JP3526331B2 - パターン検査装置 - Google Patents
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Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、印刷物上に高精細に印
刷された同一文字列が繰返して構成されている繰返し文
字列のパターン検査を行なうパターン検査装置に関す
る。 【０００２】 【従来の技術】一般に、スキャナなどの読取手段で読取
った画像を基に印刷物の印刷品質を検査し、その良否を
判定するパターン検査方法としては、印刷物を読取って
得られた画像を、あらかじめ辞書パターンとして用意さ
れている基準画像パターンと比較することにより、印刷
物の良否判定を行なっている。 【０００３】 【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た従来のパターン検査方法では、印刷媒体上に高精細に
印刷された同一文字列が繰返して構成されている繰返し
文字列のパターン検査を行なう場合、高精細かつ同一文
字列が繰返して構成されているという特徴を有効に活用
しないで、単に標準画像パターンと比較していたため、
以下に述べるような問題が生じる。 【０００４】（Ａ）標準画像パターンを新しい検査対象
ごとに作成し直す必要がある。 （Ｂ）文字列が長くなったとき、標準画像パターンとの
比較処理に要する時間が無視できなくなる。 【０００５】（Ｃ）文字の「欠け」、「ボイド（穴あ
き）」、「切れ」、「はみだし」、「スポット」、「二
重印刷」、「かすれ」のような微妙な印刷欠陥（ＪＩＳ
規格の定義参照）の検出に基づき、印刷品質を重視して
良否を判定するのでなく、人間が印刷文字をその文字パ
ターンとして認識できる程度を判定基準にして良否の判
定を行なう場合、たとえば、文字の「つぶれ」、「切
れ」の印刷欠陥のみを判定すればよい場合は、従来のパ
ターン検査方法は処理の高速化に適していなかった。 【０００６】（Ｄ）印刷媒体である用紙自身の影響など
により、印刷時にインキが用紙へ転移した結果、文字パ
ターンが「つぶれ」、「欠け」やすくなる場合、また
は、版下作成時の精度により、版の文字パターン自身が
「つぶれ」、「欠け」やすくなる場合のように、文字列
全体のパターン検査をしなくとも、全体の文字列のうち
任意の文字列について印刷欠陥を検出すれば、全体の印
刷欠陥が予測できる場合においては、従来のパターン検
査方法は処理の高速化に適していなかった。 【０００７】そこで、本発明は、印刷物上に高精細に印
刷された繰返し文字列のパターン検査を高速かつ高精度
に行なうことができるパターン検査装置を提供すること
を目的とする。 【０００８】 【課題を解決するための手段】本発明のパターン検査装
置は、同一文字列が繰返して構成されている繰返し文字
列が印刷されている印刷物上の前記繰返し文字列を含む
画像を入力する画像入力手段と、この画像入力手段によ
って入力された画像を基に、前記繰返し文字列の少なく
とも１つの部分文字列の画像を検出する部分文字列検出
手段と、この部分文字列検出手段によって検出された部
分文字列画像の中の文字列方向に沿う領域を決定し、こ
の領域の空間周波数スペクトラムを求める空間周波数成
分演算手段と、この空間周波数成分演算手段により演算
された空間周波数スペクトラムを基に、あらかじめ設定
された空間周波数成分値以上のピーク値を、あらかじめ
設定された判定基準ピーク値と比較し、前記空間周波数
成分値以上のピーク値が前記判定基準ピーク値以上であ
るか否か比較する比較手段と、この比較手段の比較結果
に基づき、前記空間周波数成分値以上のピーク値が前記
判定基準ピーク値以上である場合に前記繰返し文字列は
パターン欠陥なしと判定し、前記比較手段の比較結果が
否の場合に前記繰返し文字列はパターン欠陥ありと判定
するパターン欠陥判定手段と、このパターン欠陥判定手
段によって得られた判定結果を出力する判定結果出力手
段とを具備している。 【０００９】 【００１０】 【００１１】 【００１２】 【作用】本発明によれば、任意の部分文字列を選択し、
ＦＦＴ（高速フーリェ変換）のパターンにより、繰返し
文字列のパターン欠陥を判定することにより、基準画像
パターンを用いることなく、繰返し文字列のパターン検
査を高速かつ高精度に行なうことができる。 【００１３】 【００１４】 【００１５】 【００１６】 【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。まず、第１の実施例について説明する。第
１の実施例は、任意の１つの単位文字列（整数倍ｎが１
に等しいとき）を基準画像パターンとしたときの場合を
例に説明する。 【００１７】図１は、第１の実施例に係るパターン検査
装置の構成を概略的に示すものである。このパターン検
査装置は、照明用の光源（図示しない）、レンズなどの
光学系３０２、および、ＣＣＤ形のラインセンサ３０３
などからなり、図示矢印方向に搬送される印刷物Ｐ上の
繰返し文字列を含む画像を入力する画像入力部（画像入
力手段）３０１、ラインセンサ３０３の出力信号をデジ
タル信号に変換するＡ／Ｄ変換部３０４、Ａ／Ｄ変換部
３０４から出力される画像データを格納するフレームメ
モリ３０６、フレームメモリ３０６を制御するメモリ制
御部３０５、本装置全体を制御するＣＰＵ（セントラル
・プロセッシング・ユニット）３０８、フレームメモリ
３０６内の画像データに対して画像処理を行なうための
プログラムなどが格納されたプログラムメモリ３０９、
パターン検査を行なう上で判定基準となるパラメータな
どが格納されている作業用メモリ３１０、および、本装
置が判定結果を出力するためのディスプレイおよびプリ
ンタなどからなる出力装置３０７から構成されている。 【００１８】図２は、本発明がパターン検査対象とする
繰返し文字列の一例を示すものである。すなわち、印刷
物Ｐ上には、たとえば、その搬送方向と平行に繰返し文
字列４０１が高精細に印刷されている。そして、印刷物
Ｐの搬送方向と直交方向にラインセンサ３０３が配設さ
れている。繰返し文字列４０１は、単位文字列として例
えば「ＡＢＣ」、繰返し文字列の個数は５つの同じ繰返
し文字列で構成されているものとする。 【００１９】ここで、繰返し文字列４０１が正常に印刷
されている場合、それを拡大すると符号４０２のように
なり、文字パターンは欠陥なく構成されている。一方、
繰返し文字列４０１が「つぶれ」または「切れ」のよう
な印刷不良時には、たとえば、符号４０３で示すように
欠陥のある文字パターンが印刷されてしまう。 【００２０】以下、図２の繰返し文字列４０１（単位文
字列の総数ＳＴＲ＿Ｎが５個の場合）に対するパターン
検査を例に詳細に説明する。まず、図示しない搬送機構
によって図１の矢印方向に搬送される印刷物Ｐ上には、
図示しない光源からの光が照射される。印刷物Ｐの表面
で反射された光は、光学系３０２を介してラインセンサ
３０３の受光面に結像され、反射光強度に応じた光電変
換によりアナログ信号に変換される。ラインセンサ３０
３から出力されるアナログ信号は、Ａ／Ｄ変換部３０４
によって、たとえば、８ビットで量子化されて、デジタ
ル画像データに変換される。 【００２１】Ａ／Ｄ変換部３０４から出力される画像デ
ータは、メモリ制御部３０５の制御にしたがって、フレ
ームメモリ３０６上にアドレスｓｔａｄｒから順次書込
まれ、印刷物Ｐ上の繰返し文字列４０１を含む、たとえ
ば、図３に示すようなｍ画素×ｎ画素の領域の画像が格
納される。このとき、図３に示すように、ｍ×ｎの領域
の（ｓ，ｔ）画素が示す画像データ値Ｘ（ｓ，ｔ）は、
ｓｔａｄｒ＋ｔ×ｍ＋ｓのアドレスに格納された８ビッ
トのデータ値となる。 【００２２】フレームメモリ３０６への画像データの書
込みが終了すると、その制御がメモリ制御部３０５から
ＣＰＵ３０８に切換えられる。そして、プログラムメモ
リ３０９に格納されている処理プログラムの内容にした
がって、パターン欠陥を判定する処理が行なわれる。 【００２３】プログラムメモリ３０９には、たとえば、
図４に示すフローチャートのような処理手順（プログラ
ム）が記憶されている。すなわち、まず、フレームメモ
リ３０６に格納された画像データを基に、繰返し文字列
４０１の部分に対して単位文字列ごとに位置検出を行な
う（Ｓ６１）。次に、位置検出した単位文字列の整数倍
の画像を基準パターンとして、他の単位文字列とのパタ
ーン比較を行ない（Ｓ６２）、そのパターン比較結果を
出力装置３０７に出力する（Ｓ６３）。以下、ステップ
Ｓ６１〜Ｓ６３の処理について更に詳細に説明する。 【００２４】まず、ステップＳ６１の繰返し文字列の単
位文字列ごとに単位文字列の位置検出を行なう処理につ
いて説明する。このステップＳ６１は、たとえば、図５
に示すフローチャートのような処理手順となっている。 【００２５】すなわち、まず、ステップＳ７１におい
て、フレームメモリ３０６の先頭アドレスｓｔａｄｒか
ら順次格納されたｍ×ｎの画像データ値Ｘ（ｓ，ｔ）に
対して、あらかじめ設定された所定の閾値ＴＨＲで２値
化を行ない、その２値化結果を作業用メモリ３１０にア
ドレスｂｉｎ＿ｓｔａｄｒから順次格納する。このと
き、ｍ×ｎの領域の（ｓ，ｔ）画素が示す２値化画像デ
ータ値ＸＢ（ｓ，ｔ）は、ｂｉｎ＿ｓｔａｄｒ＋ｔ×ｍ
＋ｓのアドレスに格納された、図６に示すように、文字
印刷部分が画素値“１”、用紙の背景が“０”をとる８
ビットのデータ値として参照される。 【００２６】次に、上記したように作業用メモリ３１０
に格納されたｍ×ｎの２値化画像データＸＢ（ｓ，ｔ）
について、横方向および縦方向に画素値“１”の文字部
画素で累積し、図７に示すような周辺分布を求める（Ｓ
７２）。そして、ステップＳ７３〜Ｓ７６において、横
方向に累積した周辺分布から、たとえば、「非０」分布
の範囲（つまり、文字画像にかかわる画素が１画素でも
存在する範囲）を文字領域の縦方向の範囲（Ｙｓ〜Ｙｅ
まで）として求め、また、同様に縦方向に累積したとき
の分布から、たとえば、複数の「非０」分布の範囲を各
文字の横方向として、先頭の「非０」分布の範囲の横方
向の開始座標値Ｘｓ1 から終了座標値Ｘｅ1 を求め、こ
の先頭の文字領域として開始座標値（Ｘｓ1 ，Ｙｓ）と
終了座標値（Ｘｅ1 ，Ｙｅ）を求める。以降、順次この
作業の横方向の「非０」分布の範囲がなくなるまで繰返
す。 【００２７】そこで、ステップＳ７７〜Ｓ８０におい
て、あらかじめ判明している単位文字列の文字数ＵＮＩ
Ｔ＿Ｎ（繰返し文字列４０１の場合は３個）を基に、Ｕ
ＮＩＴ＿Ｎ個分の文字を含む領域（単位文字列領域）ご
との位置を検出する。すなわち、先頭からｉ番目の単位
文字列領域を求める場合には、繰返し文字列４０１の先
頭文字からｉ×ＳＴＲ＿Ｎ個目の文字を先頭とし、文字
数ＵＮＩＴ＿Ｎまでの文字列領域の開始座標値（ｓｔｘ
1 ，ｓｔｙ1 ）、および、終了座標値（ｅｎｘ1，ｅｎ
ｙ1 ）をそれぞれ求める。 【００２８】次に、ステップＳ６２のパターン比較を行
なう処理について説明する。このステップＳ６２は、た
とえば、図８に示すフローチャートのような処理手順と
なっている。 【００２９】すなわち、まず、ステップＳ１０１におい
て、繰返し文字列４０１の単位文字列群のうちから、任
意の単位文字列、たとえば、先頭からｎ番目の単位文字
列画像ｆn をパターンマッチング参照用の基準単位文字
列（基準画像パターン）と定める。ここで、先頭からｎ
番目の単位文字列画像の大きさは、横Ｗ（＝ｅｎｘn-st
xn ）画素、縦ｈ（＝ｅｎｙn −ｓｔｙn ）画素とする
と、単位文字列画像 ｆn は以下のような式で定義され
る。 【００３０】 ｆn （ｉ，ｊ）＝（ｓｔｘn ＋ｉ，ｓｔｙn ＋ｊ） ただし、０≦ｉ≦Ｗ、０≦ｊ≦ｈ 次に、先頭からの単位文字列の順番を示すカウンタｉを
「０」に初期化して（Ｓ１０２）、カウンタｉを１つイ
ンクリメントする（Ｓ１０３）。そして、ステップＳ１
０４において、カウンタｉが示す単位文字列がｎ番目の
基準単位文字列と一致するか否か比較し、もし両者が一
致していれば、ステップＳ１０７へジャンプする。 【００３１】上記比較の結果、両者が一致していなけれ
ば、ｉ番目の開始座標値（ｓｔｘ1，ｓｔｙ1 ）から始
まるＷ×ｈ画素の大きさの単位文字列画像ｆ1( n) とｎ
番目の基準単位文字列画像ｆn とのパターンマッチング
処理を、たとえば、下記数１に基づいて行ない、ミスマ
ッチの測度ｍａｔｃｈを算出する（Ｓ１０５）。 【００３２】 【数１】 【００３３】次に、この算出した結果（ｍａｔｃｈ）
を、あらかじめ設定しておいた一定値の判定基準値ｍａ
ｔｃｈ＿ｓｔｄと比較し（Ｓ１０６）、算出結果ｍａｔ
ｃｈが判定基準値ｍａｔｃｈ＿ｓｔｄよりも大きい値を
とったならば、パターン判定値ｉｄを「１」にセットし
（Ｓ１０９）、ステップＳ６２の処理を終了する。 【００３４】上記比較の結果、算出結果ｍａｔｃｈが判
定基準値ｍａｔｃｈ＿ｓｔｄ以下の値をとったならば、
ステップＳ１０７において、カウンタｉが単位文字列の
総数よりも１つ少ない値ＳＴＲ＿Ｎ−１と等しいか否か
チェックし、カウンタｉがＳＴＲ＿Ｎ−１よりも小さけ
れば、ステップＳ１０３へ戻り、上記した処理を繰返
す。カウンタｉがＳＴＲ＿Ｎ−１と等しければ、パター
ン判定値ｉｄを「０」にセットし（Ｓ１０８）、ステッ
プＳ６２の処理を終了する。 【００３５】次に、ステップＳ６３のパターン判定結果
を出力する処理について説明する。ステップＳ６３で
は、上記のように求めたパターン判定値ｉｄを基に、た
とえば、以下のような判定結果を出力装置３０７に出力
する。 【００３６】 ｉｄ＝０ の場合 「パターン欠陥なし」 ｉｄ＝１ の場合 「パターン欠陥あり」 次に、第２の実施例について説明する。 【００３７】図９は、第２の実施例に係るパターン検査
装置の構成を概略的に示すものである。第２の実施例
は、前述した図１に示す第１の実施例の構成に基準パタ
ーンメモリ３１１、および、単位文字列の総数ＳＴＲ＿
Ｎ個のマッチング処理部３１２，３１３，…，３１１＋
ＳＴＲ＿Ｎを加えた形態で実現できる。 【００３８】基準パターンメモリ３１１には、プログラ
ムメモリ３０９に書込まれている処理手順を実行する前
に、あらかじめ検査対象とするＷ×ｈ画素の大きさの辞
書パターン（基準画像パターン）となる基準単位文字列
画像を格納しておく。 【００３９】マッチング処理部３１２，３１３，…，３
１１＋ＳＴＲ＿Ｎの一例としては、たとえば、図１０に
示すように、メモリ制御部２０１、メモリ２０２、基準
パターンメモリ２０３、減算器２０４，２０５、乗算器
２０６、加算器２０７、判定基準値レジスタ２０８、比
較器２０９、および、バッファ２１０によって構成され
ている。 【００４０】以下、第１の実施例の説明と同様、図２の
繰返し文字列４０１（単位文字列の総数ＳＴＲ＿Ｎが５
個の場合）に対するパターン検査を例に詳細に説明す
る。第２の実施例の場合、プログラムメモリ３０９に書
込まれている処理手順は、図４に示したステップＳ６２
のパターン比較処理手順が異なる。この処理手順の例
は、図１１に示すフローチャートのようになる。 【００４１】すなわち、まず、先頭からの単位文字列の
順番を示すカウンタｉを「０」に初期化して（Ｓ３０
１）、カウンタｉを１つインクリメントする（Ｓ３０
２）。そして、ステップＳ３０３において、フレームメ
モリ３０６に格納されているｉ番目の開始座標値（ｓｔ
ｘ1 ，ｓｔｙ1 ）から始まるＷ×ｈ画素の大きさの単位
文字列画像と、基準パターンメモリ３１１に格納されて
いるＷ×ｈ画素の大きさの基準単位文字列画像を、ｉ番
目のマッチング処理部３１１＋ｉのメモリ２０２および
基準パターンメモリ２０３に転送する。 【００４２】次に、ステップＳ３０４において、カウン
タｉが先頭から数えて最後に位置する単位文字列の個数
ＳＴＲ＿Ｎ−１と一致するか比較して、もし両者が一致
していなければステップＳ３０２に戻る。両者が一致し
ていれば、ステップＳ３０５〜Ｓ３０９（＝Ｓ３０４＋
ＳＴＲ＿Ｎ）に示すように、ＳＴＲ＿Ｎ個の単位文字列
画像と基準単位文字列画像とのパターンマッチング処
理、および、その判定処理を、マッチング処理部３１
２，３１３，…，３１１＋ＳＴＲ＿Ｎを用いて並列的に
実行する。 【００４３】ここで、図１０を用いてマッチング処理部
３１２，３１３，…，３１１＋ＳＴＲ＿Ｎの動作を説明
する。この動作の概略としては、第１の実施例で説明し
たのと同様に、まず、ｉ番目の開始座標値（ｓｔｘ1 ，
ｓｔｙ1 ）から始まるＷ×ｈ画素の大きさの単位文字列
画像ｆ1 とｎ番目の基準単位文字列画像ｆn とのパター
ンマッチング処理を、たとえば、下記数２に基づいて行
ない、ミスマッチの測度ｍａｔｃｈを算出する。 【００４４】 【数２】 【００４５】次に、この算出した結果（ｍａｔｃｈ）
を、あらかじめ設定しておいた一定値の判定基準値ｍａ
ｔｃｈ＿ｓｔｄと比較することにより、算出結果ｍａｔ
ｃｈと判定基準値ｍａｔｃｈ＿ｓｔｄとの大小関係によ
り、パターン判定値ｉｄを適切な値にセットする。 【００４６】このような動作を実行するために、マッチ
ング処理部３１２，３１３，…，３１１＋ＳＴＲ＿Ｎは
次のように動作する。まず、メモリ制御部２０１によっ
て、メモリ２０２および基準パターンメモリ２０３から
各画像データの先頭アドレスが示す画像データ値が順次
同期して、メモリ２０２からの画像データは減算器２０
４，２０５の各入力Ａに入力され、基準パターンメモリ
２０３からの画像データは減算器２０４，２０５の各入
力Ｂに入力される。そして、減算器２０４，２０５の各
出力がそれぞれ乗算器２０６の入力Ａ，Ｂに入力され、
この乗算器２０６の出力が加算器２０７の入力Ｂに入力
される。 【００４７】一方、加算器２０７の入力Ａには、その出
力Ａ＋Ｂがフィードバックされて入力されるようになっ
ているため（ただし、初期状態はこの入力Ａには「０」
が入力されるようになっている）、Ｗ×ｈ画素の大きさ
の各画像データが、メモリ２０２および基準パターンメ
モリ２０３から全て出力された後、この加算器２０７の
出力としては、前記ミスマッチの測度ｍａｔｃｈと一致
する。 【００４８】次に、加算器２０７の出力であるｍａｔｃ
ｈの値を持つデータと、あらかじめ判定基準値レジスタ
２０８に格納されている判定基準値ｍａｔｃｈ＿ｓｔｄ
とが比較器２０９で比較される。そして、比較器２０９
は、加算器２０７の出力であるミスマッチの測度ｍａｔ
ｃｈが判定基準値ｍａｔｃｈ＿ｓｔｄよりも大きいとき
に論理レベル“１”を出力し、それ以外では論理レベル
“０”を出力する。 【００４９】この論理レベル出力がパターン判定値ｉｄ
となり、バッファ２１０に格納され、メモリ制御部２０
１からの制御信号により、作業用メモリ３１０のアドレ
スｉｄａｄｒ＋ｉに格納される。ここで、ｉは先頭から
の単位文字列の順番を示している。 【００５０】上記説明のように、マッチング処理部３１
２，３１３，…，３１１＋ＳＴＲ＿Ｎによって、ステッ
プＳ３０５〜Ｓ３０９の各処理が終了した後、ステップ
Ｓ３１０の総合判定処理により、作業用メモリ３１０の
アドレスｉｄａｄｒから順番にＳＴＲ＿Ｎ個分格納され
ているパターン判定値ｉｄを基に、たとえば、以下のよ
うな判定結果を出力装置３０７に出力する。 【００５１】 ＳＴＲ＿Ｎ個のｉｄが全て“０” の場合 「パター
ン欠陥なし」 それ以外の場合 「パター
ン欠陥あり」 次に、第３の実施例について説明する。 【００５２】第３の実施例は、任意の部分文字列を選択
し、ＦＦＴ（高速フーリェ変換）のスペクトラムパター
ンにより、印刷欠陥を検出することを目的とした処理を
施す場合であるが、ここでＦＦＴのスペクトラムパター
ンにより印刷欠陥を検出することを簡単に説明する。 【００５３】いま、たとえば、図１２に示すように、文
字列５０１（拡大例を符号５０２で示す）の場合のパタ
ーン検査を行なうとき、たとえば、図１３に示す文字列
方向６０１においては、図１３に示すような文字間の距
離が下記数３のように一定間隔で文字部が繰返されてい
る。 【００５４】 【数３】 【００５５】このため、たとえば、低周波成分以外の空
間周波数におけるスペクトラム値（パワー値）にピーク
を持つ。一方、「つぶれ」または「切れ」の印刷欠陥の
文字列では、ほとんど直流成分域にピークが集中し、低
周波域以外のパワーは大きくなることがない。この差を
利用することにより、パターン欠陥を判定する。 【００５６】図１４は、第３の実施例に係るパターン検
査装置の構成を概略的に示すものである。第３の実施例
は、前述した図１に示す第１の実施例の構成にＦＦＴ処
理部３１４を加えた形態で実現できる。 【００５７】ＦＦＴ処理部３１４は、たとえば、一般に
市販されているようなデジタル・シグナル・プロセッサ
（ＤＳＰ）ボードから構成されている。また、プログラ
ムメモリ３０９には、たとえば、図１５に示すフローチ
ャートのような処理手順が記憶されている。 【００５８】すなわち、まず、フレームメモリ３０６に
格納された画像データを基に、繰返し文字列４０１の部
分の任意の部分文字列の位置検出を行なう（Ｓ８１）。
次に、位置検出した部分文字列画像に対して、文字高さ
の文字列方向に１次元ＦＦＴ演算を施し、低域以外の空
間周波数成分の大きさの大小関係を調べ（Ｓ８２）、そ
の判定結果を出力装置３０７に出力する（Ｓ８３）。以
下、ステップＳ８１〜Ｓ８３の処理について更に詳細に
説明する。 【００５９】まず、ステップＳ８１の繰返し文字列の部
分文字列の位置検出を行なう処理について説明する。こ
のステップＳ８１は、たとえば、図１６に示すフローチ
ャートのような処理手順となっている。 【００６０】すなわち、まず、ステップＳ９１，Ｓ９２
は、前述した図５のステップＳ７１，Ｓ７２と同様な処
理を行なう。そして、ステップＳ９３において、図５の
ステップＳ７５と同様な処理により、文字列の先頭の開
始座標値（Ｘｓ1 ，Ｙｓ）および文字高さ（Ｙｅ−Ｙ
ｓ）を求め、あらかじめ設定された一定値である文字列
方向の画素数ＳＵＢ＿Ｎ（たとえば、２５６画素のよう
な「２」のべき乗）を基に、開始座標値（Ｘｓ1 ，Ｙ
ｓ）および終了座標値（Ｘｓ1 ＋ＳＵＢ＿Ｎ，Ｙｅ）で
与えられる、図１７に示すような部分文字列領域２００
１を算出する。 【００６１】次に、ステップＳ８２の空間周波数スペク
トラムと判定処理について説明する。このステップＳ８
２は、たとえば、図１８に示すフローチャートのような
処理手順となっている。 【００６２】すなわち、まず、ステップＳ２１１におい
て、先に求めた部分文字列領域から、その文字列方向に
図１７の符号２００２のような位置における領域（文字
列方向の画素数ＳＵＢ＿Ｎ、文字の縦方向の画素数ｎ
（たとえば、３画素））を決定する。次に、ステップＳ
２１２において、文字の縦方向にｎライン分の画像デー
タの平均化処理を施し、その平均化した１ラインデータ
をＦＦＴ処理部３１４の中に設けられたバッファに転送
する。 【００６３】次に、ＦＦＴ処理部３１４において、１次
元ＦＦＴ演算を行ない（Ｓ２１３）、その演算された周
波数スペクトラムを基に、たとえば、あらかじめ設定さ
れた一定値である空間周波数成分値ａ以上のピーク値
を、あらかじめ設定された一定値である判定基準ピーク
値と比較し、もし判定基準ピーク値以上であるならば、
パターン判定値ｉｄを「０」にセットし、それ以外であ
るならば、パターン判定値ｉｄを「１」にセットする
（Ｓ２１４）。 【００６４】次に、ステップＳ８３のパターン判定結果
を出力する処理について説明する。ステップＳ８３で
は、上記のように求めたパターン判定値ｉｄを基に、た
とえば、以下のような判定結果を出力装置３０７に出力
する。 【００６５】 ｉｄ＝０ の場合 「パターン欠陥なし」 ｉｄ＝１ の場合 「パターン欠陥あり」 ここで、１次元ＦＦＴ演算のアルゴリズムの一例につい
て、代表的なＦＦＴアルゴリズム法である時間領域分割
法を用いて簡単に説明する。いま、データ数ＳＵＢ＿Ｎ
が「２」のべき乗の場合、すなわち、 ＳＵＢ＿Ｎ＝２m とすると、演算手順は図１９に示すフローチャートのよ
うな流れになる。以下、ＳＵＢ＿ＮをＮに置き換えて説
明する。 【００６６】まず、ステップＳ２２１において、複素配
列Ｘ（ｉ）（ｉ＝０，１，…，Ｎ−１）の初期化を行な
う。すなわち、複素配列Ｘ（ｉ）に、実数部はＦＦＴ処
理部３１４内のバッファに転送されたＮ個のサンプリン
グデータを代入し、虚数部は全て「０」に設定してお
く。次に、ステップＳ２２２において、ビット逆順の並
び替えを行ない、逆順カウンタを求める。このビット逆
順を行なった例として、下記表１を示す。 【００６７】 【表１】 【００６８】この処理手順を一般的に記述すると、図２
０に示すフローチャートのステップＳ２３１のようにな
り、配列ｔ（ｉ）に逆転カウンタの値が順次格納されて
いき、ステップＳ２３２において複素配列Ｘの値を他の
配列Ｒにコピーし、ステップＳ２３３において、ｉ＝０
からＮ−１まで順次下記式に基づき、ビット逆順に並び
替えられた複素配列Ｘの値に置き換えられる。 【００６９】Ｘ（ｉ）＝Ｒ（ｔ（ｉ）） 次に、Ｘ（ｐ）（ｐ＝０，１，…，Ｎ−１）に対して、
１段目のバタフライ演算を行なう（Ｓ２２３）。これ
は、ｐ＝０から始めて、配列を隣り合わせの１対ずつと
り、それらの和を初めの方に、差を後の方に戻す演算で
ある。この操作をＮ／２回行なうと１段目が終了する。 【００７０】２段目のバタフライ演算は、１つおきに行
なう（Ｓ２２４）。ｉ＝０から始め、ｉ＝０で２対計算
するとｉ＝１に移る。ここでも２対計算すると、ｉの値
を１つだけ増す。このバタフライ演算に必要な回転因子
は、ＷN 0 、ＷN N/4 であり、２段目はｉ＝Ｎ／４−１
の演算で終了する。 【００７１】３段目のバタフライ演算は、Ｘ（ｐ）とＸ
（ｐ＋４）の対で行なう。回転因子は、ＷN hN/8（ｈ＝
０，１，２，３）である。４枚の計算ごとにｉを増やし
ていき、ｉ＝Ｎ／８−１の演算で終了する。 【００７２】ｓ＋１段目のバタフライ演算は、Ｘ（ｐ）
とＸ（ｐ＋２8 ）の対で行なう（Ｓ２２５）。回転因子
は、ＷN kP（ｋ＝０，１，…，２8 −１）、Ｐ＝２
m-8-1 である。ｉを０から始め、ｐ＝ｉ・２8+1 ＋ｈと
して、２8 回のバタフライ演算を行なうたびに、ｉを１
ずつ増やしていき、この段の計算を終了するのは、ｉ＝
２m-8-1 のときの２8 回のバタフライ演算を終わったと
きである。 【００７３】最終段はｍ段目であり、Ｘ（ｈ）±ＷN h
Ｘ（ｈ＋Ｎ／２）（ｈ＝０，１，…，Ｎ／２−１）のバ
タフライ演算をＮ／２回行なう（Ｓ２２６）。以上の説
明を基にして１次元ＦＦＴの演算を実行できる。 【００７４】次に、第４の実施例について説明する。第
４の実施例は、印刷欠陥として各文字部がほとんど「つ
ぶれ」ている場合に特に有効であり、任意の部分文字列
を選択し、文字の穴数により印刷欠陥を検出することを
目的とした処理を施す場合である。 【００７５】たとえば、図１２の文字列５０２のよう
に、「Ｒ」、「Ｂ」、「Ｐ」のような文字部で囲まれた
下地部が存在する領域、または、「Ｅ」のように文字の
縦方向の１ラインみれば、文字部で囲まれた下地範囲が
存在する領域をまとめて「穴」と呼ぶと、この穴長（文
字の縦方向の長さ）は、文字の縦方向長さの約半分程度
であり、これらの文字列が高精細に印刷されなければな
らない場合は、「つぶれ」やすく、穴数が少なくなる。
逆に、文字部のインクののりが悪い場合は、全体的に
「切れ」てくるので、「つぶれ」と同様に穴数が存在し
なくなる。 【００７６】このように、「Ｒ」、「Ｂ」、「Ｐ」のよ
うな穴を持つ文字の場合は、この穴数に注目していれば
パターン欠陥を判定できる。さらに、本発明の検査対象
は繰返し文字列である故、単位文字列の中に少なくとも
１つ穴を持つ文字があれば、部分文字列におけるトータ
ルの穴数を調べることにより、容易に部分文字列全体の
パターン欠陥を判定できる。 【００７７】第４の実施例は、既に説明した図１に示す
第１の実施例と同様な構成で実現でき、プログラムメモ
リ３０９には、たとえば、図２１に示すフローチャート
のような処理手順が記憶されている。 【００７８】すなわち、まず、ステップＳ２４１におい
て、部分文字列の位置検出を行なう。これは、先に説明
した図１５のステップＳ８１と同じ処理である。次に、
ステップＳ２４２において、あらかじめ設定された閾値
ＴＨＲ１で、この位置検出した部分文字列領域の２値化
を行なう。 【００７９】２値化を行なった後、開始座標値（Ｘｓ1
，Ｙｓ）および終了座標値（Ｘｓ1＋ＳＵＢ＿Ｎ，Ｙ
ｅ）で与えられる部分文字列領域に対して、その文字列
方向に左（先頭）から右へ、文字の縦方向の黒画素およ
び白画素の変化を調べることによって、順次穴数をカウ
ントしていく（Ｓ２４３）。 【００８０】たとえば、図２２（ａ）に示すように、部
分文字列の先頭から横方向にｉ番目の画素の文字縦方向
の１ライン２５０１に注目して、図２２（ｂ）に示すよ
うに、文字部（黒画素部）と文字部の距離（たとえば、
符号２５０２と２５０４との距離）Ｌａが基準値ｄ以上
であれば、この範囲を穴とみなし、それを計数する。こ
の処理を、ｉ＝０からＳＵＢ＿Ｎ−１まで繰返すことに
より、トータルの穴数Ｔ＿ＡＮＡが求まり、あらかじめ
設定しておいた判定基準値ＳＴＤ＿ＡＮＡと比較し、ト
ータルの穴数Ｔ＿ＡＮＡが大きければ、パターン判定値
ｉｄを「０」に、そうでなければ、パターン判定値ｉｄ
を「１」にセットする（Ｓ２４４）。 【００８１】最後に、ステップＳ２４５において、上記
のように求めたパターン判定値ｉｄを基に、たとえば、
以下のような判定結果を出力装置３０７に出力する。 ｉｄ＝０ の場合 「パターン欠陥なし」 ｉｄ＝１ の場合 「パターン欠陥あり」 なお、本発明は、前記実施例に限定されるものではな
い。たとえば、前記各実施例では、印刷物を移動させて
画像を読取る装置構成の場合として説明したが、逆に印
刷物を静止したまま、画像入力部を移動させることによ
り、印刷物上の画像を読取ってもよい。 【００８２】また、前記各実施例では、画像入力部にラ
インセンサを用いた場合を説明したが、これに限らず、
エリアセンサを用いることもできる。また、前記第１，
２の実施例では、２次元のパターンマッチング処理を行
なう場合について説明したが、これに限らず、文字縦方
向の濃淡データの１次元射影データを基に１次元のパタ
ーンマッチング処理を用いてパターン判別することがで
きる。 【００８３】また、前記第１，２の実施例では、繰返し
文字列全体のパターン検査を行なう場合について説明し
たが、これに限らず、単位文字列の整数倍の部分文字列
のみを検査する場合にも適用できる。 【００８４】また、前記第３の実施例では、１次元ＦＦ
Ｔ演算を施す場合について説明したが、これに限らず、
２次元ＦＦＴなどを用いることによって、空間周波数ス
ペクトラムを用いてパターン判定を行なうこともでき
る。 【００８５】さらに、前記第４の実施例では、文字縦方
向１ラインに注目して穴数を計数したが、これに限ら
ず、２次元パターンにおける文字部の画素で囲まれた下
地領域の数を計数してもよい。 【００８６】 【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、印
刷物上に高精細に印刷された繰返し文字列のパターン検
査を高速かつ高精度に行なうことができるパターン検査
装置を提供できる。
刷された同一文字列が繰返して構成されている繰返し文
字列のパターン検査を行なうパターン検査装置に関す
る。 【０００２】 【従来の技術】一般に、スキャナなどの読取手段で読取
った画像を基に印刷物の印刷品質を検査し、その良否を
判定するパターン検査方法としては、印刷物を読取って
得られた画像を、あらかじめ辞書パターンとして用意さ
れている基準画像パターンと比較することにより、印刷
物の良否判定を行なっている。 【０００３】 【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た従来のパターン検査方法では、印刷媒体上に高精細に
印刷された同一文字列が繰返して構成されている繰返し
文字列のパターン検査を行なう場合、高精細かつ同一文
字列が繰返して構成されているという特徴を有効に活用
しないで、単に標準画像パターンと比較していたため、
以下に述べるような問題が生じる。 【０００４】（Ａ）標準画像パターンを新しい検査対象
ごとに作成し直す必要がある。 （Ｂ）文字列が長くなったとき、標準画像パターンとの
比較処理に要する時間が無視できなくなる。 【０００５】（Ｃ）文字の「欠け」、「ボイド（穴あ
き）」、「切れ」、「はみだし」、「スポット」、「二
重印刷」、「かすれ」のような微妙な印刷欠陥（ＪＩＳ
規格の定義参照）の検出に基づき、印刷品質を重視して
良否を判定するのでなく、人間が印刷文字をその文字パ
ターンとして認識できる程度を判定基準にして良否の判
定を行なう場合、たとえば、文字の「つぶれ」、「切
れ」の印刷欠陥のみを判定すればよい場合は、従来のパ
ターン検査方法は処理の高速化に適していなかった。 【０００６】（Ｄ）印刷媒体である用紙自身の影響など
により、印刷時にインキが用紙へ転移した結果、文字パ
ターンが「つぶれ」、「欠け」やすくなる場合、また
は、版下作成時の精度により、版の文字パターン自身が
「つぶれ」、「欠け」やすくなる場合のように、文字列
全体のパターン検査をしなくとも、全体の文字列のうち
任意の文字列について印刷欠陥を検出すれば、全体の印
刷欠陥が予測できる場合においては、従来のパターン検
査方法は処理の高速化に適していなかった。 【０００７】そこで、本発明は、印刷物上に高精細に印
刷された繰返し文字列のパターン検査を高速かつ高精度
に行なうことができるパターン検査装置を提供すること
を目的とする。 【０００８】 【課題を解決するための手段】本発明のパターン検査装
置は、同一文字列が繰返して構成されている繰返し文字
列が印刷されている印刷物上の前記繰返し文字列を含む
画像を入力する画像入力手段と、この画像入力手段によ
って入力された画像を基に、前記繰返し文字列の少なく
とも１つの部分文字列の画像を検出する部分文字列検出
手段と、この部分文字列検出手段によって検出された部
分文字列画像の中の文字列方向に沿う領域を決定し、こ
の領域の空間周波数スペクトラムを求める空間周波数成
分演算手段と、この空間周波数成分演算手段により演算
された空間周波数スペクトラムを基に、あらかじめ設定
された空間周波数成分値以上のピーク値を、あらかじめ
設定された判定基準ピーク値と比較し、前記空間周波数
成分値以上のピーク値が前記判定基準ピーク値以上であ
るか否か比較する比較手段と、この比較手段の比較結果
に基づき、前記空間周波数成分値以上のピーク値が前記
判定基準ピーク値以上である場合に前記繰返し文字列は
パターン欠陥なしと判定し、前記比較手段の比較結果が
否の場合に前記繰返し文字列はパターン欠陥ありと判定
するパターン欠陥判定手段と、このパターン欠陥判定手
段によって得られた判定結果を出力する判定結果出力手
段とを具備している。 【０００９】 【００１０】 【００１１】 【００１２】 【作用】本発明によれば、任意の部分文字列を選択し、
ＦＦＴ（高速フーリェ変換）のパターンにより、繰返し
文字列のパターン欠陥を判定することにより、基準画像
パターンを用いることなく、繰返し文字列のパターン検
査を高速かつ高精度に行なうことができる。 【００１３】 【００１４】 【００１５】 【００１６】 【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。まず、第１の実施例について説明する。第
１の実施例は、任意の１つの単位文字列（整数倍ｎが１
に等しいとき）を基準画像パターンとしたときの場合を
例に説明する。 【００１７】図１は、第１の実施例に係るパターン検査
装置の構成を概略的に示すものである。このパターン検
査装置は、照明用の光源（図示しない）、レンズなどの
光学系３０２、および、ＣＣＤ形のラインセンサ３０３
などからなり、図示矢印方向に搬送される印刷物Ｐ上の
繰返し文字列を含む画像を入力する画像入力部（画像入
力手段）３０１、ラインセンサ３０３の出力信号をデジ
タル信号に変換するＡ／Ｄ変換部３０４、Ａ／Ｄ変換部
３０４から出力される画像データを格納するフレームメ
モリ３０６、フレームメモリ３０６を制御するメモリ制
御部３０５、本装置全体を制御するＣＰＵ（セントラル
・プロセッシング・ユニット）３０８、フレームメモリ
３０６内の画像データに対して画像処理を行なうための
プログラムなどが格納されたプログラムメモリ３０９、
パターン検査を行なう上で判定基準となるパラメータな
どが格納されている作業用メモリ３１０、および、本装
置が判定結果を出力するためのディスプレイおよびプリ
ンタなどからなる出力装置３０７から構成されている。 【００１８】図２は、本発明がパターン検査対象とする
繰返し文字列の一例を示すものである。すなわち、印刷
物Ｐ上には、たとえば、その搬送方向と平行に繰返し文
字列４０１が高精細に印刷されている。そして、印刷物
Ｐの搬送方向と直交方向にラインセンサ３０３が配設さ
れている。繰返し文字列４０１は、単位文字列として例
えば「ＡＢＣ」、繰返し文字列の個数は５つの同じ繰返
し文字列で構成されているものとする。 【００１９】ここで、繰返し文字列４０１が正常に印刷
されている場合、それを拡大すると符号４０２のように
なり、文字パターンは欠陥なく構成されている。一方、
繰返し文字列４０１が「つぶれ」または「切れ」のよう
な印刷不良時には、たとえば、符号４０３で示すように
欠陥のある文字パターンが印刷されてしまう。 【００２０】以下、図２の繰返し文字列４０１（単位文
字列の総数ＳＴＲ＿Ｎが５個の場合）に対するパターン
検査を例に詳細に説明する。まず、図示しない搬送機構
によって図１の矢印方向に搬送される印刷物Ｐ上には、
図示しない光源からの光が照射される。印刷物Ｐの表面
で反射された光は、光学系３０２を介してラインセンサ
３０３の受光面に結像され、反射光強度に応じた光電変
換によりアナログ信号に変換される。ラインセンサ３０
３から出力されるアナログ信号は、Ａ／Ｄ変換部３０４
によって、たとえば、８ビットで量子化されて、デジタ
ル画像データに変換される。 【００２１】Ａ／Ｄ変換部３０４から出力される画像デ
ータは、メモリ制御部３０５の制御にしたがって、フレ
ームメモリ３０６上にアドレスｓｔａｄｒから順次書込
まれ、印刷物Ｐ上の繰返し文字列４０１を含む、たとえ
ば、図３に示すようなｍ画素×ｎ画素の領域の画像が格
納される。このとき、図３に示すように、ｍ×ｎの領域
の（ｓ，ｔ）画素が示す画像データ値Ｘ（ｓ，ｔ）は、
ｓｔａｄｒ＋ｔ×ｍ＋ｓのアドレスに格納された８ビッ
トのデータ値となる。 【００２２】フレームメモリ３０６への画像データの書
込みが終了すると、その制御がメモリ制御部３０５から
ＣＰＵ３０８に切換えられる。そして、プログラムメモ
リ３０９に格納されている処理プログラムの内容にした
がって、パターン欠陥を判定する処理が行なわれる。 【００２３】プログラムメモリ３０９には、たとえば、
図４に示すフローチャートのような処理手順（プログラ
ム）が記憶されている。すなわち、まず、フレームメモ
リ３０６に格納された画像データを基に、繰返し文字列
４０１の部分に対して単位文字列ごとに位置検出を行な
う（Ｓ６１）。次に、位置検出した単位文字列の整数倍
の画像を基準パターンとして、他の単位文字列とのパタ
ーン比較を行ない（Ｓ６２）、そのパターン比較結果を
出力装置３０７に出力する（Ｓ６３）。以下、ステップ
Ｓ６１〜Ｓ６３の処理について更に詳細に説明する。 【００２４】まず、ステップＳ６１の繰返し文字列の単
位文字列ごとに単位文字列の位置検出を行なう処理につ
いて説明する。このステップＳ６１は、たとえば、図５
に示すフローチャートのような処理手順となっている。 【００２５】すなわち、まず、ステップＳ７１におい
て、フレームメモリ３０６の先頭アドレスｓｔａｄｒか
ら順次格納されたｍ×ｎの画像データ値Ｘ（ｓ，ｔ）に
対して、あらかじめ設定された所定の閾値ＴＨＲで２値
化を行ない、その２値化結果を作業用メモリ３１０にア
ドレスｂｉｎ＿ｓｔａｄｒから順次格納する。このと
き、ｍ×ｎの領域の（ｓ，ｔ）画素が示す２値化画像デ
ータ値ＸＢ（ｓ，ｔ）は、ｂｉｎ＿ｓｔａｄｒ＋ｔ×ｍ
＋ｓのアドレスに格納された、図６に示すように、文字
印刷部分が画素値“１”、用紙の背景が“０”をとる８
ビットのデータ値として参照される。 【００２６】次に、上記したように作業用メモリ３１０
に格納されたｍ×ｎの２値化画像データＸＢ（ｓ，ｔ）
について、横方向および縦方向に画素値“１”の文字部
画素で累積し、図７に示すような周辺分布を求める（Ｓ
７２）。そして、ステップＳ７３〜Ｓ７６において、横
方向に累積した周辺分布から、たとえば、「非０」分布
の範囲（つまり、文字画像にかかわる画素が１画素でも
存在する範囲）を文字領域の縦方向の範囲（Ｙｓ〜Ｙｅ
まで）として求め、また、同様に縦方向に累積したとき
の分布から、たとえば、複数の「非０」分布の範囲を各
文字の横方向として、先頭の「非０」分布の範囲の横方
向の開始座標値Ｘｓ1 から終了座標値Ｘｅ1 を求め、こ
の先頭の文字領域として開始座標値（Ｘｓ1 ，Ｙｓ）と
終了座標値（Ｘｅ1 ，Ｙｅ）を求める。以降、順次この
作業の横方向の「非０」分布の範囲がなくなるまで繰返
す。 【００２７】そこで、ステップＳ７７〜Ｓ８０におい
て、あらかじめ判明している単位文字列の文字数ＵＮＩ
Ｔ＿Ｎ（繰返し文字列４０１の場合は３個）を基に、Ｕ
ＮＩＴ＿Ｎ個分の文字を含む領域（単位文字列領域）ご
との位置を検出する。すなわち、先頭からｉ番目の単位
文字列領域を求める場合には、繰返し文字列４０１の先
頭文字からｉ×ＳＴＲ＿Ｎ個目の文字を先頭とし、文字
数ＵＮＩＴ＿Ｎまでの文字列領域の開始座標値（ｓｔｘ
1 ，ｓｔｙ1 ）、および、終了座標値（ｅｎｘ1，ｅｎ
ｙ1 ）をそれぞれ求める。 【００２８】次に、ステップＳ６２のパターン比較を行
なう処理について説明する。このステップＳ６２は、た
とえば、図８に示すフローチャートのような処理手順と
なっている。 【００２９】すなわち、まず、ステップＳ１０１におい
て、繰返し文字列４０１の単位文字列群のうちから、任
意の単位文字列、たとえば、先頭からｎ番目の単位文字
列画像ｆn をパターンマッチング参照用の基準単位文字
列（基準画像パターン）と定める。ここで、先頭からｎ
番目の単位文字列画像の大きさは、横Ｗ（＝ｅｎｘn-st
xn ）画素、縦ｈ（＝ｅｎｙn −ｓｔｙn ）画素とする
と、単位文字列画像 ｆn は以下のような式で定義され
る。 【００３０】 ｆn （ｉ，ｊ）＝（ｓｔｘn ＋ｉ，ｓｔｙn ＋ｊ） ただし、０≦ｉ≦Ｗ、０≦ｊ≦ｈ 次に、先頭からの単位文字列の順番を示すカウンタｉを
「０」に初期化して（Ｓ１０２）、カウンタｉを１つイ
ンクリメントする（Ｓ１０３）。そして、ステップＳ１
０４において、カウンタｉが示す単位文字列がｎ番目の
基準単位文字列と一致するか否か比較し、もし両者が一
致していれば、ステップＳ１０７へジャンプする。 【００３１】上記比較の結果、両者が一致していなけれ
ば、ｉ番目の開始座標値（ｓｔｘ1，ｓｔｙ1 ）から始
まるＷ×ｈ画素の大きさの単位文字列画像ｆ1( n) とｎ
番目の基準単位文字列画像ｆn とのパターンマッチング
処理を、たとえば、下記数１に基づいて行ない、ミスマ
ッチの測度ｍａｔｃｈを算出する（Ｓ１０５）。 【００３２】 【数１】 【００３３】次に、この算出した結果（ｍａｔｃｈ）
を、あらかじめ設定しておいた一定値の判定基準値ｍａ
ｔｃｈ＿ｓｔｄと比較し（Ｓ１０６）、算出結果ｍａｔ
ｃｈが判定基準値ｍａｔｃｈ＿ｓｔｄよりも大きい値を
とったならば、パターン判定値ｉｄを「１」にセットし
（Ｓ１０９）、ステップＳ６２の処理を終了する。 【００３４】上記比較の結果、算出結果ｍａｔｃｈが判
定基準値ｍａｔｃｈ＿ｓｔｄ以下の値をとったならば、
ステップＳ１０７において、カウンタｉが単位文字列の
総数よりも１つ少ない値ＳＴＲ＿Ｎ−１と等しいか否か
チェックし、カウンタｉがＳＴＲ＿Ｎ−１よりも小さけ
れば、ステップＳ１０３へ戻り、上記した処理を繰返
す。カウンタｉがＳＴＲ＿Ｎ−１と等しければ、パター
ン判定値ｉｄを「０」にセットし（Ｓ１０８）、ステッ
プＳ６２の処理を終了する。 【００３５】次に、ステップＳ６３のパターン判定結果
を出力する処理について説明する。ステップＳ６３で
は、上記のように求めたパターン判定値ｉｄを基に、た
とえば、以下のような判定結果を出力装置３０７に出力
する。 【００３６】 ｉｄ＝０ の場合 「パターン欠陥なし」 ｉｄ＝１ の場合 「パターン欠陥あり」 次に、第２の実施例について説明する。 【００３７】図９は、第２の実施例に係るパターン検査
装置の構成を概略的に示すものである。第２の実施例
は、前述した図１に示す第１の実施例の構成に基準パタ
ーンメモリ３１１、および、単位文字列の総数ＳＴＲ＿
Ｎ個のマッチング処理部３１２，３１３，…，３１１＋
ＳＴＲ＿Ｎを加えた形態で実現できる。 【００３８】基準パターンメモリ３１１には、プログラ
ムメモリ３０９に書込まれている処理手順を実行する前
に、あらかじめ検査対象とするＷ×ｈ画素の大きさの辞
書パターン（基準画像パターン）となる基準単位文字列
画像を格納しておく。 【００３９】マッチング処理部３１２，３１３，…，３
１１＋ＳＴＲ＿Ｎの一例としては、たとえば、図１０に
示すように、メモリ制御部２０１、メモリ２０２、基準
パターンメモリ２０３、減算器２０４，２０５、乗算器
２０６、加算器２０７、判定基準値レジスタ２０８、比
較器２０９、および、バッファ２１０によって構成され
ている。 【００４０】以下、第１の実施例の説明と同様、図２の
繰返し文字列４０１（単位文字列の総数ＳＴＲ＿Ｎが５
個の場合）に対するパターン検査を例に詳細に説明す
る。第２の実施例の場合、プログラムメモリ３０９に書
込まれている処理手順は、図４に示したステップＳ６２
のパターン比較処理手順が異なる。この処理手順の例
は、図１１に示すフローチャートのようになる。 【００４１】すなわち、まず、先頭からの単位文字列の
順番を示すカウンタｉを「０」に初期化して（Ｓ３０
１）、カウンタｉを１つインクリメントする（Ｓ３０
２）。そして、ステップＳ３０３において、フレームメ
モリ３０６に格納されているｉ番目の開始座標値（ｓｔ
ｘ1 ，ｓｔｙ1 ）から始まるＷ×ｈ画素の大きさの単位
文字列画像と、基準パターンメモリ３１１に格納されて
いるＷ×ｈ画素の大きさの基準単位文字列画像を、ｉ番
目のマッチング処理部３１１＋ｉのメモリ２０２および
基準パターンメモリ２０３に転送する。 【００４２】次に、ステップＳ３０４において、カウン
タｉが先頭から数えて最後に位置する単位文字列の個数
ＳＴＲ＿Ｎ−１と一致するか比較して、もし両者が一致
していなければステップＳ３０２に戻る。両者が一致し
ていれば、ステップＳ３０５〜Ｓ３０９（＝Ｓ３０４＋
ＳＴＲ＿Ｎ）に示すように、ＳＴＲ＿Ｎ個の単位文字列
画像と基準単位文字列画像とのパターンマッチング処
理、および、その判定処理を、マッチング処理部３１
２，３１３，…，３１１＋ＳＴＲ＿Ｎを用いて並列的に
実行する。 【００４３】ここで、図１０を用いてマッチング処理部
３１２，３１３，…，３１１＋ＳＴＲ＿Ｎの動作を説明
する。この動作の概略としては、第１の実施例で説明し
たのと同様に、まず、ｉ番目の開始座標値（ｓｔｘ1 ，
ｓｔｙ1 ）から始まるＷ×ｈ画素の大きさの単位文字列
画像ｆ1 とｎ番目の基準単位文字列画像ｆn とのパター
ンマッチング処理を、たとえば、下記数２に基づいて行
ない、ミスマッチの測度ｍａｔｃｈを算出する。 【００４４】 【数２】 【００４５】次に、この算出した結果（ｍａｔｃｈ）
を、あらかじめ設定しておいた一定値の判定基準値ｍａ
ｔｃｈ＿ｓｔｄと比較することにより、算出結果ｍａｔ
ｃｈと判定基準値ｍａｔｃｈ＿ｓｔｄとの大小関係によ
り、パターン判定値ｉｄを適切な値にセットする。 【００４６】このような動作を実行するために、マッチ
ング処理部３１２，３１３，…，３１１＋ＳＴＲ＿Ｎは
次のように動作する。まず、メモリ制御部２０１によっ
て、メモリ２０２および基準パターンメモリ２０３から
各画像データの先頭アドレスが示す画像データ値が順次
同期して、メモリ２０２からの画像データは減算器２０
４，２０５の各入力Ａに入力され、基準パターンメモリ
２０３からの画像データは減算器２０４，２０５の各入
力Ｂに入力される。そして、減算器２０４，２０５の各
出力がそれぞれ乗算器２０６の入力Ａ，Ｂに入力され、
この乗算器２０６の出力が加算器２０７の入力Ｂに入力
される。 【００４７】一方、加算器２０７の入力Ａには、その出
力Ａ＋Ｂがフィードバックされて入力されるようになっ
ているため（ただし、初期状態はこの入力Ａには「０」
が入力されるようになっている）、Ｗ×ｈ画素の大きさ
の各画像データが、メモリ２０２および基準パターンメ
モリ２０３から全て出力された後、この加算器２０７の
出力としては、前記ミスマッチの測度ｍａｔｃｈと一致
する。 【００４８】次に、加算器２０７の出力であるｍａｔｃ
ｈの値を持つデータと、あらかじめ判定基準値レジスタ
２０８に格納されている判定基準値ｍａｔｃｈ＿ｓｔｄ
とが比較器２０９で比較される。そして、比較器２０９
は、加算器２０７の出力であるミスマッチの測度ｍａｔ
ｃｈが判定基準値ｍａｔｃｈ＿ｓｔｄよりも大きいとき
に論理レベル“１”を出力し、それ以外では論理レベル
“０”を出力する。 【００４９】この論理レベル出力がパターン判定値ｉｄ
となり、バッファ２１０に格納され、メモリ制御部２０
１からの制御信号により、作業用メモリ３１０のアドレ
スｉｄａｄｒ＋ｉに格納される。ここで、ｉは先頭から
の単位文字列の順番を示している。 【００５０】上記説明のように、マッチング処理部３１
２，３１３，…，３１１＋ＳＴＲ＿Ｎによって、ステッ
プＳ３０５〜Ｓ３０９の各処理が終了した後、ステップ
Ｓ３１０の総合判定処理により、作業用メモリ３１０の
アドレスｉｄａｄｒから順番にＳＴＲ＿Ｎ個分格納され
ているパターン判定値ｉｄを基に、たとえば、以下のよ
うな判定結果を出力装置３０７に出力する。 【００５１】 ＳＴＲ＿Ｎ個のｉｄが全て“０” の場合 「パター
ン欠陥なし」 それ以外の場合 「パター
ン欠陥あり」 次に、第３の実施例について説明する。 【００５２】第３の実施例は、任意の部分文字列を選択
し、ＦＦＴ（高速フーリェ変換）のスペクトラムパター
ンにより、印刷欠陥を検出することを目的とした処理を
施す場合であるが、ここでＦＦＴのスペクトラムパター
ンにより印刷欠陥を検出することを簡単に説明する。 【００５３】いま、たとえば、図１２に示すように、文
字列５０１（拡大例を符号５０２で示す）の場合のパタ
ーン検査を行なうとき、たとえば、図１３に示す文字列
方向６０１においては、図１３に示すような文字間の距
離が下記数３のように一定間隔で文字部が繰返されてい
る。 【００５４】 【数３】 【００５５】このため、たとえば、低周波成分以外の空
間周波数におけるスペクトラム値（パワー値）にピーク
を持つ。一方、「つぶれ」または「切れ」の印刷欠陥の
文字列では、ほとんど直流成分域にピークが集中し、低
周波域以外のパワーは大きくなることがない。この差を
利用することにより、パターン欠陥を判定する。 【００５６】図１４は、第３の実施例に係るパターン検
査装置の構成を概略的に示すものである。第３の実施例
は、前述した図１に示す第１の実施例の構成にＦＦＴ処
理部３１４を加えた形態で実現できる。 【００５７】ＦＦＴ処理部３１４は、たとえば、一般に
市販されているようなデジタル・シグナル・プロセッサ
（ＤＳＰ）ボードから構成されている。また、プログラ
ムメモリ３０９には、たとえば、図１５に示すフローチ
ャートのような処理手順が記憶されている。 【００５８】すなわち、まず、フレームメモリ３０６に
格納された画像データを基に、繰返し文字列４０１の部
分の任意の部分文字列の位置検出を行なう（Ｓ８１）。
次に、位置検出した部分文字列画像に対して、文字高さ
の文字列方向に１次元ＦＦＴ演算を施し、低域以外の空
間周波数成分の大きさの大小関係を調べ（Ｓ８２）、そ
の判定結果を出力装置３０７に出力する（Ｓ８３）。以
下、ステップＳ８１〜Ｓ８３の処理について更に詳細に
説明する。 【００５９】まず、ステップＳ８１の繰返し文字列の部
分文字列の位置検出を行なう処理について説明する。こ
のステップＳ８１は、たとえば、図１６に示すフローチ
ャートのような処理手順となっている。 【００６０】すなわち、まず、ステップＳ９１，Ｓ９２
は、前述した図５のステップＳ７１，Ｓ７２と同様な処
理を行なう。そして、ステップＳ９３において、図５の
ステップＳ７５と同様な処理により、文字列の先頭の開
始座標値（Ｘｓ1 ，Ｙｓ）および文字高さ（Ｙｅ−Ｙ
ｓ）を求め、あらかじめ設定された一定値である文字列
方向の画素数ＳＵＢ＿Ｎ（たとえば、２５６画素のよう
な「２」のべき乗）を基に、開始座標値（Ｘｓ1 ，Ｙ
ｓ）および終了座標値（Ｘｓ1 ＋ＳＵＢ＿Ｎ，Ｙｅ）で
与えられる、図１７に示すような部分文字列領域２００
１を算出する。 【００６１】次に、ステップＳ８２の空間周波数スペク
トラムと判定処理について説明する。このステップＳ８
２は、たとえば、図１８に示すフローチャートのような
処理手順となっている。 【００６２】すなわち、まず、ステップＳ２１１におい
て、先に求めた部分文字列領域から、その文字列方向に
図１７の符号２００２のような位置における領域（文字
列方向の画素数ＳＵＢ＿Ｎ、文字の縦方向の画素数ｎ
（たとえば、３画素））を決定する。次に、ステップＳ
２１２において、文字の縦方向にｎライン分の画像デー
タの平均化処理を施し、その平均化した１ラインデータ
をＦＦＴ処理部３１４の中に設けられたバッファに転送
する。 【００６３】次に、ＦＦＴ処理部３１４において、１次
元ＦＦＴ演算を行ない（Ｓ２１３）、その演算された周
波数スペクトラムを基に、たとえば、あらかじめ設定さ
れた一定値である空間周波数成分値ａ以上のピーク値
を、あらかじめ設定された一定値である判定基準ピーク
値と比較し、もし判定基準ピーク値以上であるならば、
パターン判定値ｉｄを「０」にセットし、それ以外であ
るならば、パターン判定値ｉｄを「１」にセットする
（Ｓ２１４）。 【００６４】次に、ステップＳ８３のパターン判定結果
を出力する処理について説明する。ステップＳ８３で
は、上記のように求めたパターン判定値ｉｄを基に、た
とえば、以下のような判定結果を出力装置３０７に出力
する。 【００６５】 ｉｄ＝０ の場合 「パターン欠陥なし」 ｉｄ＝１ の場合 「パターン欠陥あり」 ここで、１次元ＦＦＴ演算のアルゴリズムの一例につい
て、代表的なＦＦＴアルゴリズム法である時間領域分割
法を用いて簡単に説明する。いま、データ数ＳＵＢ＿Ｎ
が「２」のべき乗の場合、すなわち、 ＳＵＢ＿Ｎ＝２m とすると、演算手順は図１９に示すフローチャートのよ
うな流れになる。以下、ＳＵＢ＿ＮをＮに置き換えて説
明する。 【００６６】まず、ステップＳ２２１において、複素配
列Ｘ（ｉ）（ｉ＝０，１，…，Ｎ−１）の初期化を行な
う。すなわち、複素配列Ｘ（ｉ）に、実数部はＦＦＴ処
理部３１４内のバッファに転送されたＮ個のサンプリン
グデータを代入し、虚数部は全て「０」に設定してお
く。次に、ステップＳ２２２において、ビット逆順の並
び替えを行ない、逆順カウンタを求める。このビット逆
順を行なった例として、下記表１を示す。 【００６７】 【表１】 【００６８】この処理手順を一般的に記述すると、図２
０に示すフローチャートのステップＳ２３１のようにな
り、配列ｔ（ｉ）に逆転カウンタの値が順次格納されて
いき、ステップＳ２３２において複素配列Ｘの値を他の
配列Ｒにコピーし、ステップＳ２３３において、ｉ＝０
からＮ−１まで順次下記式に基づき、ビット逆順に並び
替えられた複素配列Ｘの値に置き換えられる。 【００６９】Ｘ（ｉ）＝Ｒ（ｔ（ｉ）） 次に、Ｘ（ｐ）（ｐ＝０，１，…，Ｎ−１）に対して、
１段目のバタフライ演算を行なう（Ｓ２２３）。これ
は、ｐ＝０から始めて、配列を隣り合わせの１対ずつと
り、それらの和を初めの方に、差を後の方に戻す演算で
ある。この操作をＮ／２回行なうと１段目が終了する。 【００７０】２段目のバタフライ演算は、１つおきに行
なう（Ｓ２２４）。ｉ＝０から始め、ｉ＝０で２対計算
するとｉ＝１に移る。ここでも２対計算すると、ｉの値
を１つだけ増す。このバタフライ演算に必要な回転因子
は、ＷN 0 、ＷN N/4 であり、２段目はｉ＝Ｎ／４−１
の演算で終了する。 【００７１】３段目のバタフライ演算は、Ｘ（ｐ）とＸ
（ｐ＋４）の対で行なう。回転因子は、ＷN hN/8（ｈ＝
０，１，２，３）である。４枚の計算ごとにｉを増やし
ていき、ｉ＝Ｎ／８−１の演算で終了する。 【００７２】ｓ＋１段目のバタフライ演算は、Ｘ（ｐ）
とＸ（ｐ＋２8 ）の対で行なう（Ｓ２２５）。回転因子
は、ＷN kP（ｋ＝０，１，…，２8 −１）、Ｐ＝２
m-8-1 である。ｉを０から始め、ｐ＝ｉ・２8+1 ＋ｈと
して、２8 回のバタフライ演算を行なうたびに、ｉを１
ずつ増やしていき、この段の計算を終了するのは、ｉ＝
２m-8-1 のときの２8 回のバタフライ演算を終わったと
きである。 【００７３】最終段はｍ段目であり、Ｘ（ｈ）±ＷN h
Ｘ（ｈ＋Ｎ／２）（ｈ＝０，１，…，Ｎ／２−１）のバ
タフライ演算をＮ／２回行なう（Ｓ２２６）。以上の説
明を基にして１次元ＦＦＴの演算を実行できる。 【００７４】次に、第４の実施例について説明する。第
４の実施例は、印刷欠陥として各文字部がほとんど「つ
ぶれ」ている場合に特に有効であり、任意の部分文字列
を選択し、文字の穴数により印刷欠陥を検出することを
目的とした処理を施す場合である。 【００７５】たとえば、図１２の文字列５０２のよう
に、「Ｒ」、「Ｂ」、「Ｐ」のような文字部で囲まれた
下地部が存在する領域、または、「Ｅ」のように文字の
縦方向の１ラインみれば、文字部で囲まれた下地範囲が
存在する領域をまとめて「穴」と呼ぶと、この穴長（文
字の縦方向の長さ）は、文字の縦方向長さの約半分程度
であり、これらの文字列が高精細に印刷されなければな
らない場合は、「つぶれ」やすく、穴数が少なくなる。
逆に、文字部のインクののりが悪い場合は、全体的に
「切れ」てくるので、「つぶれ」と同様に穴数が存在し
なくなる。 【００７６】このように、「Ｒ」、「Ｂ」、「Ｐ」のよ
うな穴を持つ文字の場合は、この穴数に注目していれば
パターン欠陥を判定できる。さらに、本発明の検査対象
は繰返し文字列である故、単位文字列の中に少なくとも
１つ穴を持つ文字があれば、部分文字列におけるトータ
ルの穴数を調べることにより、容易に部分文字列全体の
パターン欠陥を判定できる。 【００７７】第４の実施例は、既に説明した図１に示す
第１の実施例と同様な構成で実現でき、プログラムメモ
リ３０９には、たとえば、図２１に示すフローチャート
のような処理手順が記憶されている。 【００７８】すなわち、まず、ステップＳ２４１におい
て、部分文字列の位置検出を行なう。これは、先に説明
した図１５のステップＳ８１と同じ処理である。次に、
ステップＳ２４２において、あらかじめ設定された閾値
ＴＨＲ１で、この位置検出した部分文字列領域の２値化
を行なう。 【００７９】２値化を行なった後、開始座標値（Ｘｓ1
，Ｙｓ）および終了座標値（Ｘｓ1＋ＳＵＢ＿Ｎ，Ｙ
ｅ）で与えられる部分文字列領域に対して、その文字列
方向に左（先頭）から右へ、文字の縦方向の黒画素およ
び白画素の変化を調べることによって、順次穴数をカウ
ントしていく（Ｓ２４３）。 【００８０】たとえば、図２２（ａ）に示すように、部
分文字列の先頭から横方向にｉ番目の画素の文字縦方向
の１ライン２５０１に注目して、図２２（ｂ）に示すよ
うに、文字部（黒画素部）と文字部の距離（たとえば、
符号２５０２と２５０４との距離）Ｌａが基準値ｄ以上
であれば、この範囲を穴とみなし、それを計数する。こ
の処理を、ｉ＝０からＳＵＢ＿Ｎ−１まで繰返すことに
より、トータルの穴数Ｔ＿ＡＮＡが求まり、あらかじめ
設定しておいた判定基準値ＳＴＤ＿ＡＮＡと比較し、ト
ータルの穴数Ｔ＿ＡＮＡが大きければ、パターン判定値
ｉｄを「０」に、そうでなければ、パターン判定値ｉｄ
を「１」にセットする（Ｓ２４４）。 【００８１】最後に、ステップＳ２４５において、上記
のように求めたパターン判定値ｉｄを基に、たとえば、
以下のような判定結果を出力装置３０７に出力する。 ｉｄ＝０ の場合 「パターン欠陥なし」 ｉｄ＝１ の場合 「パターン欠陥あり」 なお、本発明は、前記実施例に限定されるものではな
い。たとえば、前記各実施例では、印刷物を移動させて
画像を読取る装置構成の場合として説明したが、逆に印
刷物を静止したまま、画像入力部を移動させることによ
り、印刷物上の画像を読取ってもよい。 【００８２】また、前記各実施例では、画像入力部にラ
インセンサを用いた場合を説明したが、これに限らず、
エリアセンサを用いることもできる。また、前記第１，
２の実施例では、２次元のパターンマッチング処理を行
なう場合について説明したが、これに限らず、文字縦方
向の濃淡データの１次元射影データを基に１次元のパタ
ーンマッチング処理を用いてパターン判別することがで
きる。 【００８３】また、前記第１，２の実施例では、繰返し
文字列全体のパターン検査を行なう場合について説明し
たが、これに限らず、単位文字列の整数倍の部分文字列
のみを検査する場合にも適用できる。 【００８４】また、前記第３の実施例では、１次元ＦＦ
Ｔ演算を施す場合について説明したが、これに限らず、
２次元ＦＦＴなどを用いることによって、空間周波数ス
ペクトラムを用いてパターン判定を行なうこともでき
る。 【００８５】さらに、前記第４の実施例では、文字縦方
向１ラインに注目して穴数を計数したが、これに限ら
ず、２次元パターンにおける文字部の画素で囲まれた下
地領域の数を計数してもよい。 【００８６】 【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、印
刷物上に高精細に印刷された繰返し文字列のパターン検
査を高速かつ高精度に行なうことができるパターン検査
装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１および第４の実施例に係るパター
ン検査装置の構成を概略的に示すブロック図。 【図２】印刷物上に印刷された繰返し文字列の一例を示
す図。 【図３】フレームメモリに格納された各画素のアドレス
の参照例を示す図。 【図４】第１実施例に係る処理手順を説明するためのフ
ローチャート。 【図５】第１実施例に係る単位文字列位置検出の処理手
順を説明するためのフローチャート。 【図６】メモリに格納された２値画像の一例を示す図。 【図７】文字列位置検出のための周辺分布の一例を示す
図。 【図８】第１の実施例に係るパターン比較処理を説明す
るためのフローチャート。 【図９】本発明の第２の実施例に係るパターン検査装置
の構成を概略的に示すブロック図。 【図１０】第２の実施例に係るマッチング処理部の構成
を示すブロック図。 【図１１】第２の実施例に係る処理手順を説明するため
のフローチャート。 【図１２】本発明の第３の実施例に係る印刷物上の繰返
し文字列の一例を示す図。 【図１３】第３の実施例に係る文字列方向の文字間隔を
説明するための図。 【図１４】本発明の第３の実施例に係るパターン検査装
置の構成を概略的に示すブロック図。 【図１５】第３の実施例に係る処理手順を説明するため
のフローチャート。 【図１６】第３の実施例に係る部分文字列位置検出の処
理手順を説明するためのフローチャート。 【図１７】第３の実施例に係る部分文字列領域およびＦ
ＦＴ演算領域を説明するための図。 【図１８】第３の実施例に係るＦＦＴ演算処理および判
定処理を説明するためのフローチャート。 【図１９】第３の実施例に係る１次元ＦＦＴ演算アルゴ
リズムの処理手順を説明するためのフローチャート。 【図２０】第３の実施例に係る１次元ＦＦＴ演算アルゴ
リズムのビット逆転処理手順を説明するためのフローチ
ャート。 【図２１】本発明の第４の実施例に係る処理手順を説明
するためのフローチャート。 【図２２】第４の実施例に係る文字部と文字部とで囲ま
れた下地領域を説明するための図。 【符号の説明】 Ｐ……印刷物 ２０１……メモリ制御部 ２０２……メモリ ２０３……基準パターンメモリ ２０４，２０５……減算器 ２０６……乗算器 ２０７……加算器 ２０８……判定基準値レジスタ ２０９……比較器 ２１０……バッファ ３０１……画像入力部（画像入力手段） ３０２……光学系 ３０３……ラインセンサ ３０４……Ａ／Ｄ変換部 ３０５……メモリ制御部 ３０６……フレームメモリ ３０７……出力装置（判定結果出力手段） ３０８……ＣＰＵ ３０９……プログラムメモリ ３１０……作業用メモリ ３１１……基準パターンメモリ ３１２〜３１１＋ＳＴＲ＿Ｎ……マッチング処理部 ３１４……ＦＦＴ処理部 ４０１，５０１……繰返し文字列 ４０２，５０２……拡大された繰返し文字列
ン検査装置の構成を概略的に示すブロック図。 【図２】印刷物上に印刷された繰返し文字列の一例を示
す図。 【図３】フレームメモリに格納された各画素のアドレス
の参照例を示す図。 【図４】第１実施例に係る処理手順を説明するためのフ
ローチャート。 【図５】第１実施例に係る単位文字列位置検出の処理手
順を説明するためのフローチャート。 【図６】メモリに格納された２値画像の一例を示す図。 【図７】文字列位置検出のための周辺分布の一例を示す
図。 【図８】第１の実施例に係るパターン比較処理を説明す
るためのフローチャート。 【図９】本発明の第２の実施例に係るパターン検査装置
の構成を概略的に示すブロック図。 【図１０】第２の実施例に係るマッチング処理部の構成
を示すブロック図。 【図１１】第２の実施例に係る処理手順を説明するため
のフローチャート。 【図１２】本発明の第３の実施例に係る印刷物上の繰返
し文字列の一例を示す図。 【図１３】第３の実施例に係る文字列方向の文字間隔を
説明するための図。 【図１４】本発明の第３の実施例に係るパターン検査装
置の構成を概略的に示すブロック図。 【図１５】第３の実施例に係る処理手順を説明するため
のフローチャート。 【図１６】第３の実施例に係る部分文字列位置検出の処
理手順を説明するためのフローチャート。 【図１７】第３の実施例に係る部分文字列領域およびＦ
ＦＴ演算領域を説明するための図。 【図１８】第３の実施例に係るＦＦＴ演算処理および判
定処理を説明するためのフローチャート。 【図１９】第３の実施例に係る１次元ＦＦＴ演算アルゴ
リズムの処理手順を説明するためのフローチャート。 【図２０】第３の実施例に係る１次元ＦＦＴ演算アルゴ
リズムのビット逆転処理手順を説明するためのフローチ
ャート。 【図２１】本発明の第４の実施例に係る処理手順を説明
するためのフローチャート。 【図２２】第４の実施例に係る文字部と文字部とで囲ま
れた下地領域を説明するための図。 【符号の説明】 Ｐ……印刷物 ２０１……メモリ制御部 ２０２……メモリ ２０３……基準パターンメモリ ２０４，２０５……減算器 ２０６……乗算器 ２０７……加算器 ２０８……判定基準値レジスタ ２０９……比較器 ２１０……バッファ ３０１……画像入力部（画像入力手段） ３０２……光学系 ３０３……ラインセンサ ３０４……Ａ／Ｄ変換部 ３０５……メモリ制御部 ３０６……フレームメモリ ３０７……出力装置（判定結果出力手段） ３０８……ＣＰＵ ３０９……プログラムメモリ ３１０……作業用メモリ ３１１……基準パターンメモリ ３１２〜３１１＋ＳＴＲ＿Ｎ……マッチング処理部 ３１４……ＦＦＴ処理部 ４０１，５０１……繰返し文字列 ４０２，５０２……拡大された繰返し文字列
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01N 21/84 - 21/958
G06T 1/00
Claims (1)
- (57)【特許請求の範囲】 【請求項１】 同一文字列が繰返して構成されている繰
返し文字列が印刷されている印刷物上の前記繰返し文字
列を含む画像を入力する画像入力手段と、 この画像入力手段によって入力された画像を基に、前記
繰返し文字列の少なくとも１つの部分文字列の画像を検
出する部分文字列検出手段と、 この部分文字列検出手段によって検出された部分文字列
画像の中の文字列方向に沿う領域を決定し、この領域の
空間周波数スペクトラムを求める空間周波数成分演算手
段と、 この空間周波数成分演算手段により演算された空間周波
数スペクトラムを基に、あらかじめ設定された空間周波
数成分値以上のピーク値を、あらかじめ設定された判定
基準ピーク値と比較し、前記空間周波数成分値以上のピ
ーク値が前記判定基準ピーク値以上であるか否か比較す
る比較手段と、 この比較手段の比較結果に基づき、前記空間周波数成分
値以上のピーク値が前記判定基準ピーク値以上である場
合に前記繰返し文字列はパターン欠陥なしと判定し、前
記比較手段の比較結果が否の場合に前記繰返し文字列は
パターン欠陥ありと 判定するパターン欠陥判定手段と、 このパターン欠陥判定手段によって得られた判定結果を
出力する判定結果出力手段と、 を具備したことを特徴とするパターン検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30082494A JP3526331B2 (ja) | 1994-12-05 | 1994-12-05 | パターン検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30082494A JP3526331B2 (ja) | 1994-12-05 | 1994-12-05 | パターン検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08159985A JPH08159985A (ja) | 1996-06-21 |
| JP3526331B2 true JP3526331B2 (ja) | 2004-05-10 |
Family
ID=17889551
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30082494A Expired - Fee Related JP3526331B2 (ja) | 1994-12-05 | 1994-12-05 | パターン検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3526331B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012103225A (ja) * | 2010-11-15 | 2012-05-31 | Ricoh Co Ltd | 検査装置、検査方法、検査プログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体 |
| KR101828176B1 (ko) * | 2016-11-04 | 2018-02-09 | 주식회사 포스코아이씨티 | 마킹 정보 인식을 위한 마킹 시스템 및 방법 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010286256A (ja) * | 2009-06-09 | 2010-12-24 | Jfe Techno Research Corp | 印刷物の検査方法 |
-
1994
- 1994-12-05 JP JP30082494A patent/JP3526331B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012103225A (ja) * | 2010-11-15 | 2012-05-31 | Ricoh Co Ltd | 検査装置、検査方法、検査プログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体 |
| KR101828176B1 (ko) * | 2016-11-04 | 2018-02-09 | 주식회사 포스코아이씨티 | 마킹 정보 인식을 위한 마킹 시스템 및 방법 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08159985A (ja) | 1996-06-21 |
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