JP3536685B2 - 放射線検出装置 - Google Patents
放射線検出装置Info
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、医用、食品、非破
壊検査等の分野に利用することのできる放射線検出装置
に関する。
壊検査等の分野に利用することのできる放射線検出装置
に関する。
【０００２】
【従来の技術】Ｘ線をはじめとする放射線を被写体に照
射することによって得られる被写体の放射線透過像等を
観察する放射線検出装置においては、一般に、放射線源
に対向して１次元もしくは２次元の放射線検出器を配置
し、その間に被写体を静止もしくは通過させる。
射することによって得られる被写体の放射線透過像等を
観察する放射線検出装置においては、一般に、放射線源
に対向して１次元もしくは２次元の放射線検出器を配置
し、その間に被写体を静止もしくは通過させる。
【０００３】例えば１次元Ｘ線検出器を使用した食品用
Ｘ線検査装置を例に取ると、この種の装置においては、
通常、被検査物をベルトコンベア上に載せて、Ｘ線管と
１次元Ｘ線検出器の間を通過させ、Ｘ線検出器からの出
力を用いて被検査物の透過Ｘ線像または異物の有無等を
判定する。１次元Ｘ線検出器は、例えば、図５にその構
造を模式的断面図で示すように、ｎ型半導体ｎ内にｐ型
半導体ｐを１次元状に並べたＭＯＳ型１次元イメージセ
ンサ５１の有感面に、Ｇｄ2 Ｏ2 Ｓ：Ｔｂからなるシン
チレータシート５２を配置した構造のもの等が用いら
れ、各素子ごとに異なる固有のオフセット値および感度
差がある。この各素子ごとのオフセット値および感度差
は、一般に、実際の検査に先立つ補正データ取得ルーチ
ンにより取得され、実際の検査に際しては、各素子から
の出力データはデータ処理手段において補正データを用
いた補正演算が施されたうえで画素情報等として使用さ
れる。
Ｘ線検査装置を例に取ると、この種の装置においては、
通常、被検査物をベルトコンベア上に載せて、Ｘ線管と
１次元Ｘ線検出器の間を通過させ、Ｘ線検出器からの出
力を用いて被検査物の透過Ｘ線像または異物の有無等を
判定する。１次元Ｘ線検出器は、例えば、図５にその構
造を模式的断面図で示すように、ｎ型半導体ｎ内にｐ型
半導体ｐを１次元状に並べたＭＯＳ型１次元イメージセ
ンサ５１の有感面に、Ｇｄ2 Ｏ2 Ｓ：Ｔｂからなるシン
チレータシート５２を配置した構造のもの等が用いら
れ、各素子ごとに異なる固有のオフセット値および感度
差がある。この各素子ごとのオフセット値および感度差
は、一般に、実際の検査に先立つ補正データ取得ルーチ
ンにより取得され、実際の検査に際しては、各素子から
の出力データはデータ処理手段において補正データを用
いた補正演算が施されたうえで画素情報等として使用さ
れる。
【０００４】すなわち、補正データ取得ルーチンでは、
図６にそのフローチャートを例示するように、Ｘ線非照
射時の各素子の出力データと、Ｘ線照射時の各素子の出
力データを採取し、Ｘ線非照射時の各素子の出力データ
をオフセットデータＯｉとして記憶するとともに、Ｘ線
照射時の各素子の出力データから該当のオフセットデー
タＯｉを減算した値を感度補正データＳｉとして記憶す
る。そして実際の検査ルーチンにおいては、データ処理
手段にて各素子からの出力（生データ）Ｒｉから該当の
オフセットデータＯｉを減算した後、その各減算後の値
（中間データ）Ｘｉを該当の感度補正データＳｉで除算
することによって補正後のデータＹｉを求める。
図６にそのフローチャートを例示するように、Ｘ線非照
射時の各素子の出力データと、Ｘ線照射時の各素子の出
力データを採取し、Ｘ線非照射時の各素子の出力データ
をオフセットデータＯｉとして記憶するとともに、Ｘ線
照射時の各素子の出力データから該当のオフセットデー
タＯｉを減算した値を感度補正データＳｉとして記憶す
る。そして実際の検査ルーチンにおいては、データ処理
手段にて各素子からの出力（生データ）Ｒｉから該当の
オフセットデータＯｉを減算した後、その各減算後の値
（中間データ）Ｘｉを該当の感度補正データＳｉで除算
することによって補正後のデータＹｉを求める。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記のよう
なＸ線検査装置等においては、Ｘ線管とコンベアとの距
離をいくらにするかが重要なシステム設計値となる。す
なわち、Ｘ線管は一般に４５°程度の照射角を持ち、被
写体（被検査物）に近づけると距離の２乗に反比例して
Ｘ線強度が強くなり、Ｓ／Ｎが向上して検査能力／スル
ープットが高まる反面、検査幅と被検査物の許容高さが
狭くなる。一方、Ｘ線管を被検査物から遠ざけるとＸ線
強度は弱くなるが、検査幅と被検査物の許容高さが広く
なる。従って、Ｘ線管とコンベアとの距離は、被検査物
の大きさや検査目的等に応じて最適となるように設計さ
れる。
なＸ線検査装置等においては、Ｘ線管とコンベアとの距
離をいくらにするかが重要なシステム設計値となる。す
なわち、Ｘ線管は一般に４５°程度の照射角を持ち、被
写体（被検査物）に近づけると距離の２乗に反比例して
Ｘ線強度が強くなり、Ｓ／Ｎが向上して検査能力／スル
ープットが高まる反面、検査幅と被検査物の許容高さが
狭くなる。一方、Ｘ線管を被検査物から遠ざけるとＸ線
強度は弱くなるが、検査幅と被検査物の許容高さが広く
なる。従って、Ｘ線管とコンベアとの距離は、被検査物
の大きさや検査目的等に応じて最適となるように設計さ
れる。
【０００６】Ｘ線管とコンベアとの距離を変化させる
と、通常コンベア直下にＸ線検出器があるためＸ線検出
器中にＸ線が照射されない領域が発生することがある。
すなわち、図７に示すように、Ｘ線管７１の照射角を４
５°としたとき、Ｘ線管７１とＸ線検出器７２との間の
距離が７００ｍｍの場合にはＸ線の照射領域は１次元方
向で５８０ｍｍに及ぶが、その距離を４００ｍｍとする
と照射領域は３３１ｍｍとなり、Ｘ線検出器７２の同方
向への寸法が３３１ｍｍよりも長い場合にはＸ線の非照
射領域Ｎが発生する。
と、通常コンベア直下にＸ線検出器があるためＸ線検出
器中にＸ線が照射されない領域が発生することがある。
すなわち、図７に示すように、Ｘ線管７１の照射角を４
５°としたとき、Ｘ線管７１とＸ線検出器７２との間の
距離が７００ｍｍの場合にはＸ線の照射領域は１次元方
向で５８０ｍｍに及ぶが、その距離を４００ｍｍとする
と照射領域は３３１ｍｍとなり、Ｘ線検出器７２の同方
向への寸法が３３１ｍｍよりも長い場合にはＸ線の非照
射領域Ｎが発生する。
【０００７】ここで、Ｘ線の補正データ取得ルーチンに
おいては、補正データの取得時にＸ線管とＸ線検出器と
の間に物品等が介在していると正確な補正ができないた
め、Ｘ線照射時における各素子出力に、あらかじめ設定
されているスレッシュホールド値を越えないものが存在
していると、Ｘ線検出器が一部遮蔽されている旨のエラ
ー警告を発する機能を設ける場合があり、この場合、上
記のようにＸ線の非照射領域Ｎが生じている場合にはエ
ラー警告が発せられ、補正データ取得ルーチンが実行さ
れなくなってしまう。また、このような警告機能を設け
ていない場合には、Ｘ線の非照射領域に関しては誤った
感度補正データが取得される結果、実際の検査時におけ
る補正後のデータもでたらめなものとなって、得られる
Ｘ線像が異常なものとなってしまうという問題がある。
なお、このような問題を解決するためには、Ｘ線検出器
の長さを、Ｘ線管との距離に応じて変更して、全素子に
Ｘ線が照射されるようにすればよいのであるが、これで
は検出器の種類が増え、実用上は困難である。
おいては、補正データの取得時にＸ線管とＸ線検出器と
の間に物品等が介在していると正確な補正ができないた
め、Ｘ線照射時における各素子出力に、あらかじめ設定
されているスレッシュホールド値を越えないものが存在
していると、Ｘ線検出器が一部遮蔽されている旨のエラ
ー警告を発する機能を設ける場合があり、この場合、上
記のようにＸ線の非照射領域Ｎが生じている場合にはエ
ラー警告が発せられ、補正データ取得ルーチンが実行さ
れなくなってしまう。また、このような警告機能を設け
ていない場合には、Ｘ線の非照射領域に関しては誤った
感度補正データが取得される結果、実際の検査時におけ
る補正後のデータもでたらめなものとなって、得られる
Ｘ線像が異常なものとなってしまうという問題がある。
なお、このような問題を解決するためには、Ｘ線検出器
の長さを、Ｘ線管との距離に応じて変更して、全素子に
Ｘ線が照射されるようにすればよいのであるが、これで
は検出器の種類が増え、実用上は困難である。
【０００８】本発明はこのような実情に鑑みてなされた
もので、放射線検出器の長さを変更することなく、放射
線源と放射線検出器間の距離を任意に設定して放射線の
非照射領域が生じても、放射線像が異常なものとなるな
どの不具合の生じることのない放射線検出装置の提供を
目的としている。
もので、放射線検出器の長さを変更することなく、放射
線源と放射線検出器間の距離を任意に設定して放射線の
非照射領域が生じても、放射線像が異常なものとなるな
どの不具合の生じることのない放射線検出装置の提供を
目的としている。
【０００９】上記の目的を達成するため、請求項１に係
る発明の放射線検出装置は、入力放射線量に応じて発光
するシンチレータと複数の受光素子およびその各素子の
出力信号の転送機能を備えた１次元もしくは２次元光セ
ンサとが相互に固着されてなる放射線検出器と、その放
射線検出器の各素子出力を入力し、素子出力のオフセッ
ト補正並びに素子間感度補正演算を個々の素子ごとに行
って出力するデータ処理手段を備えた放射線検出装置に
おいて、上記補正演算のためのデータ採取時に、各素子
ごとに放射線が照射されているか否かを判別する判別手
段を有し、上記データ処理手段は、補正演算の実行時
に、上記判別手段による判別結果に従って放射線が照射
されていない素子については、補正演算を実行せずに補
正後のデータとしてあらかじめ設定された一定値を出力
するように構成されていることによって特徴づけられ
る。
る発明の放射線検出装置は、入力放射線量に応じて発光
するシンチレータと複数の受光素子およびその各素子の
出力信号の転送機能を備えた１次元もしくは２次元光セ
ンサとが相互に固着されてなる放射線検出器と、その放
射線検出器の各素子出力を入力し、素子出力のオフセッ
ト補正並びに素子間感度補正演算を個々の素子ごとに行
って出力するデータ処理手段を備えた放射線検出装置に
おいて、上記補正演算のためのデータ採取時に、各素子
ごとに放射線が照射されているか否かを判別する判別手
段を有し、上記データ処理手段は、補正演算の実行時
に、上記判別手段による判別結果に従って放射線が照射
されていない素子については、補正演算を実行せずに補
正後のデータとしてあらかじめ設定された一定値を出力
するように構成されていることによって特徴づけられ
る。
【００１０】ここで、上記の判別手段による素子ごとの
放射線照射／非照射の判別の具体的な方法としては、例
えば、補正データを採取すべく放射線検出器に対して放
射線を照射した状態での各素子の出力が、あらかじめ設
定されたスレッシュホールド値を越えているか否か、な
どの方法を採用することができる。
放射線照射／非照射の判別の具体的な方法としては、例
えば、補正データを採取すべく放射線検出器に対して放
射線を照射した状態での各素子の出力が、あらかじめ設
定されたスレッシュホールド値を越えているか否か、な
どの方法を採用することができる。
【００１１】また、同じ目的を達成するため、請求項２
に係る発明の放射線検出装置は、請求項１に記載の判別
手段に代えて、当該装置の初期設定時にあらかじめ設定
された放射線照射有効領域を素子単位で記憶する記憶手
段を備え、上記データ処理手段は、上記補正演算の実行
時に、上記記憶手段の記憶内容に従って放射線非照射素
子については、補正演算を実行せずに補正後のデータと
してあらかじめ設定された一定値を出力するように構成
されていることによって特徴づけられる。
に係る発明の放射線検出装置は、請求項１に記載の判別
手段に代えて、当該装置の初期設定時にあらかじめ設定
された放射線照射有効領域を素子単位で記憶する記憶手
段を備え、上記データ処理手段は、上記補正演算の実行
時に、上記記憶手段の記憶内容に従って放射線非照射素
子については、補正演算を実行せずに補正後のデータと
してあらかじめ設定された一定値を出力するように構成
されていることによって特徴づけられる。
【００１２】本発明は、被写体に対して放射線を照射し
て実際に検査等を行う際、放射線源との距離設定に起因
して放射線が照射されない素子がある場合、その放射線
非照射素子に対しては、データ処理手段において実質的
に補正演算を施すことなく、一定値として出力すること
により、所期の目的を達成しようとするものである。
て実際に検査等を行う際、放射線源との距離設定に起因
して放射線が照射されない素子がある場合、その放射線
非照射素子に対しては、データ処理手段において実質的
に補正演算を施すことなく、一定値として出力すること
により、所期の目的を達成しようとするものである。
【００１３】すなわち、請求項１に係る発明では、前記
したように放射線を放射線検出器に対して照射する工程
を含む補正データの取得ルーチンにおいて、個々の素子
について放射線が照射されているか否かを判別してお
き、また、請求項２に係る発明では、装置の初期設定時
にあらかじめ設定された放射線非照射領域を素子単位で
記憶しておく。そして、実際に被写体に対して放射線を
照射して得られる各素子データの補正演算の実行時にお
いては、放射線が照射されないと判定もしくは記憶され
た素子については、補正演算を行うことなく一定値を補
正後のデータとして出力する。これにより、誤った補正
のもとに異常なデータを出力することを防止できると同
時に、不要な補正演算を省略することができる。そし
て、放射線の非照射領域にある素子の補正後の出力とし
て、例えば放射線照射領域に位置する素子に被写体を介
さずに直接的に放射線源からの放射線を照射したときの
出力と同等の値を設定しておけば、実質的にこれら両領
域の境界が存在しない放射線画像が得られる。
したように放射線を放射線検出器に対して照射する工程
を含む補正データの取得ルーチンにおいて、個々の素子
について放射線が照射されているか否かを判別してお
き、また、請求項２に係る発明では、装置の初期設定時
にあらかじめ設定された放射線非照射領域を素子単位で
記憶しておく。そして、実際に被写体に対して放射線を
照射して得られる各素子データの補正演算の実行時にお
いては、放射線が照射されないと判定もしくは記憶され
た素子については、補正演算を行うことなく一定値を補
正後のデータとして出力する。これにより、誤った補正
のもとに異常なデータを出力することを防止できると同
時に、不要な補正演算を省略することができる。そし
て、放射線の非照射領域にある素子の補正後の出力とし
て、例えば放射線照射領域に位置する素子に被写体を介
さずに直接的に放射線源からの放射線を照射したときの
出力と同等の値を設定しておけば、実質的にこれら両領
域の境界が存在しない放射線画像が得られる。
【００１４】ここで、請求項１に係る発明のように、補
正データの取得時に放射線の照射／非照射素子を判別す
る場合には、放射線源と放射線検出器との距離を必要に
応じて変更する可能性のある場合に有効であり、一方、
その距離が例えば工場出荷時等の初期設定時に設定した
後には変更しない場合には、請求項２に係る発明の構成
を採用することができる。
正データの取得時に放射線の照射／非照射素子を判別す
る場合には、放射線源と放射線検出器との距離を必要に
応じて変更する可能性のある場合に有効であり、一方、
その距離が例えば工場出荷時等の初期設定時に設定した
後には変更しない場合には、請求項２に係る発明の構成
を採用することができる。
【００１５】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつ本発明の
好適な実施の形態について述べる。図１は本発明をＸ線
異物検査装置に適用した実施の形態の全体構成を示す概
略図である。被検査物はコンベアシステム１上に載せら
れて一定の速度で流される。コンベアシステム１の上方
にはＸ線発生器２が設けられているとともに、そのＸ線
発生器２に対向してコンベアシステム１の下方に１次元
Ｘ線検出器３が配置されている。従って被検査物はコン
ベアシステム１上に載せられてＸ線発生器２と１次元Ｘ
線検出器３の間を一定速度で通過する。
好適な実施の形態について述べる。図１は本発明をＸ線
異物検査装置に適用した実施の形態の全体構成を示す概
略図である。被検査物はコンベアシステム１上に載せら
れて一定の速度で流される。コンベアシステム１の上方
にはＸ線発生器２が設けられているとともに、そのＸ線
発生器２に対向してコンベアシステム１の下方に１次元
Ｘ線検出器３が配置されている。従って被検査物はコン
ベアシステム１上に載せられてＸ線発生器２と１次元Ｘ
線検出器３の間を一定速度で通過する。
【００１６】１次元Ｘ線検出器３からの出力は演算制御
部４に取り込まれる。この演算制御部４は、操作部５か
ら供給される各種指令を受けてコンベアシステム１やＸ
線発生器２に駆動制御信号を供給するとともに、１次元
Ｘ線検出器３の各素子からのデータに対してオフセット
補正並びに感度補正を行った後、その補正後のデータを
用いて被検査物内の異物の有無を判定し、また、補正後
のデータを画像処理してＴＶモニタ６に表示する。
部４に取り込まれる。この演算制御部４は、操作部５か
ら供給される各種指令を受けてコンベアシステム１やＸ
線発生器２に駆動制御信号を供給するとともに、１次元
Ｘ線検出器３の各素子からのデータに対してオフセット
補正並びに感度補正を行った後、その補正後のデータを
用いて被検査物内の異物の有無を判定し、また、補正後
のデータを画像処理してＴＶモニタ６に表示する。
【００１７】１次元Ｘ線検出器３は、前記した図５に示
したものと同等のものであり、シンチレータシートとＭ
ＯＳ型１次元イメージセンサを組み合わせた公知のもの
である。また、この１次元Ｘ線検出器３には、図２に回
路構成図を示すように、１次元イメージセンサ３ａの各
素子出力を入力するアンプ３ｂおよびシフトレジスタ３
ｃを含む駆動ＩＣ３０が組み込まれており、１次元イメ
ージセンサ３ａ内の各素子の出力はアンプ３ｂで増幅さ
れた後、シフトレジスタのスイッチング動作によって出
力端子３ｄからシリアルデータとして出力される。
したものと同等のものであり、シンチレータシートとＭ
ＯＳ型１次元イメージセンサを組み合わせた公知のもの
である。また、この１次元Ｘ線検出器３には、図２に回
路構成図を示すように、１次元イメージセンサ３ａの各
素子出力を入力するアンプ３ｂおよびシフトレジスタ３
ｃを含む駆動ＩＣ３０が組み込まれており、１次元イメ
ージセンサ３ａ内の各素子の出力はアンプ３ｂで増幅さ
れた後、シフトレジスタのスイッチング動作によって出
力端子３ｄからシリアルデータとして出力される。
【００１８】演算制御部４には、通常の検査ルーチンを
実行するためのプログラムのほかに、その検査ルーチン
の実行に先立つ補正データ取得ルーチンを実行するため
のプログラムが書き込まれている。図３にその補正デー
タ取得ルーチンの内容を表すフローチャートを示す。
実行するためのプログラムのほかに、その検査ルーチン
の実行に先立つ補正データ取得ルーチンを実行するため
のプログラムが書き込まれている。図３にその補正デー
タ取得ルーチンの内容を表すフローチャートを示す。
【００１９】この補正データ取得ルーチンにおいては、
コンベアシステム１上に物品等を全く載せずに、まず、
Ｘ線発生器２をＯＦＦにした状態で、Ｘ線検出器３内の
各素子からの出力信号を取り込み、その各値をオフセッ
トデータＯｉとしてメモリに記憶する。次に、Ｘ線発生
器２をＯＮにしてＸ線を照射した状態で、Ｘ線検出器３
内の各素子からの出力信号を取り込み、その各値から該
当のオフセットデータＯｉを減算し、その減算値を感度
補正データＳｉとしてメモリに記憶する。そして、各素
子の感度データＳｉを、所定Ｘ線照射時の最低レベルデ
ータに相当するあらかじめ設定されたスレッシュホール
ド値と比較し、その値よりも感度データが低い素子につ
いてはＸ線非照射素子、高い素子についてはＸ線照射素
子と判別し、その判別結果をメモリに記憶する。
コンベアシステム１上に物品等を全く載せずに、まず、
Ｘ線発生器２をＯＦＦにした状態で、Ｘ線検出器３内の
各素子からの出力信号を取り込み、その各値をオフセッ
トデータＯｉとしてメモリに記憶する。次に、Ｘ線発生
器２をＯＮにしてＸ線を照射した状態で、Ｘ線検出器３
内の各素子からの出力信号を取り込み、その各値から該
当のオフセットデータＯｉを減算し、その減算値を感度
補正データＳｉとしてメモリに記憶する。そして、各素
子の感度データＳｉを、所定Ｘ線照射時の最低レベルデ
ータに相当するあらかじめ設定されたスレッシュホール
ド値と比較し、その値よりも感度データが低い素子につ
いてはＸ線非照射素子、高い素子についてはＸ線照射素
子と判別し、その判別結果をメモリに記憶する。
【００２０】通常の検査ルーチンでは、Ｘ線検出器３の
各素子からの出力を、上記のオフセットデータＯｉおよ
び感度データＳｉを用いて補正した上で、その補正後の
各素子データを用いて異物の有無判定および画像処理を
施す。その通常の検査ルーチンのうち、素子出力の補正
に係るルーチンを図４にフローチャートで示す。
各素子からの出力を、上記のオフセットデータＯｉおよ
び感度データＳｉを用いて補正した上で、その補正後の
各素子データを用いて異物の有無判定および画像処理を
施す。その通常の検査ルーチンのうち、素子出力の補正
に係るルーチンを図４にフローチャートで示す。
【００２１】この検査ルーチンにおいては、被検査物を
順次コンベアシステム１上に載せて流しつつＸ線を照射
し、一定のインターバルでＸ線検出器２から出力される
各素子ごとの出力データ（生データ）Ｒｉを取り込む。
そして、例えば素子数がｎ個であるとすると、ｉ＝１か
らｉ＝ｎまで、順次各素子の生データＲｉに対して補正
演算を行い、補正後のデータＹｉに変換してラインデー
タとして出力する動作を一定のインターバルで繰り返し
ていくのであるが、補正データ取得ルーチンにおいてＸ
線非照射素子と判別された素子の出力については、実質
的な補正を行わずに、その補正後のデータＹｉをあらか
じめ設定された一定値Ｋとする。一方、Ｘ線照射素子に
ついては、生データＲｉからオフセットデータＯｉを減
算して中間データＸｉを求めた後、その中間データＸｉ
を感度データＳｉで除算した値に定数Ｋを乗じることに
よって補正後のデータＹｉを求める。
順次コンベアシステム１上に載せて流しつつＸ線を照射
し、一定のインターバルでＸ線検出器２から出力される
各素子ごとの出力データ（生データ）Ｒｉを取り込む。
そして、例えば素子数がｎ個であるとすると、ｉ＝１か
らｉ＝ｎまで、順次各素子の生データＲｉに対して補正
演算を行い、補正後のデータＹｉに変換してラインデー
タとして出力する動作を一定のインターバルで繰り返し
ていくのであるが、補正データ取得ルーチンにおいてＸ
線非照射素子と判別された素子の出力については、実質
的な補正を行わずに、その補正後のデータＹｉをあらか
じめ設定された一定値Ｋとする。一方、Ｘ線照射素子に
ついては、生データＲｉからオフセットデータＯｉを減
算して中間データＸｉを求めた後、その中間データＸｉ
を感度データＳｉで除算した値に定数Ｋを乗じることに
よって補正後のデータＹｉを求める。
【００２２】以上の実施の形態によると、補正データ取
得ルーチンにおいてＸ線が照射されないと判定された素
子については、その出力に対して実質的な補正を行わず
に、補正後のデータＹｉとして、感度補正演算に用いら
れる定数Ｋと同じ値の一定値Ｋを出力するため、Ｘ線非
照射素子からの補正後のデータは、Ｘ線照射素子で、か
つ、被検査物を含めてＸ線発生器２との間に遮蔽物の存
在しない素子の補正後の出力と同じ値となり、得られる
画像データはあたかも全ての素子に対してＸ線が照射さ
れている場合と同等となる。また、Ｘ線非照射素子に関
しての不要な補正演算を行わないが故に、その分、演算
時間が短くなり、より高度な演算を行うことも可能とな
る。
得ルーチンにおいてＸ線が照射されないと判定された素
子については、その出力に対して実質的な補正を行わず
に、補正後のデータＹｉとして、感度補正演算に用いら
れる定数Ｋと同じ値の一定値Ｋを出力するため、Ｘ線非
照射素子からの補正後のデータは、Ｘ線照射素子で、か
つ、被検査物を含めてＸ線発生器２との間に遮蔽物の存
在しない素子の補正後の出力と同じ値となり、得られる
画像データはあたかも全ての素子に対してＸ線が照射さ
れている場合と同等となる。また、Ｘ線非照射素子に関
しての不要な補正演算を行わないが故に、その分、演算
時間が短くなり、より高度な演算を行うことも可能とな
る。
【００２３】ここで、以上の実施の形態では、補正デー
タ取得ルーチンを実行するごとにＸ線の照射／非照射素
子の判別を行うため、Ｘ線発生器２とコンベアシステム
１との距離を必要に応じて変更した場合でも、変更後に
おけるＸ線の照射／非照射素子を的確に判別することが
できる。
タ取得ルーチンを実行するごとにＸ線の照射／非照射素
子の判別を行うため、Ｘ線発生器２とコンベアシステム
１との距離を必要に応じて変更した場合でも、変更後に
おけるＸ線の照射／非照射素子を的確に判別することが
できる。
【００２４】ただし、Ｘ線発生器２とコンベアシステム
１との距離を変更しない装置にあっては、工場出荷時
等、装置の初期設定時にＸ線の非照射領域が決定するの
で、上記と同等の手法によってあらかじめＸ線の照射／
非照射素子を判別してメモリに記憶しておけば、補正デ
ータ取得ルーチンの実行時に判別を行う必要はない。
１との距離を変更しない装置にあっては、工場出荷時
等、装置の初期設定時にＸ線の非照射領域が決定するの
で、上記と同等の手法によってあらかじめＸ線の照射／
非照射素子を判別してメモリに記憶しておけば、補正デ
ータ取得ルーチンの実行時に判別を行う必要はない。
【００２５】また、以上の実施の形態はＸ線を用いた異
物検査装置に本発明を適用したが、他の非破壊検査装置
や医用のＸ線像撮像装置等にも本発明を適用することが
でき、更には、ガンマ線等の他の放射線を用いた装置に
も本発明を適用し得ることは勿論である。更にまた、以
上の実施の形態は、Ｘ線検出器と補正演算処理部が分離
したものであるが、それらを一体化したものにも等しく
適用できることは勿論である。
物検査装置に本発明を適用したが、他の非破壊検査装置
や医用のＸ線像撮像装置等にも本発明を適用することが
でき、更には、ガンマ線等の他の放射線を用いた装置に
も本発明を適用し得ることは勿論である。更にまた、以
上の実施の形態は、Ｘ線検出器と補正演算処理部が分離
したものであるが、それらを一体化したものにも等しく
適用できることは勿論である。
【００２６】更にまた、以上の実施の形態では１次元の
放射線検出器を用いた例を示したが、２次元の放射線検
出器を用いた放射線検出装置にも本発明を等しく適用し
得ることは言うまでもない。
放射線検出器を用いた例を示したが、２次元の放射線検
出器を用いた放射線検出装置にも本発明を等しく適用し
得ることは言うまでもない。
【００２７】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、放射線
源と放射線検出器との距離を適宜に設定することによっ
て、放射線検出器中の素子群に放射線が照射されない素
子が発生しても、その放射線非照射素子は補正データ取
得ルーチンで判別され、あるいは装置の初期設定時にお
いてあらかじめ記憶されて、その非照射素子の出力につ
いては補正演算を行わずに一定値として出力するため、
放射線源と放射線検出器との距離に応じて放射線検出器
の長さないしは面積を変更することなく、１種類の放射
線検出器を用いて問題を生じることなく装置を構築する
ことができる。
源と放射線検出器との距離を適宜に設定することによっ
て、放射線検出器中の素子群に放射線が照射されない素
子が発生しても、その放射線非照射素子は補正データ取
得ルーチンで判別され、あるいは装置の初期設定時にお
いてあらかじめ記憶されて、その非照射素子の出力につ
いては補正演算を行わずに一定値として出力するため、
放射線源と放射線検出器との距離に応じて放射線検出器
の長さないしは面積を変更することなく、１種類の放射
線検出器を用いて問題を生じることなく装置を構築する
ことができる。
【００２８】また、放射線非照射素子についてその出力
に補正演算を施さないために、演算時間に要する時間が
短くなり、その分をより高度な演算に充てることができ
る、といった利点もある。
に補正演算を施さないために、演算時間に要する時間が
短くなり、その分をより高度な演算に充てることができ
る、といった利点もある。
【図１】本発明の実施の形態の全体構成図を示す概略図
である。
である。
【図２】図１におけるＸ線検出器３の回路構成例を示す
回路図である。
回路図である。
【図３】本発明の実施の形態の演算制御部４に書き込ま
れた補正データ取得ルーチンの実行プログラムの内容を
示すフローチャートである。
れた補正データ取得ルーチンの実行プログラムの内容を
示すフローチャートである。
【図４】同じく本発明の実施の形態の演算制御部４に書
き込まれた検査ルーチン中の素子データの補正に係るル
ーチンの内容を示すフローチャートである。
き込まれた検査ルーチン中の素子データの補正に係るル
ーチンの内容を示すフローチャートである。
【図５】一般的な１次元Ｘ線検出器の構造例を示す模式
的断面図である。
的断面図である。
【図６】従来のＸ線検出器における補正データ取得ルー
チンの内容を示すフローチャートである。
チンの内容を示すフローチャートである。
【図７】Ｘ線管とＸ線検出器との間の距離の変化に基づ
くＸ線照射領域の変化の説明図である。
くＸ線照射領域の変化の説明図である。
１ コンベアシステム
２ Ｘ線発生器
３ １次元Ｘ線検出器
４ 演算制御部
５ 操作部
６ ＴＶモニタ
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01T 1/20
G01N 23/04
A61B 6/03
G01T 1/00
Claims (2)
- 【請求項１】 入力放射線量に応じて発光するシンチレ
ータと複数の受光素子およびその各素子の出力信号の転
送機能を備えた１次元もしくは２次元光センサとが相互
に固着されてなる放射線検出器と、その放射線検出器の
各素子出力を入力し、素子出力のオフセット補正並びに
素子間感度補正演算を個々の素子ごとに行って出力する
データ処理手段を備えた放射線検出装置において、上記
補正演算のためのデータ採取時に、各素子ごとに放射線
が照射されているか否かを判別する判別手段を有し、上
記データ処理手段は、補正演算の実行時に、上記判別手
段による判別結果に従って放射線が照射されていない素
子については、補正演算を実行せずに補正後のデータと
してあらかじめ設定された一定値を出力するように構成
されていることを特徴とする放射線検出装置。 - 【請求項２】 請求項１に記載の判別手段に代えて、当
該装置の初期設定時にあらかじめ設定された放射線照射
有効領域を素子単位で記憶する記憶手段を備え、上記デ
ータ処理手段は、上記補正演算の実行時に、上記記憶手
段の記憶内容に従って放射線非照射素子については、補
正演算を実行せずに補正後のデータとしてあらかじめ設
定された一定値を出力するように構成されていることを
特徴とする放射線検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27805798A JP3536685B2 (ja) | 1998-09-30 | 1998-09-30 | 放射線検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27805798A JP3536685B2 (ja) | 1998-09-30 | 1998-09-30 | 放射線検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000111650A JP2000111650A (ja) | 2000-04-21 |
| JP3536685B2 true JP3536685B2 (ja) | 2004-06-14 |
Family
ID=17592065
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27805798A Expired - Fee Related JP3536685B2 (ja) | 1998-09-30 | 1998-09-30 | 放射線検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3536685B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5729667B2 (ja) * | 2011-07-16 | 2015-06-03 | イメージテック株式会社 | Ｘ線検査装置およびｘ線検査装置用コンピュータプログラム |
| KR101821714B1 (ko) * | 2016-10-18 | 2018-01-24 | 한밭대학교 산학협력단 | 스택 모니터링 시스템 |
| KR101842562B1 (ko) * | 2016-10-31 | 2018-03-28 | 한국수력원자력 주식회사 | 방사능 기반 피폭선질 분석 장치 및 방법 |
-
1998
- 1998-09-30 JP JP27805798A patent/JP3536685B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2000111650A (ja) | 2000-04-21 |
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