JP3514664B2 - 基板処理装置及び基板処理方法 - Google Patents

基板処理装置及び基板処理方法

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JP3514664B2
JP3514664B2 JP15919399A JP15919399A JP3514664B2 JP 3514664 B2 JP3514664 B2 JP 3514664B2 JP 15919399 A JP15919399 A JP 15919399A JP 15919399 A JP15919399 A JP 15919399A JP 3514664 B2 JP3514664 B2 JP 3514664B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば液晶カラー
ディスプレイにおけるカラーフィルタ用の基板をレジス
ト塗布後に端部処理する基板処理装置及び基板処理方法
に関する。
【0002】
【従来の技術】液晶カラーディスプレイにおけるカラー
フィルタでは、ガラス基板上にR,G,Bの着色パター
ンを形成する必要がある。このような着色パターンは、
例えばフォトリソグラフィ法によって形成される。その
一例として、R,G,Bそれぞれについて感光性樹脂か
らなる着色樹脂が用いられ、塗布−露光−現像の処理工
程をR,G,Bについて3回繰り返してパターンを形成
される。
【0003】ところで、上記の現像処理工程において
は、感光性樹脂のうち未露光部分を現像液で除去してパ
ターンを形成する、ネガタイプの現像処理が行われてい
る。一般的にレジスト塗布の後工程では、ガラス基板の
端部に残存するレジストを除去する端部処理を行う必要
があり、このようなネガタイプの処理では、このような
端部処理を、現像液を用いて行うことができる。
【0004】即ち、ポジタイプの端部処理では、シンナ
ー等の有機溶剤を用いる必要があったものが、ネガタイ
プでは、現像液を用いることができるため、非常に切れ
のよい端部処理を行うことができるばかりか、安全面や
価格面から好都合のものとなる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うに端部処理に現像液を用いた場合には、現像液を使っ
た後に純水等のリンス液を使ってリンス処理を行う必要
があるため、工程数の増加や設備の増大をもたらすとい
う、課題がある。
【0006】本発明の目的は、上記のような課題を解決
するためになされたもので、工程数の増加や設備の増大
を極力抑えて基板の端部処理を行うことができる基板処
理装置及び基板処理方法を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め、本発明の主たる観点の一つとしては、基板を保持す
る保持部材と、前記保持部材により保持された基板の端
部に向けて現像液を吐出する複数の吐出口を有する第1
のノズルと、この第1のノズルに隣接して配置され、前
記保持部材により保持された基板の端部に向けてリンス
液を吐出する吐出口を有する第2のノズルと、基板の端
部に向けて所定の気体を吐出する複数の吐出口を有する
第3のノズルと、この第3のノズルと前記第2のノズル
と前記第1のノズルとを前記保持部材により保持された
基板の一辺方向に走査する走査手段と、前記第1のノズ
ルから現像液を吐出する時期と前記第2のノズルからリ
ンス液を吐出する時期と前記第3のノズルから所定の気
体を吐出する時期の少なくとも一つの時期が異なるよう
制御する制御機構とを具備することを特徴とする。ここ
で、前記制御機構は、前記第2のノズルからリンス液を
吐出しつつ前記第3のノズルから所定の気体を吐出する
ように制御してもいいし、前記第1のノズルから現像液
を吐出しつつ前記第2のノズルからリンス液を吐出する
ように制御してもいい。或いは、前記第1のノズルから
現像液を吐出する時期と前記第2のノズルからリンス液
を吐出する時期が異なる場合において各々の稼動は走査
方向を異ならせるようにしてもよい。本発明の別の観点
に係る基板処理装置は、基板を保持する保持部材と、前
記保持部材により保持された基板の端部に向けて現像液
を吐出する複数の吐出口を有する第1のノズルと、この
第1のノズルに隣接して配置され、前記保持部材により
保持された基板の端部に向けてリンス液を吐出する吐出
口を有する第2のノズルと、この第2のノズルと前記第
1のノズルとを前記保持部材により保持された基板の一
辺方向に走査する走査手段とを具備し、前記第1のノズ
ルから現像液を吐出する時期と前記第2のノズルからリ
ンス液を吐出する時期が異なる場合において各々の稼動
は走査方向を異ならせることを特徴とする。更に、本発
明の別の観点に係る基板処理装置は、基板を保持する保
持部材と、前記保持部材により保持された基板の端部に
向けて現像液を吐出する第1のノズルと、この第1のノ
ズルに隣接して配置され、前記保持部材により保持され
た基板の端部に向けてリンス液を吐出する第2のノズル
とが配置された端部処理ヘッドと、前記端部処理ヘッド
を前記保持部材により保持された基板の一辺方向に走査
する走査手段と、前記端部処理ヘッドが前記走査手段に
より走査される際に、前記第1のノズルから現像液を吐
出させ、かつ、走査方向後方に配置された前記第2のノ
ズルからリンス液を吐出させる手段とを具備し、前記第
2のノズルを、第1のノズルと隣接し、かつ、第1のノ
ズルを挟むように、2組有し、前記端部処理ヘッドを基
板の一辺の一方向へ走査しつつ、一方向先頭の第2のノ
ズルからリンス液の吐出を止め、その後方にある第1の
ノズルから現像液を吐出させ、かつ、さらにその後方に
ある第2のノズルからリンス液を吐出させ、またその逆
に端部処理ヘッドを基板の一辺の他方向へ走査しつつ、
他方向先頭の第2のノズルからリンス液の吐出を止め、
その後方にある第1のノズルから現像液を吐出させ、か
つ、さらにその後方にある第2のノズルからリンス液を
吐出させるようにしたことを特徴とする。ここで、前記
第1のノズル及び前記第2のノズルが、それぞれ基板の
表裏両面に対して設けられていてもよい。また、前記基
板が矩形であって、前記端部洗浄ヘッド及び前記走査手
段が、前記基板の各辺について設けられていてもよい。
さらに、前記第1のノズルから吐出された現像液及び前
記第2のノズルから吐出されたリンス液を基板の外周方
向に引き込む吸引機構をさらに設けてもよい。また更
に、前記第2のノズルを介して基板の端部に向けて不活
性ガスをブローする手段をさらに設けてもよい。また、
前記現像液が、10%程度の濃度の高い現像液であっ
て、前記リンス液が、純水であってもよい。本発明の別
の観点に係る基板処理方法は、保持された基板の端部に
向けて複数の吐出口から現像液を吐出する工程と、保持
された基板の端部に向けて複数の吐出口からリンス液を
吐出する工程と、を具備し、現像液を吐出する工程は基
板の一辺の一方向へ走査しつつ行い、リンス液を吐出す
る工程は前記基板の一辺の一方向とは逆の方向に走査し
つつ行うことを特徴とする。ここで、さらに保持された
基板の端部に向けて複数の吐出口から所定の気体を吐出
する 工程を具備してもよい。本発明の別の観点に係る基
板処理方法は、保持された基板の端部に向けて複数の吐
出口から現像液を吐出する工程と、保持された基板の端
部に向けて複数の吐出口からリンス液を吐出する工程
と、保持された基板の端部に向けて複数の吐出口から所
定の気体を吐出する工程とを具備し、現像液を吐出する
工程及び/又は所定の気体を吐出する工程は基板の一辺
の一方向へ走査しつつ行い、リンス液を吐出する工程及
び/又は所定の気体を吐出する工程は前記基板の一辺の
一方向とは逆の方向に走査しつつ行うことを特徴とす
る。ここで、現像液を吐出する工程とリンス液を吐出す
る工程と所定の気体を吐出する工程のうち少なくとも2
つの工程は同時期に行われるようにしてもよい。
【0008】したがって、第1のノズルから現像液を吐
出させ、かつ、走査方向後方に配置された第2のノズル
からリンス液を吐出させるように構成したので、現像液
による基板の端部における残存物の除去とリンス液によ
る現像液の除去を同時に行うことができる。しかも、第
1の及び第2のノズルを1つのヘッドに設けたので、構
成を簡単にできかつその制御も容易である。よって、工
程数の増加や設備の増大を極力抑えて基板の端部処理を
行うことができる。
【0009】
【発明の実施の形態】以下,本発明の実施の形態を添付
図面に基づき説明する。図1は本発明の一実施形態に係
る塗布・現像処理システムの斜視図である。
【0010】この図1に示すように、この塗布・現像処
理システム1の前方には、基板、例えばカラーフィルタ
用の矩形のガラス基板Gを、塗布・現像処理システム1
に対して搬出入するローダ・アンローダ部2が設けられ
ている。このローダ・アンローダ部2には、ガラス基板
Gを例えば25枚ずつ収納したカセットCを所定位置に
整列させて載置させるカセット載置台3と、各カセット
Cから処理すべきガラス基板Gを取り出し、また塗布・
現像処理システム1において処理の終了したガラス基板
Gを各カセットCへ戻すローダ・アンローダ4が設けら
れている。図示のローダアンローダ4は、本体5の走行
によってカセットCの配列方向に移動し、本体5に搭載
された板片状のピンセット6によって各カセットCから
ガラス基板Gを取り出し、また各カセットCへガラス基
板Gを戻すようになっている。また、ピンセット6の両
側には、ガラス基板Gの四隅を保持して位置合わせを行
う基板位置合わせ部材7が設けられている。
【0011】塗布・現像処理システム1の中央部には、
長手方向に配置された廊下状の搬送路10、11が第1
の受け渡し部12を介して一直線上に設けられており、
この搬送路10、11の両側には、ガラス基板Gに対す
る各処理を行うための各種処理装置が配置されている。
【0012】図示の塗布・現像処理システム1にあって
は、搬送路10の一側方に、ガラス基板Gをブラシ洗浄
すると共に、高圧ジェット水により洗浄を施すための洗
浄装置16が並設されている。また、搬送路10を挟ん
で反対側に、現像装置17が設けられ、その隣りに二基
の加熱装置18が積み重ねて設けられている。
【0013】また、搬送路11の一側方に、冷却用のク
ーリング装置20が2段に配置されている。また、これ
らクーリング装置20の隣には加熱装置22が二列に二
個ずつ積み重ねて配置されている。また、搬送路11を
挟んで反対側に、ガラス基板Gに感光性樹脂からなる着
色樹脂を塗布することによってガラス基板Gの表面に感
光性樹脂からなる着色樹脂膜を形成する塗布装置23が
配置されている。図示はしないが、これら塗布装置23
の側部には、第2の受け渡し部28を介し、ガラス基板
G上に形成された感光性樹脂からなる着色樹脂膜に所定
の微細パターンを露光するための露光装置等が設けられ
る。第2の受け渡し部28は、ガラス基板Gを搬入およ
び搬出するための搬出入ピンセット29および受け渡し
台30を備えている。
【0014】以上の各処理装置15〜18および20〜
23は、何れも搬送路10、11の両側において、ガラ
ス基板Gの出入口を内側に向けて配設されている。第1
の搬送装置25がローダ・アンローダ部2、各処理装置
15〜18および第1の受け渡し部12との間でガラス
基板Gを搬送するために搬送路10上を移動し、第2の
搬送装置26が第1の受け渡し部12、第2の受け渡し
部28および各処理装置20〜23との間でガラス基板
Gを搬送するために搬送路26上を移動するようになっ
ている。各搬送装置25、26は、それぞれ上下一対の
アーム27、27を有しており、各処理装置15〜18
および20〜23にアクセスするときは、一方のアーム
27で各処理装置のチャンバから処理済みのガラス基板
Gを搬出し、他方のアーム27で処理前のガラス基板G
をチャンバ内に搬入するように構成されている。
【0015】図2は上記塗布装置23の平面図である。
この、図2に示すように、塗布装置23では、ガラス基
板Gに対してレジストを塗布する塗布部31と、レジス
トが塗布されたガラス基板Gを減圧下で乾燥する減圧乾
燥部32と、ガラス基板Gの端部に対して端部処理を行
う本発明の端部処理装置としての端部処理部33とが並
設されている。
【0016】また、塗布装置23の前後には搬送用レー
ル34が設けられており、この搬送用レール34に沿っ
て搬送アーム35が移動するように構成されている。
【0017】そして、搬送装置25によって塗布部31
に搬入されたガラス基板Gは、搬送アーム35によって
塗布部31、減圧乾燥部32、端部処理部33の順に移
送され、搬送装置25のよって端部処理部33から搬出
されるようになっている。
【0018】端部処理部33では、保持部材36によっ
て保持されたガラス基板Gの複数辺、例えば、4辺の外
周に沿って端部処理ヘッド38を保持部材により保持さ
れた基板Gの一辺方向に走査する操作手段として例え
ば、搬送用レール37がそれぞれ設けられており、各搬
送用レール37に沿って端部処理ヘッド38が走査可能
に保持されている。各端部処理ヘッド38は、図示を省
略して駆動モータの駆動によって搬送用レール37に沿
って走査されるようになっている。
【0019】図3は上記端部処理ヘッド38の正面図、
図4はその平面図、図5はその側面図である。
【0020】これらの図に示すように、端部処理ヘッド
38の略中央部には、保持部材36により保持されたガ
ラス基板G表面の端部に向けて現像液を吐出する複数の
吐出口を有する第一のノズル例えば、現像液吐出ノズル
39がガラス基板Gの辺方向に例えば50mmに亙り、
例えば10本列設されている。
【0021】また、端部処理ヘッド38の両側には、現
像液吐出ノズル39を挟むように、現像液吐出ノズル3
9に隣接して配置され、保持部材36により保持された
ガラス基板G表面の端部に向けてリンス液を吐出する吐
出口を有する一対の第二のノズル例えばリンス液吐出ノ
ズル40、41がガラス基板Gの辺方向に例えばそれぞ
れ25mmに亙り、例えばそれぞれ5本列設されてい
る。
【0022】また、端部処理ヘッド38の両側には、リ
ンス液吐出ノズル40、41を挟むように、リンス液吐
出ノズル40、41に隣接して配置され、保持部材36
により保持されたガラス基板G表面の端部に向けて所定
の不活性ガス例えばN2ガスを吐出する複数の吐出口を
有する第三のノズル例えば、気体吐出ノズル52、53
がガラス基板Gの辺方向に例えばそれぞれ15mmに亙
り、複数例えばそれぞれ3本列設されている。
【0023】同様に、端部処理ヘッド38の略中央部に
は、保持部材36により保持されたガラス基板G裏面の
端部に向けて現像液を吐出する現像液吐出ノズル42が
ガラス基板Gの辺方向に例えば50mmに亙り、複数例
えば10本列設されている。
【0024】さらに、端部処理ヘッド38の両側には、
現像液吐出ノズル42を挟むように、保持部材36によ
り保持されたガラス基板G裏面の端部に向けてリンス液
を吐出する一対のリンス液吐出ノズル43、44がガラ
ス基板Gの辺方向に例えばそれぞれ25mmに亙り、複
数例えばそれぞれ5本列設されている。
【0025】また、端部処理ヘッド38の両側には、リ
ンス液吐出ノズル43、44を挟むように、リンス液吐
出ノズル43、44に隣接して配置され、保持部材36
により保持されたガラス基板G表面の端部に向けて所定
のガス例えば不活性ガスのN2ガスを吐出する複数の吐
出口を有する第三のノズルとしての気体吐出ノズル5
4,55がガラス基板Gの辺方向にそれぞれ15mmに
亙り、複数例えばそれぞれ3本列設されている。このよ
うに、基板Gの表裏両面に対して現像液吐出ノズル3
9、42とリンス液吐出ノズル40、41、43、44
と気体吐出ノズル52〜55が設けられているので基板
Gの表裏両面に現像液とリンス液とN2ガスとを各々独
立に吐出可能である。
【0026】そして、現像液供給装置45、46からそ
れぞれ現像液吐出ノズル39、42へ現像液が供給さ
れ、リンス液供給装置47〜50からそれぞれリンス液
吐出ノズル40、41、43、44へリンス液が供給さ
れ、気体供給装置56〜59からそれぞれ気体吐出ノズ
ル52〜55へN2ガスが供給されるようになってい
る。図6に示すように、現像液供給装置45、46及び
リンス液供給装置47〜50及び気体供給装置56〜5
9による供給の制御は、制御部60によって行われるよ
うになっている。
【0027】したがって、リンス液吐出ノズル40、4
1、43、44からリンス液を吐出しつつ気体吐出ノズ
ル52〜55からN2ガスを吐出するように制御可能で
ある。
【0028】また、現像液吐出ノズル39、42から現
像液を吐出しつつリンス液吐出ノズル40、41、4
3、44からリンス液を吐出するように制御可能であ
る。また、現像液吐出ノズル39、42から現像液を吐
出する時期とリンス液吐出ノズル40、41、43、4
4からリンス液を吐出する時期と気体吐出ノズル52〜
55からN2ガスを吐出する時期の少なくとも一つの時
期が異なるように制御可能である。
【0029】ここで、現像液としては、例えば10%程
度の濃度の高い現像液が用いられる。これにより、ネガ
タイプのレジスト処理における基板端部の残さを切れよ
く除去することができる。リンス液としては、例えば純
水(D.I.W.)が用いられる。
【0030】また、上述したノズル39〜44の背面側
(基板端部と対向する側)には、ノズル39〜44から
吐出された現像液及びリンス液を基板の外周方向に引き
込むための吸引手段例えば吸引孔51が設けられてい
る。この吸引孔51は背面側に向けて絞り込まれるよう
になっている。また、吸引孔51には、図示を省略した
排気装置が接続されている。例えば、吸引孔51と排気
装置によって吸引機構が構成される。この吸引機構によ
って現像液やリンス液が基板側に飛び散るようなことは
なくなる。
【0031】次に動作について説明する。図7に示すよ
うに、端部処理ヘッド38が紙面右方向に走査される場
合には、紙面右側の走査方向先頭のリンス液供給ノズル
41、44からのリンス液の吐出が止められ、現像液吐
出ノズル39、42からは現像液が吐出され(保持され
た基板の端部に向けて複数の吐出口から現像液を吐出す
る工程)、かつ、紙面左側の走査方向後方のリンス液供
給ノズル40、43からはリンス液が吐出され(保持さ
れた基板の端部に向けて複数の吐出口からリンス液を吐
出する工程)、気体吐出ノズル52、54からはN2ガ
スが吐出される(保持された基板の端部に向けて複数の
吐出口から所定の気体を吐出する工程)。
【0032】一方、図8に示すように、端部処理ヘッド
38が紙面左方向に走査される場合には、紙面左側の走
査方向先頭のリンス液供給ノズル40、43からのリン
ス液の吐出が止められ、現像液吐出ノズル39、42か
らは現像液が吐出され、かつ、紙面右側の走査方向後方
のリンス液供給ノズル41、44からはリンス液が吐出
され、気体吐出ノズル53、55からはN2ガスが吐出
される。
【0033】以下、必要に応じて図7に示した動作と図
8に示した動作とを繰り返すことも可能である。
【0034】即ち、本発明に係る端部処理ヘッド38
は、ガラス基板Gに対して現像液を吐出していきなが
ら、その後を追うようにしてその直後からリンス液とN
2ガスを吐出している。現像液を吐出する工程とリンス
液を吐出する工程の動作時期は、少なくとも一部同時期
であり、よって、現像液によるガラス基板Gの端部にお
ける残存物の除去とリンス液による現像液の除去を同時
に行うことができ、さらにN2ガスで基板Gの端部を乾
燥できる。しかも、端部処理ヘッド38内に、現像液を
吐出するためのノズル39、42とリンス液を吐出する
ためのノズル40、41、43、44とN2ガスを吐出
するためのノズル52〜55を一体的に設けたので、構
成を簡単にできかつその走査制御も容易である。
【0035】なお、本発明は上述した実施の形態には限
定されない。図9に示すような端部処理ヘッド69を用
い、気体吐出ノズルを設けずに、リンス液を吐出するた
めのノズル40、41、43、44よりリンスの他に不
活性ガス、例えばN2ガスを選択的に吐出するようにし
てもよい。即ち、ノズル40、41、43、44を介し
てガラス基板Gの端部に向けてN2ガスをブローできる
ようにしてもよい。
【0036】上述した実施の形態と異なる部分について
説明すると、リンス液吐出ノズル40、41、43、4
4を介して基板Gの端部に向けて不活性ガスをブローす
る手段として例えばリンス液供給装置47〜50からリ
ンス液吐出ノズル40、41、43、44までの配管6
1〜64の途中にエアオペ三方弁65〜68を設け、さ
らに気体供給装置56〜59がエアオペ三方弁65〜6
8につなげられている。
【0037】また、エアオペ三方弁65〜68は制御部
60により選択的に切り替え可能であり、リンス液吐出
ノズル40、41、43、44を介してリンス液または
N2ガスを選択して基板Gの端部に向けて吐出可能であ
る。次に動作について説明すると、図10に示すよう
に、端部処理ヘッド38が紙面右方向に走査される場合
には、紙面右側の走査方向先頭のリンス液供給ノズル4
1、44からのリンス液の吐出が止められ、現像液吐出
ノズル39、42からは現像液が吐出され、かつ、紙面
左側の走査方向後方のリンス液供給ノズル40、43か
らはリンス液が吐出される。
【0038】基板Gの端部に到達したら現像液とリンス
液の吐出を停止し、リンス液供給ノズル40、41、4
3、44からN2ガスを吐出可能なようにエアオペ三方
弁65〜68を切り替え、図11に示すように端部処理
ヘッド38を紙面左方向に走査しながらリンス液供給ノ
ズル40、41、43、44からN2ガスを吐出する。
【0039】このように、リンス工程後にN2ブローを
行うことによって、端部処理に連続して乾燥処理を行う
ことができる。
【0040】また、気体吐出ノズル52〜55を省略で
き、端部処理ヘッド69を小型化可能であるので装置の
小型化が可能である。
【0041】また、現像液吐出ノズル39、42から現
像液が吐出され、かつ走査方向後方のリンス液供給ノズ
ルからリンス液が吐出されたが、現像液を吐出する工程
は基板Gの一辺の一方向へ走査しつつ行い、リンス液を
吐出する工程は基板Gの一辺の一方向とは逆の方向に走
査しつつ行ってもよいのはいうまでもない。
【0042】つまり、端部処理ヘッド38が基板Gの一
辺の一方向へ走査するときに現像液のみを吐出し、基板
Gの端部に到達した現像液の吐出を停止し、リンス液供
給ノズル40、41、43、44からリンス液を、気体
吐出ノズル52〜55からN2ガスを吐出しながら基板
Gの一辺の一方向とは逆の方向に走査しつつ端部処理を
行う。この場合、現像液を基板Gの端部に液盛りした状
態を所定時間維持するので、現像液がレジスト液と反応
する時間を長くとることが可能で、レジスト液が溶解し
やすくなり、さらに端部処理能力が向上する。
【0043】また、この場合、リンス液供給ノズル4
1、42と気体吐出ノズル53、55を使用せずリンス
液供給ノズル40、43からリンス液を、気体吐出ノズ
ル52、54からN2ガスを吐出しても端面処理は可能
であり、リンス液供給ノズル41、42と気体吐出ノズ
ル53、55を省略可能であり、端部処理ヘッド38を
小型化可能となり、さらに装置を小型化可能である。
【0044】また、現像液を吐出する工程とリンス液を
吐出する工程と所定の気体を吐出する工程とを同時に行
ったが、同時に行わずに少なくとも2つの工程を同時期
に行なうだけでもよく、また、3つの工程を異なる時期
に行ってもよいのはいうまでもない。
【0045】現像液を吐出する工程とリンス液を吐出す
る工程を同時期に行う場合、N2ガスにより基板Gの端
面処理部より内側に現像液やリンス液が飛散することが
なく、所望の幅で精度よく端面処理が可能である。
【0046】また、現像液を吐出する工程と所定の気体
を吐出する工程を同時期に行う場合、吐出するN2ガス
の流量を制御することにより塗布された現像液を攪拌で
き、レジストの溶解速度を速くすることが可能であり、
端面処理能力が向上する。
【0047】また、リンス液を吐出する工程と所定の気
体を吐出する工程とを同時に行った場合は、前述したよ
うに、現像液を供給し、現像液を基板Gの端部に液盛り
した状態を所定時間維持するので、現像液がレジスト液
と反応する時間を長くとることが可能で、さらに端部処
理能力が向上する。
【0048】また、3つの工程を異なる時期に行った場
合、まず現像液を液盛りし、レジストが溶解する所定時
間まで放置し、その後逆の方向へ走査しながらリンス液
を吐出して現像液を洗い流すので、端面処理能力が向上
する。
【0049】その後、リンス液がある程度乾燥した状態
で現像液を液盛りした方向へ走査しながらN2ガスを吐
出するので、リンス液が基板Gの端面処理部より内側に
飛散することがない。
【0050】また、現像液を吐出する工程と気体を吐出
する工程を同時に基板Gの一辺の一方向へ走査しつつ行
い、その後リンス液を吐出する工程と気体を吐出する工
程を同時に基板Gの一辺の一方向とは逆の方向へ走査し
つつ行ってもよく、またその後に気体を吐出する工程を
基板Gの一辺の一方向へ、基板Gの一辺の一方向とは逆
の方向へと繰り返し走査しつつ行ってもよいのはいうま
でもない。
【0051】また、現像液を吐出する工程と気体を吐出
する工程を同時に基板Gの一辺の一方向へ走査しつつ行
い、その後リンス液を吐出する工程を基板Gの一辺の一
方向とは逆の方向へ走査しつつ行い、その後に気体を吐
出する工程を基板Gの一辺の一方向へ走査しつつ行って
もよく、またその後に、気体を吐出する工程を基板Gの
一辺の一方向とは逆の方向へ、基板Gの一辺の一方向へ
と繰り返し走査しつつ行ってもよいのはいうまでもな
い。
【0052】また、現像液を吐出する工程を基板Gの一
辺の一方向へ走査しつつ行い、その後リンス液を吐出す
る工程を基板Gの一辺の一方向とは逆の方向へ走査しつ
つ行ってもよく、またその後に気体を吐出する工程を基
板Gの一辺の一方向へ、基板Gの一辺の一方向とは逆の
方向へと繰り返し走査しつつ行ってもよく、またここで
いうところのリンス液を吐出する工程で気体を吐出する
工程を同時に行ってもよいのはいうまでもない。
【0053】また、現像液を吐出する工程を基板Gの一
辺の一方向へ走査しつつ行い、その後気体を吐出する工
程を基板Gの一辺の一方向とは逆の方向へ、基板Gの一
辺の一方向へと走査しつつ行い、その後リンス液を吐出
する工程を基板Gの一辺の一方向とは逆の方向へ走査し
つつ行ってもよく、またその後に気体を吐出する工程を
基板Gの一辺の一方向へ、基板Gの一辺の一方向とは逆
の方向へと繰り返し走査しつつ行ってもよく、またここ
でいうところのリンス液を吐出する工程で気体を吐出す
る工程を同時に行ってもよいのはいうまでもない。
【0054】また、工程と走査方向の組み合わせに関
し、明示しなかった組み合わせで行ってもよいのはいう
までもない。
【0055】また、N2ガスを吐出する際に温湿調を行
ったN2ガスを吐出してもよいのはいうまでもない。気
体供給装置56〜59に図示しない温湿調装置を設け、
吐出するN2ガスの温湿調を行う。基板Gの一辺の一方
向に走査しながら温湿調されたN2ガスを吐出して処理
雰囲気温度を制御しつつ現像液を吐出する工程を行う。
処理雰囲気温度を制御できるので、レジストの溶解速度
を制御可能である。
【0056】また、湿調したN2ガスを吐出して処理雰
囲気湿度を制御できるので、現像液濃度が変化するのを
抑制可能である。基板G端部まで走査した後、基板Gの
一辺の一方向とは逆の方向に走査しつつリンス液を吐出
する工程とN2ガスを吐出する工程を行うので、端面処
理能力と乾燥処理能力がさらに向上する。
【0057】また、不活性ガスとしてN2ガスを用いた
が、Arガスやヘリウムガス等でもよく、また不活性ガ
スでなくてもレジスト液や現像液と反応しない気体であ
ればクリーンエアー等の気体でもよいことはいうまでも
ない。
【0058】また、上述した実施の形態では、基板とし
てはカラーフィルタ用のガラス基板Gを用いていたが、
他のLCD基板、その他端部処理が必要な基板について
も本発明を当然適用できる。
【0059】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の主たる観
点の一つとしては、第1のノズルから現像液を吐出さ
せ、かつ、走査方向後方に配置された第2のノズルから
リンス液を吐出させるように構成したので、現像液によ
る基板の端部における残存物の除去とリンス液による現
像液の除去を同時に行うことができる。しかも、第1の
及び第2のノズルを1つのヘッドに設けたので、構成を
簡単にできかつその制御も容易である。よって、工程数
の増加や設備の増大を極力抑えて基板の端部処理を行う
ことができるので、処理のスループットの向上を図るこ
とができ、また、第1の及び第2のノズルを1つのヘッ
ドに設けたのでそれぞれのノズルと基板との距離間差等
の誤差を生じさせず、、それぞれのノズルから吐出する
流体を基板毎に一定して供給することができる。これに
よって、基板の歩留まりを向上することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係る塗布・現像処理シス
テムの斜視図である。
【図2】図1に示した塗布装置の平面図である。
【図3】図2に示した端部処理ヘッドの正面図である。
【図4】図2に示した端部処理ヘッドの平面図である。
【図5】図2に示した端部処理ヘッドの側面図である。
【図6】図2に示した端部処理ヘッドの制御部の説明図
である。
【図7】本実施形態での端部処理の動作を示す図であ
る。
【図8】本実施形態での端部処理の動作を示す図であ
る。
【図9】端部処理ヘッドの他の実施形態を示す正面図で
ある。
【図10】端部処理の動作の他の実施形態を示す図であ
る。
【図11】端部処理の動作の他の実施形態を示す図であ
る。
【符号の説明】
23 塗布装置 33 端部処理部 36 保持部材 37 搬送用レール(走査手段) 38 端部処理ヘッド 39、42 現像液吐出ノズル(第1のノズル) 40、41、43、44 リンス液吐出ノズル(第2
のノズル) 45、46 現像液供給装置 47〜50 リンス液供給装置 51 吸引口 52、53 気体吐出ノズル(第3のノズル) 60 制御部(制御機構) G ガラス基板
フロントページの続き (72)発明者 田中 志信 熊本県菊池郡大津町大字高尾野字平成 272番地の4 東京エレクトロン九州株 式会社 大津事業所内 (56)参考文献 特開 平8−102434(JP,A) 特開 平7−273075(JP,A) 特開 平7−249566(JP,A) 特開 平7−183208(JP,A) 特開 平7−142380(JP,A) 特開 平6−208948(JP,A) 特開 平6−204131(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/027

Claims (15)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板を保持する保持部材と、 前記保持部材により保持された基板の端部に向けて現像
    液を吐出する複数の吐出口を有する第1のノズルと、 この第1のノズルに隣接して配置され、前記保持部材に
    より保持された基板の端部に向けてリンス液を吐出する
    吐出口を有する第2のノズルと、基板の端部に向けて所定の気体を吐出する複数の吐出口
    を有する第3のノズルと、 この第3のノズルと前記第2のノズルと前記第1のノズ
    ルとを前記保持部材により保持された基板の一辺方向に
    走査する走査手段と、前記第1のノズルから現像液を吐出する時期と前記第2
    のノズルからリンス液を吐出する時期と前記第3のノズ
    ルから所定の気体を吐出する時期の少なくとも一つの時
    期が異なるよう制御する制御機構と を具備することを特
    徴とする基板処理装置。
  2. 【請求項2】 請求項記載の基板処理装置であって、前記制御機構は、 前記第2のノズルからリンス液を吐出
    しつつ前記第3のノズルから所定の気体を吐出するよう
    制御することを特徴とする基板処理装置。
  3. 【請求項3】 請求項記載の基板処理装置であって、前記制御機構は、 前記第1のノズルから現像液を吐出し
    つつ前記第2のノズルからリンス液を吐出するように
    御することを特徴とする基板処理装置。
  4. 【請求項4】 請求項1又は2記載の基板処理装置であ
    って、 前記第1のノズルから現像液を吐出する時期と前記第2
    のノズルからリンス液を吐出する時期が異なる場合にお
    いて各々の稼動は走査方向を異ならせることを特徴とす
    る基板処理装置。
  5. 【請求項5】 基板を保持する保持部材と、 前記保持部材により保持された基板の端部に向けて現像
    液を吐出する複数の吐出口を有する第1のノズルと、 この第1のノズルに隣接して配置され、前記保持部材に
    より保持された基板の端部に向けてリンス液を吐出する
    吐出口を有する第2のノズルと、 この第2のノズルと前記第1のノズルとを前記保持部材
    により保持された基板の一辺方向に走査する走査手段と
    を具備し、 前記第1のノズルから現像液を吐出する時期と前記第2
    のノズルからリンス液を吐出する時期が異なる場合にお
    いて各々の稼動は走査方向を異ならせることを特徴とす
    る基板処理装置。
  6. 【請求項6】 基板を保持する保持部材と、 前記保持部材により保持された基板の端部に向けて現像
    液を吐出する第1のノズルと、 この第1のノズルに隣接して配置され、前記保持部材に
    より保持された基板の端部に向けてリンス液を吐出する
    第2のノズルとが配置された端部処理ヘッドと、 前記端部処理ヘッドを前記保持部材により保持された基
    板の一辺方向に走査する走査手段と、 前記端部処理ヘッドが前記走査手段により走査される際
    に、前記第1のノズルから現像液を吐出させ、かつ、走
    査方向後方に配置された前記第2のノズルからリンス液
    を吐出させる手段とを具備し、 前記第2のノズルを、第1のノズルと隣接し、かつ、第
    1のノズルを挟むように、2組有し、 前記端部処理ヘッドを基板の一辺の一方向へ走査しつ
    つ、一方向先頭の第2のノズルからリンス液の吐出を止
    め、その後方にある第1のノズルから現像液を吐出さ
    せ、かつ、さらにその後方にある第2のノズルからリン
    ス液を吐出させ、またその逆に端部処理ヘッドを基板の
    一辺の他方向へ走査しつつ、他方向先頭の第2のノズル
    からリンス液の吐出を止め、その後方にある第1のノズ
    ルから現像液を吐出させ、かつ、さらにその後方にある
    2のノズルからリンス液を吐出させるようにした こと
    を特徴とする基板処理装置。
  7. 【請求項7】 請求項記載の基板処理装置であって、 前記第1のノズル及び前記第2のノズルが、それぞれ基
    板の表裏両面に対して設けられていることを特徴とする
    基板処理装置。
  8. 【請求項8】 請求項6又は7記載の基板処理装置にお
    いて、 前記基板が矩形であって、 前記端部洗浄ヘッド及び前記走査手段が、前記基板の各
    辺について設けられていることを特徴とする基板処理装
    置。
  9. 【請求項9】 請求項6,7又は8記載の基板処理装置
    であって、 前記第1のノズルから吐出された現像液及び前記第2の
    ノズルから吐出されたリンス液を基板の外周方向に引き
    込む吸引機構をさらに具備することを特徴とする基板処
    理装置。
  10. 【請求項10】 請求項6,7,8又は9記載の基板処
    理装置であって、 前記第2のノズルを介して基板の端部に向けて不活性ガ
    スをブローする手段をさらに具備することを特徴とする
    基板処理装置。
  11. 【請求項11】 請求項6,7,8,9又は10記載の
    基板処理装置において、 前記現像液が、10%程度の濃度の高い現像液であっ
    て、 前記リンス液が、純水であることであることを特徴とす
    る基板処理装置。
  12. 【請求項12】 保持された基板の端部に向けて複数の
    吐出口から現像液を吐出する工程と、 保持された基板の端部に向けて複数の吐出口からリンス
    液を吐出する工程と、 を具備し 現像液を吐出する工程は基板の一辺の一方向へ走査しつ
    つ行い、 リンス液を吐出する工程は前記基板の一辺の一方向とは
    逆の方向に走査しつつ行うことを 特徴とする基板処理方
    法。
  13. 【請求項13】 請求項12記載の基板処理方法におい
    て、 さらに保持された基板の端部に向けて複数の吐出口から
    所定の気体を吐出する工程を具備することを特徴とする
    基板処理方法。
  14. 【請求項14】 保持された基板の端部に向けて複数の
    吐出口から現像液を吐出する工程と、 保持された基板の端部に向けて複数の吐出口からリンス
    液を吐出する工程と、 保持された基板の端部に向けて複数の吐出口から所定の
    気体を吐出する工程とを具備し、 現像液を吐出する工程及び/又は所定の気体を吐出する
    工程は基板の一辺の一方向へ走査しつつ行い、リンス液
    を吐出する工程及び/又は所定の気体を吐出する工程は
    前記基板の一辺の一方向とは逆の方向に走査しつつ行う
    ことを特徴とする基板処理方法。
  15. 【請求項15】 請求項13又は14記載の基板処理方
    法において、 現像液を吐出する工程とリンス液を吐出する工程と所定
    の気体を吐出する工程のうち少なくとも2つの工程は同
    時期に行われることを特徴とする基板処理方法。
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