JP3587788B2 - Elevating type substrate processing apparatus and substrate processing system provided with the same - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体(シリコン)ウエハ,液晶ガラス基板,フォトマスク用ガラス基板,光ディスク用基板などの各種基板に対し、これを移動させながら(搬送しながら)所定の処理を行なう処理装置、並びに複数の処理装置を連結して構成される基板処理システムに関する。
【0002】
【従来の技術】
例えば、液晶ガラス基板の製造工程では、現像液の塗布,エッチング液の塗布,レジスト膜を剥離するための剥離液の塗布といったウェットプロセス処理が行なわれ、各ウェットプロセス処理間では、洗浄処理及び乾燥処理が行なわれる。
【0003】
そして、上記各処理を行なうための処理装置として、従来、搬送ローラ上に基板を載置して、当該搬送ローラによって基板を水平方向に移送しながら処理を行なうように構成された処理装置が知られており、更に、上記各処理を連続的に行なうために、各処理装置を連結して構成された図8に示す如き基板処理システムが知られている。
【0004】
図8は、従来例に係る基板処理システムの概略構成を示した平面図であるが、同図に示すように、この基板処理システム100は、基板投入,排出部101,基板処理部105及び基板搬送部110からなる。前記基板投入,排出部101は、複数の基板を収納したカセット103を載置する載置台102と、載置台102上に載置されたカセット103内から基板を一枚づつ取り出して基板処理部105に投入し、処理を終えた基板を基板処理部105から取り出してカセット103に格納する移戴装置104からなる。尚、移戴装置104は、通常、載置台102の長手方向(矢示方向)に移動可能となったロボットから構成される。
【0005】
前記基板処理部105は、相互に平行に並設された第1処理部106及び第2処理部107の2つの処理ラインからなり、第1処理部106及び第2処理部107は、図9に示すように、それぞれ矢示方向に基板を搬送する複数の搬送ローラ108を備え、この搬送ローラ108によって基板を搬送しながら所定の処理を行なうようになっている。例えば、第1処理部106は基板をエッチングする処理部であり、搬送中の基板に対してエッチング液が塗布される。また、第2処理部107は、水洗処理部107a及び乾燥処理部107bからなり、水洗処理部107aでは基板に洗浄水が供給され、乾燥処理部107bでは基板に乾燥用の気体が供給される。
【0006】
前記基板搬送部110は、第1処理部106によって処理された基板を第2処理部105に搬送する手段であり、第1処理部106から排出された基板の搬送方向を切り換えて搬送する方向切換装置111と、方向切換装置111から排出された基板を排出方向に搬送する複数の搬送ローラ112と、搬送ローラ112によって搬送された基板を、その搬送方向を切り換えて第2処理部107に搬送する方向切換装置113とから構成される。
【0007】
方向切換装置111は、図10に示すように、第1処理部106を構成する搬送ローラ108の搬送面と同じ水平面内で同じ搬送方向に基板を搬送する複数の第1搬送ローラ114と、この第1搬送ローラ114間に配設され、第1搬送ローラ114の搬送面から上下方向に突没するリフタ115と、第1搬送ローラ114の上方に相互に対向して配設され、第1搬送ローラ114の中心軸と直交する中心軸を有し、基板を搬送ローラ112側に搬送する複数組みの第2搬送ローラ116とからなる。尚、互いに対向する第2搬送ローラ116は、相互に接近する方向と離反する方向に移動するようになっている。また、図中、117は、基板Kの移動を制止するストッパである。
【0008】
この方向切換装置111によると、第1処理部106から排出された基板Kは、第1搬送ローラ114によってストッパ117に当接するまで前記排出方向に搬送される。尚、このときリフタ115は第1搬送ローラ114の搬送面から下方に没している。ついで、リフタ115が第1搬送ローラ114の搬送面から上方に突出し、これによって基板Kが図10において2点鎖線で示す位置に上昇せしめられる。尚、このとき第2搬送ローラ116は互いに離反した位置に在る。ついで、第2搬送ローラ116が相互に接近する位置に移動した後、リフタ115が降下する。これにより、基板Kは第2搬送ローラ116によって支持された状態になり、この後、この第2搬送ローラ116によって第1搬送ローラ114の搬送方向と直交する方向、即ち、搬送ローラ112側に搬送,排出せしめられる。この様にして基板Kの搬送方向が切り換えられる。
【0009】
特に図示しないが、前記方向切換装置113も上述の方向切換装置111とほぼ同様の構成を備えており、搬送ローラ112によって搬送された基板Kを、その搬送方向を切り換えて第2処理部107に搬送する。
【0010】
図8に示すように、この基板処理システム100は、第1処理部106,基板搬送部110及び第2処理部107が平面視逆C形状に配設され、移戴装置104によってカセット103から取り出された基板Kは、まず、第1処理部106に投入される。ついで、基板Kは、第1処理部106内を矢示方向に搬送されながら所定の処理(エッチング処理)を施された後、基板搬送部110においてその搬送方向が切り換えられて第2処理部107に投入される。そして、基板Kは、第2処理部107内を矢示方向に搬送されながら所定の処理(水洗処理及び乾燥処理)を施された後、移戴装置104によって再びカセット103内に格納される。
【0011】
ところで、第1処理部106及び第2処理部107において、搬送中に基板Kの姿勢が変化すると、例えば、搬送方向に対して斜めに傾いたりすると、精度の良い処理を行なうことができない。そこで、従来、図9に示すように、上記搬送ローラ108の両端部のローラに鍔部108aを形成し、この鍔部108aによって搬送中の基板Kの姿勢を制御するようにしていた。このことは、上記第1搬送ローラ114及び第2搬送ローラ116についても同様である。ところが、このような鍔部を設けると、当該鍔部が障害となり、基板Kの搬送方向を搬送ローラ108の搬送面内で切り換えることができい。そこで、上述した方向切換装置111,113では、基板Kを鍔部上端より上方に持ち上げて、その搬送方向を切り換えるようにしている。
【0012】
また、上記理由から基板を昇降させるように構成した基板搬送部110では、同部において基板の処理を行なうことができないため、基板Kの搬送のみを行なっていた。即ち、例えば、同部において基板の洗浄を行なう場合、基板Kを昇降させると、ノズルから噴射される洗浄液の強くあたるところと、そうでないところを生じ、洗浄効果にむらを生じるという問題がある。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、処理を行わない部分を有する上記従来の基板処理システム100では、以下に説明する処理上の問題があった。
【0014】
即ち、例えば、図8に示した例のように、第1処理部106においてエッチング処理を施した後、未洗浄のまま基板Kを搬送すると、第2処理部107への搬送時間のバラツキによってエッチングの進行度合いが異なってしまい、エッチングを高精度にコントロールができないのである。基板搬送部110は、基板Kを昇降させる機構及び第2搬送ローラ116を移動させる機構からなる複雑な動作機構を有するため、前記搬送時間を高精度にコントロールするのは困難である。
【0015】
また、例えば、第1処理部106の最終工程を洗浄工程とした場合、基板Kを乾燥させないで搬送すると、表面に乾燥むらを生じたり、或いは染みを生じて、基板Kが不良品となる。
【0016】
更に、上記従来の基板処理システム100では、第1処理部106と第2処理部107の2つの処理ラインを平行に並設しているので、装置の設置効率が悪いという問題もある。
【0017】
本発明は、以上の実情に鑑みなされたものであって、一方の処理ラインから他方の処理ラインに基板を搬送する機能を有すると共に、搬送中の基板に対して処理を行なうことができるようになった基板処理装置及びこれを備えた基板処理システムの提供を目的とする。
【0018】
【課題を解決するための手段及びその効果】
上記課題を解決するための本発明の請求項1に記載した発明は、上下に並設された基板投入口及び基板排出口を備えてなる筐体状のカバー体と、
前記カバー体内に内装された処理機構であって、前記基板投入口から搬入された基板を受容して支持する一方、前記基板排出口から前記基板を排出する搬送,支持手段、該搬送,支持手段を支持する支持架台、並びに該搬送,支持手段の上方に配設され、該搬送,支持手段によって支持された基板上に処理流体を吐出する処理流体出手段を備えてなる処理機構と、
前記処理機構を支持して上下方向に昇降させ、該処理機構を前記基板投入口及び基板排出口に経由せしめる昇降機構とを設けて構成したことを特徴とする昇降式基板処理装置に係る。
【0019】
この発明に係る昇降式基板処理装置によると、処理機構が昇降機構によって上下方向に昇降せしめられ、基板投入口及び基板排出口に経由せしめられる。そして、処理機構は、基板投入口に経由したときに、前工程の処理部から排出された基板を前記基板投入口から受容してこれを支持し、基板排出口に移動するまでの間、処理流体吐出手段から基板上に処理流体を吐出する。これにより、基板は所定の処理が施され、処理後、前記基板排出口から次工程の処理部に排出,移送される。
【0020】
このように、この昇降式基板処理装置によれば、基板を支持する搬送,支持手段及び支持された基板上に処理流体を吐出する処理流体吐出手段からなる処理機構全体を昇降させるようにしているので、基板を搬送する際に、基板と処理流体吐出手段との位置関係が変化することがなく、したがって、例えば、基板を洗浄する場合に、処理流体吐出手段から吐出される洗浄液を基板上の各部にほぼ均等に供給することが可能であり、むらのない洗浄を行なうことができる。
【0021】
また、昇降機構によって処理機構を昇降させるという単一の動作で基板を搬送することができるので、その速度コントロールが容易であり、したがって、エッチングなどの処理を行なう場合にも、これを高精度にコントロールすることが可能である。
【0022】
尚、本発明において、前記処理流体には、現像液,エッチング液,レジスト膜を剥離するための剥離液や、洗浄用の洗浄水,乾燥用の気体といった基板を処理するための各種の流体が含まれ、各種の処理流体を基板上に供給して、これを処理することが可能である。
【0023】
本発明の請求項2に記載した発明は、請求項1に記載した昇降式基板処理装置における前記搬送,支持手段が、前記基板を受容した後、受容した基板を、前記基板の搬入方向と排出方向に、繰り返し前後動させるように構成された昇降式基板処理装置に係る。
【0024】
上述したように、請求項1に記載した昇降式基板処理装置においては、処理流体吐出手段から吐出される処理流体を基板上の各部にほぼ均等に供給することが可能であるが、処理流体自体に、例えば、圧力の高いところと低いところがあるというようにむらがある場合がある。この場合、基板に対し、厳密な意味で均質な処理を行なうことができない。
【0025】
請求項2に記載した昇降式基板処理装置によれば、搬送,支持手段に受容,支持された基板が、その搬入方向と排出方向に繰り返し前後動されるように構成されているので、基板の前後動によって、基板に当たる処理流体の圧力むらが平均化され、これにより、基板に対して均質な処理を行なうことが可能となる。
【0026】
また、本発明の請求項3に記載した発明は、請求項1又は2記載の昇降式基板処理装置における前記カバー体が、仕切り部材により前記基板の搬入方向に沿って処理室及び駆動室の2つの室に分割されると共に、前記基板投入口及び基板排出口を有する前記処理室には前記処理機構が配設される一方、前記駆動室には前記昇降機構が配設されてなり、
前記仕切り部材には、上下方向に沿って、前記処理室と駆動室とを連通する開口部が形成され、
前記仕切り部材に形成された開口部の上下方向に沿った両縁部はそれぞれ筒状に形成され、且つ該一対の各筒状部には、相互に対向する面に、上下方向に沿った切り欠き溝が形成され、
前記処理機構は、その前記支持架台が、前記仕切り部材の開口部内に設けられた連結具によって前記昇降機構と連結せしめられ、
前記連結具には、前記一対の筒状部間に配設され、且つ前記連結具の上方及び下方に延在するように配設された帯状のシート体であって、その両側縁部がそれぞれ前記切り欠き溝から前記筒状部内に挿入せしめられたシート体が接続されてなり、
前記駆動室と処理室が、前記仕切り部材,連結具及びシート体によって仕切られた昇降式基板処理装置に係る。
【0027】
処理流体に含まれる前記現像液,エッチング液や剥離液などは腐食性が高く、これが昇降機構に付着すると、当該昇降機構が損傷してその機能が損なわれる懸念がある。この発明に係る昇降式基板処理装置によれば、昇降機構が配設される駆動室と、処理機構が配設される処理室とを、仕切り部材,連結具及びシート体により仕切っているので、処理室で使用される処理流体が駆動室に侵入するのを防止することができ、処理流体によって昇降機構が損傷するのを防止することができる。特に、仕切り部材に設けた開口部の上下方向に沿った縁部を筒状に形成するとともに、連結具の上方及び下方に延在するように配設されたシート体の両側縁部を、前記筒状部に形成された切り欠き溝から当該筒状部内に挿入せしめた、いわゆるラビリンス構造としているので、駆動室及び処理室双方を気密性の高いものとすることが可能となっている。
【0028】
尚、前記開口部,連結具及びシート体は、請求項4に記載した発明のように、これらの複数組を設けても良い。また、請求項5に記載した発明のように、前記筒状部内の気体を排気する排気手段を設けると、前記シート体と切り欠き溝との隙間から筒状部内に侵入した処理流体を、前記排気手段によって排気することができるので、駆動室への処理流体の侵入を更に確実に防止することができる。
【0029】
また、前記シート体は、請求項6に記載した発明のように、これを無端の環状に形成することができる。また、請求項7に記載した発明のように、前記シート体の巻き取りと繰り出しを行う巻取,繰出機構を、前記シート体の上部側及び下部側のそれぞれに設け、前記昇降機構によって昇降せしめられる前記シート体の動きに応じ、当該巻取,繰出機構によって前記シート体の巻き取りと繰り出しを行うように構成することができ、巻取,繰出機構は、請求項8に記載した発明のように、前記シート体を巻き取る巻取軸と、該巻取軸を回転させる駆動手段とからこれを構成し、更に、前記駆動手段を、前記巻取軸が繰出方向に回転する際には、制動力のみを巻取軸に作用させる一方、前記巻取軸を巻取方向に回転させる際には、摩擦クラッチを介して前記巻取軸に動力を伝達するように構成しても良い。この巻取,繰出機構によれば、シート体に弛みを生じさせることなく、その巻き取りと繰り出しを行なうことができる。
【0030】
更に、前記駆動手段は、これを、請求項9に記載した発明のように、前記巻取軸に連結した受動歯車と、この受動歯車に噛合した駆動歯車と、駆動歯車に連結された摩擦クラッチと、摩擦クラッチに連結された回転軸と、回転軸の両端部にそれぞれ連結し、回転軸の回転を一方向にのみ許容する2つの一方向クラッチと、一方の前記一方向クラッチを介して前記回転軸に連結されたプーリと、該プーリに巻回された伝動ベルトと、他方の前記一方向クラッチを支持する支持部材とから構成し、前記2つの一方向クラッチを、前記巻取軸を巻取方向に回転させる方向の前記回転軸の回転を許容する一方、前記巻取軸を繰出方向に回転させる方向の前記回転軸の回転を規制するように構成するとともに、前記伝動ベルトが前記昇降機構によって回動せしめられるように構成することができる。
【0031】
そして、本発明の請求項10に記載した発明は、前記請求項1乃至9記載のいずれかの昇降式基板処理装置を備えた基板処理システムであって、
基板をほぼ水平に移動させつつ処理を行う第1基板処理装置と第2基板処理装置とを上下に並設し、
前記第1基板処理装置の基板排出部と、前記昇降式基板処理装置の基板投入口とを接続させる一方、
前記第2基板処理装置の基板投入部と、前記昇降式基板処理装置の基板排出口とを接続させ、
基板を、第1基板処理装置,昇降式基板処理装置,第2基板処理装置に順次経由せしめるように構成したことを特徴とする基板処理システムに係る。
【0032】
前記請求項1乃至9に記載した各昇降式基板処理装置は、上下に並設された第1基板処理装置と第2基板処理装置との相互間を連結することが可能であり、請求項10に記載した基板処理システムは、このように上下に並設された第1基板処理装置と第2基板処理装置とを請求項1乃至9に記載したいずれかの昇降式基板処理装置で連結した構成を有する。この処理システムは、第1基板処理装置と第2基板処理装置とが上下に並設されているので、第1基板処理装置と第2基板処理装置とを同一の水平平面内に並設した上記従来の処理システムと比べて、その設置スペースが小さくて足り、これを効率良く設置することが可能である。
【0033】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の具体的な実施形態について添付図面に基づき説明する。図1は、本実施形態に係る基板処理システムの概略構成を示した正面図であり、図2は、その平面図である。また、図3は、本実施形態に係る昇降式基板処理装置を示した正断面図であり、図4は、本実施形態に係る洗浄装置を示した正断面図である。また、図5は、図3に示した昇降式基板処理装置のII位置における平断面図であり、図6は、同昇降式基板処理装置のIII位置における平断面図である。尚、図3は、図5における矢視I−I方向の断面図でもある。
【0034】
まず、本例の基板処理システム1の構成について説明する。
図1及び図2に示すように、本例の基板処理システム1は、基板投入,排出部2、上下に並設された第1基板処理装置6及び第2基板処理装置7、並びに昇降式基板処理装置10からなる。基板投入,排出部2は、複数の基板を収納したカセット5を載置する載置台4と、載置台4上に載置されたカセット5内から基板を一枚づつ取り出して第1基板処理装置6に投入する一方、処理を終えた基板を第2基板処理装置7から取り出してカセット5に格納する移戴装置3からなる。尚、移戴装置3は、載置台4の長手方向(矢示方向)に移動可能となったロボットから構成される。また、カセット5は図示しないAGVなどの搬送装置によって搬送される。
【0035】
前記第1基板処理装置6及び第2基板処理装置7は、それぞれ矢示方向に基板を搬送する、図9に示した如き搬送ローラ108の複数を備え、この搬送ローラ108によって基板を搬送しながら所定の処理を行なうようになっている。本例では、第1基板処理装置6は基板に対しエッチング処理を行なうように構成され、第2基板処理装置7は基板に対して洗浄処理と乾燥処理とを行なうように構成されている。
【0036】
図3,図5及び図6に示すように、前記昇降式基板処理装置10は、筐体状をしたカバー体11と、このカバー体11内に配設された処理機構20及び昇降機構40などからなる。尚、カバー体11には、第1基板処理装置6内に連通する開口部11a及び第2基板処理装置7内に連通する開口部11bが形成されている。また、カバー体11は支柱12によって支持され、その内部は、処理機構20が配設される処理室Aと、昇降機構40が配設される駆動室Bに仕切られている。
【0037】
前記処理機構20は、洗浄装置22及びこの洗浄装置22を支持する支持架台21からなる。洗浄装置22は、図4に示すように、基板Kの搬入と排出がなされる開口部23aを一側面に備えた筐体状のカバー23と、このカバー23内に配設された複数の搬送ローラ26と、この搬送ローラ26の上方に配設された複数のノズル29列と、搬送ローラ26の下方に配設された複数のノズル30列などからなる。尚、搬送ローラ26は、図9に示した搬送ローラ108と同様の構成を備えている。また、前記開口部23aに最も近い搬送ローラ26には、その上部に当接して、基板Kをニップするニップローラ27が設けられている。斯くして、これら搬送ローラ26及びニップローラ27が正逆に回転することによって、基板Kが前記開口部23aから搬入され、同開口部23aから排出される。
【0038】
前記各ノズル29は、図示しない洗浄液供給源に接続された供給管28に固設されており、この供給管28を介して供給された洗浄液を基板Kの上面に向けて吐出する。同様に、前記各ノズル30は、前記洗浄液供給源に接続された供給管31に固設されており、この供給管28を介して供給された洗浄液を基板Kの下面に向けて吐出する。尚、図中32は基板Kの有無を検出するセンサである。
【0039】
また、カバー23の下端には、開口部23bを介して相互に連通される集液槽24が設けられおり、前記ノズル29,30から吐出された洗浄液が前記集液槽24に回収され、排出管25を通して適宜排出されるようになっている。
【0040】
前記駆動室B内には、角パイプからなり、縦格子状に形成されたフレーム17が立設されており、このフレーム17に前記昇降機構40が付設されている。尚、フレーム17はブラケット18を介して前記支柱12に取り付けられている。
【0041】
前記昇降機構40は、連結具55,56及び57,58を介して支持架台13に連結される昇降台44と、前記フレーム17を構成する縦桟の、前記処理室A側の面に並設された一対のガイドレール45と、各ガイドレール45にそれぞれこれに沿って移動自在に係合し、且つ前記昇降台44に固設されたスライド部材46と、回転自在且つ前記ガイドレール45に対して平行となるように前記フレーム17に支持されたボールねじ41と、このボールねじ41に螺合した状態で前記昇降台44に固設されたナット42と、前記フレーム17に固設されて前記ボールねじ41を回転,駆動するサーボモータ43などからなる。
【0042】
サーボモータ43によってボールねじ41が回転せしめられると、これに螺合したナット42がボールねじ41に沿って移動(昇降)し、ナット42に連結された昇降台44、この昇降台44に連結具55,56及び57,58を介して連結された支持架台13、及び支持架台13に支持される洗浄装置22がナット42と共に昇降する。
【0043】
前記駆動室Bと処理室Aとは、仕切り部材11a,14,16によって仕切られている。仕切り部材11a,14間、及び仕切り部材14,16間にはそれぞれ開口部が形成されており、各開口部内に位置するようにそれぞれ前記連結具55,56及び57,58が設けられている。また、各開口部を形成する仕切り部材14の両側縁部15は、これに沿って筒状に形成され、これと対向する前記仕切り部材11a,16の各縁部には、これに沿ってそれぞれ筒状部材13が固設されている。また、前記仕切り部材14の両側縁の筒状部15と前記筒状部材13の各対向面にはそれぞれ上下方向に沿った切り欠き溝が形成されている。
【0044】
また、前記仕切り部材14の両側縁の筒状部15と前記筒状部材13との間には、これに沿って帯状のシート体65,66がそれぞれ設けられている。このシート体65,66は、その両側縁が前記切り欠き溝から筒状部15,筒状部材13内にそれぞれ挿入され、連結具55,56及び57,58によって表裏から挟持された状態でこれらに固着されている。そして、シート体65,66の各上端部及び下端部はそれぞれ後述の巻取,繰出機構70に巻き取られている。また、前記筒状部15及び筒状部材13は、図示しない適宜排気手段によってその内部の気体が排気されるようになっている。尚、本例では、前記シート体65,66に、耐摩擦性及び耐食性に優れたテフロン(登録商標)製のシートを用いた。但し、これに限られるものではなく、この他に、ステンレス製のものを使用することができる。
【0045】
斯くして、前記駆動室Bと処理室Aは、実質的には、仕切り部材11a,14,16、筒状部材13,13、連結具55,56,57,58、シート体65,66によって仕切られている。
【0046】
また、図5に示すように、前記昇降台44には駆動モータ60が取り付けられると共に、バランサ50が接続されている。駆動モータ60はブラケット62を介して前記昇降台44に固設され、伝動ベルト61を介して前記洗浄装置22の搬送ローラ26を駆動する。一方、バランサ50は、前記ガイドレール45に対して平行となるように前記フレーム17に固設されたガイドロッド51と、このガイドロッド51に沿って移動可能に当該ガイドロッド51に係合すると共に、前記昇降台44に係合した本体52からなる。
【0047】
前記巻取,繰出機構70は、図3に示すように、前記フレーム17の上部及び下部の双方に設けられており、具体的には、図6に示すように、巻取軸72,76、この巻取軸72,76の双方に連結した駆動軸71、駆動軸71を駆動するギヤ85などからなる。
【0048】
巻取軸72,76はそれぞれブラケット75,79によって回転自在に支持されている。そして、シート体66は、前記ブラケット75に回転自在に支持されたガイドローラ73,74に順次経由してその端部が前記巻取軸72に巻き取られ、シート体65は、前記ブラケット79に回転自在に支持されたガイドローラ77,78に順次経由してその端部が前記巻取軸76に巻き取られている。
【0049】
前記ギヤ85は、図7に示すように、トルクキーパ86に固設されている。トルクキーパ86は回転軸81によって軸通され、回転軸81はブラケット84に固着されたベアリング90及び一方向クラッチ87によって支持されている。また、回転軸81の端部には一方向クラッチ88を介してプーリ80が固着されている。そして、ギヤ85は、前記駆動軸71に固着されたギヤ89と噛合している。尚、前記一方向クラッチ87,88は、前記回転軸81の回転方向を規制する機能を有する。本例では、上部に設けられた巻取,繰出機構70の場合、回転軸81の矢示E方向への回転を規制する一方、矢示F方向への回転はこれを許容するようになっており、下部に設けられた巻取,繰出機構70の場合、回転軸81の矢示F方向への回転を規制する一方、矢示E方向への回転はこれを許容するようになっている。また、トルクキーパ86は、いわゆる摩擦クラッチであり、回転軸81に対して所定の制動力(ブレーキ力)を付与する。
【0050】
また、図3に示すように、上下に設けられた前記プーリ80,80には、無端状に形成された伝動ベルト82が巻回され、伝動ベルト82は、前記ナット42に固着されたホルダ83によって保持されている。
【0051】
次に、以上の構成を備えた基板処理システム1の作動について説明する。尚、前記昇降式基板処理装置10は、図3において実線で示した状態にあるものとする。
【0052】
まず、移戴装置3によってカセット5から順次基板Kが取り出され、第1基板処理装置6に投入される。投入された基板Kは、第1基板処理装置6内で矢示方向に搬送されながら所定の処理(エッチング処理)を施された後、順次第1基板処理装置6から排出される。
【0053】
排出された基板Kは、次に昇降式基板処理装置10の開口部11a,開口部23aを順次通って洗浄装置22内に進入し、搬送ローラ26の作用によって内部に搬入され、基板Kの搬入中若しくは搬入後に、ノズル29,30から洗浄液が吐出されて、基板Kの洗浄が開始される。そして、洗浄を終了するまで、前記基板Kが搬入方向と排出方向に所定距離だけ前後動するように、前記搬送ローラ26の回転が正逆に連続して切り換えられる。これにより、ノズル29,30から吐出される洗浄液の吐出量,吐出圧にむらがある場合であっても、基板Kを前後動させることで、基板K上面における前記むらを平均化することができ、基板Kをむらなく洗浄することができる。
【0054】
基板Kの洗浄装置22内への搬入を完了すると、次に昇降機構40のサーボモータ43が駆動されて、洗浄装置22が降下せしめられる。即ち、サーボモータ43によりボールねじ41が降下方向に回転せしめられると、これに螺合したナット42がボールねじ41に沿って降下し、ナット42に連結された昇降台44、この昇降台44に連結具55,56及び57,58を介して連結された支持架台13、及び支持架台13に支持される洗浄装置22がナット42と共に降下する。
【0055】
ナット42が降下すると、ホルダ83を介してナット42に連結された伝動ベルト82が矢示C方向に回動する。また、連結具55,56及び57,58が降下すると、これに固着されたシート体65,66が共に下方に移動し、これに伴って、上部に設けられた巻取,繰出機構70からシート体65,66が繰り出され、下部に設けられた巻取,繰出機構70にはシート体65,66が巻き取られる。
【0056】
この巻取,繰出機構70の巻取動作と繰出動作を、図7を用いて更に詳しく説明する。尚、図示に基づき、連結具57,58及びシート体66について説明するが、連結具55,56及びシート体65についても同様である。また、図7は、上部及び下部に設けられた巻取,繰出機構70の平断面図である。
【0057】
まず、上部に設けられた巻取,繰出機構70について説明する。上部に設けられた巻取,繰出機構70では、連結具57,58が降下すると、シート体66に張力が生じ、巻取軸72に矢示H方向に回転動力が付与される。この回転動力は、巻取軸72に連結した駆動軸71、これに固着されたギヤ89、ギヤ89に噛合したギヤ85、ギヤ85が装着されたトルクキーパ86を順次介して回転軸81に伝達される。しかしながら、回転軸81は一方向クラッチ87によって矢示E方向への回転が規制されているため、同方向の回転が阻止される。このため、シート体66に生じる張力が次第に増大して前記トルクキーパ86に伝達されるトルクが増大する。
【0058】
トルクキーパ86は、ギヤ85に作用するトルクが所定の大きさよりも大きくなると、ギヤ85がトルク作用方向に回転するのを許容する。これにより、ギヤ85は矢示E方向に、ギヤ89,駆動軸71及び巻取軸72は矢示H方向にそれぞれ回転して、シート体66が巻取軸72から繰り出される。このように、シート体66は所定の張力を生じた状態で繰り出されるので、繰り出しの際に弛みを生じることがない。
【0059】
一方、ナット42の降下によって、伝動ベルト82が図3に示した矢示C方向に回動すると、プーリ80は矢示E方向の回転動力を受けるが、プーリ80と回転軸81との間に介在する一方向クラッチ88によって、プーリ80は回転軸81に対して矢示E方向に回転自在となっており、プーリ80は支障なく伝動ベルト82に従がって矢示E方向に回転する。一方向クラッチ88は、回転軸81の矢示E方向の回転を規制するが、矢示F方向の回転はこれを許容するようになっている。したがって、一方向クラッチ88は、回転軸81に対して矢示E方向に回転自在となっている。
【0060】
次に、下部に設けられた巻取,繰出機構70について説明する。下部に設けられた巻取,繰出機構70では、ナット42が降下して伝動ベルト82が前記矢示C方向に回動すると、プーリ80が矢示E方向の回転動力を受ける。上述したように、下部に設けられた巻取,繰出機構70の場合、一方向クラッチ87,88は、回転軸81の矢示F方向への回転を規制する一方、矢示E方向への回転はこれを許容するようになっている。したがって、プーリ80が矢示E方向の回転動力を受けると、回転軸81は同方向に回転する。回転軸81が矢示E方向に回転すると、その回転動力がトルクキーパ86,ギヤ85及びギヤ89を介して、駆動軸71及び巻取軸72に伝達され、これらが矢示H方向に回転せしめられて、シート体66が巻取軸66に巻き取られる。
【0061】
尚、本例では、シート体66及び伝動ベルト82の移動速度よりも、巻取軸72の巻取速度が速くなるように、巻取軸72の軸径、プーリ80の径、及びギヤ85とギヤ89との間のギヤ比が設定されている。シート体66の移動速度よりも巻取軸72の巻取速度を速くすると、シート体66に生じる張力が次第に増大してトルクキーパ86に伝達されるトルクが増大する。上述したように、トルクキーパ86は、ギヤ85に作用するトルクが所定の大きさよりも大きくなると、ギヤ85がトルク作用方向に回転するのを許容する。これにより、ギヤ85と回転軸81とはスリップした状態となり、回転軸81は支障なくプーリ80に従がって矢示E方向に回転する。このように、シート体66は所定の張力を生じた状態で巻き取られるので、巻取に際して弛みを生じることがない。
【0062】
以上詳述したように、本例の巻取,繰出機構70によれば、洗浄装置22の降下に伴って、弛み無く、シート体65,66を巻き取り及び繰り出しすることができる。
【0063】
上記の如くして洗浄装置22が下降端まで降下すると、次に、前記搬送ローラ26が排出方向に回転せしめられて基板Kが開口部23aから排出され、カバー体11の開口部11bから第2基板処理装置7に移送される。尚、洗浄装置22が下降端に達した状態を、図3において2点鎖線で示している。
【0064】
基板Kの排出を完了すると、洗浄装置22では、ノズル29,30からの洗浄液の吐出が停止される。そして、昇降機構40のサーボモータ43が駆動され、洗浄装置22が上昇せしめられる。その際、上記とは逆の作動によって、上部に設けられた巻取,繰出機構70にシート体65,66が巻き取られ、下部に設けられた巻取,繰出機構70からシート体65,66が繰り出される。
【0065】
そして、洗浄装置22が上昇端に達すると、上述した基板Kの搬入以降の動作が繰り返される。尚、洗浄装置22の昇降の際にサーボモータ43に作用する負荷が、バランサ50によって軽減されるようになっている。
【0066】
一方、第2基板処理装置7では、搬入された基板Kが矢示方向に搬送されながら所定の処理(水洗処理及び乾燥処理)を施され、処理を終えて排出された基板Kは移戴装置3によって再びカセット5内に格納される。このように、本例の基板処理システム1では、カセット5内に格納された基板Kが、順次、第1基板処理装置6,昇降式基板処理装置10及び第2基板処理装置7に経由することによって、所定の処理が施され、再び、カセット5内に格納される。
【0067】
以上詳述したように、本例の基板処理システム1によれば、第1基板処理装置6と第2基板処理装置7とを上下に並設し、これらを昇降式基板処理装置10によって連結した構成としているので、第1基板処理装置6と第2基板処理装置7とを同一の水平平面内に並設した上記従来の処理システム100と比べて、その設置スペースが小さくて足り、これを効率良く設置することが可能である。
【0068】
また、本例の昇降式基板処理装置10では、基板Kを搬送,支持する搬送ローラ26及び基板Kに洗浄液を吐出するノズル29,30からなる洗浄装置22全体を昇降させるようにしているので、基板Kを搬送する際に、基板Kとノズル29,30との位置関係が変化することがなく、したがって、ノズル29,30から吐出される洗浄液を基板Kの各部にほぼ均等に供給することが可能であり、これにより、むらのない洗浄を行なうことができる。
【0069】
また、昇降機構40によって洗浄装置22を昇降させるという単一の動作で基板Kを搬送しており、また、サーボモータ43,ボールねじ41及びナット42からなる高精度に制御可能な機構によって昇降させているので、その速度制御を高精度に行うことができる。
【0070】
第1基板処理装置6において使用されるエッチング液は腐食性が極めて高く、このエッチング液を含む洗浄水が洗浄装置22から流出して昇降機構40に付着すると、これが損傷してその機能が損なわれる懸念がある。本例の昇降式基板処理装置10によれば、昇降機構40が配設される駆動室Bと、洗浄装置22が配設される処理室Aとを、仕切り部材11a,14,16、筒状部材13,13、連結具55,56,57,58、シート体65,66により仕切っているので、洗浄装置22から流出したエッチング液が駆動室Bに侵入するのを防止することができ、エッチング液によって昇降機構40が損傷するのを防止することができる。
【0071】
特に、仕切り部材11a,14,16間に形成した開口部の上下方向の縁部にそれぞれ筒状部15及び筒状部材13を設けるとともに、連結具55,56及び57,58に固着されたシート体65,66の両側縁部を、筒状部15及び筒状部材13に形成された切り欠き溝から内部に挿入せしめた、いわゆるラビリンス構造とし、しかも筒状部15及び筒状部材13の内部を排気手段によって排気しているので、駆動室Bへのエッチング液の侵入を確実に防止することができる。
【0072】
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明の採り得る具体的な態様は、何らこれに限定されるものではない。例えば、上述の例では、洗浄装置22の昇降に合わせて、シート体65,66を巻取,繰出機構70によって巻き取り,繰り出しするようにしたが、シート体65,66を無端,環状に形成し、洗浄装置22の昇降に合わせて、これらが回動するように構成することもできる。
【0073】
また、上例では、昇降式基板処理装置10において洗浄を行なうように構成したが、これに限られるものでは無く、エッチングや他の処理を行なうようにしても良い。このことは、第1基板処理装置6及び第2基板処理装置7についても同様である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係る基板処理システムの概略構成を示した正面図である。
【図2】本発明の一実施形態に係る基板処理システムの概略構成を示した平面図である。
【図3】本実施形態に係る昇降式基板処理装置を示した正断面図である。
【図4】本実施形態に係る洗浄装置を示した正断面図である。
【図5】図3に示した昇降式基板処理装置のII位置における平断面図である。
【図6】図3に示した昇降式基板処理装置のIII位置における平断面図である。
【図7】本実施形態に係る巻取,繰出機構を拡大して示した平断面図である。
【図8】従来例に係る基板処理システムの概略構成を示した平面図である。
【図9】従来例に係る搬送ローラを示した正面図である。
【図10】従来例に係る方向切換装置の概略構成を示した模式図である。
【符号の説明】
1 基板処理システム
2 基板投入,排出部
5 カセット
6 第1基板処理装置
7 第2基板処理装置
10 昇降式基板処理装置
11a,14,16 仕切り板
13 筒状部材
15 筒状部
20 処理機構
21 支持架台
22 洗浄装置
26 搬送ローラ
29,30 ノズル
40 昇降機構
41 ボールねじ
42 ナット
43 サーボモータ
65,66 シート体
70 巻取,繰出機構
72,76 巻取軸
80 プーリ
82 伝動ベルト
85,89 ギヤ
87,88 一方向クラッチ
86 トルクキーパ[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a processing apparatus for performing predetermined processing while moving (conveying) various substrates such as a semiconductor (silicon) wafer, a liquid crystal glass substrate, a glass substrate for a photomask, and a substrate for an optical disk. And a substrate processing system configured by connecting the processing apparatuses.
[0002]
[Prior art]
For example, in a manufacturing process of a liquid crystal glass substrate, wet process processing such as application of a developing solution, application of an etching solution, and application of a stripping solution for stripping a resist film is performed, and cleaning and drying are performed between each wet process. Processing is performed.
[0003]
Conventionally, as a processing apparatus for performing each of the above-described processes, there is known a processing apparatus configured to place a substrate on a transport roller and perform processing while transporting the substrate in a horizontal direction by the transport roller. Further, there is known a substrate processing system as shown in FIG. 8, which is configured by connecting respective processing apparatuses in order to continuously perform the above-described processing.
[0004]
FIG. 8 is a plan view showing a schematic configuration of a substrate processing system according to a conventional example. As shown in FIG. , It comprises a
[0005]
The
[0006]
The
[0007]
As shown in FIG. 10, the
[0008]
According to the
[0009]
Although not particularly shown, the
[0010]
As shown in FIG. 8, in the
[0011]
By the way, in the
[0012]
Further, for the above-described reason, in the
[0013]
[Problems to be solved by the invention]
However, the conventional
[0014]
That is, for example, as in the example shown in FIG. 8, when the substrate K is transferred without being cleaned after the etching processing is performed in the
[0015]
Further, for example, when the final process of the
[0016]
Furthermore, in the conventional
[0017]
The present invention has been made in view of the above circumstances, and has a function of transferring a substrate from one processing line to another processing line, and can perform processing on a substrate being transferred. And a substrate processing system provided with the same.
[0018]
Means for Solving the Problems and Their Effects
The invention described in
A processing mechanism housed in the cover body, the transfer mechanism receiving and supporting a substrate carried in from the substrate input port, and discharging the substrate from the substrate discharge port. , Support means, said transport , A support base for supporting the support means, and the transfer , Disposed above the support means, , A processing mechanism comprising processing fluid output means for discharging the processing fluid onto the substrate supported by the support means,
An up-and-down type substrate processing apparatus, comprising: an elevating mechanism for supporting the processing mechanism and elevating the processing mechanism in a vertical direction, and allowing the processing mechanism to pass through the substrate input port and the substrate discharge port.
[0019]
According to the elevating type substrate processing apparatus according to the present invention, the processing mechanism is moved up and down by the elevating mechanism so as to pass through the substrate inlet and the substrate outlet. Then, the processing mechanism receives the substrate discharged from the processing unit of the previous process from the substrate input port when passing through the substrate input port, supports the substrate, and performs processing until the substrate is moved to the substrate output port. The processing fluid is discharged from the fluid discharging means onto the substrate. As a result, the substrate is subjected to a predetermined process, and after the process, the substrate is discharged and transferred from the substrate discharge port to a processing unit in the next process.
[0020]
As described above, according to the elevating type substrate processing apparatus, the transfer supporting the substrate , Since the entire processing mechanism including the support means and the processing fluid discharging means for discharging the processing fluid onto the supported substrate is moved up and down, when transporting the substrate, the positional relationship between the substrate and the processing fluid discharging means is reduced. Therefore, for example, when cleaning the substrate, it is possible to supply the cleaning liquid discharged from the processing fluid discharging unit almost equally to each part on the substrate, and to perform even cleaning. Can be.
[0021]
In addition, since the substrate can be transported by a single operation of raising and lowering the processing mechanism by the lifting mechanism, the speed can be easily controlled. Therefore, even when performing processing such as etching, the processing can be performed with high accuracy. It is possible to control.
[0022]
In the present invention, the processing fluid includes various kinds of fluids for processing the substrate, such as a developing solution, an etching solution, a stripping solution for stripping a resist film, a washing water for washing, and a gas for drying. It is possible to supply various types of processing fluids onto the substrate for processing.
[0023]
According to a second aspect of the present invention, there is provided the lifting and lowering type substrate processing apparatus according to the first aspect, wherein , After the supporting means receives the substrate, the received substrate is loaded into the substrate. Direction and The present invention relates to an elevating type substrate processing apparatus configured to be repeatedly moved back and forth in a discharge direction.
[0024]
As described above, in the elevating type substrate processing apparatus according to the first aspect, the processing fluid discharged from the processing fluid discharging unit can be almost uniformly supplied to each part on the substrate. In some cases, for example, there is unevenness such as a high pressure area and a low pressure area. In this case, a strictly uniform treatment cannot be performed on the substrate.
[0025]
According to the lifting substrate processing apparatus described in
[0026]
According to a third aspect of the present invention, in the liftable substrate processing apparatus according to the first or second aspect, the cover body may be a partition member. Than Loading of the substrate Processing chamber and driving chamber along the direction The processing mechanism is disposed in the processing chamber having the substrate input port and the substrate discharge port, and the lifting mechanism is disposed in the driving chamber.
An opening is formed in the partition member to communicate the processing chamber and the driving chamber along a vertical direction,
Both edges of the opening formed in the partition member along the up-down direction are respectively formed in a cylindrical shape, and the pair of cylindrical portions have cuts along the up-down direction on surfaces facing each other. A notch groove is formed,
The processing mechanism, the support pedestal is connected to the lifting mechanism by a connector provided in the opening of the partition member,
The connecting member is a band-shaped sheet member disposed between the pair of cylindrical portions, and disposed so as to extend above and below the connecting member. A sheet body inserted into the cylindrical portion from the notch groove is connected,
The present invention relates to an elevating type substrate processing apparatus in which the driving chamber and the processing chamber are separated by the partition member, the connecting member, and the sheet member.
[0027]
The developing solution, the etching solution, the stripping solution, and the like contained in the processing fluid are highly corrosive, and if they adhere to the elevating mechanism, the elevating mechanism may be damaged and its function may be impaired. According to the elevating type substrate processing apparatus of the present invention, the drive chamber in which the elevating mechanism is disposed and the processing chamber in which the processing mechanism is disposed are partitioned by the partition member, the connecting member, and the sheet member. The processing fluid used in the processing chamber can be prevented from entering the drive chamber, and the processing fluid can be prevented from damaging the elevating mechanism. In particular, the upper and lower edges of the opening provided in the partition member are formed in a cylindrical shape, and the both side edges of the sheet body disposed so as to extend above and below the connecting member are formed by the above-described method. Since it has a so-called labyrinth structure in which a cut-out groove formed in the cylindrical portion is inserted into the cylindrical portion, it is possible to make both the drive chamber and the processing chamber highly airtight.
[0028]
The opening, the connecting member, and the sheet body may be provided with a plurality of these sets as in the invention described in
[0029]
Further, the sheet body can be formed in an endless annular shape as in the invention described in
[0030]
Further, the driving means may include a passive gear connected to the winding shaft, a driving gear meshed with the passive gear, and a friction clutch connected to the driving gear. A rotating shaft connected to a friction clutch, two one-way clutches respectively connected to both ends of the rotating shaft and allowing rotation of the rotating shaft in only one direction, and the one-way clutch through the one-way clutch. A pulley connected to a rotating shaft, a transmission belt wound around the pulley, and a support member for supporting the other one-way clutch, and the two one-way clutches are wound around the winding shaft. While allowing rotation of the rotation shaft in the direction of rotation in the take-up direction, while restricting rotation of the rotation shaft in the direction of rotation of the winding shaft in the unwinding direction, the power transmission belt is provided with the lifting mechanism. Times It can be configured to be allowed.
[0031]
According to a tenth aspect of the present invention, there is provided a substrate processing system including the liftable substrate processing apparatus according to any one of the first to ninth aspects,
A first substrate processing apparatus and a second substrate processing apparatus that perform processing while moving a substrate substantially horizontally are vertically arranged side by side,
While connecting the substrate discharge unit of the first substrate processing apparatus and the substrate input port of the elevating type substrate processing apparatus,
Connecting a substrate loading section of the second substrate processing apparatus and a substrate discharge port of the elevating type substrate processing apparatus,
The present invention relates to a substrate processing system, wherein a substrate is sequentially passed through a first substrate processing apparatus, an elevating type substrate processing apparatus, and a second substrate processing apparatus.
[0032]
In each of the up-and-down type substrate processing apparatuses according to the first to ninth aspects, it is possible to connect the first substrate processing apparatus and the second substrate processing apparatus that are vertically arranged side by side, with each other. The first substrate processing apparatus and the second substrate processing apparatus that are vertically arranged in this way are connected by any one of the up-and-down type substrate processing apparatuses according to any one of
[0033]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, specific embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a front view illustrating a schematic configuration of a substrate processing system according to the present embodiment, and FIG. 2 is a plan view thereof. FIG. 3 is a front cross-sectional view illustrating the liftable substrate processing apparatus according to the present embodiment, and FIG. 4 is a front cross-sectional view illustrating the cleaning apparatus according to the present embodiment. FIG. 5 is a plan sectional view of the liftable substrate processing apparatus shown in FIG. 3 at a position II, and FIG. 6 is a plan sectional view of the liftable substrate processing apparatus at a position III. FIG. 3 is also a cross-sectional view taken along the line II in FIG.
[0034]
First, the configuration of the
As shown in FIGS. 1 and 2, the
[0035]
The first
[0036]
As shown in FIGS. 3, 5 and 6, the elevating
[0037]
The
[0038]
Each of the
[0039]
A
[0040]
In the driving chamber B, a
[0041]
The elevating
[0042]
When the
[0043]
The driving chamber B and the processing chamber A are partitioned by
[0044]
Further, between the
[0045]
Thus, the driving chamber B and the processing chamber A are substantially formed by the
[0046]
As shown in FIG. 5, a
[0047]
The winding , As shown in FIG. 3, the feed-out
[0048]
The winding
[0049]
The
[0050]
As shown in FIG. 3, an
[0051]
Next, the operation of the
[0052]
First, the substrates K are sequentially taken out of the
[0053]
The discharged substrate K then enters the
[0054]
When the transfer of the substrate K into the
[0055]
When the
[0056]
This winding , Winding of the
[0057]
First, the winding provided at the top , The
[0058]
The
[0059]
On the other hand, when the
[0060]
Next, the winding provided at the bottom , The
[0061]
In the present example, the shaft diameter of the winding
[0062]
As described in detail above, the winding of the present example , According to the
[0063]
When the
[0064]
When the discharge of the substrate K is completed, the discharge of the cleaning liquid from the
[0065]
Then, when the
[0066]
On the other hand, in the second
[0067]
As described in detail above, according to the
[0068]
Further, in the elevating type
[0069]
In addition, the substrate K is transported in a single operation of raising and lowering the
[0070]
The etchant used in the first
[0071]
In particular, the
[0072]
As mentioned above, although one Embodiment of this invention was described, the specific aspect which this invention can take is not limited to this at all. For example, in the above-described example, the
[0073]
In the above example, the cleaning is performed in the liftable
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a front view showing a schematic configuration of a substrate processing system according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a plan view showing a schematic configuration of a substrate processing system according to an embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a front cross-sectional view showing the lifting type substrate processing apparatus according to the embodiment.
FIG. 4 is a front sectional view showing the cleaning apparatus according to the embodiment.
5 is a plan cross-sectional view at a position II of the elevating type substrate processing apparatus shown in FIG.
FIG. 6 is a plan sectional view of the lifting / lowering type substrate processing apparatus shown in FIG. 3 at a position III.
FIG. 7 is a diagram illustrating a winding operation according to the embodiment. , FIG. 4 is an enlarged plan sectional view showing the feeding mechanism.
FIG. 8 is a plan view showing a schematic configuration of a substrate processing system according to a conventional example.
FIG. 9 is a front view showing a transport roller according to a conventional example.
FIG. 10 is a schematic diagram showing a schematic configuration of a direction switching device according to a conventional example.
[Explanation of symbols]
1 Substrate processing system
2 Substrate loading , Discharge section
5 cassettes
6 First substrate processing equipment
7 Second substrate processing equipment
10. Elevating substrate processing equipment
11a, 14, 16 partition plate
13 cylindrical member
15 cylindrical part
20 Processing mechanism
21 Support stand
22 Cleaning equipment
26 Transport roller
29, 30 nozzles
40 lifting mechanism
41 Ball screw
42 nut
43 Servo motor
65,66 sheet
70 winding , Feeding mechanism
72, 76 winding shaft
80 pulley
82 transmission belt
85, 89 gear
87,88 one-way clutch
86 Torque Keeper
Claims (10)
前記カバー体内に内装された処理機構であって、前記基板投入口から搬入された基板を受容して支持する一方、前記基板排出口から前記基板を排出する搬送,支持手段、該搬送,支持手段を支持する支持架台、並びに該搬送,支持手段の上方に配設され、該搬送,支持手段によって支持された基板上に処理流体を吐出する処理流体吐出手段を備えてなる処理機構と、
前記処理機構を支持して上下方向に昇降させ、該処理機構を前記基板投入口及び基板排出口に経由せしめる昇降機構とを設けて構成したことを特徴とする昇降式基板処理装置。A housing-like cover body including a substrate input port and a substrate discharge port arranged vertically,
A processing mechanism housed in the cover body, the transporting and supporting means for receiving and supporting a substrate loaded from the substrate input port, and discharging the substrate from the substrate output port, and the transporting and supporting means. support cradle for supporting a and the conveyance is disposed above the support means, and said conveying comprises includes a processing fluid discharge means for discharging the processing fluid onto a substrate supported by the support means processing mechanism,
An elevating type substrate processing apparatus, comprising: an elevating mechanism for supporting the processing mechanism and elevating the processing mechanism in a vertical direction, and passing the processing mechanism through the substrate inlet and the substrate outlet.
前記仕切り部材には、上下方向に沿って、前記処理室と駆動室とを連通する開口部が形成され、
前記仕切り部材に形成された開口部の上下方向に沿った両縁部はそれぞれ筒状に形成され、且つ該一対の各筒状部には、相互に対向する面に、上下方向に沿った切り欠き溝が形成され、
前記処理機構は、その前記支持架台が、前記仕切り部材の開口部内に設けられた連結具によって前記昇降機構と連結せしめられ、
前記連結具には、前記一対の筒状部間に配設され、且つ前記連結具の上方及び下方に延在するように配設された帯状のシート体であって、その両側縁部がそれぞれ前記切り欠き溝から前記筒状部内に挿入せしめられたシート体が接続されてなり、
前記駆動室と処理室が、前記仕切り部材,連結具及びシート体によって仕切られてなる請求項1または2記載の昇降式基板処理装置。The cover body, while being divided into two chambers of the processing chamber and the drive chamber along the carrying direction of more the substrate in the partition member, wherein the processing mechanism in the processing chamber with the substrate inlet and substrate outlet While the drive chamber is provided with the elevating mechanism,
An opening is formed in the partition member to communicate the processing chamber and the driving chamber along a vertical direction,
Both edges of the opening formed in the partition member along the up-down direction are respectively formed in a cylindrical shape, and the pair of cylindrical portions have cuts along the up-down direction on surfaces facing each other. A notch groove is formed,
The processing mechanism, the support pedestal is connected to the lifting mechanism by a connector provided in the opening of the partition member,
The connecting member is a band-shaped sheet member disposed between the pair of cylindrical portions, and disposed so as to extend above and below the connecting member. A sheet body inserted into the cylindrical portion from the notch groove is connected,
The lifting substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the driving chamber and the processing chamber are separated by the partition member, the connecting member, and the sheet member.
前記駆動手段は、前記巻取軸が繰出方向に回転する際には、制動力のみを巻取軸に作用させる一方、前記巻取軸を巻取方向に回転させる際には、摩擦クラッチを介して前記巻取軸に動力を伝達するように構成されてなる請求項7記載の昇降式基板処理装置。The winding, feeding mechanism includes a take-up shaft for winding the sheet member is composed of a drive means for rotating the take-up shaft,
The driving unit applies only a braking force to the winding shaft when the winding shaft rotates in the unwinding direction, and applies a friction clutch when rotating the winding shaft in the winding direction. The lifting substrate processing apparatus according to claim 7, wherein power is transmitted to the take-up shaft by a rotating shaft.
前記2つの一方向クラッチが、前記巻取軸を巻取方向に回転させる方向の前記回転軸の回転を許容する一方、前記巻取軸を繰出方向に回転させる方向の前記回転軸の回転を規制するように構成されるとともに、
前記伝動ベルトが前記昇降機構によって回動せしめられるように構成されてなる請求項8記載の昇降式基板処理装置。The driving means includes a passive gear connected to the winding shaft, a driving gear meshed with the passive gear, a friction clutch connected to the driving gear, a rotating shaft connected to the friction clutch, and both ends of the rotating shaft. Two one-way clutches respectively connected to the rotating shaft and allowing rotation of the rotating shaft only in one direction, a pulley connected to the rotating shaft via one of the one-way clutches, and a wound around the pulley. A transmission belt, and a support member for supporting the other one-way clutch,
The two one-way clutches allow rotation of the rotation shaft in a direction for rotating the winding shaft in the winding direction, while restricting rotation of the rotation shaft in a direction for rotating the winding shaft in the feeding direction. Be configured to
9. The lifting substrate processing apparatus according to claim 8, wherein the transmission belt is configured to be rotated by the lifting mechanism.
基板をほぼ水平に移動させつつ処理を行う第1基板処理装置と第2基板処理装置とを上下に並設し、
前記第1基板処理装置の基板排出部と、前記昇降式基板処理装置の基板投入口とを接続させる一方、
前記第2基板処理装置の基板投入部と、前記昇降式基板処理装置の基板排出口とを接続させ、
基板を、第1基板処理装置,昇降式基板処理装置,第2基板処理装置に順次経由せしめるように構成したことを特徴とする基板処理システム。A lifting and lowering substrate processing apparatus according to any one of claims 1 to 9,
A first substrate processing apparatus and a second substrate processing apparatus that perform processing while moving a substrate substantially horizontally are vertically arranged side by side,
While connecting the substrate discharge unit of the first substrate processing apparatus and the substrate input port of the elevating type substrate processing apparatus,
Connecting a substrate loading section of the second substrate processing apparatus and a substrate discharge port of the elevating type substrate processing apparatus,
A substrate processing system, wherein a substrate is sequentially passed through a first substrate processing apparatus, an elevating type substrate processing apparatus, and a second substrate processing apparatus.
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