JP3441413B2 - 遅延調整セルおよびそれを用いた半導体回路の設計方法 - Google Patents
遅延調整セルおよびそれを用いた半導体回路の設計方法Info
- Publication number
- JP3441413B2 JP3441413B2 JP33021699A JP33021699A JP3441413B2 JP 3441413 B2 JP3441413 B2 JP 3441413B2 JP 33021699 A JP33021699 A JP 33021699A JP 33021699 A JP33021699 A JP 33021699A JP 3441413 B2 JP3441413 B2 JP 3441413B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- delay
- inverter
- adjustment
- inverters
- adjusting
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、エンベデッドアレ
イ方式の半導体回路のタイミング調整を行う為の遅延調
整セルおよびそれを用いた半導体回路の設計方法に関す
る。
イ方式の半導体回路のタイミング調整を行う為の遅延調
整セルおよびそれを用いた半導体回路の設計方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】エンベデッドアレイ方式の半導体回路
は、ゲートアレイ方式のレイアウトブロックを配線層の
みの変更で回路変更が可能であり、配線層のみの変更で
異なる機能の半導体回路を実現する。
は、ゲートアレイ方式のレイアウトブロックを配線層の
みの変更で回路変更が可能であり、配線層のみの変更で
異なる機能の半導体回路を実現する。
【0003】図5は、エンベデッドアレイ方式の半導体
回路のチップ構成の一例を示すブロック図である。
回路のチップ構成の一例を示すブロック図である。
【0004】図5において、1はゲートアレイ方式のレ
イアウトブロック、2はRAMブロック、3はROMブ
ロック、4はマイコンコアブロック、5はブロック間配
線である。
イアウトブロック、2はRAMブロック、3はROMブ
ロック、4はマイコンコアブロック、5はブロック間配
線である。
【0005】しかし、ゲートアレイ方式のレイアウトブ
ロック1の回路変更を行う場合、そのブロック内の信号
パスの遅延時間のタイミンクだけでなく、その他のブロ
ックと接続されている信号パスの遅延時間のタイミング
の調整を配線層のみの変更で行わなくてはならない。
ロック1の回路変更を行う場合、そのブロック内の信号
パスの遅延時間のタイミンクだけでなく、その他のブロ
ックと接続されている信号パスの遅延時間のタイミング
の調整を配線層のみの変更で行わなくてはならない。
【0006】また、プロセスの微細化に伴い、半導体回
路の動作周波数が高速になると、遅延時間のタイミング
調整も、より細かい単位時間で調整することが必要にな
ってくる。
路の動作周波数が高速になると、遅延時間のタイミング
調整も、より細かい単位時間で調整することが必要にな
ってくる。
【0007】これを解決する為に、従来では、ゲートア
レイ方式のレイアウトブロック1内に遅延調整セルを配
置して、もしくは、配線の引き回しによって遅延時間の
タイミング調整が行われていた。
レイ方式のレイアウトブロック1内に遅延調整セルを配
置して、もしくは、配線の引き回しによって遅延時間の
タイミング調整が行われていた。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
タイミング調整方法では、ゲートアレイ方式のレイアウ
トブロック1内に配置できる遅延調整セルは、ゲートア
レイの基本セルが持っている固定されたサイズのトラン
ジスタのみで構成される為、離散的なタイミング調整し
かできない。
タイミング調整方法では、ゲートアレイ方式のレイアウ
トブロック1内に配置できる遅延調整セルは、ゲートア
レイの基本セルが持っている固定されたサイズのトラン
ジスタのみで構成される為、離散的なタイミング調整し
かできない。
【0009】また、配線の引き回しによる調整について
も、他の信号配線を迂回して引き回すため所望の調整が
困難であり、配線のレイアウト面積も大きくなる。
も、他の信号配線を迂回して引き回すため所望の調整が
困難であり、配線のレイアウト面積も大きくなる。
【0010】さらに、配線の引き回しによる調整では、
ゲート遅延と配線遅延のバランスが悪くなり、温度条
件、電源電圧条件ごとのタイミングのズレが大きくな
り、タイミング調整がさらに困難になる恐れがある。
ゲート遅延と配線遅延のバランスが悪くなり、温度条
件、電源電圧条件ごとのタイミングのズレが大きくな
り、タイミング調整がさらに困難になる恐れがある。
【0011】このように、従来の従来のタイミング調整
方法は、微細プロセスで高速な動作周波数のエンベデッ
ドアレイ方式の半導体回路を実現する上で問題となって
いた。
方法は、微細プロセスで高速な動作周波数のエンベデッ
ドアレイ方式の半導体回路を実現する上で問題となって
いた。
【0012】本発明は、上記従来の問題を解決するもの
で、所定の信号パスの遅延時間に対し、配線層の変更だ
けでタイミングの微調整を容易に行うことが可能な遅延
調整セルおよびそれを用いた半導体回路の設計方法を提
供することを目的とする。
で、所定の信号パスの遅延時間に対し、配線層の変更だ
けでタイミングの微調整を容易に行うことが可能な遅延
調整セルおよびそれを用いた半導体回路の設計方法を提
供することを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
め、本発明の遅延調整セルは、入力信号の波形を整形す
るための波形整形用インバーターと、前記波形整形用イ
ンバーターの出力端子に入力端子が接続され、各々一定
の遅延時間を有するn個(nは自然数)の第1の遅延調
整用インバーターを含む第1の遅延調整用インバーター
群と、前記波形整形用インバーターの出力端子に入力端
子が接続され、各々異なる遅延時間を有し各々前記第1
の遅延調整用インバーターと並列接続されたn個の第2
の遅延調整用インバーターを含む第2の遅延調整用イン
バーター群と、前記第1および第2の遅延調整用インバ
ーター群の出力端子に入力端子が接続され、前記第1及
び第2の遅延調整用インバーター群における最終段の第
1及び第2の遅延調整用インバーターに対する一定負荷
確保用インバーターと後続の回路に対する駆動能力確保
用インバーターの2段のインバーターを含む出力バッフ
ァーとを備え、前記第1の遅延調整用インバーターは各
々、遅延時間dを有し、前記第2の遅延調整用インバー
ターは各々、遅延時間d+Δdからd+2 n-1 Δdを有
し、前記並列接続された第1の遅延調整用インバーター
と第2の遅延調整用インバーターのいずれかを配線変更
により選択し、Δd刻みに遅延時間の調整を行うことを
特徴とする。
め、本発明の遅延調整セルは、入力信号の波形を整形す
るための波形整形用インバーターと、前記波形整形用イ
ンバーターの出力端子に入力端子が接続され、各々一定
の遅延時間を有するn個(nは自然数)の第1の遅延調
整用インバーターを含む第1の遅延調整用インバーター
群と、前記波形整形用インバーターの出力端子に入力端
子が接続され、各々異なる遅延時間を有し各々前記第1
の遅延調整用インバーターと並列接続されたn個の第2
の遅延調整用インバーターを含む第2の遅延調整用イン
バーター群と、前記第1および第2の遅延調整用インバ
ーター群の出力端子に入力端子が接続され、前記第1及
び第2の遅延調整用インバーター群における最終段の第
1及び第2の遅延調整用インバーターに対する一定負荷
確保用インバーターと後続の回路に対する駆動能力確保
用インバーターの2段のインバーターを含む出力バッフ
ァーとを備え、前記第1の遅延調整用インバーターは各
々、遅延時間dを有し、前記第2の遅延調整用インバー
ターは各々、遅延時間d+Δdからd+2 n-1 Δdを有
し、前記並列接続された第1の遅延調整用インバーター
と第2の遅延調整用インバーターのいずれかを配線変更
により選択し、Δd刻みに遅延時間の調整を行うことを
特徴とする。
【0014】
【0015】上記構成によれば、各々遅延時間dを有す
るn個の第1の遅延調整インバーターと、各々遅延時間
d+Δdからd+2n-1Δdを有するn個の第2の遅延
調整インバーターを選択する組合せを配線変更により変
えることで、n個の遅延調整インバータの遅延時間をn
×dからn×d+(2n−1)Δdの範囲でΔd刻みに
微調整することが可能になる。
るn個の第1の遅延調整インバーターと、各々遅延時間
d+Δdからd+2n-1Δdを有するn個の第2の遅延
調整インバーターを選択する組合せを配線変更により変
えることで、n個の遅延調整インバータの遅延時間をn
×dからn×d+(2n−1)Δdの範囲でΔd刻みに
微調整することが可能になる。
【0016】前記の目的を達成するため、本発明の半導
体回路の設計方法は、ゲートアレイ方式のレイアウトブ
ロックと、該レイアウトブロックと所定のブロックの間
に配置された遅延調整セルとを含むエンベデッド方式の
半導体回路の設計方法であって、前記遅延調整セルは、
入力信号の波形を整形するための波形整形用インバータ
ーと、前記波形整形用インバーターの出力端子に入力端
子が接続され、各々一定の遅延時間を有するn個(nは
自然数)の第1の遅延調整用インバーターを含む第1の
遅延調整用インバーター群と、前記波形整形用インバー
ターの出力端子に入力端子が接続され、各々異なる遅延
時間を有し各々前記第1の遅延調整用インバーターと並
列接続されたn個の第2の遅延調整用インバーターを含
む第2の遅延調整用インバーター群と、前記第1および
第2の遅延調整用インバーター群の出力端子に入力端子
が接続され、前記第1及び第2の遅延調整用インバータ
ー群における最終段の第1及び第2の遅延調整用インバ
ーターに対する一定負荷確保用インバーターと後続の回
路に対する駆動能力確保用インバーターの2段のインバ
ーターを含む出力バッファーとを備え、前記第1の遅延
調整用インバーターは各々、遅延時間dを有し、前記第
2の遅延調整用インバーターは各々、遅延時間d+Δd
からd+2 n-1 Δdを有し、前記レイアウトブロックの
機能変更を行う際に、前記並列接続された第1の遅延調
整用インバーターと第2の遅延調整用インバーターのい
ずれかを配線層の変更により選択し、所定の信号パスに
対してΔd刻みに遅延時間のタイミング調整を行うこと
を特徴とする。
体回路の設計方法は、ゲートアレイ方式のレイアウトブ
ロックと、該レイアウトブロックと所定のブロックの間
に配置された遅延調整セルとを含むエンベデッド方式の
半導体回路の設計方法であって、前記遅延調整セルは、
入力信号の波形を整形するための波形整形用インバータ
ーと、前記波形整形用インバーターの出力端子に入力端
子が接続され、各々一定の遅延時間を有するn個(nは
自然数)の第1の遅延調整用インバーターを含む第1の
遅延調整用インバーター群と、前記波形整形用インバー
ターの出力端子に入力端子が接続され、各々異なる遅延
時間を有し各々前記第1の遅延調整用インバーターと並
列接続されたn個の第2の遅延調整用インバーターを含
む第2の遅延調整用インバーター群と、前記第1および
第2の遅延調整用インバーター群の出力端子に入力端子
が接続され、前記第1及び第2の遅延調整用インバータ
ー群における最終段の第1及び第2の遅延調整用インバ
ーターに対する一定負荷確保用インバーターと後続の回
路に対する駆動能力確保用インバーターの2段のインバ
ーターを含む出力バッファーとを備え、前記第1の遅延
調整用インバーターは各々、遅延時間dを有し、前記第
2の遅延調整用インバーターは各々、遅延時間d+Δd
からd+2 n-1 Δdを有し、前記レイアウトブロックの
機能変更を行う際に、前記並列接続された第1の遅延調
整用インバーターと第2の遅延調整用インバーターのい
ずれかを配線層の変更により選択し、所定の信号パスに
対してΔd刻みに遅延時間のタイミング調整を行うこと
を特徴とする。
【0017】
【0018】この方法によれば、ブロック間のクロック
ライン等、信号の遅延時間がクリティカルになるパス
に、配線層の変更のみで遅延時間の調整が可能な遅延調
整セルを挿入しておき、ゲートアレイ方式のレイアウト
ブロックの回路変更に伴うブロック間のタイミング調整
の際に、あらかじめ挿入しておいた遅延調整セルの内部
配線接続の変更で、n個の遅延調整インバータの遅延時
間をn×dからn×d+(2n−1)Δdの範囲でΔd
刻みにタイミング調整を行うことができる。
ライン等、信号の遅延時間がクリティカルになるパス
に、配線層の変更のみで遅延時間の調整が可能な遅延調
整セルを挿入しておき、ゲートアレイ方式のレイアウト
ブロックの回路変更に伴うブロック間のタイミング調整
の際に、あらかじめ挿入しておいた遅延調整セルの内部
配線接続の変更で、n個の遅延調整インバータの遅延時
間をn×dからn×d+(2n−1)Δdの範囲でΔd
刻みにタイミング調整を行うことができる。
【0019】
【発明の実施の形態】(第1の実施形態)以下、本発明
の第1の実施形態について、図面を参照しながら説明す
る。
の第1の実施形態について、図面を参照しながら説明す
る。
【0020】図1は、本発明の一実施形態における遅延
調整セルの回路図である。図1において、21は入力端
子、6は波形整形用インバーター、10は遅延調整用イ
ンバーター列、7は出力バッファー、22は出力端子、
23は遅延調整用インバータ列10の入力端子、24は
遅延調整用インバーター列10の出力端子である。
調整セルの回路図である。図1において、21は入力端
子、6は波形整形用インバーター、10は遅延調整用イ
ンバーター列、7は出力バッファー、22は出力端子、
23は遅延調整用インバータ列10の入力端子、24は
遅延調整用インバーター列10の出力端子である。
【0021】出力バッファー7は、一定負荷確保用イン
バーター8と駆動能力確保用のインバーター9からな
る。
バーター8と駆動能力確保用のインバーター9からな
る。
【0022】遅延調整用インバーター列10は、第1の
遅延調整用インバーター群11と第2の遅延調整用イン
バーター群12からなり、第1の遅延調整用インバータ
ー群11は、1段目インバーター13、2段目インバー
ター14、n−1段目インバーター15、n段目インバ
ーター16(第1の遅延調整用インバーター13、1
4、15、16)を含み、第2の遅延調整用インバータ
ー群12は、1段目インバーター17、2段目インバー
ター18、n−1段目インバーター19、n段目インバ
ーター20(第2の遅延調整用インバーター17、1
8、19、20)を含んでいる。
遅延調整用インバーター群11と第2の遅延調整用イン
バーター群12からなり、第1の遅延調整用インバータ
ー群11は、1段目インバーター13、2段目インバー
ター14、n−1段目インバーター15、n段目インバ
ーター16(第1の遅延調整用インバーター13、1
4、15、16)を含み、第2の遅延調整用インバータ
ー群12は、1段目インバーター17、2段目インバー
ター18、n−1段目インバーター19、n段目インバ
ーター20(第2の遅延調整用インバーター17、1
8、19、20)を含んでいる。
【0023】遅延調整用インバーター列10において、
入力端子23からn段あるインバータ列の各段で、第1
の遅延調整用インバーター群11に含まれるインバータ
ーか、第2の遅延調整用インバーター群12に含まれる
インバーターのいずれかを介して次段のインバーターと
接続される。1段目であれば、入力端子23からインバ
ーター13もしくはインバーター17のいずれかの入力
端子まで配線を引き接続する。2段目は、1段目で選択
したインバーターの出力端子からインバーター14もし
くはインバーター18のいずれかの入力端子まで配線を
引き接続する。これをn段目まで繰り返し、n段目のイ
ンバーターの出力端子から出力端子24まで配線を引き
接続し、全n段の遅延調整用インバーター列を構成して
いる。
入力端子23からn段あるインバータ列の各段で、第1
の遅延調整用インバーター群11に含まれるインバータ
ーか、第2の遅延調整用インバーター群12に含まれる
インバーターのいずれかを介して次段のインバーターと
接続される。1段目であれば、入力端子23からインバ
ーター13もしくはインバーター17のいずれかの入力
端子まで配線を引き接続する。2段目は、1段目で選択
したインバーターの出力端子からインバーター14もし
くはインバーター18のいずれかの入力端子まで配線を
引き接続する。これをn段目まで繰り返し、n段目のイ
ンバーターの出力端子から出力端子24まで配線を引き
接続し、全n段の遅延調整用インバーター列を構成して
いる。
【0024】ここで、遅延調整用インバーター列10の
内部の第1の遅延調整用インバーター群の第1の遅延調
整用インバーター13〜16は、全て同じ遅延時間d
[ns]を有するように設計されている。一方、第2の
遅延調整用インバーター群の第2の遅延調整用インバー
ター17〜20は、それぞれ異なる遅延時間を有するよ
うに設計されており、1段目のインバータ17はd+Δ
d[ns]の遅延時間を有し、2段目のインバータ18
はd+2Δd[ns]の遅延時間を有し、n−1段目の
インバーター19はd+2n-2Δd[ns]の遅延時間
を有し、n段目のインバーター20はd+2n-1Δd
[ns]の遅延時間を有している。
内部の第1の遅延調整用インバーター群の第1の遅延調
整用インバーター13〜16は、全て同じ遅延時間d
[ns]を有するように設計されている。一方、第2の
遅延調整用インバーター群の第2の遅延調整用インバー
ター17〜20は、それぞれ異なる遅延時間を有するよ
うに設計されており、1段目のインバータ17はd+Δ
d[ns]の遅延時間を有し、2段目のインバータ18
はd+2Δd[ns]の遅延時間を有し、n−1段目の
インバーター19はd+2n-2Δd[ns]の遅延時間
を有し、n段目のインバーター20はd+2n-1Δd
[ns]の遅延時間を有している。
【0025】波形調整用インバーター6は、遅延調整セ
ルの入力端子21に入力波形の傾き(鈍り)が、遅延調
整用インバーター列10の1段目のインバーター13ま
たは17の遅延時間に影響を及ぼさない様にするために
設けたもので、この波形整形用インバーター6自身の駆
動能力も、遅延調整用インバーター列10の1段目のイ
ンバーター13または17の遅延時間に影響を及ぼさな
い様に設計されている。
ルの入力端子21に入力波形の傾き(鈍り)が、遅延調
整用インバーター列10の1段目のインバーター13ま
たは17の遅延時間に影響を及ぼさない様にするために
設けたもので、この波形整形用インバーター6自身の駆
動能力も、遅延調整用インバーター列10の1段目のイ
ンバーター13または17の遅延時間に影響を及ぼさな
い様に設計されている。
【0026】出力バッファ7の駆動能力確保用インバー
ター9は、遅延調整セルの駆動能力を確保する為に比較
的大きいサイズのインバーターを配置する、この際に大
きいサイズのインバーターが遅延調整用インバーター列
10の最終段のインバーターの大きな負荷となり、遅延
調整用インバーター列10の最終段のインバーターの遅
延時間に影響を及ぼさない様に、遅延調整用インバータ
ー列10の出力端子24と駆動能力確保用インバーター
9の間に一定負荷確保用インバーター8を接続してい
る。この一定負荷確保用インバーター8の入力負荷は、
遅延調整用インバーター列10の最終段のインバーター
に対する負荷が、遅延調整用インバーター列10の最終
段のインバーターの遅延時間に影響を及ぼさない様に設
計されている。
ター9は、遅延調整セルの駆動能力を確保する為に比較
的大きいサイズのインバーターを配置する、この際に大
きいサイズのインバーターが遅延調整用インバーター列
10の最終段のインバーターの大きな負荷となり、遅延
調整用インバーター列10の最終段のインバーターの遅
延時間に影響を及ぼさない様に、遅延調整用インバータ
ー列10の出力端子24と駆動能力確保用インバーター
9の間に一定負荷確保用インバーター8を接続してい
る。この一定負荷確保用インバーター8の入力負荷は、
遅延調整用インバーター列10の最終段のインバーター
に対する負荷が、遅延調整用インバーター列10の最終
段のインバーターの遅延時間に影響を及ぼさない様に設
計されている。
【0027】以上の様に構成された遅延調整セルは、遅
延調整用インバーター列10の各段のインバーターの配
線接続を変更することで、遅延調整用インバーター列1
0の入力端子23から出力端子24までの伝搬遅延時間
を設定することが可能であり、この遅延調整セル全体の
遅延時間である入力端子21から出力端子22までの伝
搬遅延時間を配線層の変更のみで相対的に調整すること
ができる。この際に、遅延調整セルに対する入力波形の
傾きや、出力の負荷により入力端子21から出力端子2
2までの伝搬遅延時間が変化するが、入力波形の傾きに
よる影響は波形整形用インバーター6が、出力の負荷に
よる影響は駆動能力確保用インバーター9が吸収するこ
とにより、遅延調整用インバーター列10の遅延時間に
は影響を及ぼさない構成としている。
延調整用インバーター列10の各段のインバーターの配
線接続を変更することで、遅延調整用インバーター列1
0の入力端子23から出力端子24までの伝搬遅延時間
を設定することが可能であり、この遅延調整セル全体の
遅延時間である入力端子21から出力端子22までの伝
搬遅延時間を配線層の変更のみで相対的に調整すること
ができる。この際に、遅延調整セルに対する入力波形の
傾きや、出力の負荷により入力端子21から出力端子2
2までの伝搬遅延時間が変化するが、入力波形の傾きに
よる影響は波形整形用インバーター6が、出力の負荷に
よる影響は駆動能力確保用インバーター9が吸収するこ
とにより、遅延調整用インバーター列10の遅延時間に
は影響を及ぼさない構成としている。
【0028】また、遅延調整用インバーター列10の遅
延時間の設定値は、1段目からn段目まで全て第1の遅
延調整用インバーター群のインバータを選択して配線接
続した場合のn×d[ns]が最小値であり、1段目か
らn段目まで全て第2の遅延調整インバーター群のイン
バーターを選択して配線接続した場合のn×d+(2 n
−1)Δdが最大値であり、その他のインバーターの選
択による値が中間値となる。これらの選択の組合せは2
n通り存在し、最小値n×d[ns]から最大値n×d
+(2n−1)Δd[ns]までの遅延値をΔd[n
s]刻みで選択設定することができる。
延時間の設定値は、1段目からn段目まで全て第1の遅
延調整用インバーター群のインバータを選択して配線接
続した場合のn×d[ns]が最小値であり、1段目か
らn段目まで全て第2の遅延調整インバーター群のイン
バーターを選択して配線接続した場合のn×d+(2 n
−1)Δdが最大値であり、その他のインバーターの選
択による値が中間値となる。これらの選択の組合せは2
n通り存在し、最小値n×d[ns]から最大値n×d
+(2n−1)Δd[ns]までの遅延値をΔd[n
s]刻みで選択設定することができる。
【0029】なお、上記の実施形態の構成では、遅延調
整セルの入力端子21での論理に対する出力端子22で
の論理が、遅延調整用インバーター列10の段数により
変化する。上記の実施形態に対して、遅延調整セルの論
理を反転させたい場合は、以下に示す第2の実施形態、
および第3の実施形態で遅延調整セルを構成する。
整セルの入力端子21での論理に対する出力端子22で
の論理が、遅延調整用インバーター列10の段数により
変化する。上記の実施形態に対して、遅延調整セルの論
理を反転させたい場合は、以下に示す第2の実施形態、
および第3の実施形態で遅延調整セルを構成する。
【0030】(第2の実施形態)以下、本発明の第2の
実施形態について、図面を参照しながら説明する。
実施形態について、図面を参照しながら説明する。
【0031】図2は、本発明の第2の実施形態における
遅延調整セルの回路図である。図2において、第1の実
施形態の構成と異なるのは、論理調整用インバーター2
5を設けた点にあり、他の構成は第1の実施形態と同じ
であるので説明を省略する。
遅延調整セルの回路図である。図2において、第1の実
施形態の構成と異なるのは、論理調整用インバーター2
5を設けた点にあり、他の構成は第1の実施形態と同じ
であるので説明を省略する。
【0032】第1の実施形態の構成に対して、入力端子
21と波形整形用インバーター6の間に論理調整用イン
バーター25を追加することで、遅延調整用インバータ
ー列10の遅延時間に影響を及ぼすこと無く、遅延調整
セルの論理を反転させることができる。波形整形用イン
バーター6に代わり、論理調整用インバーター25が遅
延調整セルに対する入力波形の傾きの影響を受けるが、
その他の動作に関しては、第1の実施形態と同じであ
る。
21と波形整形用インバーター6の間に論理調整用イン
バーター25を追加することで、遅延調整用インバータ
ー列10の遅延時間に影響を及ぼすこと無く、遅延調整
セルの論理を反転させることができる。波形整形用イン
バーター6に代わり、論理調整用インバーター25が遅
延調整セルに対する入力波形の傾きの影響を受けるが、
その他の動作に関しては、第1の実施形態と同じであ
る。
【0033】(第3の実施形態)以下、本発明の第3の
実施形態について、図面を参照しながら説明する。
実施形態について、図面を参照しながら説明する。
【0034】図3は、本発明の第3の実施形態における
遅延調整セルの回路図である。図3において、第1の実
施形態の構成と異なるのは、論理調整用インバーター2
6を設けた点にあり、他の構成は第1の実施形態と同じ
であるので説明を省略する。
遅延調整セルの回路図である。図3において、第1の実
施形態の構成と異なるのは、論理調整用インバーター2
6を設けた点にあり、他の構成は第1の実施形態と同じ
であるので説明を省略する。
【0035】第1の実施形態の構成に対して、一定負荷
確保用インバーター8と駆動能力確保用インバーター9
の間に論理調整用インバーター26を追加することで、
遅延調整用インバーター列10の遅延時間に影響を及ぼ
すこと無く、遅延調整セルの論理を反転させることがで
きる。その他の動作に関しては、第1の実施形態と同じ
である。
確保用インバーター8と駆動能力確保用インバーター9
の間に論理調整用インバーター26を追加することで、
遅延調整用インバーター列10の遅延時間に影響を及ぼ
すこと無く、遅延調整セルの論理を反転させることがで
きる。その他の動作に関しては、第1の実施形態と同じ
である。
【0036】次に、上記実施形態による遅延調整セルを
用いた半導体回路の設計方法について、図面を用いて説
明する。
用いた半導体回路の設計方法について、図面を用いて説
明する。
【0037】図4は、エンベデッドアレイ方式の半導体
回路のチップ構成の一例を示すブロック図である。
回路のチップ構成の一例を示すブロック図である。
【0038】図4において、1はゲートアレイ方式のレ
イアウトブロック、2はRAMブロック、3はROMブ
ロック、4はマイコンコアブロック、5はブロック間配
線で、これらは従来例の構成と同じである。27はタイ
ミング調整対象のブロック間配線、28が遅延調整セル
である。
イアウトブロック、2はRAMブロック、3はROMブ
ロック、4はマイコンコアブロック、5はブロック間配
線で、これらは従来例の構成と同じである。27はタイ
ミング調整対象のブロック間配線、28が遅延調整セル
である。
【0039】エンベデッドアレイ方式の半導体回路の1
回目のレイアウトにおいて、半導体回路中のブロック間
配線5のうち、クロックライン等の信号伝搬遅延がクリ
ティカルになるパスをタイミング調整対象のブロック間
配線27に選出し、そのパスに遅延調整セル28を挿入
する。ここで、遅延調整セル28は、前記最小値n×d
[ns]から最大値n×d+(2n−1)Δd[ns]
の間の調整可能な遅延値のセンター値に設定し、ゲート
アレイ方式のレイアウトブロック1以外のレイアウトブ
ロック(図4では、マイコンコアブロック)付近に配置
する。1回目及び、それ以降のレイアウト結果よりタイ
ミング検証を行い、タイミング調整の必要があった場
合、遅延調整セル28の遅延値を再設定することで、ブ
ロック間配線27のタイミングエラーを修正することが
出来る。
回目のレイアウトにおいて、半導体回路中のブロック間
配線5のうち、クロックライン等の信号伝搬遅延がクリ
ティカルになるパスをタイミング調整対象のブロック間
配線27に選出し、そのパスに遅延調整セル28を挿入
する。ここで、遅延調整セル28は、前記最小値n×d
[ns]から最大値n×d+(2n−1)Δd[ns]
の間の調整可能な遅延値のセンター値に設定し、ゲート
アレイ方式のレイアウトブロック1以外のレイアウトブ
ロック(図4では、マイコンコアブロック)付近に配置
する。1回目及び、それ以降のレイアウト結果よりタイ
ミング検証を行い、タイミング調整の必要があった場
合、遅延調整セル28の遅延値を再設定することで、ブ
ロック間配線27のタイミングエラーを修正することが
出来る。
【0040】このような半導体回路の設計方法は、遅延
調整セル28の内部配線を変更するだけで実現できるた
め、レイアウト上でトランジスタを再配置する必要がな
く、配線層の変更領域も遅延調整セルの領域内で済むの
で、他の信号配線の迂回等を考慮する必要がない。これ
により、エンベデッドアレイ方式の半導体回路の開発に
おいて、ゲートアレイ方式のレイアウトブロックを機能
変更する際に、配線層のみの変更で、回路変更に伴う高
精度のタイミング調整が可能となる。
調整セル28の内部配線を変更するだけで実現できるた
め、レイアウト上でトランジスタを再配置する必要がな
く、配線層の変更領域も遅延調整セルの領域内で済むの
で、他の信号配線の迂回等を考慮する必要がない。これ
により、エンベデッドアレイ方式の半導体回路の開発に
おいて、ゲートアレイ方式のレイアウトブロックを機能
変更する際に、配線層のみの変更で、回路変更に伴う高
精度のタイミング調整が可能となる。
【0041】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
配線層のみの変更により遅延時間の微調整を容易に行う
ことが可能な遅延調整セルを提供することで、エンベデ
ッドアレイ方式の半導体回路の開発において、ブロック
間のタイミング調整が遅延調整セルの内部配線の変更だ
けで対応でき、特にゲートアレイ方式のレイアウトブロ
ックの回路変更にともなう他のブロック間のタイミング
調整において、配線層しか変更できないという制約下
で、精度の高いタイミング調整を容易に行うことができ
るため、動作速度の高い半導体回路の開発にも即座に対
応でき、その開発工数も削減することができるという多
大な効果を奏する。
配線層のみの変更により遅延時間の微調整を容易に行う
ことが可能な遅延調整セルを提供することで、エンベデ
ッドアレイ方式の半導体回路の開発において、ブロック
間のタイミング調整が遅延調整セルの内部配線の変更だ
けで対応でき、特にゲートアレイ方式のレイアウトブロ
ックの回路変更にともなう他のブロック間のタイミング
調整において、配線層しか変更できないという制約下
で、精度の高いタイミング調整を容易に行うことができ
るため、動作速度の高い半導体回路の開発にも即座に対
応でき、その開発工数も削減することができるという多
大な効果を奏する。
【図1】 本発明の第1の実施形態における遅延調整セ
ルの構成を示す回路図
ルの構成を示す回路図
【図2】 本発明の第2の実施形態における遅延調整セ
ルの構成を示す回路図
ルの構成を示す回路図
【図3】 本発明の第3の実施形態における遅延調整セ
ルの構成を示す回路図
ルの構成を示す回路図
【図4】 本発明の遅延調整セルを用いたエンベデッド
アレイ方式の半導体回路のチップ構成を示すブロック図
アレイ方式の半導体回路のチップ構成を示すブロック図
【図5】 従来のエンベデッドアレイ方式の半導体回路
のチップ構成を示すブロック図
のチップ構成を示すブロック図
1 ゲートアレイ方式のレイアウトブロック
2 RAMブロック
3 ROMブロック
4 マイコンコアブロック
5 ブロック間配線
6 波形整形用インバーター
7 出力バッファー
8 一定負荷確保用インバーター
9 駆動能力確保用インバーター
10 遅延調整用インバーター列
11 第1の遅延調整用インバーター群
12 第2の遅延調整用インバーター群
13、14、15、16 第1の遅延調整用インバータ
ー 17、18、19、20 第2の遅延調整用インバータ
ー 21 入力端子 22 出力端子 23 遅延調整用インバーター列の入力端子 24 遅延調整用インバーター列の出力端子 25 論理調整用インバーター 26 論理調整用インバーター 27 タイミング調整対象のブロック間配線 28 遅延調整セル
ー 17、18、19、20 第2の遅延調整用インバータ
ー 21 入力端子 22 出力端子 23 遅延調整用インバーター列の入力端子 24 遅延調整用インバーター列の出力端子 25 論理調整用インバーター 26 論理調整用インバーター 27 タイミング調整対象のブロック間配線 28 遅延調整セル
Claims (2)
- 【請求項1】 入力信号の波形を整形するための波形整
形用インバーターと、 前記波形整形用インバーターの出力端子に入力端子が接
続され、各々一定の遅延時間を有するn個(nは自然
数)の第1の遅延調整用インバーターを含む第1の遅延
調整用インバーター群と、 前記波形整形用インバーターの出力端子に入力端子が接
続され、各々異なる遅延時間を有し各々前記第1の遅延
調整用インバーターと並列接続されたn個の第2の遅延
調整用インバーターを含む第2の遅延調整用インバータ
ー群と、 前記第1および第2の遅延調整用インバーター群の出力
端子に入力端子が接続され、前記第1及び第2の遅延調
整用インバーター群における最終段の第1及び第2の遅
延調整用インバーターに対する一定負荷確保用インバー
ターと後続の回路に対する駆動能力確保用インバーター
の2段のインバーターを含む出力バッファーとを備え、前記第1の遅延調整用インバーターは各々、遅延時間d
を有し、前記第2の遅延調整用インバーターは各々、遅
延時間d+Δdからd+2 n-1 Δdを有し、 前記並列接
続された第1の遅延調整用インバーターと第2の遅延調
整用インバーターのいずれかを配線変更により選択し、
Δd刻みに遅延時間の調整を行うことを特徴とする遅延
調整セル。 - 【請求項2】 ゲートアレイ方式のレイアウトブロック
と、該レイアウトブロックと所定のブロックの間に配置
された遅延調整セルとを含むエンベデッド方式の半導体
回路の設計方法であって、前記遅延調整セルは、 入力信号の波形を整形するための波形整形用インバータ
ーと、 前記波形整形用インバーターの出力端子に入力端子が接
続され、各々一定の遅延時間を有するn個(nは自然
数)の第1の遅延調整用インバーターを含む第1の遅延
調整用インバーター群と、 前記波形整形用インバーターの出力端子に入力端子が接
続され、各々異なる遅延時間を有し各々前記第1の遅延
調整用インバーターと並列接続されたn個の第2の遅延
調整用インバーターを含む第2の遅延調整用インバータ
ー群と、 前記第1および第2の遅延調整用インバーター群の出力
端子に入力端子が接続され、前記第1及び第2の遅延調
整用インバーター群における最終段の第1及び第2の遅
延調整用インバーターに対する一定負荷確保用インバー
ターと後続の回路に対する駆動能力確保用インバーター
の2段のインバーターを含む出力バッファーとを備え、前記第1の遅延調整用インバーターは各々、遅延時間d
を有し、前記第2の遅延調整用インバーターは各々、遅
延時間d+Δdからd+2 n-1 Δdを有し、 前記レイア
ウトブロックの機能変更を行う際に、前記並列接続され
た第1の遅延調整用インバーターと第2の遅延調整用イ
ンバーターのいずれかを配線層の変更により選択し、所
定の信号パスに対してΔd刻みに遅延時間のタイミング
調整を行うことを特徴とする半導体回路の設計方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33021699A JP3441413B2 (ja) | 1999-11-19 | 1999-11-19 | 遅延調整セルおよびそれを用いた半導体回路の設計方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33021699A JP3441413B2 (ja) | 1999-11-19 | 1999-11-19 | 遅延調整セルおよびそれを用いた半導体回路の設計方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001148424A JP2001148424A (ja) | 2001-05-29 |
JP3441413B2 true JP3441413B2 (ja) | 2003-09-02 |
Family
ID=18230157
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP33021699A Expired - Fee Related JP3441413B2 (ja) | 1999-11-19 | 1999-11-19 | 遅延調整セルおよびそれを用いた半導体回路の設計方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3441413B2 (ja) |
-
1999
- 1999-11-19 JP JP33021699A patent/JP3441413B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2001148424A (ja) | 2001-05-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6278311B1 (en) | Method for minimizing instantaneous currents when driving bus signals | |
US7791381B2 (en) | Semiconductor integrated circuit | |
US7382170B2 (en) | Programmable delay circuit having reduced insertion delay | |
JP3441413B2 (ja) | 遅延調整セルおよびそれを用いた半導体回路の設計方法 | |
JP3469006B2 (ja) | 半導体集積回路及びその設計方法 | |
US5493506A (en) | Integrated circuit device and method of designing same | |
JP2701779B2 (ja) | クロックスキュー低減方法 | |
JPH10190445A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
US7969220B2 (en) | Delay circuit | |
JP2005116793A (ja) | 半導体集積回路及びそのクロック配線方法 | |
JPH11163694A (ja) | 遅延調整方法および遅延調整回路 | |
JPH09331242A (ja) | 異相信号間の相対スキュー制御方法 | |
JP2000082745A (ja) | 半導体装置 | |
JPH05121550A (ja) | 半導体集積回路 | |
JP3331712B2 (ja) | 半導体装置 | |
JPH06197007A (ja) | 入力バッファ | |
JP2000029562A (ja) | 半導体集積回路及びクロック供給回路の設計方法 | |
JPH10275862A (ja) | クロック・ツリー構造 | |
JPH08335670A (ja) | 駆動回路、及び半導体集積回路 | |
JP2689533B2 (ja) | Cmosバッファ回路 | |
JP2000294651A (ja) | クロックスキュー低減レイアウト方法 | |
JPH10254577A (ja) | 画像信号処理装置 | |
JPH1065106A (ja) | 集積回路のクロック分配回路 | |
JPH05218363A (ja) | Eclゲートアレー | |
JPH04217345A (ja) | 半導体装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |