JP3493187B2 - 逐次比較型a/d変換器 - Google Patents
逐次比較型a/d変換器Info
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- H03M1/802—Simultaneous conversion using weighted impedances using capacitors, e.g. neuron-mos transistors, charge coupled devices
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Description
変換器に関し、さらに詳しくは、電荷再配分型の逐次比
較型A/D変換器に関する。
い、アナログ信号とデジタル信号とのインターフェース
であるA/D(アナログ/デジタル)変換器の高速動作
が求められている。図4は、一般的な逐次比較型A/D
変換器の構成を示すブロック図である。図4に示す逐次
比較型A/D変換器では、アナログ入力がサンプルホー
ルド部1でサンプリング・保持され、局部D/A変換器
3からの電圧と電圧比較器2で比較される。そして電圧
比較器2からの出力がラッチ回路4によってラッチされ
る。また、状態制御回路5によって局部D/A変換器3
の出力が電圧比較器2からの出力に基づいてコントロー
ルされ、電圧比較器2ではMSB(最上位ビット)より
順次電圧比較がおこなわれる。LSB(最下位ビット)
まで電圧比較が終わると、ラッチ回路4は、ラッチして
いるデジタル値を出力する。
のできるA/D変換器として電荷再配分型の逐次比較型
A/D変換器が知られている。図5は、電荷再配分型の
従来の逐次比較型A/D変換器の構成を示す図である。
図5に示す逐次比較型A/D変換器は3ビットA/D変
換器であり、容量アレイ29と、アナログスイッチ群3
0−32と、電圧比較器27と、状態制御回路28とを
備える。なお、図2に示したラッチ回路4は省略してい
る。容量アレイ29は、キャパシタ11−14を含む。
キャパシタ11−14の容量はそれぞれ4C,2C,
C,Cである。なお、Cは単位容量である。アナログス
イッチ群30は容量アレイ29をアナログ入力Vinに
接続する。アナログスイッチ群30はアナログスイッチ
15−18を含む。アナログスイッチ15−18のオン
抵抗はRである。アナログスイッチ群31は上側基準電
圧Vrh(ここでは電源電圧Vddとする。)に容量ア
レイ29を接続する。アナログスイッチ群31はアナロ
グスイッチ19−22を含む。アナログスイッチ19−
22のオン抵抗はRである。アナログスイッチ群32は
下側基準電圧Vrl(ここでは接地電圧GNDとす
る。)に容量アレイ29を接続する。アナログスイッチ
群32はアナログスイッチ23−26を含む。アナログ
スイッチ23−26のオン抵抗はRである。電圧比較器
27はアナログスイッチ33とインバータ34とを含
む。状態制御回路28は、アナログスイッチ19−26
および33のオン/オフを制御する。
器の動作について説明する。
ログスイッチ33がオンし、アナログ入力Vinが容量
アレイ29にサンプルホールドされる。このとき容量ア
レイ29にチャージされる電荷Q0は、インバータ34
のしきい値電圧をVthとすると、 Q0=8C(Vth−Vin)・・・(1) となる。サンプルホールドするのに要する時間はキャパ
シタ11とアナログスイッチ15との時定数4CRで定
まる。
スイッチ15−18および33がオフし、チャージされ
た電荷Q0が容量アレイ29の電圧比較器27側に保存
される。
行し、アナログスイッチ19および24−26がオンす
る。これにより電荷Q0が容量アレイ29に再分配され
る。インバータ34の入力電圧Vxは電荷保存則より、 Vx=Vth−(Vin−(1/2)Vdd)・・・(2) となる。Vin>(1/2)Vddの場合は電圧比較器
27の出力が”Hi”となり、MSBが”1”に決定さ
れる。逆にVin<(1/2)Vddの場合は電圧比較
器27の出力が”Low”となり、MSBが”0”に決
定される。
1)の比較動作に移行する。MSBの電圧比較出力が”
Hi”の場合はアナログスイッチ19,20,25,2
6がオンする。一方、MSBの電圧比較出力が”Lo
w”の場合はアナログスイッチ23,20,25,26
がオンする。ここではMSBの電圧比較出力が”Hi”
であったとする。このとき、アナログスイッチ19,2
0,25,26がオンし、電荷Q0が容量アレイ29に
再分配される。インバータ34の入力電圧Vxは電荷保
存則より、 Vx=Vth−(Vin−(3/4)Vdd)・・・(3) となる。Vin>(3/4)Vddの場合は電圧比較器
27の出力が”Hi”となり、bit1が”1”に決定
される。逆にVin<(3/4)Vddの場合は電圧比
較器27の出力が”Low”となり、bit1が”0”
に決定される。
0)の比較動作に移行する。bit1の電圧比較出力
が”Hi”の場合はアナログスイッチ19,20,2
1,26がオンする。一方、bit1の電圧比較出力
が”Low”の場合はアナログスイッチ19,24,2
1,26がオンする。ここではbit1の電圧比較出力
が”Low”であったとする。このとき、アナログスイ
ッチ19,24,21,26がオンし、電荷Q0が容量
アレイ29に再分配される。インバータ34の入力電圧
Vxは電荷保存則より、 Vx=Vth−(Vin−(5/8)Vdd)・・・(4) となる。Vin>(5/8)Vddの場合は電圧比較出
力が”Hi”となり、LSBが”1”に決定される。逆
にVin<(5/8)Vddの場合は電圧比較出力が”
Low”となり、LSBが”0”に決定される。
再配分に要する時間はサンプルホールド時と同じであ
り、キャパシタ11とアナログスイッチ19または23
のオン抵抗との時定数4CRで定まる。
型A/D変換器では、容量アレイ29の各キャパシタ1
1−14に対する時定数がそれぞれ4CR,2CR,C
R,CRと異なる。このため、アナログ入力Vinをサ
ンプルホールドする時間および電荷再分配に必要な時間
がキャパシタ11ではキャパシタ14の4倍必要にな
る。そのため、動作可能な速度の約1/4でしかA/D
変換器を動作させることができない。すなわち、Nビッ
トA/D変換器である場合には動作速度が最大で1/2
(N-1)に低下してしまう。
めになされたものであり、その目的は、動作速度を向上
させることができる逐次比較型A/D変換器を提供する
ことである。
従うと、逐次比較型A/D変換器は、複数のキャパシタ
と、複数の第1のアナログスイッチと、複数の第2のア
ナログスイッチと、複数の第3のアナログスイッチと、
電圧比較手段と、状態制御手段とを備える。複数のキャ
パシタの電極の一方は互いに接続されている。複数のキ
ャパシタの各々の容量に対して所定の重み付けがなされ
ている。複数の第1のアナログスイッチは、複数のキャ
パシタに対応して設けられる。複数の第1のアナログス
イッチの各々は、対応するキャパシタの電極の他方と第
1のノードとの間に接続される。第1のノードはアナロ
グ入力を受ける。複数の第2のアナログスイッチは、複
数のキャパシタに対応して設けられる。複数の第2のア
ナログスイッチの各々は、対応するキャパシタの電極の
他方と第2のノードとの間に接続される。第2のノード
は第1の基準電圧を受ける。複数の第3のアナログスイ
ッチは、複数のキャパシタに対応して設けられる。複数
の第3のアナログスイッチの各々は、対応するキャパシ
タの電極の他方と第3のノードとの間に接続される。第
3のノードは、第1の基準電圧よりも低い第2の基準電
圧を受ける。電圧比較手段は、複数のキャパシタの電極
の一方の電圧と第3の基準電圧とを比較する。状態制御
手段は、複数の第1のアナログスイッチ、複数の第2の
アナログスイッチ、および複数の第3のアナログスイッ
チの各々のオン/オフを電圧比較手段による比較の結果
に基づいて制御する。上記複数の第1のアナログスイッ
チの各々は、所定の重み付けがなされたオン抵抗を有す
る。
キャパシタのうち容量の重み付けが大きいキャパシタに
対応する第1のアナログスイッチのオン抵抗の重み付け
を小さくすることにより、当該キャパシタの時定数を小
さくすることができる。これにより、各キャパシタ間で
の時定数の差が小さくなる。この結果、アナログ入力を
プリチャージ(サンプルホールド)するのに必要な時間
を短縮することができ、A/D変換の動作速度を向上さ
せることができる。
イッチの各々は、対応するキャパシタの容量に対する重
み付けの逆数で重み付けされたオン抵抗を有する。
シタの時定数が等しくなるため、各キャパシタへの電荷
の充放電時間が等しくなる。これにより、各キャパシタ
間の時定数の差によって生じる動作速度の低下を防ぐこ
とができる。また、回路面積の増加をおさえつつA/D
変換動作を向上させることができる。
イッチの各々はMOSトランジスタを含む。MOSトラ
ンジスタは、対応するキャパシタの電極の他方と第1の
ノードとの間に接続される。上記複数の第1のアナログ
スイッチのうちのある第1のアナログスイッチに含まれ
るMOSトランジスタと他の第1のアナログスイッチに
含まれるMOSトランジスタとではチャネル幅および/
またはチャネル長が異なる。
いるときのオン抵抗はチャネル幅に反比例しチャネル長
に比例する。上記逐次比較型A/D変換器では、ある第
1のアナログスイッチに含まれるMOSトランジスタと
他の第1のアナログスイッチに含まれるMOSトランジ
スタとではチャネル幅および/またはチャネル長が異な
るため、これらの第1のアナログスイッチのオン抵抗に
それぞれ異なった重み付けをすることができる。したが
って、容量の重み付けが大きいキャパシタに対応する第
1のアナログスイッチのオン抵抗の重み付けを小さくす
ることができる。また、各キャパシタの時定数を等しく
することもできる。
イッチの各々は、1または複数の第4のアナログスイッ
チを含む。1または複数の第4のアナログスイッチは、
対応するキャパシタの電極の他方と第1のノードとの間
に並列に接続される。上記複数の第1のアナログスイッ
チのうちのある第1のアナログスイッチに含まれる第4
のアナログスイッチの数と他の第1のアナログスイッチ
に含まれる第4のアナログスイッチの数とが異なる。
る第1のアナログスイッチと他の第1のアナログスイッ
チとのオン抵抗にそれぞれ異なった重み付けをすること
ができる。したがって、容量の重み付けが大きいキャパ
シタに対応する第1のアナログスイッチのオン抵抗の重
み付けを小さくすることができる。また、各キャパシタ
の時定数を等しくすることもできる。
イッチの各々は、MOSトランジスタを含む。MOSト
ランジスタは、対応するキャパシタの電極の他方と第1
のノードとの間に接続される。上記複数の第1のアナロ
グスイッチのうちのある第1のアナログスイッチに含ま
れるMOSトランジスタと他の第1のアナログスイッチ
に含まれるMOSトランジスタとではオン状態のときに
与えられるゲート電圧が異なる。
いるときのオン抵抗はゲート電圧に反比例する。上記逐
次比較型A/D変換器では、ある第1のアナログスイッ
チに含まれるMOSトランジスタと他の第1のアナログ
スイッチに含まれるMOSトランジスタとではオン状態
のときに与えられるゲート電圧が異なるため、これらの
第1のアナログスイッチのオン抵抗にそれぞれ異なった
重み付けをすることができる。したがって、容量の重み
付けが大きいキャパシタに対応する第1のアナログスイ
ッチのオン抵抗の重み付けを小さくすることができる。
また、各キャパシタの時定数を等しくすることもでき
る。
比較型A/D変換器は、複数のキャパシタと、複数の第
1のアナログスイッチと、複数の第2のアナログスイッ
チと、複数の第3のアナログスイッチと、電圧比較手段
と、状態制御手段とを備える。複数のキャパシタの電極
の一方は互いに接続されている。複数のキャパシタの各
々の容量に対して所定の重み付けがなされている。複数
の第1のアナログスイッチは、複数のキャパシタに対応
して設けられる。複数の第1のアナログスイッチの各々
は、対応するキャパシタの電極の他方と第1のノードと
の間に接続される。第1のノードはアナログ入力を受け
る。複数の第2のアナログスイッチは、複数のキャパシ
タに対応して設けられる。複数の第2のアナログスイッ
チの各々は、対応するキャパシタの電極の他方と第2の
ノードとの間に接続される。第2のノードは第1の基準
電圧を受ける。複数の第3のアナログスイッチは、複数
のキャパシタに対応して設けられる。複数の第3のアナ
ログスイッチの各々は、対応するキャパシタの電極の他
方と第3のノードとの間に接続される。第3のノード
は、第1の基準電圧よりも低い第2の基準電圧を受け
る。電圧比較手段は、複数のキャパシタの電極の一方の
電圧と第3の基準電圧とを比較する。状態制御手段は、
複数の第1のアナログスイッチ、複数の第2のアナログ
スイッチ、および複数の第3のアナログスイッチの各々
のオン/オフを電圧比較手段による比較の結果に基づい
て制御する。上記複数の第2のアナログスイッチの各々
は、所定の重み付けがなされたオン抵抗を有する。
キャパシタのうち容量の重み付けが大きいキャパシタに
対応する第2のアナログスイッチのオン抵抗の重み付け
を小さくすることにより、当該キャパシタの時定数を小
さくすることができる。これにより、各キャパシタ間で
の時定数の差が小さくなる。この結果、電荷再配分に必
要な時間を短縮することができ、A/D変換の動作速度
を向上させることができる。
イッチの各々は、対応するキャパシタの容量に対する重
み付けの逆数で重み付けされたオン抵抗を有する。
シタの時定数が等しくなるため、各キャパシタへの電荷
の充放電時間が等しくなる。これにより、各キャパシタ
間の時定数の差によって生じる動作速度の低下を防ぐこ
とができる。また、回路面積の増加をおさえつつA/D
変換動作を向上させることができる。
イッチの各々はMOSトランジスタを含む。MOSトラ
ンジスタは、対応するキャパシタの電極の他方と第2の
ノードとの間に接続される。上記複数の第2のアナログ
スイッチのうちのある第2のアナログスイッチに含まれ
るMOSトランジスタと他の第2のアナログスイッチに
含まれるMOSトランジスタとではチャネル幅および/
またはチャネル長が異なる。
いるときのオン抵抗はチャネル幅に反比例しチャネル長
に比例する。上記逐次比較型A/D変換器では、ある第
2のアナログスイッチに含まれるMOSトランジスタと
他の第2のアナログスイッチに含まれるMOSトランジ
スタとではチャネル幅および/またはチャネル長が異な
るため、これらの第2のアナログスイッチのオン抵抗に
それぞれ異なった重み付けをすることができる。したが
って、容量の重み付けが大きいキャパシタに対応する第
2のアナログスイッチのオン抵抗の重み付けを小さくす
ることができる。また、各キャパシタの時定数を等しく
することもできる。
イッチの各々は、1または複数の第5のアナログスイッ
チを含む。1または複数の第5のアナログスイッチは、
対応するキャパシタの電極の他方と第2のノードとの間
に並列に接続される。上記複数の第2のアナログスイッ
チのうちのある第2のアナログスイッチに含まれる第5
のアナログスイッチの数と他の第2のアナログスイッチ
に含まれる第5のアナログスイッチの数とが異なる。
る第2のアナログスイッチと他の第2のアナログスイッ
チとのオン抵抗にそれぞれ異なった重み付けをすること
ができる。したがって、容量の重み付けが大きいキャパ
シタに対応する第2のアナログスイッチのオン抵抗の重
み付けを小さくすることができる。また、各キャパシタ
の時定数を等しくすることもできる。
イッチの各々は、MOSトランジスタを含む。MOSト
ランジスタは、対応するキャパシタの電極の他方と第2
のノードとの間に接続される。上記複数の第2のアナロ
グスイッチのうちのある第2のアナログスイッチに含ま
れるMOSトランジスタと他の第2のアナログスイッチ
に含まれるMOSトランジスタとではオン状態のときに
与えられるゲート電圧が異なる。
いるときのオン抵抗はゲート電圧に反比例する。上記逐
次比較型A/D変換器では、ある第2のアナログスイッ
チに含まれるMOSトランジスタと他の第2のアナログ
スイッチに含まれるMOSトランジスタとではオン状態
のときに与えられるゲート電圧が異なるため、これらの
第2のアナログスイッチのオン抵抗にそれぞれ異なった
重み付けをすることができる。したがって、容量の重み
付けが大きいキャパシタに対応する第2のアナログスイ
ッチのオン抵抗の重み付けを小さくすることができる。
また、各キャパシタの時定数を等しくすることもでき
る。
と、逐次比較型A/D変換器は、複数のキャパシタと、
複数の第1のアナログスイッチと、複数の第2のアナロ
グスイッチと、複数の第3のアナログスイッチと、電圧
比較手段と、状態制御手段とを備える。複数のキャパシ
タの電極の一方は互いに接続されている。複数のキャパ
シタの各々の容量に対して所定の重み付けがなされてい
る。複数の第1のアナログスイッチは、複数のキャパシ
タに対応して設けられる。複数の第1のアナログスイッ
チの各々は、対応するキャパシタの電極の他方と第1の
ノードとの間に接続される。第1のノードはアナログ入
力を受ける。複数の第2のアナログスイッチは、複数の
キャパシタに対応して設けられる。複数の第2のアナロ
グスイッチの各々は、対応するキャパシタの電極の他方
と第2のノードとの間に接続される。第2のノードは第
1の基準電圧を受ける。複数の第3のアナログスイッチ
は、複数のキャパシタに対応して設けられる。複数の第
3のアナログスイッチの各々は、対応するキャパシタの
電極の他方と第3のノードとの間に接続される。第3の
ノードは、第1の基準電圧よりも低い第2の基準電圧を
受ける。電圧比較手段は、複数のキャパシタの電極の一
方の電圧と第3の基準電圧とを比較する。状態制御手段
は、複数の第1のアナログスイッチ、複数の第2のアナ
ログスイッチ、および複数の第3のアナログスイッチの
各々のオン/オフを電圧比較手段による比較の結果に基
づいて制御する。上記複数の第3のアナログスイッチの
各々は、所定の重み付けがなされたオン抵抗を有する。
キャパシタのうち容量の重み付けが大きいキャパシタに
対応する第3のアナログスイッチのオン抵抗の重み付け
を小さくすることにより、当該キャパシタの時定数を小
さくすることができる。これにより、各キャパシタ間で
の時定数の差が小さくなる。この結果、電荷再配分に必
要な時間を短縮することができ、A/D変換の動作速度
を向上させることができる。
イッチの各々は、対応するキャパシタの容量に対する重
み付けの逆数で重み付けされたオン抵抗を有する。
シタの時定数が等しくなるため、各キャパシタへの電荷
の充放電時間が等しくなる。これにより、各キャパシタ
間の時定数の差によって生じる動作速度の低下を防ぐこ
とができる。また、回路面積の増加をおさえつつA/D
変換動作を向上させることができる。
イッチの各々はMOSトランジスタを含む。MOSトラ
ンジスタは、対応するキャパシタの電極の他方と第3の
ノードとの間に接続される。上記複数の第3のアナログ
スイッチのうちのある第3のアナログスイッチに含まれ
るMOSトランジスタと他の第3のアナログスイッチに
含まれるMOSトランジスタとではチャネル幅および/
またはチャネル長が異なる。
いるときのオン抵抗はチャネル幅に反比例しチャネル長
に比例する。上記逐次比較型A/D変換器では、ある第
3のアナログスイッチに含まれるMOSトランジスタと
他の第3のアナログスイッチに含まれるMOSトランジ
スタとではチャネル幅および/またはチャネル長が異な
るため、これらの第3のアナログスイッチのオン抵抗に
それぞれ異なった重み付けをすることができる。したが
って、容量の重み付けが大きいキャパシタに対応する第
3のアナログスイッチのオン抵抗の重み付けを小さくす
ることができる。また、各キャパシタの時定数を等しく
することもできる。
イッチの各々は、1または複数の第6のアナログスイッ
チを含む。1または複数の第6のアナログスイッチは、
対応するキャパシタの電極の他方と第3のノードとの間
に並列に接続される。上記複数の第3のアナログスイッ
チのうちのある第3のアナログスイッチに含まれる第6
のアナログスイッチの数と他の第3のアナログスイッチ
に含まれる第6のアナログスイッチの数とが異なる。
る第3のアナログスイッチと他の第3のアナログスイッ
チとのオン抵抗にそれぞれ異なった重み付けをすること
ができる。したがって、容量の重み付けが大きいキャパ
シタに対応する第3のアナログスイッチのオン抵抗の重
み付けを小さくすることができる。また、各キャパシタ
の時定数を等しくすることもできる。
イッチの各々は、MOSトランジスタを含む。MOSト
ランジスタは、対応するキャパシタの電極の他方と第3
のノードとの間に接続される。上記複数の第3のアナロ
グスイッチのうちのある第3のアナログスイッチに含ま
れるMOSトランジスタと他の第3のアナログスイッチ
に含まれるMOSトランジスタとではオン状態のときに
与えられるゲート電圧が異なる。
いるときのオン抵抗はゲート電圧に反比例する。上記逐
次比較型A/D変換器では、ある第3のアナログスイッ
チに含まれるMOSトランジスタと他の第3のアナログ
スイッチに含まれるMOSトランジスタとではオン状態
のときに与えられるゲート電圧が異なるため、これらの
第3のアナログスイッチのオン抵抗にそれぞれ異なった
重み付けをすることができる。したがって、容量の重み
付けが大きいキャパシタに対応する第3のアナログスイ
ッチのオン抵抗の重み付けを小さくすることができる。
また、各キャパシタの時定数を等しくすることもでき
る。
面を参照して詳しく説明する。なお、図中同一または相
当部分には同一の符号を付し、その説明は繰り返さな
い。
1の実施形態による逐次比較型A/D変換器の構成を示
す図である。図1に示す逐次比較型A/D変換器はNビ
ットA/D変換器であり、容量アレイ50と、アナログ
スイッチ群90,100,110と、電圧比較器27
と、状態制御回路28とを備える。
シタ51[0]−51[N]を含む。キャパシタ51
[N]−51[0]の容量はそれぞれ2(N-1)C,2
(N-2)C,2(N-3)C,・・・,20C,Cである。な
お、Cは単位容量である。
をアナログ入力Vinに接続する。アナログスイッチ群
90は(N+1)個のアナログスイッチ90[N]−9
0[0]を含む。アナログスイッチ90[N]−90
[0]は、キャパシタ51[N]−51[0]の電極の
一方とノードND1との間に接続される。ノードND1
はアナログ入力Vinを受ける。アナログスイッチ90
[N]のオン抵抗はR/4であり、アナログスイッチ9
0[N−1]のオン抵抗はR/2である。アナログスイ
ッチ90[N−2]−90[0]のオン抵抗はRであ
る。なお、Rは単位抵抗である。このようにアナログス
イッチ90[N]−90[0]のオン抵抗に重み付けを
している。
Vrh(ここでは電源電圧Vddとする。)に容量アレ
イ50を接続する。アナログスイッチ群100は(N+
1)個のアナログスイッチ100[N]−100[0]
を含む。アナログスイッチ100[N]−100[0]
は、キャパシタ51[N]−51[0]の電極の一方と
ノードND2との間に接続される。ノードND2は上側
基準電圧Vrhを受ける。アナログスイッチ100
[N]−100[0]のオン抵抗はRである。
Vrl(ここでは接地電圧GNDとする。)に容量アレ
イ50を接続する。アナログスイッチ群110は(N+
1)個のアナログスイッチ110[N]−110[0]
を含む。アナログスイッチ110[N]−110[0]
は、キャパシタ51[N]−51[0]の電極の一方と
ノードND3との間に接続される。ノードND3は下側
基準電圧Vrlを受ける。アナログスイッチ110
[N]−110[0]のオン抵抗はRである。
インバータ34とを含む。インバータ34は容量アレイ
50のキャパシタ51[N]−51[0]の電極の他方
の電圧を反転して出力する。キャパシタ51[N]−5
1[0]の電極の他方は互いに共通に接続されている。
アナログスイッチ33はインバータ34の入力と出力と
の間に接続される。そして電圧比較器2からの出力がラ
ッチ回路(図示せず)によってラッチされる。LSB
(最下位ビット)まで電圧比較が終わると、ラッチ回路
は、ラッチしているデジタル値を出力する。
0[N]−90[0],100[N]−100[0],
110[N]−110[0],33のオン/オフを電圧
比較器27の出力に応じて制御する。
変換器の動作は、図5に示した従来の逐次比較型A/D
変換器の動作をNビットに拡張したものと同様である。
しかし、各キャパシタ51[N]−51[0]にアナロ
グ入力Vinをプリチャージ(サンプルホールド)する
際の時定数は、 キャパシタ51[N] :2(N-1)C・R/4=2(N-3)CR キャパシタ51[N−1] :2(N-2)C・R/2=2(N-3)CR キャパシタ51[N−2] :2(N-3)CR ・・・・ キャパシタ51[1] :20CR キャパシタ51[0] : CR となる。
となるため、図5に示した従来の逐次比較型A/D変換
器に比べて4倍速くプリチャージ(サンプルホールド)
を行うことができる。これによりA/D変換にかかる時
間を短縮でき、動作速度を上げることができる。
ついてだけ重み付けを行なったけれども、アナログスイ
ッチ群100およびアナログスイッチ群110について
も同様に重み付けすると電荷再配分を従来よりも4倍速
く行なうことができ、その結果 動作速度を上げること
ができる。
110についての重み付けを組み合わせて行なうと動作
速度向上の効果が上がる。
2の実施形態による逐次比較型A/D変換器の構成を示
す図である。図2に示す逐次比較型A/D変換器は、図
1に示したアナログスイッチ群90,100,110に
代えて、アナログスイッチ群60,70,80を備え
る。その他の構成は図1に示した逐次比較型A/D変換
器と同様である。
をアナログ入力Vinに接続する。アナログスイッチ群
60は(N+1)個のアナログスイッチ61[N]−6
1[0]を含む。アナログスイッチ61[N]−61
[0]は、キャパシタ51[N]−51[0]の電極の
一方とノードND1との間に接続される。ノードND1
はアナログ入力Vinを受ける。アナログスイッチ61
[N]−61[0]のオン抵抗は、R/2(N-1),R/
2(N-2),R/2(N-3),・・・,R/20,Rである。
なお、Rは単位抵抗である。このように、キャパシタ5
1[N]−51[0]の容量に対する重み付けの逆数で
アナログスイッチ61[N]−61[0]のオン抵抗に
重み付けしている。
rh(ここでは電源電圧Vddとする。)に容量アレイ
50を接続する。アナログスイッチ群70は(N+1)
個のアナログスイッチ71[N]−71[0]を含む。
アナログスイッチ71[N]−71[0]は、キャパシ
タ51[N]−51[0]の電極の一方とノードND2
との間に接続される。ノードND2は上側基準電圧Vr
hを受ける。アナログスイッチ71[N]−71[0]
のオン抵抗は、R/2(N-1),R/2(N-2),R/2
(N-3),・・・,R/20,Rである。このように、キャ
パシタ51[N]−51[0]の容量に対する重み付け
の逆数でアナログスイッチ71[N]−71[0]のオ
ン抵抗に重み付けしている。
rl(ここでは接地電圧GNDとする。)に容量アレイ
50を接続する。アナログスイッチ群80は(N+1)
個のアナログスイッチ81[N]−81[0]を含む。
アナログスイッチ81[N]−81[0]は、キャパシ
タ51[N]−51[0]の電極の一方とノードND3
との間に接続される。ノードND3は下側基準電圧Vr
lを受ける。アナログスイッチ81[N]−81[0]
のオン抵抗は、R/2(N-1),R/2(N-2),R/2
(N-3),・・・,R/20,Rである。このように、キャ
パシタ51[N]−51[0]の容量に対する重み付け
の逆数でアナログスイッチ81[N]−81[0]のオ
ン抵抗に重み付けしている。
変換器の動作は、図1に示した逐次比較型A/D変換器
の動作と同様である。しかし、各キャパシタ51[N]
−51[0]に対する時定数は、 キャパシタ51[N] :2(N-1)C・R/2(N-1)=CR キャパシタ51[N−1] :2(N-2)C・R/2(N-2)=CR キャパシタ51[N−2] :2(N-3)C・R/2(N-3)=CR ・・・・・ キャパシタ51[1] :20C・R/20=CR キャパシタ51[0] :CR となる。すなわち各キャパシタ51[N]−51[0]
に対する時定数は等しくなる。これにより、アナログ入
力Vinをサンプルホールドする時間および電荷再配分
を行なう時間はどのキャパシタ51[N]−51[0]
でも等しくなる。この結果、動作速度を最大限向上させ
ることができる。また、各キャパシタ51[N]−51
[0]の容量に対する重み付けの逆数でアナログスイッ
チ71[N]−71[0],81[N]−81[0],
61[N]−61[0]のオン抵抗に重み付けするた
め、面積増加を最小限に止めることができる。
み付け)図3は、第1および第2の実施形態で説明した
ようなオン抵抗に対する重み付けを実現するアナログス
イッチの具体例を示す図である。
0は、チャネル幅を異ならせることによりオン抵抗に重
み付けするものである。アナログスイッチ群120はア
ナログスイッチ121[N]−121[0]を含む。ア
ナログスイッチ121[N]−121[0]は、図1お
よび図2に示したアナログスイッチ群60,70,8
0,90,100,110におけるアナログスイッチ6
1[N]−61[0],71[N]−71[0],81
[N]−81[0],90[N]−90[0],100
[N]−100[0],110[N]−110[0]に
相当する。アナログスイッチ121[N]−121
[0]は、PチャネルMOSトランジスタおよびNチャ
ネルMOSトランジスタで構成されるトランスファゲー
トを含む。アナログスイッチ121[N]−121
[0]内のPチャネルMOSトランジスタおよびNチャ
ネルMOSトランジスタのチャネル幅Wは、それぞれ2
(N-1)W0,2(N-2)W0,2(N-3)W0,・・・,20W
0,W0である。アナログスイッチ121[N]−12
1[0]内のPチャネルMOSトランジスタおよびNチ
ャネルMOSトランジスタのチャネル長LはL0であ
る。MOSトランジスタが線形領域で動作しているとき
のオン抵抗はチャネル幅Wに反比例するため、チャネル
幅Wを異ならせることによってアナログスイッチ121
[N]−121[0]のオン抵抗に重み付けすることが
できる。また、MOSトランジスタが線形領域で動作し
ているときのオン抵抗はチャネル長Lに比例するため、
アナログスイッチ121[N]−121[0]内のMO
Sトランジスタのチャネル長Lを異ならせることによっ
てもアナログスイッチ121[N]−121[0]オン
抵抗に重み付けすることができる。さらに、アナログス
イッチ121[N]−121[0]内のMOSトランジ
スタのチャネル幅Wおよびチャネル長Lの両者を異なら
せることによってもアナログスイッチ121[N]−1
21[0]のオン抵抗に重み付けすることができる。
群130は、オン抵抗が等しいスイッチを並列接続する
ことによりオン抵抗に重み付けするものである。アナロ
グスイッチ群130はアナログスイッチ131[N]−
131[0]を含む。アナログスイッチ131[N]−
131[0]は、図1および図2に示したアナログスイ
ッチ群60,70,80,90,100,110におけ
るアナログスイッチ61[N]−61[0],71
[N]−71[0],81[N]−81[0],90
[N]−90[0],100[N]−100[0],1
10[N]−110[0]に相当する。アナログスイッ
チ131[N]−131[0]は、オン抵抗が等しいア
ナログスイッチをそれぞれ2(N-1)個,2(N-2)個,2
(N-3)個,・・・,20個,1個並列に接続して構成され
る。このようにオン抵抗が等しいアナログスイッチを並
列に接続することにより、各キャパシタ51[N]−5
1[0]につながるアナログスイッチ131[N]−1
31[0]のオン抵抗に重み付けすることができる。
群140は、ゲート電圧を異ならせることによりオン抵
抗に重み付けするものである。アナログスイッチ群14
0はアナログスイッチ141[N]−141[0]とゲ
ート電圧生成回路142とを含む。アナログスイッチ1
41[N]−141[0]は、図1および図2に示した
アナログスイッチ群60,70,80,90,100,
110におけるアナログスイッチ61[N]−61
[0],71[N]−71[0],81[N]−81
[0],90[N]−90[0],100[N]−10
0[0],110[N]−110[0]に相当する。ア
ナログスイッチ141[N]−141[0]は、Pチャ
ネルMOSトランジスタおよびNチャネルMOSトラン
ジスタで構成されるトランスファゲートを含む。ゲート
電圧生成回路142は、アナログスイッチ141[N]
−141[0]内のPチャネルMOSトランジスタおよ
びNチャネルMOSトランジスタに与えるゲート電圧を
生成する。MOSトランジスタが線形領域で動作してい
るときのオン抵抗はゲート電圧に反比例する。したがっ
て、アナログスイッチ141[N]−141[0]内の
PチャネルMOSトランジスタおよびNチャネルMOS
トランジスタにオン状態のときに与えるゲート電圧を異
ならせることにより、アナログスイッチのオン抵抗に重
み付けすることができる。また、一般的なアナログスイ
ッチの構成を特に変える必要がない。
型A/D変換器では、複数の第1のアナログスイッチの
各々は所定の重み付けがなされたオン抵抗を有するた
め、アナログ入力をプリチャージ(サンプルホールド)
するのに必要な時間を短縮することができ、A/D変換
の動作速度を向上させることができる。
々は、対応するキャパシタの容量に対する重み付けの逆
数で重み付けされたオン抵抗を有するため、各キャパシ
タ間の時定数の差によって生じる動作速度の低下を防ぐ
ことができる。
れるMOSトランジスタと他の第1のアナログスイッチ
に含まれるMOSトランジスタとではチャネル幅および
/またはチャネル長が異なるため、これらの第1のアナ
ログスイッチのオン抵抗にそれぞれ異なった重み付けを
することができる。
れる第4のアナログスイッチの数と他の第1のアナログ
スイッチに含まれる第4のアナログスイッチの数とが異
なるため、これらの第1のアナログスイッチのオン抵抗
にそれぞれ異なった重み付けをすることができる。
れるMOSトランジスタと他の第1のアナログスイッチ
に含まれるMOSトランジスタとではオン状態のときに
与えられるゲート電圧が異なるため、これらの第1のア
ナログスイッチのオン抵抗にそれぞれ異なった重み付け
をすることができる。
較型A/D変換器では、複数の第2のアナログスイッチ
の各々は所定の重み付けがなされたオン抵抗を有するた
め、電荷再配分に必要な時間を短縮することができ、A
/D変換の動作速度を向上させることができる。
逐次比較型A/D変換器では、複数の第3のアナログス
イッチの各々は所定の重み付けがなされたオン抵抗を有
するため、電荷再配分に必要な時間を短縮することがで
き、A/D変換の動作速度を向上させることができる。
/D変換器の構成を示す図である。
/D変換器の構成を示す図である。
を実現するアナログスイッチの具体例を示す図である。
ブロック図である。
の構成を示す図である。
[N]−71[0],81[N]−81[0],91
[N]−91[0],101[N]−101[0],1
11[N]−111[0],121[N]−121
[0],131[N]−131[0],141[N]−
141[0] アナログスイッチ 27 電圧比較器 28 状態制御回路 29,50 容量アレイ 30−32,60,70,80,90,100,11
0,120,130,140 アナログスイッチ群 34 インバータ 142 ゲート電圧生成回路
Claims (5)
- 【請求項1】 電極の一方が互いに接続され、各々の容
量に対して所定の重み付けがなされた複数のキャパシタ
と、 前記複数のキャパシタに対応して設けられ、対応するキ
ャパシタの電極の他方とアナログ入力を受ける第1のノ
ードとの間に各々が接続された複数の第1のアナログス
イッチと、 前記複数のキャパシタに対応して設けられ、対応するキ
ャパシタの電極の前記他方と第1の基準電圧を受ける第
2のノードとの間に各々が接続された複数の第2のアナ
ログスイッチと、 前記複数のキャパシタに対応して設けられ、対応するキ
ャパシタの電極の前記他方と前記第1の基準電圧よりも
低い第2の基準電圧を受ける第3のノードとの間に各々
が接続された複数の第3のアナログスイッチと、 前記複数のキャパシタの電極の前記一方の電圧と第3の
基準電圧とを比較する電圧比較手段と、 前記複数の第1のアナログスイッチ、前記複数の第2の
アナログスイッチ、および前記複数の第3のアナログス
イッチの各々のオン/オフを前記電圧比較手段による比
較の結果に基づいて制御する状態制御手段とを備え、 前記複数の第1のアナログスイッチの各々は、所定の重
み付けがなされたオン抵抗を有することを特徴とする逐
次比較型A/D変換器。 - 【請求項2】 請求項1に記載の逐次比較型A/D変換
器において、 前記複数の第1のアナログスイッチの各々は、対応する
キャパシタの容量に対する重み付けの逆数で重み付けさ
れたオン抵抗を有することを特徴とする逐次比較型A/
D変換器。 - 【請求項3】 請求項1に記載の逐次比較型A/D変換
器において、 前記複数の第1のアナログスイッチの各々は、 対応するキャパシタの電極の前記他方と前記第1のノー
ドとの間に接続されたMOSトランジスタを含み、 前記複数の第1のアナログスイッチのうちのある第1の
アナログスイッチに含まれるMOSトランジスタと他の
第1のアナログスイッチに含まれるMOSトランジスタ
とではチャネル幅および/またはチャネル長が異なるこ
とを特徴とする逐次比較型A/D変換器。 - 【請求項4】 請求項1に記載の逐次比較型A/D変換
器において、 前記複数の第1のアナログスイッチの各々は、 対応するキャパシタの電極の前記他方と前記第1のノー
ドとの間に並列に接続された1または複数の第4のアナ
ログスイッチを含み 前記複数の第1のアナログスイッチのうちのある第1の
アナログスイッチに含まれる第4のアナログスイッチの
数と他の第1のアナログスイッチに含まれる第4のアナ
ログスイッチの数とが異なることを特徴とする逐次比較
型A/D変換器。 - 【請求項5】 請求項1に記載の逐次比較型A/D変換
器において、 前記複数の第1のアナログスイッチの各々は、 対応するキャパシタの電極の前記他方と前記第1のノー
ドとの間に接続されたMOSトランジスタを含み、 前記複数の第1のアナログスイッチのうちのある第1の
アナログスイッチに含まれるMOSトランジスタと他の
第1のアナログスイッチに含まれるMOSトランジスタ
とではオン状態のときに与えられるゲート電圧が異なる
ことを特徴とする逐次比較型A/D変換器。
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