JP3480857B2 - 塗工シート厚さ測定方法および装置 - Google Patents
塗工シート厚さ測定方法および装置Info
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、塗工シート厚さ測定装
置に関し、特にベース基材の両面に塗工された塗工層の
厚さを片面毎に個別に測定する塗工シート厚さ測定方法
および装置に関するものである。
置に関し、特にベース基材の両面に塗工された塗工層の
厚さを片面毎に個別に測定する塗工シート厚さ測定方法
および装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】粘着テープ、磁気テープ、電池の電極基
板など、ベース基材に塗工された塗工層の厚さを測定す
る塗工シート厚さ測定装置として、レーザ変位計を利用
した複式レーザ厚さ計などによるものが知られている。
板など、ベース基材に塗工された塗工層の厚さを測定す
る塗工シート厚さ測定装置として、レーザ変位計を利用
した複式レーザ厚さ計などによるものが知られている。
【０００３】図５はレーザ変位計を利用した複式レーザ
厚さ計による塗工シート厚さ測定装置を示している。こ
の塗工シート厚さ測定装置は、互いに対向配置された一
対の変位計３１、３３を有し、一方の変位計３１によっ
て当該変位計３１と塗工シートＳの一方の面との距離を
測定し、他方の変位計３３によって当該変位計３３と塗
工シートＳの他方の面との距離を測定する。
厚さ計による塗工シート厚さ測定装置を示している。こ
の塗工シート厚さ測定装置は、互いに対向配置された一
対の変位計３１、３３を有し、一方の変位計３１によっ
て当該変位計３１と塗工シートＳの一方の面との距離を
測定し、他方の変位計３３によって当該変位計３３と塗
工シートＳの他方の面との距離を測定する。
【０００４】この変位計３１と３３は、塗工シートＳの
幅方向に関して互いに同一位置にて上述の各距離を同時
に測定するものであり、各変位計３１、３３が直接に測
定する量は、変位計３１、３３の配置位置により決まる
不動の基準位置から塗工シートＳの表面までの距離であ
り、変位計３１と３３との離間距離Ｄが既知値であるこ
とにより、変位計３１の計測値が（変位計３１と塗工シ
ートＳの一方の面との距離）Ｄａ、変位計３３の計測値
が（変位計３３と塗工シートＳの他方の面との距離）Ｄ
ｂであれば、図５（ａ）のＰ点測定ではＤ−Ｄａ−Ｄｂ
より塗工シートＳの全厚さＴが、図５（ｂ）のＱ点測定
では塗工シートＳの基材シートの厚さＴｃが各々測定さ
れる。
幅方向に関して互いに同一位置にて上述の各距離を同時
に測定するものであり、各変位計３１、３３が直接に測
定する量は、変位計３１、３３の配置位置により決まる
不動の基準位置から塗工シートＳの表面までの距離であ
り、変位計３１と３３との離間距離Ｄが既知値であるこ
とにより、変位計３１の計測値が（変位計３１と塗工シ
ートＳの一方の面との距離）Ｄａ、変位計３３の計測値
が（変位計３３と塗工シートＳの他方の面との距離）Ｄ
ｂであれば、図５（ａ）のＰ点測定ではＤ−Ｄａ−Ｄｂ
より塗工シートＳの全厚さＴが、図５（ｂ）のＱ点測定
では塗工シートＳの基材シートの厚さＴｃが各々測定さ
れる。
【０００５】ここで、Ｐ点測定時とＱ点測定時とで塗工
シートＳの図５にて上下方向の位置が変動しなければ、
即ち揺動しなければ、Ｐ点測定時とＱ点測定時とにおけ
る変位計３１の計測値Ｄａの差より塗工シートＳの一方
の面の塗工層Ｓａの厚さＴａが算出され、またＰ点測定
時とＱ点測定時とにおける変位計３３の計測値Ｄｂの差
より塗工シートＳの他方の面の塗工層Ｓｂの厚さＴｂが
算出される。
シートＳの図５にて上下方向の位置が変動しなければ、
即ち揺動しなければ、Ｐ点測定時とＱ点測定時とにおけ
る変位計３１の計測値Ｄａの差より塗工シートＳの一方
の面の塗工層Ｓａの厚さＴａが算出され、またＰ点測定
時とＱ点測定時とにおける変位計３３の計測値Ｄｂの差
より塗工シートＳの他方の面の塗工層Ｓｂの厚さＴｂが
算出される。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、一般に
塗工プロセスでは、フリースパンが長い乾燥工程を有す
るため、塗工シートＳが揺動することが避けられず、塗
工層の厚さ測定に誤差が生じることが避けられない。
塗工プロセスでは、フリースパンが長い乾燥工程を有す
るため、塗工シートＳが揺動することが避けられず、塗
工層の厚さ測定に誤差が生じることが避けられない。
【０００７】図６（ａ）に示されているように、Ｐ点測
定時には、塗工シートＳが変位計３１、３３との間の中
点位置にあったが、Ｑ点測定時には、図６（ｂ）に示さ
れているように、塗工シートＳの位置が変位計３１の側
にΔｙだけ変位すると、塗工層Ｓａの厚さＴａはΔｙだ
け真値より小さく測定され、塗工層Ｓｂの厚さＴｂはΔ
ｙだけ真値より大きく測定される。
定時には、塗工シートＳが変位計３１、３３との間の中
点位置にあったが、Ｑ点測定時には、図６（ｂ）に示さ
れているように、塗工シートＳの位置が変位計３１の側
にΔｙだけ変位すると、塗工層Ｓａの厚さＴａはΔｙだ
け真値より小さく測定され、塗工層Ｓｂの厚さＴｂはΔ
ｙだけ真値より大きく測定される。
【０００８】各塗工層の厚さは、（塗工層表面の測定
値）−（ベース基材表面の測定値）として求められる
が、ベース基材表面の測定値は塗工シートの揺動より絶
えず変動としているにも拘らず、塗工層表面の測定（Ｐ
点測定）とベース基材表面の測定（Ｑ点測定）とが時間
差をもって測定されるため、必ず測定誤差が生じること
になる。
値）−（ベース基材表面の測定値）として求められる
が、ベース基材表面の測定値は塗工シートの揺動より絶
えず変動としているにも拘らず、塗工層表面の測定（Ｐ
点測定）とベース基材表面の測定（Ｑ点測定）とが時間
差をもって測定されるため、必ず測定誤差が生じること
になる。
【０００９】本発明は、上述の如き問題点に着目してな
されたものであり、ベース基材の両面に塗工された塗工
層の厚さを片面毎に、塗工シートの揺動に拘らず誤差を
含むことなく正確に測定する塗工シート厚さ測定方法お
よび装置を提供することを目的としている。
されたものであり、ベース基材の両面に塗工された塗工
層の厚さを片面毎に、塗工シートの揺動に拘らず誤差を
含むことなく正確に測定する塗工シート厚さ測定方法お
よび装置を提供することを目的としている。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めに、本発明による塗工シート厚さ測定方法は、ベース
基材の両面に塗工された塗工層の厚さを測定する塗工シ
ート厚さ測定方法において、第一の変位計によって当該
第一の変位計と前記ベース基材の一方の面の塗工層表面
との距離を、前記第一の変位計に対して対向配置された
第二の変位計によって当該第二の変位計と前記ベース基
材の他方の面の塗工層表面との距離を、前記第一の変位
計に対してシート幅方向に所定量変位した位置にて第三
の変位計によって当該第三の変位計と前記ベース基材の
一方の面との距離を各々同時に測定し、前記第三の変位
計による計測値Ｄｃより前記第一の変位計による計測値
Ｄａを差し引いて前記ベース基材の一方の面の塗工層の
厚さＴａを算出し、前記第一の変位計による計測値Ｄａ
と前記第二の変位計による計測値Ｄｂより塗工シートの
全厚さＴを算出し、この全厚さＴより前記ベース基材の
厚さＴｃと前記ベース基材の一方の面の塗工層の厚さＴ
ａとを差し引いて前記ベース基材の他方の面の塗工層の
厚さＴｂを算出することを特徴としている。
めに、本発明による塗工シート厚さ測定方法は、ベース
基材の両面に塗工された塗工層の厚さを測定する塗工シ
ート厚さ測定方法において、第一の変位計によって当該
第一の変位計と前記ベース基材の一方の面の塗工層表面
との距離を、前記第一の変位計に対して対向配置された
第二の変位計によって当該第二の変位計と前記ベース基
材の他方の面の塗工層表面との距離を、前記第一の変位
計に対してシート幅方向に所定量変位した位置にて第三
の変位計によって当該第三の変位計と前記ベース基材の
一方の面との距離を各々同時に測定し、前記第三の変位
計による計測値Ｄｃより前記第一の変位計による計測値
Ｄａを差し引いて前記ベース基材の一方の面の塗工層の
厚さＴａを算出し、前記第一の変位計による計測値Ｄａ
と前記第二の変位計による計測値Ｄｂより塗工シートの
全厚さＴを算出し、この全厚さＴより前記ベース基材の
厚さＴｃと前記ベース基材の一方の面の塗工層の厚さＴ
ａとを差し引いて前記ベース基材の他方の面の塗工層の
厚さＴｂを算出することを特徴としている。
【００１１】また上述の目的を達成するために、本発明
による塗工シート厚さ測定装置は、厚さ測定対象のベー
ス基材の両面に塗工された塗工シートのベース基材の一
方の面の塗工層に対向し、当該一方の面の塗工層との距
離を測定する第一の変位計と、前記第一の変位計に対し
て対向配置されて厚さ測定対象の塗工シートのベース基
材の他方の面の塗工層に対向し、当該他方の面の塗工層
との距離を測定する第二の変位計と、前記第一の変位計
に対してシート幅方向に所定量変位した位置に配置され
て厚さ測定対象の塗工シートのベース基材の一方の面に
対向し、当該ベース基材の一方の面との距離を測定する
第三の変位計もしくは前記第二の変位計に対してシート
幅方向に所定量変位した位置に配置されて厚さ測定対象
の塗工シートのベース基材の他方の面に対向し、当該ベ
ース基材の他方の面との距離を測定する第四の変位計の
少なくとも何れか一方と、を有していることを特徴とし
ている。
による塗工シート厚さ測定装置は、厚さ測定対象のベー
ス基材の両面に塗工された塗工シートのベース基材の一
方の面の塗工層に対向し、当該一方の面の塗工層との距
離を測定する第一の変位計と、前記第一の変位計に対し
て対向配置されて厚さ測定対象の塗工シートのベース基
材の他方の面の塗工層に対向し、当該他方の面の塗工層
との距離を測定する第二の変位計と、前記第一の変位計
に対してシート幅方向に所定量変位した位置に配置され
て厚さ測定対象の塗工シートのベース基材の一方の面に
対向し、当該ベース基材の一方の面との距離を測定する
第三の変位計もしくは前記第二の変位計に対してシート
幅方向に所定量変位した位置に配置されて厚さ測定対象
の塗工シートのベース基材の他方の面に対向し、当該ベ
ース基材の他方の面との距離を測定する第四の変位計の
少なくとも何れか一方と、を有していることを特徴とし
ている。
【００１２】
【作用】上述の如き構成によれば、第一の変位計と第二
の変位計による塗工層表面の測定と同時に、第三の変位
計もしくは第四の変位計の少なくとも何れか一方によっ
てベース基材表面の測定が行われ、第三の変位計もしく
は第四の変位計による計測値Ｄｃより第一の変位計によ
る計測値Ｄａを差し引くことによりベース基材の一方の
面の塗工層の厚さＴａが求められ、第一の変位計による
計測値Ｄａと第二の変位計による計測値Ｄｂより塗工シ
ートの全厚さＴを算出し、この全厚さＴよりベース基材
の厚さＴｃとベース基材の一方の面の塗工層の厚さＴａ
とを差し引くことによりベース基材の他方の面の塗工層
の厚さＴｂが求められる。
の変位計による塗工層表面の測定と同時に、第三の変位
計もしくは第四の変位計の少なくとも何れか一方によっ
てベース基材表面の測定が行われ、第三の変位計もしく
は第四の変位計による計測値Ｄｃより第一の変位計によ
る計測値Ｄａを差し引くことによりベース基材の一方の
面の塗工層の厚さＴａが求められ、第一の変位計による
計測値Ｄａと第二の変位計による計測値Ｄｂより塗工シ
ートの全厚さＴを算出し、この全厚さＴよりベース基材
の厚さＴｃとベース基材の一方の面の塗工層の厚さＴａ
とを差し引くことによりベース基材の他方の面の塗工層
の厚さＴｂが求められる。
【００１３】
【実施例】以下に本発明の実施例を図面を用いて詳細に
説明する。
説明する。
【００１４】図１は本発明による塗工シート厚さ測定装
置の一実施例を示している。塗工シート厚さ測定装置
は、コの字形の移動フレーム１を有しており、移動フレ
ーム１は駆動装置３によって厚さ測定対象の塗工シート
Ｓの幅方向、即ち図１にて左右方向に走行変位可能にな
っている。
置の一実施例を示している。塗工シート厚さ測定装置
は、コの字形の移動フレーム１を有しており、移動フレ
ーム１は駆動装置３によって厚さ測定対象の塗工シート
Ｓの幅方向、即ち図１にて左右方向に走行変位可能にな
っている。
【００１５】なお、図１では、塗工シートＳは紙面を直
角に貫通する方向に走行するものとする。移動フレーム
１の上部アーム５と下部アーム７には第一の変位計９と
第二の変位計１１とが互いに対向して固定装着されてい
る。第一の変位計９は厚さ測定対象の塗工シートＳの上
面に対向し、自身の配置と塗工シートＳの上面との距離
を測定する。第二の変位計１１は厚さ測定対象の塗工シ
ートＳの下面に対向し、自身の配置と塗工シートＳの下
面との距離を測定する。
角に貫通する方向に走行するものとする。移動フレーム
１の上部アーム５と下部アーム７には第一の変位計９と
第二の変位計１１とが互いに対向して固定装着されてい
る。第一の変位計９は厚さ測定対象の塗工シートＳの上
面に対向し、自身の配置と塗工シートＳの上面との距離
を測定する。第二の変位計１１は厚さ測定対象の塗工シ
ートＳの下面に対向し、自身の配置と塗工シートＳの下
面との距離を測定する。
【００１６】上部アーム５には第一の変位計９より塗工
シートＳの幅方向に所定量Δｘだけ変位した位置に第三
の変位計１３が固定装着されている。第三の変位計１３
は厚さ測定対象の塗工シートＳの上面に対向し、自身の
配置と塗工シートＳの上面との距離を測定する。
シートＳの幅方向に所定量Δｘだけ変位した位置に第三
の変位計１３が固定装着されている。第三の変位計１３
は厚さ測定対象の塗工シートＳの上面に対向し、自身の
配置と塗工シートＳの上面との距離を測定する。
【００１７】第一の変位計９と第二の変位計１１と第三
の変位計１３の各々の計測値はコンピュータシステム１
５へ転送され、コンピュータシステム１５は各変位計よ
りの計測値に基づく演算処理によって塗工層の厚さを算
出する。
の変位計１３の各々の計測値はコンピュータシステム１
５へ転送され、コンピュータシステム１５は各変位計よ
りの計測値に基づく演算処理によって塗工層の厚さを算
出する。
【００１８】次に上述の構成よりなる厚さ測定装置を使
用して塗工層の厚さ測定する方法をを図２（ａ）、
（ｂ）を参照して説明する。
用して塗工層の厚さ測定する方法をを図２（ａ）、
（ｂ）を参照して説明する。
【００１９】図２（ａ）に示されているように、第一の
変位計９によって自身の配置とベース基材Ｓｃの上面の
塗工層Ｓａの表面（Ｐａ点）との距離を、第二の変位計
１１によって自身の配置とベース基材Ｓｃの下面の塗工
層Ｓｂの表面（Ｐｂ点）との距離を同時測定すると同時
に、第三の変位計１３によって自身の配置とベース基材
Ｓｃの上面との距離（Ｐｃ点）を測定する。
変位計９によって自身の配置とベース基材Ｓｃの上面の
塗工層Ｓａの表面（Ｐａ点）との距離を、第二の変位計
１１によって自身の配置とベース基材Ｓｃの下面の塗工
層Ｓｂの表面（Ｐｂ点）との距離を同時測定すると同時
に、第三の変位計１３によって自身の配置とベース基材
Ｓｃの上面との距離（Ｐｃ点）を測定する。
【００２０】ここで、第一の変位計９による計測値をＤ
ａ、第二の変位計１１による計測値をＤｂ、第三の変位
計１３による計測値をＤｃとする。
ａ、第二の変位計１１による計測値をＤｂ、第三の変位
計１３による計測値をＤｃとする。
【００２１】これら変位計の各計測値Ｄａ、Ｄｂ、Ｄｃ
はコンピュータシステム１５に入力される。
はコンピュータシステム１５に入力される。
【００２２】コンピュータシステム１５は、第三の変位
計１３による計測値Ｄｃより第一の変位計９による計測
値Ｄａを差し引いてベース基材Ｓｃの上面の塗工層Ｓａ
の厚さＴａを算出する。第三の変位計１３による計測値
Ｄｃと第一の変位計９による計測値Ｄａとが同時計測値
であることから、塗工シートＳが揺動しても、その揺動
による誤差成分を含むことなく、塗工層Ｓａの厚さＴａ
が正確に測定される。
計１３による計測値Ｄｃより第一の変位計９による計測
値Ｄａを差し引いてベース基材Ｓｃの上面の塗工層Ｓａ
の厚さＴａを算出する。第三の変位計１３による計測値
Ｄｃと第一の変位計９による計測値Ｄａとが同時計測値
であることから、塗工シートＳが揺動しても、その揺動
による誤差成分を含むことなく、塗工層Ｓａの厚さＴａ
が正確に測定される。
【００２３】またコンピュータシステム１５は、第一の
変位計９による計測値Ｄａと第二の変位計１１による計
測値Ｄｂより塗工シートＳの全厚さＴを算出し、この全
厚さＴよりベース基材の厚さＴｃとベース基材Ｓｃの上
面の塗工層Ｓｂの厚さＴａとを差し引いてベース基材Ｓ
ｃの下面の塗工層Ｓａの厚さＴｂを算出する。これによ
り塗工層Ｓｂの厚さＴｂも、塗工シートＳの揺動に拘ら
ず、揺動による誤差成分を含むことなく、正確に測定さ
れる。
変位計９による計測値Ｄａと第二の変位計１１による計
測値Ｄｂより塗工シートＳの全厚さＴを算出し、この全
厚さＴよりベース基材の厚さＴｃとベース基材Ｓｃの上
面の塗工層Ｓｂの厚さＴａとを差し引いてベース基材Ｓ
ｃの下面の塗工層Ｓａの厚さＴｂを算出する。これによ
り塗工層Ｓｂの厚さＴｂも、塗工シートＳの揺動に拘ら
ず、揺動による誤差成分を含むことなく、正確に測定さ
れる。
【００２４】なお、塗工シートＳの全厚さＴの算出は、
従来と同様に、第一の変位計９と第二の変位計１１との
離間距離Ｄが既知値であることにより、Ｔ＝Ｄ−Ｄａ−
Ｄｂにより求められる。また基材シートＳｃの厚さＴｃ
は、図２（ｂ）に示されているように、第一の変位計９
によって自身の配置とベース基材Ｓｃの上面との距離
を、第二の変位計１１によって自身の配置とベース基材
Ｓｃの下面との距離を各々同時測定し、この時の第一の
変位計９による計測値Ｄａ、第二の変位計１１による計
測値Ｄｂを使用してＤ−Ｄａ−Ｄｂなる演算を行うこと
により求められる。
従来と同様に、第一の変位計９と第二の変位計１１との
離間距離Ｄが既知値であることにより、Ｔ＝Ｄ−Ｄａ−
Ｄｂにより求められる。また基材シートＳｃの厚さＴｃ
は、図２（ｂ）に示されているように、第一の変位計９
によって自身の配置とベース基材Ｓｃの上面との距離
を、第二の変位計１１によって自身の配置とベース基材
Ｓｃの下面との距離を各々同時測定し、この時の第一の
変位計９による計測値Ｄａ、第二の変位計１１による計
測値Ｄｂを使用してＤ−Ｄａ−Ｄｂなる演算を行うこと
により求められる。
【００２５】図３において、第一の変位計９によりＰ点
を、第三の変位計１３によりＱ点を同時測定することに
よってＰ点とＱ点との段差（Ｔａ）ｐが正確に計測さ
れ、また第一の変位計９によりＱ点を、第三の変位計１
３によりＲ点を同時測定することによってＱ点とＲ点と
の段差（Ｔａ）ｒが正確に計測される。
を、第三の変位計１３によりＱ点を同時測定することに
よってＰ点とＱ点との段差（Ｔａ）ｐが正確に計測さ
れ、また第一の変位計９によりＱ点を、第三の変位計１
３によりＲ点を同時測定することによってＱ点とＲ点と
の段差（Ｔａ）ｒが正確に計測される。
【００２６】次に第一の変位計９によりＲ点を、第三の
変位計１３によりＵ点を同時測定することによってＲ点
とＵ点との間の塗工層Ｓａの厚さの差ΔＴａを求めるこ
とができる。
変位計１３によりＵ点を同時測定することによってＲ点
とＵ点との間の塗工層Ｓａの厚さの差ΔＴａを求めるこ
とができる。
【００２７】この結果、Ｕ点における塗工層Ｓａの厚さ
（Ｔａ）ｕを下式により算定することができる。 （Ｔａ）ｕ＝（Ｔａ）ｒ＋ΔＴａ
（Ｔａ）ｕを下式により算定することができる。 （Ｔａ）ｕ＝（Ｔａ）ｒ＋ΔＴａ
【００２８】なお、上述の実施例では、第一の変位計９
の側部にのみ第三の変位計１３を設けたが、図４に示さ
れているように、第二の変位計１１の側部に第三の変位
計１３と対向して第四の変位計１７が設けられてもよ
い。
の側部にのみ第三の変位計１３を設けたが、図４に示さ
れているように、第二の変位計１１の側部に第三の変位
計１３と対向して第四の変位計１７が設けられてもよ
い。
【００２９】この場合には第二の変位計１１による下側
の塗工層表面測定と同時に、第四の変位計１７が自身の
配置とベース基材Ｓｃの下面との距離を測定し、この計
測値をＤｄとすると、下側の塗工層Ｓｂの厚さＴｂは、
第四の変位計１７による計測値Ｄｄより第二の変位計１
１による計測値Ｄｂを差し引くことにより、塗工シート
Ｓの揺動による誤差成分を含むことなく正確に測定され
る。
の塗工層表面測定と同時に、第四の変位計１７が自身の
配置とベース基材Ｓｃの下面との距離を測定し、この計
測値をＤｄとすると、下側の塗工層Ｓｂの厚さＴｂは、
第四の変位計１７による計測値Ｄｄより第二の変位計１
１による計測値Ｄｂを差し引くことにより、塗工シート
Ｓの揺動による誤差成分を含むことなく正確に測定され
る。
【００３０】以上に於ては、本発明を特定の実施例につ
いて詳細に説明したが、本発明は、これらに限定される
ものではなく、本発明の範囲内にて種々の実施例が可能
であることは当業者にとって明らかであろう。
いて詳細に説明したが、本発明は、これらに限定される
ものではなく、本発明の範囲内にて種々の実施例が可能
であることは当業者にとって明らかであろう。
【００３１】
【発明の効果】以上の説明から理解される如く、本発明
による塗工シート厚さ測定方法および装置によれば、第
一の変位計と第二の変位計による塗工層表面の測定と同
時に、第三の変位計もしくは第四の変位計の少なくとも
何れか一方によってベース基材表面の測定が行われるこ
とによって、演算処理によりベース基材の両面に塗工さ
れた塗工層の厚さが片面毎に、塗工シートの揺動に拘ら
ず誤差を含むことなく正確に測定されるようになる。
による塗工シート厚さ測定方法および装置によれば、第
一の変位計と第二の変位計による塗工層表面の測定と同
時に、第三の変位計もしくは第四の変位計の少なくとも
何れか一方によってベース基材表面の測定が行われるこ
とによって、演算処理によりベース基材の両面に塗工さ
れた塗工層の厚さが片面毎に、塗工シートの揺動に拘ら
ず誤差を含むことなく正確に測定されるようになる。
【図１】本発明による塗工シート厚さ測定装置の一実施
例を示す概略構成図である。
例を示す概略構成図である。
【図２】（ａ）、（ｂ）は本発明による塗工シート厚さ
測定方法による測定例を示す説明図である。
測定方法による測定例を示す説明図である。
【図３】本発明による塗工シート厚さ測定方法による他
の測定例を示す説明図である。
の測定例を示す説明図である。
【図４】本発明による塗工シート厚さ測定装置の他の実
施例を示す概略構成図である。
施例を示す概略構成図である。
【図５】従来の塗工シート厚さ測定方法による測定例を
示す説明図である。
示す説明図である。
【図６】従来の塗工シート厚さ測定方法による測定例を
示す説明図である。
示す説明図である。
１ 移動フレーム
９ 第一の変位計
１１ 第二の変位計
１３ 第三の変位計
１５ コンピュータシステム
１７ 第四の変位計
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(56)参考文献 特開 平５−203413（ＪＰ，Ａ)
特開 平４−369409（ＪＰ，Ａ)
特開 昭63−53407（ＪＰ，Ａ)
特開 昭61−66115（ＪＰ，Ａ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
C01B 21/08
Claims (2)
- 【請求項１】 ベース基材の両面に塗工された塗工層の
厚さを測定する塗工シート厚さ測定方法において、 第一の変位計によって当該第一の変位計と前記ベース基
材の一方の面の塗工層表面との距離を、前記第一の変位
計に対して対向配置された第二の変位計によって当該第
二の変位計と前記ベース基材の他方の面の塗工層表面と
の距離を、前記第一の変位計に対してシート幅方向に所
定量変位した位置にて第三の変位計によって当該第三の
変位計と前記ベース基材の一方の面との距離を各々同時
に測定し、前記第三の変位計による計測値Ｄｃより前記
第一の変位計による計測値Ｄａを差し引いて前記ベース
基材の一方の面の塗工層の厚さＴａを算出し、前記第一
の変位計による計測値Ｄａと前記第二の変位計による計
測値Ｄｂより塗工シートの全厚さＴを算出し、この全厚
さＴより前記ベース基材の厚さＴｃと前記ベース基材の
一方の面の塗工層の厚さＴａとを差し引いて前記ベース
基材の他方の面の塗工層の厚さＴｂを算出することを特
徴とする塗工シート厚さ測定方法。 - 【請求項２】 厚さ測定対象のベース基材の両面に塗工
された塗工シートのベース基材の一方の面の塗工層に対
向し、当該一方の面の塗工層との距離を測定する第一の
変位計と、 前記第一の変位計に対して対向配置されて厚さ測定対象
の塗工シートのベース基材の他方の面の塗工層に対向
し、当該他方の面の塗工層との距離を測定する第二の変
位計と、 前記第一の変位計に対してシート幅方向に所定量変位し
た位置に配置されて厚さ測定対象の塗工シートのベース
基材の一方の面に対向し、当該ベース基材の一方の面と
の距離を測定する第三の変位計もしくは前記第二の変位
計に対してシート幅方向に所定量変位した位置に配置さ
れて厚さ測定対象の塗工シートのベース基材の他方の面
に対向し、当該ベース基材の他方の面との距離を測定す
る第四の変位計の少なくとも何れか一方と、 を有していることを特徴とする塗工シート厚さ測定装
置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26721494A JP3480857B2 (ja) | 1994-10-31 | 1994-10-31 | 塗工シート厚さ測定方法および装置 |
| US08/550,498 US5661250A (en) | 1994-10-31 | 1995-10-30 | Method and apparatus for measuring the thickness of layers coated on opposite surfaces of sheet material |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26721494A JP3480857B2 (ja) | 1994-10-31 | 1994-10-31 | 塗工シート厚さ測定方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08128820A JPH08128820A (ja) | 1996-05-21 |
| JP3480857B2 true JP3480857B2 (ja) | 2003-12-22 |
Family
ID=17441731
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26721494A Expired - Fee Related JP3480857B2 (ja) | 1994-10-31 | 1994-10-31 | 塗工シート厚さ測定方法および装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5661250A (ja) |
| JP (1) | JP3480857B2 (ja) |
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| US6396590B1 (en) * | 1999-09-13 | 2002-05-28 | The University Of Tennessee Research Corporation | Process and system for determination of layer thickness swell of wood composites |
| US6757069B2 (en) | 2001-03-05 | 2004-06-29 | Northrop Grumman Corporation | Laser non-contact thickness measurement system |
| US6973843B2 (en) * | 2002-01-08 | 2005-12-13 | Iowa State University Research Foundation, Inc. | Method of measuring flow rate of flowable material under continuous flow conditions, and an in-line continuous flow meter |
| US7499811B2 (en) * | 2006-10-17 | 2009-03-03 | Ford Motor Company | System and method for measuring surface appearance of a surface |
| DE102006052587A1 (de) * | 2006-11-08 | 2008-05-15 | Mtu Aero Engines Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zum Messen von Schichtdicken |
| CN101308017B (zh) * | 2008-05-30 | 2010-09-01 | 哈尔滨工业大学 | 利用基带厚度进行自校的电池极板涂布区厚度在线测量方法 |
| GB0910736D0 (en) * | 2009-06-22 | 2009-08-05 | Pilkington Group Ltd | Improved film thickness measurement |
| US8681345B2 (en) * | 2010-03-25 | 2014-03-25 | First Solar, Inc. | System and method for measuring photovoltaic module thickness |
| WO2012024278A1 (en) * | 2010-08-16 | 2012-02-23 | First Solar, Inc. | Measurement system and method |
| US9151595B1 (en) * | 2014-04-18 | 2015-10-06 | Advanced Gauging Technologies, LLC | Laser thickness gauge and method including passline angle correction |
| CN108007366A (zh) * | 2016-10-31 | 2018-05-08 | 泰科电子(上海)有限公司 | 在线厚度检测平台 |
| CN111307045A (zh) * | 2019-12-24 | 2020-06-19 | 江门市安诺特炊具制造有限公司 | 一种热喷涂涂层厚度的检测方法及应用其的检测设备 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3892490A (en) * | 1974-03-06 | 1975-07-01 | Minolta Camera Kk | Monitoring system for coating a substrate |
| JPH07119594B2 (ja) * | 1988-07-01 | 1995-12-20 | 富士写真フイルム株式会社 | 磁気記録媒体の膜厚測定方法 |
| US5091647A (en) * | 1990-12-24 | 1992-02-25 | Ford Motor Company | Method and apparatus for measuring the thickness of a layer on a substrate |
-
1994
- 1994-10-31 JP JP26721494A patent/JP3480857B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1995
- 1995-10-30 US US08/550,498 patent/US5661250A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5661250A (en) | 1997-08-26 |
| JPH08128820A (ja) | 1996-05-21 |
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