巻取りドラムが真空のヘッドチャンバに軸受を介して回転可能に収容され、かつこのヘッドチャンバがメインチャンバに連通するため、ドラム及びワイヤ部材の摩擦により発生した塵埃や、軸受にて発生した塵埃が両チャンバが連通するワイヤ通孔からメインチャンバ内に侵入するおそれがあった。
本発明の目的は、ヘッドチャンバ内のワイヤの摺動部等から発生する塵埃がメインチャンバ内に侵入するのを防止できる、シリコン単結晶引上げ装置の上部構造を提供することにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】
請求項1に係る発明は、図1に示すように、不活性ガス供給手段12aを有するメインチャンバ12と、メインチャンバ12の真空状態の内部に貯留されたシリコン融液からシリコン単結晶棒11を回転させながら引上げるワイヤ13と、ワイヤ13を回転させながら巻取るワイヤ巻取り機構14と、ワイヤ巻取り機構14を収容するヘッドチャンバ16と、ヘッドチャンバ12に連通してワイヤ13が遊挿された鉛直方向のチャンバ側連通孔15aを有しヘッドチャンバ16の下部に係合可能にメインチャンバ12の上部に形成された第1筒部15とを備えたシリコン単結晶引上げ装置の改良である。
その特徴ある構成は、チャンバ用真空ポンプ33の吸引口33aがチャンバ側連通孔15aに接続され、チャンバ用真空ポンプ33がヘッドチャンバ16内で発生した塵埃をチャンバ側連通孔15aから吸引して排出するように構成されたところにある。
【0005】
請求項2に係る発明は、図3に示すように、不活性ガス供給手段12aを有するメインチャンバ12の真空状態の内部に貯留されたシリコン融液からシリコン単結晶棒11を回転させながら引上げるワイヤ13と、ワイヤ13を回転させながら巻取るワイヤ巻取り機構14と、ワイヤ巻取り機構14を収容するヘッドチャンバ16と、メインチャンバ12に連通してワイヤ13が遊挿された鉛直方向のヘッド側連通孔16bを有しメインチャンバ12の上部に係合可能にヘッドチャンバ16の下部に形成された第2筒部16aとを備えたシリコン単結晶引上げ装置の改良である。
その特徴ある構成は、ヘッドチャンバ16にヘッド用真空ポンプ39が設けられ、ヘッド用真空ポンプ39の吸引口39aがヘッド側連通孔16bに接続され、ヘッド用真空ポンプ39がヘッドチャンバ16内で発生した塵埃をヘッド側連通孔16bから吸引して排出するように構成されたところにある。
【0006】
この請求項1及び請求項2に記載されたシリコン単結晶引上げ装置の上部構造では、ワイヤ巻取り機構14が作動すると、ヘッドチャンバ16内でワイヤ13等が擦れたり或いは摺動したりして塵埃が発生する場合があるけれども、これらの塵埃はそれぞれの真空ポンプ33,39によりヘッドチャンバ16内の気体とともにチャンバ側連通孔15a又はヘッド側連通孔16bから吸引されて外部に排出される。
請求項3に係る発明は、請求項2に係る発明であって、ヘッド用真空ポンプ39の吐出口39bがフィルタ44を介してヘッドチャンバ16に接続され、ヘッド側連通孔16bから吸引された塵埃がフィルタ44にて捕集されるように構成されたことを特徴とする。
【0007】
この請求項3に記載されたシリコン単結晶引上げ装置の上部構造では、ヘッドチャンバ16内の気体がヘッド側連通孔16bから塵埃とともにヘッド用真空ポンプ39で吸引されると、気体中の塵埃はフィルタ44で捕集される。また塵埃が除去されて浄化された気体は再びヘッドチャンバ16内に戻る。
請求項4に係る発明は、請求項3に係る発明であって、ヘッド用真空ポンプ39の吸引口39aとヘッド側連通孔16bとを接続する第1管路41に設けられこの第1管路41を開閉する第1開閉弁51と、ヘッド用真空ポンプ39の吐出口39bとフィルタ44とを接続する第2管路42に設けられヘッド用真空ポンプ39の吐出口39bをフィルタ44又は専用の排気口に連通するように切換える切換弁46と、フィルタ44とヘッドチャンバ16とを接続する第3管路43に設けられこの第3管路43を開閉する第2開閉弁52と、引上げ装置40の稼働状態に応じてヘッド用真空ポンプ39、第1開閉弁51、切換弁46及び第2開閉弁52を制御するコントローラとを備えたことを特徴とする。
【0008】
この請求項4に記載されたシリコン単結晶引上げ装置の上部構造では、メインチャンバ12内を図示しないフィルタを介して大気に開放したときに、コントローラは第1及び第2開閉弁51,52を開き、ヘッド用真空ポンプ39の吐出口39bとフィルタ44を連通するように切換弁46を切換え、ヘッドチャンバ16内で発生した塵埃をフィルタ44にて捕集する。
またメインチャンバ12内を所定の負圧にしたときには、コントローラは第1開閉弁51を開き、第2開閉弁52を閉じ、ヘッド用真空ポンプ39の吐出口39bと専用の排気口を連通するように切換弁46を切換え、ヘッドチャンバ16内で発生した塵埃をこの専用の排気口に排出する。
【0009】
請求項5に係る発明は、請求項1ないし4いずれかに係る発明であって、シリコン単結晶棒11の引上げ時に、不活性ガス供給手段12aによる不活性ガスの供給量が真空ポンプ33又は39の吸引量より大きく、かつメインチャンバ12の真空度が連通孔15a又は16bの真空度より低くなるように制御されたことを特徴とする。
この請求項5に記載されたシリコン単結晶引上げ装置の上部構造では、チャンバ側連通孔15a又はヘッド側連通孔16bの真空度をメインチャンバ12の真空度より高いくすることにより、チャンバ側連通孔15a又はヘッド側連通孔16bのガスがメインチャンバ12内に侵入することはなく、そのチャンバ側又はヘッド側連通孔15a,16bに存在する塵埃のメインチャンバ12内への侵入は確実に防止される。その一方、不活性ガスの供給量はチャンバ用真空ポンプ33又はヘッド用真空ポンプ39の吸引量より大きいので、その不活性ガスの全てがチャンバ側又はヘッド側連通孔15a,16bから外部に排出されることはなく、その不活性ガスの本来の役割が減じられることはない。
【0010】
【発明の実施の形態】
次に本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
図1及び図2に示すように、シリコン単結晶棒11は引上げ装置10によりシリコン融液から引上げられる。この引上げ装置10は不活性ガス供給手段12aと図示しないメイン真空ポンプとを有するメインチャンバ12と、このメインチャンバ12の真空状態の内部に貯留された図示しないシリコン融液からシリコン単結晶棒11を回転させながら引上げるワイヤ13と、このワイヤ13を巻取るワイヤ巻取り機構14と、このワイヤ巻取り機構14を収容するヘッドチャンバ16とを備える。メインチャンバ12の上部には第1筒部15が上方に向かって突出するように形成され、この第1筒部15にはヘッドチャンバ16に連通してワイヤ13が遊挿された鉛直方向のチャンバ側連通孔15aが略中央に形成される。
【0011】
一方、ヘッドチャンバ16の下面にはワイヤ13を遊挿可能な第2筒部16aが下方に向って突設される。第2筒部16aの下部は第1筒部15より大径に形成され、第1筒部15に磁性流体シール17を介して回転可能に嵌入される。磁性流体シール17は第1筒部15と第2筒部16aとの隙間を塞ぐことにより、メインチャンバ12内及びヘッドチャンバ16内を大気と遮断するように構成される。また、第2筒部16aにはメインチャンバ12に連通してワイヤ13が遊挿された鉛直方向のヘッド側連通孔16bが略中央部に形成される。第2筒部16aの外周面には従動プーリ18が嵌着され、このプーリ18と図示しないヘッド駆動用モータの出力軸に嵌着された駆動プーリ(図示せず)との間にはベルト19が掛け渡される。ヘッドチャンバ16は上記ヘッド駆動用モータにより回転駆動されるように構成される。
【0012】
ワイヤ巻取り機構14はヘッドチャンバ16の上壁16c下面に吊下げられた定滑車21と、ヘッドチャンバ16の下壁16d上面に回転可能かつ摺動可能に取付けられた巻取りドラム22と、この巻取りドラム22を回転駆動するドラム駆動用モータ23とを有する。巻取りドラム22はシャフト24にスプライン嵌合される。即ち、ドラム22はシャフト24の長手方向に摺動可能にかつシャフト24に対して回転不能に構成される。ドラム22をシャフト24に摺動可能に嵌入したのは、ワイヤ13をドラム22に均一に巻取るためである。このシャフト24はヘッドチャンバ16の下壁16d上面に立設された一対のブラケット26,26に軸受27,27を介して回転可能に保持される(図2)。
【0013】
またドラム駆動用モータ23は減速機付電動モータであり、ヘッドチャンバ16の上壁16c上面に取付けられる。このモータ23の出力軸23aは上壁16cからヘッドチャンバ16内に挿入され、その下端には駆動ギヤ28(図2)が嵌着される。またシャフト24の一端は上記出力軸23aの近傍まで延び、シャフト24の一端には上記駆動ギヤ28に噛合する従動ギヤ29(図2)が嵌着される。駆動ギヤ28及び従動ギヤ29としては、この実施の形態では傘歯車が用いられる。なお、駆動ギヤ28としてウォームを用い、従動ギヤ29としてウォームホイールを用いてもよい。ワイヤ13は上記ドラム22に繰出し可能に巻取られ、繰出されたワイヤ13は定滑車21に係合した後、第2筒部16aのヘッド側連通孔16c及び第1筒部15のチャンバ側連通孔15aの内部を通ってメインチャンバ12内に垂下される。またワイヤ13の先端には種結晶31を保持するチャック32が取付けられる(図1)。なお図2の符号30は磁性流体シールである。
【0014】
図1に示すように、メインチャンバ12の外部にはチャンバ用真空ポンプ33が設けられ、このチャンバ用真空ポンプ33の吸引口33aには第1配管34の一端が接続され、第1配管34の多端はチャンバ側連通孔15aに開口するように第1筒部15に接続される。チャンバ用真空ポンプ33から第1筒部15までの第1配管34には、補助チャンバ36と補助開閉弁37がこの順序に設けられる。補助開閉弁37は2ポート2位置切換えの電磁弁であり、オンすると第1配管34を開放し、オフすると第1配管34を閉止するように構成される。チャンバ用真空ポンプ33を駆動して補助チャンバ36の内部を真空にし、この状態で補助開閉弁37により第1配管34を開放する事により、チャンバ側連通孔15a内部の気体が第1配管34の他端から吸引され、チャンバ用真空ポンプ33から外部に排出するように構成される。
【0015】
更にメインチャンバ12内には図示しないがシリコン融液を貯留する石英るつぼが設けられ、この石英るつぼは支軸を介してるつぼ駆動手段に接続される。石英るつぼの外周面は石英るつぼから所定の間隔をあけてカーボン製のヒータにより包囲され、このヒータは保温筒により包囲される。ヒータは石英るつぼに投入された高純度のシリコン多結晶体を加熱・融解してシリコン融液にするように構成される。なお、ドラム駆動用モータ23及びチャンバ用真空ポンプ33には図示しないスリップリング及び電刷子を介して電力が供給されるように構成される。
【0016】
このように構成されたシリコン単結晶引上げ装置の動作を説明する。
引上げ装置10の準備状態では、メインチャンバ12内及びヘッドチャンバ16内が大気に開放され、石英るつぼにシリコン多結晶体を充填したり、ドラム駆動用モータ23により巻取りドラム22を回転駆動してワイヤ13を繰出し又は巻取り、ワイヤ13の先端のチャック32に種結晶31を取付けたりする作業が行われる。この作業の際に、チャンバ用真空ポンプ33を駆動して補助開閉弁37により第1配管34を解放し、チャンバ側連通孔15a内部の気体を吸引させる。ワイヤ13の繰出し又は巻取り時には、駆動ギヤ28と従動ギヤ29との噛合により(歯面同士に僅かな滑りが生じる。)、若しくはワイヤ13がドラム22の外周面等に擦られることにより、又はドラム22がシャフト24に対して摺動することにより、或いは定滑車21や軸受27が回転することにより、ヘッドチャンバ16内に塵埃が発生する。しかし、チャンバ側連通孔15a内部の気体を吸引することにより、ヘッドチャンバ16内の空気がその塵埃とともにチャンバ側連通孔15aに流入しても、その塵埃はチャンバ側連通孔15a内部の気体とともに吸引されて除去される。この結果、ヘッドチャンバ16内で発生した塵埃がメインチャンバ16内に侵入することはない。
【0017】
一方、引上げ装置10の準備が完了すると、メイン真空ポンプ(図示せず)を作動させてメインチャンバ12内が所定の負圧になるまで空気を吸引するとともに、不活性ガス供給手段12aによりメインチャンバ12内に不活性ガスを供給して空気を不活性ガスに置換する。ヘッドチャンバ16内もメインチャンバ12内に連通しているため、所定の負圧になりかつヘッドチャンバ16内の空気が不活性ガスに置換される。またヒータを作動して石英るつぼ内のシリコン多結晶体を融解してシリコン融液にし、ワイヤ13を繰出してチャック32に取付けられた種結晶31をシリコン融液に浸す。その後ワイヤ巻き取り機構14そのワイヤを引き上げてそのシリコン融液からシリコン単結晶棒11を引上げる。この引上げの際にも、チャンバ用真空ポンプ33を駆動してチャンバ側連通孔15a内部の気体を吸引させる。
【0018】
具体的に、シリコン単結晶棒11の引上げ時に、不活性ガス供給手段12aによる不活性ガスの供給量がチャンバ用真空ポンプ33の吸引量より大きく、かつメインチャンバ12の真空度がチャンバ側連通孔15aの真空度より低くなるように制御される。ワイヤの引上げ時にもワイヤ13の繰出しにより上記と同様にヘッド用チャンバ16内には塵埃が発生するが、チャンバ用真空ポンプ33の作動によりヘッドチャンバ16内の不活性ガスは速やかに塵埃とともにチャンバ側連通孔15aから図示しないフィルタを介して大気に排出されるので、上記塵埃がメインチャンバ12内に侵入することはなく、塵埃(パーティクル)を含まない高純度のシリコン単結晶棒11を引上げることができる。特に、チャンバ側連通孔15aの真空度はメインチャンバ12の真空度より高いため、チャンバ側連通孔15aのガスがメインチャンバ12内に侵入することはなく、そのチャンバ側連通孔15aに存在する塵埃のメインチャンバ12内への侵入は確実に防止される。
【0019】
図3に本発明の別の実施の形態を示す。図面中上述した実施の形態と同一符号は同一部品を示し、繰り返しての説明を省略する。
図3に示すように、この実施の形態における引上げ装置40のヘッドチャンバ16の上壁16c上面にはヘッド用真空ポンプ39が取付けられる。このポンプ39の吸引口39aには第1管路41の一端が接続され、第1管路41の他端はヘッド側連通孔16bに開口するように第2筒部16aに挿入される。またポンプ39の吐出口39bは第2管路42を介してフィルタ44の入口44aに接続される。フィルタ44の出口44bには第3管路43の一端が接続され、第3管路43の他端はヘッドチャンバ16の側壁16dからヘッドチャンバ16内に挿入される。
【0020】
第1及び第3管路41,43にはこれらの管路41,43を開閉する第1及び第2開閉弁51,52がそれぞれ設けられ、第2管路42にはヘッド用真空ポンプ39の吐出口39bをフィルタ44又は専用の排気口に連通するように切換える切換弁46が設けられる。第1及び第2開閉弁51,52は2ポート2位置切換えの電磁弁であり、オンすると第1及び第3管路41,43をそれぞれ開放し、オフすると第1及び第3管路41,43をそれぞれ閉止するように構成される。また切換弁46は3ポート2位置切換えの電磁弁であり、オンするとポンプ39の吐出口39bとフィルタ44とを連通し、オフするとポンプ39の吐出口39bと専用の排気口とを連通するように構成される。
【0021】
メインチャンバ12内にはこのチャンバ12内の圧力を検出する圧力センサ(図示せず)が設けられる。この圧力センサの検出出力はコントローラ(図示せず)の制御入力に接続され、コントローラの制御出力はヘッド用真空ポンプ39、第1開閉弁51、第2開閉弁52及び切換弁46にそれぞれ接続される。上記圧力センサにより引上げ装置10の稼働状態、具体的にはメインチャンバ12内が所定の負圧か又は大気圧かが検出されるように構成される。即ち、メインチャンバ12内が所定の負圧の場合には、コントローラはシリコン単結晶棒11を引上げている状態(以下、引上げ状態という)であると判断し、メインチャンバ12内が大気圧の場合には、メインチャンバ12内にシリコン多結晶体等の材料をセットしている状態(以下、準備状態という)であると判断する。
【0022】
このように構成されたシリコン単結晶引上げ装置の動作を説明する。
引上げ装置10の準備状態では、メインチャンバ12内及びヘッドチャンバ16内が大気に開放されるので、圧力センサはメインチャンバ12内が大気圧であることを検出する。この場合、コントローラは第1及び第2開閉弁51,52をオンして第1及び第3管路41,43を開放し、切換弁46をオンしてヘッド用真空ポンプ39の吐出口39bをフィルタ44に連通させる。この状態でヘッド用真空ポンプ39を作動させると、ヘッド側連通孔16b内の空気が第1管路41、ヘッド用真空ポンプ39及び第2管路42を介してフィルタ44に流入し、フィルタ44にて空気に含まれる塵埃が除去され、浄化された空気が第3管路43を介して再びヘッドチャンバ16内に戻る。この結果、ヘッドチャンバ16内で発生した塵埃は速やかにフィルタ44により除去されるので、上記塵埃がメインチャンバ16内に侵入することはない。
【0023】
また引上げ装置10の準備が完了すると、メイン真空ポンプ(図示せず)を作動させてメインチャンバ12内が所定の負圧になるまで空気を吸引するとともに、メインチャンバ12内に不活性ガスを供給して空気を不活性ガスに置換する。またヒータを作動して石英るつぼ内のシリコン多結晶体を融解してシリコン融液にし、ワイヤ13を繰出してチャック32に取付けられた種結晶31をシリコン融液に浸す。このときワイヤ13の繰出しにより上記と同様にヘッド用チャンバ16内には塵埃が発生する。
【0024】
一方、圧力センサがメインチャンバ16内が所定の負圧であることを検出すると、コントローラは引上げ装置10が引上げ状態になったと判断し、第1開閉弁51をオンしたまま、第2開閉弁52をオフして第3管路43を閉止し、更に切換弁46をオフしてヘッド用真空ポンプ39の吐出口39bを専用の排気口に連通させる。この結果、ヘッド用真空ポンプ39の作動によりヘッドチャンバ16内の不活性ガスはヘッド側連通孔16bから塵埃とともに専用の排気口に排出されるので、上記塵埃がメインチャンバ12内に侵入することはなく、塵埃(パーティクル)を含まない高純度のシリコン単結晶棒11を引上げることができる。
【0025】
なお、図示しないコントローラは、シリコン単結晶棒11の引上げ時に、不活性ガス供給手段12aによる不活性ガスの供給量がヘッド用真空ポンプ39の吸引量より大きく、かつメインチャンバ12の真空度がヘッド側連通孔16bの真空度より低くなるように制御される。ヘッド側連通孔16bの真空度をメインチャンバ12の真空度より高くすることにより、ヘッド側連通孔16bのガスがメインチャンバ12内に侵入することはなく、そのヘッド側連通孔16bに存在する塵埃のメインチャンバ12内への侵入は確実に防止される。その一方で、不活性ガスの供給量はヘッド用真空ポンプ39の吸引量より大きいので、その不活性ガスの全てがヘッド側連通孔16bから専用の排気口に排出されることはなく、その不活性ガスの本来の役割が減じられることはない。
【0026】
【発明の効果】
以上述べたように、本発明によれば、チャンバ用真空ポンプの吸引口をチャンバ側連通孔に接続し、チャンバ用真空ポンプがヘッドチャンバ内で発生した塵埃をチャンバ側連通孔から吸引して排出するように構成したので、又はヘッドチャンバにヘッド用真空ポンプを設けてヘッド用真空ポンプの吸引口をヘッド側連通孔に接続し、ヘッド用真空ポンプがヘッドチャンバ内で発生した塵埃をヘッド側連通孔から吸引して排出するように構成したので、ヘッドチャンバ内のワイヤの摺動部等から塵埃が発生しても、それぞれの真空ポンプがこれらの塵埃を速やかに吸引してヘッドチャンバ外に排出する。この結果、上記塵埃がメインチャンバ内に侵入しないので、塵埃(パーティクル)を含まない高純度のシリコン単結晶棒を引上げることができる。
またヘッド用真空ポンプの吐出口をフィルタを介してヘッドチャンバに接続し、ヘッドチャンバ内で発生した塵埃をフィルタにて捕集するように構成すれば、ヘッドチャンバ内の気体が塵埃とともにヘッド用真空ポンプで吸引され、この気体中の塵埃がフィルタで捕集されて浄化された後に、浄化された気体が再びヘッドチャンバ内に戻る。
【0027】
また、第1管路にこの第1管路を開閉する第1開閉弁を設け、第2管路にヘッド用真空ポンプの吐出口をフィルタ又は専用の排気口に連通するように切換える切換弁を設け、第3管路にこの第3管路を開閉する第2開閉弁を設け、更に引上げ装置の稼働状態に応じてコントローラがヘッド用真空ポンプ、第1開閉弁、切換弁及び第2開閉弁を制御するように構成すれば、メインチャンバ内が大気圧のときに、コントローラが第1及び第2開閉弁を開き、かつ切換弁をヘッド用真空ポンプの吐出口及びフィルタを連通するように切換える。この結果、ヘッドチャンバ内で発生した塵埃は速やかにフィルタにより捕集され、浄化された空気がヘッドチャンバ内に戻されるので、上記塵埃のメインチャンバ内への侵入を防止できる。一方、メインチャンバ内が所定の負圧になると、コントローラは第1開閉弁を開き、第2開閉弁を閉じ、かつ切換弁をヘッド用真空ポンプの吐出口及び専用の排気口を連通するように切換える。この結果、ヘッドチャンバ内で発生した塵埃は専用の排気口に排出されるので、上記塵埃のメインチャンバ内への侵入を防止できる。
【0028】
更に、チャンバ側連通孔又はヘッド側連通孔の真空度をメインチャンバの真空度より高くすれば、チャンバ側連通孔又はヘッド側連通孔のガスがメインチャンバ内に侵入することはなく、そのチャンバ側又はヘッド側連通孔に存在する塵埃のメインチャンバ内への侵入を確実に防止することができる。その一方、不活性ガスの供給量をチャンバ用真空ポンプ又はヘッド用真空ポンプの吸引量より大ききくすれば、その不活性ガスの全てがチャンバ側又はヘッド側連通孔から外部に排出されることはなく、その不活性ガスの本来の役割が減じられることはない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明実施形態のシリコン単結晶引上げ装置のヘッドを含む要部断面図。
【図2】図1のA−A線断面図。
【図3】本発明別の実施形態のシリコン単結晶引上げ装置の図1に対応する要部断面図。
【符号の説明】
10,40 シリコン単結晶引上げ装置
11 シリコン単結晶棒
12 メインチャンバ
12a 不活性ガス供給手段
13 ワイヤ
14 ワイヤ巻取り機構
15 第1筒部
15a チャンバ側連通孔
16 ヘッドチャンバ
16a 第2筒部
16b ヘッド側連通孔
33 チャンバ用真空ポンプ
33a 吸引口
39 ヘッド用真空ポンプ
39a 吸引口
39b 吐出口
44 フィルタ
41 第1管路
42 第2管路
43 第3管路
46 切換弁
51 第1開閉弁
52 第2開閉弁

Claims (5)

  1. 不活性ガス供給手段(12a)を有するメインチャンバ(12)と、前記メインチャンバ(12)の真空状態の内部に貯留されたシリコン融液からシリコン単結晶棒(11)を回転させながら引上げるワイヤ(13)と、前記ワイヤ(13)を巻取るワイヤ巻取り機構(14)と、前記ワイヤ巻取り機構(14)を収容するヘッドチャンバ(16)と、前記ヘッドチャンバ(12)に連通して前記ワイヤ(13)が遊挿された鉛直方向のチャンバ側連通孔(15a)を有し前記ヘッドチャンバ(16)の下部に係合可能に前記メインチャンバ(12)の上部に形成された第1筒部(15)とを備えたシリコン単結晶引上げ装置において、
    チャンバ用真空ポンプ(33)の吸引口(33a)が前記チャンバ側連通孔(15a)に接続され、
    前記チャンバ用真空ポンプ(33)が前記ヘッドチャンバ(16)内で発生した塵埃を前記チャンバ側連通孔(15a)から吸引して排出するように構成された
    ことを特徴とするシリコン単結晶引上げ装置の上部構造。
  2. 不活性ガス供給手段(12a)を有するメインチャンバ(12)の真空状態の内部に貯留されたシリコン融液からシリコン単結晶棒(11)を回転させながら引上げるワイヤ(13)と、前記ワイヤ(13)を巻取るワイヤ巻取り機構(14)と、前記ワイヤ巻取り機構(14)を収容するヘッドチャンバ(16)と、前記メインチャンバ(12)に連通して前記ワイヤ(13)が遊挿された鉛直方向のヘッド側連通孔(16b)を有し前記メインチャンバ(12)の上部に係合可能に前記ヘッドチャンバ(16)の下部に形成された第2筒部(16a)とを備えたシリコン単結晶引上げ装置において、
    前記ヘッドチャンバ(16)にヘッド用真空ポンプ(39)が設けられ、
    前記ヘッド用真空ポンプ(39)の吸引口(39a)が前記ヘッド側連通孔(16b)に接続され、
    前記ヘッド用真空ポンプ(39)が前記ヘッドチャンバ(16)内で発生した塵埃を前記ヘッド側連通孔(16b)から吸引して排出するように構成された
    ことを特徴とするシリコン単結晶引上げ装置の上部構造。
  3. ヘッド用真空ポンプ(39)の吐出口(39b)がフィルタ(44)を介して前記ヘッドチャンバ(16)に接続され、ヘッド側連通孔(16b)から吸引された塵埃が前記フィルタ(44)にて捕集されるように構成された請求項2記載のシリコン単結晶引上げ装置の上部構造。
  4. ヘッド用真空ポンプ(39)の吸引口(39a)とヘッド側連通孔(16b)とを接続する第1管路(41)に設けられこの第1管路(41)を開閉する第1開閉弁(51)と、
    前記ヘッド用真空ポンプ(39)の吐出口(39b)とフィルタ(44)とを接続する第2管路(42)に設けられ前記ヘッド用真空ポンプ(39)の吐出口(39b)を前記フィルタ(44)又は専用の排気口に連通するように切換える切換弁(46)と、
    前記フィルタ(44)と前記ヘッドチャンバ(16)とを接続する第3管路(43)に設けられこの第3管路(43)を開閉する第2開閉弁(52)と、
    引上げ装置(40)の稼働状態に応じて前記ヘッド用真空ポンプ(39)、前記第1開閉弁(51)、前記切換弁(46)及び前記第2開閉弁(52)を制御するコントローラと
    を備えた請求項3記載のシリコン単結晶引上げ装置の上部構造。
  5. シリコン単結晶棒(11)の引上げ時に、不活性ガス供給手段(12a)による不活性ガスの供給量が真空ポンプ(33又は39)の吸引量より大きく、かつメインチャンバ(12)の真空度が連通孔(15a又は16b)の真空度より低くなるように制御された請求項1ないし4いずれか記載のシリコン単結晶引上げ装置の上部構造。
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