JP3663920B2 - 位相差観察装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、位相差観察装置、特に生物標本などの無色透明な物体を染色すること無しに観察できる位相差顕微鏡に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
位相差顕微鏡は、被検物体を照明系の開口位置に配した絞りによって制限された照明光で照明し、対物レンズ内に開口絞りと共役位置に位相を変換する位相膜を配して、被検物体(位相物体)によって生じる位相差を光の強弱であるコントラストに変えている。これにより、被検物体の位相差を像の明暗として可視化して観察することができる。この位相差顕微鏡は、1935年にF.Zernikeにより発明され、原理に関しては、例えば応用光学1(培風館、1990、鶴田匡夫、P.256−259位相差法)、又はFundamenta1s ofOptics(4th edition,McGraw−hill,1981,Jenkins and White,P.602−604 Phase−contrast microscope)に記載されている。
【0003】
図6(a)に示した位相差顕微鏡の構成図を用いて原理を簡単に説明する。不図示の光源からの波長λの照明光が、図下方から輪帯状の開口部を有するリング絞りAPを透過する。絞りAPは、コンデンサレンズGlの前側焦点位置Fに配置されており、被検物体Oを照明する光束を図6(b)に示すように輪帯状に制限する。照明された被検物体Oを透過した光は、対物レンズG2,G3によって像面Iに集光され像が形成される。ここで、対物レンズG2の後ろ側焦点位置F’には位相絞りPh’が設けられている。リング絞りAPと位相絞りPh’とは共役な関係となっている。そして、位相絞りPh’は、リング絞りAPの開口部と共役な形状で透過光に位相差λ/4を与える位相板PPを有している。また、位相絞りPh’は、位相板PPと同じ形状であり、透過光量を弱めるための変調膜も有している。
【0004】
被検物体Oを透過する際に、物体で回折された光束は、直接光L1と±1次の回折光L2とに分かれて位相絞りPh’を通過する。直接光L1と回折光L2とが位相絞りPh’を透過する際に、直接光L1の通過する部分に位相板PPを設け、例えば直接光L1の位相がλ/4進むように構成されている。位相がλ/4進んだ直接光Llは、位相がλ/4遅れた回折光L2と像面Iの位置で干渉して弱め合う。これに対して、位相物体が無い部分では回折光が生じないため、直接光Llの明るさの背景となる。これにより、物体Oの位相差を、像の明暗として観察できる。また、±1次の回折光L2の振幅は、ベッセル関数を用いてJ1(B)で表される。そして、位相差量に応じて変化する回折光の強度{J1(B)}2に合わせて、位相板PPに、透過光量を弱めるニュートラルデンシティ膜などの透過率変調膜が施されている。透過率変調膜により直接光L1の振幅と回折光L2の振幅を等しくした場合に、背景光に対し位相物体が最もコントラスト良く観察することができる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
上記従来技術の位相差顕微鏡では、被検物体の位相差が小さい場合は、直接光L2の透過率を低くして位相差量の検出感度を高くした、いわゆる高コントラストタイプが用いられている。この時の位相板PP上の変調膜の透過率は10%〜25%程度である。高コントラストタイプの位相差顕微鏡の場合、微小な位相差量の物体を検出することができる反面、位相差量が大きい物体を観察すると直接光と回折光の振幅量が逆転して、コントラストの反転した像が形成されてしまう。このため、物体像の周囲に、位相差又は構造に応じた隈取り状の光の滲みが生ずる。この現象はハロー(ha1o)と呼ばれる。ハローが生じると良好な観察が妨げられるばかりか、さらに被検物体の構造を誤認して観察するおそれがあり問題である。
【0006】
一方、位相差量の大きい被検物体を観察する際は、ハローが生じにくいように直接光L1の透過率を高くした低コントラストタイプの位相差顕微鏡が用いられている。この時の位相膜PP上の透過率変調膜の透過率は25%〜50%程度であることが望ましい。低コントラストタイプの顕微鏡の場合は、ハローが生じにくい代わりに、微小な位相差量の物体を観察した場合に、観察像のコントラストが低くなってしまい、良好な像の検出が困難になるという問題がある。
【0007】
本発明は上記問題に鑑みてなされたものであり、被検物体が有する位相差量に関らず、常に良好なコントラストの観察像を得ることができる位相差観察装置を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、請求項1記載の発明では、光源と、
前記光源からの光束を被検物体に照射するための照明光学系と、
開口絞りと、
前記被検物体からの光束を集光して像を形成する対物レンズと、
前記対物レンズ内の前記開口絞りと共役な位置に設けられている位相変換部とを有する位相差観察装置において、
前記位相変換部は、前記開口絞りの開口部と所定倍率で相似な形状を有する第1透過率変調部と、
前記第1透過率変調部の周囲を取り囲むように設けられている第2透過率変調部と、
さらに前記第2透過率変調部の周囲を取り囲むように設けられている無変調部とを有し、
前記第2透過率変調部の透過率は、前記第1透過率変調部の透過率よりも大きいことを特徴とする。
【0009】
また、請求項2記載の発明では、前記第2透過率変調部の透過率は、前記第1透過率変調部側の透過率が低く、前記無変調部側の透過率が高くなるように、段階的に大きくなることを特徴とする。
【0010】
また、請求項3記載の発明では、少なくとも前記第2透過率変調部は、輪帯形状であることを特徴とする。
【0011】
また、請求項4記載の発明では、前記第1透過率変調部の透過率TA(%)は、
TA<30
の条件を満足することを特徴とする。
【0014】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面に基づいて、本発明の実施の形態について説明する。
(第1実施形態)
図1(a)は、本発明の第1実施形態にかかる位相差顕微鏡の概略構成を示す図である。図1(a)の構成において、前述した従来技術のものと同じ構成部分については同一の符号を用いている。
【0015】
光源LSからの波長λの照明光が、図下方からリング状の開口部を有するリング絞りAPを透過する。絞りAPは、コンデンサレンズGlの前側焦点位置Fに配置されており、開口絞りとして被検物体Oを照明する光束を図1(b)に示すように輪帯状に制限する。照明された被検物体Oを透過した光は、対物レンズG2,G3によって像面Iに集光され像が形成される。ここで、対物レンズG2の後ろ側焦点位置F’には位相絞りPhが設けられている。位相絞りPhとリング絞りAPとは共役な関係となっている。また、位相絞りPhは、リング絞りAPの開口部と相似な形状であり、かつ透過光に位相差λ/4を与える位相板PPを有している。
【0016】
さらに、位相絞りPhは、図1(c)に示すように、ニュートラルデンシティ膜で構成された輪帯状の透過率変調部A1と、その周囲を取り囲むように外周及び内周部分に透過率変調部B1及び無変調部C1とを有している。
【0017】
位相絞りPhの構成を図2を用いてさらに詳しく説明する。透過率変調部A1は、リング絞りAPの開口部に対して所定倍率の相似形状である。所定倍率として、コンデンサレンズG1と対物レンズG2との合成倍率、即ち、絞りAPがレンズG1とG2とによりリレーされる倍率であることが望ましい。さらに好ましくは、位相絞りPhの位置調整の容易性等を考慮して、リング絞りAPの開口部に対応するリレー倍率で定まる幅よりやや広めであることが望ましい。そして、透過率変調部A1の外周及び内周の周囲部分には、透過率変調部B1が透過率変調部A1を取り囲む様に設けられている。透過率変調部B1の幅は、透過率変調部A1と同一又は若干広い程度であることが望ましいが、これに限られるものではない。さらに、透過率変調部B1を取り囲むようにして無変調部C1が設けられている。透過率変調部A1、B1はいずれも輪帯形状である。
【0018】
透過率変調部A1の透過率TA1は20%、透過率変調部B1の透過率TB1は50%となるようにニュートラルデンシティ膜などを使用して調整されている。さらに、位相差絞りPhの最外周部分及び中心部分付近C1は、透過率変調を行なっていない、透過率TC1が100%の部分である。
【0019】
次に、本実施形態の位相絞りPhを用いた場合の、位相差観察の原理について説明する。物体の構造によって生じる回折光L2の回折角θは、使用波長をλ、媒質の屈折率をn、物体構造の周期をdとしたとき、次式で表される。
【0020】
θ=sin-1(0.61λ/n・d)
ただし、0≦θ≦π/4である。
【0021】
一般に、生物標本では、位相差量は物体の構造の大きさにほぼ比例するので、位相差量の大きい物体では、構造も大きい、即ち、上式でdが大きいという特徴が存在する。このとき、n、λが定数ならばθが小さくなる。
【0022】
また、回折光L2と直接光L1との距離P(図1参照)は次式で表すことができる。
【0023】
P=f2・sinθ
ここで、f2は対物レンズG2の焦点距離、θは回折角をそれぞれ表している。
【0024】
位相差量の大きい物体(構造の大きな物体)を観察する場合は、回折角θは小さくなり、かつ回折光の強度はある程度大きい。このため、直接光L1と回折光L2との距離Pが小さくなるので、直接光L1は透過率変調部A1、±1次の回折光L2は透過率変調部B1をそれぞれ通過する。したがって、透過率変調部A1の透過率TA1=20%と透過率変調部B1の透過率TB1=50%との比が、回折光L2に対する直接光L1の実質的な透過率変調となるので、低コントラストタイプの構成と同様の効果となる。
【0025】
さらに、位相差量の小さい物体(構造の小さい物体)を観察する場合は、回折角θは大きくなり、かつ回折光の強度がある程度弱い。このため、直接光L1は透過率変調部A1、±1次の回折光L2は無変調部C1をそれぞれ通過する。したがって、透過率変調部A1の透過率TA1=25%と無変調部C1の透過率TC1=100%との比が、回折光L2に対する直接光L1の実質的な透過率変調となるので、直接光Llの振幅のみを低下させる高コントラストタイプの構成と同様の効果を得ることができる。
【0026】
かかる位相絞りPhによれば、透過率変調部A1に対してB1,C1と段階的に透過率が変化しているので、物体の構造にかかわらず、直接光L1と回折光L2との振幅(光量比)が適度に調整、好ましくは略同一となるように調整されるので、コントラストの良い観察像を得ることができる。
【0027】
また、透過率TA1、TB1は、TA1=15%、TB1=40%等としてもよい。
【0028】
(第2実施形態)
図3は本発明の第2実施形態にかかる位相差観察装置の位相絞りの構成を示す図である。その他の構成については第1実施形態と同様であるので説明を省略する。図3は位相絞りPhをZ軸(光軸)方向から見た平面図である。位相絞りPhは、リング状の透過率変調部A2(透過率TA2=20%)と、透過率変調部A2を中心として対称的に設けられている透過率変調部B2(透過率TB2=50%)、透過率変調部C2(透過率TC2=80%)、及び無変調部D2(透過率TD2=100%)とを有している。図からもわかるように、透過率変調部B2はA2を取り囲むように、同様にC2はB2を取り囲むように、D2はC2を取り囲むように構成されている。透過率変調部A2〜C2はいずれも輪帯形状である。
【0029】
かかる構成によれば、透過率変調部A2に対して、B2,C2は第1実施形態よりもさらに細かく段階的に透過率が大きくなっているので、より良好なコントラストの像を観察できる。
【0030】
(第3実施形態)
図4は本発明の第3実施形態にかかる位相差観察装置の位相絞りの構成を示す図である。装置構成は、絞りAPがリング絞りではなく円形開口絞りである点を除いて第1実施形態と同様であるので説明を省略する。図4は位相絞りPhをZ軸(光軸)方向から見た平面図である。位相絞りPhは、円形状の透過率変調部A3(透過率TA3=20%)と、透過率変調部B3(透過率TB3=50%)、透過率変調部C3(透過率TC3=80%)、及び無変調部D3(透過率TD3=100%)とを有している。図からもわかるように、絞りPhの中心から、透過率変調部B3はA3を取り囲むように、同様にC3はB3を取り囲むように、D3はC3を取り囲むように構成されている。ここで、透過率変調部A1は円形開口絞りAPと相似な円形形状であり、透過率変調部B3、C3は輪帯形状である。
【0031】
(第4実施形態)
図5は本発明の第4実施形態にかかる位相差観察装置の位相絞りの透過率変調部の透過率変化を示す透過率曲線である。その他の構成については第1実施形態と同様であるので説明を省略する。横軸は位相差絞りPhが置かれた瞳面での光軸からの距離を最外周を1として規格化した座標、縦軸は透過率(パーセント)をそれぞれ示している。本実施形態の位相絞りの透過率変調部Bの透過率は、Aに対して絞りの中心部から外周方向へ向かって連続的に大きくなっている。
【0032】
そして、好ましくは、透過率曲線は次式、
TA+(100−TA)×d/D<TB<100
を満足することが望ましい。ここで、TA(%)は透過率変調部Aの透過率、TB(%)は透過率変調部Bの透過率、Dは透過率変調部Bの幅、dは透過率変調部Aからの距離dをそれぞれ表している。かかる条件を満足することで、より良好なコントラストで像を観察できる。
【0033】
また、本発明では、以下の条件式、
TA<30
を満足することが望ましい。ここでTAは第1透過率変調部である透過率変調部A1、A2、A3などの透過率を表している。当該条件を満足することで、位相差の小さい被検物体でも良好なコントラストで観察することができる。
【0034】
また、本発明の位相差観察装置において直接光と回折光との間に位相差を与える場合に、直接光の位相差をλ/4だけ進めるようにして、媒質より屈折率の高い物体が背景より暗く見えるダークコントラスト法、又は直接光の位相差をλ/4だけ遅れるようにして、媒質より屈折率の高い物体が背景より明るく見えるブライトコントラスト法のいずれを用いても良い。
【0035】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の位相観察装置によれば、電気的なコントラスト変調装置を用いることなく、きわめて簡易な構成で、位相差量の大きい構造の物体でもハローの少ない観察ができ、さらに位相差量の小さい構造の物体でも高いコントラストで観察できる。このため、被検物体の位相差量にかかわらず、常に良好なコントラスト像を観察できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態の位相差観察装置の構成を示す図である。
【図2】本発明の第1実施形態の位相差観察装置の位相絞りの構成を示す図である。
【図3】本発明の第2実施形態の位相差観察装置の位相絞りの構成を示す図である。
【図4】本発明の第3実施形態の位相差観察装置の位相絞りの構成を示す図である。
【図5】本発明の第4実施形態の位相差観察装置の位相絞りの透過率変化を示す図である。
【図6】従来の位相差顕微鏡の構成図である。
【符号の説明】
A,A1,A2,A3 第1透過率変調部
B,B1,B2,C2,B3,C3 第2透過率変調部
PP 位相板
Ph 位相絞り
AP 開口絞り
G1 照明系レンズ
G2,G3 対物レンズ
O 被検物体
I 観察像(像面)
L1 直接光
L2 回折光
Claims (4)
- 光源と、
前記光源からの光束を被検物体に照射するための照明光学系と、
開口絞りと、
前記被検物体からの光束を集光して像を形成する対物レンズと、
前記対物レンズ内の前記開口絞りと共役な位置に設けられている位相変換部とを有する位相差観察装置において、
前記位相変換部は、前記開口絞りの開口部と所定倍率で相似な形状を有する第1透過率変調部と、
前記第1透過率変調部の周囲を取り囲むように設けられている第2透過率変調部と、
さらに前記第2透過率変調部の周囲を取り囲むように設けられている無変調部とを有し、
前記第2透過率変調部の透過率は、前記第1透過率変調部の透過率よりも大きいことを特徴とする位相差観察装置。 - 前記第2透過率変調部の透過率は、前記第1透過率変調部側の透過率が低く、前記無変調部側の透過率が高くなるように、段階的に大きくなることを特徴とする請求項1に記載の位相差観察装置。
- 少なくとも前記第2透過率変調部は、輪帯形状であることを特徴とする請求項1または2に記載の位相差観察装置。
- 前記第1透過率変調部の透過率TA(%)は、
TA<30
の条件を満足することを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の位相差観察装置。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011248278A (ja) * | 2010-05-31 | 2011-12-08 | Nikon Corp | 位相差分散顕微鏡 |
Families Citing this family (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7564622B2 (en) * | 2003-12-12 | 2009-07-21 | Olympus Corporation | Methods for implement microscopy and microscopic measurement as well as microscope and apparatus for implementing them |
JP2006163090A (ja) * | 2004-12-09 | 2006-06-22 | Nikon Corp | 位相差顕微鏡 |
JP2008058003A (ja) * | 2006-08-29 | 2008-03-13 | Olympus Corp | 顕微鏡 |
WO2008129541A2 (en) * | 2007-04-19 | 2008-10-30 | Ramot At Tel-Aviv University Ltd | Optical imaging system with an extended depth-of-field and method for designing an optical imaging system |
DE102007058558A1 (de) * | 2007-12-05 | 2009-06-25 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Phasenkontrastmikroskop mit einer Anordnung zur Variation der Phase des Lichtes |
JP5285306B2 (ja) * | 2008-03-06 | 2013-09-11 | 豊 末永 | 光学部品及び光学部品を用いた位相差顕微鏡 |
JP2009237486A (ja) * | 2008-03-28 | 2009-10-15 | Kawasaki Heavy Ind Ltd | ズーム位相差観察装置および位相差観察用照明装置 |
JP2011002514A (ja) * | 2009-06-16 | 2011-01-06 | National Institute Of Advanced Industrial Science & Technology | 位相差顕微鏡 |
US9069175B2 (en) * | 2011-04-08 | 2015-06-30 | Kairos Instruments, Llc | Adaptive phase contrast microscope |
US20130162800A1 (en) * | 2011-12-22 | 2013-06-27 | General Electric Company | Quantitative phase microscopy for label-free high-contrast cell imaging using frequency domain phase shift |
CN102621605A (zh) * | 2012-03-30 | 2012-08-01 | 常熟微纳激光光子技术有限公司 | 一种测量材料光学非线性的相位光阑 |
CN102608682A (zh) * | 2012-03-30 | 2012-07-25 | 常熟微纳激光光子技术有限公司 | 一种应用于4f相位相干成像系统的相位光阑 |
US9097900B2 (en) * | 2012-06-14 | 2015-08-04 | General Electric Company | Quantitative phase microscopy for high-contrast cell imaging using frequency domain phase shift |
JP6396638B2 (ja) | 2013-03-29 | 2018-09-26 | マクセル株式会社 | 位相フィルタ、撮像光学系、及び撮像システム |
JP6554757B2 (ja) * | 2014-02-12 | 2019-08-07 | 株式会社ニコン | 位相差顕微鏡 |
JP6555502B2 (ja) * | 2014-02-12 | 2019-08-07 | 株式会社ニコン | 位相差顕微鏡 |
JP2015152649A (ja) * | 2014-02-12 | 2015-08-24 | 株式会社ニコン | 位相差顕微鏡 |
JP6299409B2 (ja) * | 2014-05-14 | 2018-03-28 | ソニー株式会社 | 位相差顕微鏡及び位相差顕微鏡システム |
DE102017108376A1 (de) * | 2017-04-20 | 2018-10-25 | Carl Zeiss Meditec Ag | Optisches Beobachtungsgerät |
JP6818702B2 (ja) * | 2018-01-15 | 2021-01-20 | 株式会社東芝 | 光学検査装置及び光学検査方法 |
JP7031740B2 (ja) * | 2018-06-05 | 2022-03-08 | 株式会社ニコン | 位相板、対物レンズ、及び観察装置 |
WO2020016971A1 (ja) * | 2018-07-18 | 2020-01-23 | オリンパス株式会社 | 標本観察装置 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4236803C2 (de) | 1992-10-30 | 1996-03-21 | Leica Mikroskopie & Syst | Mikroskop für mikroskopisch zu untersuchende Amplituden- und/ oder Phasenobjekte |
JP3708246B2 (ja) * | 1996-09-19 | 2005-10-19 | オリンパス株式会社 | 光制御部材を有する光学顕微鏡 |
-
1998
- 1998-06-30 JP JP19816398A patent/JP3663920B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1999
- 1999-06-30 US US09/345,164 patent/US6317261B1/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011248278A (ja) * | 2010-05-31 | 2011-12-08 | Nikon Corp | 位相差分散顕微鏡 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2000019410A (ja) | 2000-01-21 |
US6317261B1 (en) | 2001-11-13 |
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