JP3625465B2 - 厚さ計 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、レーザ光等を使用した厚さ計に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来の厚さ計は、例えば図10に示すように構成されている。即ち厚さ計は、検出部101と、この検出部101からの検出信号を演算処理する演算処理部102とからなり、検出部101は、C形フレーム103の上部及び下部に夫々レーザ距離計からなる上部距離センサ104及び下部距離センサ105が取り付けられている。距離センサ104は投光器104a及び受光器104bを、また距離センサ105は投光器105a及び受光器105bを夫々有する。C形フレーム103の下部には車輪106が設けられて、C形フレーム103は台車としても機能し、台車モータ107により駆動されて、レール108上を左右に走行する。
測定対象物109の厚さを測定する場合は、同図(a)に示すように、C形フレーム103を測定対象物109のあるオンライン側に移動させ、2つの距離センサ104、105により測定対象物109の厚さを測定する。
校正を行う場合は、同図(b)に示すように、C形フレーム103をオフライン側に後退させ、オフライン側に固定されて設けられている校正片110の厚さを2つの距離センサ104、105により測定し、校正を行っていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、このような構成の従来の厚さ計、すなわち放射線を用いた厚さ計では、応答速度が遅いため、圧延ラインのスタンド間または出側に設けられた厚さ計で、厚さの周期的な変動(圧延異常)を検出することが困難であった。
本発明は、測定の高速化により、短ピッチ毎の厚さデータを得ることができ、圧延異常を検出することができる厚さ計を提供することを目的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】
本発明は、測定対象物の第1及び第2の側に夫々設けられ、測定対象物に対して光を照射し測定対象物からの反射光を受光して測定対象物までの距離に関する第1及び第2の信号を夫々得る第1及び第2の距離測定手段と、これら第1及び第2の距離測定手段で得られた第1及び第2の信号により測定対象物の厚さを算出する手段とを有し圧延ラインの圧延スタンドのスタンド間または出側に設置された厚さ計において、圧延ロールの1回転パルスの周期中の同じタイミング位置にある厚さ測定値を複数周期に亘って同期加算し、同期加算された測定値の最大値と最小値との差が所定値以上であるときは異常であると判定することを特徴とする。
このような構成によれば、圧延ロールの偏芯、圧延ロールの傷等圧延ロールに起因する圧延異常を検出することができる。
【0005】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して、本発明の実施形態を詳細に説明する。なお、以下の図面において、同一部分又は対応部分は同符号で示す。
(第1の実施形態)
図1は、本発明の第1の実施形態に係る厚さ計の検出部の概略構成を示す図である。
即ち、C形フレーム13の上部13a及び下部13bには、レーザ距離計からなる上部距離センサ14及び下部距離センサ15が夫々取り付けられる。上部距離センサ14は投光器14a及び受光器14bを、また下部距離センサ15は投光器15a及び受光器15bを夫々有する。C形フレーム13の中間部13cには可動支持部材16により支持されて校正片17が取り付けられる。
測定対象物例えば鋼板の厚さを測定する場合は、上部距離センサ14と下部距離センサ15との間の測定空間に測定対象物例えば鋼板を置き、上部距離センサ14により三角測量の原理により測定対象物の上側表面までの距離を、また下部距離センサ15により三角測量の原理により測定対象物の下側表面までの距離を、夫々測定し、演算処理部(図示せず)において、両センサ間の距離からこれらの距離を引くことにより厚さを求める。
【0006】
校正を行うには、測定対象物である鋼板がないときに、厚さが既知の校正片17をすばやく出し入れし、校正片17が上部距離センサ14と下部距離センサ15との間の測定空間にあるときに校正片17の厚さを測定対象物の場合と同様にして測定し、この測定値と既知の値との差をとって補正値とし、この補正値により測定対象物の厚さの実測値の補正を行う。
この第1の実施形態では、校正を行うために、測定対象物である鋼板のない時間が2〜3秒あればよく、従来のものに比べて鋼板のない時間が短くてよいので、従来のものより校正の頻度を高めることができる。従って、測定精度の低下を防ぐことができるので、従来のものと比較して、より高精度な厚さデータを得ることができる。
この第1の実施形態に係る厚さ計を鋼板の圧延ラインに適用した場合について更に詳細に説明する。この場合の、より具体的な構成を図2に示す。同図(a)は測定対象物の厚さを測定する場合、同図(b)は、校正を行う場合の図である。図において、11は検出部、12は演算処理部である。検出部11はC形フレーム13を有し、このC形フレーム13の上部13a及び下部13bには、上部距離センサ14及び下部距離センサ15が夫々取り付けられる。またC形フレーム11の中間部13cには可動支持部材16により支持されて厚さが既知の校正片17が取り付けられる。この校正片17は、駆動部18により駆動される可動支持部材16により左右に移動することができるように構成されている。
【0007】
更に、C形フレーム13の上部及び下部において、上部距離センサ14に隣接した位置に、温度計19及び加速度計20、下部距離センサ15に隣接した位置に及び温度計21及び加速度計22が夫々設けられている。
測定対象物23の厚さを測定する場合は同図(a)に示すように、測定対象物である鋼板23が上部距離センサ14と下部距離センサ15との間の測定空間にあり、校正片17はC形フレーム13の中間部13c寄りに後退した位置にある。検出部11の上部距離センサ14及び下部距離センサ15により得られた検出信号は演算処理部12に供給され、演算処理部12において、上部距離センサ14からの検出信号を用いて三角測量の原理により測定対象物23の上側表面までの距離を、また下部距離センサ15からの検出信号を用いて三角測量の原理により測定対象物の下側表面までの距離を、夫々算出し、両センサ間の距離からこれらの距離を引くことにより厚さを求める。
ここで、測定対象物23が通過する空間がある範囲に限られているため、測定対象物23がある場合の上部距離センサ14及び下部距離センサ15での測定値は所定の値以下となる。測定対象物がない場合は、上部距離センサ14によりC形フレーム13の下部13bまでの距離を、また下部距離センサ15により、C形フレーム13の上部13aまでの距離を夫々測定することになり、この測定値は、測定対象物23がある場合の所定の値より大きい。従って、両距離センサ14、15で測定される距離が所定の値より小さいか大きいかにより演算処理部12において測定対象物23の有無を判定することができる。
【0008】
校正を行う場合は、演算処理部12における測定対象物23がないと判定した判定信号により、または、上位の計算機からの測定対象物がないことを示す信号または校正指示信号を受信しこの信号により、演算処理部12から検出部11の駆動部18に駆動指令信号を送出し、厚さが既知の校正片17を同図(b)に示すようにライン側の測定空間に移動させ、この校正片17の厚さを測定して既知の値との差をとって補正値とし、この補正値により測定対象物の厚さの実測値の補正を行う。
ところで、周囲の温度変化によりC形フレーム13の上部に取り付けられた上部距離センサ14及びC形フレーム13の下部に取り付けられた下部距離センサ15の温度も変化する。この温度変化により、上部距離センサ14の投光器14aと受光器14bとの間の距離、及び下部距離センサ15の投光器15aと受光器15bとの間の距離が夫々変化するので、上部距離センサ14及び下部距離センサ15で測定される距離はこの影響を受けて変化する。
この温度変化による影響を補正するためC形フレーム13の上部に設けられた温度計19、及びC形フレーム13の下部に設けられた温度計21により温度を測定し、予め測定していた温度に基づく補正データにより、測定対象物の厚さの実測値の補正を行う。
【0009】
また、C形フレーム13に加わる衝撃等による振動や、測定対象物の幅方向に亘って厚さを次々に測定するためのC形フレーム13の移動により、C形フレーム13の上部及び下部には加速度が加わることがあり、上部距離センサ14及び下部距離センサ15で測定される距離は、この加速度の影響を受けて変化する。
そこで、この加速度による影響を補正するためC形フレーム13の上部に設けられた加速度計20、及びC形フレーム13の下部に設けられた加速度計22により加速度を測定し、予め測定していた加速度に基づく補正データにより、測定対象物の厚さの実測値の補正を行う。
このように温度と加速度に基づく補正を行うことにより、より精度の高い厚さデータを得ることができる。
(第2の実施形態)
次に、本発明の第2の実施形態に係る厚さ計について説明する。図3はこの第2の実施形態の検出部の概略構成を示す図である。
この実施形態においては、第1の実施形態におけるように校正片16を移動させずに、固定させるように構成している。図に示すように、測定対象物がないとき、上部距離センサ14の投光器14aからのレーザ光が照射されるC形フレームの下部の所定位置に校正片17Aを、そして下部距離センサ15の投光器15aからのレーザ光が照射されるC形フレームの上部の所定位置に校正片17Bを夫々配置する。このとき、距離センサ14の投光器14aからのレーザ光の照射経路と、下部距離センサ15の投光器15aからのレーザ光の照射経路とがずれるように投光器14a及び校正片17B並びに投光器15a及び校正片17Aを配置する。なお図において、Sで示す範囲が測定対象物が通過する空間である。
【0010】
測定対象物(図示せず)がある場合は、測定対象物の厚さを測定する。測定対象物がない場合は、上部距離センサ14により校正片17Aまでの距離を、また下部距離センサ15により、校正片17Bまでの距離を夫々測定し、これら各測定値とこれらの各校正片17A、17Bまでのそれぞれの既知の距離との差を算出し、これらの値を用いて補正値を求め、この補正値により測定対象物の厚さの実測値の補正を行う。
この場合においても、測定対象物が通過する空間がある範囲Sに限られているため、測定対象物がある場合の上部距離センサ14及び下部距離センサ15での測定値は所定の値以下となる。測定対象物がない場合は、上部距離センサ14により校正片17Aまでの距離を、また下部距離センサ15により、校正片17Bまでの距離を夫々測定することになり、この測定値は、測定対象物がある場合の所定の値より大きい。従って、両距離センサ14、15で測定される距離が所定の値より小さいか大きいかにより測定対象物の有無を判定することができる。
この第2の実施形態の場合は、第1の実施形態のように校正片を出し入れする必要がないので、測定対象物のない時間が第1の実施形態の場合より更に短くてよく、0.1秒以下の時間で測定が可能となる。なお、この実施形態においては、2つの校正片17A、17Bを設けたが、このうちの一方のみを設けて校正を行うことも可能である。
【0011】
(第3の実施形態)
次に、本発明の第3の実施形態に係る厚さ計について説明する。この実施形態は圧延ラインのスタンド間に厚さ計を設置した場合において、鋼板の傾きを精度良く測定し、これにより厚さの補正を行うものである。
図4はこの構成を示すもので、41、42は夫々圧延ラインの第1及び第2のスタンド(圧延機)、11は厚さ計の検出部、14及び15は夫々上部距離センサ及び下部距離センサである。また、43はルーパで、このルーパ43は、先端にロール43aを取り付けたアーム43b、およびこのアーム43bを上下に回動させる駆動部43cからなる。
このように圧延ラインのスタンド41、42間に厚さ計を設置した場合、測定対象物である鋼板23はルーパ43により上下移動する。そのため、厚さ計で測定している鋼板23は図のように傾いているので、測定した厚さと実際の厚さに差がでる。
これを、補正するため、下部距離センサ15で求めた距離の測定値から、鋼板23の傾き角を求め、この値を用いて、測定した厚さを実際の厚さに変換する。即ち、鋼板23の傾き角をθ1、下部距離センサ15で求めた距離をx、下部距離センサ15と第1のスタンド41との間の水平距離をa、鋼板23が傾いていない場合の下部距離センサ15から鋼板23までの距離をbとすると、
(x−b)/a=tanθ1
となり、これよりθ1を求めると次のようになる。
【0012】
θ1=tan−1((x−b)/a)
上下の距離センサ14、15より求めた厚さtは、鋼板23が角度θ1傾いた状態での測定値であるから、鋼板23の真の厚さtzは、次の通りとなる。
【0013】
tz=t*cosθ1
このようにして、鋼板23の実際の厚さを求めることができる。また、ルーパ角θ2、ルーパ基準角θ3が、上位の計算機より得られる場合は、傾き角θ1は次のようにして求めることができる。即ち、第1のスタンド41とルーパ43のロール43aとの間の水平距離をd、ルーパ43のアーム43bの支点とロール43aとの間の水平距離をcとし、θ2=θ3のときにθ1=0となるとすると、
tanθ1=c*(tan(90−θ2)−tan(90−θ3))/d
となるので、これよりθ1が求められる。上下の距離センサより求めた厚さtは、鋼板23が角度θ1傾いた状態での測定値であるから、鋼板23の真の厚さtzは、次の通りとなる。
【0014】
tz=t*cosθ1
ここで、上位の計算機より得られたルーパ角θ2、θ3により求めた傾き角θ1を、下部距離センサ15で求めた傾き角θ1と対比させ、両者がある所定範囲を越える場合はロール43aの摩耗、距離センサ15の異常、またはルーパ角情報の異常等であるので、このことを上位の計算機に知らせる。
両者がある所定範囲内の場合は、上述のように傾き角θ1による厚さの補正を行ない、真の厚さtzを求める。従って、この実施形態によれば、スタンド間において鋼板の傾きを精度良く測定し、鋼板が傾いている場合においても厚さデータの精度を高めることができる。またロール43aの摩耗、距離センサ15の異常、またはルーパ角情報の異常等を検出することもできる。
(第4の実施形態)
次に、本発明の第4の実施形態に係る厚さ計について説明する。この実施形態は圧延ラインのスタンド間あるいは出側に厚さ計を設置した場合において、レーザ厚さ計のもつ、高速性(高応答性)と高精度を利用して、圧延ロールの回転分割パルスに同期して測定した測定値を、同期加算したデータから圧延の異常を検出するものである。
図5は厚さ計をスタンド間に設置した場合の概略構成を示す。図において51、52は夫々圧延ラインの第1及び第2のスタンド(圧延機)、11は厚さ計の検出部、14及び15は夫々上部距離センサ及び下部距離センサである。また、PGは第2のスタンド52の圧延ロール52aの回転軸に取り付けられたパルス発生器で、図6(a)に示すように圧延ロール52aが1回転する毎に1つのパルス(1回転パルス)と、同図(b)に示すように1回転する毎に所定数の分割パルス(鋼板でいうところの定長パルス)とを生成する。
【0015】
厚さ計の演算処理部(図示せず)においては、パルス発生器PGから得られた分割パルスに同期して厚さ測定値を得る。そして1回転パルスが所定数生成される期間(即ち圧延ロール52aが所定数回転する期間)において、各1回転パルスの周期中の同じタイミング位置にある分割パルス位置の厚さ測定値を所定数同期加算し、図6(c)に示すように各分割パルス位置毎の同期加算測定値を得る。そして、この同期加算測定値の最大値と最小値との差aが所定値以上である場合は、例えば圧延ロール52aの偏芯、圧延ロールの傷等ロールに起因する圧延異常であると判定する。
(第5の実施形態)
次に、本発明の第5の実施形態に係る厚さ計について説明する。この実施形態は圧延ラインのスタンド間あるいは出側に厚さ計を設置した場合において、レーザ厚さ計のもつ、高速性(高応答性)と高精度を利用して、圧延ロールの回転分割パルスに同期して測定した測定値の距離による自己相関をとり、圧延の異常を検出するものである。
図7は厚さ計を複数のスタンドの出側に設置した場合の概略構成を示す。図において71、72、723、74は圧延ラインのスタンド(圧延機)、11は厚さ計の検出部、14及び15は夫々上部距離センサ及び下部距離センサである。また、PGは圧延機43の圧延ロール71aの回転軸に取り付けられたパルス発生器で、図6(a)に示すように圧延ロール71aが1回転する毎に1つのパルス(1回転パルス)と、同図(b)に示すように1回転する毎に所定数の分割パルス(鋼板でいうところの定長パルス)とを生成する。
【0016】
厚さ計の演算処理部(図示せず)においては、パルス発生器PGから得られた分割パルスに同期して厚さ測定値を得る。そして、この測定値の距離による自己相関をとり、図8に示すように各加算位置毎の厚さ加算値を得る。そして平均値に対して、所定値以上の差がある場合は、異常と判定し、その加算位置を出力する。
このとき、複数のスタンド71、72、723、74の各圧延ロールの外周の長さ即ち各圧延ロールが1周するときの各圧延ロールの位置での鋼板23の長さと、厚さ計の検出部11における鋼板23の長さとの間には一定の対応関係があり、しかも各圧延ロールの外周の長さに対応する厚さ計の検出部11における鋼板23の長さは各圧延ロール毎に異なっているので、厚さ計の検出部11において異常と判定された加算値に対応する加算位置(距離)から、どのスタンドの圧延ロールによる圧延異常であるかを判定することができる。
(第6の実施形態)
次に、本発明の第6の実施形態に係る厚さ計について説明する。この実施形態は圧延ラインのスタンドの出側または入側に厚さ計を設置した場合において、鋼板の傾きを精度良く測定し、これにより厚さの補正を行うものである。
【0017】
図9はこの構成を示すもので、91はスタンド(圧延機)、11は厚さ計の検出部、14及び15は夫々上部距離センサ及び下部距離センサである。図示のように鋼板23が傾いている場合、上下の距離センサ14、15により測定した厚さと実際の厚さに差がでる。
これを、補正するため、下部距離センサ15で求めた距離の測定値から、鋼板23の傾き角を求め、この値を用いて、測定した厚さを実際の厚さに変換する。
即ち、鋼板23の傾き角をθ、下部距離センサ15で求めた距離をb、鋼板23が傾いていない場合の下部距離センサ15から鋼板23までの距離をa、下部距離センサ15とスタンド91との間の水平距離をcとすると、傾き角θは次のようになる。
【0018】
θ=tan−1((b−a)/c)
そして、鋼板23の真の厚さtzは、次の通りとなる。
【0019】
tz=t*cosθ
このようにして、鋼板23の実際の厚さを求めることができる。従って、この実施形態によれば、スタンドの出側または入側において鋼板23の傾きを精度良く測定し、鋼板23が傾いている場合においても厚さデータの精度を高めることができる。
【0020】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、測定の高速化により、短ピッチ毎の厚さデータを得ることができるので、これにより圧延異常を検出することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態に係る厚さ計の検出部の概略構成を示す図。
【図2】第1の実施形態に係る厚さ計のより具体的な構成を示す図。
【図3】本発明の第2の実施形態に係る厚さ計の検出部の概略構成を示す図。
【図4】本発明の第3の実施形態に係る厚さ計の概略構成を示す図。
【図5】本発明の第4の実施形態に係る厚さ計の概略構成を示す図。
【図6】本発明の第4の実施形態における各部で得られる信号及び演算結果を示す図。
【図7】本発明の第5の実施形態に係る厚さ計の概略構成を示す図。
【図8】本発明の第5の実施形態における演算結果を示す図。
【図9】本発明の第6の実施形態に係る厚さ計の概略構成を示す図。
【図10】従来の厚さ計の構成を示す図。
【符号の説明】
11、101…検出部
12、102…演算処理部
13、103…C形フレーム
14、104…上部距離センサ
15、105…下部距離センサ
14a、15a,104a、105a…投光器
14b、15b、104b、105b…受光器
16…可動支持部材
17、110…校正片
18…駆動部
19、21…温度計
20、22…加速度計
23…測定対象物(鋼板)
41、42、51、52、71、72、73、74、91…スタンド(圧延機)
43…ルーパ
43a…ロール
43b…アーム
43c…駆動部
52a、71a…圧延ロール
PG…パルス発生器
106…車輪
107…台車モータ
108…レール
Claims (1)
- 測定対象物の第1及び第2の側に夫々設けられ、測定対象物に対して光を照射し測定対象物からの反射光を受光して測定対象物までの距離に関する第1及び第2の信号を夫々得る第1及び第2の距離測定手段と、これら第1及び第2の距離測定手段で得られた前記第1及び第2の信号により測定対象物の厚さを算出する手段とを有し圧延ラインの圧延スタンドのスタンド間または出側に設置された厚さ計において、圧延ロールの1回転パルスの周期中の同じタイミング位置にある厚さ測定値を複数周期に亘って同期加算し、同期加算された測定値の最大値と最小値との差が所定値以上であるときは異常であると判定することを特徴とする厚さ計。
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