JP3458944B2 - ハイブリッド集積素子およびその製造方法 - Google Patents

ハイブリッド集積素子およびその製造方法

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  • Optical Integrated Circuits (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光素子と電子素子
を同一の基板上にハイブリッド実装したハイブリッド集
積素子およびその製造方法に関する。特に、光導波路を
備えた基板上に、光素子と電子素子を混載することによ
り高速高機能な信号処理を可能とするハイブリッド集積
モジュールの作製に関する。
【0002】
【従来の技術】近年の光通信分野では、光信号と電気信
号の両方を取り扱う必要性があることから、光導波路を
有する基板上に、レーザーダイオード(LD)やフォト
ダイオード(PD)といった光素子と共に、ICやLS
Iといった電子素子をハイブリッド集積して作製したモ
ジュールの開発が活発におこなわれている。これは、同
一の基板上に光素子と電子素子をハイブリッド集積する
ことによって、高速で高機能な信号処理を可能とするば
かりでなく、モジュールの小型化、低価格化を図ること
ができるためである。
【0003】このような従来の光電子ハイブリッドモジ
ュールの構成を、図9に基づいて説明する。なお、図9
では埋め込んだりされていて点線で表すべきところも分
かり易くするため実線で示してある。
【0004】図9の斜視図に示すように、従来の光電子
ハイブリッドモジュールにおいては、シリコンからなる
基板1上に、石英系ガラスによるクラッド2とその中に
埋め込まれたコア3より構成される光導波路部4が形成
され、この光導波路部4の一部を取り除いて形成した領
域5上には、光素子6や電子素子7を駆動したり電気信
号を入出力したりするための電気配線8が形成されてい
る。光導波路部4においては、様々な光信号処理を実現
する平面光波回路(Planar Lightwave
Circuit:PLC)が形成されており、この平
面光波回路と共に光素子6や電子素子7を搭載できる機
能を付加した基板をPLCプラットフォームと称して、
光と電気の信号処理を融合させる基板として近年光モジ
ュールに導入されている。光素子搭載領域5aには、光
素子6の活性層(あるいは光吸収層)9と、光導波路部
4のコア3との光軸の高さ方向の基準面として機能する
シリコンテラス10がある。光素子6と電子素子7は、
電気配線8上において、半田バンプ11を介してハイブ
リッド実装されている。さらに前記光素子6の活性層
(あるいは光吸収層)9は、領域5aにおいて、コア3
と光学的にも結合するように搭載されている。また、5
bは電子素子搭載領域を示す。
【0005】図9で示した光電子ハイブリッドモジュー
ルを作製する従来の光素子6と電子素子7の実装方法に
ついて述べる。PLCプラットフォーム上に半田バンプ
11を用いて光素子6を搭載する方法についての詳細
は、例えば「特開平10−13046号公報「光素子
実装基板およびハイブリッド光集積回路」」、あるいは
「S.Mino,T.Ohyama,Y.Akahor
i,Y.Yamada,M,Yanagisawa,
T.Hashimoto、andY.Itaya”10
Gbit/s hybrid−integrated
laser diode array module
using a planar lightwave
circuit(PLC)−platfom”,Ele
ctron.Lett.,1996,vol.32,n
o.24,pp.2232−2233」を参照すると良
いが、ここで図10(a)〜(d),図11(e)〜
(i)を参照して簡単に説明する。なお、図9と同じ符
号は同じ部分を示す。
【0006】図10(a)は、シリコンからなる基板1
上に、石英系ガラスによるクラッド2とその中に埋め込
まれたコア3より構成される光導波路部4を有し、この
光導波路部4の一部を取り除いて形成した領域5上に電
気配線8が形成されたPLCプラットフォームを示して
いる。
【0007】光素子搭載領域5aには、光素子6の活性
層(あるいは光吸収層)9と光導波路部4のコア3との
光軸の高さ方向の基準面として機能するシリコンテラス
10が形成してある。光素子搭載領域5aの電気配線8
上に形成された光素子用電極12a上には、積層半田パ
タン13が形成してある。一方、電子素子搭載領域5b
の電気配線8上には電極12bだけを形成した構成とな
っている。
【0008】図10(b)以下を説明する前に、半田バ
ンプ11の形成方法について図12を参照して説明す
る。図12(a)に示すように、電気配線8の表面は、
スパッタによる薄いガラス層14で覆われており、ガラ
ス層14の一部は、RIEによりコンタクトホールが開
けられいる。このコンタクトホールを覆うようにバリア
メタル15を堆積して、PLCプラットフォーム側の電
極12が構成されている。このバリアメタル15は、半
田リフロー中に、溶融半田が電気配線8側に拡散するの
を防止する働きがある。図10(a)の電子素子用電極
12bと光素子用電極12aは、同じ構造を有してお
り、その形成方法は、半導体プロセス同様に、電子素子
搭載領域5bと光素子搭載領域5aにおいて一括して形
成されている。
【0009】さらに光素子用電極12aでは、バリアメ
タル15を含んだ広い範囲で半田物質を蒸着により積層
して、積層半田パタン13を形成する。この積層半田パ
タン13の組成は、半田リフロー後に共晶半田となるよ
うに蒸着で制御している。この積層半田パタン13をフ
ラックス中もしくは不活性ガス雰囲気中でリフローする
と、ガラス層14上の溶融半田が弾かれてバリアメタル
15上に集まり半田バンプ11を形成する。この状態を
図12(b)に示す。
【0010】前述したように、光素子6はシリコンテラ
ス10上に置かれるため、図12(a)に示されるよう
に光素子側電極18aとPLCプラットフォーム側の積
層半田パタン13との間には、ギャップgが存在する。
半田バンプ11は、このギャップgを接続できる十分な
高さhを有して形成する必要がある。半田バンプ11の
高さhは、図12(b)に示されるようにバリアメタル
15の表面積と積層半田パターン13の体積で決まるた
め、あらかじめ設計によって高さhを制御することが可
能である。これらの形成プロセスには通常の半導体プロ
セスで行われるフォトリソグラフィーと蒸着により実施
できるため、半田バンプ11のサイズ制御は極めて容易
である。
【0011】以上のようにして、PLCプラットフォー
ム上の光素子搭載領域5aの半田バンプ11aを形成す
る(図10(b))。
【0012】次に光素子6の搭載は、アライメントマー
クを用いたパッシブアライメント法により行われる(図
10(c))。
【0013】PLCプラットフォームと光素子6の位置
決めを行った後、再びPLCプラットフォームを加熱し
て半田バンプ11aを再リフローする。この状態で、光
素子6をシリコンテラス10上に置くだけで光軸合わせ
が完了すると共に、PLCプラットフォーム上の半田バ
ンプ11aは、光素子側電極18aと溶融した状態で接
触する。この再リフロー工程も、半田バンプ表面の酸化
進行を抑制するために、不活性ガス雰囲気中で行われ
る。その後、室温に戻すことで、溶融した半田バンプ1
1aは固化して光素子6を電気的に接続しかつ固定する
(図10(d))。
【0014】次に電子素子7の搭載は、転写型微小半田
バンプ形成技術を用いて行う。この方法の詳細は、例え
ば「特開平5−166880号公報「チップの配線基板
等実装方法」」、あるいは「特開平10−106640
号公報「はんだバンプの形成方法およびそれを用いた接
続方法」」を参照すると良い。この方法を図11を用い
て簡単に説明すると、キャリア基板16上に、電子素子
側電極18bの配置で蒸着等により形成した半田パタン
17(図11(e))を、電子素子側電極18bに転写
して(図11(f))、半田バンプ11bを形成する
(図11(g))。そのあと、PLCプラットフォーム
と電子素子7の位置決めを行い(図11(h))、電子
素子7の半田バンプ11bをPLCプラットフォーム上
の電子素子用電極12bに接触させて、半田バンプ11
bをリフローすることによって電子素子7を光素子6と
共に同一のPLCプラットフォーム上にハイブリッド実
装できる(図11(i))。
【0015】このハイブリッド実装方法で重要なこと
は、光素子6と電子素子7をそれぞれ固定する半田材料
の選定である。すなわち電子素子側の半田バンプ11b
のリフロー温度が、すでに搭載した光素子側の半田バン
プ11aのリフロー温度を越えないという条件を満たす
ことが絶対条件である。なぜならば、光素子側の半田バ
ンプ11aが再リフローされると、光素子6が動いてし
まい、光軸ずれを生じる恐れがあるためである。
【0016】
【発明が解決しようとする課題】このような従来のハイ
ブリッド実装方法であると、光素子6と電子素子7のハ
ンダバンプ11a,11bのそれぞれに異なる半田材料
を選定しなければならないといった問題があった。
【0017】また光素子6と電子素子7に使用した半田
バンプ11aと11bが異なるため、互いの半田バンプ
に劣化をきたさない搭載条件を見出すことが難しいとい
った問題があった。
【0018】さらに、電子素子7を複数個実装する場合
には、その搭載する素子の数だけ、図11(e)から図
11(i)の実装工程を繰り返さなければならないた
め、製造時間がかかるといった問題があった。
【0019】さらに、図11(h)から図11(i)の
電子素子7の実装を繰り返す度に、はじめに実装した電
子素子7の半田バンプ11bにはリフローが複数回にわ
たって繰り返されるため、半田バンプ11bの接続信頼
性が劣化するといった問題があった。
【0020】また、複数個の電子素子7を実装する方法
として、クリーム半田をスクリーン印刷法により基板1
側の電極上に一括して塗布する方法も取られている。し
かし、このスクリーン印刷法では、印刷マスクを介して
スキージによりクリーム半田を塗布するため、既に光素
子6が実装された基板1では、スキージが光素子7に当
たってしまい塗布できないといった問題があった。
【0021】また、光素子7の厚さや、PLCプラット
フォームそのものにも光導波路4の一部を取り除いて形
成した領域5を有するなど表面の凹凸が激しいために、
印刷マスクを基板1に精度よく密着することができなか
った。このためクリーム半田を均―に塗布できないとい
った問題があった。このことは、リフロー後の半田バン
プの高さにばらつきが生じ、電子素子7を実装した際
に、半田バンプと接続できない電極がででくるといった
問題を生じていた。
【0022】本発明は、以上述べた問題点を解決するた
めになされたものであり、従来の方法よりも、さらに容
易に光素子と電子素子を同一の基板上にハイブリッド集
積できるように、形状の揃った半田バンプを有したハイ
ブリッド集積素子を提供し、またその製造方法を提供す
ることを目的とする。また、複数個の光素子と複数個の
電子素子を同一のハイブリッド集積用基板上にハイブリ
ッド集積でき、かつ各素子との接続信頼性を劣化させる
ことのない素子搭載方法を提供することを目的とする。
【0023】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、請求項1に係わる本発明のハイブリッド集積
素子は、光導波路を有する基板上に、光素子と電子素子
をハイブリット集積した素子において、該光素子を固定
する第1の半田バンプと該電子素子を支持する第2の半
田バンプとは前記基板上に一括同時形成されたものであ
り、前記光素子は前記基板と前記光素子との間の前記第
1の半田バンプにより固定し、前記電子素子は前記基板
と前記電子素子との間の前記第2の半田バンプ上で導電
性固定材料により固定したものである。
【0024】また、請求項2に係わる本発明のハイブリ
ット集積素子の製造方法は、光導波路を有する基板上
に、該光素子を固定するための第1の半田バンプと、該
電子素子を支持するための第2の半田バンプとを、該基
板上で一括同時形成する第1の工程と、該光素子を第1
の半田バンプで固定する第2の工程と、該電子素子を第
2の半田バンプ上で支持し、かつ第2の半田バンプ上で
導電性固定材料により固定する第3の工程と、からなる
ものである。
【0025】また、請求項3に係わる本発明のハイブリ
ット集積素子の製造方法は、請求項2記載の第3の工程
において、該導電性固定材料を第2の半田バンプ上に塗
布してから、該電子素子を第2の半田バンプ上で該導電
性固定材料により固定するものである。
【0026】また、請求項4に係わる本発明のハイブリ
ット集積素子の製造方法は、請求項2記載の第3の工程
において、該導電性固定材料を該電子素子の電極上に塗
布してから、該電子素子を第2の半田バンプ上で該導電
性固定材料により固定するものである。
【0027】また、請求項5に係わる本発明のハイブリ
ット集積素子の製造方法は、請求項2から請求項4のい
ずれかに記載の導電性固定材料が、該基板上に一括形成
した半田バンプの融点よりも低い温度で固化する導電性
固定材料を使用するものである。
【0028】
【発明の実施の形態】以下に、図面を参照して本発明の
ハイブリット集積素子とその製造方法の実施形態を、詳
細に説明するが、本発明はこれらの実施形態に限定され
るものではない。
【0029】〔第1実施形態〕図1,図2は、本発明に
よるハイブリット集積素子とその製造方法の第1実施形
態を示すものである。なお、図9〜図12と同じ符号は
同じ部分を示す。
【0030】図1(a)は、シリコンからなる基板1上
に、石英系ガラスによるクラッド2とその中に埋め込ま
れたコア3より構成される光導波路部4を有し、この光
導波路部4の一部を取り除いて形成した領域5上に電気
配線8が形成された、PLCプラットフォームを示して
いる。光素子搭載領域5aには、光素子6の活性層(あ
るいは光吸収層)9とコア3との光軸の高さ方向の基準
面として機能するシリコンテラス10が形成してある。
電気配線8上には、積層半田パタン13が形成される
(図1(a))。
【0031】次に、積層半田パタン13を一括してリフ
ローし、半田バンプ11を光素子搭載領域5aと電子素
子搭載領域5bに同時に形成する。これら半田バンプ1
1(11a,11bを総称するときは単に11を用い
る。他の符号についても同じ)の形成方法の詳細は、図
12で説明した方法と同じである(図1(b))。
【0032】光素子搭載領域5aにある半田バンプ11
aは、光素子側電極18aとPLCプラットフォームの
電極12aを直接電気的に接続固定するために用いら
れ、電子素子搭載領域5bにある半田バンプ11bは、
電子素子側電極18bを支持するスタッドバンプとして
機能する。本実施形態では、このように機能の異なる半
田バンプ11aと半田バンプ11bを、同一プロセスで
一括形成したことを特徴とする。
【0033】光素子6はシリコンテラス10上に置かれ
るため、光素子側電極18aとPLCプラットフォーム
側の電極12aとの間には、図12(a)に示したよう
にギャップgが存在するが、半田バンプの高さhは、こ
のギャップgを接続できるように十分な高さhを有して
形成している。半田バンプの高さhは、バリアメタルの
表面積と積層半田の体積で決まるため、あらかじめ設計
して形成が可能である。設計の詳細は、「特開平10−
133046号公報「光素子実装基板およびハイブリッ
ド光集積回路」」を参照すればよい。これらの形成プロ
セスには通常の半導体プロセスで行われるフォトリソグ
ラフィーと蒸着により実施可能であるため、半田バンプ
のサイズ制御は極めて容易である。
【0034】一方、電子素子搭載領域5bに形成される
スタッド用の半田バンプ11bも、図12で説明した方
法と同じプロセスで形成した。ここで電子素子7ごとに
使用する半田バンプ11bの直径や高さ等のサイズは、
各々同じである必要はない。すなわち、電子素子側電極
18bのサイズに合わせて形成してよい。これは、先に
も述べたように、各々のバリアメタルの面積サイズを制
御することで、一回の半田積層で所望のサイズの半田バ
ンプを任意に形成できるためである。
【0035】これら半田バンプ11は、PLCプラット
フォーム全体を加熱して積層半田パタン13をリフロー
することにより、一括して形成できる。半田リフロー工
程は、半田表面の酸化進行を抑制するために、フラック
ス中で行ったり、不活性ガス雰囲気中で行ったりする
(図1(b))。
【0036】次に、光素子と電子素子の実装方法につい
て詳細に説明する。
【0037】半田バンプ11が形成されたPLCプラッ
トフォームには、まず光素子6から搭載する。光素子6
は、アライメントマークを用いたパッシブアライメント
により位置決めをおこなった(図1(c))。次に、再
びPLCプラットフォームを加熱して半田バンプ11
(11aと11b)を再リフローする。この状態で、光
素子6をシリコンテラス10上に置くだけで光軸合わせ
が完了すると共に、PLCプラットフォーム上の半田バ
ンプ11aは、光素子側電極18aと溶融した状態で接
触する。再リフロー工程も、半田バンプ表面の酸化進行
を抑制するために、不活性ガス雰囲気中で行った。その
後、室温に戻せば、溶融半田バンプは固化して光素子6
を電気的に接続しかつ固定する(図1(d))。光素子
搭載中においては、電子素子搭載領域5bの半田バンプ
11bも再リフローされるが、そのバンプ形状は変化し
ない。
【0038】次に、電子素子7を搭載する。まず電子素
子搭載領域5bにある半田バンプ11b上に、クリーム
半田19を塗布する。本実施形態では、クリーム半田1
9をニードル20より、一定量を供給しながら塗布した
(図2(e))。クリーム半田19の塗布量は、クリー
ム半田リフロー後に電子素子7と電気的導通がとれかつ
固定できる程度でよいので、半田バンプ11b上にクリ
ーム半田19そのものの粘性と表面張力で留まる程度の
微量でよい(図2(f))。クリーム半田塗布後、電子
素子側電極18bとPLCプラットフォーム側の電極1
2bとの位置合わせを行い、位置合わせが終了したら、
電子素子側電極18bが半田バンプ11bに接触するま
で押しつける。この時、半田バンプ11bは、高さが均
一でかつ固いので、電子素子を押さえる際のストッパー
の役目をする。すなわち、電子素子7を押さえすぎでク
リーム半田19を押しつぶしたことにより隣接した電極
間をショートさせることを防いでくれる。このように、
半田バンプ11bは、適当な高さを有した素子支持台と
して機能するため、クリーム半田19は、半田バンプ1
1bを包み込むような形となり、均一な形状の半田バン
プ11bを土台とした安定な状態で電子素子7を固定す
ることになる。最後に、クリーム半田19をリフローし
て、電子素子7を固定する(図2(g))。
【0039】ここで重要なことは、クリーム半田19の
選定である。クリーム半田19のリフロー温度が、半田
バンプ11の融点温度を越えないものを使用することが
絶対条件である。なぜならば、半田バンプ11が再リフ
ローされると、光素子6が動いてしまい光軸ずれが生じ
る恐れがあるためである。
【0040】以上述べてきた方法を用いて半田バンプ1
1を形成したハイブリッド集積用の基板1を用いて、か
つこの基板1に光素子6と電子素子7をハイブリッド集
積した光電子ハイブリッドモジュールを作製した。ここ
では、光素子6にはPD、電子素子7には、PDから出
力された電気信号を増幅するプリアンプを使用して、こ
れらをPLCプラットフォームにハイブリッド集積して
光受信モジュールを作製した具体例を述べる。半田バン
プ11には、光素子固定において信頼性があるとされて
いる、AuSn半田を用いた。光素子側電極18aとP
LCプラットフォーム側の光素子用電極12aのバリア
メタル15(図12参照)の形状は、共に同じ直径40
μmの円形パタンとした。
【0041】光素子搭載領域5aのギヤップgは10μ
mに設計した。このため光素子6を固定するための半田
バンプの高さhは10μm以上必要となる。「特開平1
0−133046号公報「光素子実装基板およびハイブ
リッド光集積回路」」より、直径40μmの円形バリア
メタルに対して、厚さ4μm直径80μmの円形AuS
n積層半田パタン13aを形成することにより、半田リ
フロー後、約18μmの高さの半田バンプ11を形成す
ることができ、これは10μmのギャップの接続には十
分な高さである。
【0042】一方、電子素子側電極18bは、直径80
μmの円形パタンであり、PLCプラットフォーム側の
電子素子用電極12bのバリアメタル15の形状も同じ
直径80μmの円形パタンとした。バリアメタル上に積
層した円形の積層半田パタン13bは直径150μmと
した。AuSn半田の積層厚さは、4μmであるから、
リフロー後の電子素子用の半田バンプの高さhは、約2
0μmとなる。
【0043】以上のようにPLCプラットフォーム上に
形成したAuSnの積層半田パタン13(図1(a))
を、フラックス中でリフローして、光素子用と電子素子
用の半田バンプ11をそれぞれ一括形成した(図1
(b))。AuSn半田の融点温度が約280度である
ため、リフロー温度は300度とした。リフロー終了
後、フラックスは有機溶剤で洗い流した。次に光素子6
とPLCプラットフォームのアライメントを行い(図1
(c))、半田バンプ11を再びリフローし、この状態
で光素子6をシリコンテラス10上に接触させて、光素
子6を実装した(図1(d))。
【0044】次に、電子素子搭載領域5bの半田バンプ
11b上に、クリーム半田19を塗布した(図2
(e))。クリーム半田19の塗布量は、半田バンプ1
1bの体積と同程度である。クリーム半田19は、Sn
Pb共晶組成のものを使用し、その融点温度は約180
度であり、AuSn半田バンプの融点温度よりも十分低
い。プリアンプとPLCプラットフォームのアライメン
トを行った後(図2(f))、プリアンプの電極18b
が半田バンプ11bに接触するまで押しつけて、その状
態でクリーム半田19をリフローした(図2(g))。
以上のようにして、光素子6と電子素子7を同一のPL
Cプラットフォーム上にハイブリッド集積した光受信モ
ジュールを作製できた。
【0045】電子素子搭載領域5bの半田バンプ11b
上に塗布する導電性固定材料は、上述したクリーム半田
19に限定されるものではない。たとえば、導電性接着
剤であってもよい。しかし、導電性接着剤を使用する際
にも、その硬化温度が、前述した理由から、半田バンプ
11の融点温度よりも低いものでなければならない。
【0046】さらに、クリーム半田19や導電性接着剤
による固定強度を高めるために、(図2(h))に示す
ように、電子素子とPLCプラットフォーム間に、フィ
ラー剤23を流し込むとより接続信頼性を増すことがで
きる。
【0047】本実施形態によれば、半導体プロセスによ
り半田のサイズを制御できるため、形状の揃った半田バ
ンプを形成できるようになる。このため、半田バンプの
高さhを均一にできるので、確実に搭載素子との電気的
接続が取れるようになった。このことは、さらに電子素
子搭載時において、ストッパーの役目を有するため隣接
電極間のショートを防止できるようになった。
【0048】また、従来の電子素子の実装方法で必要で
あった、複雑な工程を有する転写型半田バンプ作製工程
を無くすことができるようになり、光電子ハイブリッド
モジュールの作製時間を大幅に短縮できるようになっ
た。
【0049】〔第2実施形態〕本発明による第2実施形
態を図3の斜視図に示す。本実施形態では、複数個の光
素子6と複数個の電子素子7を、同一の基板1上にハイ
ブリッド集積した光電子モジュールの作製方法について
図4〜図7を参照して述べる。図3の斜視図では、2つ
の光素子6と2つの電子素子7を実装した場合を示して
いる。なお、図3では埋め込んだりされていて点線で表
すべきところも分り易くするため実線で示してある。
【0050】第1実施形態と共通するところについて
は、説明を省略もしくは簡略化する。ここで、第1実施
形態と異なるPLCプラットフォームの構造は、シリコ
ンテラス10上に薄膜積層半田パタン13cが形成され
ている点である。この薄膜積層半田パタン13cは、光
素子6を複数個実装する際に、仮止め半田として機能
し、さらに半田リフロー後は光素子6の固定強度を高め
る働きをする。
【0051】PLCプラットフォーム上の半田積層工程
(図4(a))は、第1実施形態の図1(a)と同様で
ある。この時、薄膜積層半田パタン13cと半田バンプ
に用いる積層半田パタン13a、13bは、フォトリソ
グラフィーと蒸着により同時に形成される。
【0052】積層半田パタン13形成後、まず複数個の
光素子6をPLCプラットフォーム上に実装する。本実
施形態においては、第1実施形態とは異なり、光素子6
の実装前に半田バンプ11を形成しない。複数個の光素
子6の実装は、詳しくは「特開平9−54229号公報
「光素子固定方法」」あるいは「特開平10−1330
46号公報「光素子実装基板およびハイブリッド光集積
回路」」の方法で行った。この方法を簡単に説明する
と、光素子6とPLCプラットフォームのアライメント
を行い(図4(b))、その後、光素子6を薄膜積層半
田パタン13c上に押しつけて圧着する(図4
(c))。この一連の工程(図4(b)から(図4
(c))を搭載する光素子6の数だけ繰り返して、全て
の光素子6をPLCプラットフォーム上に仮止めする。
図4では、複数個の光素子6の描写を省略している。す
べての光素子6の仮止めが終了したら、不活性ガス雰囲
気中において積層半田パタン13をリフローする。する
とシリコンテラス10上の薄膜積層半田パタン13c
は、その厚みを変えることなく光素子6をシリコンテラ
ス10上で固定し、一方光素子用電極12a上の積層半
田パタン13aは、半田バンプ11aとなって光素子側
の電極18aと接続する。この時同時に電子素子用の積
層半田パタン13bもリフローされて半田バンプ11b
を形成する(図4(d))。このように、半田のリフロ
ーが1回であるため、半田バンプの接続信頼性を劣化さ
せることのない複数個の光素子搭載を実現している。
【0053】次に、複数個の電子素子7の実装を行う。
第1実施形態の図2(e)と同様に、半田バンプ11b
一つ一つに、クリーム半田19を直接塗布していっても
よいが、本実施形態では図5(e)から図6(i)に示
す方法により、一括してクリーム半田19を半田バンプ
11b上に塗布する。まず、図5(e)に示すように電
子素子搭載領域5bの電極配置で突起部を有するダミー
基板21を作製する。次にその突起部をクリーム半田槽
22に浸し(図5(f))、その後引き上げるとクリー
ム半田19がその粘性と表面張力によって突起部先端に
吸い付く(図5(g))。この時のクリーム半田19の
吸い付き量は、突起部先端の状態できまるため、その量
は常に一定量となる。そして、PLCプラットフォーム
上の電子素子用電極12bと位置合わせをおこない、そ
のままダミー基板21を半田バンプ11bに押しつける
(図6(h))。するとクリーム半田19は半田バンプ
11b上に写し取られる(図6(i))。本実施形態で
は、ダミー基板21をシリコンで加工し、その突起部先
端を熱酸化処理を施すと、クリーム半田19は発水性の
違いから容易に半田バンプ11b側に写し取られ易くな
る。
【0054】このように、クリーム半田19を電子素子
7ごとに一括して半田バンプ11b上に塗布することが
可能であるため、第1実施形態の場合と比較して、格段
に塗布工程の時間を短縮することができるようになっ
た。さらに、複数個全ての半田バンプの配置で突起部を
有するダミー基板21を作製すれば、一回の塗布で済ま
すことも可能である。
【0055】本実施形態で使用したクリーム半田19の
リフロー温度も、先に述べた理由より、半田バンプ11
の融点温度よりも低いものを使用した。
【0056】その後、電子素子7は、PLCプラットフ
ォーム上でアライメントを行い(図6(j))、電子素
子7の電極18bが半田バンプ11bに接触するまで押
しつけて仮搭載した。この工程(図5(e)から(図6
(j))を、搭載する電子素子7の数だけ繰り返した。
図4〜6では、複数個の電子素子7の描写を省略してい
る。すべての電子素子7の仮搭載が終了してから、一括
してクリーム半田19をリフローし、電子素子7をハイ
ブリッド集積した(図6(k))。ここでも、クリーム
半田19のリフローが1回であるため、接続信頼性を劣
化させることのない複数個の電子素子搭載を実現してい
る。
【0057】以上のようにして、複数個の光素子6と複
数個の電子素子7をハイブリッド実装した光電子ハイブ
リッドモジュールを作製することができる。
【0058】本実施形態は、搭載素子数が多くなるほ
ど、また電極の数が多くなるほど有効である。さらに電
極のピッチ間隔が狭くなり電極サイズが小さくなるほど
有効な方法である。
【0059】また、図6(h)から図6(i)の工程の
かわりに、図7(a)から図7(c)に示すように、図
5(g)に示したようにダミー基板21に写し取ったク
リーム半田19を、電子素子側の電極18b上に塗布し
て、その後図7(d)から図7(e)に示すように電子
素子7をPLCプラットフォームに実装してもよい。こ
の場合も、すべての電子素子7の仮搭載が終了してか
ら、一括してクリーム半田19をリフローできるので、
接続信頼性を劣化させることのない複数個の電子素子搭
載を実現している。
【0060】本実施形態においても、電子素子7を電子
素子搭載領域5bの半田バンプ11b上で接続する導電
性固定材料は、クリーム半田19に限定されるものでは
ない。たとえば、導電性接着剤であってもよいが、この
場合でもその硬化温度が、半田バンプ11の融点よりも
低いものでなければならない。
【0061】さらに、クリーム半田19や導電性接着剤
による固定強度を高めるために、第1実施形態の図2
(h)と同様に、電子素子7とPLCプラットフォーム
間にフィラー剤23を流し込んでもよいし、電子素子全
体を封止剤によりモールドすることによって接続信頼性
を増すことができる。
【0062】また薄膜積層半田パタン13cの位置に、
PLCプラットフォーム側と光素子6側に電極があって
も良い。この場合、薄膜積層半田パタン13cを介し
て、光素子6を固定しかつ電気的導通がとれる。
【0063】〔第3実施形態〕図8は、本発明による電
子素子搭載工程の第3の実施形態を示したものである。
ここでは、前述した第1実施形態や第2実施形態とは異
なり、電子素子7との接続に異方性導電ペースト24を
使用したハイブリッド集積光電子モジュールの作製方法
について述べる。
【0064】異方性導電ペーストとは、導電性微粒子を
含有した接着剤であり、このペーストを塗布しただけで
は導電性を有しない。異方性導電ペーストを用いた電子
素子7の一般的な搭載方法は、まず基板側電極上に異方
性導電ペーストを塗布する。次に搭載する素子側電極と
基板側電極を互いに圧着する。このときはじめて、電極
間に挟まれた導電性微粒子を介して電気的接続がなさ
れ、最後に接着剤を硬化することにより電子素子7が固
定される。
【0065】この方法を用いる場合、確実に電気的導通
を得るために、電極間において局所的に十分な圧力がか
かるように、通常基板側かもしくは素子側の電極上にス
タッドメタルを形成するのが一般的である。
【0066】本実施形態においては、このスタッドメタ
ルの代わりとして半田バンプ11を利用したところに特
徴がある。
【0067】本実施形態において、光素子6を搭載する
方法は、例えば図1(a)から図1(d)までの方法
や、図4(a)から図4(d)までの方法と同じであ
る。第1あるいは第2実施形態と共通するところについ
ては、説明を省略もしくは簡略化する。光素子6の搭載
終了後、図8(a)に示すように、電子素子搭載領域5
b上の半田バンプ11b上に、異方性導電接着剤24を
塗布する。異方性導電接着剤24塗布後、電子素子7側
の電極18bとPLCプラットフォーム側の電極12b
との位置合わせを行い(図8(b))、位置合わせが終
了したら、電子素子側電極18bを半田バンプ11b上
に圧着する。この時、電極18bと半田バンプ11bに
挟まれた導電性微粒子25により電気的導通が得られ、
最後に異方性導電接着剤24を硬化させて、電子素子7
を固定する(図8(c))。
【0068】このような方法を搭載する電子素子7の数
だけ繰り返して、複数個の電子素子を、光素子6と共に
同一のPLCプラットフォーム上にハイブリッド集積す
る。本実施形態においても、異方性導電接着剤24の硬
化温度は、前述した理由から、半田バンプ11の融点温
度よりも低いものでなければならない。
【0069】本発明の実施形態によれば、第1実施形態
あるいは第2実施形態で述べてきた電子素子搭載方法と
異なり、電子素子搭載領域5b上の半田バンプ11b一
つ一つに対して導電性固定材料を塗布する必要が無く、
また導電性固定材料の塗布精度が問われないので塗布工
程の簡易化をさらに進めることができ、大幅な電子素子
実装工程の簡略化が図れる。このことは、搭載する電子
素子7の数が多いほど、または電極数が増大しかつ電極
配置密度が高くなるほど、本実施形態の有効性が増す。
【0070】この本実施形態の場合に係わらず、光素子
6の数も複数個であっても構わない。この場合のPLC
プラットフォームの構成と、光素子実装方法および半田
バンプの形成方法は、第2実施形態で述べた方法と同じ
である。
【0071】
【発明の効果】以上述べたように、本発明にかかるハイ
ブリッド集積素子は、光導波路を有する基板上に、光素
子と電子素子をハイブリッド集積した素子において、該
光素子を固定する第1の半田バンプと該電子素子を支持
する第2の半田バンプとは前記基板上に一括同時形成さ
れたものであり、前記光素子は前記基板と前記光素子と
の間の前記第1の半田バンプにより固定し、前記電子素
子は前記基板と前記電子素子との間の前記第2の半田バ
ンプ上で導電性固定材料により固定したので従来のよう
に複数回のリフローを受けておらず良質の接続が保証さ
れる。
【0072】また、本発明にかかるハイブリッド集積素
子の製造方法は、光素子を固定するための第1の半田バ
ンプと、該電子素子を支持するための第2の半田バンプ
とを、該基板上で一括同時形成する第1の工程と、該光
素子を第1の半田バンプで固定する第2の工程と、該電
子素子を第2の半田バンプ上で支持し、かつ第2の半田
バンプ上で導電性固定材料により固定する第3の工程と
からなるので、光素子と電子素子搭載のための半田バン
プを一括して形成することが出来る。
【0073】また、形成できる半田バンプの形状を、半
導体プロセスと同じ方法を用いることにより、形状の揃
った半田バンプを形成できる。このため、半田バンプの
高さが均―にできるため、確実に搭載素子との電気的接
続が取れる。このことは、さらに電子素子搭載時におい
て、ストッパーの役目を有するため隣接電極間のショー
トを防止できる。
【0074】また従来の電子素子の実装方法であった、
複雑な工程を有する転写型半田バンプ作製工程を無くす
ことができるようになり、光電子ハイブリッドモジュー
ルの作製時間を大幅に短縮できる。
【0075】また、導電性固定材料を固化する工程が1
回でよいので、接続信頼性を劣化させることのない複数
個の電子素子搭載を実現することができる。
【0076】さらに、複数個の光素子と複数個の電子素
子を容易に同一の基板上にハイブリッド実装出来るよう
になり、搭載素子数が多くなるほど、また電極の数が多
くなるほど有効となり、また、電極のピッチ間隔が狭く
なり電極サイズが小さくなるほど有効である。
【0077】さらに、導電性固定材料の塗布精度が問わ
れないので、塗布工程の筒易化をさらに進めることがで
き、大幅な電子素子実装工程の簡略化が図れるようにな
った。このことは、搭載する電子素子の数が多いほど、
または電極数が増大しかつ電極配置密度が高くなるほど
有用性が増す。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係わるハイブリット集積素子およびそ
の製造方法の第1実施形態を示す工程図である。
【図2】本発明に係わるハイブリット集積素子およびそ
の製造方法の第1実施形態を示す工程図である。
【図3】本発明に係わるハイブリット集積素子の第2実
施形態を示す斜視図である。
【図4】本発明に係わるハイブリット集積素子およびそ
の製造方法の第2実施形態を示す工程図である。
【図5】本発明に係わるハイブリット集積素子およびそ
の製造方法の第2実施形態を示す工程図である。
【図6】本発明に係わるハイブリット集積素子およびそ
の製造方法の第2実施形態を示す工程図である。
【図7】本発明に係わるハイブリット集積素子およびそ
の製造方法の第2実施形態を示す工程図である。
【図8】本発明に係わるハイブリット集積素子およびそ
の製造方法の第3実施形態を示す工程図である。
【図9】従来技術によるハイブリット集積素子を示す斜
視図である。
【図10】従来技術によるハイブリット集積素子の製造
方法を示す工程図である。
【図11】従来技術によるハイブリット集積素子の製造
方法を示す工程図である。
【図12】従来技術によるハイブリット集積素子の要部
の断面図である。
【符号の説明】
1 基板 2 クラッド 3 コア 4 光導波路部 5 領域 5a 光素子搭載領域 5b 電子素子搭載領域 6 光素子 7 電子素子 8 電気配線 9 活性層(あるいは光吸収層) 10 シリコンテラス 11a 光素子用半田バンプ(第1の半田バンプ) 11b 電子素子用半田バンプ(第2の半田バンプ) 12a 基板側光素子用電極 12b 基板側電子素子用電極 13 積層半田パタン 13a 光素子用の積層半田パタン 13b 電子素子用の積層半田パタン 13c 薄膜積層半田パタン 14 ガラス層 15 バリアメタル 16 キャリア基板 19 クリーム半田(あるいは導電性接着剤) 20 ニードル 21 ダミー基板 22 クリーム半田槽 23 フィラー剤 24 異方性導電接着剤
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平7−263724(JP,A) 特開 昭64−25580(JP,A) 特開 平5−48073(JP,A) 特開 平10−133046(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 25/00 - 25/18 G02B 6/122 H05K 1/02

Claims (5)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光導波路を有する基板上に、光素子と電
    子素子をハイブリット集積した素子において、該光素子
    を固定する第1の半田バンプと該電子素子を支持する第
    2の半田バンプとは前記基板上に一括同時形成されたも
    のであり、前記光素子は前記基板と前記光素子との間の
    前記第1の半田バンプにより固定し、前記電子素子は前
    記基板と前記電子素子との間の前記第2の半田バンプ上
    で導電性固定材料により固定したことを特徴とするハイ
    ブリット集積素子。
  2. 【請求項2】 光導波路を有する基板上に、光素子と電
    子素子をハイブリッド集積するハイブリット集積素子の
    製造方法において、 該光素子を固定するための第1の半田バンプと、該電子
    素子を支持するための第2の半田バンプとを、該基板上
    で一括同時形成する第1の工程と、 該光素子を第1の半田バンプで固定する第2の工程と、 該電子素子を第2の半田バンプ上で支持し、かつ第2の
    半田バンプ上で導電性固定材料により固定する第3の工
    程と、 からなることを特徴とするハイブリット集積素子の製造
    方法。
  3. 【請求項3】 第3の工程において、該導電性固定材料
    を第2の半田バンプ上に塗布してから、該電子素子を第
    2の半田バンプ上で該導電性固定材料により固定するこ
    とを特徴とする請求項2に記載のハイブリット集積素子
    の製造方法。
  4. 【請求項4】 第3の工程において、該導電性固定材料
    を該電子素子の電極上に塗布してから、該電子素子を第
    2の半田バンプ上で該導電性固定材料により固定するこ
    とを特徴とする請求項2に記載のハイブリット集積素子
    の製造方法。
  5. 【請求項5】 導電性固定材料が、該基板上に一括形成
    した半田バンプの融点よりも低い温度で固化する導電性
    固定材料を使用することを特徴とする請求項2〜4のい
    ずれかに記載のハイブリット集積素子の製造方法。
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