JP3625463B2 - 電子源基板及びその製造方法、並びに画像形成装置 - Google Patents
電子源基板及びその製造方法、並びに画像形成装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3625463B2 JP3625463B2 JP2003018239A JP2003018239A JP3625463B2 JP 3625463 B2 JP3625463 B2 JP 3625463B2 JP 2003018239 A JP2003018239 A JP 2003018239A JP 2003018239 A JP2003018239 A JP 2003018239A JP 3625463 B2 JP3625463 B2 JP 3625463B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- direction wiring
- wiring
- column
- electron source
- electron
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Electrodes For Cathode-Ray Tubes (AREA)
- Cathode-Ray Tubes And Fluorescent Screens For Display (AREA)
- Cold Cathode And The Manufacture (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、複数の電子放出素子をマトリクス状に並べた電子源、及びそれを用いた表示装置等の画像形成装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、電子放出素子としては熱電子源と冷陰極電子源の2種類が知られている。冷陰極電子源には電界放出型素子(FE型素子)、金属/絶縁層/金属型素子(MIM素子)、表面伝導型電子放出素子等がある。
【0003】
本出願人は、電子放出素子とその応用に関しこれまで多数の提案を行っており、その一部を紹介する。
【0004】
インクジェット方式による素子作成に関しては特許文献1や特許文献2に、これらの素子をXYマトリクス形状に配置した例として、特許文献3、特許文献4に詳述されている。更には配線形成方法に関しては特許文献5や、特許文献6に、駆動方法については特許文献7等に詳述されている。
【0005】
また、表面伝導型電子放出素子の構成、製造方法などは、例えば特許文献8、特許文献9に詳述されている。
【0006】
以下に、上記公報に開示されている表面伝導型電子放出素子の概略を簡単に説明する。
【0007】
上記の表面伝導型電子放出素子は、図13(a)の平面図または図13(b)の断面図に模式的に示すように、基板1上に対向する一対の素子電極2,3と、該素子電極に接続されその一部に電子放出部5を有する導電性膜4とを有してなる。
【0008】
上述の表面伝導型電子放出素子は、構造が単純で製造も容易であることから、大面積にわたって多数の素子を配列形成できる利点がある。そこで、その特徴を生かせるような様々な応用が研究されている。例えば、多数の表面伝導型電子放出素子をマトリクス状に配線接続した電子源基板、かかる電子源基板を用いた表示装置等の画像形成装置が挙げられる。
【0009】
多数の表面伝導型電子放出素子をマトリクス状に配線接続した電子源基板の構成例を図14に示す。図14中、21は基板、22と23は素子電極、24は列方向配線(下配線)、25は絶縁層、26は行方向配線(上配線)、27は導電性膜(素子膜)である。
【0010】
上記電子源基板は、基板21上に、複数の列方向配線24と、該列方向配線24の上に絶縁層25を介して複数の行方向配線26が形成され、該両方向配線の交差部近傍にそれぞれ、電極対(素子電極22,23)を含む電子放出素子が配設され、該電極対の一方(素子電極23)が列方向配線24と、他方(素子電極22)が絶縁層25に設けられたコンタクトホールを介して行方向配線26と接続された構成を有している。
【0011】
【特許文献1】
特開平9−102271号公報
【特許文献2】
特開2000−251665号公報
【特許文献3】
特開昭64−031332号公報
【特許文献4】
特開平7−326311号公報
【特許文献5】
特開平8−185818号公報
【特許文献6】
特開平9−50757号公報
【特許文献7】
特開平6−342636号公報
【特許文献8】
特開平7−235255号公報
【特許文献9】
特登録2903295号公報
【0012】
【発明が解決しようとする課題】
上述したような多数の電子放出素子をマトリクス配線接続してなる電子源基板を用いて表示装置等の画像形成装置を構成する場合、その大面積化・高品質化にあたり以下のような形態が用いられている。
【0013】
まず配線材料として、求められる配線抵抗に対応する為に金属とガラスフリットからなる厚膜ペーストを用い、500℃前後の高温で焼結させる工程が必要であるが、かかる金属としては比抵抗と価格の点から銀が用いられている。また、高品質化のために高精細化を推し進めると、配線材料においてはスクリーン印刷材料からフォトペースト材料への移行が必須になっている。
【0014】
さらに素子電極材料としてはペースト焼成のような高温にあっても抵抗を維持できる貴金属が好適であり、その中でも配線材料の銀が素子部(表面伝導型電子放出素子では導電性膜)に拡散しにくい点からルテニウムが採用される。
【0015】
また、画像の高精細化の点から、素子電極と列方向配線との接続部を行方向配線の下の領域に形成し、画素ピッチをより小さくすることが必要となる。また、素子電極と列方向配線との電気的接続の確実性向上の点からも、行方向配線の下の領域にも素子電極と列方向配線との接続部を形成し、より広い接触面を有するようにすることが必要となる。
【0016】
ところが、ルテニウム(素子電極)上にフォトペースト材料を用いて銀配線(列方向配線)を形成すると、銀配線中に気泡状の欠陥が発生することがあり、行方向配線の下の領域に形成されたルテニウム(素子電極)と銀配線の接続部において気泡状の欠陥が発生した場合、列方向配線上に絶縁層を挟んで積層した行方向配線と列方向配線との間にクロスショートを発生させる原因となる。
【0017】
そこで、本発明の目的は、このような従来技術の欠点を改善するものであり、電子源基板形成において、素子電極との相互作用による配線形成時の欠陥を低減して単純マトリクス型配線の絶縁信頼性の向上を図り、その電子源基板を用いる画像形成装置において、大型でより高密度な画素配列による高品位な画像を得られるようにすることにある。
【0018】
【課題を解決するための手段】
上述した課題を解決するために、本発明は以下の手段を講じているものである。
【0019】
すなわち、本発明は、基板と、該基板上に配置され、一対の素子電極と該素子電極間に位置する電子放出部とを有する電子放出素子と、該一対の素子電極の一方と電気的に接続する列方向配線と、該一対の素子電極の他方と電気的に接続し、該列方向配線と絶縁層を介して交差する行方向配線とを有する電子源基板であって、前記列方向配線と行方向配線の交差部は、前記一対の素子電極の一方の一部の上に位置し、該交差部における該一方の素子電極と該列方向配線は、該一方の素子電極及び該列方向配線のいずれとも異なる材料からなり、該一方の素子電極と該列方向配線を隔絶する隔絶層を介して積層されることを特徴とするものである。
【0020】
また、上記本発明の電子源基板においては、前記素子電極はルテニウムであり、前記列方向配線もしくは行方向配線は銀粉とガラスからなるフォトペーストの焼結体であることが好適である。
【0023】
また、上記本発明の電子源基板においては、前記隔絶層はSiO2であることが好適である。
【0025】
また、上記本発明の電子源基板においては、前記隔絶層が前記絶縁層と同一パターンで形成されていることが好適である。
【0026】
また本発明は、基板と、該基板上に配置され、一対の素子電極と該素子電極間に位置する電子放出部とを有する電子放出素子と、該一対の素子電極の一方と電気的に接続する列方向配線と、該一対の素子電極の他方と電気的に接続し、該列方向配線と絶縁層を介して交差する行方向配線とを有する電子源基板の製造方法であって、
基板上に前記一対の素子電極を形成する工程と、
前記一対の素子電極の一方の一部を覆い、該一方の素子電極と列方向配線を隔絶する隔絶層を形成する工程と、
前記一対の素子電極の一方と電気的に接続し、前記隔絶層上に重なる列方向配線を形成する工程と、
前記行方向配線と前記列方向配線を絶縁するための絶縁層を形成する工程と、
列方向配線と行方向配線の交差部において前記絶縁層と重ねて行方向配線を形成する工程と、を有し、
前記隔絶層によって覆われる前記部分は、列方向配線と行方向配線の交差部及び交差部と隣接する部分であり、前記隔絶層は列方向配線及び前記一対の素子電極の一方のいずれとも異なる材料からなることを特徴とするものである。
【0030】
また、本発明の電子源基板の製造方法においては、前記絶縁層はガラスからなるフォトペーストであり、前記隔絶層はこの絶縁層用露光マスクを用いて形成されたレジストをマスクとしたドライエッチング法により形成されることが好適である。
【0031】
また本発明は、上記本発明の電子源基板と、画像形成部材とを有することを特徴とする画像形成装置である。
【0032】
【発明の実施の形態】
以下に図面を参照して、本発明の好適な実施の形態を例示的に詳しく説明する。ただし、この実施の形態に記載されている構成部品の寸法、材質、形状、その相対配置などは、本発明の範囲をそれらのみに限定する趣旨のものではない。
【0033】
本発明の電子源基板に形成される電子放出素子としては、図13(a)及び図13(b)に例示した表面伝導型電子放出素子の構成が挙げられる。
【0034】
基板1としては、例えば石英ガラス、Na等の不純物含有量を減少させたガラス、青板ガラス、SiO2を表面に形成したガラス基板およびアルミナ等のセラミックス基板等が挙げられる。
【0035】
素子電極2、3の材料としては、後述する配線形成時のペースト焼成のような高温にあっても抵抗を維持できる貴金属が好適であり、その中でも配線材料(特に銀)が素子部(素子膜、つまり導電性膜4)に拡散しにくい点からルテニウムが特に好ましい。この素子電極の形成方法としては、基板1上にスパッタリング等により電極材料を成膜した後、フォトリソグラフィー・エッチング技術によりパターン形成する方法が好適である。
【0036】
素子電極間隔L、素子電極長さW、素子電極2、3の形状等は、実素子が応用される形態等に応じて適宜設計されるが、間隔Lは好ましくは数千Åから1mmであり、より好ましくは素子電極間に印加する電圧等を考慮して1μmから100μmの範囲である。また、素子電極長さWは、好ましくは電極の抵抗値、電子放出特性を考慮して、数μmから数百μmの範囲である。
【0037】
導電性膜(素子膜)4としては、良好な電子放出特性を得るために、微粒子で構成された微粒子膜が特に好ましい。またその膜厚は、素子電極2、3へのステップカバレージ、素子電極間の抵抗値、および後述するフォーミング処理条件等を考慮して適宜設定されるが、好ましくは数Åから数千Åであり、特に好ましくは10Åから500Åの範囲とするのが良い。そのシート抵抗値は、好ましくは103〜107Ω/□である。
【0038】
なお、ここで述べる微粒子膜とは、複数の微粒子が集合した膜であり、その微細構造として、微粒子が個々に分散配置した状態のみならず、微粒子が互いに隣接あるいは重なり合った状態(島状も含む)の膜を指しており、微粒子の粒径は、数Å〜数千Å、好ましくは10Å〜200Åである。
【0039】
電子放出部5は、例えば特許文献9に開示されているような通電処理(フォーミング処理)によって形成することができる。尚、図示の便宜から、電子放出部5は導電性膜4の中央に矩形の形状で示したが、これは模式的なものであり、実際の電子放出部の位置や形状を忠実に表現しているわけではない。
【0040】
所定の真空度のもとで素子電極2,3間に通電すると、導電性膜4の部位に、構造の変化した間隙(亀裂)が形成される。この間隙領域が電子放出部5を構成する。尚、このフォーミングにより形成した間隙付近からも、所定の電圧下では電子放出が起こるが、この状態ではまだ電子放出効率が非常に低いものである。
【0041】
よって電子放出効率を上げるために、上記素子に特許文献9に開示されている活性化と呼ばれる処理を行うことが望ましい。
【0042】
以上の工程により図13(a)及び図13(b)に示したような電子放出素子を作製することができる。
【0043】
上述のような素子構成と製造方法によって作製された電子放出素子の基本特性について図11を用いて説明する。
【0044】
特許文献9などに開示されている測定評価装置により測定された放出電流Ieおよび素子電流Ifと素子電圧Vfの関係の典型的な例を図11に示す。なお、放出電流Ieと素子電流Ifは大きさが著しく異なるが、図11ではIf、Ieの変化の定性的な比較検討のために、リニアスケールで縦軸を任意単位で表記した。
【0045】
本電子放出素子は放出電流Ieに対して以下の三つの特徴を有する。
【0046】
まず第一に、図11からも明らかなように、本素子はある電圧(しきい値電圧と呼ぶ、図11中のVth)以上の素子電圧を印加すると急激に放出電流Ieが増加し、一方しきい値電圧Vth以下では放出電流Ieがほとんど検出されない。すなわち、本電子放出素子は、放出電流Ieに対する明確なしきい値電圧Vthを持った非線形素子としての特性を有しているのが判る。
【0047】
第二に、放出電流Ieが素子電圧Vfに依存するため、放出電流Ieは素子電圧Vfで制御できる。
【0048】
第三に、アノード電極54に捕捉される放出電荷は、素子電圧Vfを印加する時間に依存する。すなわち、アノード電極54に捕捉される電荷量は、素子電圧Vfを印加する時間により制御できる。
【0049】
次に、本発明に係る電子源基板及び画像形成装置について説明する。
【0050】
図1は、本発明に係る電子源基板の一実施形態を示す模式図である(尚、図1はフォーミング処理前の状態を示している。)。図1中、21は基板、22と23は素子電極、24は列方向配線(下配線)、25は絶縁層、26は行方向配線(上配線)、27は導電性膜、28は隔絶層である。
【0051】
本発明においては、素子電極23の列方向配線24と行方向配線26の交差部に隣接する部分に隔絶層28を設け、列方向配線24は隔絶層28上に重なって素子電極23と電気的に接続するように構成されている。かかる構成によれば、特に、素子電極材料として好適なルテニウムを採用し、配線金属材料として好適な銀を採用し、列方向配線24を銀粉とフリットガラスからなるフォトペースト材料を用いて形成する際、列方向配線24と行方向配線26が交差する領域及びその交差する領域と隣接する領域において、銀配線(列方向配線24)中に気泡状の欠陥が発生するのを効果的に抑制でき、結果として、列方向配線24と行方向配線26との間のクロスショートを防止することができる。
【0052】
即ち、隔絶層28を所定の位置に配置することにより、素子電極23との相互作用による列方向配線24形成時の欠陥を低減して単純マトリクス型配線の絶縁信頼性の向上を図ることができる。
【0053】
この隔絶層28には例えばスパッタリング法により成膜されたSiO2が好適である。
【0054】
また、隔絶層28のパターンは、上記の作用効果が得られる配置であれば特に限定されるものではなく、例えば絶縁層25と同一パターンで形成することもできる。そして、絶縁層25をフリットガラスからなるフォトペーストで形成する場合には、この絶縁層用露光マスクを用いて形成されたレジストをマスクとしたドライエッチング法により隔絶層28を形成すれば、フォトマスク数を削減し、コストダウンと資源の効率化を図ることも可能である。
【0055】
また、列方向配線24と接続する素子電極23に関しては、列方向配線24に沿って複数の電子放出素子分を共通の電極で形成することも好ましく、これにより列方向配線24のオープン欠陥の発生率を大幅に低減することができる。例えば図7に示すように、各列方向配線24と接続する全ての素子電極23を各ライン毎に連続して形成するのが特に好ましい。
【0056】
上記のような単純マトリクス配置の電子源基板を用いた画像形成装置の一例について、図12を用いて説明する。
【0057】
図12において、21は上記の電子源基板、82はガラス基板83の内面に蛍光膜84とメタルバック85等が形成されたフェースプレート、86は支持枠である。電子源基板21、支持枠86及びフェースプレート82をフリットガラスによって接着し、400〜500℃で、10分以上焼成することで、封着して、外囲器90を構成する。
【0058】
尚、フェースプレート82と電子源基板21との間に、スペーサーと呼ばれる不図示の支持体を設置することにより、大面積パネルの場合にも大気圧に対して十分な強度を持つ外囲器を構成することもできる。
【0059】
フェースプレート82上に設ける蛍光膜84は特許文献9に開示されている。
【0060】
封着時の真空度は10−5Pa程度の真空度が要求される他、外囲器90の封止後の真空度を維持するために、特許文献9に開示されているゲッター処理を行う場合もある。
【0061】
前述した本発明に係る表面伝導型電子放出素子の基本的特性によれば、電子放出部からの放出電子は、しきい値電圧以上では対向する電極間に印加するパルス状電圧の波高値と巾によって制御され、その中間値によっても電流量が制御され、よって中間調表示が可能になる。
【0062】
また多数の電子放出素子を配置した場合においては、各ラインの走査線信号によって選択ラインを決め、各情報信号ラインを通じて個々の素子に上記パルス状電圧を適宜印加すれば、任意の素子に適宜電圧を印加する事が可能となり、各素子をONすることができる。
【0063】
また中間調を有する入力信号に応じて電子放出素子を変調する方式としては、電圧変調方式、パルス幅変調方式が挙げられる。
【0064】
具体的な駆動装置について、単純マトリクス配置の電子源基板を用いて構成した表示パネルを利用した、NTSC方式のテレビ信号に基づいたテレビジョン表示用の画像形成装置の構成例として特許文献9に開示されている。
【0065】
以上のように本発明による画像形成装置において、各電子放出素子に両方向配線を通じ、電圧を印加することにより電子放出させ、直流電圧源に接続された高圧端子Hvを通じ、アノード電極であるメタルバック85に高圧を印加し、発生した電子ビームを加速し、蛍光膜84に衝突させることによって、画像を表示することができる。
【0066】
ここで述べた画像形成装置の構成は、本発明の画像形成装置の一例であり、本発明の技術思想に基づいて種々の変形が可能である。
【0067】
【実施例】
以下、本発明の実施例を説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。
【0068】
[実施例1]
本実施例は、図13(a)及び図13(b)に示す電子放出素子を基板上に多数作成し、これらをマトリクス配線接続してなる図1に示したような電子源基板を製造した例である。
【0069】
以下、本実施例の電子源基板の製造方法を図1乃至図6を用いて説明する。
【0070】
(素子電極の形成/図2参照)
基板21として、アルカリ成分が少ないPD−200(旭硝子(株)製)の2.8mm厚ガラス上にナトリウムブロック層としてSiO2膜100nmを塗付焼成したものを用いた。このガラス基板21上に、スパッタ法によってまず下引き層としてチタニウムTi(厚さ5nm)、その上にルテニウムRu(厚さ40nm)を成膜した後、レジストを塗布し、露光、現像、エッチングという一連のフォトリソグラフィー法によってパターニングして素子電極2,3を形成した。なお、本実施例では素子電極の間隔Lを10μm、対向する長さWを100μmとした。
【0071】
(隔絶層の形成/図3参照)
次に、スパッタ法でSiO2膜(厚さ100nm)を形成し、先の工程と同様にフォトリソグラフィー法によってパターニングし、後に形成する列方向配線24と行方向配線26が交差する部分及びその交差する部分と隣接する領域に隔絶層28を形成した。
【0072】
(下配線の形成/図4参照)
共通配線としての列方向配線(下配線)24は、一方の素子電極23に接して、かつそれらを連結するようにライン状のパターンで形成した。材料には銀フォトぺーストインキ(Dupont社製、DC−206)を用い、スクリーン印刷した後、乾燥させてから、所定のパターンに露光し現像した。この後480℃前後の温度で焼成して列方向配線24を形成した。この列方向配線24の厚さは約10μm、幅は約50μmである。なお不図示の終端部は配線取り出し電極として使うために、線幅をより大きくした。
【0073】
(絶縁層の形成/図5参照)
上下配線を絶縁するために、絶縁層25を形成する。後述の行方向配線(上配線)下に、先に形成した列方向配線(下配線)24との交差部を覆うように、かつ行方向配線(上配線)と素子電極2との電気的接続が可能なように、各素子に対応した接続部にコンタクトホール29を開けて形成した。
【0074】
具体的には、PbOを主成分とする感光性のガラスペーストをスクリーン印刷した後、露光−現像した。これを4回繰り返し、最後に480℃前後の温度で焼成した。この絶縁層25の厚みは、全体で約30μmであり、幅は150μmである。
【0075】
(上配線の形成/図6参照)
先に形成した絶縁層25の上に、Agぺーストインキをスクリーン印刷した後乾燥させ、この上に再度同様なことを行い2度塗りしてから、480℃前後の温度で焼成して行方向配線(上配線)26を形成した。行方向配線26は、絶縁層25を挟んで列方向配線24と交差しており、絶縁層25に設けたコンタクトホール29部分で素子電極22と接続されている。
【0076】
この行方向配線26は電気駆動時には走査電極として作用する。尚、行方向配線26の厚さは約15μmである。図示していないが、外部駆動回路への引出し端子もこれと同様の方法で形成した。
【0077】
このようにしてXYマトリクス配線を有する基板が形成された。
【0078】
次に、上記基板を十分にクリーニングした後、撥水剤を含む溶液で表面を処理し、表面が疎水性になるようにした。これはこの後塗布する導電性膜形成用の水溶液が、素子電極上に適度な広がりをもって配置されるようにするためである。
【0079】
(導電性膜の形成/図1参照)
次に、素子電極22,23間に導電性膜27を形成した。本工程は特許文献1に開示されている方法を用いる。
【0080】
本実施例では、導電性膜27としてパラジウム膜を得る目的で、先ず水85:イソプロピルアルコール(IPA)15からなる水溶液に、パラジウム−プロリン錯体0.15重量%を溶解し、有機パラジウム含有溶液を得た。この他若干の添加剤を加えた。この溶液の液滴を、液滴付与手段71として、ピエゾ素子を用いたインクジェット噴射装置を用い、ドット径が60μmとなるように調整して素子電極間に付与した。
【0081】
その後、この基板を空気中にて、350℃で10分間の加熱焼成処理をして酸化パラジウム(PdO)からなる導電性膜27’が形成された。
【0082】
[フォーミング工程]
次に、フォーミングと呼ばれる本工程に於いて、上記導電性膜27’を通電処理して内部に亀裂を生じさせ、電子放出部5を形成する。なお、特許文献9に具体的な方法が開示されている。また、フォーミング処理に特許文献9に開示がある電圧波形を用いた。
【0083】
[活性化工程]
前記のフォーミング工程後に特許文献9に開示されている方法で活性化工程を行う。
【0084】
以上の工程で、基板上に多数の電子放出素子をマトリクス配線接続してなる電子源基板を作製することができた。
【0085】
本実施例の電子源基板において、各素子の素子電極間に印加する電圧12Vにおける放出電流Ieを測定した結果、平均0.6μA、電子放出効率は平均0.15%を得た。また素子間の均一性もよく、各素子間でのIeのばらつきは5%と良好な値が得られた。
【0086】
次に、以上のようにして製造した単純マトリクス配置の電子源基板を用いて図12に示したような画像形成装置(表示パネル)を製造した。尚、図12は内部を表現するために部分的に切り欠いて表している。
【0087】
図12において、電子源基板21、支持枠86及びフェースプレート82をフリットガラスによって接着し、480℃で、30分焼成することで、封着して、外囲器90を得た。
【0088】
このようにして図12に示されるような表示パネルを製造し、特許文献9に開示されている走査回路・制御回路・変調回路・直流電圧源などからなる駆動回路を接続し、パネル状の画像形成装置を製造した。
【0089】
行方向端子と列方向端子を通じて、各電子放出素子に時分割で所定電圧を印加し、高電圧端子Hvを通じてメタルバック85に高電圧を印加することによって、任意のマトリクス画像パターンを画素欠陥の無い良好な画像品質で表示することができた。
【0090】
[実施例2]
本発明において、素子電極の形状等は、実素子が応用される形態等に応じて適宜設計される。本実施例では、列方向配線24と接続する素子電極23を、図7に示すように各ライン毎に連続して形成した。それ以外は、実施例1と同様に図1に示したような電子源基板を製造した。これにより列方向配線24のオープン欠陥の無い電子源基板を安定して製造することができた。
【0091】
また、この電子源基板を用いて図12に示したような画像形成装置(表示パネル)を製造した。その結果、本実施例の画像形成装置においても任意のマトリクス画像パターンを画素欠陥の無い良好な画像品質で表示することができた。
【0092】
[実施例3(参考例)]
本実施例では、図8に示すように、素子電極23が抵抗素子部(抵抗部)31を有しており、その抵抗素子部31を介して素子電極23が列方向配線24に接続されるように形成した。それ以外は、実施例1と同様に図1に示したような電子源基板を製造した。
【0093】
本実施例においては、ルテニウムRu(素子電極材料)を成膜した後、レジストを塗布し、露光、現像、エッチングという一連のフォトリソグラフィー法によってパターニングして素子電極22,23を形成する素子電極形成工程と同じ工程で抵抗素子部31を形成することも好適である。
【0094】
本実施例の電子源基板では、電子放出素子の放電により発生した過電流は列方向配線24と素子電極23の間に設けられた抵抗素子部31があることによって、列方向配線24へ流れる電流を制限することができ、許容(供給)電流量の小さい列方向配線及び列方向配線につながる駆動ICの破壊を抑制することができる。また、個々の素子の抵抗が配線に比較して大きくなるため、配線を介して接続された隣接素子へ流れ込む放電電流(の割合)を低減でき、隣接素子の破壊を防止できる。ここで、抵抗素子部31は素子電極23よりも抵抗値が高く、例えば50Ω〜500kΩ、好ましくは500Ω〜5kΩのものを用いるのが好適である。
【0095】
また、本実施例では、素子電極の下引き層としてのチタニウムTi形成と同じ工程で列方向配線の下引き配線30を形成することも好適である。これにより素子電極と列方向配線24の電気的接続の確実性を向上することができた。このことは、本実施例だけに限らず、本発明に対して同様の効果をもたらすことは明らかである。
【0096】
また、この電子源基板を用いて図12に示したような画像形成装置(表示パネル)を製造した。その結果、本実施例の画像形成装置においても任意のマトリクス画像パターンを画素欠陥の無い良好な画像品質で表示することができた。
【0097】
[実施例4(参考例)]
本発明において、隔絶層28は、前述の作用効果が得られる配置のパターン、材料であれば特に限定されるものではない。本実施例では、図9に示すように、隔絶層が抵抗材料である隔絶層(抵抗体層)32で形成されている。ここでいう抵抗材料である隔絶層(抵抗体層)32は、素子電極23よりも抵抗値が高いものであり、例えば高抵抗用感光性フォトペースト(DuPont社、商品名;DC243)を印刷し、IR乾燥炉で90℃10分乾燥、3kW高圧水銀ランプで2000mJ(365nm)露光、0.4%炭酸ナトリウム水溶液でシャワー現像という一連のフォトリソグラフィー法によってパターニングし、その後520℃前後の温度で焼成して形成されたものである。また、隔絶層(抵抗体層)32としては、Ptと、Si、V、Bi、Zrなどの混合物であるPtサーメットを用いることも好適である。また隔絶層(抵抗体層)32の好ましい抵抗値の範囲は50Ω〜500kΩ、より好ましくは500Ω〜5kΩのものを用いるのが好適である。それ以外は実施例1または実施例3と同様に図1に示したような電子源基板を製造した。
【0098】
本実施例の電子源基板においても実施例3と同様に、電子放出素子の放電により発生した過電流は列方向配線24と素子電極23の間に設けられた隔絶層(抵抗体層)32があることによって、列方向配線24へ流れる電流を制限することができ、許容(供給)電流量の小さい列方向配線及び列方向配線につながる駆動ICの破壊を抑制することができる。また、個々の素子の抵抗が配線に比較して大きくなるため、配線を介して接続された隣接素子へ流れ込む放電電流(の割合)を低減でき、隣接素子の破壊を防止できる。
【0099】
また、本実施例では、素子電極の下引き層としてのチタニウムTi形成と同じ工程で列方向配線の下引き配線30を形成することも好適である。これにより素子電極と列方向配線24の電気的接続の確実性を向上することができた。このことは、本実施例だけに限らず、本発明に対して同様の効果をもたらすことは明らかである。
【0100】
また、この電子源基板を用いて図12に示したような画像形成装置(表示パネル)を製造した。その結果、本実施例の画像形成装置においても任意のマトリクス画像パターンを画素欠陥の無い良好な画像品質で表示することができた。
【0101】
[実施例5]
本実施例では、絶縁層用露光マスクを用いて形成されたレジストをマスクとしたドライエッチング法により隔絶層28を形成し、図10に示すように絶縁層25と同一パターンで形成した以外は、実施例1と同様に図1に示したような電子源基板を製造した。これによりフォトマスク数を削減し、コストダウンと資源の効率化を実現できた。
【0102】
この電子源基板を用いて図12に示したような画像形成装置(表示パネル)を製造した。その結果、本実施例の画像形成装置においても任意のマトリクス画像パターンを画素欠陥の無い良好な画像品質で表示することができた。
【0103】
【発明の効果】
本発明によれば、単純マトリクス型の電子源基板を作成する際に、列方向配線(下配線)と行方向配線(上配線)が交差する部分を含んだ領域で、且つ、列方向配線の下に、予め素子電極との隔絶層を形成することにより、素子電極との相互作用による配線形成時の欠陥を低減して単純マトリクス型配線の絶縁信頼性の向上を実現できるため、その電子源基板を用いる画像形成装置において、より高密度な画素配列による高品位な画像を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る電子源基板の一構成例を模式的に示す平面図である。
【図2】本発明の実施例1に係る電子源基板の製造工程を説明するための図である。
【図3】本発明の実施例1に係る電子源基板の製造工程を説明するための図である。
【図4】本発明の実施例1に係る電子源基板の製造工程を説明するための図である。
【図5】本発明の実施例1に係る電子源基板の製造工程を説明するための図である。
【図6】本発明の実施例1に係る電子源基板の製造工程を説明するための図である。
【図7】本発明の実施例2に係る電子源基板の製造工程を説明するための図である。
【図8】本発明の実施例3(参考例)に係る電子源基板の構成を説明する図である。
【図9】本発明の実施例4(参考例)に係る電子源基板の構成を説明する図である。
【図10】本発明の実施例5に係る電子源基板の構成を説明する図である。
【図11】本発明に係る表面伝導型電子放出素子の素子電流及び放出電流と素子電圧との関係を示す図である。
【図12】本発明に係る画像形成装置の一構成例を模式的に示す斜視図である。
【図13】本発明に係る電子放出素子の一構成例を模式的に示す平面図及び断面図である。
【図14】従来の電子源基板を模式的に示す平面図である。
【符号の説明】
1 基板
2、3 素子電極
4 導電性膜
5 電子放出部
21 電子源基板
22、23 素子電極
24 列方向配線(下配線)
25 絶縁層
26 行方向配線(上配線)
27 導電性膜
28 隔絶層
29 コンタクトホール
30 列方向配線の下引き配線
31 抵抗素子部(抵抗部)
32 隔絶層(抵抗体層)
82 フェースプレート
83 ガラス基板
84 蛍光膜
85 メタルバック
86 支持枠
90 外囲器(表示パネル)
Claims (7)
- 基板と、該基板上に配置され、一対の素子電極と該素子電極間に位置する電子放出部とを有する電子放出素子と、該一対の素子電極の一方と電気的に接続する列方向配線と、該一対の素子電極の他方と電気的に接続し、該列方向配線と絶縁層を介して交差する行方向配線とを有する電子源基板であって、前記列方向配線と行方向配線の交差部は、前記一対の素子電極の一方の一部の上に位置し、該交差部における該一方の素子電極と該列方向配線は、該一方の素子電極及び該列方向配線のいずれとも異なる材料からなり、該一方の素子電極と該列方向配線を隔絶する隔絶層を介して積層されることを特徴とする電子源基板。
- 前記素子電極はルテニウムであり、前記列方向配線もしくは行方向配線は銀粉とガラスからなるフォトペーストの焼結体であることを特徴とする請求項1に記載の電子源基板。
- 前記隔絶層はSiO2であることを特徴とする請求項1または2に記載の電子源基板。
- 前記隔絶層が前記絶縁層と同一パターンで形成されていることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載の電子源基板。
- 基板と、該基板上に配置され、一対の素子電極と該素子電極間に位置する電子放出部とを有する電子放出素子と、該一対の素子電極の一方と電気的に接続する列方向配線と、該一対の素子電極の他方と電気的に接続し、該列方向配線と絶縁層を介して交差する行方向配線とを有する電子源基板の製造方法であって、
基板上に前記一対の素子電極を形成する工程と、
前記一対の素子電極の一方の一部を覆い、該一方の素子電極と列方向配線を隔絶する隔絶層を形成する工程と、
前記一対の素子電極の一方と電気的に接続し、前記隔絶層上に重なる列方向配線を形成する工程と、
前記行方向配線と前記列方向配線を絶縁するための絶縁層を形成する工程と、
列方向配線と行方向配線の交差部において前記絶縁層と重ねて行方向配線を形成する工程と、を有し、
前記隔絶層によって覆われる前記部分は、列方向配線と行方向配線の交差部及び交差部と隣接する部分であり、前記隔絶層は列方向配線及び前記一対の素子電極の一方のいずれとも異なる材料からなることを特徴とする電子源基板の製造方法。 - 前記絶縁層はガラスからなるフォトペーストであり、前記隔絶層はこの絶縁層用露光マスクを用いて形成されたレジストをマスクとしたドライエッチング法により形成されることを特徴とする請求項5に記載の電子源基板の製造方法。
- 請求項1乃至4のいずれか一項に記載の電子源基板と、画像形成部材とを有することを特徴とする画像形成装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003018239A JP3625463B2 (ja) | 2002-01-29 | 2003-01-28 | 電子源基板及びその製造方法、並びに画像形成装置 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002019421 | 2002-01-29 | ||
JP2002-19421 | 2002-01-29 | ||
JP2003018239A JP3625463B2 (ja) | 2002-01-29 | 2003-01-28 | 電子源基板及びその製造方法、並びに画像形成装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003297225A JP2003297225A (ja) | 2003-10-17 |
JP3625463B2 true JP3625463B2 (ja) | 2005-03-02 |
Family
ID=29404746
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003018239A Expired - Fee Related JP3625463B2 (ja) | 2002-01-29 | 2003-01-28 | 電子源基板及びその製造方法、並びに画像形成装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3625463B2 (ja) |
-
2003
- 2003-01-28 JP JP2003018239A patent/JP3625463B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2003297225A (ja) | 2003-10-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7211943B2 (en) | Electron source plate, image-forming apparatus using the same, and fabricating method thereof | |
JP2004213983A (ja) | 画像形成装置 | |
JP4393257B2 (ja) | 外囲器の製造方法および画像形成装置 | |
US6902455B2 (en) | Method of manufacturing member pattern, electron source, and image display device | |
JP3625463B2 (ja) | 電子源基板及びその製造方法、並びに画像形成装置 | |
JP2003157757A (ja) | 電子源基板およびそれを用いた表示装置 | |
JP3728281B2 (ja) | 電子源基板及び画像形成装置 | |
JP2004165152A (ja) | 気密容器の製造方法及び画像表示装置の製造方法及び接合方法 | |
JP2003068192A (ja) | 画像形成装置及びその製造方法 | |
JP3740479B2 (ja) | 画像表示装置とその製造方法 | |
WO2000022643A1 (fr) | Dispositif d'imagerie et son procede de production | |
JPH0765708A (ja) | 電子放出素子並びに画像形成装置の製造方法 | |
JP3387710B2 (ja) | 電子源基板の製造方法および画像形成装置の製造方法 | |
JP3450581B2 (ja) | 配線基板および画像形成装置の製造方法 | |
JP3870213B2 (ja) | 表示装置の製造方法 | |
JP3478661B2 (ja) | 電子源の製造方法および画像形成装置の製造方法 | |
JP2000244079A (ja) | マトリックス配線基板、電子源基板および画像形成装置 | |
JP2004071370A (ja) | 配線基板、電子源基板および画像形成装置 | |
JP2006107776A (ja) | 画像表示装置の製造方法 | |
JP2003068188A (ja) | 電子源基板および画像形成装置ならびにそれらの製造方法 | |
JP2004342546A (ja) | 電子源の製造方法と画像表示装置の製造方法 | |
JP2004200054A (ja) | 画像表示装置 | |
JP2004200053A (ja) | 画像表示装置 | |
JP2003036780A (ja) | 電子源基板および画像形成装置ならびにそれらの製造方法 | |
JP2004335170A (ja) | 配線構造、この配線構造を有する配線基板及びこれを用いた画像形成装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040812 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040907 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20041020 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20041124 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20041129 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081210 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081210 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091210 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091210 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101210 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111210 Year of fee payment: 7 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |