JP3539467B2 - 電子部品モジュール - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、回路基板上にベアフォトダイオードが実装されてなる赤外線受光モジュール等、回路基板上にベアチップを含む電子部品が実装されてなる電子部品モジュールに関する。
【0002】
【従来の技術】
図13、14、および15は、従来の赤外線受光モジュールの一例を示す図であり、図13は斜視図、図14は矢視Eによる側面図、さらに図15は後述する金属カバーを外した上面図である。図13〜15を参照して、この赤外線受光モジュールは、所定のパターンが形成された回路基板10と、回路基板10上に実装されたベアフォトダイオード20およびベアIC30を含むベアチップならびにチップ抵抗41およびチップコンデンサ42を含むチップ部品を含む電子部品と、ベアフォトダイオード20およびベアIC30を封止した赤外線透過性の封止樹脂50と、回路基板10上に実装された電子部品を覆うように回路基板10に取り付けられる電磁シールド用の金属カバー160とを有している。金属カバー160には、ベアフォトダイオード20に対応する位置に、受光窓165が形成されている。
【0003】
封止樹脂50は、液状時に、回路基板10上に実装されたベアフォトダイオード20およびベアIC30に塗布され、自然的あるいは強制的に硬化される。この後、金属カバー160は、その爪部を折り曲げるなどして回路基板10に対して取り付けられる。金属カバー160は、そのほぼ4辺の端部が回路基板10の表面に接触した状態が定位置である。金属カバー160は、定位置に取り付けられた後、機械的固定とアースパターンへの電気的接続とをなすために、回路基板10上のアースパターンに繋がるはんだ付けランド12にはんだ付けされる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、ベアフォトダイオード20およびベアIC30に塗布される際の液状の封止樹脂50は、塗布量や環境温度等に応じて粘度が異なる。このため、所望される塗布領域外に流れ出したり、拡散することがある。図16(a)および(b)は、図13における切断線D−D′による縦断面図である。
【0005】
封止樹脂50がベアフォトダイオード20およびベアIC30に対して適量かつ適当な領域に塗布された場合には、図16(a)に示すように、金属カバー160は、その端部が回路基板10の表面に接触した定位置に取り付けられ、さらに、はんだPによりはんだ付けランド12にはんだ付けされる。
【0006】
ところが、封止樹脂50が適量よりも多かったり、環境温度が適温よりも高かったりすると、粘度が低下した封止樹脂50は所望される塗布領域外に流れ出し、その状態で硬化する。封止樹脂50が回路基板10上の本来金属カバー160の端部が接触すべき領域に流出した場合には、図16(b)に示すように、金属カバー160は、硬化した封止樹脂50に邪魔されて、定位置に取り付けられない。また、はんだ付けランド12上に流出した場合には、硬化した封止樹脂50に邪魔されて、金属カバー160を定位置に取り付けられないばかりか、はんだPを盛り付けることもできない。この他でも、封止樹脂50塗布後に回路基板10上の本来何等かの部品が接触すべき領域に、封止樹脂50が流出した場合には、そこに部品を接触することができない。
【0007】
上記問題の対策として、従来は、手作業により液状の封止樹脂50を少量ずつ塗布することによって、封止樹脂50が所望される領域外へ流出することを防いでいる。しかし、この作業は、困難であるし、時間を要するので、工業的量産性の面で好ましくない。
【0008】
他の対策として、封止樹脂50の塗布前に、図17(a)に示すように封止樹脂50の所望される領域を囲むように枠部材80を回路基板10上に取り付けたり、図17(b)に示すように所望される領域を囲むように厚肉の凸状インク90を回路基板10上に印刷することによって、封止樹脂50が所望される領域外へ流出することを防いでいる。しかし、この手段は、部品数が増加する点、回路基板上で余計にスペースを必要とする点、ならびに作業工数が増加する点などで好ましくない。
【0009】
本発明の課題は、作業工数を増加することなく、また新規に部品を用いることもなく、ベアチップ用の封止樹脂に関わる問題を解決する電子部品モジュールを提供することである。
【0010】
【課題を解決するための手段】
本発明によれば、回路基板と、前記回路基板上に実装されたベアチップを含む電子部品と、前記ベアチップを封止した封止樹脂と、前記回路基板上に実装された前記電子部品を覆うように前記回路基板に取り付けられるカバーとを有する電子部品モジュールにおいて、前記カバーは、その前記回路基板に接するべき部分に、前記封止樹脂を避けるための凹部を備えていることを特徴とする電子部品モジュールが得られる。
【0011】
本発明によればまた、回路基板と、前記回路基板上に実装されたベアチップおよびこの他の電子部品を含む電子部品群と、前記ベアチップを封止した封止樹脂とを有する電子部品モジュールにおいて、前記電子部品のうちの少くとも1つは、前記ベアチップと前記回路基板上のはんだ付けされるべき領域との間に実装され、硬化前の前記封止樹脂が前記はんだ付けされるべき領域に到達することを塞き止める(堰き止める、せき止める)ものであることを特徴とする電子部品モジュールが得られる。
【0012】
本発明によればさらに、回路基板と、前記回路基板上に実装されたベアチップおよびこの他の電子部品を含む電子部品群を含む電子部品と、前記ベアチップを封止した封止樹脂と、前記回路基板上に実装された前記電子部品を覆うように前記回路基板に取り付けられるカバーとを有する電子部品モジュールにおいて、前記電子部品のうちの少くとも1つは、前記ベアチップと前記回路基板上の前記カバーの一部が接するべき領域との間に実装され、硬化前の前記封止樹脂が前記回路基板上の前記領域に到達することを塞き止めるものであることを特徴とする電子部品モジュールが得られる。
【0013】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態による電子部品モジュールを説明する。尚、以下の説明の際に参照する図面において、従来例と同一部または同様部には、図13〜17と同符号を付している。
【0014】
[実施の形態1]
図1、2、および3は、本発明の実施の形態1による電子部品モジュールとしての赤外線受光モジュールを示す図であり、図1は斜視図、図2は矢視Aによる側面図、さらに図3は金属カバーを外した上面図である。図1〜3を参照して、本赤外線受光モジュールは、従来例と同様に、所定のパターンが形成された回路基板10と、回路基板10上に実装されたベアフォトダイオード20およびベアIC30を含むベアチップならびにチップ抵抗41およびチップコンデンサ42を含むチップ部品を含む電子部品と、ベアフォトダイオード20およびベアIC30を封止した赤外線透過性の封止樹脂50と、回路基板10上に実装された電子部品を覆うように回路基板10に取り付けられる電磁シールド用の金属カバー60とを有している。金属カバー60には、ベアフォトダイオード20に対応する位置に、受光窓65が形成されている。
【0015】
さらに、金属カバー60は、その4辺の端部、即ち、回路基板10に接するべき部分に、所望される塗布領域外へ流出した封止樹脂50を避けるための凹部としての切欠部61を備えている。
【0016】
液状の封止樹脂50は、回路基板10上に実装されたベアフォトダイオード20およびベアIC30に塗布され、自然的あるいは強制的に硬化される。この後、金属カバー60は、その爪部を折り曲げるなどして回路基板10に対して取り付けられる。金属カバー60は、そのほぼ4辺の端部が回路基板10の表面に接触した状態が定位置である。
【0017】
ベアフォトダイオード20およびベアIC30に塗布される際の液状の封止樹脂50は、塗布量や環境温度等に応じて粘度が異なる。例えば、その量が適量よりも多かったり、環境温度が適温よりも高かったりすると、粘度が低下する。粘度が低下した封止樹脂50は、図1における切断線B−B′による縦断面図である図4に示すように、所望される塗布領域外に流れ出し、その状態で硬化する。しかし、本電子部品モジュールでは、金属カバー60がその4辺の端部、即ち、回路基板10に接するべき部分に所望される塗布領域外へ流出した封止樹脂50を避けるための切欠部61を備えているので、金属カバー60は流出および硬化した封止樹脂50に邪魔されることなく、その端部が回路基板10の表面に接触した定位置に取り付けられる。尚、図3中、符号C60で示す領域は、回路基板10上の金属カバー60の端部が接触する領域である。また、図4では、ベアフォトダイオード20およびベアIC30の図示を省略している。
【0018】
金属カバー60は、定位置に取り付けられた後、機械的固定とアースパターンへの電気的接続とをなすために、回路基板10上のアースパターンに繋がるはんだ付けランドにはんだ付けされる。
【0019】
[実施の形態2]
本発明の実施の形態2は、実施の形態1の変形例である。図5および図6はそれぞれ、本発明の実施の形態2による電子部品モジュールとしての赤外線受光モジュールを示す側面図である。
【0020】
図5を参照して、本赤外線受光モジュールは、実施の形態1と同様に、回路基板10と、回路基板10上に実装されたベアチップを含む電子部品(図示せず)と、ベアチップを封止した封止樹脂50と、回路基板10上に実装された電子部品を覆うように回路基板10に取り付けられる電磁シールド用の金属カバー60′とを有している。そして、金属カバー60′は、実施の形態1の金属カバー60と同様に、その端部、即ち、回路基板10に接するべき部分に、所望される塗布領域外へ流出した封止樹脂50を避けるための凹部としての切欠部61′を備えている。切欠部61′は、金属カバー60′の上板面まで切り欠かれている。このため、金属カバー60′は、封止樹脂50が金属カバー60′が回路基板10に接するべき部分にある程度の厚さでもって流出した場合でも、封止樹脂50を避けることが可能である。
【0021】
図6を参照して、本赤外線受光モジュールは、図5に示すモジュールと同様に、回路基板10と、ベアチップを含む電子部品(図示せず)と、封止樹脂50と、電磁シールド用の金属カバー60″とを有している。そして、金属カバー60″は、図5の金属カバー60′と同様に、その端部、即ち、回路基板10に接するべき部分に、所望される塗布領域外へ流出した封止樹脂50を避けるための凹部としての切欠部61″を備えている。切欠部61″は、金属カバー60″の一側面全幅に亘りかつ上板面まで切り欠かれている。このため、金属カバー60″は、封止樹脂50が金属カバー60″が回路基板10に接するべき部分にある程度の幅および厚さでもって流出した場合でも、封止樹脂50を避けることが可能である。
【0022】
尚、金属カバーにおいて、切欠部には金属板が存在しないので、その部分における電磁シールド作用が期待できない場合がある。よって、切欠部は、封止樹脂が流出する可能性のある箇所に設けることは勿論であるが、その大きさや形状は、その箇所に切欠部を設けたときに電磁シールド作用が十分に働くかをも考慮して決定すべきである。
【0023】
[実施の形態3]
図7は、本発明の実施の形態3による電子部品モジュールとしての赤外線受光モジュールを示す上面図である。図7を参照して、本赤外線受光モジュールは、実施の形態1と同様に、所定のパターンが形成された回路基板10と、回路基板10上に実装されたベアフォトダイオード20およびベアIC30を含むベアチップならびにチップ抵抗41およびチップコンデンサ42を含むチップ部品を含む電子部品と、ベアフォトダイオード20およびベアIC30を封止した赤外線透過性の封止樹脂50と、回路基板10上に実装された電子部品を覆うように回路基板10に取り付けられる電磁シールド用の金属カバー(図示せず)とを有している。
【0024】
回路基板10上には、定位置に取り付けられた金属カバーの機械的固定およびアースパターンへの電気的接続をなすためのはんだ付けランド12が形成されている。金属カバーは、実施の形態1と同様に、定位置に取り付けられた後、その端部がはんだ付けランド12にはんだ付けされる。
【0025】
さて、チップ抵抗41およびチップコンデンサ42は、ベアフォトダイオード20およびベアIC30と回路基板10上のはんだ付けランド12との間に実装されている。詳しくは、チップ抵抗41およびチップコンデンサ42はほぼ直方体形状を呈しており、その長手方向をベアフォトダイオード20およびベアIC30からはんだ付けランド12へ向かう封止樹脂50の流出方向に対して直角にして実装されている。
【0026】
ベアフォトダイオード20およびベアIC30に塗布される際の液状の封止樹脂50は、その量が適量よりも多かったり、環境温度が適温よりも高かったりすると、粘度が低下する。粘度が低下した封止樹脂50は、所望される塗布領域外に流れ出す。しかし、本赤外線受光モジュールでは、流出する封止樹脂50がはんだ付けランド12に到達することを塞き止めるので、金属カバーを定位置に取り付けた後に金属カバーの端部をはんだ付けランド12にはんだ付けできる。
【0027】
本発明においては、ベアチップと封止樹脂塗布後に回路基板上の本来何等かの部品が接触すべき領域との間に電子部品を実装することで、硬化前の封止樹脂が前記領域に到達することを塞き止めることができる。また、この電子部品は、実施の形態のごとくチップ部品に限らず、封止樹脂の塗布前に回路基板上に実装される所定の寸法以上の高さを持つ部品であって、なおかつ封止樹脂に若干覆われてもその動作に支障を来すことがない部品であればよい。
【0028】
尚、ベアチップと上記領域との間に実装される電子部品は、電子回路的にも所定の位置に配されるべきである。即ち、電子部品が本モジュールの電子回路中にて所定の位置になるように、回路基板にパターンを調整して形成する。このため、封止樹脂の流出に関する対策を施さずに電子回路パターンを優先する従来例よりも回路基板が大型になる可能性がある。しかし、枠状部材や凸状インクによる対策を施す従来例に比べて回路基板が小型であることはいうまでもない。
【0029】
[実施の形態4]
本発明の実施の形態4は、実施の形態3の変形例である。図8は、本発明の実施の形態4による電子部品モジュールとしての赤外線受光モジュールを示す上面図である。図8を参照して、本赤外線受光モジュールは、実施の形態3と同様に、回路基板10と、ベアフォトダイオード20およびベアIC30を含むベアチップならびにチップ抵抗41およびチップコンデンサ42を含むチップ部品を含む電子部品と、電磁シールド用の金属カバー(図示せず)とを有している。回路基板10上には、定位置に取り付けられた金属カバーの機械的固定およびアースパターンへの電気的接続をなすためのはんだ付けランド12が形成されている。金属カバーは、定位置に取り付けられた後、その端部がはんだ付けランド12にはんだ付けされる。
【0030】
チップ抵抗41およびチップコンデンサ42は、ベアフォトダイオード20およびベアIC30と回路基板10上のはんだ付けランド12との間に実装されている。詳しくは、チップ抵抗41およびチップコンデンサ42はほぼ直方体形状を呈しており、その長手方向をベアフォトダイオード20およびベアIC30からはんだ付けランド12へ向かう封止樹脂50の流出方向に対して直角にして実装されている。
【0031】
さらに、本実施の形態では、ベアフォトダイオード20を封止した赤外線透過性の封止樹脂51と、ベアIC30を封止した封止樹脂52とを有している。封止樹脂52は、赤外線透過性でなくてもよい。
【0032】
封止樹脂51、52は、粘度が低下すると、所望される塗布領域外に流れ出す。しかし、本赤外線受光モジュールでは、流出する封止樹脂51、52がはんだ付けランド12に到達することを塞き止めるので、金属カバーを定位置に取り付けた後に金属カバーの端部をはんだ付けランド12にはんだ付けできる。
【0033】
さて、本モジュールのごとく、ベアチップが複数ある場合には、例えば1つの注入治具から複数のベアチップのほぼ中心部に封止樹脂を塗布するよりも、複数のベアチップのそれぞれに対して個別に封入樹脂を塗布した方が、封入樹脂が所望される塗布領域外へ流出しにくいことがある。
【0034】
尚、封止樹脂52が赤外線透過性ではない場合には、封止樹脂52がベアフォトダイオード20を覆うことでベアフォトダイオード20に入射されるべき赤外線が遮られることがないように、封止樹脂51をベアフォトダイオード20に塗布して、ある程度の高さおよび領域を確保した後に、封止樹脂52をベアIC30に塗布する。
【0035】
[実施の形態5]
図9(a)および(b)、図10、ならびに図11は、本発明の実施の形態5による電子部品モジュールとしての赤外線受光モジュールを示す図であり、図9(a)および(b)は各状態の斜視図、図10は分解斜視図、さらに図11は縦断面図である。図9〜11を参照して、本赤外線受光モジュールは、回路基板10と、回路基板10の表面に実装されたベアフォトダイオード20および裏面に実装されたベアIC30を含むベアチップならびに裏面に実装されたチップ抵抗41(図9〜11には、図示せず)およびチップコンデンサ42を含むチップ部品を含む電子部品と、ベアフォトダイオード20を封止した赤外線透過性の封止樹脂53と、ベアIC30を封止した封止樹脂54と、回路基板10の縁端部に嵌め込まれてさらにはんだ付けされるリード端子70と、回路基板10を覆うように互いに組み合わされる上カバー66および下カバー67とを有している。上カバー66には、ベアフォトダイオード20に対応する位置に受光窓68が形成されている。本モジュールは、製造後出荷段階では図9(a)に示すようにリード端子70が直線上に延びており、本モジュールを使用する段階、即ち、他の回路基板にモジュール自体を実装する際には図9(b)に示すようにリード端子70が折り曲げられる。
【0036】
図12は、回路基板10の裏面を上カバー66、下カバー67、およびリード端子70を取り除いて示す図である。回路基板10の裏面には、チップ抵抗41も実装されている。図中、符号C67で示す領域は、下カバー67の一部が回路基板10の裏面に接触する領域である。
【0037】
本モジュールでは、その回路基板10の裏面にて、チップコンデンサ42の1つが、ベアIC30と領域C67との間に実装されている。詳しくは、チップコンデンサ42はほぼ直方体形状を呈しており、その長手方向をベアIC30から領域C67へ向かう封止樹脂54の流出方向に対して直角にして実装されている。これにより、硬化前の封止樹脂54が下カバー67の一部が接するべき領域に到達することが塞き止められている。
【0038】
【発明の効果】
本発明による電子部品モジュールは、回路基板と、回路基板上に実装されたベアチップを含む電子部品と、ベアチップを封止した封止樹脂と、回路基板上に実装された電子部品を覆うように回路基板に取り付けられるカバーとを有する電子部品モジュールにおいて、カバーが、その回路基板に接するべき部分に、封止樹脂を避けるための凹部を備えているか、あるいは、電子部品のうちの少くとも1つが、ベアチップと回路基板上のはんだ付けされるべき領域との間に実装され、硬化前の封止樹脂がはんだ付けされるべき領域に到達することを塞き止めるものであるため、液状のベアチップ用の封止樹脂があっては困る領域へ流出することを、作業工数を増加することなく、また新規に部品を用いることもなく、防止できる。
【0039】
詳しくは、従来のごとく、封止樹脂を困難な手作業により塗布することなく、例えば、自動塗布装置を用いて概ねの量を塗布することができるので、手作業のように時間を要することがなく、工業的量産性に優れている。
【0040】
また、封止樹脂の塗布前に回路基板上に、枠部材を取り付けたり、厚肉のインクを枠状に印刷する必要がないので、部品数が増加することがなく、回路基板上に余計なスペースを必要とせず、さらに作業工数が増加することもない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態1による電子部品モジュールとしての赤外線受光モジュールを示す斜視図である。
【図2】図1に示す電子部品モジュールの矢視Aによる側面図である。
【図3】図1に示す電子部品モジュールの金属カバーを外した上面図である。
【図4】図1に示す電子部品モジュールの切断線B−B′による縦断面図である。
【図5】本発明の実施の形態2による電子部品モジュールとしての赤外線受光モジュールを示す側面図である。
【図6】本発明の実施の形態2による電子部品モジュールとしての赤外線受光モジュールを示す側面図である。
【図7】本発明の実施の形態3による電子部品モジュールとしての赤外線受光モジュールを示す上面図である。
【図8】本発明の実施の形態4による電子部品モジュールとしての赤外線受光モジュールを示す上面図である。
【図9】(a)および(b)共に、本発明の実施の形態5による電子部品モジュールとしての赤外線受光モジュールを示す斜視図である。
【図10】図9に示す電子部品モジュールの分解斜視図である。
【図11】図9に示す電子部品モジュールの縦断面図である。
【図12】図9に示す電子部品モジュールの回路基板の裏面を示す図である。
【図13】従来例による電子部品モジュールとしての赤外線受光モジュールを示す斜視図である。
【図14】図13に示す電子部品モジュールの矢視Eによる側面図である。
【図15】図13に示す電子部品モジュールの金属カバーを外した上面図である。
【図16】(a)および(b)は、図13に示す電子部品モジュールの切断線D−D′による縦断面図である。
【図17】(a)および(b)共に、従来例による電子部品モジュールとしての赤外線受光モジュールを示す図である。
【符号の説明】
10 回路基板
20 ベアフォトダイオード
30 ベアIC
41 チップ抵抗
42 チップコンデンサ
50、51、52、53、54 封止樹脂
60、60′、60″、160 金属カバー
61、61′、61″ 切欠部
65、68、165 受光窓
66 上カバー
67 下カバー
70 リード端子
80 枠部材
90 凸状インク
Claims (3)
- 回路基板と、前記回路基板上に実装されたベアチップを含む電子部品と、前記ベアチップを封止した封止樹脂と、前記回路基板上に実装された前記電子部品を覆うように前記回路基板に取り付けられるカバーとを有する電子部品モジュールにおいて、
前記カバーは、その前記回路基板に接するべき部分に、前記封止樹脂を避けるための凹部を備えていることを特徴とする電子部品モジュール。 - 回路基板と、前記回路基板上に実装されたベアチップおよびこの他の電子部品を含む電子部品群と、前記ベアチップを封止した封止樹脂とを有する電子部品モジュールにおいて、
前記電子部品のうちの少くとも1つは、前記ベアチップと前記回路基板上のはんだ付けされるべき領域との間に実装され、硬化前の前記封止樹脂が前記はんだ付けされるべき領域に到達することを塞き止めるものであることを特徴とする電子部品モジュール。 - 回路基板と、前記回路基板上に実装されたベアチップおよびこの他の電子部品を含む電子部品群を含む電子部品と、前記ベアチップを封止した封止樹脂と、前記回路基板上に実装された前記電子部品を覆うように前記回路基板に取り付けられるカバーとを有する電子部品モジュールにおいて、
前記電子部品のうちの少くとも1つは、前記ベアチップと前記回路基板上の前記カバーの一部が接するべき領域との間に実装され、硬化前の前記封止樹脂が前記回路基板上の前記領域に到達することを塞き止めるものであることを特徴とする電子部品モジュール。
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