JP3453236B2 - 禁止ゲート付超音波厚さ計 - Google Patents
禁止ゲート付超音波厚さ計Info
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- JP3453236B2 JP3453236B2 JP33434495A JP33434495A JP3453236B2 JP 3453236 B2 JP3453236 B2 JP 3453236B2 JP 33434495 A JP33434495 A JP 33434495A JP 33434495 A JP33434495 A JP 33434495A JP 3453236 B2 JP3453236 B2 JP 3453236B2
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、禁止ゲート付超音
波厚さ計に係り、特に高温腐食や摩耗等により減肉した
熱交換器管の厚さを測定するために好適に用いられる超
音波厚さ計に関する。
波厚さ計に係り、特に高温腐食や摩耗等により減肉した
熱交換器管の厚さを測定するために好適に用いられる超
音波厚さ計に関する。
【０００２】
【従来の技術】図３に、熱交換器管の内側から超音波を
利用して厚さを測定する場合の原理を示す。一般に図３
（Ａ）〜（Ｂ）に示すように、管３の内側から厚さを測
定する場合、水４を媒体として管内表面３ａに対し垂直
に、送受波部１を介して超音波２を入射させ管内表面エ
コー（Ｓエコー）と管外表面エコー（Ｂエコー）の間の
時間ｔを計測し、これに管材の音速を乗ずることにより
厚さの測定が可能となる。
利用して厚さを測定する場合の原理を示す。一般に図３
（Ａ）〜（Ｂ）に示すように、管３の内側から厚さを測
定する場合、水４を媒体として管内表面３ａに対し垂直
に、送受波部１を介して超音波２を入射させ管内表面エ
コー（Ｓエコー）と管外表面エコー（Ｂエコー）の間の
時間ｔを計測し、これに管材の音速を乗ずることにより
厚さの測定が可能となる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、管３の
局部減肉部５では図３（Ｃ）に示すように管外表面３ｂ
からの反射エネルギーが著しく低下するので、探触子１
Ａの送受波部１で受波したＢエコーの高さが検出回路側
の禁止ゲートの閾値レベルに達せず、厚さ測定が行われ
ない。
局部減肉部５では図３（Ｃ）に示すように管外表面３ｂ
からの反射エネルギーが著しく低下するので、探触子１
Ａの送受波部１で受波したＢエコーの高さが検出回路側
の禁止ゲートの閾値レベルに達せず、厚さ測定が行われ
ない。
【０００４】そのため一般の超音波厚さ計は段階的に受
波感度を上げる機能（オートゲインコントロール）を有
しており局部減肉部５（管外表面３ｂ）からの反射エコ
ー高さが一定のレベルに達したときに管内表面３ａエコ
ー（Ｓエコー）と管外表面３ｂエコー（Ｂエコー）との
間（以下、Ｓ−Ｂ間と称する）の時間ｔを計測するよう
になっているが、図３（Ｃ）に示すようにこの種の超音
波厚さ計は局部減肉部５からの反射エコー（Ｂエコー）
の高さが、ノイズレベルと大差ない場合、図４（ａ）〜
（ｃ）に示すようにノイズにもオートゲインが作用し、
閾値Ｌ’を越えた最もＳエコー寄りのエコーを時間計測
の対象とするため、図４の（ａ）、（ｂ）、（ｃ）の各
パターンの様に管内表面３ａエコーとノイズ間（以下、
Ｓ−Ｎ間と称す）の時間ｔ’を計測し間違った厚さを表
示することとなる。
波感度を上げる機能（オートゲインコントロール）を有
しており局部減肉部５（管外表面３ｂ）からの反射エコ
ー高さが一定のレベルに達したときに管内表面３ａエコ
ー（Ｓエコー）と管外表面３ｂエコー（Ｂエコー）との
間（以下、Ｓ−Ｂ間と称する）の時間ｔを計測するよう
になっているが、図３（Ｃ）に示すようにこの種の超音
波厚さ計は局部減肉部５からの反射エコー（Ｂエコー）
の高さが、ノイズレベルと大差ない場合、図４（ａ）〜
（ｃ）に示すようにノイズにもオートゲインが作用し、
閾値Ｌ’を越えた最もＳエコー寄りのエコーを時間計測
の対象とするため、図４の（ａ）、（ｂ）、（ｃ）の各
パターンの様に管内表面３ａエコーとノイズ間（以下、
Ｓ−Ｎ間と称す）の時間ｔ’を計測し間違った厚さを表
示することとなる。
【０００５】本発明は、この様な事情に鑑みて提案され
たもので、超音波受波信号（反射エコー）の反射エネル
ギーが極端に低下する局部減肉部の厚さ測定において管
外表面エコーとノイズとが識別可能な超音波厚さ計を提
供することを目的とする。
たもので、超音波受波信号（反射エコー）の反射エネル
ギーが極端に低下する局部減肉部の厚さ測定において管
外表面エコーとノイズとが識別可能な超音波厚さ計を提
供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】受波信号（反射エコー）
の測定波形上に現われるノイズは信号ケーブル内での反
射が原因である。そのため、信号ケーブルの長さにより
現われる位置が決まり、形状とレベルは信号ケーブルと
探触子の種類により変わる。
の測定波形上に現われるノイズは信号ケーブル内での反
射が原因である。そのため、信号ケーブルの長さにより
現われる位置が決まり、形状とレベルは信号ケーブルと
探触子の種類により変わる。
【０００７】本発明は、このようなノイズの性質に着目
したもので、測定波形よりノイズと受波（エコー）信号
を識別するために禁止ゲートを有効に利用して、このよ
うなノイズの性質に着目したもので、測定波形よりノイ
ズと受波（エコー）信号を識別するために禁止ゲートを
有効に利用して、前記測定波形のノイズ発生域に該ノイ
ズの形状に合わせて、前記禁止ゲートの立上り位置、閾
値高さ及び閾値幅が、調整可能な多段レベル状の禁止ゲ
ートを設け、この禁止ゲート内のノイズ信号を無視して
測定可能に構成するとともに、前記ノイズ発生域から外
れた区域のゲート閾値レベルを下げ、好ましくは測定波
形画面上の基線近傍まで閾値レベルを下げて前記多段レ
ベル状の禁止ゲートを形成したことを要旨とし、具体的
には、被測定物の、第１の表面エコー（Ｓエコー）受信
後の第２の表面エコー（Ｂエコー）の測定波形より信号
ケーブル内での反射を原因とするノイズと受波（エコ
ー）信号を識別する為に、禁止ゲート（Ｂゲート）を設
けた厚さ測定用超音波厚さ計であって、前記（Ｂエコ
ー）の測定波形上のノイズ部分にノイズの形状に合わせ
て、ゲートの立上り時期と閾値高さレベル及び閾値幅
が、調整可能な多段レベル状の禁止ゲート（Ｂゲート）
を設けたことを特徴とする超音波厚さ計であり、更に好
ましくは、前記超音波厚さ計が、管内表面より超音波を
入射させ管内表面エコー（第１の表面エコー：Ｓエコ
ー）と管外表面エコー（第２の表面エコー：Ｂエコー）
の間の時間ｔを計測し、これに管材の音速を乗ずること
により管の厚さを測定するようにした超音波厚さ計であ
り、前記時間ｔ計測の原点を決めるために、管内表面エ
コー（第１の表面エコー：Ｓエコー）検出の禁止ゲート
（Ｓゲート）を設け、該禁止ゲート（Ｓゲート）の立上
り時期と高さレベル（Ｌ）を調整出来るようにするのが
よい。
したもので、測定波形よりノイズと受波（エコー）信号
を識別するために禁止ゲートを有効に利用して、このよ
うなノイズの性質に着目したもので、測定波形よりノイ
ズと受波（エコー）信号を識別するために禁止ゲートを
有効に利用して、前記測定波形のノイズ発生域に該ノイ
ズの形状に合わせて、前記禁止ゲートの立上り位置、閾
値高さ及び閾値幅が、調整可能な多段レベル状の禁止ゲ
ートを設け、この禁止ゲート内のノイズ信号を無視して
測定可能に構成するとともに、前記ノイズ発生域から外
れた区域のゲート閾値レベルを下げ、好ましくは測定波
形画面上の基線近傍まで閾値レベルを下げて前記多段レ
ベル状の禁止ゲートを形成したことを要旨とし、具体的
には、被測定物の、第１の表面エコー（Ｓエコー）受信
後の第２の表面エコー（Ｂエコー）の測定波形より信号
ケーブル内での反射を原因とするノイズと受波（エコ
ー）信号を識別する為に、禁止ゲート（Ｂゲート）を設
けた厚さ測定用超音波厚さ計であって、前記（Ｂエコ
ー）の測定波形上のノイズ部分にノイズの形状に合わせ
て、ゲートの立上り時期と閾値高さレベル及び閾値幅
が、調整可能な多段レベル状の禁止ゲート（Ｂゲート）
を設けたことを特徴とする超音波厚さ計であり、更に好
ましくは、前記超音波厚さ計が、管内表面より超音波を
入射させ管内表面エコー（第１の表面エコー：Ｓエコ
ー）と管外表面エコー（第２の表面エコー：Ｂエコー）
の間の時間ｔを計測し、これに管材の音速を乗ずること
により管の厚さを測定するようにした超音波厚さ計であ
り、前記時間ｔ計測の原点を決めるために、管内表面エ
コー（第１の表面エコー：Ｓエコー）検出の禁止ゲート
（Ｓゲート）を設け、該禁止ゲート（Ｓゲート）の立上
り時期と高さレベル（Ｌ）を調整出来るようにするのが
よい。
【０００８】従って本発明の超音波厚さ計は、ノイズの
形状に合わせて測定波形（Ｂエコー）のノイズ発生域の
禁止ゲート（Ｂゲート）の立上り位置と閾値レベル（測
定波形の局部減肉部５を含む管外表面エコー（Ｂエコ
ー）高さの閾値）及び閾値幅を各段毎に変えられ、ノイ
ズと関係のない残りの禁止ゲートは、測定波形のディス
プレーの基線近傍まで閾値を下げられるので、局部減肉
部５のように、反射エコーの高さが低下する部位でも、
ノイズに関係なく管３の厚さ測定が可能であるととも
に、必ずしもオートゲインコントロール機能を設ける必
要がなく、測定機器のコスト低減につながる。
形状に合わせて測定波形（Ｂエコー）のノイズ発生域の
禁止ゲート（Ｂゲート）の立上り位置と閾値レベル（測
定波形の局部減肉部５を含む管外表面エコー（Ｂエコ
ー）高さの閾値）及び閾値幅を各段毎に変えられ、ノイ
ズと関係のない残りの禁止ゲートは、測定波形のディス
プレーの基線近傍まで閾値を下げられるので、局部減肉
部５のように、反射エコーの高さが低下する部位でも、
ノイズに関係なく管３の厚さ測定が可能であるととも
に、必ずしもオートゲインコントロール機能を設ける必
要がなく、測定機器のコスト低減につながる。
【０００９】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を、図
示例と共に説明する。ただし、この実施形態に記載され
ている構成部品の寸法、形状、その相対的位置等は特に
特定的な記載がないかぎりは、この発明の範囲をそれに
限定する趣旨ではなく、単なる説明例にすぎない。本発
明の禁止ゲート付超音波厚さ計の一実施例を図１、図
２、図５、図６を参照して説明すると、図１は、超音波
厚さ計の禁止ゲートの説明図、図２は、禁止ゲートの具
体的な調整要領、図５は前記禁止ゲートを生成するため
の超音波厚さ計の要部回路ブロック図、図６は前記回路
の動作手順を示すフローチャート図である。
示例と共に説明する。ただし、この実施形態に記載され
ている構成部品の寸法、形状、その相対的位置等は特に
特定的な記載がないかぎりは、この発明の範囲をそれに
限定する趣旨ではなく、単なる説明例にすぎない。本発
明の禁止ゲート付超音波厚さ計の一実施例を図１、図
２、図５、図６を参照して説明すると、図１は、超音波
厚さ計の禁止ゲートの説明図、図２は、禁止ゲートの具
体的な調整要領、図５は前記禁止ゲートを生成するため
の超音波厚さ計の要部回路ブロック図、図６は前記回路
の動作手順を示すフローチャート図である。
【００１０】図５において、１Ａは送／受波部１を具え
た探触子、１０は前記送受波部の制御回路、１１は前記
制御回路を介して受波部よりの測定波形を検出する受波
検出回路で、管内表面エコーＳ検出の為の禁止ゲート
（Ｓゲート）を生成するＳゲート生成回路１２、管外表
面エコーＢ検出とノイズＮ除去の為の禁止ゲート（Ｂゲ
ート）を生成するＢゲート生成回路１３、及びタイマ回
路１４が付設されている。１５は管内タイマ回路よりの
クロックに基づいて、管内表面エコー（Ｓエコー）と管
外表面エコー（Ｂエコー）の間の時間ｔを計測し、これ
に管材の音速を乗ずることにより厚さの測定を行うため
の演算回路である。１６は前記測定波形及び禁止ゲート
等を表示するためのブラウン管その他のディスプレー、
１７はコントローラである。
た探触子、１０は前記送受波部の制御回路、１１は前記
制御回路を介して受波部よりの測定波形を検出する受波
検出回路で、管内表面エコーＳ検出の為の禁止ゲート
（Ｓゲート）を生成するＳゲート生成回路１２、管外表
面エコーＢ検出とノイズＮ除去の為の禁止ゲート（Ｂゲ
ート）を生成するＢゲート生成回路１３、及びタイマ回
路１４が付設されている。１５は管内タイマ回路よりの
クロックに基づいて、管内表面エコー（Ｓエコー）と管
外表面エコー（Ｂエコー）の間の時間ｔを計測し、これ
に管材の音速を乗ずることにより厚さの測定を行うため
の演算回路である。１６は前記測定波形及び禁止ゲート
等を表示するためのブラウン管その他のディスプレー、
１７はコントローラである。
【００１１】次に図１及び図２に基づいて前記測定波形
及び禁止ゲートについて説明する。図１において、
（Ａ）は測定波形の発生状態を示し、該波形中、Ｔは送
信パルス、Ｓは管内表面エコー、Ｎはノイズ、Ｂは管外
表面エコーである。また、図１中の（Ｂ）は管内表面エ
コーＳ検出の禁止ゲート（Ｓゲート）、言換えれば時間
ｔ計測の原点を決めるための禁止ゲートを示し、前記し
たコントローラ１７の指示によりＳゲートの立上り時期
（ＳＴＡＲＴ）と高さレベル（Ｌ）を調整出来るように
なっており、ゲートの立上りから最も近い位置に現われ
たエコー、即ち管内表面エコーＳを時間計測の原点とし
て認識する。
及び禁止ゲートについて説明する。図１において、
（Ａ）は測定波形の発生状態を示し、該波形中、Ｔは送
信パルス、Ｓは管内表面エコー、Ｎはノイズ、Ｂは管外
表面エコーである。また、図１中の（Ｂ）は管内表面エ
コーＳ検出の禁止ゲート（Ｓゲート）、言換えれば時間
ｔ計測の原点を決めるための禁止ゲートを示し、前記し
たコントローラ１７の指示によりＳゲートの立上り時期
（ＳＴＡＲＴ）と高さレベル（Ｌ）を調整出来るように
なっており、ゲートの立上りから最も近い位置に現われ
たエコー、即ち管内表面エコーＳを時間計測の原点とし
て認識する。
【００１２】即ち、管３の内側から水を媒体として管３
の厚さを測定する場合、時間計測の原点となるのはＳエ
コー（管内表面３ａエコー）であるので、Ｓゲートの立
上りはＳエコーより送信パルス（Ｔパルス）側に設定す
る必要があり、且つ高さレベルはノイズレベルより６〜
１２ｄｂ（デシベル）高目に設定する。
の厚さを測定する場合、時間計測の原点となるのはＳエ
コー（管内表面３ａエコー）であるので、Ｓゲートの立
上りはＳエコーより送信パルス（Ｔパルス）側に設定す
る必要があり、且つ高さレベルはノイズレベルより６〜
１２ｄｂ（デシベル）高目に設定する。
【００１３】一方、図１（Ｃ）に示すＢゲートは、Ｓエ
コーの後に最初に現われるエコー（管外表面３ｂからの
反射エコー（Ｂエコー））をとらえ、Ｓエコーからの距
離（時間）を計測するためにＢエコーを精度良く且つ確
実に検出するための禁止ゲートで、Ｓゲートと同様、Ｂ
ゲートの立上りから最も近い位置に現われたエコーをＢ
エコーとして取り込む様になっている。
コーの後に最初に現われるエコー（管外表面３ｂからの
反射エコー（Ｂエコー））をとらえ、Ｓエコーからの距
離（時間）を計測するためにＢエコーを精度良く且つ確
実に検出するための禁止ゲートで、Ｓゲートと同様、Ｂ
ゲートの立上りから最も近い位置に現われたエコーをＢ
エコーとして取り込む様になっている。
【００１４】このＢゲートの特徴は、測定波形上のノイ
ズ部分にノイズの形状に合わせて、ゲートの立上り時期
（ＳＴＡＲＴ）と閾値高さレベル（Ｌ１，２，３・・・
ｎ）及び閾値幅（Ｗ１，２，３・・・ｎ）が、調整可能
な多段レベル状（例えば階段状や鋸歯状）の禁止ゲート
（Ｂゲート）を設けたことであり、この禁止ゲート内の
ノイズは時間計測の対象外として無視するようにした。
そして、各段の閾値高さレベル（Ｌ１，２，３・・・
ｎ）を越えたエコーについてのみ検出し、前記Ｓエコー
よりの時間を前記演算回路等で計測するようにした。
ズ部分にノイズの形状に合わせて、ゲートの立上り時期
（ＳＴＡＲＴ）と閾値高さレベル（Ｌ１，２，３・・・
ｎ）及び閾値幅（Ｗ１，２，３・・・ｎ）が、調整可能
な多段レベル状（例えば階段状や鋸歯状）の禁止ゲート
（Ｂゲート）を設けたことであり、この禁止ゲート内の
ノイズは時間計測の対象外として無視するようにした。
そして、各段の閾値高さレベル（Ｌ１，２，３・・・
ｎ）を越えたエコーについてのみ検出し、前記Ｓエコー
よりの時間を前記演算回路等で計測するようにした。
【００１５】図２は、前記Ｂゲートが５段式の禁止ゲー
トである超音波厚さ計のディスプレー１６上に表示され
た例示で、測定波形が図２の様なノイズ形状の場合、先
ず、Ｂゲートの２段目と４段目のゲートの閾値幅（Ｗ）
と閾値高さ（Ｌ）をノイズの形状に合わせて調整する。
そして、ノイズに関係のない１段目と３段目及び５段目
のゲートの閾値高さをディスプレー１６上基線近傍まで
出来るだけ下げた後、管外表面エコーＢの取り込み開始
点である１段目のゲートの立上り（ＢゲートのＳＴＡＲ
Ｔ）を、Ｓエコーの不感帯を避けてその直後に設定す
る。このような調整を行なえば、図２に斜線Ａで示す様
に基線Ｉの直上から管外表面３ｂエコーの取り込み範囲
となるので、超音波の反射エネルギーが極端に低下する
局部減肉部５でも、ノイズに関係なく管３の厚さ測定が
可能である。
トである超音波厚さ計のディスプレー１６上に表示され
た例示で、測定波形が図２の様なノイズ形状の場合、先
ず、Ｂゲートの２段目と４段目のゲートの閾値幅（Ｗ）
と閾値高さ（Ｌ）をノイズの形状に合わせて調整する。
そして、ノイズに関係のない１段目と３段目及び５段目
のゲートの閾値高さをディスプレー１６上基線近傍まで
出来るだけ下げた後、管外表面エコーＢの取り込み開始
点である１段目のゲートの立上り（ＢゲートのＳＴＡＲ
Ｔ）を、Ｓエコーの不感帯を避けてその直後に設定す
る。このような調整を行なえば、図２に斜線Ａで示す様
に基線Ｉの直上から管外表面３ｂエコーの取り込み範囲
となるので、超音波の反射エネルギーが極端に低下する
局部減肉部５でも、ノイズに関係なく管３の厚さ測定が
可能である。
【００１６】次に図６に基づいて、図５に基づく本実施
例の管厚さ測定手順について説明する。先ず送信パルス
（Ｔパルス）受波後（Ｓ１）、該送信パルスの不感帯を
避けてその直後に、Ｓゲートを立上げる。（Ｓ２） Ｓゲートを立上げ後に最初に現われるエコー（Ｓエコ
ー）を受波し、時間計測ｔを開始する。（Ｓ３） 次にＳエコー受波後、該Ｓエコーの不感帯を避けてその
直後に、Ｂゲートを立上げる。（Ｓ４） Ｂゲートは、測定波形上のノイズ部分にノイズの形状に
合わせて、ゲートの立上り時期と閾値高さレベル）及び
閾値幅を前もって調整しておく。Ｂゲートを立上げ後に
最初に現われるエコー（Ｂエコー）を受波し、該受波時
点で時間計測ｔを停止する。（Ｓ５） 前記計測した時間ｔを演算回路に取込み、該時間ｔと管
材の音速を乗ずることにより厚さの測定を行う。（Ｓ
６）
例の管厚さ測定手順について説明する。先ず送信パルス
（Ｔパルス）受波後（Ｓ１）、該送信パルスの不感帯を
避けてその直後に、Ｓゲートを立上げる。（Ｓ２） Ｓゲートを立上げ後に最初に現われるエコー（Ｓエコ
ー）を受波し、時間計測ｔを開始する。（Ｓ３） 次にＳエコー受波後、該Ｓエコーの不感帯を避けてその
直後に、Ｂゲートを立上げる。（Ｓ４） Ｂゲートは、測定波形上のノイズ部分にノイズの形状に
合わせて、ゲートの立上り時期と閾値高さレベル）及び
閾値幅を前もって調整しておく。Ｂゲートを立上げ後に
最初に現われるエコー（Ｂエコー）を受波し、該受波時
点で時間計測ｔを停止する。（Ｓ５） 前記計測した時間ｔを演算回路に取込み、該時間ｔと管
材の音速を乗ずることにより厚さの測定を行う。（Ｓ
６）
【００１７】
【発明の効果】以上記載のごとく本発明の超音波厚さ計
によれば、測定波形上のノイズ部分にノイズの形状に合
わせて、ゲートの立上りと閾値及び幅が、調整可能な多
段式の禁止ゲートを設け、この禁止ゲート内のノイズは
時間計測の対象外として無視するようにするとともに、
ノイズと関係のない残りのゲートは、ブラウン管の基線
近傍まで閾値を下げられる様にしているので、超音波の
反射エネルギーが極端に低下する局部減肉部５でも、ノ
イズに関係なく熱交換器の管等の厚さ測定が可能であ
る。
によれば、測定波形上のノイズ部分にノイズの形状に合
わせて、ゲートの立上りと閾値及び幅が、調整可能な多
段式の禁止ゲートを設け、この禁止ゲート内のノイズは
時間計測の対象外として無視するようにするとともに、
ノイズと関係のない残りのゲートは、ブラウン管の基線
近傍まで閾値を下げられる様にしているので、超音波の
反射エネルギーが極端に低下する局部減肉部５でも、ノ
イズに関係なく熱交換器の管等の厚さ測定が可能であ
る。
【図１】本発明の禁止ゲート付超音波厚さ計のゲート機
構の説明図。
構の説明図。
【図２】本発明の禁止ゲート付超音波厚さ計のゲートの
調整要領図。
調整要領図。
【図３】管の内側から超音波を利用して厚さを測定する
場合の原理図。
場合の原理図。
【図４】従来型超音波厚さ計のオートゲイン機構の説明
図。
図。
【図５】図１の禁止ゲートを生成するための超音波厚さ
計の要部回路ブロック図。
計の要部回路ブロック図。
【図６】図５の回路の動作手順を示すフローチャート図
である。
である。
Ｔ 送信パルス
Ｓ 管内表面エコー
Ｂ 管外表面エコー
ｔ 管の厚さに相当する時間
Ｎ ノイズ
Ｌ 閾値高さ
Ｗ 閾値幅
Ｓゲート、Ｂゲート 禁止ゲート
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01B 17/00 - 17/08
G01S 1/72 - 1/82
G01S 3/80 - 3/86
G01S 5/18 - 5/30
G01S 7/52 - 7/64
G01S 15/00 - 15/96
Claims (2)
- 【請求項１】 被測定物の、第１の表面エコー（Ｓエコ
ー）受信後の第２の表面エコー（Ｂエコー）の測定波形
より信号ケーブル内での反射を原因とするノイズと受波
（エコー）信号を識別する為に、禁止ゲート（Ｂゲー
ト）を設けた厚さ測定用超音波厚さ計であって、 前記（Ｂエコー）の測定波形上のノイズ部分にノイズの
形状に合わせて、ゲートの立上り時期と閾値高さレベル
及び閾値幅が、調整可能な多段レベル状の禁止ゲート
（Ｂゲート）を設けたことを特徴とする超音波厚さ計。 - 【請求項２】 前記超音波厚さ計が、管内表面より超音
波を入射させ管内表面エコー（第１の表面エコー：Ｓエ
コー）と管外表面エコー（第２の表面エコー：Ｂエコ
ー）の間の時間ｔを計測し、これに管材の音速を乗ずる
ことにより管の厚さを測定するようにした超音波厚さ計
であり、前記時間ｔ計測の原点を決めるために、管内表
面エコー（第１の表面エコー：Ｓエコー）検出の禁止ゲ
ート（Ｓゲート）を設け、該禁止ゲート（Ｓゲート）の
立上り時期と高さレベル（Ｌ）を調整出来るようにした
請求項１記載の超音波厚さ計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33434495A JP3453236B2 (ja) | 1995-11-30 | 1995-11-30 | 禁止ゲート付超音波厚さ計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33434495A JP3453236B2 (ja) | 1995-11-30 | 1995-11-30 | 禁止ゲート付超音波厚さ計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09152325A JPH09152325A (ja) | 1997-06-10 |
| JP3453236B2 true JP3453236B2 (ja) | 2003-10-06 |
Family
ID=18276321
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33434495A Expired - Lifetime JP3453236B2 (ja) | 1995-11-30 | 1995-11-30 | 禁止ゲート付超音波厚さ計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3453236B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4919590B2 (ja) * | 2004-09-10 | 2012-04-18 | 株式会社キーエンス | 測距センサ及びその設定方法 |
| JP4832741B2 (ja) * | 2004-09-10 | 2011-12-07 | 株式会社キーエンス | 測距センサ及びその設定方法 |
-
1995
- 1995-11-30 JP JP33434495A patent/JP3453236B2/ja not_active Expired - Lifetime
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH09152325A (ja) | 1997-06-10 |
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