JPH10307008A - 厚さ計 - Google Patents
厚さ計Info
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- JPH10307008A JPH10307008A JP11549997A JP11549997A JPH10307008A JP H10307008 A JPH10307008 A JP H10307008A JP 11549997 A JP11549997 A JP 11549997A JP 11549997 A JP11549997 A JP 11549997A JP H10307008 A JPH10307008 A JP H10307008A
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- JP
- Japan
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- thickness
- measured
- measurement object
- distance
- measuring means
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 校正を高速化することができ、高精度な厚さ
データを得ることができる厚さ計を提供する。 【解決手段】 上部距離センサ１４及び下部距離センサ
１５で、三角測量の原理により測定対象物（図示せず）
までの距離を夫々測定し、演算処理部（図示せず）にお
いて、これらの測定値より厚さを求める。測定対象物が
ないときに、厚さが既知の校正片１７をすばやく出し入
れし、校正を行う。
データを得ることができる厚さ計を提供する。 【解決手段】 上部距離センサ１４及び下部距離センサ
１５で、三角測量の原理により測定対象物（図示せず）
までの距離を夫々測定し、演算処理部（図示せず）にお
いて、これらの測定値より厚さを求める。測定対象物が
ないときに、厚さが既知の校正片１７をすばやく出し入
れし、校正を行う。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザ光等を使用
した厚さ計に関する。
した厚さ計に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の厚さ計は、例えば図１０に示すよ
うに構成されている。即ち厚さ計は、検出部１０１と、
この検出部１０１からの検出信号を演算処理する演算処
理部１０２とからなり、検出部１０１は、Ｃ形フレーム
１０３の上部及び下部に夫々レーザ距離計からなる上部
距離センサ１０４及び下部距離センサ１０５が取り付け
られている。距離センサ１０４は投光器１０４ａ及び受
光器１０４ｂを、また距離センサ１０５は投光器１０５
ａ及び受光器１０５ｂを夫々有する。Ｃ形フレーム１０
３の下部には車輪１０６が設けられて、Ｃ形フレーム１
０３は台車としても機能し、台車モータ１０７により駆
動されて、レール１０８上を左右に走行する。
うに構成されている。即ち厚さ計は、検出部１０１と、
この検出部１０１からの検出信号を演算処理する演算処
理部１０２とからなり、検出部１０１は、Ｃ形フレーム
１０３の上部及び下部に夫々レーザ距離計からなる上部
距離センサ１０４及び下部距離センサ１０５が取り付け
られている。距離センサ１０４は投光器１０４ａ及び受
光器１０４ｂを、また距離センサ１０５は投光器１０５
ａ及び受光器１０５ｂを夫々有する。Ｃ形フレーム１０
３の下部には車輪１０６が設けられて、Ｃ形フレーム１
０３は台車としても機能し、台車モータ１０７により駆
動されて、レール１０８上を左右に走行する。
【０００３】測定対象物１０９の厚さを測定する場合
は、同図（ａ）に示すように、Ｃ形フレーム１０３を測
定対象物１０９のあるオンライン側に移動させ、２つの
距離センサ１０４、１０５により測定対象物１０９の厚
さを測定する。
は、同図（ａ）に示すように、Ｃ形フレーム１０３を測
定対象物１０９のあるオンライン側に移動させ、２つの
距離センサ１０４、１０５により測定対象物１０９の厚
さを測定する。
【０００４】校正を行う場合は、同図（ｂ）に示すよう
に、Ｃ形フレーム１０３をオフライン側に後退させ、オ
フライン側に固定されて設けられている校正片１１０の
厚さを２つの距離センサ１０４、１０５により測定し、
校正を行っていた。
に、Ｃ形フレーム１０３をオフライン側に後退させ、オ
フライン側に固定されて設けられている校正片１１０の
厚さを２つの距離センサ１０４、１０５により測定し、
校正を行っていた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような構
成の従来の厚さ計では、Ｃ形フレーム１０３をオフライ
ン側とオフライン側との間で移動させて校正を行うた
め、校正に時間がかかっていた。
成の従来の厚さ計では、Ｃ形フレーム１０３をオフライ
ン側とオフライン側との間で移動させて校正を行うた
め、校正に時間がかかっていた。
【０００６】また、この厚さ計を鋼板等の圧延ラインの
スタンド間に設置したとき、鋼板の傾きにより厚さの補
正を行うが、鋼板の傾きをルーパ角度から算出している
ため鋼板の傾きの精度に問題があった。
スタンド間に設置したとき、鋼板の傾きにより厚さの補
正を行うが、鋼板の傾きをルーパ角度から算出している
ため鋼板の傾きの精度に問題があった。
【０００７】また、放射線を用いた厚さ計では応答速度
が遅いため、圧延ラインのスタンド間または出側に設け
られた厚さ計で、厚さの周期的な変動（圧延異常）を検
出することが困難であった。
が遅いため、圧延ラインのスタンド間または出側に設け
られた厚さ計で、厚さの周期的な変動（圧延異常）を検
出することが困難であった。
【０００８】本発明は、このような点に鑑みなされたも
ので、校正時間の短縮化とそれに伴う校正の高頻度化に
より、より高精度な厚さデータを得る厚さ計を提供する
ことを目的とする。
ので、校正時間の短縮化とそれに伴う校正の高頻度化に
より、より高精度な厚さデータを得る厚さ計を提供する
ことを目的とする。
【０００９】また、本発明は、スタンド間あるいはスタ
ンドの出側または入側において鋼板の傾きを精度良く測
定し、鋼板が傾いている場合においても厚さデータの精
度を高めるができる厚さ計を提供することを目的とす
る。
ンドの出側または入側において鋼板の傾きを精度良く測
定し、鋼板が傾いている場合においても厚さデータの精
度を高めるができる厚さ計を提供することを目的とす
る。
【００１０】更に、本発明は、測定の高速化により、短
ピッチ毎の厚さデータを得ることができ、圧延異常を検
出することができる厚さ計を提供することを目的とす
る。また、本発明は、周囲の温度やフレームに加わる加
速度による厚さデータの変動を測定し、これらの変動分
を補正することにより、より精度の高い厚さデータを得
ることができる厚さ計を提供することを目的とする。
ピッチ毎の厚さデータを得ることができ、圧延異常を検
出することができる厚さ計を提供することを目的とす
る。また、本発明は、周囲の温度やフレームに加わる加
速度による厚さデータの変動を測定し、これらの変動分
を補正することにより、より精度の高い厚さデータを得
ることができる厚さ計を提供することを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明は、測定対象物の
第１及び第２の側に夫々設けられ、測定対象物に対して
光を照射し測定対象物からの反射光を受光して測定対象
物までの距離に関する第１及び第２の距離情報を夫々得
る第１及び第２の距離測定手段と、これら第１及び第２
の距離測定手段で得られた第１及び第２の距離情報によ
り測定対象物の厚さを算出する手段とを有する厚さ計に
おいて、第１の距離測定手段と第２の距離測定手段との
間における測定対象物の存在し得る範囲外に設置された
校正片、または測定対象物の存在し得る範囲内と範囲外
との間を移動することができる校正片を備え、校正片を
用いて校正を行うことを特徴とする。
第１及び第２の側に夫々設けられ、測定対象物に対して
光を照射し測定対象物からの反射光を受光して測定対象
物までの距離に関する第１及び第２の距離情報を夫々得
る第１及び第２の距離測定手段と、これら第１及び第２
の距離測定手段で得られた第１及び第２の距離情報によ
り測定対象物の厚さを算出する手段とを有する厚さ計に
おいて、第１の距離測定手段と第２の距離測定手段との
間における測定対象物の存在し得る範囲外に設置された
校正片、または測定対象物の存在し得る範囲内と範囲外
との間を移動することができる校正片を備え、校正片を
用いて校正を行うことを特徴とする。
【００１２】このような構成によれば、校正時間の短縮
化及びそれに伴う校正の高頻度化を図ることができるの
で、より高精度な厚さデータを得ることができる。この
とき、第１及び第２の距離測定手段のうちの少なくとも
一方から得られる測定対象物までの距離が所定の範囲内
にあるか否かにより、測定対象物の存在の有無を判定す
る判定手段を備え、この判定手段により測定対象物がな
いときに、校正片を用いて校正を行うように構成するこ
ともできる。
化及びそれに伴う校正の高頻度化を図ることができるの
で、より高精度な厚さデータを得ることができる。この
とき、第１及び第２の距離測定手段のうちの少なくとも
一方から得られる測定対象物までの距離が所定の範囲内
にあるか否かにより、測定対象物の存在の有無を判定す
る判定手段を備え、この判定手段により測定対象物がな
いときに、校正片を用いて校正を行うように構成するこ
ともできる。
【００１３】また、上位の計算機等からの測定対象物が
ないことを示す信号または校正命令信号を受信する手段
を備え、この手段によりこれらの信号の一方を受信した
ときに校正片を用いて校正を行うように構成することも
できる。
ないことを示す信号または校正命令信号を受信する手段
を備え、この手段によりこれらの信号の一方を受信した
ときに校正片を用いて校正を行うように構成することも
できる。
【００１４】更に本発明は、測定対象物の第１及び第２
の側に夫々設けられ、測定対象物に対して光を照射し測
定対象物からの反射光を受光して測定対象物までの距離
に関する第１及び第２の信号を夫々得る第１及び第２の
距離測定手段と、これら第１及び第２の距離測定手段で
得られた前記第１及び第２の信号により測定対象物の厚
さを算出する手段とを有し圧延ラインの圧延スタンド間
に設置された厚さ計において、第１及び第２の距離測定
手段のうちの少なくとも一方から得られる測定対象物ま
での距離情報を用いて測定対象物の傾きを求め、この傾
きの情報により厚さの補正を行うことを特徴とする。
の側に夫々設けられ、測定対象物に対して光を照射し測
定対象物からの反射光を受光して測定対象物までの距離
に関する第１及び第２の信号を夫々得る第１及び第２の
距離測定手段と、これら第１及び第２の距離測定手段で
得られた前記第１及び第２の信号により測定対象物の厚
さを算出する手段とを有し圧延ラインの圧延スタンド間
に設置された厚さ計において、第１及び第２の距離測定
手段のうちの少なくとも一方から得られる測定対象物ま
での距離情報を用いて測定対象物の傾きを求め、この傾
きの情報により厚さの補正を行うことを特徴とする。
【００１５】このような構成によれば、スタンド間にお
いて鋼板の傾きを精度良く測定し、鋼板が傾いている場
合においても厚さデータの精度を高めることができる。
また本発明は、測定対象物の第１及び第２の側に夫々設
けられ、測定対象物に対して光を照射し測定対象物から
の反射光を受光して測定対象物までの距離に関する第１
及び第２の信号を夫々得る第１及び第２の距離測定手段
と、これら第１及び第２の距離測定手段で得られた前記
第１及び第２の信号により測定対象物の厚さを算出する
手段とを有し圧延ラインの圧延スタンド間に設置された
厚さ計において、第１及び第２の距離測定手段のうちの
少なくとも一方から得られる測定対象物までの距離情報
を用いて測定対象物の傾きを求める第１の傾き算出手段
と、圧延スタンド間における測定対象物のルーパ角度を
受信する手段と、受信されたルーパ角度を用いて測定対
象物の傾きを求める第２の傾き算出手段と、第１及び第
２の傾き算出手段により夫々求めた傾きの差が所定の範
囲を越えるときは異常と判定し、所定の範囲内のとき
は、第１及び第２の傾き算出手段のうちの少なくとも一
方により求めた傾きの情報により厚さの補正を行うこと
を特徴とする。
いて鋼板の傾きを精度良く測定し、鋼板が傾いている場
合においても厚さデータの精度を高めることができる。
また本発明は、測定対象物の第１及び第２の側に夫々設
けられ、測定対象物に対して光を照射し測定対象物から
の反射光を受光して測定対象物までの距離に関する第１
及び第２の信号を夫々得る第１及び第２の距離測定手段
と、これら第１及び第２の距離測定手段で得られた前記
第１及び第２の信号により測定対象物の厚さを算出する
手段とを有し圧延ラインの圧延スタンド間に設置された
厚さ計において、第１及び第２の距離測定手段のうちの
少なくとも一方から得られる測定対象物までの距離情報
を用いて測定対象物の傾きを求める第１の傾き算出手段
と、圧延スタンド間における測定対象物のルーパ角度を
受信する手段と、受信されたルーパ角度を用いて測定対
象物の傾きを求める第２の傾き算出手段と、第１及び第
２の傾き算出手段により夫々求めた傾きの差が所定の範
囲を越えるときは異常と判定し、所定の範囲内のとき
は、第１及び第２の傾き算出手段のうちの少なくとも一
方により求めた傾きの情報により厚さの補正を行うこと
を特徴とする。
【００１６】このような構成によれば、スタンド間にお
いて鋼板の傾きを精度良く測定し、鋼板が傾いている場
合においても厚さデータの精度を高めることができると
ともに、異常を検出することもできる。
いて鋼板の傾きを精度良く測定し、鋼板が傾いている場
合においても厚さデータの精度を高めることができると
ともに、異常を検出することもできる。
【００１７】また、本発明は、測定対象物の第１及び第
２の側に夫々設けられ、測定対象物に対して光を照射し
測定対象物からの反射光を受光して測定対象物までの距
離に関する第１及び第２の信号を夫々得る第１及び第２
の距離測定手段と、これら第１及び第２の距離測定手段
で得られた前記第１及び第２の信号により測定対象物の
厚さを算出する手段とを有し圧延ラインの圧延スタンド
の出側または入側に設置された厚さ計において、第１及
び第２の距離測定手段のうちの少なくとも一方から得ら
れる測定対象物までの距離情報を用いて測定対象物の傾
きを求め、この傾きの情報により厚さの補正を行うこと
を特徴とする。
２の側に夫々設けられ、測定対象物に対して光を照射し
測定対象物からの反射光を受光して測定対象物までの距
離に関する第１及び第２の信号を夫々得る第１及び第２
の距離測定手段と、これら第１及び第２の距離測定手段
で得られた前記第１及び第２の信号により測定対象物の
厚さを算出する手段とを有し圧延ラインの圧延スタンド
の出側または入側に設置された厚さ計において、第１及
び第２の距離測定手段のうちの少なくとも一方から得ら
れる測定対象物までの距離情報を用いて測定対象物の傾
きを求め、この傾きの情報により厚さの補正を行うこと
を特徴とする。
【００１８】このような構成によれば、スタンドの出側
または入側において鋼板の傾きを精度良く測定し、鋼板
が傾いている場合においても厚さデータの精度を高める
ことができる。
または入側において鋼板の傾きを精度良く測定し、鋼板
が傾いている場合においても厚さデータの精度を高める
ことができる。
【００１９】上述のような構成に加えて、温度を測定す
る手段を備え、この手段により得られた温度情報により
厚さの補正を行うこともできる。更に、加速度を測定す
る手段を備え、この手段により得られた加速度情報によ
り厚さの補正を行うこともできる。
る手段を備え、この手段により得られた温度情報により
厚さの補正を行うこともできる。更に、加速度を測定す
る手段を備え、この手段により得られた加速度情報によ
り厚さの補正を行うこともできる。
【００２０】また、本発明は、測定対象物の第１及び第
２の側に夫々設けられ、測定対象物に対して光を照射し
測定対象物からの反射光を受光して測定対象物までの距
離に関する第１及び第２の信号を夫々得る第１及び第２
の距離測定手段と、これら第１及び第２の距離測定手段
で得られた第１及び第２の信号により測定対象物の厚さ
を算出する手段とを有し圧延ラインの圧延スタンドのス
タンド間または出側に設置された厚さ計において、圧延
ロールの１回転パルスの周期中の同じタイミング位置に
ある厚さ測定値を複数周期に亘って同期加算し、同期加
算された測定値の最大値と最小値との差が所定値以上で
あるときは異常であると判定することを特徴とする。
２の側に夫々設けられ、測定対象物に対して光を照射し
測定対象物からの反射光を受光して測定対象物までの距
離に関する第１及び第２の信号を夫々得る第１及び第２
の距離測定手段と、これら第１及び第２の距離測定手段
で得られた第１及び第２の信号により測定対象物の厚さ
を算出する手段とを有し圧延ラインの圧延スタンドのス
タンド間または出側に設置された厚さ計において、圧延
ロールの１回転パルスの周期中の同じタイミング位置に
ある厚さ測定値を複数周期に亘って同期加算し、同期加
算された測定値の最大値と最小値との差が所定値以上で
あるときは異常であると判定することを特徴とする。
【００２１】このような構成によれば、圧延ロールの偏
芯、圧延ロールの傷等圧延ロールに起因する圧延異常を
検出することができる。更に、本発明は、測定対象物の
第１及び第２の側に夫々設けられ、測定対象物に対して
光を照射し測定対象物からの反射光を受光して測定対象
物までの距離に関する第１及び第２の信号を夫々得る第
１及び第２の距離測定手段と、これら第１及び第２の距
離測定手段で得られた前記第１及び第２の信号により測
定対象物の厚さを算出する手段とを有し複数の圧延スタ
ンドからなる圧延ラインの圧延スタンドのスタンド間ま
たは出側に設置された厚さ計において、所定の間隔毎に
測定された厚さ測定値の距離による自己相関をとって距
離毎の加算値を得、この各距離毎の加算値が、その平均
値に対して所定値以上の差があるときは異常であると判
定することを特徴とする。
芯、圧延ロールの傷等圧延ロールに起因する圧延異常を
検出することができる。更に、本発明は、測定対象物の
第１及び第２の側に夫々設けられ、測定対象物に対して
光を照射し測定対象物からの反射光を受光して測定対象
物までの距離に関する第１及び第２の信号を夫々得る第
１及び第２の距離測定手段と、これら第１及び第２の距
離測定手段で得られた前記第１及び第２の信号により測
定対象物の厚さを算出する手段とを有し複数の圧延スタ
ンドからなる圧延ラインの圧延スタンドのスタンド間ま
たは出側に設置された厚さ計において、所定の間隔毎に
測定された厚さ測定値の距離による自己相関をとって距
離毎の加算値を得、この各距離毎の加算値が、その平均
値に対して所定値以上の差があるときは異常であると判
定することを特徴とする。
【００２２】このとき、所定値以上の差があると判定さ
れた加算値の距離情報から複数の圧延スタンドのうちの
どのスタンドのロールによる異常であるかを更に判定す
ることもできる。
れた加算値の距離情報から複数の圧延スタンドのうちの
どのスタンドのロールによる異常であるかを更に判定す
ることもできる。
【００２３】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明の
実施形態を詳細に説明する。なお、以下の図面におい
て、同一部分又は対応部分は同符号で示す。
実施形態を詳細に説明する。なお、以下の図面におい
て、同一部分又は対応部分は同符号で示す。
【００２４】（第１の実施形態）図１は、本発明の第１
の実施形態に係る厚さ計の検出部の概略構成を示す図で
ある。
の実施形態に係る厚さ計の検出部の概略構成を示す図で
ある。
【００２５】即ち、Ｃ形フレーム１３の上部１３ａ及び
下部１３ｂには、レーザ距離計からなる上部距離センサ
１４及び下部距離センサ１５が夫々取り付けられる。上
部距離センサ１４は投光器１４ａ及び受光器１４ｂを、
また下部距離センサ１５は投光器１５ａ及び受光器１５
ｂを夫々有する。Ｃ形フレーム１３の中間部１３ｃには
可動支持部材１６により支持されて校正片１７が取り付
けられる。
下部１３ｂには、レーザ距離計からなる上部距離センサ
１４及び下部距離センサ１５が夫々取り付けられる。上
部距離センサ１４は投光器１４ａ及び受光器１４ｂを、
また下部距離センサ１５は投光器１５ａ及び受光器１５
ｂを夫々有する。Ｃ形フレーム１３の中間部１３ｃには
可動支持部材１６により支持されて校正片１７が取り付
けられる。
【００２６】測定対象物例えば鋼板の厚さを測定する場
合は、上部距離センサ１４と下部距離センサ１５との間
の測定空間に測定対象物例えば鋼板を置き、上部距離セ
ンサ１４により三角測量の原理により測定対象物の上側
表面までの距離を、また下部距離センサ１５により三角
測量の原理により測定対象物の下側表面までの距離を、
夫々測定し、演算処理部（図示せず）において、両セン
サ間の距離からこれらの距離を引くことにより厚さを求
める。
合は、上部距離センサ１４と下部距離センサ１５との間
の測定空間に測定対象物例えば鋼板を置き、上部距離セ
ンサ１４により三角測量の原理により測定対象物の上側
表面までの距離を、また下部距離センサ１５により三角
測量の原理により測定対象物の下側表面までの距離を、
夫々測定し、演算処理部（図示せず）において、両セン
サ間の距離からこれらの距離を引くことにより厚さを求
める。
【００２７】校正を行うには、測定対象物である鋼板が
ないときに、厚さが既知の校正片１７をすばやく出し入
れし、校正片１７が上部距離センサ１４と下部距離セン
サ１５との間の測定空間にあるときに校正片１７の厚さ
を測定対象物の場合と同様にして測定し、この測定値と
既知の値との差をとって補正値とし、この補正値により
測定対象物の厚さの実測値の補正を行う。
ないときに、厚さが既知の校正片１７をすばやく出し入
れし、校正片１７が上部距離センサ１４と下部距離セン
サ１５との間の測定空間にあるときに校正片１７の厚さ
を測定対象物の場合と同様にして測定し、この測定値と
既知の値との差をとって補正値とし、この補正値により
測定対象物の厚さの実測値の補正を行う。
【００２８】この第１の実施形態では、校正を行うため
に、測定対象物である鋼板のない時間が２〜３秒あれば
よく、従来のものに比べて鋼板のない時間が短くてよい
ので、従来のものより校正の頻度を高めることができ
る。従って、測定精度の低下を防ぐことができるので、
従来のものと比較して、より高精度な厚さデータを得る
ことができる。
に、測定対象物である鋼板のない時間が２〜３秒あれば
よく、従来のものに比べて鋼板のない時間が短くてよい
ので、従来のものより校正の頻度を高めることができ
る。従って、測定精度の低下を防ぐことができるので、
従来のものと比較して、より高精度な厚さデータを得る
ことができる。
【００２９】この第１の実施形態に係る厚さ計を鋼板の
圧延ラインに適用した場合について更に詳細に説明す
る。この場合の、より具体的な構成を図２に示す。同図
（ａ）は測定対象物の厚さを測定する場合、同図（ｂ）
は、校正を行う場合の図である。
圧延ラインに適用した場合について更に詳細に説明す
る。この場合の、より具体的な構成を図２に示す。同図
（ａ）は測定対象物の厚さを測定する場合、同図（ｂ）
は、校正を行う場合の図である。
【００３０】図において、１１は検出部、１２は演算処
理部である。検出部１１はＣ形フレーム１３を有し、こ
のＣ形フレーム１３の上部１３ａ及び下部１３ｂには、
上部距離センサ１４及び下部距離センサ１５が夫々取り
付けられる。またＣ形フレーム１１の中間部１３ｃには
可動支持部材１６により支持されて厚さが既知の校正片
１７が取り付けられる。この校正片１７は、駆動部１８
により駆動される可動支持部材１６により左右に移動す
ることができるように構成されている。
理部である。検出部１１はＣ形フレーム１３を有し、こ
のＣ形フレーム１３の上部１３ａ及び下部１３ｂには、
上部距離センサ１４及び下部距離センサ１５が夫々取り
付けられる。またＣ形フレーム１１の中間部１３ｃには
可動支持部材１６により支持されて厚さが既知の校正片
１７が取り付けられる。この校正片１７は、駆動部１８
により駆動される可動支持部材１６により左右に移動す
ることができるように構成されている。
【００３１】更に、Ｃ形フレーム１３の上部及び下部に
おいて、上部距離センサ１４に隣接した位置に、温度計
１９及び加速度計２０、下部距離センサ１５に隣接した
位置に及び温度計２１及び加速度計２２が夫々設けられ
ている。
おいて、上部距離センサ１４に隣接した位置に、温度計
１９及び加速度計２０、下部距離センサ１５に隣接した
位置に及び温度計２１及び加速度計２２が夫々設けられ
ている。
【００３２】測定対象物２３の厚さを測定する場合は同
図（ａ）に示すように、測定対象物である鋼板２３が上
部距離センサ１４と下部距離センサ１５との間の測定空
間にあり、校正片１７はＣ形フレーム１３の中間部１３
ｃ寄りに後退した位置にある。検出部１１の上部距離セ
ンサ１４及び下部距離センサ１５により得られた検出信
号は演算処理部１２に供給され、演算処理部１２におい
て、上部距離センサ１４からの検出信号を用いて三角測
量の原理により測定対象物２３の上側表面までの距離
を、また下部距離センサ１５からの検出信号を用いて三
角測量の原理により測定対象物の下側表面までの距離
を、夫々算出し、両センサ間の距離からこれらの距離を
引くことにより厚さを求める。
図（ａ）に示すように、測定対象物である鋼板２３が上
部距離センサ１４と下部距離センサ１５との間の測定空
間にあり、校正片１７はＣ形フレーム１３の中間部１３
ｃ寄りに後退した位置にある。検出部１１の上部距離セ
ンサ１４及び下部距離センサ１５により得られた検出信
号は演算処理部１２に供給され、演算処理部１２におい
て、上部距離センサ１４からの検出信号を用いて三角測
量の原理により測定対象物２３の上側表面までの距離
を、また下部距離センサ１５からの検出信号を用いて三
角測量の原理により測定対象物の下側表面までの距離
を、夫々算出し、両センサ間の距離からこれらの距離を
引くことにより厚さを求める。
【００３３】ここで、測定対象物２３が通過する空間が
ある範囲に限られているため、測定対象物２３がある場
合の上部距離センサ１４及び下部距離センサ１５での測
定値は所定の値以下となる。測定対象物がない場合は、
上部距離センサ１４によりＣ形フレーム１３の下部１３
ｂまでの距離を、また下部距離センサ１５により、Ｃ形
フレーム１３の上部１３ａまでの距離を夫々測定するこ
とになり、この測定値は、測定対象物２３がある場合の
所定の値より大きい。従って、両距離センサ１４、１５
で測定される距離が所定の値より小さいか大きいかによ
り演算処理部１２において測定対象物２３の有無を判定
することができる。
ある範囲に限られているため、測定対象物２３がある場
合の上部距離センサ１４及び下部距離センサ１５での測
定値は所定の値以下となる。測定対象物がない場合は、
上部距離センサ１４によりＣ形フレーム１３の下部１３
ｂまでの距離を、また下部距離センサ１５により、Ｃ形
フレーム１３の上部１３ａまでの距離を夫々測定するこ
とになり、この測定値は、測定対象物２３がある場合の
所定の値より大きい。従って、両距離センサ１４、１５
で測定される距離が所定の値より小さいか大きいかによ
り演算処理部１２において測定対象物２３の有無を判定
することができる。
【００３４】校正を行う場合は、演算処理部１２におけ
る測定対象物２３がないと判定した判定信号により、ま
たは、上位の計算機からの測定対象物がないことを示す
信号または校正指示信号を受信しこの信号により、演算
処理部１２から検出部１１の駆動部１８に駆動指令信号
を送出し、厚さが既知の校正片１７を同図（ｂ）に示す
ようにライン側の測定空間に移動させ、この校正片１７
の厚さを測定して既知の値との差をとって補正値とし、
この補正値により測定対象物の厚さの実測値の補正を行
う。
る測定対象物２３がないと判定した判定信号により、ま
たは、上位の計算機からの測定対象物がないことを示す
信号または校正指示信号を受信しこの信号により、演算
処理部１２から検出部１１の駆動部１８に駆動指令信号
を送出し、厚さが既知の校正片１７を同図（ｂ）に示す
ようにライン側の測定空間に移動させ、この校正片１７
の厚さを測定して既知の値との差をとって補正値とし、
この補正値により測定対象物の厚さの実測値の補正を行
う。
【００３５】ところで、周囲の温度変化によりＣ形フレ
ーム１３の上部に取り付けられた上部距離センサ１４及
びＣ形フレーム１３の下部に取り付けられた下部距離セ
ンサ１５の温度も変化する。この温度変化により、上部
距離センサ１４の投光器１４ａと受光器１４ｂとの間の
距離、及び下部距離センサ１５の投光器１５ａと受光器
１５ｂとの間の距離が夫々変化するので、上部距離セン
サ１４及び下部距離センサ１５で測定される距離はこの
影響を受けて変化する。
ーム１３の上部に取り付けられた上部距離センサ１４及
びＣ形フレーム１３の下部に取り付けられた下部距離セ
ンサ１５の温度も変化する。この温度変化により、上部
距離センサ１４の投光器１４ａと受光器１４ｂとの間の
距離、及び下部距離センサ１５の投光器１５ａと受光器
１５ｂとの間の距離が夫々変化するので、上部距離セン
サ１４及び下部距離センサ１５で測定される距離はこの
影響を受けて変化する。
【００３６】この温度変化による影響を補正するためＣ
形フレーム１３の上部に設けられた温度計１９、及びＣ
形フレーム１３の下部に設けられた温度計２１により温
度を測定し、予め測定していた温度に基づく補正データ
により、測定対象物の厚さの実測値の補正を行う。
形フレーム１３の上部に設けられた温度計１９、及びＣ
形フレーム１３の下部に設けられた温度計２１により温
度を測定し、予め測定していた温度に基づく補正データ
により、測定対象物の厚さの実測値の補正を行う。
【００３７】また、Ｃ形フレーム１３に加わる衝撃等に
よる振動や、測定対象物の幅方向に亘って厚さを次々に
測定するためのＣ形フレーム１３の移動により、Ｃ形フ
レーム１３の上部及び下部には加速度が加わることがあ
り、上部距離センサ１４及び下部距離センサ１５で測定
される距離は、この加速度の影響を受けて変化する。
よる振動や、測定対象物の幅方向に亘って厚さを次々に
測定するためのＣ形フレーム１３の移動により、Ｃ形フ
レーム１３の上部及び下部には加速度が加わることがあ
り、上部距離センサ１４及び下部距離センサ１５で測定
される距離は、この加速度の影響を受けて変化する。
【００３８】そこで、この加速度による影響を補正する
ためＣ形フレーム１３の上部に設けられた加速度計２
０、及びＣ形フレーム１３の下部に設けられた加速度計
２２により加速度を測定し、予め測定していた加速度に
基づく補正データにより、測定対象物の厚さの実測値の
補正を行う。このように温度と加速度に基づく補正を行
うことにより、より精度の高い厚さデータを得ることが
できる。
ためＣ形フレーム１３の上部に設けられた加速度計２
０、及びＣ形フレーム１３の下部に設けられた加速度計
２２により加速度を測定し、予め測定していた加速度に
基づく補正データにより、測定対象物の厚さの実測値の
補正を行う。このように温度と加速度に基づく補正を行
うことにより、より精度の高い厚さデータを得ることが
できる。
【００３９】（第２の実施形態）次に、本発明の第２の
実施形態に係る厚さ計について説明する。図３はこの第
２の実施形態の検出部の概略構成を示す図である。
実施形態に係る厚さ計について説明する。図３はこの第
２の実施形態の検出部の概略構成を示す図である。
【００４０】この実施形態においては、第１の実施形態
におけるように校正片１６を移動させずに、固定させる
ように構成している。図に示すように、測定対象物がな
いとき、上部距離センサ１４の投光器１４ａからのレー
ザ光が照射されるＣ形フレームの下部の所定位置に校正
片１７Ａを、そして下部距離センサ１５の投光器１５ａ
からのレーザ光が照射されるＣ形フレームの上部の所定
位置に校正片１７Ｂを夫々配置する。このとき、距離セ
ンサ１４の投光器１４ａからのレーザ光の照射経路と、
下部距離センサ１５の投光器１５ａからのレーザ光の照
射経路とがずれるように投光器１４ａ及び校正片１７Ｂ
並びに投光器１５ａ及び校正片１７Ａを配置する。なお
図において、Ｓで示す範囲が測定対象物が通過する空間
である。
におけるように校正片１６を移動させずに、固定させる
ように構成している。図に示すように、測定対象物がな
いとき、上部距離センサ１４の投光器１４ａからのレー
ザ光が照射されるＣ形フレームの下部の所定位置に校正
片１７Ａを、そして下部距離センサ１５の投光器１５ａ
からのレーザ光が照射されるＣ形フレームの上部の所定
位置に校正片１７Ｂを夫々配置する。このとき、距離セ
ンサ１４の投光器１４ａからのレーザ光の照射経路と、
下部距離センサ１５の投光器１５ａからのレーザ光の照
射経路とがずれるように投光器１４ａ及び校正片１７Ｂ
並びに投光器１５ａ及び校正片１７Ａを配置する。なお
図において、Ｓで示す範囲が測定対象物が通過する空間
である。
【００４１】測定対象物（図示せず）がある場合は、測
定対象物の厚さを測定する。測定対象物がない場合は、
上部距離センサ１４により校正片１７Ａまでの距離を、
また下部距離センサ１５により、校正片１７Ｂまでの距
離を夫々測定し、これら各測定値とこれらの各校正片１
７Ａ、１７Ｂまでのそれぞれの既知の距離との差を算出
し、これらの値を用いて補正値を求め、この補正値によ
り測定対象物の厚さの実測値の補正を行う。
定対象物の厚さを測定する。測定対象物がない場合は、
上部距離センサ１４により校正片１７Ａまでの距離を、
また下部距離センサ１５により、校正片１７Ｂまでの距
離を夫々測定し、これら各測定値とこれらの各校正片１
７Ａ、１７Ｂまでのそれぞれの既知の距離との差を算出
し、これらの値を用いて補正値を求め、この補正値によ
り測定対象物の厚さの実測値の補正を行う。
【００４２】この場合においても、測定対象物が通過す
る空間がある範囲Ｓに限られているため、測定対象物が
ある場合の上部距離センサ１４及び下部距離センサ１５
での測定値は所定の値以下となる。測定対象物がない場
合は、上部距離センサ１４により校正片１７Ａまでの距
離を、また下部距離センサ１５により、校正片１７Ｂま
での距離を夫々測定することになり、この測定値は、測
定対象物がある場合の所定の値より大きい。従って、両
距離センサ１４、１５で測定される距離が所定の値より
小さいか大きいかにより測定対象物の有無を判定するこ
とができる。
る空間がある範囲Ｓに限られているため、測定対象物が
ある場合の上部距離センサ１４及び下部距離センサ１５
での測定値は所定の値以下となる。測定対象物がない場
合は、上部距離センサ１４により校正片１７Ａまでの距
離を、また下部距離センサ１５により、校正片１７Ｂま
での距離を夫々測定することになり、この測定値は、測
定対象物がある場合の所定の値より大きい。従って、両
距離センサ１４、１５で測定される距離が所定の値より
小さいか大きいかにより測定対象物の有無を判定するこ
とができる。
【００４３】この第２の実施形態の場合は、第１の実施
形態のように校正片を出し入れする必要がないので、測
定対象物のない時間が第１の実施形態の場合より更に短
くてよく、０．１秒以下の時間で測定が可能となる。な
お、この実施形態においては、２つの校正片１７Ａ、１
７Ｂを設けたが、このうちの一方のみを設けて校正を行
うことも可能である。
形態のように校正片を出し入れする必要がないので、測
定対象物のない時間が第１の実施形態の場合より更に短
くてよく、０．１秒以下の時間で測定が可能となる。な
お、この実施形態においては、２つの校正片１７Ａ、１
７Ｂを設けたが、このうちの一方のみを設けて校正を行
うことも可能である。
【００４４】（第３の実施形態）次に、本発明の第３の
実施形態に係る厚さ計について説明する。この実施形態
は圧延ラインのスタンド間に厚さ計を設置した場合にお
いて、鋼板の傾きを精度良く測定し、これにより厚さの
補正を行うものである。
実施形態に係る厚さ計について説明する。この実施形態
は圧延ラインのスタンド間に厚さ計を設置した場合にお
いて、鋼板の傾きを精度良く測定し、これにより厚さの
補正を行うものである。
【００４５】図４はこの構成を示すもので、４１、４２
は夫々圧延ラインの第１及び第２のスタンド（圧延
機）、１１は厚さ計の検出部、１４及び１５は夫々上部
距離センサ及び下部距離センサである。また、４３はル
ーパで、このルーパ４３は、先端にロール４３ａを取り
付けたアーム４３ｂ、およびこのアーム４３ｂを上下に
回動させる駆動部４３ｃからなる。
は夫々圧延ラインの第１及び第２のスタンド（圧延
機）、１１は厚さ計の検出部、１４及び１５は夫々上部
距離センサ及び下部距離センサである。また、４３はル
ーパで、このルーパ４３は、先端にロール４３ａを取り
付けたアーム４３ｂ、およびこのアーム４３ｂを上下に
回動させる駆動部４３ｃからなる。
【００４６】このように圧延ラインのスタンド４１、４
２間に厚さ計を設置した場合、測定対象物である鋼板２
３はルーパ４３により上下移動する。そのため、厚さ計
で測定している鋼板２３は図のように傾いているので、
測定した厚さと実際の厚さに差がでる。
２間に厚さ計を設置した場合、測定対象物である鋼板２
３はルーパ４３により上下移動する。そのため、厚さ計
で測定している鋼板２３は図のように傾いているので、
測定した厚さと実際の厚さに差がでる。
【００４７】これを、補正するため、下部距離センサ１
５で求めた距離の測定値から、鋼板２３の傾き角を求
め、この値を用いて、測定した厚さを実際の厚さに変換
する。即ち、鋼板２３の傾き角をθ１、下部距離センサ
１５で求めた距離をｘ、下部距離センサ１５と第１のス
タンド４１との間の水平距離をａ、鋼板２３が傾いてい
ない場合の下部距離センサ１５から鋼板２３までの距離
をｂとすると、
５で求めた距離の測定値から、鋼板２３の傾き角を求
め、この値を用いて、測定した厚さを実際の厚さに変換
する。即ち、鋼板２３の傾き角をθ１、下部距離センサ
１５で求めた距離をｘ、下部距離センサ１５と第１のス
タンド４１との間の水平距離をａ、鋼板２３が傾いてい
ない場合の下部距離センサ１５から鋼板２３までの距離
をｂとすると、
【００４８】
【数１】（ｘ−ｂ）／ａ＝ｔａｎθ１ となり、これよりθ１を求めると次のようになる。
【００４９】
【数２】θ１＝ｔａｎ-1（（ｘ−ｂ）／ａ） 上下の距離センサ１４、１５より求めた厚さｔは、鋼板
２３が角度θ１傾いた状態での測定値であるから、鋼板
２３の真の厚さｔｚは、次の通りとなる。
２３が角度θ１傾いた状態での測定値であるから、鋼板
２３の真の厚さｔｚは、次の通りとなる。
【００５０】
【数３】ｔｚ＝ｔ＊ｃｏｓθ１ このようにして、鋼板２３の実際の厚さを求めることが
できる。また、ルーパ角θ２、ルーパ基準角θ３が、上
位の計算機より得られる場合は、傾き角θ１は次のよう
にして求めることができる。即ち、第１のスタンド４１
とルーパ４３のロール４３ａとの間の水平距離をｄ、ル
ーパ４３のアーム４３ｂの支点とロール４３ａとの間の
水平距離をｃとし、θ２＝θ３のときにθ１＝０となる
とすると、
できる。また、ルーパ角θ２、ルーパ基準角θ３が、上
位の計算機より得られる場合は、傾き角θ１は次のよう
にして求めることができる。即ち、第１のスタンド４１
とルーパ４３のロール４３ａとの間の水平距離をｄ、ル
ーパ４３のアーム４３ｂの支点とロール４３ａとの間の
水平距離をｃとし、θ２＝θ３のときにθ１＝０となる
とすると、
【００５１】
【数４】ｔａｎθ１＝ｃ＊（ｔａｎ（９０−θ２）−ｔ
ａｎ（９０−θ３））／ｄ となるので、これよりθ１が求められる。上下の距離セ
ンサより求めた厚さｔは、鋼板２３が角度θ１傾いた状
態での測定値であるから、鋼板２３の真の厚さｔｚは、
次の通りとなる。
ａｎ（９０−θ３））／ｄ となるので、これよりθ１が求められる。上下の距離セ
ンサより求めた厚さｔは、鋼板２３が角度θ１傾いた状
態での測定値であるから、鋼板２３の真の厚さｔｚは、
次の通りとなる。
【００５２】
【数５】ｔｚ＝ｔ＊ｃｏｓθ１ ここで、上位の計算機より得られたルーパ角θ２、θ３
により求めた傾き角θ１を、下部距離センサ１５で求め
た傾き角θ１と対比させ、両者がある所定範囲を越える
場合はロール４３ａの摩耗、距離センサ１５の異常、ま
たはルーパ角情報の異常等であるので、このことを上位
の計算機に知らせる。
により求めた傾き角θ１を、下部距離センサ１５で求め
た傾き角θ１と対比させ、両者がある所定範囲を越える
場合はロール４３ａの摩耗、距離センサ１５の異常、ま
たはルーパ角情報の異常等であるので、このことを上位
の計算機に知らせる。
【００５３】両者がある所定範囲内の場合は、上述のよ
うに傾き角θ１による厚さの補正を行ない、真の厚さｔ
ｚを求める。従って、この実施形態によれば、スタンド
間において鋼板の傾きを精度良く測定し、鋼板が傾いて
いる場合においても厚さデータの精度を高めることがで
きる。またロール４３ａの摩耗、距離センサ１５の異
常、またはルーパ角情報の異常等を検出することもでき
る。
うに傾き角θ１による厚さの補正を行ない、真の厚さｔ
ｚを求める。従って、この実施形態によれば、スタンド
間において鋼板の傾きを精度良く測定し、鋼板が傾いて
いる場合においても厚さデータの精度を高めることがで
きる。またロール４３ａの摩耗、距離センサ１５の異
常、またはルーパ角情報の異常等を検出することもでき
る。
【００５４】（第４の実施形態）次に、本発明の第４の
実施形態に係る厚さ計について説明する。この実施形態
は圧延ラインのスタンド間あるいは出側に厚さ計を設置
した場合において、レーザ厚さ計のもつ、高速性（高応
答性）と高精度を利用して、圧延ロールの回転分割パル
スに同期して測定した測定値を、同期加算したデータか
ら圧延の異常を検出するものである。
実施形態に係る厚さ計について説明する。この実施形態
は圧延ラインのスタンド間あるいは出側に厚さ計を設置
した場合において、レーザ厚さ計のもつ、高速性（高応
答性）と高精度を利用して、圧延ロールの回転分割パル
スに同期して測定した測定値を、同期加算したデータか
ら圧延の異常を検出するものである。
【００５５】図５は厚さ計をスタンド間に設置した場合
の概略構成を示す。図において５１、５２は夫々圧延ラ
インの第１及び第２のスタンド（圧延機）、１１は厚さ
計の検出部、１４及び１５は夫々上部距離センサ及び下
部距離センサである。また、ＰＧは第２のスタンド５２
の圧延ロール５２ａの回転軸に取り付けられたパルス発
生器で、図６（ａ）に示すように圧延ロール５２ａが１
回転する毎に１つのパルス（１回転パルス）と、同図
（ｂ）に示すように１回転する毎に所定数の分割パルス
（鋼板でいうところの定長パルス）とを生成する。
の概略構成を示す。図において５１、５２は夫々圧延ラ
インの第１及び第２のスタンド（圧延機）、１１は厚さ
計の検出部、１４及び１５は夫々上部距離センサ及び下
部距離センサである。また、ＰＧは第２のスタンド５２
の圧延ロール５２ａの回転軸に取り付けられたパルス発
生器で、図６（ａ）に示すように圧延ロール５２ａが１
回転する毎に１つのパルス（１回転パルス）と、同図
（ｂ）に示すように１回転する毎に所定数の分割パルス
（鋼板でいうところの定長パルス）とを生成する。
【００５６】厚さ計の演算処理部（図示せず）において
は、パルス発生器ＰＧから得られた分割パルスに同期し
て厚さ測定値を得る。そして１回転パルスが所定数生成
される期間（即ち圧延ロール５２ａが所定数回転する期
間）において、各１回転パルスの周期中の同じタイミン
グ位置にある分割パルス位置の厚さ測定値を所定数同期
加算し、図６（ｃ）に示すように各分割パルス位置毎の
同期加算測定値を得る。そして、この同期加算測定値の
最大値と最小値との差ａが所定値以上である場合は、例
えば圧延ロール５２ａの偏芯、圧延ロールの傷等ロール
に起因する圧延異常であると判定する。
は、パルス発生器ＰＧから得られた分割パルスに同期し
て厚さ測定値を得る。そして１回転パルスが所定数生成
される期間（即ち圧延ロール５２ａが所定数回転する期
間）において、各１回転パルスの周期中の同じタイミン
グ位置にある分割パルス位置の厚さ測定値を所定数同期
加算し、図６（ｃ）に示すように各分割パルス位置毎の
同期加算測定値を得る。そして、この同期加算測定値の
最大値と最小値との差ａが所定値以上である場合は、例
えば圧延ロール５２ａの偏芯、圧延ロールの傷等ロール
に起因する圧延異常であると判定する。
【００５７】（第５の実施形態）次に、本発明の第５の
実施形態に係る厚さ計について説明する。この実施形態
は圧延ラインのスタンド間あるいは出側に厚さ計を設置
した場合において、レーザ厚さ計のもつ、高速性（高応
答性）と高精度を利用して、圧延ロールの回転分割パル
スに同期して測定した測定値の距離による自己相関をと
り、圧延の異常を検出するものである。
実施形態に係る厚さ計について説明する。この実施形態
は圧延ラインのスタンド間あるいは出側に厚さ計を設置
した場合において、レーザ厚さ計のもつ、高速性（高応
答性）と高精度を利用して、圧延ロールの回転分割パル
スに同期して測定した測定値の距離による自己相関をと
り、圧延の異常を検出するものである。
【００５８】図７は厚さ計を複数のスタンドの出側に設
置した場合の概略構成を示す。図において７１、７２、
７２３、７４は圧延ラインのスタンド（圧延機）、１１
は厚さ計の検出部、１４及び１５は夫々上部距離センサ
及び下部距離センサである。また、ＰＧは圧延機４３の
圧延ロール７１ａの回転軸に取り付けられたパルス発生
器で、図６（ａ）に示すように圧延ロール７１ａが１回
転する毎に１つのパルス（１回転パルス）と、同図
（ｂ）に示すように１回転する毎に所定数の分割パルス
（鋼板でいうところの定長パルス）とを生成する。
置した場合の概略構成を示す。図において７１、７２、
７２３、７４は圧延ラインのスタンド（圧延機）、１１
は厚さ計の検出部、１４及び１５は夫々上部距離センサ
及び下部距離センサである。また、ＰＧは圧延機４３の
圧延ロール７１ａの回転軸に取り付けられたパルス発生
器で、図６（ａ）に示すように圧延ロール７１ａが１回
転する毎に１つのパルス（１回転パルス）と、同図
（ｂ）に示すように１回転する毎に所定数の分割パルス
（鋼板でいうところの定長パルス）とを生成する。
【００５９】厚さ計の演算処理部（図示せず）において
は、パルス発生器ＰＧから得られた分割パルスに同期し
て厚さ測定値を得る。そして、この測定値の距離による
自己相関をとり、図８に示すように各加算位置毎の厚さ
加算値を得る。そして平均値に対して、所定値以上の差
がある場合は、異常と判定し、その加算位置を出力す
る。
は、パルス発生器ＰＧから得られた分割パルスに同期し
て厚さ測定値を得る。そして、この測定値の距離による
自己相関をとり、図８に示すように各加算位置毎の厚さ
加算値を得る。そして平均値に対して、所定値以上の差
がある場合は、異常と判定し、その加算位置を出力す
る。
【００６０】このとき、複数のスタンド７１、７２、７
２３、７４の各圧延ロールの外周の長さ即ち各圧延ロー
ルが１周するときの各圧延ロールの位置での鋼板２３の
長さと、厚さ計の検出部１１における鋼板２３の長さと
の間には一定の対応関係があり、しかも各圧延ロールの
外周の長さに対応する厚さ計の検出部１１における鋼板
２３の長さは各圧延ロール毎に異なっているので、厚さ
計の検出部１１において異常と判定された加算値に対応
する加算位置（距離）から、どのスタンドの圧延ロール
による圧延異常であるかを判定することができる。
２３、７４の各圧延ロールの外周の長さ即ち各圧延ロー
ルが１周するときの各圧延ロールの位置での鋼板２３の
長さと、厚さ計の検出部１１における鋼板２３の長さと
の間には一定の対応関係があり、しかも各圧延ロールの
外周の長さに対応する厚さ計の検出部１１における鋼板
２３の長さは各圧延ロール毎に異なっているので、厚さ
計の検出部１１において異常と判定された加算値に対応
する加算位置（距離）から、どのスタンドの圧延ロール
による圧延異常であるかを判定することができる。
【００６１】（第６の実施形態）次に、本発明の第６の
実施形態に係る厚さ計について説明する。この実施形態
は圧延ラインのスタンドの出側または入側に厚さ計を設
置した場合において、鋼板の傾きを精度良く測定し、こ
れにより厚さの補正を行うものである。
実施形態に係る厚さ計について説明する。この実施形態
は圧延ラインのスタンドの出側または入側に厚さ計を設
置した場合において、鋼板の傾きを精度良く測定し、こ
れにより厚さの補正を行うものである。
【００６２】図９はこの構成を示すもので、９１はスタ
ンド（圧延機）、１１は厚さ計の検出部、１４及び１５
は夫々上部距離センサ及び下部距離センサである。図示
のように鋼板２３が傾いている場合、上下の距離センサ
１４、１５により測定した厚さと実際の厚さに差がで
る。
ンド（圧延機）、１１は厚さ計の検出部、１４及び１５
は夫々上部距離センサ及び下部距離センサである。図示
のように鋼板２３が傾いている場合、上下の距離センサ
１４、１５により測定した厚さと実際の厚さに差がで
る。
【００６３】これを、補正するため、下部距離センサ１
５で求めた距離の測定値から、鋼板２３の傾き角を求
め、この値を用いて、測定した厚さを実際の厚さに変換
する。即ち、鋼板２３の傾き角をθ、下部距離センサ１
５で求めた距離をｂ、鋼板２３が傾いていない場合の下
部距離センサ１５から鋼板２３までの距離をａ、下部距
離センサ１５とスタンド９１との間の水平距離をｃとす
ると、傾き角θは次のようになる。
５で求めた距離の測定値から、鋼板２３の傾き角を求
め、この値を用いて、測定した厚さを実際の厚さに変換
する。即ち、鋼板２３の傾き角をθ、下部距離センサ１
５で求めた距離をｂ、鋼板２３が傾いていない場合の下
部距離センサ１５から鋼板２３までの距離をａ、下部距
離センサ１５とスタンド９１との間の水平距離をｃとす
ると、傾き角θは次のようになる。
【００６４】
【数６】θ＝ｔａｎ-1（（ｂ−ａ）／ｃ） そして、鋼板２３の真の厚さｔｚは、次の通りとなる。
【００６５】
【数７】ｔｚ＝ｔ＊ｃｏｓθ このようにして、鋼板２３の実際の厚さを求めることが
できる。従って、この実施形態によれば、スタンドの出
側または入側において鋼板２３の傾きを精度良く測定
し、鋼板２３が傾いている場合においても厚さデータの
精度を高めることができる。
できる。従って、この実施形態によれば、スタンドの出
側または入側において鋼板２３の傾きを精度良く測定
し、鋼板２３が傾いている場合においても厚さデータの
精度を高めることができる。
【００６６】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
校正を高速化することができ、それに伴い校正の高頻度
化が可能となるため、高精度な厚さデータを得ることが
できる。
校正を高速化することができ、それに伴い校正の高頻度
化が可能となるため、高精度な厚さデータを得ることが
できる。
【００６７】また、スタンド間あるいはスタンドの出側
または入側において鋼板が傾いている場合においても、
鋼板の傾きを精度良く測定し、厚さデータの精度を高め
ることができる。
または入側において鋼板が傾いている場合においても、
鋼板の傾きを精度良く測定し、厚さデータの精度を高め
ることができる。
【００６８】更に、測定の高速化により、短ピッチ毎の
厚さデータを得ることができるので、これにより圧延異
常を検出することも可能である。また、周囲の温度やフ
レームに加わる加速度による厚さデータの変動を測定
し、これらの変動分を補正することにより、より精度の
高い厚さデータを得ることも可能である。
厚さデータを得ることができるので、これにより圧延異
常を検出することも可能である。また、周囲の温度やフ
レームに加わる加速度による厚さデータの変動を測定
し、これらの変動分を補正することにより、より精度の
高い厚さデータを得ることも可能である。
【図１】 本発明の第１の実施形態に係る厚さ計の検出
部の概略構成を示す図。
部の概略構成を示す図。
【図２】 第１の実施形態に係る厚さ計のより具体的な
構成を示す図。
構成を示す図。
【図３】 本発明の第２の実施形態に係る厚さ計の検出
部の概略構成を示す図。
部の概略構成を示す図。
【図４】 本発明の第３の実施形態に係る厚さ計の概略
構成を示す図。
構成を示す図。
【図５】 本発明の第４の実施形態に係る厚さ計の概略
構成を示す図。
構成を示す図。
【図６】 本発明の第４の実施形態における各部で得ら
れる信号及び演算結果を示す図。
れる信号及び演算結果を示す図。
【図７】 本発明の第５の実施形態に係る厚さ計の概略
構成を示す図。
構成を示す図。
【図８】 本発明の第５の実施形態における演算結果を
示す図。
示す図。
【図９】 本発明の第６の実施形態に係る厚さ計の概略
構成を示す図。
構成を示す図。
【図１０】 従来の厚さ計の構成を示す図。
１１、１０１…検出部 １２、１０２…演算処理部 １３、１０３…Ｃ形フレーム １４、１０４…上部距離センサ １５、１０５…下部距離センサ １４ａ、１５ａ，１０４ａ、１０５ａ…投光器 １４ｂ、１５ｂ、１０４ｂ、１０５ｂ…受光器 １６…可動支持部材 １７、１１０…校正片 １８…駆動部 １９、２１…温度計 ２０、２２…加速度計 ２３…測定対象物（鋼板） ４１、４２、５１、５２、７１、７２、７３、７４、９
１…スタンド（圧延機） ４３…ルーパ ４３ａ…ロール ４３ｂ…アーム ４３ｃ…駆動部 ５２ａ、７１ａ…圧延ロール ＰＧ…パルス発生器 １０６…車輪 １０７…台車モータ １０８…レール
１…スタンド（圧延機） ４３…ルーパ ４３ａ…ロール ４３ｂ…アーム ４３ｃ…駆動部 ５２ａ、７１ａ…圧延ロール ＰＧ…パルス発生器 １０６…車輪 １０７…台車モータ １０８…レール
Claims (11)
- 【請求項１】 測定対象物の第１及び第２の側に夫々設
けられ、測定対象物に対して光を照射し測定対象物から
の反射光を受光して測定対象物までの距離に関する第１
及び第２の距離情報を夫々得る第１及び第２の距離測定
手段と、これら第１及び第２の距離測定手段で得られた
前記第１及び第２の距離情報により測定対象物の厚さを
算出する手段とを有する厚さ計において、前記第１の距
離測定手段と第２の距離測定手段との間における測定対
象物の存在し得る範囲外に設置された校正片、または測
定対象物の存在し得る範囲内と範囲外との間を移動する
ことができる校正片を備え、前記校正片を用いて校正を
行うことを特徴とする厚さ計。 - 【請求項２】 前記第１及び第２の距離測定手段のうち
の少なくとも一方から得られる測定対象物までの距離が
所定の範囲内にあるか否かにより、測定対象物の存在の
有無を判定する判定手段を備え、この判定手段により測
定対象物がないときに前記校正片を用いて校正を行うこ
とを特徴とする請求項１に記載の厚さ計。 - 【請求項３】 測定対象物がないことを示す信号または
校正命令信号を受信する手段を備え、この手段により前
記信号の一方を受信したときに前記校正片を用いて校正
を行うことを特徴とする請求項１に記載の厚さ計。 - 【請求項４】 測定対象物の第１及び第２の側に夫々設
けられ、測定対象物に対して光を照射し測定対象物から
の反射光を受光して測定対象物までの距離に関する第１
及び第２の信号を夫々得る第１及び第２の距離測定手段
と、これら第１及び第２の距離測定手段で得られた前記
第１及び第２の信号により測定対象物の厚さを算出する
手段とを有し圧延ラインの圧延スタンド間に設置された
厚さ計において、前記第１及び第２の距離測定手段のう
ちの少なくとも一方から得られる測定対象物までの距離
情報を用いて測定対象物の傾きを求め、この傾きの情報
により厚さの補正を行うことを特徴とする厚さ計。 - 【請求項５】 測定対象物の第１及び第２の側に夫々設
けられ、測定対象物に対して光を照射し測定対象物から
の反射光を受光して測定対象物までの距離に関する第１
及び第２の信号を夫々得る第１及び第２の距離測定手段
と、これら第１及び第２の距離測定手段で得られた前記
第１及び第２の信号により測定対象物の厚さを算出する
手段とを有し圧延ラインの圧延スタンド間に設置された
厚さ計において、前記第１及び第２の距離測定手段のう
ちの少なくとも一方から得られる測定対象物までの距離
情報を用いて測定対象物の傾きを求める第１の傾き算出
手段と、圧延スタンド間における測定対象物のルーパ角
度を受信する手段と、受信されたルーパ角度を用いて測
定対象物の傾きを求める第２の傾き算出手段と、前記第
１及び第２の傾き算出手段により夫々求めた傾きの差が
所定の範囲を越えるときは異常と判定し、所定の範囲内
のときは、前記第１及び第２の傾き算出手段のうちの少
なくとも一方により求めた傾きの情報により厚さの補正
を行うことを特徴とする厚さ計。 - 【請求項６】 測定対象物の第１及び第２の側に夫々設
けられ、測定対象物に対して光を照射し測定対象物から
の反射光を受光して測定対象物までの距離に関する第１
及び第２の信号を夫々得る第１及び第２の距離測定手段
と、これら第１及び第２の距離測定手段で得られた前記
第１及び第２の信号により測定対象物の厚さを算出する
手段とを有し圧延ラインの圧延スタンドの出側または入
側に設置された厚さ計において、前記第１及び第２の距
離測定手段のうちの少なくとも一方から得られる測定対
象物までの距離情報を用いて測定対象物の傾きを求め、
この傾きの情報により厚さの補正を行うことを特徴とす
る厚さ計。 - 【請求項７】 温度を測定する手段を更に備え、この手
段により得られた温度情報により厚さの補正を行うこと
を特徴とする請求項１乃至請求項６のいずれかに記載の
厚さ計。 - 【請求項８】 加速度を測定する手段を更に備え、この
手段により得られた加速度情報により厚さの補正を行う
ことを特徴とする請求項１乃至請求項７のいずれかに記
載の厚さ計。 - 【請求項９】 測定対象物の第１及び第２の側に夫々設
けられ、測定対象物に対して光を照射し測定対象物から
の反射光を受光して測定対象物までの距離に関する第１
及び第２の信号を夫々得る第１及び第２の距離測定手段
と、これら第１及び第２の距離測定手段で得られた前記
第１及び第２の信号により測定対象物の厚さを算出する
手段とを有し圧延ラインの圧延スタンドのスタンド間ま
たは出側に設置された厚さ計において、圧延ロールの１
回転パルスの周期中の同じタイミング位置にある厚さ測
定値を複数周期に亘って同期加算し、同期加算された測
定値の最大値と最小値との差が所定値以上であるときは
異常であると判定することを特徴とする厚さ計。 - 【請求項１０】 測定対象物の第１及び第２の側に夫々
設けられ、測定対象物に対して光を照射し測定対象物か
らの反射光を受光して測定対象物までの距離に関する第
１及び第２の信号を夫々得る第１及び第２の距離測定手
段と、これら第１及び第２の距離測定手段で得られた前
記第１及び第２の信号により測定対象物の厚さを算出す
る手段とを有し複数の圧延スタンドからなる圧延ライン
の圧延スタンドのスタンド間または出側に設置された厚
さ計において、所定の間隔毎に測定された厚さ測定値の
距離による自己相関をとって距離毎の加算値を得、この
各距離毎の加算値が、その平均値に対して所定値以上の
差があるときは異常であると判定することを特徴とする
厚さ計。 - 【請求項１１】所定値以上の差があると判定された加算
値の距離情報から複数の圧延スタンドのうちのどの圧延
スタンドのロールによる異常であるかを更に判定するこ
とを特徴とする請求項１０に記載の厚さ計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11549997A JPH10307008A (ja) | 1997-05-06 | 1997-05-06 | 厚さ計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11549997A JPH10307008A (ja) | 1997-05-06 | 1997-05-06 | 厚さ計 |
Related Child Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2003056583A Division JP2003227708A (ja) | 2003-03-04 | 2003-03-04 | 厚さ計 |
| JP2003056582A Division JP3625465B2 (ja) | 2003-03-04 | 2003-03-04 | 厚さ計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10307008A true JPH10307008A (ja) | 1998-11-17 |
Family
ID=14664031
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11549997A Pending JPH10307008A (ja) | 1997-05-06 | 1997-05-06 | 厚さ計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10307008A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10060144A1 (de) * | 2000-12-04 | 2002-06-13 | Dillinger Huettenwerke Ag | Vorrichtung zur Dickenmessung an bahn- oder plattenförmigen Meßobjekten |
| GB2479572A (en) * | 2010-04-15 | 2011-10-19 | Paul Roderick Hayes Griffin | Thickness guage for measurement of hot metal plate on the procss line |
| JP2014222156A (ja) * | 2013-05-13 | 2014-11-27 | パナソニック株式会社 | 厚み検査方法および厚み検査装置 |
| CN104180761A (zh) * | 2013-05-28 | 2014-12-03 | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 | 壁厚测量仪 |
| DE102019114061A1 (de) * | 2019-05-27 | 2020-12-03 | Dieffenbacher GmbH Maschinen- und Anlagenbau | Vorrichtung und Verfahren zur Dickenmessung an bewegten bahn- oder plattenförmigen Messobjekten |
| DE102019117193A1 (de) * | 2019-06-26 | 2020-12-31 | Baumer Electric Ag | Sensorvorrichtung zur Bestimmung einer Wegstrecke, einer Fläche oder eines Volumens |
-
1997
- 1997-05-06 JP JP11549997A patent/JPH10307008A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10060144A1 (de) * | 2000-12-04 | 2002-06-13 | Dillinger Huettenwerke Ag | Vorrichtung zur Dickenmessung an bahn- oder plattenförmigen Meßobjekten |
| GB2479572A (en) * | 2010-04-15 | 2011-10-19 | Paul Roderick Hayes Griffin | Thickness guage for measurement of hot metal plate on the procss line |
| JP2014222156A (ja) * | 2013-05-13 | 2014-11-27 | パナソニック株式会社 | 厚み検査方法および厚み検査装置 |
| CN104180761A (zh) * | 2013-05-28 | 2014-12-03 | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 | 壁厚测量仪 |
| DE102019114061A1 (de) * | 2019-05-27 | 2020-12-03 | Dieffenbacher GmbH Maschinen- und Anlagenbau | Vorrichtung und Verfahren zur Dickenmessung an bewegten bahn- oder plattenförmigen Messobjekten |
| DE102019117193A1 (de) * | 2019-06-26 | 2020-12-31 | Baumer Electric Ag | Sensorvorrichtung zur Bestimmung einer Wegstrecke, einer Fläche oder eines Volumens |
| DE102019117193B4 (de) | 2019-06-26 | 2023-06-07 | Baumer Electric Ag | Sensorvorrichtung zur Bestimmung einer Wegstrecke, einer Fläche oder eines Volumens |
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|---|---|---|---|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040116 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040219 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040323 |