JPH09257938A

JPH09257938A - Ｘ線検出装置

Info

Publication number: JPH09257938A
Application number: JP6614996A
Authority: JP
Inventors: Kenji Sato; 賢治佐藤
Original assignee: Shimadzu Corp
Current assignee: Shimadzu Corp
Priority date: 1996-03-22
Filing date: 1996-03-22
Publication date: 1997-10-03

Abstract

(57)【要約】【課題】高感度にＸ線の検出ができ、しかも、誤差の
少ない高精度なＸ線の検出ができるＸ線検出装置を提供
する。【解決手段】検出器１の各Ｘ線検出素子で検出された
信号は、信号処理部２において積分処理やフィルタ処理
等が施されて、Ｘ線の計数値として一旦メモリー部３に
蓄えられる。演算部４は、計数値ｄ(i,j) が得られたＸ
線検出素子を中心とする近傍の検出素子の計数値をメモ
リー部３から読み出し、予め係数記憶部５に記憶された
影響係数を用いて計数値ｄ(i,j) に含まれる二次Ｘ線に
よるクロストーク量を計算し、計数値ｄ(i,j) から減算
することで、真の計数値Ｄ( ｉ, ｊを算出する。算出さ
れた計数値Ｄ( ｉ, ｊ) は、第２のメモリ部６に逐一記
憶さ表示部７に撮像されたＸ線分布が表示される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、医療分野、物理分
野、工業分野等で、Ｘ線分布を高い空間分解能で計測す
るのに利用されるＸ線検出装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】２次元もしくは１次元状にＸ線検出素子
を配列したＸ線検出器を用いて、Ｘ線分布を求めるＸ線
検出装置は、医療用Ｘ線撮像装置や、高エネルギー物理
学実験等において位置敏感型Ｘ線検出装置等として広く
使用されており、通常、これらのＸ線検出器として、Ｘ
線の感度を高めるため、高原子番号の元素を高い組成で
含ませたＸ線検出素子からなる半導体検出器、ガス検出
器、及びシンチレータや輝尽蛍光板等が用いられてい
る。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、原子番
号の高い元素は、Ｘ線に対して高感度で反応するが、同
時に二次Ｘ線が発生する確率も極めて高いという特質が
あるため、高原子番号の元素を高い組成で含ませたＸ線
検出素子を用いた従来の高感度のＸ線検出装置では、検
出器内部で生じた二次Ｘ線クロストークの作用で計数値
に誤差が含まれることが多く、装置本来の空間分解能が
得られないという問題点があった。

【０００４】本発明は、これらの課題を解決するために
創案されたものであって、高感度にＸ線の検出ができ、
しかも、誤差の少ない高精度なＸ線の検出ができるＸ線
検出装置を提供することを目的とする。

【０００５】

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明は、検出素子をアレイ状に配設したＸ線検出
器を用いて、Ｘ線分布を求めるＸ線検出装置において、
各検出素子を中心とする近傍の検出素子がその中心とな
る検出素子へ及ぼすクロストークによる影響係数を記憶
する係数記憶手段と、Ｘ線の検出時に、前記係数記憶手
段に記憶された影響係数を用いて、近傍の検出素子より
生じた各検出素子へのクロストーク量を求め、各検出素
子の検出値を対応するクロストーク量で補正することに
より真の検出値を算出する演算手段と、を備えたことを
特徴とする。

【０００６】また、検出素子を２次元状に配設したＸ線
検出器を用いて、Ｘ線分布を求めるＸ線検出装置にであ
って、前後左右方向の検出素子へのクロストークの割合
を示す影響係数ａと、斜め方向の検出素子へのクロスト
ークの割合を示す影響係数ｂを記憶する係数記憶手段
と、各検出素子の検出値ｄ(x,y) 、及びその検出素子を
中心とする５×５のウインドウ内の検出素子の検出値ｄ
(x+p,y+q) （-2≦p,q ≦2,p ≠0,q ≠0 ）と、前記影響
係数ａ、ｂとを用いて、Ｄ(x,y)=｛ｄ(x,y)-a{ｄ(x-1,y)+ｄ(x,y-1)+ｄ(x,y+1)+
ｄ(x+1,y)}-b{ｄ(x-1,y-1)+ｄ(x-1,y+1)+ｄ(x+1,y-1)+
ｄ(x+1,y+1)}+a²[ ｄ(x-2,y)+ｄ(x,y-2)+ｄ(x,y+2)+ｄ
(x+2,y)+2{ ｄ(x-1,y-1)+ｄ(x-1,y+1)+ｄ(x+1,y-1)+ｄ
(x+1,y+1)}]+2ab[ ｄ(x-2,y-1)+ｄ(x-2,y+1)+ｄ(x-1,y-
2)+ｄ(x-1,y+2)+ ｄ(x+1,y-2)+ｄ(x+1,y+2)+ｄ(x+2,y-
1)+ｄ(x+2,y+1)+2{ ｄ(x-1,y)+ｄ(x,y-1)+ｄ(x,y+1)+ｄ
(x+1,y)}]+b²[ ｄ(x-2,y-2)+ｄ(x-2,y+2)+ｄ(x+2,y-2)
+ｄ(x+2,y+2)+2{ｄ(x-2,y)+ｄ(x,y-2)+ｄ(x,y+2)+ｄ(x+
2,y)}] ｝／{1-4(a²+b²)} なる演算を施すことで真の検出値Ｄ(x,y) を算出する演
算部と、を備えたことを特徴とする。

【０００７】さらに、検出素子を１次元状に配設したＸ
線検出器を用いて、Ｘ線分布を求めるＸ線検出装置であ
って、両隣の検出素子へのクロストークの割合を示す影
響係数ａと、１つ離れた検出素子へのクロストークの割
合を示す影響係数ｃを記憶する係数記憶手段と、各検出
素子の検出値ｄ(x) 、及びその検出素子を中心とする９
検出素子分のウインドウ内の他の検出素子の検出値ｄ(x
+p)(-4≦p ≦4, p≠0)と、前記影響係数ａ、ｃとを用い
て、Ｄ(x) =[ｄ(x)-a{ｄ(x-1)+ｄ(x+1)}- c{ｄ(x-2)+ｄ(x+
2)}+a²{ ｄ(x-2)+ｄ(x+2)}+c²{ ｄ(x-4)+ｄ(x+4)}+2a
c{ ｄ(x-3)+ｄ(x+3) +2ｄ(x-1) +2ｄ(x+1)}] ／{1-2(a
²+c²)} なる演算を施すことで真の検出値Ｄ(x) を算出する演算
部と、を備えたことを特徴とする。

【０００８】これらのＸ線検出装置を用いて被検体のＸ
線撮像を行うためのＸ線撮像装置を構成することもでき
る。

【０００９】

【発明の実施の形態】本発明の実施形態を、図１〜図７
に基づいて説明する。図１は、Ｘ線検出素子を２次元状
に配設したＸ線検出器を用いた実施例を示しており、検
出器１のＸ線検出素子で検出された信号は、信号処理部
２において積分処理やフィルタ処理等が施されて、Ｘ線
の計数値として一旦メモリー部３に蓄えられる。

【００１０】メモリー部３は、図２に示されるように、
少なくとも検出器１のＸ線検出素子(i,j) それぞれの計
数値ｄ(i,j) を記憶する領域が確保されている。

【００１１】演算部４は、計数値ｄ(i,j) が得られたＸ
線検出素子を中心とする近傍の検出素子の計数値をメモ
リー部３から読み出し、予め係数記憶部５に記憶された
影響係数を用いて計数値ｄ(i,j) に含まれる二次Ｘ線に
よるクロストーク値を計算し、計数値ｄ(i,j) から減算
することで、真の計数値Ｄ( ｉ, ｊ) を算出する。

【００１２】算出された計数値Ｄ( ｉ, ｊ) は、第２の
メモリ部６に逐一記憶され、表示部に撮像されたＸ線分
布が表示される。

【００１３】なお、検出器１と信号処理部２の組み合わ
せ例として、半導体検出器またはガス検出器と電荷増幅
器、シンチレータとフォトダイオード、及び輝尽蛍光板
とレーザー読み取り機等が考えられ、また演算部４は、
演算処理をハードウエアにより行うよう構成してもよい
し、ソフトウエアにより行うよう構成してもよい。

【００１４】演算部４において、計数値ｄ(i,j) に基づ
いて真の計数値データＤ( ｉ, ｊ)算出するための演算
処理を以下に詳述する。

【００１５】図３は、ある検出素子を構成するチャンネ
ル(x,y) に入射するＸ線と、そのＸ線によって発生する
二次Ｘ線が周辺検出素子( ｘ＋ｐ, ｙ＋ｑ) (-1 ≦p,q
≦1，p ≠0, q≠0)に及ぼすクロストーク量を示した模
式図であり、簡略化のため、チャンネル(x,y) の前後左
右方向の検出素子をαで表し、斜め方向の検出素子をβ
で表している。

【００１６】ここで、二次Ｘ線は空間に一様に分布する
よう放出されるが、周辺のチャンネルに入射して検出さ
れる二次Ｘ線は、図３に示されているように、平均的に
はチャンネル(x,y) を中心とする円周方向に分布すると
考えられる。

【００１７】このため、ｋ個のＸ線が入射したとする
と、チャンネル(i,j) の前後左右方向のチャンネルαに
は等しくａ×ｋ個の二次Ｘ線が、斜め方向のチャンネル
βには等しくｂ×ｋ個の二次Ｘ線が近似的に入射して検
知されると考えられる。

【００１８】ただし、ａは前後左右方向の検出素子への
クロストークの割合を示す影響係数、ｂは斜め方向の検
出素子へのクロストークの割合を示す影響係数である。
そして、これらは、0 ＜ｂ＜ａ《１の関係があり、その
値は実験的または数値計算により求めることができる。

【００１９】図４は、実験的に影響係数ａ，ｂを求める
ための一実施例である、検出器１に近接させて各検出素
子と大きさが同一のＸ線透過孔１０ａを有するマスク板
１０を配設した構成の実験装置が示しており、上方から
Ｘ線を照射することで、Ｘ線が直接照射された検出素子
のＸ線計数値とその検出素子を中心として、左右方向と
斜め方向の検出素子で検出されたＸ線計数値との比から
左右方向に対する影響係数ａと、斜め方向に対する影響
係数ｂを求めることができる。

【００２０】次に、２次元ｍ×ｎの検出素子配列を示す
Ｘ線検出器を用いた場合において、真の計数値Ｄ( ｉ,
ｊ) を算出するために演算部４が行う演算内容を説明す
る。ここで、任意のチャンネル(i,j) において得られた
実測値ｄ( ｉ, ｊ) (0≦ｉ＜m, 0≦ｊ＜n)には、上述し
たように二次Ｘ線によるクロストーク成分が含まれてお
り、真の計数値をＤ( ｉ, ｊ) とすると、ｄとＤの関係
式は以下の連立ｍ×ｎ方程式となる。

【００２１】ｄ(0,0)=D(0,0)+a{D(0,1)+ D(1,0)}+ b D(1,1) ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ｄ(x,y)=D(x,y)+a{D(x-1,y)+D(x,y-1)+D(x,y+1)+D(x+1,y)} +b{D(x-1,y-1)+D(x-1,y+1)+D(x+1,y-1)+D(x+1,y+1)} 式(1) ｄ(x-1,y)=D(x-1,y)+a{D(x-2,y)+D(x-1,y-1)+D(x-1,y+1)+D(x,y)} +b{D(x-2,y-1)+D(x-2,y+1)+D(x,y-1)+D(x,y+1)} 式(2) ｄ(x,y-1)=D(x,y-1)+a{D(x-1,y-1)+D(x,y-2)+D(x,y)+D(x+1,y-1)} +b{D(x-1,y-2)+D(x-1,y)+D(x+1,y-2)+D(x+1,y)} 式(3) ｄ(x,y+1)=D(x,y+1)+a{D(x-1,y+1)+D(x,y)+D(x,y+2)+D(x+1,y+1)} +b{D(x-1,y)+D(x-1,y+2)+D(x+1,y)+D(x+1,y+2)} 式(4) ｄ(x+1,y)=D(x+1,y)+a{D(x,y)+D(x+1,y-1)+D(x+1,y+1)+D(x+2,y)} +b{D(x,y-1)+D(x,y+1)+D(x+2,y-1)+D(x+2,y+1)} 式(5) ｄ(x-1,y-1)=D(x-1,y-1)+a{D(x-2,y-1)+D(x-1,y-2)+D(x-1,y)+D(x,y-1)} +b{D(x-2,y-2)+D(x-2,y)+D(x,y-2)+D(x,y)} 式(6) ｄ(x-1,y+1)=D(x-1,y+1)+a{D(x-2,y+1)+D(x-1,y)+D(x-1,y+2)+D(x,y+1)} +b{D(x-2,y)+D(x-2,y+2)+D(x,y)+D(x,y+2)} 式(7) ｄ(x+1,y-1)=D(x+1,y-1)+a{D(x,y-1)+D(x+1,y-2)+D(x+1,y)+D(x+2,y-1)} +b{D(x,y-2)+D(x,y)+D(x+2,y-2)+D(x+2,y) 式(8) ｄ(x+1,y+1)=D(x+1,y+1)+a{D(x,y+1)+D(x+1,y)+D(x+1,y+2)+D(x+2,y+1)} +b{D(x,y)+D(x,y+2)+D(x+2,y)+D(x+2,y+2)} 式(9) ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ｄ(m-1,n-1)=D(m-1,n-1)+a{D(m-2,n-1)+D(m-1,n-2)}+b D(m-2,n-2) この近似解を求めるために、式(1) に式(2) 〜式(9) を
代入して整理すると、以下のようになる。

【００２２】ｄ(x,y)=D(x,y)+a{ ｄ(x-1,y)+ｄ(x,y-1)+
ｄ(x,y+1)+ｄ(x+1,y)}+b{ ｄ(x-1,y-1)+ｄ(x-1,y+1)+ｄ
(x+1,y-1)+ｄ(x+1,y+1)} -a²[D(x-2,y)+D(x,y-2)+D
(x,y+2)+D(x+2,y)+2{D(x-1,y-1)+D(x-1,y+1)+D(x+1,y-
1)+D(x+1,y+1)}+4D(x,y)]-2ab[D(x-2,y-1)+D(x-2,y+1)+
D(x-1,y-2)+D(x-1,y+2)+D(x+1,y-2)+D(x+1,y+2)+D(x+2,
y-1)+D(x+2,y+1)+2{D(x-1,y)+D(x,y-1)+D(x,y+1)+D(x+
1,y)}]-b²[D(x-2,y-2)+D(x-2,y+2)+D(x+2,y-2)+D(x+2,
y+2)+2{D(x-2,y) +D(x,y-2)+D(x,y+2)+D(x+2,y)}+4D(x,
y)] さらに、上述したｄとＤの連立ｍ×ｎ元方程式を用い
て、右辺のD(x-2,y)、D(x,y-2)等を計測値ｄの式で表
し、0 ＜ｂ＜ａ《１であることより、ａまたはｂの３次
の項を無視して、Ｄ(x,y) について解くと、真の計数値
Ｄ(x,y) は以下のように表すことができる。

【００２３】Ｄ(x,y)=｛ｄ(x,y)-a{ｄ(x-1,y)+ｄ(x,y-
1)+ｄ(x,y+1)+ｄ(x+1,y)}-b{ ｄ(x-1,y-1)+ｄ(x-1,y+1)
+ｄ(x+1,y-1)+ｄ(x+1,y+1)} +a²[ ｄ(x-2,y)+ｄ(x,y-
2)+ｄ(x,y+2)+ｄ(x+2,y)+2{ｄ(x-1,y-1)+ｄ(x-1,y+1)+
ｄ(x+1,y-1)+ｄ(x+1,y+1)}]+2ab[ ｄ(x-2,y-1)+ｄ(x-2,
y+1)+ｄ(x-1,y-2)+ｄ(x-1,y+2)+ｄ(x+1,y-2)+ｄ(x+1,y+
2)+ｄ(x+2,y-1)+ｄ(x+2,y+1)+2{ ｄ(x-1,y)+ｄ(x,y-1)+
ｄ(x,y+1)+ｄ(x+1,y)}]+b²[ ｄ(x-2,y-2)+ｄ(x-2,y+2)
+ｄ(x+2,y-2)+ｄ(x+2,y+2)+2{ｄ(x-2,y) + ｄ(x,y-2)+
ｄ(x,y+2)+ｄ(x+2,y)}] ｝／{1-4(a²+c²)} 従って、演算部４は、この式を用いて、すべての 0 ≦
ｉ＜m, 0≦ｊ＜n においてｄ( ｉ，ｊ) からＤ( ｉ,
ｊ) を算出することで、二次Ｘ線クロストーク成よる誤
差が除去された、真の計数値Ｄ( ｉ, ｊ) を算出するこ
とが可能となる。図５は、本発明にかかるＸ線検出装置
を人体のＸ線撮像装置に応用した例を示しており、Ｘ線
管１２から照射されＸ線が被検体Ｂを透過し、支柱１１
に配設された検出器１で検出されるよう構成されてい
る。そして本発明をかかるＸ線撮像装置に用いること
で、クロストークの影響の少ない鮮明な画像が得られ、
病変部の発見等が極めて容易になる。

【００２４】なお、上述した実施例では、Ｘ線検出素子
を２次元状に配列した例を示したが、本発明は、Ｘ線検
出素子を１次元状に配列したＸ線検出器を備えたＸ線検
出装置についても適用可能である。

【００２５】図６は、１次元状にｍ個のＸ線検出素子を
配設した検出器にＸ線が入射した場合の近隣検出素子に
クロストークとして影響を与える二次Ｘ線の発生状態を
示す模式図である。

【００２６】ｋ個の入射Ｘ線に対し、両隣のチャンネル
にはａ×ｋ個の二次Ｘ線が、１つ離れたチャンネルには
ｃ×ｋ個の二次Ｘ線が入射して検知されると仮定する。
ただし、0 ＜ｃ＜ａ《１であり、その値は実験的または
数値計算により求めることができる。

【００２７】このため、二次Ｘ線によるクロストーク成
分が含まれた計数値ｄ( ｉ) と真の数値Ｄ( ｉ) (0 ≦
ｉ＜m)との関係を表すｍ元連立方程式を近似的に解き、
すべの0 ≦ｉ＜m においてＤ( ｉ) を求めてやると、真
の計数値Ｄ( ｉ) のマップをとができる。その解を以下
に示す。

【００２８】ｄ(x)=D(x)+a{D(x-1)+D(x+1)}+c{D(x-2)+D(x+2)} 式(11) ｄ(x-1)=D(x-1)+a{D(x-2)+D(x)}+c{D(x-3)+D(x+1)} 式(12) ｄ(x+1)=D(x+1)+a{D(x)+D(x+2)}+c{D(x-1)+D(x+3)} 式(13) ｄ(x-2)=D(x-2)+a{D(x-3)+D(x-1)}+c{D(x-4)+D(x)} 式(14) ｄ(x+2)=D(x+2)+a{D(x+1)+D(x+3)}+c{D(x)+D(x+4)} 式(15) 式(11)に式(12)〜式(15)を代入して整理すると、以下の
ようになる。

【００２９】ｄ(x)=D(x)+a{ ｄ(x-1)+ｄ(x+1)}+c{ ｄ(x
-2)+ｄ(x+2)} -a²{D(x-2)+D(x+2)+2D(x)}- c²{D(x-
4)+D(x+4)+2D(x)}-2ac{D(x-3)+D(x+3)+2D(x-1)+2D(x+
1)} ここで、さらに、上述したｄとＤの連立ｍ元方程式を用
いて、右辺のD(x-2)、D(x+2)等を計測値ｄの式で表し、
0 ＜ｃ＜ａ《１より、ａまたはｃの３次の項を無視し
て、Ｄ(x,y) について解くと、Ｄ(x) は以下のように表
すことができる。

【００３０】D(x)=[ｄ(x)-a{ｄ(x-1)+ｄ(x+1)}-c{ ｄ(x
-2)+ｄ(x+2)} +a²{ ｄ(x-2)+ｄ(x+2)} + c²{ ｄ(x-
4)+ｄ(x+4)}+2ac{ ｄ(x-3)+ｄ(x+3)+2 ｄ(x-1) +2ｄ(x+
1)}] ／{1-2(a²+c²)} 従って、一次元のアレイ状に配列されたＸ線検出素子を
用いる場合には、演算部４は、この式を用いて、すべて
の0 ≦ｉ＜m において、ｄ（ｉ）からＤ（ｉ）を算出す
ることで、二次Ｘ線クロストーク成分による誤差が除去
された、真の計数値Ｄ（ｉ）を算出することが可能とな
る。

【００３１】図７は、本発明にかかる一次元のＸ線検出
器を備えたＸ線検出装置を人体のＸ線撮像装置に応用し
た例を示しており、図５の場合と同様に、Ｘ線管１２か
ら照射されＸ線が被検体Ｂを透過し、支柱１１に配設さ
れた一次元状のラインセンサ１４で検出され、このライ
ンセンサ１４を支柱１１に沿って移動させることで被検
体Ｂの２次元像が得られる。そして本発明をかかるＸ線
撮像装置に用いることで、クロストークの影響の少ない
鮮明な画像が得られ、病変部の発見等が極めて容易にな
る。

【００３２】

【発明の効果】得られたＸ線計数値から二次Ｘ線クロス
トークの成分を取り除く演算を施すことにより、計数誤
差のない真のＸ線計数値を得ることができ、装置本来の
空間分解能を十分に生かした精度の高いデータを得るこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明にかかるＸ線検出装置の全体概略図であ
る。

【図２】本発明にかかる各Ｘ線検出素子の実測データを
記憶するメモリ領域を示す図である。

【図３】２次元Ｘ線検出器において入射Ｘ線と二次Ｘ線
クロストークの量的関係を示す図である。

【図４】マスクを用いてクロストークの影響係数を求め
るための実験構成例を示す図である。

【図５】本発明にかかるＸ線検出装置をＸ線撮像装置に
応用した例を示す図である。

【図６】１次元Ｘ線検出器において入射Ｘ線と二次Ｘ線
クロストークの量的関係を示す図である。

【図７】本発明にかかるＸ線検出装置をＸ線撮像装置に
応用した例を示す図である。

【符号の説明】

１検出器２信号処理部３メモリー部４演算部５係数記憶部６メモリー部７表示部

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】検出素子をアレイ状に配設したＸ線検出
器を用いて、Ｘ線分布を求めるＸ線検出装置において、各検出素子を中心とする近傍の検出素子がその中心とな
る検出素子へ及ぼすクロストークによる影響係数を記憶
する係数記憶手段と、Ｘ線の検出時に、前記係数記憶手段に記憶された影響係
数を用いて、近傍の検出素子より生じた各検出素子への
クロストーク量を求め、各検出素子の検出値を対応する
クロストーク量で補正することにより真の検出値を算出
する演算手段と、を備えたことを特徴とするＸ線検出装置。
【請求項２】検出素子を２次元状に配設したＸ線検出
器を用いて、Ｘ線分布を求めるＸ線検出装置において、前後左右方向の検出素子へのクロストークの割合を示す
影響係数ａと、斜め方向の検出素子へのクロストークの
割合を示す影響係数ｂを記憶する係数記憶手段と、各検出素子の検出値ｄ(x,y) 、及びその検出素子を中心
とする５×５のウインドウ内の検出素子の検出値ｄ(x+
p,y+q) （-2≦p,q ≦2,p ≠0,q ≠0 ）と、前記影響係
数ａ、ｂとを用いて、Ｄ(x,y)=｛ｄ(x,y)-a{ｄ(x-1,y)+ｄ(x,y-1)+ｄ(x,y+1)+
ｄ(x+1,y)}-b{ｄ(x-1,y-1)+ｄ(x-1,y+1)+ｄ(x+1,y-1)+
ｄ(x+1,y+1)}+a²[ ｄ(x-2,y)+ｄ(x,y-2)+ｄ(x,y+2)+ｄ
(x+2,y)+2{ ｄ(x-1,y-1)+ｄ(x-1,y+1)+ｄ(x+1,y-1)+ｄ
(x+1,y+1)}]+2ab[ ｄ(x-2,y-1)+ｄ(x-2,y+1)+ｄ(x-1,y-
2)+ｄ(x-1,y+2)+ ｄ(x+1,y-2)+ｄ(x+1,y+2)+ｄ(x+2,y-
1)+ｄ(x+2,y+1)+2{ ｄ(x-1,y)+ｄ(x,y-1)+ｄ(x,y+1)+ｄ
(x+1,y)}]+b²[ ｄ(x-2,y-2)+ｄ(x-2,y+2)+ｄ(x+2,y-2)
+ｄ(x+2,y+2)+2{ｄ(x-2,y)+ｄ(x,y-2)+ｄ(x,y+2)+ｄ(x+
2,y)}] ｝／{1-4(a²+b²)} なる演算を施すことで真の検出値Ｄ(x,y) を算出する演
算部と、を備えたことを特徴とするＸ線検出装置。
【請求項３】検出素子を１次元状に配設したＸ線検出
器を用いて、Ｘ線分布を求めるＸ線検出装置において、両隣の検出素子へのクロストークの割合を示す影響係数
ａと、１つ離れた検出素子へのクロストークの割合を示
す影響係数ｃを記憶する係数記憶手段と、各検出素子の検出値ｄ(x) 、及びその検出素子を中心と
する９検出素子分のウインドウ内の他の検出素子の検出
値ｄ(x+p) （-4≦p ≦4 ，p ≠0 ）と、前記影響係数
ａ、ｃとを用いて、Ｄ(x) =[ｄ(x)-a{ｄ(x-1)+ｄ(x+1)}- c{ｄ(x-2)+ｄ(x+
2)}+a²{ ｄ(x-2)+ｄ(x+2)}+c²{ ｄ(x-4)+ｄ(x+4)}+2a
c{ ｄ(x-3)+ｄ(x+3) +2ｄ(x-1) +2ｄ(x+1)}] ／{1-2(a
²+c²)} なる演算を施すことで真の検出値Ｄ(x) を算出する演算
部と、を備えたことを特徴とするＸ線検出装置。