JP3615041B2 - 不揮発性半導体記憶装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えばEEPROMのように、電気的に書換え可能な不揮発性半導体記憶装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、電気的書換え可能とした不揮発性半導体記憶装置の1つとしてNANDセル型EEPROMが提案されている。このNANDセル型EEPROMは、複数のメモリセルのソース、ドレインを隣接するもの同士で共有して直列接続し、これを1単位としてビット線に接続するものである。各メモリセルは、電荷蓄積層としての浮遊ゲートと、制御ゲートが積層されたnチャネルMOSFET構造とされている。
【0003】
図26(a)(b)はメモリセルアレイの1つのNANDセル部分の平面図と等価回路図である。図27(a)は図26(a)に示す27a−27a線に沿った断面図であり、図27(b)は図26(a)に示す27b−27b線に沿った断面図である。
【0004】
素子分離酸化膜72で囲まれたp型シリコン基板(又はp型ウエル)71には、複数のNANDセルからなるメモリセルアレイが形成されている。この実施例において、1つのNANDセルは、8個のメモリセルM1〜M8が直列接続されて構成されている。各メモリセルにおいて、浮遊ゲート74(741 、742 …748 )は基板71にゲート絶縁膜73を介して形成されている。これらのメモリセルのソース、ドレインとしてのn型拡散層79は、隣接するもの同士が直列接続されている。
【0005】
NANDセルのドレイン側、ソース側には第1の選択ゲート749 、769 及び第2の選択ゲート7410、7610が設けられている。各第1の選択ゲート749 、769 及び第2の選択ゲート7410、7610はメモリセルの浮遊ゲート74(741 …748 )、制御ゲート76(761 …768 )と同時に形成される。なお、第1の選択ゲート749 、769 及び第2の選択ゲート7410、7610はともに、図示せぬ所望の部分で1層目と2層目が導通接続されている。素子が形成された基板はCVD酸化膜77により覆われ、この上にビット線78が配設される。NANDセルの制御ゲート761 、762 …768 (CG1 、CG2 …CG8 )は、ワード線とされ、選択ゲート749 、769 及び7410、7610(SG1 、SG2 )はそれぞれ行方向に配置され、選択ゲート線とされる。
【0006】
図28は、上記構成のNANDセルをマトリクス状に配列したメモリセルアレイの等価回路を示している。この例において、ソース線は例えば64本のビット線毎に1箇所、コンタクトを介してアルミニウムや、ポリシリコン等からなる基準電位配線に接続される。この基準電位配線は周辺回路に接続される。メモリセルの制御ゲート及び第1、第2の選択ゲートは、行方向に連続的に配設される。通常、制御ゲートが共通に接続されたメモリセルの集合を1ページと呼び、ドレイン側(第1の選択ゲート)とソース側(第2の選択ゲート)の1組の選択ゲートの間に配置されたページの集合を1NANDブロック、又は単に1ブロックと呼ぶ。1ページは例えば256バイト(256×8)個のメモリセルから構成される。1ページ分のメモリセルはほぼ同時に書き込みが行われる。1ブロックは例えば2048バイト(2048×8)個のメモリセルから構成される。1ブロック分のメモリセルはほぼ同時に消去される。
【0007】
NANDセル型EEPROMの動作は次の通りである。1NANDセルのうち、データ書き込みは、ビット線から遠い場所に位置するメモリセルから順に行われる。ビット線にはデータに応じて0V、又は電源電圧Vccを印加する。データ“0”を書込むことを“0”書き込みと呼び、電源電圧Vccに相当するデータ“1”を書込むことを“1”書き込みと呼ぶ。NANDセルをビット線に接続する選択ゲートには電源電圧Vccが供給され、ソース線に接続する選択ゲートには接地電位0Vが供給される。このとき、“0”書き込みのセルのチャネルにはビット線から0Vが伝達される。“1”書き込みの場合、ビット線に接続された選択ゲートがオフとなるため、“1”書き込みをするメモリセルのチャネルの電位はVcc−Vthsg(Vthsgは選択ゲートの閾値電圧)となり、フローティングになる。
【0008】
その後、選択されたメモリセルの制御ゲートには昇圧された書き込み電圧Vpp(=20V程度)が印加され、他の非選択メモリセルの制御ゲートには中間電位Vpass(=10V程度)が印加される。その結果、データ“0”の時は、チャネルの電位が0Vであるため選択メモリセルの浮遊ゲートとチャネル間に高電圧が印加される。このため、チャネルから浮遊ゲートに電子がF−Nトンネリングにより注入され、選択メモリセルの閾値電圧が正方向に移動する。データ“1”の時は、フローティング状態のチャネルの電位は制御ゲートとの容量結合によって6V程度となるため、チャネルから浮遊ゲートに電子が注入されない。
【0009】
各メモリセルに記憶されたデータの消去は、ブロック毎にほぼ同時に行われる。すなわち、例えばメモリセルがn型基板に設けられたp型ウエル内に形成された場合、消去するブロックの全ての制御ゲート、選択ゲートを0Vとし、p型ウエル及びn型基板に昇圧された電圧VppE (20V程度)を印加する。このため、浮遊ゲートの電子はウエルに放出され、メモリセルの閾値電圧は負方向に移動する。この時、消去を行わないブロックの制御ゲート、選択ゲートにはVppE を印加する。
【0010】
データの読み出し動作において、先ず、ビット線をプリチャージした後、フローティングとする。この状態において、選択されたメモリセルの制御ゲートを0V、それ以外のメモリセルの制御ゲート、選択ゲートをそれぞれ例えば4.5V、ソース線を0Vとし、選択されたメモリセルに電流が流れるか否かをビット線の電位の変化として検出する。すなわち、メモリセルにデータ “0”(メモリセルの閾値Vth>0)が書込まれている場合、メモリセルはオフしているため、ビット線はプリチャージ電位を保つ。一方、データ“1”(メモリセルの閾値Vth<0)が書込まれている場合、メモリセルはオンするためビット線はプリチャージ電位からΔVだけ下がる。これらビット線電位の変化をセンスアンプにより検出することによって、メモリセルのデータが読み出される。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、従来の書き込み方法において、“1”書き込み時に制御ゲートとチャネルとの容量結合でチャネルの電位を中間電位にする。しかし、例えばメモリセルの拡散層(図27のn+ の領域)の容量が大きい場合、例えば制御ゲートに電圧10Vを印加してもチャネルは3V程度しか上昇しない。この結果、選択された制御ゲートに書き込み用の高電圧が供給された場合、この制御ゲートに接続された“1”書き込みするメモリセルのチャネルと制御ゲート間の電位差が大きくなり、“1”書き込みするメモリセルに誤書き込みが生じるという問題がある。そこで、非選択制御ゲートに印加する電圧を10V以上に高くすることが考えられる。しかし、非選択制御ゲートに印加する電圧を単に高くした場合、非選択制御ゲートに接続され、チャネルの電位が0Vであるメモリセルの信頼性に悪影響を与える。このため、非選択制御ゲートの電位を上げることはできない。
【0012】
この発明は、上記課題を解決するものであり、その目的とするところは、メモリセルのチャネルがフローティング状態となる前の予備充電電位を高くすることにより、ワード線との容量結合後の書き込み禁止電圧を十分高めることが容易で、誤書き込みマージンを広げることができ、信頼性を向上し得る不揮発性半導体記憶装置を提供しようとするものである。
【0013】
【課題を解決するための手段】
この発明は、上記課題を解決するため、少なくとも1つの不揮発性メモリセルを含むメモリセル部と、前記メモリセル部の一端側に書き込み非選択電位を供給し、この電位を前記メモリセル部に供給した後、前記メモリセル部の読み出しデータや書き込みデータを一時記憶するデータ回路が接続される他端側から書き込みデータを供給し、前記メモリセル部の選択された不揮発性メモリセルに所望の書き込み状態を設定する制御回路とを具備している。
【0014】
また、この発明は、少なくとも1つの不揮発性メモリセルを含むメモリセル部と、前記メモリセル部の一端に接続され、前記メモリセル部の読み出しデータや書き込みデータを一時記憶するデータ回路が接続された第1の共通信号線と、前記メモリセル部の他端に接続された第2の共通信号線と、第2の共通信号線に接続された第1の電圧供給回路と、前記第1の電圧供給回路から前記第2の共通信号線を介して書き込み非選択電位を前記メモリセル部に供給することにより前記メモリセル部を書き込み非選択状態に設定した後に、前記第1の共通信号線から前記メモリセル部に対し所定の電圧を供給して、前記メモリセル部に所望の書き込み状態を設定する制御回路とを具備している。
【0015】
さらに、この発明は、少なくとも1つの不揮発性メモリセルを含むメモリセル部と、前記メモリセル部の一端に接続され、前記メモリセル部の読み出しデータや書き込みデータを一時記憶するデータ回路が接続された第1の共通信号線と、前記メモリセル部の他端に接続された第2の共通信号線と、前記第1の共通信号線と前記メモリセル部の間に配設された第1の選択ゲートと、前記第2の共通信号線と前記メモリセル部の間に配設された第2の選択ゲートと、前記第2の共通信号線に接続された第1の電圧供給回路と、前記第1の選択ゲートをオフ状態、前記第2の選択ゲートをオン状態として前記第1の電圧供給回路から前記第2の共通信号線を介して書き込み非選択電位を前記メモリセル部に供給することにより前記メモリセル部を書き込み非選択状態に設定した後に前記第2の選択ゲートをオフ状態とし、前記第1の共通信号線に供給される書き込みデータに基づき、前記メモリセル部に所望の書き込み状態を設定する制御回路とを具備している。
【0016】
前記制御回路は、データ書き込み時に前記書き込み非選択電位を前記メモリセル部に供給する際、前記第2の選択ゲートに対し、電源電圧より高い電圧を供給する。
【0017】
前記制御回路は、データ書き込み時に前記書き込み非選択電位を前記メモリセル部に供給する際、前記第2の選択ゲートに対し、前記書き込み非選択電位より少なくとも前記第2の選択ゲートの閾値電圧分高い電圧を供給する。
【0018】
前記制御回路は、データ書き込み時に前記書き込み非選択電位を前記メモリセル部に供給する際、前記不揮発性メモリセルの制御ゲートに対し、電源電圧より高い電圧を供給する。
【0019】
前記制御回路は、データ書き込み時に前記書き込み非選択電位を前記メモリセル部に供給する際、前記不揮発性メモリセルの制御ゲートに対し、前記書き込み非選択電位より少なくとも前記不揮発性メモリセルの閾値電圧分高い電圧を供給する。
【0020】
前記制御回路は、データ書き込み時に、前記第1の電圧供給回路から書き込み非選択電位を前記第2の共通信号線及び前記第2の選択ゲートに供給し、次いで第2の電圧供給回路より前記不揮発性メモリセルの制御ゲートに、前記不揮発性メモリセルのチャネルと前記制御ゲートとの容量結合により昇圧された書き込み禁止電圧を生成するための電圧を供給し、この後前記第2の選択ゲートをオフさせる電位として、前記第1の選択ゲートに第1の選択ゲート電圧を供給する。
【0021】
前記制御回路は、データ書き込み時に、前記第1の電圧供給回路から書き込み非選択電位を前記第2の共通信号線及び前記第2の選択ゲートに供給し、次いで第2の電圧供給回路より前記不揮発性メモリセルの制御ゲートに、前記不揮発性メモリセルのチャネルと前記制御ゲートとの容量結合により昇圧された書き込み禁止電圧を生成するための電圧を供給し、この後前記第2の選択ゲートをオフさせる電位として、前記第1の選択ゲートを第1に選択ゲート電圧とし、さらに、前記第2の共通信号線を前記書き込み非選択電位から電源電圧に下げる。
【0022】
前記制御回路は、データ書き込み時に、前記第1の電圧供給回路から書き込み非選択電位を前記第2の共通信号線及び前記第2の選択ゲートに供給するとともに、第2の電圧供給回路より前記不揮発性メモリセルの制御ゲートに前記書き込み非選択電位を供給し、次いで前記第2の電圧供給回路より前記不揮発性メモリの制御ゲートに前記不揮発性メモリセルのチャネルと前記制御ゲートとの容量結合により昇圧された書き込み禁止電圧を生成するための電圧を供給し、この後前記第2の選択ゲートをオフさせる電位として、前記第1の選択ゲートに第1の選択ゲート電圧を供給する。
【0023】
また、この発明は、少なくとも1つの不揮発性メモリセルを含むメモリセル部と、前記メモリセル部の一端に接続された第1の共通信号線と、前記メモリセル部の他端に接続された第2の共通信号線と、前記メモリセル部の一端を前記第1の共通信号線に接続する第1の選択ゲートと、前記メモリセル部の他端を前記第2の共通信号線に接続する第2の選択ゲートと、前記第2の共通信号線に接続され、書き込み非選択電位を前記第2の共通信号線に供給する第1の電圧供給回路と、前記第1、第2の選択ゲート、及び前記不揮発性メモリセルの制御ゲートに所定の電圧を供給する第2の電圧供給回路と、データ書き込み時に、前記第2の電圧供給回路より前記第1の選択ゲートに対して前記第1の選択ゲートをオフさせる電位を供給し、前記不揮発性メモリセルの制御ゲートに対し前記書き込み非選択電位より少なくとも前記不揮発性メモリセルの閾値電圧分高い電圧を供給し、前記第2の選択ゲートに対し前記書き込み非選択電位より少なくとも前記第2の選択ゲートの閾値電圧分高い電圧を供給して、前記メモリセル部に前記書き込み非選択電位を供給し、前記第2の選択ゲートに対して前記第2の選択ゲートをオフさせる電位を供給することにより前記メモリセル部を書き込み非選択状態に設定した後、前記第1の選択ゲートに対し第1の選択ゲート電圧を供給して、前記メモリセル部に所望の書き込み状態を設定する制御回路とを具備している。
【0024】
さらに、この発明は、少なくとも1つの不揮発性メモリセルを含むメモリセル部と、前記メモリセル部の一端に接続され、前記メモリセル部の読み出しデータや書き込みデータを一時記憶するデータ回路が接続された第1の共通信号線と、前記メモリセル部の他端に接続された第2の共通信号線と、前記メモリセル部の一端を前記第1の共通信号線に接続する第1の選択ゲートと、前記メモリセル部の他端を前記第2の共通信号線に接続する第2の選択ゲートと、前記第2の共通信号線及び第2の選択ゲートに接続され、書き込み非選択電位を前記第2の共通信号線及び第2の選択ゲートに供給する第1の電圧供給回路と、前記第1の選択ゲート、及び前記不揮発性メモリセルの制御ゲートに所定の電圧を供給する第2の電圧供給回路と、データ書き込み時に、前記第2の電圧供給回路より前記第1の選択ゲート及び前記不揮発性メモリセルの制御ゲートに対して前記第1の選択ゲートをオフさせる電位を供給し、前記第2の選択ゲート及び前記第2の共通信号線に対し前記書き込み非選択電位を供給して、前記メモリセル部を書き込み非選択状態に設定した後、前記第2の選択ゲートに対して前記第2の選択ゲートをオフさせる電位を供給し、さらに、前記第1の選択ゲートに対し第1の選択ゲート電圧を供給して、前記メモリセル部に所望の書き込み状態を設定する制御回路とを具備している。
【0025】
前記制御回路は、前記第1の電圧供給回路から前記第2の選択ゲート及び第2の共通信号線に前記書き込み非選択電位を供給した後、前記第2の電圧供給回路から前記不揮発性メモリセルの制御ゲートに対し、前記不揮発性メモリセルのチヤネルと前記制御ゲートとの容量結合により昇圧された書き込み禁止電圧を生成するための電圧を供給する。
【0026】
前記制御回路は、前記第1の電圧供給回路から前記メモリセル部に前記書き込み非選択電位を供給した後、前記第2の電圧供給回路から前記不揮発性メモリセルの制御ゲートに対し、前記不揮発性メモリセルのチヤネルと前記制御ゲートとの容量結合により昇圧された書き込み禁止電圧を生成するための電圧を供給する。
【0027】
前記第2の電圧供給回路は、前記不揮発性メモリセルの制御ゲートに対し前記書き込み禁止電圧を生成するための電圧を供給した後に、前記第1の選択ゲートに対し前記第1の選択ゲート電圧を供給する。
【0028】
前記第2の電圧供給回路は、前記第1の選択ゲートに対し第1の選択ゲート電圧を供給した後に、前記不揮発性メモリセルの制御ゲートに対し前記書き込み禁止電圧を生成するための電圧を供給する。
【0029】
前記メモリセル部の書き込み状態は、前記第1の共通信号線に供給される書き込みデータに応じて設定される。
【0030】
前記第1の共通信号線に第1の書き込みデータが供給された場合に前記メモリセル部に設定された書き込み非選択状態は書き込み選択状態にされ、前記第1の共通信号線に前記第1の書き込みデータと異なる論理レベルの第2の書き込みデータが供給された場合には、前記メモリセル部に設定された書き込み非選択状態が保持される。
【0031】
前記第1の選択ゲートは、前記第1の共通信号線に第1の書き込みデータが供給された場合にオン状態となり、オン状態の前記第1の選択ゲートを介した前記メモリセル部から前記第1の共通信号線への放電により前記メモリセル部に設定された書き込み非選択状態が書き込み選択状態になり、前記第1の共通信号線に前記第1の書き込みデータと異なる論理レベルの第2の書き込みデータが供給された場合には、前記第1の選択ゲートがオフ状態となり、前記メモリセル部に設定された書き込み非選択状態が保持される。
【0032】
前記書き込み非選択電位は、電源電圧以上の電圧である。
【0033】
前記第1の共通信号線には、前記不揮発性メモリセルヘの書き込みデータをラッチするビット線制御回路が接続される。
【0034】
前記第1の共通信号線はビット線であり、前記第2の共通信号線はソース線であり、前記ソース線がワード線に共通接続される複数のメモリセル部で共有される。
【0035】
前記メモリセル部は直列接続された複数の不揮発性メモリセルを含み、前記第1の共通信号線側の不揮発性メモリセルから順次データの書き込みが行われる。
【0036】
前記データの読み出し時に前記不揮発性メモリセルの制御ゲートに供給される読み出し電圧を発生する読み出し電圧発生回路をさらに具備する。
【0037】
前記第1の電圧供給回路は、前記読み出し電圧発生回路から出力された読み出し電圧を、前記第2の共通信号線に転送する。
【0038】
前記読み出し電圧発生回路は、昇圧回路と、前記昇圧回路の出力電圧を所定の電圧に制限するリミット回路を含み、前記リミット回路は、データ書き込み時と読み出し時とで、前記出力電圧を異なる電位に設定する。
【0039】
前記メモリセル部が前記書き込み非選択状態から放電された書き込み選択状態、及び前記メモリセル部に前記書き込み非選択状態が保持された状態が、それぞれ第1、第2の書き込み状態を形成する。
【0040】
前記第1の選択ゲート電圧は電源電圧である。
【0041】
前記第2の書き込みデータとしては電源電圧より低い電圧が供給される。
【0042】
前記他端部に電源電圧よりも低い書き込みデータを供給し、前記メモリセル部の選択された不揮発性メモリセルに所望の書き込み状態を設定する制御回路とを具備している。
【0043】
前記第1の共通信号線に接地電位が供給された場合には、前記メモリセル部は書き込み選択状態に設定され、前記第1の共通信号線に接地電位よりも高く電源電圧よりも低い電圧が供給された場合には、前記メモリセル部は書き込み非選択状態に設定される。
【0044】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
【0045】
図1は、NANDセル型EEPROMの構成を示すブロック図である。メモリセルアレイ1A、1Bには、それぞれ行方向、列方向にNANDセルが配置されている。これらメモリセルアレイ1A、1Bはオープンビット線方式であるため、メモリセルアレイ1A、1Bの相互間にはデータの書き込み、読み出しを行うラッチ手段を兼用するセンスアンプ回路2が配置されている。このセンスアンプ回路2はメモリセルアレイ1A、1Bのビット線に接続されている。カラムデコーダ4はセンスアンプ回路2に接続され、ロウデコーダ3A、3Bは各メモリセルアレイ1A、1Bに接続されている。
【0046】
アドレス信号Addを保持するアドレスバッファ5は前記カラムデコーダ4及び前記ロウデコーダ3A、3Bに接続されている。カラムデコーダ4はアドレスバッファ5から供給されるアドレス信号に従ってビット線を選択し、ロウデコーダ3A、3Bはアドレスバッファ5から供給されるアドレス信号に従ってワード線や選択ゲートをそれぞれ選択する。
【0047】
前記センスアンプ回路2には入出力データを増幅するためのI/Oセンスアンプ6が接続され、このI/Oセンスアンプ6にはチップ外部とデータの入出力を行う入出力バッファ7が接続されている。さらに、前記メモリセルアレイ1A、1Bには基板電位を制御する基板電位制御回路8、及び後述するソース線に電位を供給するソース線バイアス回路9が接続されている。このソース線バイアス回路9はデータの読み出し時、ベリファイ読み出し時にソース線を接地し、書き込み時にソース線を書き込み非選択電位に設定する。
【0048】
前記ロウデコーダ3A、3Bには、ワード線に電位を供給するワード線バイアス回路10、及び選択ゲートに電位を供給する選択ゲートバイアス回路11が接続されている。これらワード線バイアス回路10、選択ゲートバイアス回路11、及び前記ソース線バイアス回路9には読み出し昇圧回路12が接続されている。この読み出し昇圧回路12は、データの読み出し時、ベリファイ読み出し時に選択ゲート、制御ゲートに印加する電源電圧Vccより高い昇圧電圧、例えば4.5V、6Vを発生する。すなわち、データの読み出し時、ベリファイ読み出し時には、昇圧電圧はワード線バイアス回路10、選択ゲートバイアス回路11、換言すれば、第1の電圧供給回路に供給される。一方、書き込み時には、読み出し昇圧回路12の出力としての昇圧電位は第2の電圧供給回路としてのソース線バイアス回路9に供給される。制御回路13は、前記ソース線バイアス回路9、選択ゲートバイアス回路11、読み出し昇圧回路12、基板電圧制御回路8等を制御し、データの書き込み、読み出し、ベリファイ、消去動作を実行する。
【0049】
図2は前記メモリセルアレイ1Aの一例を示している。メモリセルアレイ1Aと1Bはほぼ同様の構成である。例えば8個のメモリセルと第1、第2の選択ゲートからなる複数のNANDセル21は、行方向、列方向にマトリクス状に配設されている。各NANDセルの第1の選択ゲートトランジスタQ21は、それぞれビット線BL0A、BL1A、BL2A、BL3A、BL4A…BL63Aに接続されている。各NANDセルの第2の選択ゲートトランジスタQ22は、それぞれ行方向に配置されたソース線SLに接続され、このソース線SLは列方向に配置されたソースバイアス線SBLに接続されている。ソース線SLは例えば64本のビット線毎に1箇所、コンタクトを介してアルミニウムや、ポリシリコン等からなるソースバイアス線SBLに接続される。このソースバイアス線SBLは前記ソース線バイアス回路9に接続されている。
【0050】
1ページは例えば256バイト(256×8)個のメモリセルから構成される。1ページ分のメモリセルはほぼ同時に書き込みが行われる。1ブロックは例えば2048バイト(2048×8)個のメモリセルから構成される。1ブロック分のメモリセルはほぼ同時に消去される。
【0051】
図3は、図1に示すセンスアンプ回路2を具体的に示すものであり、例えばメモリセルアレイ1Aのビット線BL1Aと、メモリセルアレイ1Bのビット線BL1Bが接続されるセンスアンプSA1、及びその周辺回路を示している。このセンスアンプSA1はデータラッチ回路を兼用している。このセンスアンプSA1はセンスアンプ活性化信号φN 、φP により活性化される。このセンスアンプSA1のノードN1 とデータ線/IOの相互間にはトランジスタQ31が接続され、ノードN2 とデータ線IOの相互間にはトランジスタQ32が接続されている。これらトランジスタQ31、Q32は前記カラムデコーダ4から供給されるカラム選択信号CSL1 によって制御される。
【0052】
前記センスアンプSA1のノードN1 とノードN2 との間にはイコライズ信号φE により制御されるトランジスタQ33、Q34が接続されている。これらトランジスタQ33、Q34の相互接続点には電源Vcc/2が供給されている。イコライズ信号φE によりトランジスタQ33、Q34が導通されると、ノードN1 、N2 は電源Vcc/2にイコライズされる。
【0053】
ビット線BL1AとセンスアンプSA1のノードN1 との間にはビット線選択信号SS1 により制御されるトランジスタQ35と、センスアンプ選択信号SA により制御されるトランジスタQ36が接続されている。また、ビット線BL1BとセンスアンプSA1のノードN2 との間にはビット線選択信号SS1 により制御されるトランジスタQ37と、センスアンプ選択信号SB により制御されるトランジスタQ38が接続されている。前記トランジスタQ35とQ36の相互接続点と電源端子31との間にはプリチャージ信号PRA1により制御されるトランジスタQ39が接続されている。電源端子31にはプリチャージ電圧VA1が供給されている。トランジスタQ39はプリチャージ信号PRA1に応じてビット線BL1Aをプリチャージする。前記トランジスタQ37とQ38の相互接続点と電源端子32との間にはプリチャージ信号PRB1により制御されるトランジスタQ40が接続されている。電源端子32にはプリチャージ電圧VB1が供給されている。トランジスタQ40はプリチャージ信号PRB1に応じてビット線BL1Bをプリチャージする。
【0054】
前記トランジスタQ35とQ36の相互接続点と電源端子33との間にはトランジスタQ41、Q42が接続されている。電源端子33にはベリファイ電圧VrAが供給されている。トランジスタQ41のゲートは前記ノードN1 に接続され、トランジスタQ42のゲートにはベリファイ信号VRFYA が供給されている。また、前記トランジスタQ37とQ38の相互接続点と電源端子34との間にはトランジスタQ43、Q44が接続されている。電源端子34にはベリファイ電圧VrBが供給されている。トランジスタQ43のゲートは前記ノードN2 に接続され、トランジスタQ44のゲートにはベリファイ信号VRFYB が供給されている。
【0055】
図4は、上記読み出し昇圧回路12の一例を示している。電源電圧Vccが入力される端子51と出力ノード52の間には、ダイオード接続されたトランジスタQ51、Q52〜Q55が接続されている。これらトランジスタQ51〜Q55の相互接続点には、それぞれキャパシタC51〜C54の一端が接続されている。これらキャパシタC51〜C54の他端には、パルス発生回路53により発生される例えば図5に示すような、駆動パルス信号φ1 、φ2 が供給される。また、トランジスタQ51のゲートには、制御信号φrdが供給されている。読み出し昇圧回路12を活性化する場合、制御信号φrdがハイレベルとされ、この状態において、キャパシタC51〜C54に駆動パルス信号φ1 、φ2 を供給することにより、出力ノード52から昇圧電圧Vout が出力される。読み出し昇圧回路12を非活性状態とする場合、制御信号φrdがローレベルとされる。さらに、前記出力ノード52と接地間には、昇圧電圧Vout を所定の電圧にリミットするリミット回路54が接続されている。
【0056】
図6は、ソース線バイアス回路9の一例を示している。スイッチ回路61は、データの書き込み時に、前記読み出し昇圧回路12から出力され、ソース線に供給する電位、すなわち書き込み非選択電位としての昇圧電圧Vout をソース線に供給する回路である。このスイッチ回路61はNチャネルトランジスタQ61、Q62、Q63、Q64、及びキャパシタC61によって構成されている。トランジスタQ61の電流通路の一端には電圧Vatが供給され、ゲートには電源電圧Vccが供給されている。このトランジスタQ61の電流通路の他端はトランジスタQ62の電流通路の一端、トランジスタQ63のゲート、トランジスタQ64のゲートに接続されている。前記トランジスタQ62の電流通路の他端は、トランジスタQ62のゲート、前記トランジスタQ63の電流通路の一端、及びキャパシタC61の一方電極に接続されている。このキャパシタC61の他方電極には駆動パルス信号φ3 が供給されている。
【0057】
前記トランジスタQ63の電流通路の他端は前記トランジスタQ64の電流通路の一端に接続されている。この電流通路の一端には前記読み出し昇圧回路12から出力される昇圧電圧Vout が供給される。前記トランジスタQ64の電流通路の他端はトランジスタQ65を介して接地されるとともに、トランジスタQ66を介して前記ソース線SLに接続される。前記トランジスタQ65のゲートには電圧Vssl が供給され、前記トランジスタQ66のゲートには電圧Vabが供給されている。トランジスタQ66は閾値電圧が−1Vのデプレションタイプトランジスタであり、20Vの電圧に耐え得る高耐圧トランジスタである。このトランジスタQ66は消去時にオフ状態とされ、ソース線に印加される消去電圧20VがトランジスタQ64、Q65に印加されないようにする。読み出し、あるいはベリファイ読み出し時に電圧Vssl はハイレベルとされ、前記トランジスタQ65はソース線を接地する。
【0058】
前記スイッチ回路61は、書き込み時に信号Vatがハイレベルとなり、図7に示す駆動パルス信号φ3 がキャパシタC61に供給される。読み出し昇圧回路12から出力される昇圧電圧Vout が書き込み非選択電位5Vである場合、トランジスタQ64のゲートとしてのノードNgtは6.5Vに昇圧される。このため、トランジスタQ64は、昇圧電圧Vout (5V)をソース線SLに転送できる。尚、高速にソース線を充電するためにノードNgtをより高電圧にする観点からトランジスタQ62、Q63には閾値電圧の低いトランジスタを用いることが望ましい。また、読み出し、ベリファイ読み出し時において、信号Vatは0Vとなり、トランジスタQ64はオフ状態となる。
【0059】
一方、前記トランジスタQ66のゲートに供給される電圧Vabを6V程度に昇圧してもよい。このようにした場合、書き込み時に昇圧電圧Vout をトランジスタQ66の閾値分低下することなく高速にソース線に供給できる。
【0060】
図8は、前記リミット回路54を示している。図4に示す読み出し昇圧回路12の出力ノード52と接地間には、抵抗R1 、R2 、R3 、トランジスタQ81が直列接続されている。差動増幅器81を構成するPチャネルトランジスタQ82、Q83の電流通路の一端は電源端子82に接続されている。トランジスタQ82の電流通路の他端はトランジスタQ82、Q83のゲートに接続されるとともに、NチャネルトランジスタQ84の電流通路の一端に接続されている。このトランジスタQ84のゲートには基準電位Vbgr が供給されている。この基準電位Vbgr は、例えば周知のバンド・ギャップ・リファレンス(Band−gap reference)回路からなる図示せぬ定電圧発生回路によって生成される例えば1.5Vの電圧である。
【0061】
また、前記トランジスタQ83の電流通路の他端は、NチャネルトランジスタQ85の電流通路の一端に接続されている。このトランジスタQ85のゲートは前記抵抗R1 とR2 の相互接続点に接続されている。前記トランジスタQ84、Q85の電流通路の他端は、NチャネルトランジスタQ86を介して接地されている。このトランジスタQ86と前記トランジスタQ81のゲートには信号Vcml が供給されている。
【0062】
さらに、前記抵抗R3 には、NチャネルトランジスタQ87が並列接続されている。このトランジスタQ87のゲートには信号Vpgが供給されている。さらに、前記トランジスタQ83とトランジスタQ85の相互接続点から前記パルス発生回路53の動作を制御するための信号Vact が出力される。この信号Vact は前記読み出し昇圧回路12の駆動パルス信号φ1 、φ2 を発生するパルス発生回路53に供給される。
【0063】
上記構成において、信号Vcml は電圧リミット回路を非活性化する場合、0Vに設定され、活性化する場合、電源電圧Vccに設定される。電圧リミット回路を活性化した状態において、書き込み時に信号Vpgをハイレベルに設定すると、読み出し昇圧回路12から出力される昇圧電圧Vout は(1)式で示すようになる。
【0064】
Vout =Vbgr ×(R1 +R2 )/R2 …(1)
また、昇圧電圧Vout が電源電圧Vccより小さい場合、差動増幅器81の出力信号Vact はハイレベルとなる。このため、パルス発生回路53から、図5に示す駆動パルス信号φ1 、φ2 が出力され、読み出し昇圧回路12から出力される昇圧電圧Vout が上昇される。
【0065】
一方、昇圧電圧Vout が電源電圧Vccより大きい場合、差動増幅器81の出力信号Vact はローレベルとなる。このため、パルス発生回路53の駆動パルス信号φ1 、φ2 はそれぞれハイレベル、ローレベルに固定される。したがって、読み出し昇圧回路12は動作が停止される。
【0066】
さらに、読み出し時に昇圧電圧Vout を4.5Vの電圧とする場合、信号Vpgがローレベルに設定される。この場合、読み出し昇圧回路12から出力される昇圧電圧Vout は(2)式で示すようになる。
【0067】
Vout =Vbgr ×(R1 +R2 +R3 )/(R2 +R3 ) …(2)
上記構成において、書き込み、及びベリファイ読み出し動作について説明する。
【0068】
先ず、書き込み動作について説明する。
【0069】
図2に示すメモリセルMC1に書き込みを行う場合の動作について、図9を参照して説明する。
【0070】
図2に示すメモリセルMC1に書き込むデータは、図3に示すセンスアンプ回路SA1 にラッチされる。“0”書き込みの場合、センスアンプ回路SA1 のノードN1 は0V、ノードN2 は3Vとなる。また、“1”書き込みの場合、ノードN1 は3V、ノードN2 は0Vとなる。
【0071】
書き込み動作において、先ず、時刻t1にソース線SL(ソースバイアス線SBL)を電源電圧(Vcc=例えば3V)よりも高く消去電圧より低い書き込み非選択電位としての電圧Vsl(例えば4.5V)とし、第2の選択ゲート線SG2を電圧Vsl、第1の選択ゲート線SG1を接地電位(Vss=0V)とする。電圧Vslは前述した読み出し昇圧回路12から供給される。その結果、ソース線側の第2の選択ゲート線SG2はオフし、フローティングとなる。この時、制御ゲート線CG1〜CG8は電源電圧Vcc(3V)とされ、時刻t2に10Vとされる。この結果、各メモリセルのチャネルの電位はVsl−Vthsg(Vthsgはソース線に接続される選択ゲートの基板バイアス効果も含めた閾値電圧)から制御ゲートとの間の容量結合により上昇する。従来例ではメモリセルのチャネルの電位はVcc−Vthsgから制御ゲートとの間の容量結合により上昇していた。しかし、本発明ではVcc−Vthsgよりも高いVsl−Vthsgから上昇する。このため、メモリセルのチャネルの電位は従来例よりも高い例えば8Vまで上昇する。
【0072】
また、この時、第2の選択ゲート線SG2に電圧Vslよりも高い電圧、例えばVsl+Vthsg、あるいはVsl+2Vthsgを印加し、メモリセルのチャネルの電位をVslとしても良い。さらに、第2の選択ゲート線SG2を電圧Vslよりも高い電圧としてチャネルの電位を電圧Vslとし、この後、第2の選択ゲート線SG2を電圧Vslとすることにより第2の選択ゲート線SG2をオフ状態とし、その後に制御ゲート線CG1〜CG8の電圧を10Vとしても良い。
【0073】
ビット線は、時刻t2以前に、センスアンプ回路SA1にラッチされたデータに応じて、電源電圧Vccか接地電位Vssとされている。この状態において、時刻t3において、第2の選択ゲート線SG2が接地電位Vssとされ、時刻t4において、第1の選択ゲート線SG1が電源電圧Vccとされる。“0”書き込みの場合、第1の選択ゲートトランジスタQ21が導通するため、各メモリセルの充電電圧は第1の選択ゲートトランジスタQ21を介してビット線に放電される。また、“1”書き込みの場合、第1の選択ゲートトランジスタQ21は非導通であるため、各メモリセルのチャネルの電圧は8Vに保持される。
【0074】
この後、時刻t5において、選択された制御ゲート線CG1に書き込み用の高電圧20Vが供給される。この場合、“0”書き込みのメモリセルはチャネルと制御ゲートの電位差がほぼ20Vとなるため、浮遊ゲートに電子が注入される。一方、“1”書き込みのメモリセルはチャネルが8Vに充電されているため、チャネルと制御ゲートの電位差は小さく、浮遊ゲートに電子が注入されることはない。
【0075】
書き込み終了後、制御ゲート、選択ゲート、ビット線が順次放電され、書き込み動作が終了する。
【0076】
上記実施例によれば、データの書き込み時にソース線SLに電源電圧より高く書き込み電圧より低い電圧を印加し、メモリセルのチャネルがフローティング状態となる前の予備充電電位を電源電圧より高いレベルに設定している。このため、メモリセルのチャネルは制御ゲートの電位に応じて、さらに高い電位の書込み禁止電圧にセルフブーストされる。したがって、選択された制御ゲートに書き込み用の高電圧が印加された場合、“1”書き込みされるメモリセルの誤書き込みを確実に防止できる。
【0077】
ところで、メモリセルのチャネルに電源電圧Vccよりも高い電位を供給する場合、この高電位をビット線側から印加することも考えられる。この場合、ビット線に接続され、センスアンプ等の回路を構成するトランジスタに高電圧が印加される。このため、トランジスタの信頼性が悪化するという問題がある。そこで、これらトランジスタを高耐圧のトランジスタに代えることが考えられる。しかし、高耐圧トランジスタはサイズが大きいため、センスアンプの面積が大きくなる。センスアンプは1チップ内に例えば4000個設けられるため、センスアンプの面積増加はチップサイズの大幅な増大を招く。
【0078】
これに対して、上記実施例では、ソース線から書き込み非選択電位を供給している。ソース線に関する回路は複数のNANDセルに対して共用されるため、センスアンプに比べて素子数が大幅に少ない。すなわち、周辺回路部に1個から数個の回路を設けるだけでよい。したがって、ビット線側から高電位を供給する場合に比べて、チップサイズの増大を防止できる。尚、高電圧の印加によるストレスの低減を考慮すると、この場合でもソース線に供給される電圧を消去電圧(例えば20V)よりも低く設定することが望まれる。
【0079】
しかも、この実施例の場合、前記電圧Vslは、前記読み出し用昇圧回路12が出力した昇圧電圧Vout を転送することにより供給している。読み出し用昇圧回路12は、通常読み出し時に選択ゲート及び制御ゲートに例えば電圧4.5Vを印加するために用いられ、書き込み時には動作していない。したがって、この読み出し用昇圧回路12を書き込み時に動作させ、昇圧電圧Vout を発生することにより、チップ面積の増大を防止できる。但し、前記昇圧電圧Vout を生成する回路は、読み出し昇圧回路に限らず、新たな昇圧回路を設けてもよいし、消去電圧発生回路を用いてもよい。
【0080】
また、NANDセル型EEPROMでは消去時にメモリセルのpウエル、及びメモリセルのソース線に20Vを印加するように、ソース線には高電圧の供給回路が設けられる場合がある。この時は、図6において、ソース線SLに20Vが印加されることになるため、従来もソース線側には高耐圧トランジスタQ66が設けられている。したがって、本発明のようにソース線から電圧Vsl(例えば4.5V)を与える場合、ソース線に接続された前記供給回路を用いても新たに設ける回路素子数は少なくてよい。このため、ビット線側から高電位を与える場合のように面積が増大しない。
【0081】
上記書き込み動作のタイミングは大いに任意性を有している。すなわち、ソース線に電圧Vslを印加するタイミングや、選択ゲートに電圧を印加するタイミングは適宜変えることが可能である。
【0082】
すなわち、図10に示すように、時刻t1において、ソース線SLと、制御ゲート線CG1〜CG8を同時に電圧Vsl(4.5V)としても良い。この場合、ソース線の電位をメモリセルのチャネルに十分に伝達することが可能であり、制御ゲート(ワード線)を高速に昇圧できる。
【0083】
また、図11に示すように、例えば書き込みデータをロードしている間に、先ず、ソース線SLを電圧Vsl(4.5V)とし、この後、制御ゲート線CG1〜CG8、第2の選択ゲート線SG2を電圧Vslとしても良い。この場合、ソース線を先に充電しているため、高速な書き込みが可能となる。
【0084】
図12は、別の動作タイミングを示している。
【0085】
書き込み動作が開始されると、先ず時刻t1にソース線SLを電源電圧Vccよりも高いVsl(例えば4.5V)、第2の選択ゲート線SG2を電圧Vas、第1の選択ゲート線SG1を接地電位Vssとする。電圧Vasはソース線の電圧Vslを選択ゲートの閾値電圧分だけ低下することなく、メモリセルのチャネルに転送できる電圧であり、例えばVsl+Vthsgとすればよい。一方、制御ゲート線CG1〜CG8には電圧Vasc を印加する。電圧Vasc はソース線の電位Vslをメモリセルの閾値電圧分だけ低下することなく、チャネルに転送できる電圧であり、例えばVsl+Vthcell(Vthcellは“0”状態(書き込み状態)のメモリセルの基板バイアス効果も含めた閾値電圧)とすればよい。回路を簡易にするために、電圧Vasと電圧Vasc を同電位としても良い。
【0086】
メモリセルのチャネルを電圧Vslに充電した後、時刻t1A’において、第2の選択ゲート線SG2を接地電位とし、この後、時刻t1B’で第1の選択ゲート線SG1を電源電圧Vcc(例えば3V)とする。続いて、時刻t2において、制御ゲート線CG1〜CG8を電圧10Vとする。この結果、メモリセルのチャネルの電位はVslから制御ゲートとの間の容量結合により上昇する。
【0087】
この実施例によれば、メモリセルのチャネルの電位はVslから制御ゲートとの間の容量結合により上昇する。このため、初期電圧が高く設定されているため、チャネルの電位は従来より一層高く上昇する。したがって、誤書き込みを確実に防止できる。その後、時刻t5において、選択された制御ゲート線CG1が20Vとなり、選択されたメモリセルにデータが書込まれる。
【0088】
書き込み終了後、制御ゲート、選択ゲート、ビット線が順次放電されて書き込み動作は終了する。
【0089】
図13は、さらに他の例を示している。時刻t1に選択ゲートSG2を電圧Vas(例えばVsl+VthsgあるいはVsl+2Vthsg)に設定し、メモリセルのチャネルをソース線の電圧Vslに設定した後、時刻t1A’に選択ゲートSG2を電圧Vslに設定する。これにより選択ゲートSG2はオフとなる。時刻t2に制御ゲートCG1,CG2,…CG8が10Vとなり、チャネルが8V程度に昇圧される。その後、時刻t2Aに選択ゲートSG2が0V、時刻t2Bに選択ゲートSG1が電源電圧Vccになることにより、ビット線の書き込みデータがメモリセルに転送される。つまり、“1”書き込み(書き込み非選択)の場合には選択ゲートSG1がオフするため、メモりセルのチャネルは8Vを保持する。また、“0”書き込みの場合には、選択ゲーとSG1がオンするため、メモリセルのチャネルは接地される。この例によっても図12を用いて説明した場合と同様に誤書き込みを確実に防止可能な効果を得ることができる。
【0090】
或いは、図14に示すようなタイミングでもよい。すなわち、図14に示すタイミングの場合、時刻t5に選択した制御ゲートCG1が20Vに昇圧された後、時刻t5Aで選択ゲートSG2が0Vに接地される。この例によっても図12を用いて説明した場合と同様に誤書き込みを確実に防止可能な効果を得ることができる。
【0091】
その後、書き込みが十分に行われたかを調べるベリファイリードが行われる。図15はベリファイ読み出しのタイミングを示している。
【0092】
図15において、先ずプリチャージ信号PRA1、PRB1が接地電位Vssから電源電位Vccとなり(時刻tv1)、ビット線BL1AがVA1(例えば1.7V)にビット線BL1B(ダミービット線)がVB1(例えば1.5V)にプリチャージされる(時刻tv2)。
【0093】
プリチャージが終了すると、プリチャージ信号PRA1、PRB1が電源電圧Vssとなり、ビット線BL1Aはフローティング状態となる。この後、ロウデコーダ3Aから選択ゲート、制御ゲートに所定の電圧が印加される(時刻tv3)。すなわち、制御ゲート線CG1に0.5V、制御ゲート線CG2〜CG8に電圧4.5V、第1、第2の選択ゲートSG1、SG2に4.5Vがそれぞれ供給される。これら制御ゲート線、第1、第2の選択ゲートに供給される4.5Vは、前記読み出し昇圧回路12によって電源電圧Vccから昇圧された電圧であり、前記ワード線バイアス回路10を介して制御ゲート、第1、第2の選択ゲートに供給される。メモリセルMC1が十分に“0”書き込みされている場合、メモリセルの閾値電圧は正であるためセル電流は流れない。このため、ビット線BL1Aの電位は1.7Vのままである。また、メモリセルに“1”書き込みされた場合、又は十分に“0”書き込みがなされていない場合、メモリセルにセル電流が流れ、ビット線BL1Aの電位は下がり1.5V以下になる。この間、ビット線BL1Bはプリチャージ電位1.5Vに保たれる。
【0094】
その後、時刻tv4において、ベリファイ信号VRFYA を電源電圧Vccとして“1”書き込みする場合のビット線BL1AをVrA(1.7Vよりも大きい電圧)に充電する。
【0095】
その後、時刻tv5に、センスアンプ活性化信号φP が電源電圧Vcc、センスアンプ活性化信号φN が接地電位となり、センスアンプSA1が不活性化される。この後、時刻tv6に、イコライズ信号φE が電源電圧Vccになると、センスアンプSA1がイコライズされ、ノードN1、N2がVcc/2(例えば1.5V)となる。時刻tv7に、センスアンプ選択信号SA 、SB が電源電圧Vccになり、ビット線とセンスアンプが接続された後、センスアンプ活性化信号φN が電源電圧Vcc、φP が接地電位となり、ビット線BL1Aとダミービット線BL1Bの電位差が増幅され、再書き込みデータがラッチされる(時刻tv8)。つまり“1”書き込みの場合、又は“0”書き込みが十分に行われていれば、センスアンプSA1のノードN1 は電源電圧,ノードN2 が接地電位となり、以降、“0”書き込みは行われない。“0”書き込みが不十分の場合、ノードN1 が接地電位、ノードN2 は電源電圧となり、追加書き込みが行われる。
【0096】
全てのメモリセルに書き込みが十分に行われると、ベリファイ読み出しの結果、ノードN1 は電源電圧Vccとなるため、ノードN1 の電位をモニターすることにより、書き込み終了を検知できる。
【0097】
尚、上記実施例では、オープンビット線方式の実施例について説明したが、この発明をフォールディッドビット線方式のメモリセルアレイあるいはシングルエンド型のメモリセルアレイに適用することも可能である。
【0098】
ところで、従来のNANDセル型EEPROMにおいて、書き込み非選択電位はビット線からメモリセルのチャネルに転送され、書き込み非選択電位が効率よくビット線に転送されるよう、ソース線側に位置するメモリセルから順にデータが書込まれていた。例えば図2に示す制御ゲート線CG1、CG2、…CG7、CG8で選択されるメモリセルにデータを書込む場合、制御ゲート線CG8に接続されたメモリセルに対して先ず書き込みを行い、次に、制御ゲート線CG7,CG6,CG5…CG2、CG1に接続されたメモリセルの順番でデータが書込まれる。
【0099】
これに対して、本発明の場合、書き込み非選択電位Vslはソース線からメモリセルのチャネルに転送される。したがって、ソース線の電位Vslを閾値落ちなくメモリセルのチャネルに転送するためには、ビット線側に位置するメモリセルからデータを書込めばよい。例えば図2に示す制御ゲート線CG1、CG2、…CG7、CG8で選択されるメモリセルにデータを書込む場合、制御ゲート線CG1に接続されたメモリセルに対して先ずデータを書込む。制御ゲート線CG1に接続されたメモリセルにデータを書き込む場合、制御ゲート線CG2、CG3、CG4…CG7、CG8に接続されたメモリセルは消去状態であるため、閾値電圧は負である。したがって、ソース線の電位を転送する時、例えば図12に示す時刻t1からt1A’の間の制御ゲート線CG1,CG2,CG3,CG4…CG7、CG8の電位Vasc (図12参照)を例えばVslとしても、ソース線の電位Vslをメモリセルの閾値分低下することなく、チャネルに転送できる。
【0100】
上記のように、ビット線側のメモリセルから書き込みを行えばソース線の電位の転送時に、制御ゲート線CG1、CG2…CG8の電位Vasc が上記実施例のVsl+Vthcellよりも低めの電圧Vslであっても、チャネルにVslを転送できる。電位Vasc を低くできれば、図12に示す通り、時刻t2以降に上昇する制御ゲートの電圧の値ΔVasc1、ΔVasc2を大きくすることができる。このため、メモリセルのチャネル電位をより上昇させることができ、メモリセルの信頼性を向上できる。制御ゲート線CG1に接続されるメモリセルにデータが書込まれた後、制御ゲート線CG2,CG3,CG4…CG8に接続されるメモリセルの順番にデータが書き込まれる。
【0101】
ソース線の電位Vsl(例えば5V)を選択した制御ゲート線のメモリセルに転送する際の制御ゲート線CG1、CG2…CG8の電位Vasc (図12参照)は、ソース線の電位Vslを閾値分だけ低下することなく転送できる最小の電圧であることが望ましい。電位Vasc が大き過ぎた場合、時刻t2以降に上げる制御ゲート電圧の値ΔVasc1、ΔVasc2が小さくなる。その結果、チャネル電位が低くなり、誤書き込みが生じやすくなる。したがって、ビット線側に位置するメモリセルから書き込む場合、ソース線の電位Vslを転送するときの制御ゲートの電圧Vasc を以下のように設定するのが最適である。
【0102】
例えば図2のメモリセルMC1にデータを書き込む場合、メモリセルMC1、MC2…MC8は全て閾値電圧が負であるため、制御ゲート線CG1、CG2…CG8は電圧Vslとすればよい。あるいは、メモリセルMC1、MC2…MC8は全て閾値電圧がVdcell (例えば−1V)以下であるため、Vsl−|Vdcell |(例えば4V)でもよい。
【0103】
また、メモリセルMC2にデータを書き込む場合、メモリセルMC1のみ閾値電圧が正のことがあるため、制御ゲート線CG1はVsl+Vthcell、制御ゲート線CG2、CG3…CG8は電圧Vsl、又はVsl−|Vdcell |でもよい。ここで、Vthcellは“0”状態のメモリセルの閾値電圧であり、例えば1Vである。このため、制御ゲート線CG1は6Vとすればよい。
【0104】
同様に、メモリセルMC6にデータを書き込む場合、制御ゲート線CG1、CG2、CG3、CG4、CG5はVsl+Vthcell、制御ゲート線CG7、CG8は、電圧Vsl、又はVsl−|Vdcell |とすればよい。
【0105】
メモリセルMC8にデータを書き込む場合、制御ゲート線CG1、CG2…CG7はVsl+Vthcell、制御ゲート線CG8は、電圧Vsl、又はVsl−|Vdcell |とすればよい。
【0106】
一方、いずれのメモリセルにデータを書き込む場合でも、ソース線の電位Vslをチャネルに転送する間は、第1の選択ゲート線SG1は接地電位、第2の選択ゲート線SG2はVasとすればよい。ここで、VasはVslを閾値分だけ低下することなく転送できる電圧であり、例えばVsl+Vthsg、あるいはVsl+2Vthsgでよい。
【0107】
図16乃至図18は、それぞれデータの書き込み時における制御ゲート、選択ゲートの動作タイミングの変形例を示している。
【0108】
図16は、図2のメモリセルMC1にデータを書き込む場合を示している。時刻t1qに、ソース線SL、第2の選択ゲートSG2が電源電圧より高く消去電圧より低い書き込み非選択電位としての電圧Vslに充電される。この後、時刻t2qに、制御ゲート線CG1が20V、制御ゲート線CG2、3…8が10Vに昇圧される。その結果、メモリセルのチャネルは制御ゲートCGとの容量結合により8V程度に昇圧される。時刻t3qに、第2の選択ゲートSG2が0Vとされた後、時刻t4qに、第1の選択ゲートSG1が電源電圧Vccとされる。その結果、“0”書き込みのトランジスタのチャネルは0Vに放電され、“1”書き込みのトランジスタのチャネルは8Vを保持する。
【0109】
図17において、時刻t1q…t3q迄の動作は、図16と同様である。図17では、時刻t3qに第2の選択ゲートSG2を0Vにした後、ソース線SLを電源電圧Vccとしている。
【0110】
図18も、時刻t1q…t3q迄の動作は、図16と同様である。図18では、時刻t3qに第2の選択ゲートSG2を0Vにした後、ソース線SLを接地電位0Vとしている。
【0111】
上記図16乃至図18に示す制御とした場合、電圧Vasや電圧Vasc 等を必要としないため、動作を単純且つ安定とすることができる。しかも、これら電圧Vasや電圧Vasc を生成するための回路を必要としないため、回路の占有面積を縮小できるとともに、消費電力を低減できる利点を有している。
【0112】
図19は、データの書き込み時における制御ゲート、選択ゲートの動作タイミングのさらなる変形例を示している。図16に示す動作の場合、時刻t1qからt2qの間に、制御ゲート線CG1、2…8を接地電位0Vとしている。これに対して、図19に示す動作の場合、時刻t1qからt2qの間に、制御ゲート線CG1、2…8を書き込み非選択電位Vslに設定している。このような動作制御の場合、時刻t1qからt2qの間に、メモリセルのチャネルをソース線から充電することができる。
【0113】
さらに、本発明の書き込み方式では、“1”書き込みのビット線の電位を電源電圧Vccよりも低くすることができる。これについて、図29を参照して説明する。図29に示すタイミングチャートも図2のメモリセルMC1にデータを書き込む場合を示している。時刻t1pgにソース線SL、第2の選択ゲート線SG2が電圧Vslに充電され、その後、時刻t2pgに制御ゲート線CG1が20V、制御ゲート線CG2、3…8が10Vに昇圧される。その結果、メモリセルのチャネル電位は制御ゲートCGとの間の容量結合により8V程度に昇圧される。時刻t3pgに第2の選択ゲートSG2が0Vにされた後、時刻t4pgに第1の選択ゲートSG1が1Vにされる。この間、“0”書き込みのビット線は0V、“1”書き込みのビット線は0.7Vに充電される。ビット線を0.7Vに充電する方法としては、ビット線選択信号SS1を1.6Vとすればよい。その結果、“0”書き込みのチャネルは0Vに放電される。
【0114】
一方、“1”書き込みの場合、ビット線の電位は0.7Vであり、第1の選択ゲートSG1をゲート電極とする選択トランジスタのゲートの閾値電圧は0.6V程度であるため、第1の選択ゲートはオフする。その結果、“1”書き込みのメモリセルのチャネル電位は8Vを保つ。時刻t3pgに第2の選択ゲートSG2を0Vにした後、ソース線を電源電圧Vccにしてもよいし、0Vにしてもよい。
【0115】
このように、本発明では“1”書き込みを行うビット線の電位を従来のような外部からチップに供給される電源電圧、あるいは外部から供給される電源電圧から降圧されたチップ内電源電圧よりも低くすることができる。NAND型フラッシュメモリにおいては、ビット線の容量が大きいため、書き込み時の消費電流の半分以上がビット線電位の充電に使用される。したがって、“1”書き込みのビット線の電圧を電源電圧、例えば3.3Vから0.7Vに低くすることにより、消費電流を大幅に低減することができる。
【0116】
この発明において、データの読み出し動作、及び消去動作は、例えば従来技術(T.Tanaka et. al.: IEEE J.Solid−State Circuit, vol.29, pp.1366−1373, 1994)と同様である。このため、ここでは、データの読み出し動作についてのみ説明する。
【0117】
図20を参照して、例えば図2に示すメモリセルMC1からデータを読み出す場合について説明する。
【0118】
先ず、プリチャージ信号PRA1、PRB1が接地電位から電源電圧となり(時刻tr1)、ビット線BL1Aが電圧VA1(例えば1.7V)、ビット線BL1Bが電圧VB1(例えば1.5V)にプリチャージされる(時刻tr2)。プリチャージが終了すると、プリチャージ信号PRA1、PRB1がともに接地電位となり、ビット線BL1Aはフローティング状態となる。この後、ローデコーダ3Aから選択ゲート、制御ゲートに所定の電圧が印加される(時刻tr3)。制御ゲート線CG1が0V、制御ゲート線CG2〜CG8は4.5V、第1、第2の選択ゲート線SG1、SG2は4.5Vとなる。制御ゲート線、選択ゲート線の電位は前記読み出し昇圧回路12によって電源電圧から昇圧された電位であり、ワード線バイアス回路10を介して制御ゲートに供給されるとともに、選択ゲートバイアス回路11を介して選択ゲートに供給される。
【0119】
前記メモリセルMC1に記憶されているデータが“0”の場合、メモリセルの閾値電圧は正であるため、セル電流は流れない。このため、ビット線BL1Aの電位は1.7Vのままである。また、メモリセルMC1に記憶されているデータが“1”の場合、メモリセルにセル電流は流れる。このため、ビット線BL1Aの電位は1.5Vに低下する。この間、(ダミー)ビット線BL1Bはプリチャージ電位1.5Vに保持される。
【0120】
この後、時刻tr4において、センスアンプ活性化信号φP が電源電圧、φN が接地電位となり、センスアンプSA1が不活性化される。時刻tr5において、イコライズ信号φE が電源電圧Vccとなると、センスアンプSA1がイコライズされ、ノードN1、N2がVcc/2(例えば1.5V)となる。時刻tr6において、センスアンプ選択信号SA 、SB が電源電圧となり、ビット線とセンスアンプが接続された後、センスアンプ活性化信号φN が電源電圧、φP が接地電位となり、ビット線BL1Aとビット線BL1Bの電位差が増幅され、センスアンプSA1に読み出しデータがラッチされる(時刻tr7)。
【0121】
この後、カラム選択信号CSL1がハイレベルとなり、センスアンプSA1にラッチされたデータがデータ線IO、/IOを介して外部に出力される。
【0122】
また、本発明は、図21、図22、図23に示すようなメモリセルアレイにも適用できる。図21、図22、図23に示すメモリセルアレイにおいて、各NANDセルのソース側の選択ゲートは、ソース線に接続されていず、共通信号線としてのビット線に接続されている。図21、図22、図23に示すメモリセルアレイの相違は、1NANDセルに接続される選択ゲートトランジスタの数である。図21の場合、2個であり、図22の場合、4個であり、図23の場合、3個である。図中Eは、閾値電圧VthがVth>0に設定されたエンハンスメント型のトランジスタ(Eタイプ)であり、Dは閾値電圧VthがVth<0に設定されたデプレション型トランジスタ(Dタイプ)である。IはDタイプと同様に閾値電圧が正に設定されたトランジスタである。E´は、閾値電圧がEタイプ、Dタイプのいずれか、又はこれらと異なった値、例えば0.7Vに設定されたトランジスタである。
【0123】
上記各メモリセルアレイにおいて、各NANDの両端にはそれぞれ共通信号線が接続されており、これら共通信号線のうちの1本がビット線として動作する場合、残りの1本がソース線として動作する。例えば図21、図22、図23に示す共通信号線BL01がビット線として動作する時、書き込み非選択電位は共通信号線BL1Aを介してメモリセルのチャネルに供給される。このようなメモリセルアレイの場合、各共通信号線BL0A、BL1A…の一端に、図24に示すようにセンスアンプを接続し、各共通信号線BL0A、BL1A…の他端に、図25に示すようなソース線充電回路191を設ければよい。ソース線バイアス回路9(図1に示す)の出力である電圧Vslは、ソース線充電回路191、各共通信号線BL0A、BL1A…を介してメモリセルに供給される。前記電圧Vslをトランジスタの閾値電圧分低下することなく、メモリセルに供給するためには、図25に示す各トランジスタ191a、191b、191cのゲートに供給される電圧Vbiを6V程度に昇圧すればよい。図24に示すセンスアンプは図3に示す回路とほぼ同様であるため、説明は省略する。
【0124】
尚、上記実施例は、本発明をNANDセル型EEPROMに適用した場合について説明したが、これに限定されるものではなく、例えばNOR型、AND型 ( A.Nozoe : ISSCC, Digest of Technichal Papers,1995)、DINOR型( S.Kobayashi : ISSCC, Digest of Technichal Papers,1995)、Virtual Ground Array型( Lee, et al. : Symposium on VLSI Circuits, Digest of Technichal Papers,1994 )等のいかなるメモリセルアレイに適用することも可能で有る。さらに、フラッシュメモリに限らずマスクROM、EPROM等に適用することも可能である。
【0125】
その他、この発明の要旨を変えない範囲において、種々変形実施可能なことは勿論である。
【0126】
【発明の効果】
以上、詳述したようにこの発明によれば、メモリセルのチャネルがフローティング状態となる前の予備充電電位を高く設定することができる。したがって、メモリセルのチャネルとワード線との容量結合後の書き込み禁止電位をさらに高めることが可能であるため、誤書き込みマージンを広げることができ、不揮発性半導体記憶装置の信頼性を向上できる。
【0127】
また、メモリセル部のデータが供給される側と反対側より書き込み非選択電位を供給しているため、回路の増大を防止でき、チップサイズの大型化を防止できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のNAND型EEPROMのブロック図。
【図2】本発明のメモリセルアレイを示す図。
【図3】本発明のセンスアンプ回路を示す回路図。
【図4】図1に示す昇圧回路の一例を示す回路図。
【図5】図4に示す回路を駆動するパルス信号の一例を示す波形図。
【図6】図1に示すソース線バイアス回路の一例を示す回路図。
【図7】図6に示す回路を駆動するパルス信号の一例を示す波形図。
【図8】図4に示すリミット回路の一例を示す回路図。
【図9】本発明に係わる書き込み動作を説明するために示すタイミング図。
【図10】本発明に係わる書き込み動作の他の例を説明するために示すタイミング図。
【図11】本発明に係わる書き込み動作の他の例を説明するために示すタイミング図。
【図12】本発明に係わる書き込み動作の他の例を説明するために示すタイミング図。
【図13】本発明に係わる書き込み動作の他の例を説明するために示すタイミング図。
【図14】本発明に係わる書き込み動作の他の例を説明するために示すタイミング図。
【図15】本発明の書き込みベリファイ読み出し動作を説明するために示すタイミング図。
【図16】本発明に係わる書き込み動作の他の例を説明するために示すタイミング図。
【図17】本発明に係わる書き込み動作の他の例を説明するために示すタイミング図。
【図18】本発明に係わる書き込み動作の他の例を説明するために示すタイミング図。
【図19】本発明に係わる書き込み動作の他の例を説明するために示すタイミング図。
【図20】この発明の読み出し動作を説明するために示すタイミング図。
【図21】本発明が適用されるメモリセルアレイの他の例を示す図。
【図22】本発明が適用されるメモリセルアレイの他の例を示す図。
【図23】本発明が適用されるメモリセルアレイの他の例を示す図。
【図24】図21、図22、図23に示すメモリセルアレイに適用されるセンスアンプ回路を示す図。
【図25】図21、図22、図23に示すメモリセルアレイに適用されるソース線充電回路を示す図。
【図26】図26(a)はNANDセル型EEPROMのセル構成を示す平面図、図26(b)は図26(a)の等価回路図。
【図27】図27(a)は図26(a)に示す27a−27a線に沿った断面図であり、図27(b)は図26(a)に示す27b−27b線に沿った断面図。
【図28】NANDセル型EEPROMのメモリセルアレイを示す回路構成図。
【図29】本発明に係わる書き込み動作の他の例を説明するために示すタイミング図。
【符号の説明】
1A、1B…メモリセルアレイ、
2…センスアンプ回路、
3A、3B…ロウデコーダ、
4…カラムデコーダ、
9…ソース線バイアス回路、
10…ワード線バイアス回路、
11…選択ゲートバイアス回路、
12…読み出し昇圧回路、
13…制御回路、
21…NANDセル、
54…リミット回路、
BL1A、BL1B…ビット線、
SL…ソース線、
SBL…ソースバイアス線、
SA1…センスアンプ
191…ソース線充電回路。
Claims (33)
- 少なくとも1つの不揮発性メモリセルを含むメモリセル部と、
前記メモリセル部の一端側に書き込み非選択電位を供給し、この電位を前記メモリセル部に供給した後、前記メモリセル部の読み出しデータや書き込みデータを一時記憶するデータ回路が接続される他端側から書き込みデータを供給し、前記メモリセル部の選択された不揮発性メモリセルに所望の書き込み状態を設定する制御回路と
を具備することを特徴とする不揮発性半導体記憶装置。 - 少なくとも1つの不揮発性メモリセルを含むメモリセル部と、
前記メモリセル部の一端に接続され、前記メモリセル部の読み出しデータや書き込みデータを一時記憶するデータ回路が接続された第1の共通信号線と、
前記メモリセル部の他端に接続された第2の共通信号線と、
第2の共通信号線に接続された第1の電圧供給回路と、
前記第1の電圧供給回路から前記第2の共通信号線を介して書き込み非選択電位を前記メモリセル部に供給することにより前記メモリセル部を書き込み非選択状態に設定した後に、前記第1の共通信号線から前記メモリセル部に対し所定の電圧を供給して、前記メモリセル部に所望の書き込み状態を設定する制御回路と
を具備することを特徴とする不揮発性半導体記憶装置。 - 少なくとも1つの不揮発性メモリセルを含むメモリセル部と、
前記メモリセル部の一端に接続され、前記メモリセル部の読み出しデータや書き込みデータを一時記憶するデータ回路が接続された第1の共通信号線と、
前記メモリセル部の他端に接続された第2の共通信号線と、
前記第1の共通信号線と前記メモリセル部の間に配設された第1の選択ゲートと、
前記第2の共通信号線と前記メモリセル部の間に配設された第2の選択ゲートと、
前記第2の共通信号線に接続された第1の電圧供給回路と、
前記第1の選択ゲートをオフ状態、前記第2の選択ゲートをオン状態として前記第1の電圧供給回路から前記第2の共通信号線を介して書き込み非選択電位を前記メモリセル部に供給することにより前記メモリセル部を書き込み非選択状態に設定した後に前記第2の選択ゲートをオフ状態とし、前記第1の共通信号線に供給される書き込みデータに基づき、前記メモリセル部に所望の書き込み状態を設定する制御回路と
を具備することを特徴とする不揮発性半導体記憶装置。 - 前記制御回路は、データ書き込み時に前記書き込み非選択電位を前記メモリセル部に供給する際、前記第2の選択ゲートに対し、電源電圧より高い電圧を供給することを特徴とする請求項3記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 前記制御回路は、データ書き込み時に前記書き込み非選択電位を前記メモリセル部に供給する際、前記第2の選択ゲートに対し、前記書き込み非選択電位より少なくとも前記第2の選択ゲートの閾値電圧分高い電圧を供給することを特徴とする請求項3記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 前記制御回路は、データ書き込み時に前記書き込み非選択電位を前記メモリセル部に供給する際、前記不揮発性メモリセルの制御ゲートに対し、電源電圧より高い電圧を供給することを特徴とする請求項2又は3記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 前記制御回路は、データ書き込み時に前記書き込み非選択電位を前記メモリセル部に供給する際、前記不揮発性メモリセルの制御ゲートに対し、前記書き込み非選択電位より少なくとも前記不揮発性メモリセルの閾値電圧分高い電圧を供給することを特徴とする請求項2又は3記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 前記制御回路は、データ書き込み時に、前記第1の電圧供給回路から書き込み非選択電位を前記第2の共通信号線及び前記第2の選択ゲートに供給し、次いで第2の電圧供給回路より前記不揮発性メモリセルの制御ゲートに、前記不揮発性メモリセルのチャネルと前記制御ゲートとの容量結合により昇圧された書き込み禁止電圧を生成するための電圧を供給し、この後前記第2の選択ゲートをオフさせる電位として、前記第1の選択ゲートに第1の選択ゲート電圧を供給することを特徴とする請求項3記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 前記制御回路は、データ書き込み時に、前記第1の電圧供給回路から書き込み非選択電位を前記第2の共通信号線及び前記第2の選択ゲートに供給し、次いで第2の電圧供給回路より前記不揮発性メモリセルの制御ゲートに、前記不揮発性メモリセルのチャネルと前記制御ゲートとの容量結合により昇圧された書き込み禁止電圧を生成するための電圧を供給し、この後前記第2の選択ゲートをオフさせる電位として、前記第1の選択ゲートを第1に選択ゲート電圧とし、さらに、前記第2の共通信号線を前記書き込み非選択電位から電源電圧に下げることを特徴とする請求項3記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 前記制御回路は、データ書き込み時に、前記第1の電圧供給回路から書き込み非選択電位を前記第2の共通信号線及び前記第2の選択ゲートに供給するとともに、第2の電圧供給回路より前記不揮発性メモリセルの制御ゲートに前記書き込み非選択電位を供給し、次いで前記第2の電圧供給回路より前記不揮発性メモリの制御ゲートに前記不揮発性メモリセルのチャネルと前記制御ゲートとの容量結合により昇圧された書き込み禁止電圧を生成するための電圧を供給し、この後前記第2の選択ゲートをオフさせる電位として、前記第1の選択ゲートに第1の選択ゲート電圧を供給することを特徴とする請求項3記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 少なくとも1つの不揮発性メモリセルを含むメモリセル部と、
前記メモリセル部の一端に接続された第1の共通信号線と、
前記メモリセル部の他端に接続された第2の共通信号線と、
前記メモリセル部の一端を前記第1の共通信号線に接続する第1の選択ゲートと、
前記メモリセル部の他端を前記第2の共通信号線に接続する第2の選択ゲートと、
前記第2の共通信号線に接続され、書き込み非選択電位を前記第2の共通信号線に供給する第1の電圧供給回路と、
前記第1、第2の選択ゲート、及び前記不揮発性メモリセルの制御ゲートに所定の電圧を供給する第2の電圧供給回路と、
データ書き込み時に、前記第2の電圧供給回路より前記第1の選択ゲートに対して前記第1の選択ゲートをオフさせる電位を供給し、前記不揮発性メモリセルの制御ゲートに対し前記書き込み非選択電位より少なくとも前記不揮発性メモリセルの閾値電圧分高い電圧を供給し、前記第2の選択ゲートに対し前記書き込み非選択電位より少なくとも前記第2の選択ゲートの閾値電圧分高い電圧を供給して、前記メモリセル部に前記書き込み非選択電位を供給し、前記第2の選択ゲートに対して前記第2の選択ゲートをオフさせる電位を供給することにより前記メモリセル部を書き込み非選択状態に設定した後、前記第1の選択ゲートに対し第1の選択ゲート電圧を供給して、前記メモリセル部に所望の書き込み状態を設定する制御回路と
を具備することを特徴とする不揮発性半導体記憶装置。 - 前記制御回路は、前記第1の電圧供給回路から前記メモリセル部に前記書き込み非選択電位を供給した後、前記第2の電圧供給回路から前記不揮発性メモリセルの制御ゲートに対し、前記不揮発性メモリセルのチヤネルと前記制御ゲートとの容量結合により昇圧された書き込み禁止電圧を生成するための電圧を供給することを特徴とする請求項11記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 少なくとも1つの不揮発性メモリセルを含むメモリセル部と、
前記メモリセル部の一端に接続され、前記メモリセル部の読み出しデータや書き込みデータを一時記憶するデータ回路が接続された第1の共通信号線と、
前記メモリセル部の他端に接続された第2の共通信号線と、
前記メモリセル部の一端を前記第1の共通信号線に接続する第1の選択ゲートと、
前記メモリセル部の他端を前記第2の共通信号線に接続する第2の選択ゲートと、
前記第2の共通信号線及び第2の選択ゲートに接続され、書き込み非選択電位を前記第2の共通信号線及び第2の選択ゲートに供給する第1の電圧供給回路と、
前記第1の選択ゲート、及び前記不揮発性メモリセルの制御ゲートに所定の電圧を供給する第2の電圧供給回路と、
データ書き込み時に、前記第2の電圧供給回路より前記第1の選択ゲート及び前記不揮発性メモリセルの制御ゲートに対して前記第1の選択ゲートをオフさせる電位を供給し、前記第2の選択ゲート及び前記第2の共通信号線に対し前記書き込み非選択電位を供給して、前記メモリセル部を書き込み非選択状態に設定した後、前記第2の選択ゲートに対して前記第2の選択ゲートをオフさせる電位を供給し、さらに、前記第1の選択ゲートに対し第1の選択ゲート電圧を供給して、前記メモリセル部に所望の書き込み状態を設定する制御回路と
を具備することを特徴とする不揮発性半導体記憶装置。 - 前記制御回路は、前記第1の電圧供給回路から前記第2の選択ゲート及び第2の共通信号線に前記書き込み非選択電位を供給した後、前記第2の電圧供給回路から前記不揮発性メモリセルの制御ゲートに対し、前記不揮発性メモリセルのチヤネルと前記制御ゲートとの容量結合により昇圧された書き込み禁止電圧を生成するための電圧を供給することを特徴とする請求項13記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 前記第2の電圧供給回路は、前記不揮発性メモリセルの制御ゲートに対し前記書き込み禁止電圧を生成するための電圧を供給した後に、前記第1の選択ゲートに対し前記第1の選択ゲート電圧を供給することを特徴とする請求項12又は14記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 前記第2の電圧供給回路は、前記第1の選択ゲートに対し第1の選択ゲート電圧を供給した後に、前記不揮発性メモリセルの制御ゲートに対し前記書き込み禁止電圧を生成するための電圧を供給することを特徴とする請求項12又は14記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 前記メモリセル部の書き込み状態は、前記第1の共通信号線に供給される書き込みデータに応じて設定されることを特徴とする請求項2、3、11、13のいずれかに記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 前記第1の共通信号線に第1の書き込みデータが供給された場合に前記メモリセル部に設定された書き込み非選択状態は書き込み選択状態にされ、前記第1の共通信号線に前記第1の書き込みデータと異なる論理レベルの第2の書き込みデータが供給された場合には、前記メモリセル部に設定された書き込み非選択状態が保持されることを特徴とする請求項17記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 前記第1の選択ゲートは、前記第1の共通信号線に第1の書き込みデータが供給された場合にオン状態となり、オン状態の前記第1の選択ゲートを介した前記メモリセル部から前記第1の共通信号線への放電により前記メモリセル部に設定された書き込み非選択状態が書き込み選択状態になり、前記第1の共通信号線に前記第1の書き込みデータと異なる論理レベルの第2の書き込みデータが供給された場合には、前記第1の選択ゲートがオフ状態となり、前記メモリセル部に設定された書き込み非選択状態が保持されることを特徴とする請求項17記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 前記書き込み非選択電位は、電源電圧以上の電圧であることを特徴とする請求項1、2、3、11、13のいずれかに記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 前記第1の共通信号線には、前記不揮発性メモリセルヘの書き込みデータをラッチするビット線制御回路が接続されることを特徴とする請求項2、3、11、13のいずれかに記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 前記第1の共通信号線はビット線であり、前記第2の共通信号線はソース線であり、前記ソース線がワード線に共通接続される複数のメモリセル部で共有されることを特徴とする請求項2、3、11、13のいずれかに記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 前記メモリセル部は直列接続された複数の不揮発性メモリセルを含み、前記第1の共通信号線側の不揮発性メモリセルから順次データの書き込みが行われることを特徴とする請求項2、3、11、13のいずれかに記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 前記データの読み出し時に前記不揮発性メモリセルの制御ゲートに供給される読み出し電圧を発生する読み出し電圧発生回路をさらに具備することを特徴とする請求項2、3、11、13のいずれかに記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 前記第1の電圧供給回路は、前記読み出し電圧発生回路から出力された読み出し電圧を、前記第2の共通信号線に転送することを特徴とする請求項24記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 前記読み出し電圧発生回路は、昇圧回路と、
前記昇圧回路の出力電圧を所定の電圧に制限するリミット回路を含み、
前記リミット回路は、データ書き込み時と読み出し時とで、前記出力電圧を異なる電位に設定することを特徴とする請求項24記載の不揮発性半導体記憶装置。 - 前記メモリセル部が前記書き込み非選択状態から放電された書き込み選択状態、及び前記メモリセル部に前記書き込み非選択状態が保持された状態が、それぞれ第1、第2の書き込み状態を形成することを特徴とする請求項2、3、11、13のいずれかに記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 前記第1の選択ゲート電圧は電源電圧であることを特徴とする請求項8、9、10、11、13のいずれかに記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 前記第2の書き込みデータとしては電源電圧より低い電圧が供給されることを特徴とする請求項18又は19記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 前記他端部に電源電圧よりも低い書き込みデータを供給し、前記メモリセル部の選択された不揮発性メモリセルに所望の書き込み状態を設定する制御回路を具備することを特徴とする請求項1記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 前記他端部に接地電位が供給された場合には、前記メモリセル部は書き込み選択状態に設定され、前記他端部に接地電位よりも高く電源電圧よりも低い電圧が供給された場合には、前記メモリセル部は書き込み非選択状態に設定されることを特徴とする請求項30記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 前記他端部はビット線であることを特徴とする請求項30記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 前記メモリセル部は直列接続された複数の不揮発性メモリセルを含むことを特徴とする請求項30記載の不揮発性半導体記憶装置。
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