JPH08292158A - 用紙類のしわ検出方法およびしわ検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 用紙類表面にしわがいずれの方向に発生して
も、そのしわを確実に、かつ短時間の内に検出できるよ
うにする。 【構成】 しわ強調処理手段３３０で画像メモリ３２０
を複数の画素からなる評価ユニットごとに区画して各評
価ユニットに含まれる濃淡データに基づいて濃淡差の最
大値である濃淡最大差を算出し、この濃淡最大差のデー
タを画像メモリ３２０に対応させて構成される二次元の
ワークメモリに格納する。判定手段３４０で、評価ユニ
ットの複数個をパターン状に組み合わせた評価ブロック
を構成し、これらの各評価ブロックをワークメモリ内の
全ての領域を走査しつつ、評価ブロック内に含まれる濃
淡最大差の最小値を求め、この最小値を予め設定された
良品の限界を決めるしきい値と比較して、最小値がしき
い値を越えた場合に、その評価ブロックのパターンと一
致する位置にしわがあると判定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、用紙、フィルム、テー
プ等といった用紙類の表面に発生するしわ（皺）を検出
する方法および装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】たとえば、複写機において、紙送りロー
ラの調整不良等に起因して、用紙にしわが生じると、複
写が良好に行えない等の不都合が起こる。

【０００３】したがって、複写機の製造メーカにおいて
は、複写機を出荷する上で事前に用紙を複写してしわの
発生の有無を検出し、しわが発生しているようであれ
ば、紙送りローラ等を調整し直す等の処置がとられる。

【０００４】ところで、このような複写用の用紙や、フ
ィルム、テープ等の用紙類の表面に発生するしわを検出
するしわ検出装置として、従来、たとえば、特開平４−
３０５１４５号公報や特開平４−３６４４４号公報に開
示されたものが提供されている。

【０００５】すなわち、これらの従来技術では、用紙の
送り方向に直交してＣＣＤを直線状に配列してなるライ
ンセンサを配置するとともに、このラインセンサから所
定の間隔を存して照明装置を設置し、この照明装置によ
って用紙の表面を照明する。このとき、用紙の表面にし
わが存在すれば、そのしわの部分に影ができる。

【０００６】その状態で、ラインセンサで用紙の表面を
撮像し、逐次出力される１ライン分ごとの濃淡データを
取り込み、この濃淡データを予め設定しておいた良品の
限界を決めるしきい値と比較する。このとき、しわによ
って影ができた部分は、濃度が高くなるから、ラインセ
ンサで得られる濃淡データはしきい値を越えることにな
る。そして、濃淡データがしきい値を越えた場合には、
そのときの用紙上の位置を記録する。

【０００７】こうして、ラインセンサから逐次出力され
る１ライン分ごとの濃淡データのしきい値を越えた位置
が複数ライン分にわたって連続しておれば、その連続す
る領域をしわとして判定するようにしている。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】ところで、従来技術に
おいては、しわの発生する方向によって検出感度が極度
に変化するという問題がある。

【０００９】すなわち、用紙の送り方向に沿ってしわが
発生した場合、ラインセンサで取り込まれる１ライン分
の濃淡データ内において、濃度が変化する箇所が現れる
ために、しわのプロファイルを把握し易く、検出感度が
高い。

【００１０】これに対して、用紙の送り方向に直交する
方向に沿ってしわが発生した場合、ラインセンサで取り
込まれる濃淡データの１ライン分が全体的に濃度が高
く、他のラインの濃淡データは、全て濃度が低くなり、
複数ライン分にわたって濃度が高い箇所が連続すること
がないので、しわのプロファイルを把握し難く、検出感
度が極めて悪くなる。

【００１１】本発明は、上記に鑑みてなされたもので、
用紙類の表面のいずれの方向にしわが発生した場合で
も、そのしわを従来よりも確実に、かつ短時間の内に検
出できるようにすることを課題とする。

【００１２】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明のしわ検出方法にあっては、用紙類の表面を
二次元撮像して得られる該表面上のしわに起因して生じ
る陰影による濃淡データを画像メモリを構成する複数の
画素に個別に対応して格納するステップと、前記画像メ
モリを構成する所定数の画素について複数の画素からな
る評価ユニットの複数をパターン状に組み合わせて複数
種類の評価ブロックを構成し、これら評価ブロック毎に
前記濃淡データを処理して用紙類の表面上のしわの有無
を検出するステップとを含むことを特徴としている。

【００１３】また、本発明のしわ検出方法にあっては、
用紙類の表面を二次元撮像して得られる該表面上のしわ
に起因して生じる陰影による濃淡データを画像メモリを
構成する複数の画素に個別に対応して格納するステップ
と、該画像メモリを構成する所定数の画素を複数の画素
毎に区画し、各区画を評価ユニットとするとともに、各
評価ユニット毎にそれぞれに格納してある濃淡データか
ら濃淡差の最大値を算出するステップと、前記各評価ユ
ニット毎に算出した最大の濃淡差をそれぞれの評価ユニ
ットの濃淡データとして、前記画像メモリに対応した構
成を有するワークメモリに格納するステップと、前記ワ
ークメモリ内の評価ユニットの複数をパターン状に組み
合わせて数種類の評価ブロックを構成し、これら評価ブ
ロック毎にそれぞれの評価ユニットに格納している濃淡
差の最大値のうちの最小値を求めるステップと、各評価
ブロック毎に前記最小値が、あらかじめ設定されたしき
い値を越えた評価ユニットがあるかどうかを判定するス
テップと、最小値がしきい値を越えたと判定された評価
ブロックがあるときにはその用紙類にはその評価ブロッ
クの位置にしわがあると検出するステップとを含むこと
を特徴としている。

【００１４】本発明におけるパターン状は、好ましく
は、水平、垂直、斜めの少なくとも３つの方向を含むも
のであってもよい。

【００１５】本発明においては、好ましくは、前記用紙
類の表面上をラインセンサでライン方向に撮像する一
方、該用紙類をその撮像方向に対してそのラインに沿っ
て所定の照明角度で照明することによって、前記画像メ
モリに取り込ませるべき前記濃淡データを得るものであ
ってもよい。

【００１６】本発明においては、好ましくは、前記画像
メモリを構成する各画素については当該画素に格納され
る濃淡データについてその周囲の画素の濃淡データと関
連された式に基づいて微分処理してから、該画像メモリ
に再度格納するものであってもよい。

【００１７】上記課題を解決するため、本発明のしわ検
出装置にあっては、用紙類を照明する光源、用紙類の濃
淡画像を撮像する撮像手段、および撮像手段で撮像され
た用紙類の濃淡データに基づいてしわを検出するデータ
処理手段とを備えたものにおいて、前記データ処理手段
として、撮像手段で撮像して得られた濃淡データを格納
する二次元の画像メモリと、この画像メモリを複数の画
素ごとに区画し、各区画を一つの評価ユニットとした場
合の各評価ユニットに含まれる濃淡データに基づいて濃
淡差の最大値である濃淡最大差を算出し、この濃淡最大
差のデータを画像メモリに対応させて構成される二次元
のワークメモリに格納するしわ強調処理手段と、評価ユ
ニットの複数個をパターン状に組み合わせて数種類の評
価ブロックを構成し、これらの各評価ブロックを用いて
前記ワークメモリ内の全ての領域で、評価ブロック内に
含まれる濃淡最大差の最小値を求め、この最小値を予め
設定された良品の限界を決めるしきい値と比較して、最
小値がしきい値を越えた場合に、その評価ブロックの位
置にしわがあると判定する判定手段とを含んで構成され
ていることを特徴としている。

【００１８】本発明の評価ブロックとしては、好ましく
は、少なくとも水平方向、これに直交する垂直方向、左
上斜め方向、および右上斜め方向の４方向について複数
の評価ユニットをパターン状に配列して構成される。

【００１９】

【作用】本発明のしわ検出方法では、画像メモリには用
紙類の表面を二次元撮像して得られる該表面上のしわに
起因して生じる陰影による濃淡データはそれを構成する
複数の画素に個別に対応して格納される。そして、画像
メモリを構成する所定数の画素について複数の画素から
なる評価ユニットの複数をパターン状に組み合わせて複
数種類の評価ブロックを構成し、これら評価ブロック毎
に前記濃淡データを処理して用紙類の表面上のしわの有
無を検出するから、用紙類の表面上に存在するしわはそ
の発生方向が任意であっても複数書類の評価ブロックの
パターンで検出できる。

【００２０】また、本発明のしわ検出方法においては、
各評価ユニット毎にそれぞれに格納してある濃淡データ
から濃淡差の最大値を算出し、前記各評価ユニット毎に
算出した最大の濃淡差をそれぞれの評価ユニットの濃淡
データとして、前記画像メモリに対応した構成を有する
ワークメモリに格納し、前記ワークメモリ内の評価ユニ
ットの複数をパターン状に組み合わせて数種類の評価ブ
ロックを構成し、これら評価ブロック毎にそれぞれの評
価ユニットに格納している濃淡差の最大値のうちの最小
値を求め、各評価ブロック毎に前記最小値が、あらかじ
め設定されたしきい値を越えた評価ユニットがあるかど
うかを判定し、最小値がしきい値を越えたと判定された
評価ブロックがあるときにはその用紙類にはその評価ブ
ロックの位置にしわがあると検出するから、画素単位で
処理する場合よりもしわの強調検出のための処理時間が
短かくなり、しかも、しわを人の目でとらえた場合と近
い状態で検出することができるうえ、任意の方向に発生
したしわを確実に検出することができ、従来のように、
しわの方向性によって検出感度が変動する等の不都合は
生じない。

【００２１】また、本発明のしわ検出装置によれば、撮
像手段で用紙類の表面を撮像し、これにより得られる濃
淡データがデータ処理手段に取り込まれて画像メモリに
格納され、しわ強調処理手段において、画像メモリを複
数の画素ごとに区画し、各区画を一つの評価ユニットと
した場合の各評価ユニットに含まれる濃淡データに基づ
いて濃淡差の最大値である濃淡最大差を算出し、この濃
淡最大差のデータを画像メモリに対応させて構成される
二次元のワークメモリに格納されるから、評価ユニット
を単位としてデータを処理することで、画素単位で処理
する場合よりもしわの強調検出のための処理時間が短か
くなり、しかも、しわを人の目でとらえた場合と近い状
態で検出することができる。また、判定手段によって、
評価ユニットの複数個をパターン状に組み合わせて数種
類の評価ブロックを構成し、これらの各評価ブロックを
用いてワークメモリ内の全ての領域で、評価ブロック内
に含まれる濃淡最大差の最小値が求められ、この最小値
が予め設定された良品の限界を決めるしきい値と比較さ
れて、最小値がしきい値を越えた場合に、その評価ブロ
ックの位置にしわがあると判定されるので、任意の方向
に発生したしわを確実に検出することができ、従来のよ
うに、しわの方向性によって検出感度が変動する等の不
都合は生じない。

【００２２】

【実施例】この実施例においては、複写機の複写紙に発
生しているしわを検出する場合について説明するが、用
紙類としてはこのような複写紙に限らず、他の用紙、テ
ープなどでもよく、また平面状とかロール状を問わずし
わが発生する可能性のある用紙類を含むものである。

【００２３】図１は本発明の実施例に係るしわ検出方法
を実施するしわ検出装置の概略構成図である。図１を参
照して、実施例のしわ検出装置１００は、送り台１１
０、撮像手段としてのラインセンサ１２０、照明用の光
源としてのランプ１３０、およびデータ処理手段３００
を備えて構成されている。送り台１１０は、図示しない
用紙送り機構によって一定速度で一方向に直線的に移動
されるようになっており、この送り台１１０上に、灰色
の一様な明るさをもった検査用チャート(ハーフトーン
チャート)を複写機で複写して得られる複写紙４００が
載置される。したがって、複写機に何ら不良がなけれ
ば、複写紙４００も灰色の一様な明るさをもったものと
なる。送り台１１０の上の複写紙４００の周囲には、ラ
インセンサ１２０によって複写紙４００が撮像されたか
否かを容易に認識できるように、光が反射しない黒枠１
４０が設けられている。

【００２４】ラインセンサ１２０は、複写紙４００の濃
淡画像を１ラインごとに撮像するものであって、ＣＣＤ
等の撮像素子(素子数：Ａ)を直線状に配列して構成され
ており、送り台１１０の上方の垂直方向位置において、
その素子配列方向が送り台１１０の送り方向に直交する
ように配置されている。送り台１１０の送り速度および
ラインセンサ１２０の１ラインごとの信号取込周期は、
複写紙４００が送り方向に沿って端から端まで移動され
た場合に複写紙４００の全面が撮像できるように、すな
わち、ラインセンサ１２０で撮像して得られる１ライン
分ごとの濃淡データが、全体でＢライン分揃ったときに
複写紙４００の全面を覆い尽くすように予め設定されて
いる。ランプ１３０は、ラインセンサ１２０の素子配列
方向に沿って均一の明るさで照射されるように、その複
写紙４００上の照射位置とラインセンサ１２０の撮像位
置とが一致するように設定され、かつ、複写紙４００に
しわが発生している場合には、そのしわによる影ができ
るように、ラインセンサ１２０に対して所定角度θだけ
傾斜して配置されている。ラインセンサ１２０とランプ
１３０との配置関係は、図１と反対の状態であっても同
じ結果が得られるのでかまわない。

【００２５】データ処理手段３００は、ラインセンサ１
２０で撮像された複写紙４００の濃淡データに基づいて
しわを検出するものであって、本例では、データ変換手
段３１０、画像メモリ３２０、しわ強調処理手段３３
０、および判定手段３４０を含む。データ変換手段３１
０は、ラインセンサ１２０から出力される撮像信号をそ
の濃淡レベルの大小に応じた量子化レベルを有する濃淡
データに変換するもので、本例ではＡ／Ｄコンバータか
らなる。画像メモリ３２０は、図２に示すように、ライ
ンセンサ１２０で撮像して得られる濃淡データを少なく
とも複写紙４００の全面に相当する量(画素数：１ライ
ン分の素子数Ａ×ライン数Ｂ)だけ格納するもので、ダ
イナミックＲＡＭ等の二次元メモリで構成されている。
しわ強調処理手段３３０は、複写紙４００上のしわの検
出を人間によるしわの検出と同程度に近付けるために、
しわの情報を強調するためのものであり、また、判定手
段３４０は、複写紙４００のしわの有無を最終的に判定
するものであって、これらのしわ強調処理手段３３０お
よび判定手段３４０の機能は、次のしわ検出装置１００
による複写紙４００のしわ検出動作を説明する際に、併
せて詳しく説明することとする。

【００２６】図３は、上記構成のしわ検出装置による複
写紙のしわ検出動作の説明に供するフローチャートであ
る。図３を参照して図示しない複写機によってハーフト
ーンチャートを複写し、これにより得られる複写紙４０
０が送り台１１０上に載置される。そして、この複写紙
４００に対してランプ１３０からの光が照射される。複
写紙４００が載置された送り台１１０は、図示しない用
紙送り機構によって一定速度で送り方向に移動される。
これに応じて、ラインセンサ１２０は、複写紙４００を
撮像して得られる１ライン分の撮像信号の平均値を求め
る(ステップ１)。ラインセンサ１２０で撮像される位置
が、未だ黒枠１４０上にあるときには、この平均値が予
め設定したしきい値未満となるので、そのときには、複
写紙４００を撮像していないものと判断し(ステップ
２)、この撮像信号をデータ処理手段３００に出力する
ことなく、ステップ１に戻って次の１ライン分を撮像す
る。

【００２７】ラインセンサ１２０は、複写紙４００を撮
像して得られる１ライン分の撮像信号の平均値がしきい
値以上になれば、複写紙４００を撮像したものと判断
し、この撮像信号をデータ処理手段３００に出力する。
ここで、複写紙４００にしわが生じておれば、そのしわ
の段差によって影ができ、その結果、明るさに濃淡差が
生じる。たとえば、図４(a)のように、複写紙４００の
しわ４１０が凸状に形成されたり、あるいは、図４(b)
のように、しわ４１０が凹状に形成されておれば、それ
ぞれ符号Ａ１，Ａ２で示される範囲がランプ１３０から
の光が届かずに影となる。そして、この影の部分は他の
部分に比べて暗いので、ラインセンサ１２０からは、そ
の濃淡に応じたレベルを有する撮像信号が出力される。
データ処理手段３００のデータ変換手段３１０は、ライ
ンセンサ１２０からの撮像信号を、その濃淡レベルの大
小に応じた量子化レベルを有する多階調の濃淡データに
変換する。この濃淡データは、画像メモリ３２０に送ら
れ、ラインセンサ１２０が複写紙４００の全面を撮像し
終えるまで逐次画像メモリ３２０に格納される(ステッ
プ３)。したがって、画像メモリ３２０には、複写紙４
００の全面を撮像した場合に相当するデータ量(画素
数：Ａ×Ｂ)の濃淡データが蓄積される。

【００２８】次に、しわ強調処理手段３３０によるしわ
強調処理のアルゴリズムについて説明する。

【００２９】しわ強調処理手段３３０は、まず、画像メ
モリ３２０に蓄積された濃淡データに対して、微分処理
を行う(ステップ４)。これには、たとえば、図５を参照
して、画像メモリ３２０内の一つの画素を中心としてそ
の近傍の８画素を含む３×３画素からなるマトリックス
を想定し、そのマトリックス内の中心の画素に格納され
ている濃淡データ(濃淡レベルＰ５)に対して、次式
（１）、 Ｐ５＝｜Ｐ２−Ｐ５｜＋｜Ｐ４−Ｐ５｜ …………(１) で定義付けられる微分フィルタをかけ、この式で得られ
る濃淡レベルＰ５の値をそのマトリックス内の中心の画
素の位置に再び格納する。ここで、任意のラインにある
Ｐ５に対し、Ｐ１〜Ｐ３はＰ５のラインの前のラインに
ある画素の濃淡レベルであり、Ｐ４とＰ６はそれぞれＰ
５とそれぞれ同じラインで１つ前の画素と後の画素の濃
淡レベルであり、Ｐ７〜Ｐ９はＰ５のラインの後のライ
ンにある画素の濃淡レベルであって、これらＰ１〜Ｐ８
はＰ５の濃淡レベルのある画素を中心としてこれの周囲
に位置する画素に格納されているデータの濃淡レベルを
示している。これら微分処理は画像メモリ３２０を構成
する全ての画素を対象として行われる。

【００３０】このようにして、しわによって暗くなった
部分が強調された濃淡データに対して、しわ強調処理手
段３３０は、引き続いて次の処理を行う。

【００３１】まず、図６に示すように、画像メモリ３２
０を複数の画素(本例では、１６×１６＝２５６画素)ご
とに区画して、各々の区画を一つの評価ユニット２１０
とする。したがって、本例では、一つの評価ユニット２
１０の領域内には、２５６個の濃淡データが含まれる。

【００３２】次に、各評価ユニット２１０ごとに、評価
ユニット２１０内に含まれる濃淡データに基づいて濃淡
差の最大値である濃淡最大差を算出する(ステップ６)。

【００３３】すなわち、本例では、各評価ユニット２１
０内に含まれる２５６個の濃淡データについて、その濃
淡レベルの最大値と最小値とを検索して両者の差を求め
る。この濃淡最大差を求めることは、しわによって暗く
なった部分がより強調されたかたちとなる。この濃淡最
大差のデータをその演算対象となった評価ユニット２１
０の位置に格納する。

【００３４】したがって、本例の場合、画像メモリ３２
０には、一つの評価ユニット２１０ごとに(すなわち２
５６個の画素単位で)同じ濃淡最大差のデータが格納さ
れる。そして、ここではその濃淡最大差のデータが格納
された状態の画像メモリ３２０をワークメモリ２００と
称することにする。

【００３５】なお、画像メモリ３２０とは別個に、(Ａ
／１６)×(Ｂ／１６)画素の記憶容量を有するメモリを
設け、このメモリをワークメモリとして各画素に濃淡最
大差のデータを格納するようにしてもよい。あるいは、
画像メモリ３２０をＡ×Ｂ画素＋(Ａ／１６)×(Ｂ／１
６)画素の記憶容量をもつように予め設定しておき、(Ａ
／１６)×(Ｂ／１６)画素からなるメモリ領域をワーク
メモリとして確保し、ここに濃淡最大差のデータを格納
することもできる。

【００３６】このように評価ユニット２１０を単位とし
てデータを処理すれば、画素単位で処理する場合よりも
しわの強調検出のための処理時間が短かくなり、しか
も、しわを人の目でとらえた場合と近い状態で検出する
ことができる利点が生じる。

【００３７】続いて、判定手段３４０は、図７に示すよ
うに、予め評価ユニット２１０の複数個をパターン状に
組み合わせて構成された数種類(本例では４種類)の評価
ブロック５１０，５２０，５３０，５４０を用いて、前
述のワークメモリ２００の全領域を走査しつつ、次の基
準によってしわの有無を判定する。評価ブロック５１０
では、ａ〜ｄの評価ユニット２１０からなり、評価ブロ
ック５２０はａ’〜ｄ’の評価ユニット２１０からな
り、評価ブロック５３０はａ’’〜ｄ’’の評価ユニッ
ト２１０からなり、評価ブロック５４０はａ’’’〜
ｄ’’’の評価ユニット２１０からなる。本例では、図
７(a)に示すような４つの評価ユニットを垂直方向に配
列した９０°評価ブロック５１０、同図(b)に示すよう
な４つの評価ユニットを左上斜め方向に配列した−４５
°評価ブロック５２０、同図(c)に示すような４つの評
価ユニットを水平方向に配列した０°評価ブロック５３
０、および同図(d)に示すような４つの評価ユニットを
右上斜め方向に配列した４５°評価ブロック５４０があ
らかじめ構成されている。

【００３８】そして、図８(a)に示すように、たとえば
最初に９０°評価ブロック５１０をワークメモリ２００
のたとえば水平方向に沿ってその全領域にわたって走査
しつつ、９０°評価ブロック５１０内に含まれる(した
がって４つの評価ユニット２１０に含まれる)濃淡最大
差のデータ中での最小値を求め(ステップ７１)、この最
小値を予め良品の限界を決めるしきい値と比較する(ス
テップ７２)。その比較の結果、濃淡最大差の最小値が
しきい値以上となった場合には、その９０°評価ブロッ
ク５１０のパターンに沿ったしわが存在すると判定す
る。

【００３９】すなわち、判定手段３４０は、ワークメモ
リ２００の全領域について、 (評価ブロック内の濃淡最大差のデータ中での最小値)≧(良品限界しきい値) …………(２) となる場所を検出する操作を行う。

【００４０】そして、判定手段３４０は、しわが存在す
るものと判定したときには、そのときに使用した９０°
評価ブロック５１０の種類と、その９０°評価ブロック
５１０と一致したワークメモリ２００上の位置のデータ
を、図示しない別個のメモリ等に順次記録する(ステッ
プ７３)。こうして、判定手段３４０は、ワークメモリ
２００の全領域について９０°評価ブロック５１０の走
査が終われば(ステップ７４)、次に、上述のステップ７
１〜７４までの操作を、−４５°評価ブロック５２０、
０°評価ブロック５３０、および４５°評価ブロック５
４０についても同様に行い(ステップ８〜１０)、前記式
(２)の条件を満す場合には、各評価ブロック５２０，５
３０，５４０のパターンに沿ったしわが存在するものと
判定して、その各評価ブロック５２０〜５４０の種類
と、その評価ブロック５２０〜５４０が一致したワーク
メモリ２００上の位置のデータを、図示しない別個のメ
モリ等に順次記録する。

【００４１】このような操作によって、複写紙４００の
４方向に発生するしわの有無が判定されることを図９を
用いてさらに詳しく説明する。

【００４２】図９において、太実線で示される部分が複
写紙４００に発生したしわ４１０に該当すると想定す
る。いま、ワークメモリ２００に対して９０°評価ブロ
ック５１０を走査したとき、図中左端近傍のしわ４１０
は略水平方向に延びているので、９０°評価ブロック５
１０内の４つの評価ユニット２１０に含まれる濃淡最大
差のデータａ〜ｄ中での最小値は、しわ４１０の真上に
位置する評価ユニット２１０ではなく、しわ４１０の発
生位置から外れた評価ユニット２１０に記憶されている
濃淡最大差のデータである。したがって、(評価ブロッ
ク内の濃淡最大差のデータ中での最小値)＜(良品限界し
きい値)となり、前記式(２)の条件は満たさないので、
この評価ブロック５１０を用いた場合には、この箇所で
はしわと判定されない。

【００４３】これに対して、ワークメモリ２００に対し
て０°評価ブロック５３０を走査したとき、同じ左端近
傍のしわ４１０は略水平方向に延びているので、０°評
価ブロック５３０を構成する４つの評価ユニット２１０
は全てしわ４１０の真上に位置することになる。このた
め、４つの評価ユニット２１０間では、濃淡最大差は略
同じでかつ大きな値をとるので、(評価ブロック内の濃
淡最大差のデータ中での最小値)≧(良品限界しきい値)
となり、前記式(２)の条件が満たされる。したがって、
この０°評価ブロック５３０を用いた場合にはしわと判
定され、実際のしわ４１０の発生状況に一致する。この
ように、図９に示すようなしわ４１０の発生状況におい
ては、図７に示した４種類の評価ブロック５１０〜５４
０が組み合わさった形でしわが検出されることになる。

【００４４】最後に、判定手段３４０は、複写紙４００
上に何らかのしわが有ると判定したならば(ステップ１
１)、上述の判定結果(評価ブロック５１０〜５４０の種
類とそれらの位置の情報)に基づいて、しわの情報をモ
ニタ画面上に表示したりプリンタに印字したり、また、
そのしわ発生の状況をモニタ画面上に図９に示すような
かたちで表示したり、あるいは、ブザーやランプ等によ
って警報を発する(ステップ１２)。一方、ステップ１１
で、複写紙４００にしわが全く発生していないならば、
しわが存在しないとの情報をモニタ画面上に表示した
り、プリンタに印字したりする(ステップ１３)。

【００４５】上記の実施例では、複写機で複写された用
紙４００を検出対象物とした場合について説明したが、
これに限定されるものではなく、その他の用紙、フィル
ム、テープ等の平面状の検出対象物のしわを検出する場
合にも本発明を適用することができる。

【００４６】上記の実施例では、ラインセンサ１２０側
を固定して複写紙４００側を移動させるようにしている
が、その逆に、複写紙４００側を固定してラインセンサ
１２０を移動させるようにしてもよい。また、撮像手段
としてラインセンサ１２０を用いているが、ＣＣＤ等の
撮像素子を二次元配列してなるエリアセンサを用いても
同様にしわ検出が可能である。

【００４７】上記の実施例では、１６×１６画素を一つ
の評価ユニット２１０にするとともに、４種類の評価ブ
ロック５１０〜５４０を組み合わせてしわを検出するよ
うにしたが、しわ検出をより一層高精度に行うには、評
価ユニット２１０を構成する画素数を少なくする(した
がって評価ユニット２１０の数を増やす)とともに、評
価ブロック５１０〜５４０のパターンの種類を多くし
て、検出感度の方向依存性を少なくすればよい。

【００４８】上記の実施例では、ワークメモリ２００を
２つ用意し、一方のワークメモリの各格子間を他方のワ
ークメモリによって補間して分解能を上げれば、しわの
検出処理時間が短く、しかも、任意の方向に発生するし
わを精度良く検出することが可能となる。

【００４９】上記の実施例では、平面的な複写紙であっ
たが、ロール状の用紙類であっても、撮像方法、照明手
段の照明方法などを考慮すれば、同様に上実施能である
ことは言うまでもない。

【００５０】

【発明の効果】以上説明したことから明らかなように、
本発明の請求項１に係るしわ検出方法によれば、用紙類
の表面のいずれの方向にしわが発生した場合でも、その
しわを従来よりも確実に、かつ短時間の内に検出できる
ようになり、特に、評価ブロックのパターンの種類を多
くすれば、検出感度の方向依存性を少なくなるから、し
わ検出をより一層高精度に行うことができる。

【００５１】本発明の請求項２に係るしわ検出方法によ
れば、さらに、画素単位で処理する場合よりもしわの強
調検出のための処理時間が短くなり、しかも人間と同程
度にそのしわの検出ができるとともに、任意の方向に発
生したしわを確実に検出できる。

【００５２】本発明の請求項６に係るしわ検出装置によ
れば、用紙類の表面のいずれの方向にしわが発生した場
合でも、そのしわを従来よりも確実に、かつ短時間の内
に検出でき、特に、評価ブロックのパターンの種類を多
くすれば、検出感度の方向依存性を少なくなるから、し
わ検出をより一層高精度に行うことができるとともに、
さらに、画素単位で処理する場合よりもしわの強調検出
のための処理時間が短くなり、しかも人間と同程度にそ
のしわの検出ができるとともに、任意の方向に発生した
しわを確実に検出できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施例のしわ検出方法が実施されるし
わ検出装置の概略的な構成を示す図である。

【図２】図１のしわ検出装置の画像メモリのメモリ容量
を示す説明図である。

【図３】図１のしわ検出装置による複写紙のしわ検出動
作の説明に供するフローチャートである。

【図４】複写紙に生じたしわが、ラインセンサとランプ
との位置関係によって検出される様子を示す説明図であ
る。

【図５】本発明のしわ検出装置を構成するしわ強調処理
手段によって画像強調のための微分処理が行われる場合
のマトリックス図である。

【図６】本発明のしわ検出装置を構成するしわ強調処理
手段によって作成されるワークメモリの説明図である。

【図７】本発明のしわ検出装置を構成する判定手段によ
って用いられる評価ブロックのパターンを示す説明図で
ある。

【図８】ワークメモリ上を評価ブロックを走査する状態
を示す説明図である。

【図９】複写紙に生じたしわが検出される様子を示す説
明図である。

【符号の説明】

１００…しわ検出装置、１１０…送り台、１２０…ライ
ンセンサ(撮像手段)、１３０…ランプ(光源)、２００…
ワークメモリ、２１０…評価ユニット、３００…データ
処理手段、３１０…データ変換手段、３２０…画像メモ
リ、３３０…しわ強調処理手段、３４０…判定手段、４
００…複写紙、５１０〜５４０…評価ブロック。

Claims (7)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 用紙類の表面を二次元撮像して得られる
   該表面上のしわに起因して生じる陰影による濃淡データ
   を画像メモリを構成する複数の画素に個別に対応して格
   納するステップと、 前記画像メモリを構成する所定数の画素について複数の
   画素からなる評価ユニットの複数をパターン状に組み合
   わせて複数種類の評価ブロックを構成し、これら評価ブ
   ロック毎に前記濃淡データを処理して用紙類の表面上の
   しわの有無を検出するステップと、 を含むことを特徴とする用紙類のしわ検出方法。
2. 【請求項２】 用紙類の表面を二次元撮像して得られる
   該表面上のしわに起因して生じる陰影による濃淡データ
   を画像メモリを構成する複数の画素に個別に対応して格
   納するステップと、 該画像メモリを構成する所定数の画素を複数の画素毎に
   区画し、各区画を評価ユニットとするとともに、各評価
   ユニット毎にそれぞれに格納してある濃淡データから濃
   淡差の最大値を算出するステップと、 前記各評価ユニット毎に算出した最大の濃淡差をそれぞ
   れの評価ユニットの濃淡データとして、前記画像メモリ
   に対応した構成を有するワークメモリに格納するステッ
   プと、 前記ワークメモリ内の評価ユニットの複数をパターン状
   に組み合わせて数種類の評価ブロックを構成し、これら
   評価ブロック毎にそれぞれの評価ユニットに格納してい
   る濃淡差の最大値のうちの最小値を求めるステップと、 各評価ブロック毎に前記最小値が、あらかじめ設定され
   たしきい値を越えた評価ユニットがあるかどうかを判定
   するステップと、 最小値がしきい値を越えたと判定された評価ブロックが
   あるときにはその用紙類にはその評価ブロックの位置に
   しわがあると検出するステップと、 を含むことを特徴とする用紙類のしわ検出方法。
3. 【請求項３】 前記パターン状は、水平、垂直、斜めの
   少なくとも３つの方向を含むものである請求項１または
   ２記載の用紙類のしわ検出方法。
4. 【請求項４】 前記用紙類の表面上をラインセンサでラ
   イン方向に撮像する一方、該用紙類をその撮像方向に対
   してそのラインに沿って所定の照明角度で照明すること
   によって、前記画像メモリに取り込ませるべき前記濃淡
   データを得るものであることを特徴とする請求項１ない
   し３のいずれかに記載の用紙類のしわ検出方法。
5. 【請求項５】 前記画像メモリを構成する各画素につい
   ては当該画素に格納される濃淡データについてその周囲
   の画素の濃淡データと関連された式に基づいて微分処理
   してから、該画像メモリに再度格納することを特徴とす
   る請求項１ないし４のいずれかに記載の用紙類のしわ検
   出方法。
6. 【請求項６】 用紙類を照明する光源、用紙類の濃淡画
   像を撮像する撮像手段、および撮像手段で撮像された検
   出対象物の濃淡データに基づいてしわを検出するデータ
   処理手段とを備えた用紙類のしわ検出装置において、 前記データ処理手段は、 前記撮像手段で撮像して得られた濃淡データを格納する
   二次元の画像メモリと、 この画像メモリを複数の画素
   ごとに区画し、各区画を一つの評価ユニットとした場合
   の各評価ユニットに含まれる濃淡データに基づいて濃淡
   差の最大値である濃淡最大差を算出し、この濃淡最大差
   のデータを画像メモリに対応させて構成される二次元の
   ワークメモリに格納するしわ強調処理手段と、 前記評価ユニットの複数個をパターン状に組み合わせて
   数種類の評価ブロックを構成し、これらの各評価ブロッ
   クを用いて前記ワークメモリ内の全ての領域で、評価ブ
   ロック内に含まれる濃淡最大差の最小値を求め、この最
   小値を予め設定された良品の限界を決めるしきい値と比
   較して、最小値がしきい値を越えた場合に、その評価ブ
   ロックの位置にしわがあると判定する判定手段と、 を含むことを特徴とする用紙類のしわ検出装置。
7. 【請求項７】 各評価ブロックは、少なくとも水平方
   向、これに直交する垂直方向、左上斜め方向、および右
   上斜め方向の４方向について複数の評価ユニットをパタ
   ーン状に配列して構成されたものである請求項６記載の
   用紙類のしわ検出装置。