JP3442871B2 - 静電容量計を用いた厚みまたは変位測定装置、および静電容量計を用いた厚みまたは変位測定方法 - Google Patents

静電容量計を用いた厚みまたは変位測定装置、および静電容量計を用いた厚みまたは変位測定方法

Info

Publication number
JP3442871B2
JP3442871B2 JP18787394A JP18787394A JP3442871B2 JP 3442871 B2 JP3442871 B2 JP 3442871B2 JP 18787394 A JP18787394 A JP 18787394A JP 18787394 A JP18787394 A JP 18787394A JP 3442871 B2 JP3442871 B2 JP 3442871B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
guard
main
guard electrode
main electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP18787394A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0829111A (ja
Inventor
健司 則内
Original Assignee
インタクト株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by インタクト株式会社 filed Critical インタクト株式会社
Priority to JP18787394A priority Critical patent/JP3442871B2/ja
Publication of JPH0829111A publication Critical patent/JPH0829111A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3442871B2 publication Critical patent/JP3442871B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、静電容量計を用いた厚
みまたは変位測定装置、および静電容量計を用いた厚み
または変位測定方法に関するものである。近年、樹脂、
フイルム、あるいは金属部材上にコーティングした絶縁
膜等の厚さを高い精度で測定したり、またはこれらの作
製中の変位を管理することが要望されるようになった。
本発明は、これに答えるために精度の高い厚みまたは変
位を測定することができるものである。
【0002】
【従来の技術】図4は従来例における静電容量計を用い
た厚みを測定する装置を説明するための図である。図4
において、主電極1には、下面が偏平に形成されると共
に、上部に向けて突出し、主電極用ナット121を螺合
する電極端子111が形成されている。ガード電極2に
は、下部に前記絶縁部材3で覆われた主電極1を収納す
る凹部21と、前記主電極1の電極端子111を挿入す
る貫通孔22と、上部にネジ部23が形成されている凹
部24と、ネジ孔25とが形成されている。絶縁部材3
は、たとえば、ポリカーボネイト、セラミック等のよう
な熱膨張の少ない絶縁部材からなる主電極1に対して垂
直方向にできるだけ薄く形成される。コネクタ4は、下
部にコネクタ端子41がコネクタ4の外部と絶縁されて
形成されている。また、コネクタ4には、コネクタ用ホ
ルダ42、コネクタ用ホルダ42と一体になって下部に
設けられている係合部43、コネクタ用ナット44が形
成されている。
【0003】そして、電極端子111とコネクタ端子4
1とは、リード線5により電気的に接続されている。内
部ホルダ6は、金属製の円筒体で、内部ホルダ6の下部
には、ネジ部61が立てられており、前記ガード電極2
のネジ部23と螺合する。また、内部ホルダ6の上部に
は、内方に突出した係止部62が形成されている。絶縁
板7は、たとえば、前記絶縁部材3と同様に熱膨張の少
ない絶縁部材で、前記ガード電極2の上部に載置される
と共に、ホルダ用開孔およびネジ用開孔が形成されてい
る。アース電極8は、金属板からなり、上記絶縁板7と
同様にホルダ用開孔およびネジ用開孔が形成されてい
る。絶縁ホルダは、前記絶縁部材3と同様な部材の円
筒体で、内部ホルダ6およびアース電極8のホルダ用開
孔に嵌合される。外部ホルダ10は、下部にフランジ部
101が形成されている。主電極1と絶縁部材3および
ガード電極2は、主電極用ブッシュ11を介して主電極
用ナット121で固定されている。また、ガード電極
2、絶縁板7、アース電極8および外部ホルダ10のフ
ランジ部101は、ネジ12がアース用ブッシュ13を
介してネジ孔25に螺合されて固定される。
【0004】図5は静電容量計を用いた厚み測定装置の
原理図である。図5において、厚み計は、静電容量を計
るために、主電極51と対向電極52とから構成され
る。被測定物53は、主電極51と対向電極52との間
に配置される。前記対向電極52は、基台54等の上に
載置あるいは取り付けられている。そして、基台54に
設けられた摺動杆55には、摺動自在に上下方向に動く
支持杆56が取り付けられている。当該支持杆56に
は、前記主電極51を絶縁された状態で保持している外
部ホルダ57が固定されている。測定装置58は、主電
極51および対向電極52に電圧を印加する図示されて
いない電源と、静電容量計とから構成されている。測定
装置58には、前記静電容量計によって測定された静電
容量を厚みに換える演算処理を行なう演算装置59と、
その演算結果を表示する表示装置60とが備えられてい
る。
【0005】上記のような静電容量計を用いた厚み計に
おいて、被測定物53である樹脂フイルムが主電極51
と対向電極52との間に挿入された場合、主電極51と
対向電極52との間の静電容量は変わる。したがって、
厚さの判っている上記樹脂フイルムの静電容量を予め計
測しておき、この静電容量を基にして、被測定物53で
ある樹脂フイルムの測定された静電容量から、演算装置
59が演算して当該樹脂フイルムの厚さを求め、表示装
置60に表示するか、あるいは演算結果をフィードバッ
クして、正しい厚さになるように制御を行なわしめる。
【0006】図6は従来例における測定方法で、金属板
上に形成された幅広の樹脂フイルムの厚さを測定するた
めの説明図である。図6において、静電容量電極用支持
部材61には、たとえば静電容量電極62ないし65が
主電極部を下方に向けて、同じ高さで設置されている。
金属板66上に形成された幅広の樹脂フイルム等の絶縁
性被膜67は、たとえば、基台68上を図6の背面から
上面に向かって移動するようになっている。金属板66
の表面に形成されている絶縁性被膜67の厚さは、複数
の静電容量電極62ないし65によって、幅方向の各所
において正確に測定され、この値が、たとえば厚みを制
御するために制御装置に送られる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】近年、金属板に付ける
接着剤の厚さ、金属板に塗るインクの厚さ、金属板を絶
縁するコーティングの厚さ等精度の高い厚さ管理が要望
されるようになってきた。そして、金属板に塗る接着
剤、インク、あるいはコーティング等は、金属板が高速
に移動する間に処理される。また、図5に示す静電容量
計は、基台54上に存在する被測定物53が誘電体部材
のみであれば、上下にぶれても、その厚さを測定するこ
とができる。しかし、図6に示すように、金属板66上
に塗るインクや樹脂フイルム等の絶縁性被膜67は、基
台68上で上下方向に振動した場合、静電容量電極62
ないし65によって計測された厚みに誤差ができるとい
う問題を有する。製造ラインの速度が速くなると、基台
68上の被測定物は、移動中に常に一定の高さにするこ
とが困難である。そのため、金属板66上に形成されて
いる絶縁性被膜67は、上下にぶれた分、基準静電容量
が変化してしまうため、正確な厚みが測定できないとい
う問題を有した。
【0008】さらに、金属板66上に形成された絶縁性
被膜67は、移動中に基台68から上下にぶれた状態の
場合、金属板66と基台68との間の距離71を測定し
て、この値から正確な絶縁性被膜67の厚みを補正する
ことになる。しかし、上記補正を演算することが困難で
あるため、図6に示す測定装置は、距離71を無視した
距離69と測定された静電容量とから絶縁性被膜67の
厚さ70を演算している。
【0009】また、図6に示す従来例における静電容量
計によって、金属板66上に形成された絶縁性被膜67
の厚さを測定する場合、静電容量電極62ないし65と
基台68との間隔は、時間、日月等の温度変化によって
変化する。したがって、このような厚み計は、正しい距
離を常に調整(0調整)することによって、高い精度の
測定を行なっていた。しかし、近年、さらに高い精度の
測定が要望されるようになり、一日における温度差によ
る誤差が問題になる。この場合は、一日に何回か製造ラ
インを止めて0調整を行なう必要があり、生産性を低下
させるという問題を有した。
【0010】以上のような問題を解決するために、本発
明は、絶縁・短絡を切り替えるといった簡単な装置を付
加するだけで、一つの静電容量計によって、絶縁性被膜
の厚さと変位とを測定することができる静電容量計を用
いた厚みまたは変位測定装置、および静電容量計を用い
た厚みまたは変位測定方法を提供することを目的とす
る。また、本発明は、測定開始に行なう0調整の回数を
少なく、金属板がたとえ上下にぶれた状態でも正確な厚
さを測定できる移動中の金属板上に形成された絶縁性被
膜の厚さを測定する静電容量計を用いた厚みまたは変位
測定装置、および静電容量計を用いた厚みまたは変位測
定方法を提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】(第1発明) 前記目的を達成するために、本発明の静電容量計を用い
た厚みまたは変位測定装置は、主電極(1)と、前記
電極(1)の下面に対向して設けられた対向電極(2
0)と、前記主電極(1)の下面と同一平面になると共
に、前記主電極(1)に対して絶縁的に囲むように設け
られた第1ガード電極(2)と、前記主電極(1)およ
び前記第1ガード電極(2)の下面と同一平面になると
共に、第1ガード電極(2)に対して絶縁的に囲むよう
設けられた第2ガード電極(2′)と、前記第2ガー
ド電極(2′)の上部に絶縁部材を介して載置されたア
ース電極(8)と、前記第2ガード電極(2′)と前記
アース電極(8)との絶縁・短絡を切り替える切替手段
(38)と、からなることを特徴とする。
【0012】(第2発明) 前記目的を達成するために、本発明の静電容量計を用い
た厚みまたは変位測定装置は、上部に電極端子(11
1)を有し、下部を偏平型にした主電極(1)と、前記
主電極(1)の下面に対向して設けられた対向電極(2
0)と、前記主電極(1)の下面と同一平面になると共
に、前記主電極(1)を絶縁的に囲むように収納する凹
部(21)から構成され、かつ前記主電極(1)と同電
位である第1平板状ガード電極(2)と、前記第1平板
状ガード電極(2)の下面と同一平面になると共に、
第1平板状ガード電極(2)を絶縁的に囲むように
納する凹部(21′)から構成される第2平板状ガード
電極(2′)と、前記第2平板状ガード電極(2′)の
上部に絶縁部材(7)を介して載置された板状アース電
極(8)と、記主電極(1)、第1平板状ガード電極
(2)、第2平板状ガード電極(2′)、および板状ア
ース電極(8)とそれぞれ電気的に絶縁されて接続され
ているコネクタ(4)と、前記第2平板状ガード電極と
前記板状アース電極との絶縁・短絡を切り替える切替手
段(38)と、からなることを特徴とする。
【0013】
【0014】(第発明) 本発明の静電容量計を用いた厚みまたは変位測定方法
は、主電極(1)と、前記主電極(1)の下面に対向し
て設けられた対向電極(20)と、前記主電極(1)の
下面と同一平面になると共に、前記主電極(1)に対し
て絶縁的に囲むように設けられた第1ガード電極(2)
と、前記主電極(1)および前記第1ガード電極(2)
の下面と同一平面になると共に、第1ガード電極(2)
に対して絶縁的に囲むように設けられた第2ガード電極
(2′)と、前記第2ガード電極(2′)の上部に絶縁
部材(7)を介して載置されたアース電極(8)と、を
備えた静電容量計を用い、前記主電極(1)と対向して
設けられた前記対向電極(20)との間に電界を印加し
た後、前記第2ガード電極(2′)と前記アース電極
(8)とが短絡状態で、前記主電極(1)と前記対向電
極(20)との間に存在する誘電体部材の前記対向電極
(20)からの変位を測定し、前記第1ガード電極
(2)および前記第2ガード電極(2′)と前記アース
電極(8)とが絶縁状態で、前記主電極(1)と前記
向電極(20)との間に存在する誘電体部材の厚みを測
定することを特徴とする。
【0015】
【作 用】本出願人は、静電容量計におけるガード電
極が主電極から対向電極に向かって出る電気力線を垂直
にしていることに着目すると共に、ガード電極の電気力
線に対する影響に注目した。特に、本出願人は、主電極
と絶縁的に配置された第1平板状ガード電極と、当該第
1平板状ガード電極と絶縁的に配置された第2平板状ガ
ード電極とを設けることによって、誘電体部材の厚さ、
および対向電極に対する誘電体部材の変位をそれぞれ測
定できることを発見した。すなわち、第2平板状ガード
電極とアース電極とを短絡し、第1平板状ガード電極
は、主電極と離れた位置において接続されて同電位とす
ることで、電気力線が垂直に進むようにガードの役目を
持たせる。このように第2平板状ガード電極とアース電
極とを短絡状態にすると共に、第1平板状ガード電極と
主電極とを同電位で、かつ第1平板状ガード電極と主電
極とをアース電極に対して絶縁状態にした場合、主電極
から対向電極に向かって出る電気力線は、主電極の近傍
で垂直に進み、主電極から第1平板状ガード電極および
第2平板状ガード電極に向かうに従い、曲げられるた
め、その密度が異なる。
【0016】そこで、本出願人は、第2平板状ガード電
極とアース電極とが短絡状態で、第1平板状ガード電極
と主電極とがそれぞれアース電極に対して絶縁状態にす
ると共に、第1平板状ガード電極と主電極とを絶縁状態
にした場合、主電極と対向電極との間における誘電体部
材の変位を測定できることを発見した。すなわち、アー
ス電極と第2平板状ガード電極とが短絡状態の場合、電
気力線は、対向電極に向かうもの、あるいは第2平板状
ガード電極と対向電極との力関係で、曲げられるもの、
および第2平板状ガード電極に向かうものが出る。誘電
体部材は、その存在位置により、電気力線の状態が異な
るため、静電容量が異なる。そこで、本出願人は、前記
異なる静電容量に着目し、前記静電容量とその時の位置
関係とによって、前記誘電体部材の変位が計算されるこ
とを発見した。 また前記主電極、第1平板状ガード電
極、第2平板状ガード電極、およびアース電極をそれぞ
れ絶縁状態とし、かつ主電極と第1平板状ガード電極お
よび第2平板状ガード電極とが同電位にある場合、電気
力線は、対向電極に垂直に進むため、従来と同様に静電
容量が正確に測定できる。また、主電極は、絶縁的に第
1平板状ガード電極の下面に設けられた凹部に収納さ
れ、主電極および第1平板状ガード電極は、絶縁的に第
2平板状ガード電極の下面に設けられた凹部に収納され
ているため、各電極の面が平らになり、対向電極に対
する電気力線を乱さない。したがって、静電容量および
変位の測定は、単にアース電極と第2平板状ガード電極
の短絡あるいは絶縁の切替えだけで正確にできる。平板
状ガード電極は、主電極の周囲に絶縁部材を介して、さ
らに増加させることができる。このような構成とするこ
とによって、広い範囲にわたって主電極から出る電気力
線は、対向電極に向かって垂直になる。
【0017】
【実 施 例】図1は本発明の実施例で、静電容量計を
使用した厚み測定装置の概念図である。図2は本発明の
実施例で、静電容量計を使用した変位測定装置の概念図
である。図1および図2に示す主電極1、第1平板状ガ
ード電極2、絶縁部材3、絶縁板7、アース電極8は、
図4において説明した静電容量計と同じものであり、詳
細な説明を省略する。図4と相違する所は、図4に示す
ガード電極2を第1平板状ガード電極2と第2平板状ガ
ード電極2′とに分割し、その間に絶縁部材7′を介在
させている。また、主電極1、第1平板状ガード電極
2、第2平板状ガード電極2′を同じ平面とするため
に、第2平板状ガード電極2′に設けられた凹部に第1
平板状ガード電極2が絶縁的に収納されている。また、
同様に、第1平板状ガード電極2に設けられた凹部に主
電極1が絶縁的に収納されている。
【0018】図1において、主電極1、第1平板状ガー
ド電極2、第2平板状ガード電極2′、およびアース電
極8は、それぞれ絶縁されている。また、主電極1と第
1平板状ガード電極2および第2平板状ガード電極2′
は、図示されていない位置によって同電位となるように
接続されている。主電極1から出る電気力線aは、アー
ス電極8と絶縁されている第1平板状ガード電極2およ
び第2平板状ガード電極2′が存在するため、対向電極
20に垂直に向かう。したがって、図1に示すような電
気力線aによって、主電極1と対向電極20間に存在す
る被測定物の静電容量が計測できる。そして、主電極1
と対向電極20との間に存在する被測定物は、どの位置
にあっても電気力線aの量が同じであるから、静電容量
を測ることによって、予め測定されている静電容量と特
定の誘電体部材の厚さとの関係を基にして、その厚さを
演算することができる。
【0019】図2において、第2平板状ガード電極2′
とアース電極8とは、図示されていない位置で、短絡さ
れているため、電気力線がaないしgとそれぞれ異なる
方向に進み、静電容量計として正確に測定できない。す
なわち、主電極1から対向電極20に向かう電気力線a
は、垂直となる。しかし、主電極1から出る電気力線b
ないしgは、アース電極8およびアース電極8と同電位
の対向電極20との両方に引き付けられる。すなわち、
主電極1から出る電気力線aないしgは、図2に示すよ
うに、第2平板状ガード電極2′に近づくにしたがい第
2平板状ガード電極2′に引きつけられる力が大きくな
る。したがって、図2に示すような状態では、正確な
電容量計にならないが、主電極1と対向電極20との間
において、位置によって電気力線の密度が異なる。たと
えば、対向電極20上に載置されている誘電体部材は、
電気力線aないしeの影響を受けるのに対して、主電極
1近傍の誘電体部材は、電気力線aないしgの影響を受
ける。すなわち、同じ厚さの被測定物であっても、その
位置の違いによって、静電容量に差異が生ずる。そこ
で、主電極1と対向電極20との間に存在する誘電体部
材は、予め測定されている変位とその時の静電容量との
関係を記憶しておけば、この記憶データを基にして、変
位を得ることができる。
【0020】図3は本発明の実施例で、静電容量計を用
いた厚みまたは変位測定装置の原理図である。図3にお
いて、前述した図5と相違する所は、第2平板状ガード
電極2′、アース電極8とを短絡したり、解放したりす
る切替手段38、およびデータべース42を備えた点に
ある。切替手段38は、たとえば、図4に示すコネクタ
4から図示されていないシールドされたリード線によっ
て導かれ、測定装置39で静電容量を測定する前に第2
平板状ガード電極2′とアース電極8とを短絡するか、
解放するかの切り替えを行なう。すなわち、静電容量を
測定する際には、図5において説明したような演算を行
ない、変位を測定する際には、切替手段38において第
2平板状ガード電極2′とアース電極8とを短絡した
後、静電容量を測定する。その後、測定された静電容量
は、予め判っている変位と静電容量との関係が記憶され
ているデータべース42を参照して演算装置40が演算
することで被測定物の変位が算出される。そして、被測
定物の変位は、静電容量を測定する際の補正のために使
用されたり、あるいは静電容量を測定するに先立つ0調
整等に使われる。
【0021】以上、本発明の実施例を詳述したが、本発
明は、前記実施例に限定されるものではない。そして、
特許請求の範囲に記載された本発明を逸脱することがな
ければ、種々の設計変更を行うことが可能である。たと
えば、本実施例において、第2平板状ガード電極とアー
ス電極との絶縁あるいは短絡は、コネクタからシールド
されたリード線を用いて接続されている切替手段におい
てなされるが、第2平板状ガード電極とアース電極の近
傍にスイッチを設けることも可能である。また、第2平
板状ガード電極とアース電極との絶縁および短絡を交互
に行ない、対向電極からの正確な変位と静電容量とを計
り、これらの値を基にして正確な被測定物の厚さを得る
ことができる。また、本明細書では、被測定物の厚さの
みについて記述されているが、データべース内に予め測
定された特定の誘電体部材の静電容量と重さとの関係を
データとして記憶しておけば、重さについても厚さ同様
に測定することができる。すなわち、誘電体部材の密度
は、予め判っているため、本発明の変位測定装置によっ
て厚さが判れば、単位当たりの重さが判る。したがっ
て、本明細書における「厚さ」は、「厚さおよび重さ」
と読み換えることができることはいうまでもないことで
ある。また、本発明は、本実施例において説明した静電
容量計、測定装置、演算装置、表示装置は、これに限定
されず、公知あるいは周知の同等の装置を使用すること
ができる。
【0022】
【発明の効果】本発明によれば、静電容量計の第2平板
状ガード電極とアース電極を短絡したり、あるいは解放
するだけで、被測定物の厚さと変位とを測定することが
できる。本発明によれば、金属板上に形成された被測定
物が移動中に上下にぶれても、第2平板状ガード電極と
アース電極との絶縁・短絡を切り替えるだけで、被測定
物の変位を測定できるため、正確な膜厚を計ることがで
きる。本発明によれば、主電極は、絶縁的に第1平板状
ガード電極に設けられた凹部に、主電極および第1平板
状ガード電極は、絶縁的に第2平板状ガード電極の凹部
囲まれるようにそれぞれ収納されているので、各電極
面が平らになり、対向電極に対する電気力線を乱さ
ないため、第2平板状ガード電極とアース電極との絶縁
・短絡を切り替えるだけで、静電容量および変位の測定
を正確にできる。本発明によれば、主電極の周囲に設け
られるガード電極を複数個に増加し、ガード電極の面積
を変えることによって、幅の広い被測定物の厚さまたは
変位を測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例で、静電容量計を使用した厚み
測定装置の概念図である。
【図2】本発明の実施例で、静電容量計を使用した変位
測定装置の概念図である。
【図3】本発明の実施例で、静電容量計を用いた厚みま
たは変位測定装置の原理図である。
【図4】従来例における静電容量計を用いた厚みを測定
する装置を説明するための図である。
【図5】静電容量計を用いた厚み測定装置の原理図であ
る。
【図6】従来例における測定方法で、金属板上に形成さ
れた幅広の樹脂フイルムの厚さを測定するための説明図
である。
【符号の説明】
1・・・主電極 2・・・第1平板状ガード電極 2′・・・第2平板状ガード電極 3・・・絶縁部材 4・・・コネクタ 5・・・リード線 6・・・内部ホルダ 7、7′・・・絶縁板 8・・・アース電極 9・・・絶縁ホルダ 10・・・外部ホルダ 20・・・対向電極 21、21′・・・凹部 38・・・切替手段 aないしg・・・電気力線

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 主電極と、前記 主電極の下面に対向して設けられた対向電極と、 前記主電極の下面と同一平面になると共に、前記主電極
    に対して絶縁的に囲むように設けられた第1ガード電極
    と、前記主電極および前記 第1ガード電極の下面と同一平面
    になると共に、第1ガード電極に対して絶縁的に囲むよ
    うに設けられた第2ガード電極と、前記 第2ガード電極の上部に絶縁部材を介して載置され
    たアース電極と、 前記第2ガード電極と前記アース電極との絶縁・短絡を
    切り替える切替手段と、 からなることを特徴とする静電容量計を用いた厚みまた
    は変位測定装置。
  2. 【請求項2】 上部に電極端子を有し、下部を偏平型に
    した主電極と、前記 主電極の下面に対向して設けられた対向電極と、前記主電極の下面 と同一平面になると共に、前記主電極
    を絶縁的に囲むように収納する凹部から構成され、かつ
    前記主電極と同電位である第1平板状ガード電極と、前記 第1平板状ガード電極の下面と同一平面になると共
    に、前記第1平板状ガード電極を絶縁的に囲むように
    納する凹部から構成される第2平板状ガード電極と、前記 第2平板状ガード電極の上部に絶縁部材を介して載
    置された板状アース電極と、 記主電極、第1平板状ガード電極、第2平板状ガード
    電極、および板状アース電極とそれぞれ電気的に絶縁さ
    れて接続されているコネクタと、 前記第2平板状ガード電極と前記板状アース電極との絶
    縁・短絡を切り替える切替手段と、 からなることを特徴とする静電容量計を用いた厚みまた
    は変位測定装置。
  3. 【請求項3】 主電極と、 前記主電極の下面に対向して設けられた対向電極と、 前記主電極の下面と同一平面になると共に、前記主電極
    に対して絶縁的に囲む ように設けられた第1ガード電極
    前記主電極および前記第1ガード電極の下面と同一平面
    になると共に、第1ガード電極に対して絶縁的に囲むよ
    うに設けられた第2ガード電極と、 前記第2ガード電極の上部に絶縁部材を介して載置され
    たアース電極と、 を備えた静電容量計を用い、 前記 主電極と対向して設けられた前記対向電極との間に
    電界を印加した後、前記第2ガード電極と前記アース電
    極とが短絡状態で、前記主電極と前記対向電極との間に
    存在する誘電体部材の前記対向電極からの変位を測定
    し、 前記 第1ガード電極および前記第2ガード電極と前記
    ース電極とが絶縁状態で、前記主電極と前記対向電極と
    の間に存在する誘電体部材の厚みを測定することを特徴
    とする静電容量計を用いた厚みまたは変位測定方法。
JP18787394A 1994-07-19 1994-07-19 静電容量計を用いた厚みまたは変位測定装置、および静電容量計を用いた厚みまたは変位測定方法 Expired - Fee Related JP3442871B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18787394A JP3442871B2 (ja) 1994-07-19 1994-07-19 静電容量計を用いた厚みまたは変位測定装置、および静電容量計を用いた厚みまたは変位測定方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18787394A JP3442871B2 (ja) 1994-07-19 1994-07-19 静電容量計を用いた厚みまたは変位測定装置、および静電容量計を用いた厚みまたは変位測定方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0829111A JPH0829111A (ja) 1996-02-02
JP3442871B2 true JP3442871B2 (ja) 2003-09-02

Family

ID=16213711

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP18787394A Expired - Fee Related JP3442871B2 (ja) 1994-07-19 1994-07-19 静電容量計を用いた厚みまたは変位測定装置、および静電容量計を用いた厚みまたは変位測定方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3442871B2 (ja)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000283702A (ja) * 1999-03-31 2000-10-13 Fotonikusu:Kk 距離センサおよび距離測定装置
JP2000304504A (ja) * 1999-04-19 2000-11-02 Fotonikusu:Kk 厚みセンサおよび厚み測定装置
DE10003352A1 (de) * 2000-01-27 2001-08-02 Heidelberger Druckmasch Ag Transportsystem für eine Druckmaschine
JP4006364B2 (ja) * 2003-06-19 2007-11-14 キヤノン株式会社 計測装置
DE102006037248B4 (de) * 2006-08-09 2021-01-14 manroland sheetfed GmbH Falschbogensensor einer Druckbogen verarbeitenden Maschine
KR102307737B1 (ko) * 2015-06-11 2021-10-01 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 정전 용량 측정용의 센서 칩 및 센서 칩을 구비한 측정기
JP6537433B2 (ja) * 2015-06-11 2019-07-03 東京エレクトロン株式会社 静電容量測定用のセンサチップ及び同センサチップを備えた測定器
JP7094513B2 (ja) * 2017-06-19 2022-07-04 ユニパルス株式会社 厚み測定装置
JP6924652B2 (ja) * 2017-08-18 2021-08-25 三菱重工業株式会社 付着物測定装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0829111A (ja) 1996-02-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9784558B2 (en) Sensing of mirror position using fringing fields
JP3442871B2 (ja) 静電容量計を用いた厚みまたは変位測定装置、および静電容量計を用いた厚みまたは変位測定方法
WO1992006351A1 (en) Capacitance sensing probe
CN101680918B (zh) 光vt装置
CN101509937B (zh) 探针单元及检查装置
JP2717778B2 (ja) 移動中の金属板上に形成された絶縁性被膜の厚さ測定装置、およびその測定方法
CN206788515U (zh) 一种测量装置、及测量系统
US3287637A (en) High frequency current means including capacitive probe members for determining the electrical resistance of a semiconductor layer
CN105182081A (zh) 一种薄层材料方块电阻测试方法
JPH09292222A (ja) 傾斜センサ
JPH06300509A (ja) 絶縁性被膜または絶縁部材の厚さを測定する装置およびその測定方法
CN108181741B (zh) 一种显示面板膜层剥离位置的测试装置及其方法
JP2003270267A (ja) プローブユニット、プローブカード、測定装置及びプローブカードの製造方法
US4023102A (en) Test fixture
JPH02291975A (ja) 電極システム
US4307337A (en) Method and apparatus for capacitively measuring variations in the nominal distance between a color selection electrode and a display window of a television display tube
JPH04297805A (ja) 静電容量方式による厚み計における電極装置および当該電極装置の組み立て方法
JPS5975102A (ja) 寸法測定装置
JPH0762691B2 (ja) 電気特性測定装置
JP2921367B2 (ja) 光学式電圧測定器
JPH06194114A (ja) 静電容量センサ
JPH02171660A (ja) 加速度特に測角法による重力の分力測定計器
JP2531043Y2 (ja) プローブヘッドの先端構造
JPH01315153A (ja) プローバのウェハ搭載部材
JPH1078485A (ja) 地震波検出装置

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees