JP2022137877A - 厚さ測定装置及びその制御方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 15
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 35
- 238000009434 installation Methods 0.000 claims description 35
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 134
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 30
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 30
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 6
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 6
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 235000014676 Phragmites communis Nutrition 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 1
- 238000011900 installation process Methods 0.000 description 1
- 230000005389 magnetism Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
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- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
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Abstract
【課題】距離測定器の向きを簡易に調整可能な厚さ測定装置を提供する。【解決手段】本発明の一態様に係る厚さ測定装置は、対象物の搬送路を挟んで互いに対向するように設置され、基準位置から対象物までの距離を測定する一対の距離測定器と、一対の距離測定器のそれぞれによって測定された距離に基づいて対象物の厚さを算出する厚さ算出部と、一対の距離測定器のそれぞれに設けられ、各距離測定器の傾斜量を測定する傾斜量測定器と、傾斜量測定器が測定した各距離測定器の傾斜量に基づいた傾斜量情報を出力部から出力させる出力制御部と、を備える。【選択図】図2
Description
本発明は、厚さ測定装置及びその制御方法に関する。
対象物を挟むようにして配置された一対の変位センサを用いて距離を測定して、当該距離に基づいて、対象物の厚さを測定する装置がある。例えば、特許文献1には、一対の変位センサと、検査部とを備える、厚み検査装置が記載されている。当該一対の変位センサの一方は、検査物の一表面における所定の位置から予め設定した基準点までの第1の変位データを測定し、他方は、検査物の他の表面における所定の位置から予め設定した基準点までの第2の変位データを測定する。検査部は、第1の変位データと第2の変位データとの差分に基づいて、被検査物の厚みを算出する。
上述した構成の厚みセンサにおいては、一対の変位センサのそれぞれを所定の設置位置に正しく設置する必要がある。しかしながら、厚さ測定装置において、当該厚さ測定装置が備える変位センサ等の距離測定器を正しい方向に向けるためには、例えば、正対設置用ブロックに押し当てる作業、などが必要とされ、その設置作業の負担が大きい。また、シートワークを一度取り外す必要があり、シートワークが無い状態であると、変位センサとシートとの間の距離の調整が困難となる。
そこで、本発明は、距離測定器の向きを簡易に調整可能な厚さ測定装置を提供することを目的とする。
本発明の一態様に係る厚さ測定装置は、対象物の搬送路を挟んで互いに対向するように設置され、基準位置から対象物までの距離を測定する一対の距離測定器と、一対の距離測定器のそれぞれによって測定された距離に基づいて対象物の厚さを算出する厚さ算出部と、一対の距離測定器のそれぞれに設けられ、各距離測定器の傾斜量を測定する傾斜量測定器と、傾斜量測定器が測定した各距離測定器の傾斜量に基づいた傾斜量情報を出力部から出力させる出力制御部と、を備える。
この態様によれば、一対の距離測定器のそれぞれに設けられた傾斜量測定器により各距離測定器の傾斜量が測定され、当該傾斜量に基づいた傾斜量情報が出力部から出力されるため、操作者は当該傾斜量情報を確認することが可能となる。
上記態様において、一対の距離測定器のそれぞれには、設置の基準となる設置基準面が設けられ、一対の距離測定器は、更に、一対の距離測定器のそれぞれが設置基準面に基づいて正しく設置された状態における該距離測定器の傾斜量である傾斜量補正値を記憶する記憶部と、傾斜量測定器が測定した各距離測定器の傾斜量を、傾斜量補正値により補正する傾斜量補正部と、を備えてもよい。この態様によれば、設置基準面が設けられた距離測定器について、傾斜量測定器により測定される傾斜量が、設置基準面に基づいた該距離測定器の傾斜量に補正される。このため、距離測定器に設けられた設置基準面の向きと、傾斜量測定器による傾斜量の測定基準(例えば傾斜量測定器が搭載される基板の搭載面等)の向きとの誤差を補正することが可能となる。
上記態様において、傾斜量情報は、傾斜量を示す情報を含んでもよい。この態様によれば、距離測定器の傾斜量を示す情報が出力部から出力されるため、操作者は距離測定器の傾斜量を把握することが可能となる。
上記態様において、傾斜量情報は、傾斜量と予め定められた所定値との差分に基づいた差分情報を含んでもよい。この態様によれば、距離測定器の傾斜量と予め定められた所定値との差分に基づいた差分情報が出力部から出力されるため、操作者は当該差分情報を確認することが可能となる。
上記態様において、出力部は、一対の距離測定器の少なくともいずれかに設けられてもよい。この態様によれば、一対の距離測定器の少なくともいずれかに設けられた出力部から傾斜量情報が出力されるため、操作者は当該傾斜量情報を確認することが可能となる。
本発明によれば、距離測定器の向きを簡易に調整可能な厚さ測定装置を提供することができる。
添付図面を参照して、本発明の好適な実施形態について説明する。(なお、各図において、同一の符号を付したものは、同一又は同様の構成を有する。)
図1は、本実施形態に係る厚さ測定装置10の構成を示した図である。厚さ測定装置10は、対象物Wの厚さを測定する装置であって、例えば、一対の変位センサ1a、1bと、制御装置2とを備える。なお、本開示では、一対の変位センサ1a、1bをまとめて、単に変位センサ1と称する場合がある。
本実施形態において、例えば、対象物Wは、図1中の矢印Cで示す搬送方向に沿って搬送装置により搬送される。搬送装置は、例えば、一対の搬送ローラと、搬送ローラの回転に伴って対象物Wを移動させる搬送ベルトとを含んで構成されてもよい。搬送ベルトは、対象物Wの一表面10aと他表面10bとを露出するように、対象物Wを載置可能に構成される。
本実施形態の一対の変位センサ1a、1bは、例えば、所定の枠体(フレーム)や壁等に設けられた所定位置に、対象物Wの搬送路Cを介して互いに対向するように設置される。変位センサ1a、1bは、距離測定器の一例である。
一対の変位センサ1のうち一方の変位センサ1aは、例えば、投光部13a及び受光部14aを有する。投光部13aから出射された光は投光軸Paに沿って対象物Wに向かって進行し、対象物Wの一表面10aにおける所定の位置で反射される。反射された光の少なくとも一部は、受光軸Raに沿って変位センサ1aの受光部14aまで進行し、受光部14aは当該反射光を受光する。変位センサ1aは、対象物Wの一表面10aにおける所定の位置から予め設定した測定基準面1Saまでの距離を表す第1の変位量を測定する。
一対の変位センサ1のうち一方の変位センサ1bは、例えば、投光部13b及び受光部14bを有する。投光部13bから出射された光は投光軸Pbに沿って対象物Wに向かって進行し、対象物Wの一表面10bにおける所定の位置で反射される。反射された光の少なくとも一部は、受光軸Rbに沿って変位センサ1bの受光部14bまで進行し、受光部14bは当該反射光を受光する。変位センサ1bは、対象物Wの一表面10bにおける所定の位置から予め設定した測定基準面1Sbまでの距離を表す第2の変位量を測定する。
制御装置2は、例えば、1つ又は複数のコンピュータを含んで構成され、具体的には例えばPLC(Programmable Logic Controller)により実現可能である。制御装置2は、例えば、変位センサ1から第1の変位量及び第2の変位量を取得して、当該第1の変位量及び第2の変位量に基づいて対象物Wの厚さを算出し出力する。また、制御装置2は、例えば、変位センサ1から傾斜量を取得して、当該傾斜量に基づいて所定の情報を出力する。
図2は、本実施形態に係る変位センサ1の構成を説明するブロック図である。図2に示すように、変位センサ1は、例えば、インタフェース部11と、処理部12と、投光部13と、受光部14と、加速度センサ15と、センサ出力部16と、記憶部17とを備える。
インタフェース部11は、例えば、制御装置2と各種の情報を送受信するためのインタフェース回路により構成される。インタフェース部11は、例えば、入力部111と、出力部112と、を備える。入力部111は、制御装置2から各種の制御信号を取得し、処理部12に供給する。制御信号は、例えば、露光制御のための露光制御信号、及びセンサ出力部16の制御のための出力制御信号を含んでもよい。出力部112は、処理部12から各種のデータを取得し、制御装置2に当該各種のデータを出力する。出力部112は、例えば、処理部12の変位量算出部122により算出された変位量(第1の変位量及び第2の変位量)や、傾斜量算出部123により算出された傾斜量を取得し、制御装置2に出力する。
処理部12は、例えば、CPU(Central ProceSSing Unit)及びFPGA(Field Programmable Program Array)等の半導体集積回路によって実現可能である。処理部12は、露光制御部121と、変位量算出部122と、傾斜量算出部123と、センサ出力制御部124と、傾斜量補正部125とを、備える。
露光制御部121は、入力部111から供給される露光制御信号に基づいて、変位センサ1の露光制御を実行する。ここで、露光制御とは、具体的には、発光素子131の発光制御と、受光素子141のシャッタ制御と、を含む。露光制御部121は、露光制御信号に基づいて、投光回路132に発光制御信号を供給し、受光素子141にシャッタ制御信号を供給する。
投光部13は、発光素子331と、投光回路332とを備える。具体的には、投光回路332は、露光制御部121から供給される発光制御信号に応じて、発光素子331を発光させ、対象物Wに向けて光を出射(投光)する。
受光部14は、受光素子341と、アンプ342と、A/Dコンバータ343とを含む。受光素子341は、たとえばCCDイメージセンサ、CMOSイメージセンサなどの撮像素子であり、シャッタ機能を有する。受光素子341は、露光制御部121から供給されるシャッタ制御信号に応じて、所定時間の間だけ露光を行う。露光が終了すると、受光素子341に蓄積された電荷が受光信号として受光素子341から出力され、当該受光信号はアンプ342に入力される。アンプ342は、受光素子341から出力された受光信号を増幅し、A/Dコンバータ343に出力する。A/Dコンバータ343は、アンプ342からの出力信号をデジタル信号に変換して受光データを生成し、処理部12に出力する。
変位量算出部122は、受光部14から入力される受光データに基づいて変位量(測定値)を算出し、出力部112に出力する。なお、変位センサ1aの変位量算出部122は、第1の変位量を算出し、変位センサ1bの変位量算出部122は、第2の変位量を算出する。第1の変位量は、上述したとおり、対象物Wの一表面10aにおける所定の位置から予め設定した測定基準面1Saまでの距離を表す。第2の変位量は、上述したとおり、対象物Wの一表面10bにおける所定の位置から予め設定した測定基準面1Sbまでの距離を表す。
加速度センサ15は、例えば、基板に対してエッチング処理等の微細加工を行うことにより構成されるMEMS(Micro Electro Mechanical SyStem)であり、変位センサ1の加速度を測定することにより得られる加速度データを処理部12に出力する。加速度センサ15による加速度の測定方式は、特に限定されないが、加速度方向に移動可能な可動電極と、当該可動電極に対向する固定電極とを有する、静電容量式であってもよい。当該加速度センサ15では、可動電極の移動に応じて可動電極と固定電極とで構成される静電容量の変動を電圧に変換し、当該電圧値を加速度データとして処理部12に出力する。加速度データは、例えば、直交座標系を構成する3つの軸それぞれの方向の加速度を示すものであってよい。具体的には、X軸、Y軸、及びZ軸によって構成される直交座標系の場合、加速度センサ15は、X軸方向の加速度を示す加速度データ、Y軸方向の加速度を示す加速度データ、及びZ軸方向の加速度を示す加速度データそれぞれを出力する。
傾斜量算出部123は、加速度センサ15から送られた加速度データを受けて、その加速度データから、変位センサ1の傾斜の度合を示す傾斜量を算出する。傾斜量は、任意の形式で表されることができるが、例えば、X軸周りの回転角度、Y軸周りの回転角度、及びZ軸周りの回転角度で表されてもよい。傾斜量算出部123は、算出した傾斜量を出力部112に出力する。なお、変位センサ1aの傾斜量算出部123は、変位センサ1aの傾斜量である第1の傾斜量を算出し、変位センサ1bの傾斜量算出部123は、変位センサ1bの傾斜量である第2の傾斜量を算出する。
センサ出力制御部124は、インタフェース部11から入力される出力制御信号をセンサ出力部16に供給する。センサ出力部16は、例えば、処理部12のセンサ出力制御部124から供給される出力制御信号に応じた出力を実行することができる任意の種類の装置により実現される。センサ出力部16は、例えば、液晶ディスプレイや有機EL(Electro-Luminescence)ディスプレイ等の、映像や画像等の表示が可能なデバイスでもよい。或いは、センサ出力部16は、スピーカ等の音声出力可能な装置であってよい。或いは、センサ出力部16は、LED等の発光部材により構成されるインジケータであってよい。なお、本実施形態に係る厚さ測定装置10において、一対の変位センサ1のうちいずれもがセンサ出力部16を備えるものとしてもよいし、一対の変位センサ1のうち一方のみがセンサ出力部16を備えるものとしてもよいし、一対の変位センサ1のいずれもがセンサ出力部16を備えないものとしてもよい。
傾斜量補正部125は、傾斜量算出部123により算出された傾斜量を、記憶部17に当該変位センサ1に対応付けて記憶された傾斜量補正値により補正する。例えば、変位センサ1aの傾斜量補正部125は、第1の傾斜量を、記憶部17に記憶された変位センサ1aの傾斜量補正値により補正することによって、第1の補正後傾斜量を算出する。また、変位センサ1bの傾斜量補正部125は、第2の傾斜量を、記憶部17に記憶された変位センサ1bの傾斜量補正値により補正することによって、第2の補正後傾斜量を算出する。
記憶部17は、例えば、ハードディスクドライブ、ソリッドステートドライブ等の補助記憶装置であり、処理部12で実行される各種のプログラム等を記憶する。各種プログラムは、例えばCD-ROM、DVD-ROM等のコンピュータ読み取り可能な可搬型記録媒体(コンピュータその他装置、機械等が記録されたプログラム等の情報を読み取り可能なように、当該プログラム等の情報を、電気的、磁気的、光学的、機械的又は化学的作用によって蓄積する媒体)から、公知のセットアッププログラム等を用いて記憶部17にインストールされてもよい。また、記憶部17は、所定の処理に係る一時的なデータを一時的に記憶してもよい。
記憶部17は、例えば、変位センサ1の傾斜量補正値を記憶してもよい。ここで、図4を参照して、傾斜量補正値について説明する。図4に示すように、変位センサ1は筐体1Kを有しており、筐体1Kには設置基準面1Lが設けられている。設置基準面1Lは、例えば、変位センサ1を所定の設置位置に設置する際の基準となる面である。また、当該筐体1Kの内部には基板1Mが設けられる。基板1Mには搭載面1Nが設けられており、加速度センサ15は搭載面1N上に搭載される。筐体1Kの設置基準面1Lの向きと基板1Mの搭載面1Nの向きとは、変位センサ1の設計値として予め定められた位置関係となるはずである。しかしながら、実際には、変位センサ1の個体ごとに当該位置関係に誤差が生じ得る。本実施形態では、加速度センサ15によって変位センサ1の傾斜量が測定されるが、当該傾斜量は、正確には基板1Mの搭載面1Nの向きを反映したものである。そのため、筐体1Kの設置基準面1Lと基板1Mの搭載面1Nとの位置関係に誤差がある場合、加速度センサ15によって測定された傾斜量は、当該誤差を含んだままとなってしまう場合がある。そこで、本実施形態に係る厚さ測定装置10は、傾斜量補正値として、例えば、変位センサ1が所定の設置位置に正しく設置された状態における当該変位センサ1の傾斜量を予め測定し、これを記憶部17に記憶させておいてもよい。そして、変位センサ1を所定の設置位置に設置する際は、後述するように、傾斜量補正部125が、加速度センサ15によって測定された傾斜量を傾斜量補正値に基づいて補正することにより、補正傾斜量を生成してもよい。そして、制御装置2の出力制御部244は、所定の出力部に当該補正傾斜量を出力させてもよい。これにより、筐体1Kの設置基準面1Lの向きと基板1Mの搭載面1Nの向きとの位置関係の誤差を補正することが可能となる。
なお、変位センサ1は、上述した例に限らず、例えば、投光から受光までの時間の長さを用いるTOF(Time of Flight)方式を適用したセンサ、投光した光と受光した反射光との位相差を利用する位相差測距方式を適用したセンサ、PN符号により強度変調を施した光を投光し、その光と反射光との位相演算結果を用いた計測を行うPNコード測距方式を適用したセンサ、リードスイッチやホール素子等の磁気を利用した方式の近接センサなどであってもよい。
図3は、本実施形態に係る制御装置2の構成の一例を示す概略図である。制御装置2は、例えば、出力部21と、操作部22と、記憶部23と、処理部24とを備える。
出力部21は、例えば、処理部24で処理された処理結果を出力することができる任意の種類の装置により実現される。出力部112は、例えば、液晶ディスプレイや有機EL(Electro-Luminescence)ディスプレイ等の、映像や画像等の表示が可能なデバイスでもよい。或いは、出力部21は、スピーカ等の音声出力可能な装置であってよい。或いは、出力部21は、LED等の発光部材により構成されるインジケータであってよい。
操作部22は、制御装置2の操作が可能であればどのようなデバイスでもよく、例えば、タッチパネルやキーボタン等である。操作者は、操作部22を用いて、文字や数字、記号等を入力することができる。操作部22は、操作者により操作されると、その操作に対応する信号を発生する。そして、発生した信号は、操作者の指示として、処理部24に供給される。
記憶部23は、例えば、ハードディスクドライブ、ソリッドステートドライブ等の補助記憶装置であり、処理部24で実行される各種のプログラム等を記憶する。各種プログラムは、例えばCD-ROM、DVD-ROM等のコンピュータ読み取り可能な可搬型記録媒体(コンピュータその他装置、機械等が記録されたプログラム等の情報を読み取り可能なように、当該プログラム等の情報を、電気的、磁気的、光学的、機械的又は化学的作用によって蓄積する媒体)から、公知のセットアッププログラム等を用いて記憶部23にインストールされてもよい。また、記憶部23は、所定の処理に係る一時的なデータを一時的に記憶してもよい。
処理部24は、CPU(Central Processing Unit)、RAM(Random Access Memory)、ROM(Read Only Memory)等を含み、情報処理に応じて各構成要素の制御を行う。処理部24は、制御装置2の各種処理が記憶部23に記憶されているプログラムや操作部22の操作等に基づいて適切な手順で実行されるように、出力部21等の動作を制御する。処理部24は、記憶部23に記憶されているプログラム(オペレーティングシステムプログラムやドライバプログラム、アプリケーションプログラム等)に基づいて処理を実行する。また、処理部24は、複数のプログラム(アプリケーションプログラム等)を並列に実行することができる。
処理部24は、変位量取得部241と、厚さ算出部242と、傾斜量取得部243と、出力制御部244とを備える。これらの各部は、処理部24が備えるプロセッサで実行されるプログラムにより実現される機能モジュールである。あるいは、これらの各部は、独立した集積回路、マイクロプロセッサ、又はファームウェアとして制御装置2に実装されてもよい。
変位量取得部241は、例えば、変位センサ1aから第1の変位量を取得し、変位センサ1bから第2の変位量を取得する。
厚さ算出部242は、例えば、第1の変位量及び第2の変位量に基づいて、対象物Wの厚さを算出する。例えば、第1の変位量を、基準となる位置(例えば、基準ワークの一方の面の位置)から、厚さを測定する対象となる対象物Wの一方の面までの変位量L1とする。また、第2の変位量を、基準となる位置(例えば、基準ワークの他方の面の位置)から、厚さを測定する対象となる対象物Wの他方の面までの変位量L2とする。また、基準ワークの厚さをDとする。このとき、厚さ算出部242は、例えば、対象物Wの厚さLを「L=D+L1+L2」として算出する。
傾斜量取得部243は、例えば、変位センサ1から傾斜量を取得する。具体的には、傾斜量取得部243は、例えば、変位センサ1aから第1の補正後傾斜量を取得し、変位センサ1bから第2の補正後傾斜量を取得してもよい。或いは、傾斜量取得部243は、各変位センサ1から、補正前の傾斜量を取得してもよい。
出力制御部244は、所定の出力部に各種の情報を出力させる。当該所定の出力部は、例えば、制御装置2が備える出力部21であってもよいし、変位センサ1が備える出力部112であってもよい。出力制御部244は、これら出力部に対して、各種の情報を出力させるための出力制御信号を供給することにより、各種の情報を出力させる。
出力制御部244が所定の出力部に出力させる各種の情報は、例えば、厚さ算出部242が算出した厚さ、及び変位量取得部241が取得した変位量(第1の変位量及び第2の変位量)を含んでもよい。また、出力制御部244は、傾斜量取得部243が取得した傾斜量に基づいた傾斜量情報を生成し、当該傾斜量情報を所定の出力部に出力させてもよい。傾斜量情報は、傾斜量に基づいて生成される情報であれば特に限定されない。傾斜量情報は、例えば、傾斜量(傾斜量補正部125により補正された傾斜量を含む)を示す情報であってもよい。また、傾斜量情報は、例えば、傾斜量と予め定められた所定値との差分に基づいた差分情報を含んでもよい。ここで、予め定められた所定値は、正しく設置された状態の変位センサ1の傾斜量であってよく、例えば、記憶部23に記憶されていてもよい。差分情報は、差分を示す情報であってもよいし、差分に基づいて生成される変位センサ1の設置に関するアラートやアドバイス等であってもよい。
図5は、本実施形態に係る変位センサ1を設置する際に実行される処理の動作フローの一例である。
(S101)まず、設置処理が開始されると、操作者が上述したように変位センサ1の設置作業を行っている間、各変位センサ1は傾斜量を測定した上で当該傾斜量を補正した補正後傾斜量を算出する。具体的には、変位センサ1の加速度センサ15は加速度データを測定し、傾斜量算出部123は当該加速度データに基づいて傾斜量を算出し、更に傾斜量補正部125は記憶部17に記憶された傾斜量補正値を用いて補正後傾斜量を算出する。
ここで、図6を用いて、本実施形態に係る変位センサ1の設置方法の一例を説明する。図6には、搬送方向Cに平行な方向から観察した変位センサ1及び対象物Wが示されている。すなわち、対象物Wは、搬送方向Cに沿って、紙面手前側から紙面奥側へと搬送される。図6において、X軸は搬送方向Cに平行な軸であり、Y軸はX軸に垂直且つ変位量に平行な軸であり、Z軸はX軸及びY軸に垂直な軸である。
図6において符号1Tで示す面は、変位センサ1の設置基準面1Lと平行な面である。設置基準面1Lからは、投光軸P及び受光軸Rがそれぞれ対象物Wに向かって延伸している。測定基準面1Sは、変位センサ1の角部1Cに接し、設置基準面1L(面1T)と所定の角度θを成している。上述したように、測定基準面1Sは、変位センサ1の変位量の測定の基準となる面である。すなわち、変位センサ1は、当該測定基準面1Sから対象物Wの表面における所定の位置までの距離d1を、変位量として測定する。
変位センサ1には、例えば、取付穴H1、H2が設けられている。操作者は、例えば、所定の設置条件を満たすように変位センサ1の向きを調整しつつ、取付穴H1、H2に所定の締結具を固定することにより、変位センサ1を所定の設置位置に設置する。ここで、変位センサ1の設置条件は、例えば、以下の条件を全て満たすことと規定されてもよい。
・Y軸方向において対象物Wの表面と取付穴H1とは所定の距離d2だけ離隔する。
・Y軸方向において取付穴H1と取付穴H2とは所定の距離d3だけ離隔する。
・Z軸方向において取付穴H1と取付穴H2とは所定の距離d4だけ離隔する。
・測定基準面1Sと設置基準面1L(面1T)とは所定の角度θをなす。
・Y軸方向において対象物Wの表面と取付穴H1とは所定の距離d2だけ離隔する。
・Y軸方向において取付穴H1と取付穴H2とは所定の距離d3だけ離隔する。
・Z軸方向において取付穴H1と取付穴H2とは所定の距離d4だけ離隔する。
・測定基準面1Sと設置基準面1L(面1T)とは所定の角度θをなす。
なお、図4に示す例はあくまで一例であって、設置基準面は、投光部13及び/又は受光部14が設けられていない任意の面に設定されてもよい。また、変位センサ1には、複数の設置基準面が設けられてもよい。また、測定基準面は、図4に示す例に限らなくてもよく、任意に設定することができ、特に設置基準面と同一の面として設定してもよい。
(S102)次に、変位センサ1aの出力部112は、第1の補正後傾斜量を制御装置2に送信し、変位センサ1bの出力部112は、第2の補正後傾斜量を制御装置2に送信する。そして、制御装置2の傾斜量取得部243は、変位センサ1aから第1の補正後傾斜量を取得し、変位センサ1bから第2の補正後傾斜量を取得する。なお、変位センサ1の出力部112は、傾斜量算出部123が算出した補正前の傾斜量を制御装置2に送信してもよい。この場合、制御装置2の傾斜量取得部243は、当該補正前の傾斜量を取得してもよい。
(S103)次に、出力制御部244は、傾斜量取得部243が取得した傾斜量(傾斜量補正部125により算出された補正後傾斜量、又は傾斜量算出部123により算出された補正前の傾斜量)に基づいた傾斜量情報を生成し、当該傾斜量情報を所定の出力部に出力させてもよい。当該所定の出力部は、例えば、制御装置2が備える出力部21であってもよいし、変位センサ1が備える出力部112であってもよい。例えば、出力制御部244は、傾斜量を示す情報を出力部21及び/又は出力部112に出力させてもよい。また、例えば、出力制御部244は、正しく設置された状態の変位センサ1の傾斜量と現在の傾斜量との差分を示す情報や、当該差分に基づいて生成される変位センサ1の設置に関するアラートやアドバイス等を、出力部21及び/又は出力部112に出力させてもよい。以上のステップS101~S103が、所定の終了条件が満たされるまで繰り返される。
以上のとおり、本実施形態に係る厚さ測定装置10では、一対の変位センサ1のそれぞれに設けられた加速度センサ15により各変位センサ1の傾斜量が測定され、当該傾斜量に基づいた傾斜量情報が出力部21及び/又はセンサ出力部16から出力されるため、操作者は当該傾斜量情報を確認することが可能となる。これにより、例えば、変位センサ1の設置作業の負担が低減される。
以上説明した実施形態は、本発明の理解を容易にするためのものであり、本発明を限定して解釈するためのものではない。実施形態が備える各要素並びにその配置、材料、条件、形状及びサイズ等は、例示したものに限定されるわけではなく適宜変更することができる。また、異なる実施形態で示した構成同士を部分的に置換し又は組み合わせることが可能である。
1、1a、1b…変位センサ、1K…筐体、1L…設置基準面、1M…基板、1N…搭載面、11…インタフェース部、111…入力部、112…出力部、12…処理部、121…露光制御部、122…変位量算出部、123…傾斜量算出部、124…センサ出力制御部、125…傾斜量補正部、13、13a、13b…投光部、131…発光素子、132…投光回路、14、14a、14b…受光部、141…受光素子、142…アンプ、143…A/Dコンバータ、15…加速度センサ、16…センサ出力部、17…記憶部、Pa、Pb…投光軸、Ra、Rb…受光軸、2…制御装置、21…出力部、22…操作部、23…記憶部、24…処理部、241…変位量取得部、242…厚さ算出部、243…傾斜量取得部、244…出力制御部、W…対象物
Claims (6)
- 対象物の搬送路を挟んで互いに対向するように設置され、基準位置から対象物までの距離を測定する一対の距離測定器と、
前記一対の距離測定器のそれぞれによって測定された距離に基づいて対象物の厚さを算出する厚さ算出部と、
前記一対の距離測定器のそれぞれに設けられ、各距離測定器の傾斜量を測定する傾斜量測定器と、
前記傾斜量測定器が測定した各距離測定器の傾斜量に基づいた傾斜量情報を出力部から出力させる出力制御部と、
を備える厚さ測定装置。 - 前記一対の距離測定器のそれぞれには、設置の基準となる設置基準面が設けられ、
前記一対の距離測定器のそれぞれは、更に、
前記一対の距離測定器のそれぞれが前記設置基準面に基づいて正しく設置された状態における該距離測定器の傾斜量である傾斜量補正値を記憶する記憶部と、
前記傾斜量測定器が測定した各距離測定器の傾斜量を、前記傾斜量補正値により補正する傾斜量補正部と、を備える、請求項1に記載の厚さ測定装置。 - 前記傾斜量情報は、前記傾斜量を示す情報を含む、請求項1又は2に記載の厚さ測定装置。
- 前記傾斜量情報は、前記傾斜量と予め定められた所定値との差分に基づいた差分情報を含む、請求項1から3のいずれか一項に記載の厚さ測定装置。
- 前記出力部は、前記一対の距離測定器の少なくともいずれかに設けられる、請求項1から4のいずれか一項に記載の厚さ測定装置。
- 厚さ測定装置の制御方法であって、
一対の距離測定器のそれぞれに設けられた、各距離測定器の傾斜量を測定する傾斜量測定器から、該各距離測定器の傾斜量を取得することと、
前記傾斜量に基づいた情報を出力部から出力させることと、
を含む厚さ測定装置の制御方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2021037580A JP2022137877A (ja) | 2021-03-09 | 2021-03-09 | 厚さ測定装置及びその制御方法 |
PCT/JP2021/046911 WO2022190519A1 (ja) | 2021-03-09 | 2021-12-20 | 厚さ測定装置及びその制御方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022137877A true JP2022137877A (ja) | 2022-09-22 |
Family
ID=83226065
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2021037580A Pending JP2022137877A (ja) | 2021-03-09 | 2021-03-09 | 厚さ測定装置及びその制御方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2022137877A (ja) |
WO (1) | WO2022190519A1 (ja) |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2950083B2 (ja) * | 1993-03-16 | 1999-09-20 | 日産自動車株式会社 | ウェット塗膜厚測定装置 |
JP4322380B2 (ja) * | 1999-03-23 | 2009-08-26 | 株式会社山文電気 | シート厚み又はうねり計測方法及び装置 |
JP3625465B2 (ja) * | 2003-03-04 | 2005-03-02 | 株式会社東芝 | 厚さ計 |
US8886449B2 (en) * | 2012-01-13 | 2014-11-11 | Qualcomm Incorporated | Calibrated hardware sensors for estimating real-world distances |
JP6412735B2 (ja) * | 2014-08-19 | 2018-10-24 | 株式会社東芝 | 光学式距離検出器を用いた厚さ測定装置 |
JP6309868B2 (ja) * | 2014-09-26 | 2018-04-11 | 株式会社神戸製鋼所 | 形状測定装置および形状測定方法 |
-
2021
- 2021-03-09 JP JP2021037580A patent/JP2022137877A/ja active Pending
- 2021-12-20 WO PCT/JP2021/046911 patent/WO2022190519A1/ja active Application Filing
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2022190519A1 (ja) | 2022-09-15 |
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