JP3440393B2 - 光沢スイッチ及び検出スイッチ - Google Patents
光沢スイッチ及び検出スイッチInfo
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- Electronic Switches (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光電スイッチや光沢スイ
ッチ，磁気スイッチ，超音波スイッチ等の電子的な検出
スイッチに関するものである。
ッチ，磁気スイッチ，超音波スイッチ等の電子的な検出
スイッチに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来電子スイッチ、例えば光電スイッチ
等では、物体の有無を判別するため光を物体検知領域に
照射し、その反射光のレベルに基づいて物体の有無を判
別している。そして物体と背景又は２つの物体を識別す
るためには、あらかじめティーチングを行い、検出すべ
き物体を所定の位置に配置した状態でその反射光のレベ
ルを判別して一旦保持し、更にこれと識別する背景や他
の物体を配置した状態でティーチングを行ってその入力
レベルを保持し、それらの中間値に閾値を設定して実際
の物体の有無を判別するように構成されている。
等では、物体の有無を判別するため光を物体検知領域に
照射し、その反射光のレベルに基づいて物体の有無を判
別している。そして物体と背景又は２つの物体を識別す
るためには、あらかじめティーチングを行い、検出すべ
き物体を所定の位置に配置した状態でその反射光のレベ
ルを判別して一旦保持し、更にこれと識別する背景や他
の物体を配置した状態でティーチングを行ってその入力
レベルを保持し、それらの中間値に閾値を設定して実際
の物体の有無を判別するように構成されている。
【０００３】図９（ａ）は従来の２つの入力レベルＶ
１，Ｖ２とそのばらつき範囲を示しており、更にこの入
力レベルに基づいて設定した検出レベルＶthon，非検出
レベルＶthoff 及びその上下に設定される安定検出レベ
ルＶston，安定非検出レベルＶstoff を示している。従
来の閾値の設定方法では、２つの入力レベルＶ１とＶ２
の中間点に相加平均（Ｖ１＋Ｖ２）／２の中心値Ｖc を
設定し、その上下に同一の幅でヒステリシス幅を設けて
検出レベルＶthon，非検出レベルＶthoff を設定し、更
にその上下に同一の幅で安定検出レベルＶstonと非安定
検出レベルＶstoff とを設定するようにしていた。
１，Ｖ２とそのばらつき範囲を示しており、更にこの入
力レベルに基づいて設定した検出レベルＶthon，非検出
レベルＶthoff 及びその上下に設定される安定検出レベ
ルＶston，安定非検出レベルＶstoff を示している。従
来の閾値の設定方法では、２つの入力レベルＶ１とＶ２
の中間点に相加平均（Ｖ１＋Ｖ２）／２の中心値Ｖc を
設定し、その上下に同一の幅でヒステリシス幅を設けて
検出レベルＶthon，非検出レベルＶthoff を設定し、更
にその上下に同一の幅で安定検出レベルＶstonと非安定
検出レベルＶstoff とを設定するようにしていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながらこのよう
な従来の検出スイッチにおける閾値の設定方法では、最
適な閾値が設定されたものではなかった。これは２つの
入力レベルのばらつきが生じるが、そのばらつきのレベ
ルは入力レベルに依存しており、入力レベルが高ければ
ばらつきも大きい。ここで第１，第２の入力データＶ
１，Ｖ２のばらつき範囲を図９において夫々Ｖ１ｄ，Ｖ
２ｄとする。このようなばらつきを考えると、このよう
な入力レベルＶ１のばらつきの上限値と非検出レベルＶ
thoff のレベルの差ａ１と、入力レベルＶ２のばらつき
の下限値と検出レベルＶthonの差ａ２との差が大きかっ
た。又入力レベルＶ１のばらつきの上限値と安定非検出
レベルＶstoff のレベルの差ｂ１と、入力レベルＶ２の
ばらつきの下限値と安定検出レベルＶstonのレベル差ｂ
２の差も大きい。従って入力レベルのばらつきに対して
閾値の設定が不適当であるという欠点があった。このた
め実質的な余裕度が等しくなく、適切な閾値の設定レベ
ルでないという欠点があった。
な従来の検出スイッチにおける閾値の設定方法では、最
適な閾値が設定されたものではなかった。これは２つの
入力レベルのばらつきが生じるが、そのばらつきのレベ
ルは入力レベルに依存しており、入力レベルが高ければ
ばらつきも大きい。ここで第１，第２の入力データＶ
１，Ｖ２のばらつき範囲を図９において夫々Ｖ１ｄ，Ｖ
２ｄとする。このようなばらつきを考えると、このよう
な入力レベルＶ１のばらつきの上限値と非検出レベルＶ
thoff のレベルの差ａ１と、入力レベルＶ２のばらつき
の下限値と検出レベルＶthonの差ａ２との差が大きかっ
た。又入力レベルＶ１のばらつきの上限値と安定非検出
レベルＶstoff のレベルの差ｂ１と、入力レベルＶ２の
ばらつきの下限値と安定検出レベルＶstonのレベル差ｂ
２の差も大きい。従って入力レベルのばらつきに対して
閾値の設定が不適当であるという欠点があった。このた
め実質的な余裕度が等しくなく、適切な閾値の設定レベ
ルでないという欠点があった。
【０００５】本発明はこのような従来の問題点に鑑みて
なされたものであって、適切な閾値を設定することがで
きる検出スイッチを提供することを目的とする。
なされたものであって、適切な閾値を設定することがで
きる検出スイッチを提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本願の請求項１の発明
は、光沢状態に対応したレベルを検出する検出手段と、
閾値設定モードにおいて識別すべき二つの物理状態に対
して前記検出手段から得られる第１，第２の入力レベル
をあらかじめ入力し、その入力レベルに基づいた閾値を
設定する閾値設定手段と、検出モードにおいて前記閾値
設定手段によって設定された閾値と前記検出手段からの
入力とを比較することにより、前記二つの状態を識別す
る弁別手段と、を具備する光沢スイッチにおいて、前記
閾値設定手段は、前記第１の入力レベルと第２の入力レ
ベルとの間に閾値オンレベルと閾値オフレベルとを設定
し、該閾値オンレベルと閾値オフレベルの中心値を前記
第１，第２の入力レベルの相乗平均値としたことを特徴
とするものである。
は、光沢状態に対応したレベルを検出する検出手段と、
閾値設定モードにおいて識別すべき二つの物理状態に対
して前記検出手段から得られる第１，第２の入力レベル
をあらかじめ入力し、その入力レベルに基づいた閾値を
設定する閾値設定手段と、検出モードにおいて前記閾値
設定手段によって設定された閾値と前記検出手段からの
入力とを比較することにより、前記二つの状態を識別す
る弁別手段と、を具備する光沢スイッチにおいて、前記
閾値設定手段は、前記第１の入力レベルと第２の入力レ
ベルとの間に閾値オンレベルと閾値オフレベルとを設定
し、該閾値オンレベルと閾値オフレベルの中心値を前記
第１，第２の入力レベルの相乗平均値としたことを特徴
とするものである。
【０００７】
【０００８】本願の請求項２の発明は、物理状態に対応
したレベルを検出する検出手段と、閾値設定モードにお
いて識別すべき二つの物理状態に対して前記検出手段か
ら得られる第１，第２の入力レベルをあらかじめ入力
し、その入力レベルに基づいた閾値を設定する閾値設定
手段と、検出モードにおいて前記閾値設定手段によって
設定された閾値と前記検出手段からの入力とを比較する
ことにより、前記二つの状態を識別する弁別手段と、を
具備する検出スイッチにおいて、前記閾値設定手段は、
前記第１の入力レベルと第２の入力レベルとの間に閾値
オンレベルと閾値オフレベルとを設定し、該閾値オンレ
ベルと閾値オフレベルの中心値を前記第１，第２の入力
レベルの相乗平均値とし、閾値オンレベルと該中心値及
び閾値オフレベルと該中心値までのレベル差を前記入力
レベルの比で振り分けて設定することを特徴とするもの
である。
したレベルを検出する検出手段と、閾値設定モードにお
いて識別すべき二つの物理状態に対して前記検出手段か
ら得られる第１，第２の入力レベルをあらかじめ入力
し、その入力レベルに基づいた閾値を設定する閾値設定
手段と、検出モードにおいて前記閾値設定手段によって
設定された閾値と前記検出手段からの入力とを比較する
ことにより、前記二つの状態を識別する弁別手段と、を
具備する検出スイッチにおいて、前記閾値設定手段は、
前記第１の入力レベルと第２の入力レベルとの間に閾値
オンレベルと閾値オフレベルとを設定し、該閾値オンレ
ベルと閾値オフレベルの中心値を前記第１，第２の入力
レベルの相乗平均値とし、閾値オンレベルと該中心値及
び閾値オフレベルと該中心値までのレベル差を前記入力
レベルの比で振り分けて設定することを特徴とするもの
である。
【０００９】本願の請求項３の発明は、物理状態に対応
したレベルを検出する検出手段と、閾値設定モードにお
いて識別すべき二つの物理状態に対して前記検出手段か
ら得られる第１，第２の入力レベルをあらかじめ入力
し、その入力レベルに基づいた閾値を設定する閾値設定
手段と、検出モードにおいて前記閾値設定手段によって
設定された閾値と前記検出手段からの入力とを比較する
ことにより、前記二つの状態を識別する弁別手段と、を
具備する検出スイッチにおいて、前記閾値設定手段は、
前記第１の入力レベルと第２の入力レベルとの間に閾値
オンレベルと閾値オフレベルとを設定し、該閾値オンレ
ベルと閾値オフレベルの中心値を前記第１，第２の入力
レベルの相加平均値より低いレベルとし、閾値オンレベ
ルとこれに近い第１，第２のいずれかの入力レベルとの
差と、閾値オフレベルと他方の入力レベルとの差を夫々
その入力レベルの比で振り分けるように閾値オンレベル
及び閾値オフレベルを設定したことを特徴とするもので
ある。
したレベルを検出する検出手段と、閾値設定モードにお
いて識別すべき二つの物理状態に対して前記検出手段か
ら得られる第１，第２の入力レベルをあらかじめ入力
し、その入力レベルに基づいた閾値を設定する閾値設定
手段と、検出モードにおいて前記閾値設定手段によって
設定された閾値と前記検出手段からの入力とを比較する
ことにより、前記二つの状態を識別する弁別手段と、を
具備する検出スイッチにおいて、前記閾値設定手段は、
前記第１の入力レベルと第２の入力レベルとの間に閾値
オンレベルと閾値オフレベルとを設定し、該閾値オンレ
ベルと閾値オフレベルの中心値を前記第１，第２の入力
レベルの相加平均値より低いレベルとし、閾値オンレベ
ルとこれに近い第１，第２のいずれかの入力レベルとの
差と、閾値オフレベルと他方の入力レベルとの差を夫々
その入力レベルの比で振り分けるように閾値オンレベル
及び閾値オフレベルを設定したことを特徴とするもので
ある。
【００１０】本願の請求項４の発明は、物理状態に対応
したレベルを検出する検出手段と、閾値設定モードにお
いて識別すべき二つの物理状態に対して前記検出手段か
ら得られる第１，第２の入力レベルをあらかじめ入力
し、その入力レベルに基づいた閾値を設定する閾値設定
手段と、検出モードにおいて前記閾値設定手段によって
設定された閾値と前記検出手段からの入力とを比較する
ことにより、前記二つの状態を識別する弁別手段と、を
具備する検出スイッチにおいて、前記閾値設定手段は、
閾値オンレベルと閾値オフレベルとの第１，第２の入力
レベルの相加平均値からのレベル差を入力レベルの逆比
によって振り分けるように閾値オンレベル及び閾値オフ
レベルを設定したことを特徴とするものである。
したレベルを検出する検出手段と、閾値設定モードにお
いて識別すべき二つの物理状態に対して前記検出手段か
ら得られる第１，第２の入力レベルをあらかじめ入力
し、その入力レベルに基づいた閾値を設定する閾値設定
手段と、検出モードにおいて前記閾値設定手段によって
設定された閾値と前記検出手段からの入力とを比較する
ことにより、前記二つの状態を識別する弁別手段と、を
具備する検出スイッチにおいて、前記閾値設定手段は、
閾値オンレベルと閾値オフレベルとの第１，第２の入力
レベルの相加平均値からのレベル差を入力レベルの逆比
によって振り分けるように閾値オンレベル及び閾値オフ
レベルを設定したことを特徴とするものである。
【００１１】本願の請求項５の発明は、物理状態に対応
したレベルを検出する検出手段と、閾値設定モードにお
いて識別すべき二つの物理状態に対して前記検出手段か
ら得られる第１，第２の入力レベルをあらかじめ入力
し、その入力レベルに基づいた閾値を設定する閾値設定
手段と、検出モードにおいて前記閾値設定手段によって
設定された閾値と前記検出手段からの入力とを比較する
ことにより、前記二つの状態を識別する弁別手段と、を
具備する検出スイッチにおいて、前記閾値設定手段は、
前記第１の入力レベルと第２の入力レベルとの間に閾値
オンレベルと閾値オフレベルとを設定し、該閾値オンレ
ベルと閾値オフレベルの中心値を前記第１，第２の入力
レベルの相加平均値より低いレベルとし、閾値オンレベ
ルと閾値オフレベルとを夫々前記第１，第２の入力レベ
ルの定数倍及び該定数の逆数倍のレベルに設定したこと
を特徴とするものである。
したレベルを検出する検出手段と、閾値設定モードにお
いて識別すべき二つの物理状態に対して前記検出手段か
ら得られる第１，第２の入力レベルをあらかじめ入力
し、その入力レベルに基づいた閾値を設定する閾値設定
手段と、検出モードにおいて前記閾値設定手段によって
設定された閾値と前記検出手段からの入力とを比較する
ことにより、前記二つの状態を識別する弁別手段と、を
具備する検出スイッチにおいて、前記閾値設定手段は、
前記第１の入力レベルと第２の入力レベルとの間に閾値
オンレベルと閾値オフレベルとを設定し、該閾値オンレ
ベルと閾値オフレベルの中心値を前記第１，第２の入力
レベルの相加平均値より低いレベルとし、閾値オンレベ
ルと閾値オフレベルとを夫々前記第１，第２の入力レベ
ルの定数倍及び該定数の逆数倍のレベルに設定したこと
を特徴とするものである。
【００１２】本願の請求項６の発明は、光沢状態に対応
したレベルを検出する検出手段と、閾値設定モードにお
いて識別すべき二つの物理状態に対して前記検出手段か
ら得られる第１，第２の入力レベルをあらかじめ入力
し、その入力レベルに基づいた閾値を設定する閾値設定
手段と、検出モードにおいて前記閾値設定手段によって
設定された閾値と前記検出手段からの入力とを比較する
ことにより、前記二つの状態を識別する弁別手段と、を
具備する光沢スイッチにおいて、前記閾値設定手段は、
閾値オンレベルをこれに近い前記第１，第２の入力レベ
ルのいずれか一方の一定割合分低いレベルに設定し、閾
値オフレベルを他方の入力レベルの前記一定割合分高い
レベルに設定したことを特徴とするものである。
したレベルを検出する検出手段と、閾値設定モードにお
いて識別すべき二つの物理状態に対して前記検出手段か
ら得られる第１，第２の入力レベルをあらかじめ入力
し、その入力レベルに基づいた閾値を設定する閾値設定
手段と、検出モードにおいて前記閾値設定手段によって
設定された閾値と前記検出手段からの入力とを比較する
ことにより、前記二つの状態を識別する弁別手段と、を
具備する光沢スイッチにおいて、前記閾値設定手段は、
閾値オンレベルをこれに近い前記第１，第２の入力レベ
ルのいずれか一方の一定割合分低いレベルに設定し、閾
値オフレベルを他方の入力レベルの前記一定割合分高い
レベルに設定したことを特徴とするものである。
【００１３】本願の請求項７，９の発明では、前記閾値
設定手段による閾値オンレベルは物体の検出信号を出力
する検出レベルであり、前記閾値オフレベルは物体の非
検出を出力する非検出レベルであり、前記検出レベルと
安定検出レベルとのレベル差、非検出レベルと安定非検
出レベルとのレベル差を、同一のレベル差となるように
安定検出レベル及び安定非検出レベルを設定する安定レ
ベル検出手段を更に有することを特徴とするるものであ
る。
設定手段による閾値オンレベルは物体の検出信号を出力
する検出レベルであり、前記閾値オフレベルは物体の非
検出を出力する非検出レベルであり、前記検出レベルと
安定検出レベルとのレベル差、非検出レベルと安定非検
出レベルとのレベル差を、同一のレベル差となるように
安定検出レベル及び安定非検出レベルを設定する安定レ
ベル検出手段を更に有することを特徴とするるものであ
る。
【００１４】本願の請求項８，１０の発明では、前記閾
値設定手段による閾値オンレベルは物体を検出信号を出
力する検出レベルであり、前記閾値オフレベルは物体の
非検出を出力する非検出レベルであり、前記検出レベル
と非検出レベルとの上下に、夫々前記第１，第２の入力
レベルのうちより高い入力レベルと他方の入力レベルと
の比で振り分けられた安定検出レベルと安定非検出レベ
ルとを設定する安定レベル設定手段を更に有することを
特徴とするものである。
値設定手段による閾値オンレベルは物体を検出信号を出
力する検出レベルであり、前記閾値オフレベルは物体の
非検出を出力する非検出レベルであり、前記検出レベル
と非検出レベルとの上下に、夫々前記第１，第２の入力
レベルのうちより高い入力レベルと他方の入力レベルと
の比で振り分けられた安定検出レベルと安定非検出レベ
ルとを設定する安定レベル設定手段を更に有することを
特徴とするものである。
【００１５】
【作用】このような特徴を有する本願の請求項１〜１０
の発明によれば、検出レベルや安定検出レベル等の閾値
オンレベルと非検出レベルや安定非検出レベル等の閾値
オフレベルとの中心値を入力レベルの相乗平均値等のレ
ベルに設定している。検出スイッチの多くの検出手段か
らの入力はそのデータのばらつきは入力レベルの絶対値
に対応して大きくなることが多く、このような種々の検
出スイッチからの入力信号に基づいて閾値を設定する場
合に入力レベルのレベルに対応させて閾値を設定するこ
とにより、第１，第２の入力レベルのばらつきに対する
閾値オンレベルとオフレベルの余裕が夫々ほぼ等しくで
きることとなる。
の発明によれば、検出レベルや安定検出レベル等の閾値
オンレベルと非検出レベルや安定非検出レベル等の閾値
オフレベルとの中心値を入力レベルの相乗平均値等のレ
ベルに設定している。検出スイッチの多くの検出手段か
らの入力はそのデータのばらつきは入力レベルの絶対値
に対応して大きくなることが多く、このような種々の検
出スイッチからの入力信号に基づいて閾値を設定する場
合に入力レベルのレベルに対応させて閾値を設定するこ
とにより、第１，第２の入力レベルのばらつきに対する
閾値オンレベルとオフレベルの余裕が夫々ほぼ等しくで
きることとなる。
【００１６】
【実施例】図１は本発明の一実施例による光学式センサ
装置の全体構成を示すブロック図である。本図において
この光学式センサ装置１は信号処理部２とヘッド部３か
ら成り立っている。信号処理部２は所定周期毎に投光素
子４を駆動する投光回路５と、受光素子６，７に接続さ
れたＳ側受光回路８及びＰ側受光回路９を有している。
受光回路８，９は夫々Ｓ偏光成分及びＰ偏光成分の光を
受光する受光回路であって、その出力はマイクロコンピ
ュータ（ＣＰＵ）１０に与えられる。マイクロコンピュ
ータ１０には発振回路１１，電源１２，モード切換スイ
ッチ１３，感度設定ボタン１４が接続され、メモリとし
てＥＥＰＲＯＭ１５，出力回路１６が接続されている。
マイクロコンピュータ１０は後述するようにこれらの入
力に基づいて所定のタイミングで投光回路５を周期的に
駆動し、受光信号によって閾値を設定して物体の表面状
態の変化を検出するものである。出力回路１６は物体を
検知して検出出力を出すと共に、物体検知の安定／非安
定状態を検出して安定／非安定出力を出すものである。
装置の全体構成を示すブロック図である。本図において
この光学式センサ装置１は信号処理部２とヘッド部３か
ら成り立っている。信号処理部２は所定周期毎に投光素
子４を駆動する投光回路５と、受光素子６，７に接続さ
れたＳ側受光回路８及びＰ側受光回路９を有している。
受光回路８，９は夫々Ｓ偏光成分及びＰ偏光成分の光を
受光する受光回路であって、その出力はマイクロコンピ
ュータ（ＣＰＵ）１０に与えられる。マイクロコンピュ
ータ１０には発振回路１１，電源１２，モード切換スイ
ッチ１３，感度設定ボタン１４が接続され、メモリとし
てＥＥＰＲＯＭ１５，出力回路１６が接続されている。
マイクロコンピュータ１０は後述するようにこれらの入
力に基づいて所定のタイミングで投光回路５を周期的に
駆動し、受光信号によって閾値を設定して物体の表面状
態の変化を検出するものである。出力回路１６は物体を
検知して検出出力を出すと共に、物体検知の安定／非安
定状態を検出して安定／非安定出力を出すものである。
【００１７】次にヘッド部３の構成について説明する。
信号処理部２とヘッド部３との間は３本の光ファイバ２
１〜２３で接続される。光ファイバ２１は投光素子４に
一端が接続された投光用の光ファイバであって、そのヘ
ッド側端部にはフィルタ２４を介してレンズ２５が配置
される。フィルタ２４はＳ偏光成分のみを出力する偏光
フィルタである。そして受光側にはこの照射された光の
反射光を受光する位置に偏光ビームスプリッタ２６が配
置される。偏光ビームスプリッタ２６は受光した光をＳ
偏光成分とＰ偏光成分とに分離するビームスプリッタで
あり、Ｓ偏光成分は受光用光ファイバ２２に、Ｐ偏光成
分は受光用光ファイバ２３に入射される。受光用光ファ
イバ２２，２３の他端は夫々信号処理部２の受光素子６
及び７に接続されている。
信号処理部２とヘッド部３との間は３本の光ファイバ２
１〜２３で接続される。光ファイバ２１は投光素子４に
一端が接続された投光用の光ファイバであって、そのヘ
ッド側端部にはフィルタ２４を介してレンズ２５が配置
される。フィルタ２４はＳ偏光成分のみを出力する偏光
フィルタである。そして受光側にはこの照射された光の
反射光を受光する位置に偏光ビームスプリッタ２６が配
置される。偏光ビームスプリッタ２６は受光した光をＳ
偏光成分とＰ偏光成分とに分離するビームスプリッタで
あり、Ｓ偏光成分は受光用光ファイバ２２に、Ｐ偏光成
分は受光用光ファイバ２３に入射される。受光用光ファ
イバ２２，２３の他端は夫々信号処理部２の受光素子６
及び７に接続されている。
【００１８】さてモード切換スイッチ１３はランモード
とティーチモードとを切換えるスイッチである。ティー
チモードは、感度設定ボタン１４が投入される毎に一対
の受光素子から得られる受光回路の出力をＡ／Ｄ変換し
てマイクロコンピュータ１０に取込み、その値により後
述する評価関数の係数及び閾値オンレベルと閾値オフレ
ベルを設定するための閾値設定モードである。又ランモ
ードはティーチモードで設定した閾値オンレベル（検出
レベル）及び閾値オフレベル（非検出レベル）と現在の
信号レベルとを比較し、オンオフ信号を出力する検出モ
ードである。
とティーチモードとを切換えるスイッチである。ティー
チモードは、感度設定ボタン１４が投入される毎に一対
の受光素子から得られる受光回路の出力をＡ／Ｄ変換し
てマイクロコンピュータ１０に取込み、その値により後
述する評価関数の係数及び閾値オンレベルと閾値オフレ
ベルを設定するための閾値設定モードである。又ランモ
ードはティーチモードで設定した閾値オンレベル（検出
レベル）及び閾値オフレベル（非検出レベル）と現在の
信号レベルとを比較し、オンオフ信号を出力する検出モ
ードである。
【００１９】次に本実施例の動作についてフローチャー
トを参照しつつ説明する。図２，図３は本実施例の動作
を示すフローチャートである。動作を開始するとまずス
テップ３１において、モード切換スイッチ１３がティー
チモードかどうかをチェックする。ティーチモードであ
れば、ステップ３２に進んで感度設定ボタン１４が押下
されたかどうかをチェックし、押下されるまで待受け
る。ティーチモードでは識別すべき２つの状態とした状
態で感度設定を行う。ここではヘッド部３の前方にワー
ク２７を図１のように配置する。ワーク２７は検知しな
い白紙の白地領域２７ａとその上に貼られた透明のテー
プの領域２７ｂがあり、これらの物体を識別するものと
する。
トを参照しつつ説明する。図２，図３は本実施例の動作
を示すフローチャートである。動作を開始するとまずス
テップ３１において、モード切換スイッチ１３がティー
チモードかどうかをチェックする。ティーチモードであ
れば、ステップ３２に進んで感度設定ボタン１４が押下
されたかどうかをチェックし、押下されるまで待受け
る。ティーチモードでは識別すべき２つの状態とした状
態で感度設定を行う。ここではヘッド部３の前方にワー
ク２７を図１のように配置する。ワーク２７は検知しな
い白紙の白地領域２７ａとその上に貼られた透明のテー
プの領域２７ｂがあり、これらの物体を識別するものと
する。
【００２０】まずワーク２７の白地領域２７ａに投光素
子４からの光を照射できるように配置して感度設定ボタ
ン１４を投入する。感度設定ボタン１４が投入される
と、ステップ３３に進んで投光回路５を介して投光素子
４を駆動する。そうすれば投光用光ファイバ２１を介し
て光が照射され、偏光フィルタ２４を介してＳ偏光成分
の光のみがワーク２７の白地領域２７ａに照射される。
そしてその反射光が偏光ビームスプリッタ２６によりＳ
偏光成分とＰ偏光成分とに分離され、夫々光ファイバ２
２，２３を介して信号処理部２の受光素子６及び７によ
って受光される。この受光された信号はＳ側受光回路
８，Ｐ側受光回路９によって夫々電圧信号に変換され、
マイクロコンピュータ１０内でＡ／Ｄ変換される。マイ
クロコンピュータ１０はステップ３４に進んでＳ偏光成
分及びＰ偏光成分を夫々ＳA ，ＰA として取込む。
子４からの光を照射できるように配置して感度設定ボタ
ン１４を投入する。感度設定ボタン１４が投入される
と、ステップ３３に進んで投光回路５を介して投光素子
４を駆動する。そうすれば投光用光ファイバ２１を介し
て光が照射され、偏光フィルタ２４を介してＳ偏光成分
の光のみがワーク２７の白地領域２７ａに照射される。
そしてその反射光が偏光ビームスプリッタ２６によりＳ
偏光成分とＰ偏光成分とに分離され、夫々光ファイバ２
２，２３を介して信号処理部２の受光素子６及び７によ
って受光される。この受光された信号はＳ側受光回路
８，Ｐ側受光回路９によって夫々電圧信号に変換され、
マイクロコンピュータ１０内でＡ／Ｄ変換される。マイ
クロコンピュータ１０はステップ３４に進んでＳ偏光成
分及びＰ偏光成分を夫々ＳA ，ＰA として取込む。
【００２１】次いでヘッド部３の前方の所定のワーク２
７にテープを貼り付けたテープ領域２７ｂに光が照射さ
れるようにワーク２７を移動し、ステップ３５に進んで
感度設定ボタン１４を再び押下する。そうすると同様に
して投光回路５が駆動され、投光素子４からの光のうち
投光用光ファイバ２１及び偏光フィルタ２４を介してＳ
偏光成分のみがワークの領域Ｂに入射する。この反射光
を偏光ビームスプリッタ２６で分離し、夫々Ｓ偏光成分
ＳB 及びＰ偏光成分ＰB をＡ／Ｄ変換回路を介してマイ
クロコンピュータ１０に取込む（ステップ３７）。そし
てステップ３８に進んで後述するように光沢度ＸをＳ偏
光成分とＰ偏光成分との出力の差によって判別する。又
ステップ３９に進んでＳ偏光成分とＰ偏光成分の光量の
和により光量Ｙを判別する。次いでステップ４０に進ん
でこれらの値を用いて評価関数Ｚを決める係数ａ，ｂを
決定する。次いでステップ４１，４２に進んで検出レベ
ルＶthon及び非検出レベルＶthoff を設定し、次いで安
定検出レベルＶston及び安定非検出レベルＶstoff を設
定する。ＥＥＰＲＯＭ１５に検出レベル，非検出レベ
ル，安定検出レベル，安定非検出レベルと係数ａ，ｂを
書込んで（ステップ４３）、ティーチモードでの処理を
終える。
７にテープを貼り付けたテープ領域２７ｂに光が照射さ
れるようにワーク２７を移動し、ステップ３５に進んで
感度設定ボタン１４を再び押下する。そうすると同様に
して投光回路５が駆動され、投光素子４からの光のうち
投光用光ファイバ２１及び偏光フィルタ２４を介してＳ
偏光成分のみがワークの領域Ｂに入射する。この反射光
を偏光ビームスプリッタ２６で分離し、夫々Ｓ偏光成分
ＳB 及びＰ偏光成分ＰB をＡ／Ｄ変換回路を介してマイ
クロコンピュータ１０に取込む（ステップ３７）。そし
てステップ３８に進んで後述するように光沢度ＸをＳ偏
光成分とＰ偏光成分との出力の差によって判別する。又
ステップ３９に進んでＳ偏光成分とＰ偏光成分の光量の
和により光量Ｙを判別する。次いでステップ４０に進ん
でこれらの値を用いて評価関数Ｚを決める係数ａ，ｂを
決定する。次いでステップ４１，４２に進んで検出レベ
ルＶthon及び非検出レベルＶthoff を設定し、次いで安
定検出レベルＶston及び安定非検出レベルＶstoff を設
定する。ＥＥＰＲＯＭ１５に検出レベル，非検出レベ
ル，安定検出レベル，安定非検出レベルと係数ａ，ｂを
書込んで（ステップ４３）、ティーチモードでの処理を
終える。
【００２２】次に係数ａ，ｂと検出レベル，非検出レベ
ルＶthon，Ｖthoff の設定について説明する。図４は光
沢度が小さい物体及び大きい物体に対する入射光の反射
状態を示す概略図である。本図において入射光をいずれ
か一方の偏光成分、例えばＳ偏光成分を有する光とする
と、図４（ａ）に示す光沢度が小さい物体では偏光方向
が保存された正反射光も得られるが、それ以外にＳ偏光
成分とＰ偏光成分とが夫々等しい拡散反射光のレベルが
高くなる。一方光沢度が大きければ、図４（ｂ）に示す
ようにＰ偏光成分とＳ偏光成分とのレベルが等しい拡散
反射光の全体の光量が低くなり、偏光方向を保存するＳ
偏光の正反射光のレベルが相対的に高くなる。従ってＳ
偏光成分とＰ偏光成分との差から光沢度を検出すること
ができる。
ルＶthon，Ｖthoff の設定について説明する。図４は光
沢度が小さい物体及び大きい物体に対する入射光の反射
状態を示す概略図である。本図において入射光をいずれ
か一方の偏光成分、例えばＳ偏光成分を有する光とする
と、図４（ａ）に示す光沢度が小さい物体では偏光方向
が保存された正反射光も得られるが、それ以外にＳ偏光
成分とＰ偏光成分とが夫々等しい拡散反射光のレベルが
高くなる。一方光沢度が大きければ、図４（ｂ）に示す
ようにＰ偏光成分とＳ偏光成分とのレベルが等しい拡散
反射光の全体の光量が低くなり、偏光方向を保存するＳ
偏光の正反射光のレベルが相対的に高くなる。従ってＳ
偏光成分とＰ偏光成分との差から光沢度を検出すること
ができる。
【００２３】ここではワークが図１に示すように、光沢
度の小さい面２７ａと光沢度の大きい面２７ｂとを有
し、これらを識別するものとしているが、一般的には識
別すべき２つの物理状態となるように、例えば検出物体
（Ａ）に光を照射したときと非検出物体（Ｂ）に光を照
射し、これらを識別するために係数と閾値を設定するも
のとする。そしてワークの面ＡでのＳ偏光成分の入力値
をＳA ，Ｐ偏光成分をＰA とする。又ワークの面Ｂでの
Ｓ偏光成分をＳB ，Ｐ偏光成分をＰB とする。このとき
光沢度ＸA ，ＸB 反射光量ＹA ，ＹB を以下のように定
義する。 ＸA ＝ＳA −ＰA ＸB ＝ＳB −ＰB ＹA ＝ＳA ＋ＰA ＹB ＝ＳB ＋ＰB 次いでワークの面Ａ，Ｂの光沢差ＸS ，光量差ＹS を次
式で定義する。
度の小さい面２７ａと光沢度の大きい面２７ｂとを有
し、これらを識別するものとしているが、一般的には識
別すべき２つの物理状態となるように、例えば検出物体
（Ａ）に光を照射したときと非検出物体（Ｂ）に光を照
射し、これらを識別するために係数と閾値を設定するも
のとする。そしてワークの面ＡでのＳ偏光成分の入力値
をＳA ，Ｐ偏光成分をＰA とする。又ワークの面Ｂでの
Ｓ偏光成分をＳB ，Ｐ偏光成分をＰB とする。このとき
光沢度ＸA ，ＸB 反射光量ＹA ，ＹB を以下のように定
義する。 ＸA ＝ＳA −ＰA ＸB ＝ＳB −ＰB ＹA ＝ＳA ＋ＰA ＹB ＝ＳB ＋ＰB 次いでワークの面Ａ，Ｂの光沢差ＸS ，光量差ＹS を次
式で定義する。
【数１】
こうすればＸS ，ＹS は夫々０〜１００の値をとる。そ
して光沢度Ｘ，光量Ｙに対して評価関数Ｚを次式により
定める。 Ｚ＝ａＸ＋ｂＹ ここで光沢差ＸS ，光量差ＹS から係数ａ，ｂを次式で
定める。
して光沢度Ｘ，光量Ｙに対して評価関数Ｚを次式により
定める。 Ｚ＝ａＸ＋ｂＹ ここで光沢差ＸS ，光量差ＹS から係数ａ，ｂを次式で
定める。
【数２】
こうして得られた評価値Ｚは２つのワークの面Ａ，Ｂに
夫々光を入射したときに得られる評価値を第１，第２の
入力レベルＶ１，Ｖ２とする。これらの値から検出レベ
ルＶthon及び非検出レベルＶthoff を定める。
夫々光を入射したときに得られる評価値を第１，第２の
入力レベルＶ１，Ｖ２とする。これらの値から検出レベ
ルＶthon及び非検出レベルＶthoff を定める。
【００２４】図５（ａ）は第１実施例における閾値の設
定を示す概略図である。本図においてティーチングによ
って得られた２つの入力レベルＶ１とＶ２とによって閾
値を設定する場合について説明する。まず仮想的な中心
値として２つの入力レベルＶ１とＶ２との相加平均より
低いレベル、例えば相乗平均値を設定する。これは図５
（ａ）に示す零レベルからみて中心値Ｖcengまでのレベ
ルの比を等しくすることと等価である。即ちＶ１：Ｖce
ng＝Ｖceng：Ｖ２が成り立つ中心値Ｖcengを設定する。
こうすればＶcengはＶ１，Ｖ２の相乗平均値√（Ｖ１・
Ｖ２）となる。そしてこの中心値Ｖcengに対して同一の
幅の余裕度をもって閾値ＶthonとＶthoff とを設定す
る。ここでＶH はヒステリシス幅を示しており、ヒステ
リシス幅を等分したものである。従って閾値ＶthonとＶ
thoff は次式で示される。 Ｖthon ＝Ｖceng＋ＶH ／２ Ｖthoff ＝Ｖceng−ＶH ／２
定を示す概略図である。本図においてティーチングによ
って得られた２つの入力レベルＶ１とＶ２とによって閾
値を設定する場合について説明する。まず仮想的な中心
値として２つの入力レベルＶ１とＶ２との相加平均より
低いレベル、例えば相乗平均値を設定する。これは図５
（ａ）に示す零レベルからみて中心値Ｖcengまでのレベ
ルの比を等しくすることと等価である。即ちＶ１：Ｖce
ng＝Ｖceng：Ｖ２が成り立つ中心値Ｖcengを設定する。
こうすればＶcengはＶ１，Ｖ２の相乗平均値√（Ｖ１・
Ｖ２）となる。そしてこの中心値Ｖcengに対して同一の
幅の余裕度をもって閾値ＶthonとＶthoff とを設定す
る。ここでＶH はヒステリシス幅を示しており、ヒステ
リシス幅を等分したものである。従って閾値ＶthonとＶ
thoff は次式で示される。 Ｖthon ＝Ｖceng＋ＶH ／２ Ｖthoff ＝Ｖceng−ＶH ／２
【００２５】次に第２実施例による閾値の設定について
図５（ｂ）を用いて説明する。第２実施例では仮想的な
中心値Ｖcengは第１実施例と同様に相乗平均値とし、そ
のヒステリシス幅もＶH とする。そしてこのヒステリシ
ス幅を比例配分によって分配する。即ちＶcengからＶth
onまでをＶHaとし、ＶcengからＶthoff までＶHbとし、
Ｖthon，Ｖthoff を次式で設定する。 ＶH ＝ＶHa＋ＶHb Ｖthon ＝Ｖceng＋ＶHa＝Ｖceng＋ＶH ×Ｖ２／（Ｖ１
＋Ｖ２） Ｖthoff ＝Ｖceng＋ＶHb＝Ｖceng−ＶH ×Ｖ１／（Ｖ１
＋Ｖ２） とする。こうすればヒステリシス幅ＶH を入力レベルＶ
１，Ｖ２に応じて分配することができるため、閾値をよ
り適切な値に設定することができる。
図５（ｂ）を用いて説明する。第２実施例では仮想的な
中心値Ｖcengは第１実施例と同様に相乗平均値とし、そ
のヒステリシス幅もＶH とする。そしてこのヒステリシ
ス幅を比例配分によって分配する。即ちＶcengからＶth
onまでをＶHaとし、ＶcengからＶthoff までＶHbとし、
Ｖthon，Ｖthoff を次式で設定する。 ＶH ＝ＶHa＋ＶHb Ｖthon ＝Ｖceng＋ＶHa＝Ｖceng＋ＶH ×Ｖ２／（Ｖ１
＋Ｖ２） Ｖthoff ＝Ｖceng＋ＶHb＝Ｖceng−ＶH ×Ｖ１／（Ｖ１
＋Ｖ２） とする。こうすればヒステリシス幅ＶH を入力レベルＶ
１，Ｖ２に応じて分配することができるため、閾値をよ
り適切な値に設定することができる。
【００２６】次に本発明の第３実施例による閾値の設定
方法について説明する。図５（ｃ）はこの閾値の設定に
ついて示した図である。まず第１，第２の入力レベルＶ
１，Ｖ２のうち高いレベルである第２の入力レベルＶ２
からＶthonまでの幅をａ，Ｖ２より低い第１の入力レベ
ルＶ１からＶthoff までの幅をｂとする。そして入力レ
ベルＶ２，Ｖ１から閾値Ｖthon，Ｖthoff までの夫々の
間隔ａとｂとを、入力レベルの比例配分によって振り分
けて設定したものである。即ちＶthon，Ｖthoff を次式
で設定している。 Ｖthon ＝Ｖ２−ａ＝Ｖ２−ＶA ×Ｖ２／（Ｖ１＋Ｖ
２） Ｖthoff ＝Ｖ１＋ｂ＝Ｖ１＋ＶA ×Ｖ１／（Ｖ１＋Ｖ
２） ここでａとｂの和をＶA とする。このＶA はＶ２−Ｖ１
からヒステリシス幅ＶHを差し引いたものである。
方法について説明する。図５（ｃ）はこの閾値の設定に
ついて示した図である。まず第１，第２の入力レベルＶ
１，Ｖ２のうち高いレベルである第２の入力レベルＶ２
からＶthonまでの幅をａ，Ｖ２より低い第１の入力レベ
ルＶ１からＶthoff までの幅をｂとする。そして入力レ
ベルＶ２，Ｖ１から閾値Ｖthon，Ｖthoff までの夫々の
間隔ａとｂとを、入力レベルの比例配分によって振り分
けて設定したものである。即ちＶthon，Ｖthoff を次式
で設定している。 Ｖthon ＝Ｖ２−ａ＝Ｖ２−ＶA ×Ｖ２／（Ｖ１＋Ｖ
２） Ｖthoff ＝Ｖ１＋ｂ＝Ｖ１＋ＶA ×Ｖ１／（Ｖ１＋Ｖ
２） ここでａとｂの和をＶA とする。このＶA はＶ２−Ｖ１
からヒステリシス幅ＶHを差し引いたものである。
【００２７】次に本発明の第４実施例による閾値の設定
について図６（ａ）を用いて説明する。本実施例では２
つの入力レベルＶ１とＶ２に対してヒステリシス幅をＶ
H とし、相加平均の中心値Ｖcena＝（Ｖ１＋Ｖ２）／２
とする。そしてこの中心値に対して検出レベルＶthonま
での幅をｃ，Ｖthoff までの幅をｄとすると、ｃ＋ｄは
ヒステリシス幅ＶH となる。そしてＶthon，Ｖthoff は
この相加平均による中心値Ｖcenaに対して、ヒステリシ
ス幅ＶH を逆に比例配分して設定する。即ちＶthon，Ｖ
thoff は次式で定められる。 Ｖthon ＝Ｖcena＋ｃ＝Ｖcena＋ＶH ×Ｖ１／（Ｖ１＋
Ｖ２） Ｖthoff ＝Ｖcena−ｄ＝Ｖcena−ＶH ×Ｖ２／（Ｖ１＋
Ｖ２）
について図６（ａ）を用いて説明する。本実施例では２
つの入力レベルＶ１とＶ２に対してヒステリシス幅をＶ
H とし、相加平均の中心値Ｖcena＝（Ｖ１＋Ｖ２）／２
とする。そしてこの中心値に対して検出レベルＶthonま
での幅をｃ，Ｖthoff までの幅をｄとすると、ｃ＋ｄは
ヒステリシス幅ＶH となる。そしてＶthon，Ｖthoff は
この相加平均による中心値Ｖcenaに対して、ヒステリシ
ス幅ＶH を逆に比例配分して設定する。即ちＶthon，Ｖ
thoff は次式で定められる。 Ｖthon ＝Ｖcena＋ｃ＝Ｖcena＋ＶH ×Ｖ１／（Ｖ１＋
Ｖ２） Ｖthoff ＝Ｖcena−ｄ＝Ｖcena−ＶH ×Ｖ２／（Ｖ１＋
Ｖ２）
【００２８】次に本発明の第５実施例による閾値の設定
について説明する。図６（ｂ）は第５実施例による閾値
の設定を示している。この閾値の設定は零レベルからの
値を用いて次式 Ｖ１：Ｖthoff ＝Ｖthon：Ｖ２ が成り立つように、即ち相似となるように設定してい
る。即ちＶthoff ／Ｖ１＝Ｖ２／Ｖthon＝ｋとする。こ
のときＶthonをＶthoff より大きくすることはいうまで
もない。従ってＶthon，Ｖthoff は夫々次式で示され
る。 Ｖthon ＝Ｖ２／ｋ Ｖthoff ＝Ｖ１×ｋ Ｖ２＞Ｖthon＞Ｖthoff ＞Ｖ１ ｋ＞１
について説明する。図６（ｂ）は第５実施例による閾値
の設定を示している。この閾値の設定は零レベルからの
値を用いて次式 Ｖ１：Ｖthoff ＝Ｖthon：Ｖ２ が成り立つように、即ち相似となるように設定してい
る。即ちＶthoff ／Ｖ１＝Ｖ２／Ｖthon＝ｋとする。こ
のときＶthonをＶthoff より大きくすることはいうまで
もない。従ってＶthon，Ｖthoff は夫々次式で示され
る。 Ｖthon ＝Ｖ２／ｋ Ｖthoff ＝Ｖ１×ｋ Ｖ２＞Ｖthon＞Ｖthoff ＞Ｖ１ ｋ＞１
【００２９】次に本発明の第６実施例による閾値の設定
について図６（ｃ）を用いて説明する。この実施例では
検知レベルＶthonはＶ２を１としてこれよりα少ない
値、非検知レベルＶthoff はＶ１を１としてこれよりα
大きい値とする。このαは０＜α＜１の範囲の値とす
る。例えばＶthonとＶ２の95％、Ｖthoff はＶ１の105
％とすると、αは0.05となる。これを一般化すると、次
式で示される。 Ｖthon ＝Ｖ２×（１−α） Ｖthoff ＝Ｖ１×（１＋α）
について図６（ｃ）を用いて説明する。この実施例では
検知レベルＶthonはＶ２を１としてこれよりα少ない
値、非検知レベルＶthoff はＶ１を１としてこれよりα
大きい値とする。このαは０＜α＜１の範囲の値とす
る。例えばＶthonとＶ２の95％、Ｖthoff はＶ１の105
％とすると、αは0.05となる。これを一般化すると、次
式で示される。 Ｖthon ＝Ｖ２×（１−α） Ｖthoff ＝Ｖ１×（１＋α）
【００３０】次にステップ４２における安定検出レベル
Ｖston，安定非検出レベルＶstoffの設定について説明
する。Ｖston，Ｖstoff は前述した第１〜第６実施例と
同様にしてそのヒステリシス幅ＶH や分配値ａ〜ｄ，
ｋ，α等を適宜変更してあらかじめ設定することができ
る。そしてこれに加えて前述した１〜６の方法で説明し
た検出レベルＶthonと非検出レベルＶthoff とを１〜６
の実施例の入力レベルＶ１，Ｖ２，Ｖ１に置き換えて、
これに基づいて１〜６の手法からＶston，Ｖstoff を設
定することもできる。例えば図６（ｄ）に示すようにＶ
thon，Ｖthoff は前述した第１実施例の方法で設定す
る。即ちＶcengを相乗平均値としてこれと等しい幅を上
下にとってヒステリシス幅としてＶthon，Ｖthoff を設
定する。そしてＶthon，Ｖthoff の外側にその和が
ＶH ′となる安定検出レベルと安定非検出レベルとを次
式で設定する。 ＶH ′＝ｅ＋ｆ Ｖston＝Ｖthon＋ｅ＝Ｖthon＋ＶH ′／２ Ｖstoff ＝Ｖthoff −ｆ＝Ｖthoff −ＶH ′／２ こうすれば安定検出レベルと安定非検出レベルとが設定
できることとなる。又その他２〜６の実施例と同一の方
法によって設定することができることはいうまでもな
い。
Ｖston，安定非検出レベルＶstoffの設定について説明
する。Ｖston，Ｖstoff は前述した第１〜第６実施例と
同様にしてそのヒステリシス幅ＶH や分配値ａ〜ｄ，
ｋ，α等を適宜変更してあらかじめ設定することができ
る。そしてこれに加えて前述した１〜６の方法で説明し
た検出レベルＶthonと非検出レベルＶthoff とを１〜６
の実施例の入力レベルＶ１，Ｖ２，Ｖ１に置き換えて、
これに基づいて１〜６の手法からＶston，Ｖstoff を設
定することもできる。例えば図６（ｄ）に示すようにＶ
thon，Ｖthoff は前述した第１実施例の方法で設定す
る。即ちＶcengを相乗平均値としてこれと等しい幅を上
下にとってヒステリシス幅としてＶthon，Ｖthoff を設
定する。そしてＶthon，Ｖthoff の外側にその和が
ＶH ′となる安定検出レベルと安定非検出レベルとを次
式で設定する。 ＶH ′＝ｅ＋ｆ Ｖston＝Ｖthon＋ｅ＝Ｖthon＋ＶH ′／２ Ｖstoff ＝Ｖthoff −ｆ＝Ｖthoff −ＶH ′／２ こうすれば安定検出レベルと安定非検出レベルとが設定
できることとなる。又その他２〜６の実施例と同一の方
法によって設定することができることはいうまでもな
い。
【００３１】図９（ｂ）はこうして設定された閾値オン
レベルである検出レベルＶthon，安定検出レベルＶston
と閾値オフレベルである非検出レベルＶthoff ，安定非
検出レベルＶstoff と２つのレベルとのばらつきの関係
を示す図である。この図に示すように入力レベルＶ１，
Ｖ２はその絶対値に応じたばらつきを生じるものとすれ
ば、従来例と異なり入力レベルＶ１のばらつきの上限値
と非検出レベルＶthoff のレベル差ａ１と、入力レベル
Ｖ２のばらつきの下限値と検出レベルＶthonの差ａ２と
をほぼ一致させることができる。又入力レベルＶ１のば
らつきの上限値と安定非検出レベルＶstoff のレベルの
差ｂ１と、入力レベルＶ２のばらつきの下限値と安定検
出レベルＶstonのレベル差ｂ２もほぼ同一レベルとする
ことができ、適切な閾値の設定が成されていることがわ
かる。
レベルである検出レベルＶthon，安定検出レベルＶston
と閾値オフレベルである非検出レベルＶthoff ，安定非
検出レベルＶstoff と２つのレベルとのばらつきの関係
を示す図である。この図に示すように入力レベルＶ１，
Ｖ２はその絶対値に応じたばらつきを生じるものとすれ
ば、従来例と異なり入力レベルＶ１のばらつきの上限値
と非検出レベルＶthoff のレベル差ａ１と、入力レベル
Ｖ２のばらつきの下限値と検出レベルＶthonの差ａ２と
をほぼ一致させることができる。又入力レベルＶ１のば
らつきの上限値と安定非検出レベルＶstoff のレベルの
差ｂ１と、入力レベルＶ２のばらつきの下限値と安定検
出レベルＶstonのレベル差ｂ２もほぼ同一レベルとする
ことができ、適切な閾値の設定が成されていることがわ
かる。
【００３２】次に図２に示すフローチャートにおいて、
ステップ３１の判断時にモード切換スイッチ１３がラン
モードであれば、図３のステップ５１に進んでＥＥＰＲ
ＯＭから検出レベルＶthon，非検出レベルＶthoff 及び
評価関数Ｚの係数値ａ，ｂを読出す。そしてステップ５
２に進んで投光回路を駆動する。そうすれば投光素子４
より光が光ファイバ２１を介して出射され、偏光フィル
タ２４によってＳ偏光成分のみがワークに照射される。
その反射光がＳ偏光とＰ偏光とに分離して受光素子によ
って受光される。この出力のＡ／Ｄ変換値をマイクロコ
ンピュータ１０に読込む（ステップ５３）。そしてステ
ップ４５に進み、評価関数Ｚの演算を次式に基づいて行
う。 Ｚ＝ａＸ＋ｂＹ そしてステップ５５において検出レベルＶthon，非検出
レベルＶthoff とＺとを比較し、オンオフ信号を出力す
る。そしてステップ５６に進んでモード切換スイッチ１
３がティーチモードかどうかをチェックし、ティーチモ
ードでなければステップ５２に戻って同様の処理を繰り
返す。又ステップ５６においてモード切換スイッチ１３
がティーチモードに設定されていれば、図２のステップ
３２に戻って同様の処理を繰り返し、係数値ａ，ｂと検
出レベルＶthon，非検出レベルＶthoff を設定する。こ
うすれば設定した閾値と評価関数を用いて２つの物体を
識別することができる。ここでマイクロコンピュータ１
０はステップ３１〜４１，４３において後述するように
閾値オンレベルと閾値オフレベルとを設定する閾値設定
手段の機能を達成しており、ステップ４２において検出
の安定／非安定検出レベルを設定する安定レベル設定手
段の機能を達成している。又投光素子４と投光回路５，
ヘッド部３及び受光素子６，７、受光回路８，９とマイ
クロコンピュータ１０のステップ５２〜５４は、物理状
態に対応したレベルを検出する検出手段を構成してい
る。更にマイクロコンピュータ１０はステップ５２〜５
５において入力レベルと閾値とを比較することによっ
て、２つの物理状態を判別する弁別手段の機能を達成し
ている。
ステップ３１の判断時にモード切換スイッチ１３がラン
モードであれば、図３のステップ５１に進んでＥＥＰＲ
ＯＭから検出レベルＶthon，非検出レベルＶthoff 及び
評価関数Ｚの係数値ａ，ｂを読出す。そしてステップ５
２に進んで投光回路を駆動する。そうすれば投光素子４
より光が光ファイバ２１を介して出射され、偏光フィル
タ２４によってＳ偏光成分のみがワークに照射される。
その反射光がＳ偏光とＰ偏光とに分離して受光素子によ
って受光される。この出力のＡ／Ｄ変換値をマイクロコ
ンピュータ１０に読込む（ステップ５３）。そしてステ
ップ４５に進み、評価関数Ｚの演算を次式に基づいて行
う。 Ｚ＝ａＸ＋ｂＹ そしてステップ５５において検出レベルＶthon，非検出
レベルＶthoff とＺとを比較し、オンオフ信号を出力す
る。そしてステップ５６に進んでモード切換スイッチ１
３がティーチモードかどうかをチェックし、ティーチモ
ードでなければステップ５２に戻って同様の処理を繰り
返す。又ステップ５６においてモード切換スイッチ１３
がティーチモードに設定されていれば、図２のステップ
３２に戻って同様の処理を繰り返し、係数値ａ，ｂと検
出レベルＶthon，非検出レベルＶthoff を設定する。こ
うすれば設定した閾値と評価関数を用いて２つの物体を
識別することができる。ここでマイクロコンピュータ１
０はステップ３１〜４１，４３において後述するように
閾値オンレベルと閾値オフレベルとを設定する閾値設定
手段の機能を達成しており、ステップ４２において検出
の安定／非安定検出レベルを設定する安定レベル設定手
段の機能を達成している。又投光素子４と投光回路５，
ヘッド部３及び受光素子６，７、受光回路８，９とマイ
クロコンピュータ１０のステップ５２〜５４は、物理状
態に対応したレベルを検出する検出手段を構成してい
る。更にマイクロコンピュータ１０はステップ５２〜５
５において入力レベルと閾値とを比較することによっ
て、２つの物理状態を判別する弁別手段の機能を達成し
ている。
【００３３】尚前述した実施例は光沢を検出する光沢検
出センサについて説明しているが、投光回路より投光素
子を介して光を物体検知領域に照射し、単一の受光素子
及び受光回路でその反射光のレベルを検出して、２つの
識別すべき状態に対して第１，第２の入力レベルＶ１，
Ｖ２を得て、この間に閾値を設定する通常の光電スイッ
チに適用することができることはいうまでもない。
出センサについて説明しているが、投光回路より投光素
子を介して光を物体検知領域に照射し、単一の受光素子
及び受光回路でその反射光のレベルを検出して、２つの
識別すべき状態に対して第１，第２の入力レベルＶ１，
Ｖ２を得て、この間に閾値を設定する通常の光電スイッ
チに適用することができることはいうまでもない。
【００３４】次に本発明の第７実施例について説明す
る。本実施例による検出スイッチは高周波発振型の近接
スイッチとしたものであり、図７（ａ）にそのブロック
図を示す。本実施例では発振回路６１は共振回路６２を
含んで構成されており、発振出力は周波数カウンタ６３
を介して信号処理回路６４に入力される。信号処理回路
６４は発振周波数の変化に基づいて共振回路６２の近傍
に接近した金属物体を検出するものである。発振周波数
と検出物体までの検出距離Ｌとの関係は図７（ｂ）に示
すように、距離Ｌが近くなれば発振周波数が急激に高く
なるようになっている。このため検出距離ＬｂとＬａと
で夫々発振周波数Ｆａ，Ｆｂを検出して保持し、その間
に閾値を設定するものとする。ここで検出距離にある範
囲のばらつきΔＬを生じるとすると、同一のばらつきの
距離に対してＬａの範囲内の周波数変化ΔＦａがＬｂの
ばらつき範囲の周波数変化ΔＦｂよりも大きくなる。従
って前述した各実施例の方法によって閾値の周波数を設
定すれば、入力のばらつきに対応して適切な検出／非検
出レベル及び安定／非安定検出レベルの閾値を設定する
ことができる。図７（ａ）において感度設定回路６５は
２つの物体を距離Ｌａ，Ｌｂに設定してティーチング入
力を行うための回路であり、これらの入力に基づいて一
旦周波数カウンタ６３の周波数値がメモリ６６に保持さ
れる。そしてそれらの周波数値に基づいて前述した第１
〜第６実施例のように閾値オンレベル，閾値オフレベル
を設定する。こうすればばらつきが生じる物体に対して
も適切な閾値によってその有無を判別することができ
る。
る。本実施例による検出スイッチは高周波発振型の近接
スイッチとしたものであり、図７（ａ）にそのブロック
図を示す。本実施例では発振回路６１は共振回路６２を
含んで構成されており、発振出力は周波数カウンタ６３
を介して信号処理回路６４に入力される。信号処理回路
６４は発振周波数の変化に基づいて共振回路６２の近傍
に接近した金属物体を検出するものである。発振周波数
と検出物体までの検出距離Ｌとの関係は図７（ｂ）に示
すように、距離Ｌが近くなれば発振周波数が急激に高く
なるようになっている。このため検出距離ＬｂとＬａと
で夫々発振周波数Ｆａ，Ｆｂを検出して保持し、その間
に閾値を設定するものとする。ここで検出距離にある範
囲のばらつきΔＬを生じるとすると、同一のばらつきの
距離に対してＬａの範囲内の周波数変化ΔＦａがＬｂの
ばらつき範囲の周波数変化ΔＦｂよりも大きくなる。従
って前述した各実施例の方法によって閾値の周波数を設
定すれば、入力のばらつきに対応して適切な検出／非検
出レベル及び安定／非安定検出レベルの閾値を設定する
ことができる。図７（ａ）において感度設定回路６５は
２つの物体を距離Ｌａ，Ｌｂに設定してティーチング入
力を行うための回路であり、これらの入力に基づいて一
旦周波数カウンタ６３の周波数値がメモリ６６に保持さ
れる。そしてそれらの周波数値に基づいて前述した第１
〜第６実施例のように閾値オンレベル，閾値オフレベル
を設定する。こうすればばらつきが生じる物体に対して
も適切な閾値によってその有無を判別することができ
る。
【００３５】本発明を超音波スイッチに適用した第８実
施例について図８を参照しつつ説明する。本実施例では
発振回路７１より送波回路７２を介して超音波振動子７
３を駆動し、物体を検知する方向に周期的に超音波を送
出している。そして物体が近接すればその検出距離まで
の距離Ｌに対応したレベルで超音波の反射波が受波さ
れ、これを超音波振動子７４を介して受波する。そして
受波増幅回路７５を介して増幅し、積分回路７６を介し
て検出信号として判別する。検出物体までの距離Ｌａと
これより近い位置に距離Ｌａを設定した場合に、音量レ
ベルは図７（ｂ）に示すように距離が近づけば急激に受
波レベルが増加している。そして物体までのティーチン
グの位置のばらつきをいずれもΔＬとすると、このΔＬ
の幅に対応する音量レベルのばらつきは図示のようにΔ
Ｐａ，ΔＰｂのようにΔＰａが大きくなる。従ってこの
場合にも前述した各実施例と同様に閾値オンレベルと閾
値オフレベルを設定することにより、最適の閾値を設定
することができる。図８において積分回路７６の出力は
信号処理回路７７に入力される。信号処理回路７７はこ
のレベルＰａ，Ｐｂを感度設定回路６８から入力がある
毎にメモリ７９に保持し、これに基づいて前述したよう
に閾値を設定する。そしてティーチングが終了すれば検
出モードに入り、実際の物体が接近した状態でその閾値
を用いて弁別し、物体検知信号を出力する。
施例について図８を参照しつつ説明する。本実施例では
発振回路７１より送波回路７２を介して超音波振動子７
３を駆動し、物体を検知する方向に周期的に超音波を送
出している。そして物体が近接すればその検出距離まで
の距離Ｌに対応したレベルで超音波の反射波が受波さ
れ、これを超音波振動子７４を介して受波する。そして
受波増幅回路７５を介して増幅し、積分回路７６を介し
て検出信号として判別する。検出物体までの距離Ｌａと
これより近い位置に距離Ｌａを設定した場合に、音量レ
ベルは図７（ｂ）に示すように距離が近づけば急激に受
波レベルが増加している。そして物体までのティーチン
グの位置のばらつきをいずれもΔＬとすると、このΔＬ
の幅に対応する音量レベルのばらつきは図示のようにΔ
Ｐａ，ΔＰｂのようにΔＰａが大きくなる。従ってこの
場合にも前述した各実施例と同様に閾値オンレベルと閾
値オフレベルを設定することにより、最適の閾値を設定
することができる。図８において積分回路７６の出力は
信号処理回路７７に入力される。信号処理回路７７はこ
のレベルＰａ，Ｐｂを感度設定回路６８から入力がある
毎にメモリ７９に保持し、これに基づいて前述したよう
に閾値を設定する。そしてティーチングが終了すれば検
出モードに入り、実際の物体が接近した状態でその閾値
を用いて弁別し、物体検知信号を出力する。
【００３６】尚本実施例は光電スイッチや光沢スイッ
チ，近接スイッチ，超音波スイッチについて説明してい
るが、本発明は他の種々の検出スイッチに適用すること
ができる。
チ，近接スイッチ，超音波スイッチについて説明してい
るが、本発明は他の種々の検出スイッチに適用すること
ができる。
【００３７】
【発明の効果】以上詳細に説明したように本発明によれ
ば、物体を検出する閾値のオンレベルとオフレベルの中
心値を入力レベルの２つのティーチング時の入力レベル
の相加平均値より低いレベルに設定しているため、入力
レベルのばらつきがその入力レベルの絶対値に比例する
ことが多い種々の信号に対して実質的な余裕度が等しく
なる。従って入力レベルのばらつきに対して安定に検出
することができ、又小さな入力レベルの差を検出するこ
とができるという効果が得られる。
ば、物体を検出する閾値のオンレベルとオフレベルの中
心値を入力レベルの２つのティーチング時の入力レベル
の相加平均値より低いレベルに設定しているため、入力
レベルのばらつきがその入力レベルの絶対値に比例する
ことが多い種々の信号に対して実質的な余裕度が等しく
なる。従って入力レベルのばらつきに対して安定に検出
することができ、又小さな入力レベルの差を検出するこ
とができるという効果が得られる。
【図１】本発明の一実施例による光学式センサ装置の全
体構成を示すブロック図である。
体構成を示すブロック図である。
【図２】本実施例のティーチングモードでの動作を示す
フローチャートである。
フローチャートである。
【図３】本実施例のランモードでの動作を示すフローチ
ャートである。
ャートである。
【図４】光沢度の小さい物体及び大きい物体に一方に偏
光方向を有する光を入射したときの正反射光と拡散反射
光との関係を示す概略図である。
光方向を有する光を入射したときの正反射光と拡散反射
光との関係を示す概略図である。
【図５】（ａ）〜（ｃ）は本発明の第１〜３実施例によ
る検出レベル，非検出レベルの閾値の設定方法を示す図
である。
る検出レベル，非検出レベルの閾値の設定方法を示す図
である。
【図６】（ａ）〜（ｃ）は本発明の第４〜６実施例によ
る検出レベル，非検出レベルの閾値の設定方法を示す
図、（ｄ）は安定検出レベル，安定非検出レベルの閾値
の設定方法を示す図である。
る検出レベル，非検出レベルの閾値の設定方法を示す
図、（ｄ）は安定検出レベル，安定非検出レベルの閾値
の設定方法を示す図である。
【図７】（ａ）は本発明の第７実施例による近接スイッ
チの構成を示すブロック図、（ｂ）は近接スイッチの検
出距離に対する周波数の変化を示すグラフである。
チの構成を示すブロック図、（ｂ）は近接スイッチの検
出距離に対する周波数の変化を示すグラフである。
【図８】（ａ）は本発明の第８実施例による超音波スイ
ッチの構成を示すブロック図、（ｂ）は検出距離に対す
る超音波の音量レベルの変化を示すグラフである。
ッチの構成を示すブロック図、（ｂ）は検出距離に対す
る超音波の音量レベルの変化を示すグラフである。
【図９】（ａ）は従来の入力レベルと閾値との関係、
（ｂ）は本願の第１実施例による入力レベルと閾値との
関係を示す図である。
（ｂ）は本願の第１実施例による入力レベルと閾値との
関係を示す図である。
１ 光学式センサ装置
２ 信号処理部
３ ヘッド部
４ 投光素子
５ 投光回路
６，７ 受光素子
８ Ｓ側受光回路
９ Ｐ側受光回路
１０ マイクロコンピュータ
１１ 発振回路
１２ 電源回路
１３ モード切換スイッチ
１４ 感度設定スイッチ
１５ ＥＥＰＲＯＭ
１６ 出力回路
２１〜２３ 光ファイバ
２４ 偏光フィルタ
２５ レンズ
２６ 偏光ビームスプリッタ
２７ ワーク
６１，７１ 発振回路
６２ 共振回路
６３ 周波数カウンタ
６４，７７ 信号処理回路
６５ 感度設定回路
６６，７９ メモリ
６７，８０ 出力回路
７２ 送波回路
７３，７４ 超音波素子
７５ 受波増幅回路
７６ 積分回路
フロントページの続き
(72)発明者 水畑 伸治
京都府京都市右京区花園土堂町10番地
オムロン株式会社内
(56)参考文献 特開 平２−119420（ＪＰ，Ａ)
特開 平５−7145（ＪＰ，Ａ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
H03K 17/78
Claims (10)
- 【請求項１】 光沢状態に対応したレベルを検出する検
出手段と、 閾値設定モードにおいて識別すべき二つの物理状態に対
して前記検出手段から得られる第１，第２の入力レベル
をあらかじめ入力し、その入力レベルに基づいた閾値を
設定する閾値設定手段と、 検出モードにおいて前記閾値設定手段によって設定され
た閾値と前記検出手段からの入力とを比較することによ
り、前記二つの状態を識別する弁別手段と、を具備する
光沢スイッチにおいて、 前記閾値設定手段は、 前記第１の入力レベルと第２の入力レベルとの間に閾値
オンレベルと閾値オフレベルとを設定し、該閾値オンレ
ベルと閾値オフレベルの中心値を前記第１，第２の入力
レベルの相乗平均値としたことを特徴とする光沢スイッ
チ。 - 【請求項２】 物理状態に対応したレベルを検出する検
出手段と、 閾値設定モードにおいて識別すべき二つの物理状態に対
して前記検出手段から得られる第１，第２の入力レベル
をあらかじめ入力し、その入力レベルに基づいた閾値を
設定する閾値設定手段と、 検出モードにおいて前記閾値設定手段によって設定され
た閾値と前記検出手段からの入力とを比較することによ
り、前記二つの状態を識別する弁別手段と、を具備する
検出スイッチにおいて、 前記閾値設定手段は、 前記第１の入力レベルと第２の入力レベルとの間に閾値
オンレベルと閾値オフレベルとを設定し、該閾値オンレ
ベルと閾値オフレベルの中心値を前記第１，第２の入力
レベルの相乗平均値とし、閾値オンレベルと該中心値及
び閾値オフレベルと該中心値までのレベル差を前記入力
レベルの比で振り分けて設定することを特徴とする検出
スイッチ。 - 【請求項３】 物理状態に対応したレベルを検出する検
出手段と、 閾値設定モードにおいて識別すべき二つの物理状態に対
して前記検出手段から得られる第１，第２の入力レベル
をあらかじめ入力し、その入力レベルに基づいた閾値を
設定する閾値設定手段と、 検出モードにおいて前記閾値設定手段によって設定され
た閾値と前記検出手段からの入力とを比較することによ
り、前記二つの状態を識別する弁別手段と、を具備する
検出スイッチにおいて、 前記閾値設定手段は、 前記第１の入力レベルと第２の入力レベルとの間に閾値
オンレベルと閾値オフレベルとを設定し、該閾値オンレ
ベルと閾値オフレベルの中心値を前記第１，第２の入力
レベルの相加平均値より低いレベルとし、閾値オンレベ
ルとこれに近い第１，第２のいずれかの入力レベルとの
差と、閾値オフレベルと他方の入力レベルとの差を夫々
その入力レベルの比で振り分けるように閾値オンレベル
及び閾値オフレベルを設定したことを特徴とする検出ス
イッチ。 - 【請求項４】 物理状態に対応したレベルを検出する検
出手段と、 閾値設定モードにおいて識別すべき二つの物理状態に対
して前記検出手段から得られる第１，第２の入力レベル
をあらかじめ入力し、その入力レベルに基づいた閾値を
設定する閾値設定手段と、 検出モードにおいて前記閾値設定手段によって設定され
た閾値と前記検出手段からの入力とを比較することによ
り、前記二つの状態を識別する弁別手段と、を具備する
検出スイッチにおいて、 前記閾値設定手段は、 閾値オンレベルと閾値オフレベルとの第１，第２の入力
レベルの相加平均値からのレベル差を入力レベルの逆比
によって振り分けるように閾値オンレベル及び閾値オフ
レベルを設定したことを特徴とする検出スイッチ。 - 【請求項５】 物理状態に対応したレベルを検出する検
出手段と、 閾値設定モードにおいて識別すべき二つの物理状態に対
して前記検出手段から得られる第１，第２の入力レベル
をあらかじめ入力し、その入力レベルに基づいた閾値を
設定する閾値設定手段と、 検出モードにおいて前記閾値設定手段によって設定され
た閾値と前記検出手段からの入力とを比較することによ
り、前記二つの状態を識別する弁別手段と、を具備する
検出スイッチにおいて、 前記閾値設定手段は、 前記第１の入力レベルと第２の入力レベルとの間に閾値
オンレベルと閾値オフレベルとを設定し、該閾値オンレ
ベルと閾値オフレベルの中心値を前記第１，第２の入力
レベルの相加平均値より低いレベルとし、閾値オンレベ
ルと閾値オフレベルとを夫々前記第１，第２の入力レベ
ルの定数倍及び該定数の逆数倍のレベルに設定したもの
であることを特徴とする検出スイッチ。 - 【請求項６】 光沢状態に対応したレベルを検出する検
出手段と、 閾値設定モードにおいて識別すべき二つの物理状態に対
して前記検出手段から得られる第１，第２の入力レベル
をあらかじめ入力し、その入力レベルに基づいた閾値を
設定する閾値設定手段と、 検出モードにおいて前記閾値設定手段によって設定され
た閾値と前記検出手段からの入力とを比較することによ
り、前記二つの状態を識別する弁別手段と、を具備する
光沢スイッチにおいて、 前記閾値設定手段は、 閾値オンレベルをこれに近い前記第１，第２の入力レベ
ルのいずれか一方の一定割合分低いレベルに設定し、閾
値オフレベルを他方の入力レベルの前記一定割合分高い
レベルに設定したものであることを特徴とする光沢スイ
ッチ。 - 【請求項７】 前記閾値設定手段による閾値オンレベル
は物体の検出信号を出力する検出レベルであり、前記閾
値オフレベルは物体の非検出を出力する非検出レベルで
あり、 前記検出レベルと安定検出レベルとのレベル差、非検出
レベルと安定非検出レベルとのレベル差を、同一のレベ
ル差となるように安定検出レベル及び安定非検出レベル
を設定する安定レベル検出手段を更に有するものである
ことを特徴とする請求項２〜５のいずれか１項記載の検
出スイッチ。 - 【請求項８】 前記閾値設定手段による閾値オンレベル
は物体を検出信号を出力する検出レベルであり、前記閾
値オフレベルは物体の非検出を出力する非検出レベルで
あり、 前記検出レベルと非検出レベルとの上下に、夫々前記第
１，第２の入力レベルのうちより高い入力レベルと他方
の入力レベルとの比で振り分けられた安定検出レベルと
安定非検出レベルとを設定する安定レベル設定手段を更
に有するものであることを特徴とする請求項２〜５のい
ずれか１項記載の検出スイッチ。 - 【請求項９】 前記閾値設定手段による閾値オンレベル
は物体の検出信号を出力する検出レベルであり、前記閾
値オフレベルは物体の非検出を出力する非検出レベルで
あり、 前記検出レベルと安定検出レベルとのレベル差、非検出
レベルと安定非検出レベルとのレベル差を、同一のレベ
ル差となるように安定検出レベル及び安定非検出レベル
を設定する安定レベル検出手段を更に有するものである
ことを特徴とする請求項１又は６記載の光沢スイッチ。 - 【請求項１０】 前記閾値設定手段による閾値オンレベ
ルは物体を検出信号を出力する検出レベルであり、前記
閾値オフレベルは物体の非検出を出力する非検出レベル
であり、 前記検出レベルと非検出レベルとの上下に、夫々前記第
１，第２の入力レベルのうちより高い入力レベルと他方
の入力レベルとの比で振り分けられた安定検出レベルと
安定非検出レベルとを設定する安定レベル設定手段を更
に有するものであることを特徴とする請求項１又は６記
載の光沢スイッチ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15838395A JP3440393B2 (ja) | 1995-05-31 | 1995-05-31 | 光沢スイッチ及び検出スイッチ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15838395A JP3440393B2 (ja) | 1995-05-31 | 1995-05-31 | 光沢スイッチ及び検出スイッチ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08330931A JPH08330931A (ja) | 1996-12-13 |
| JP3440393B2 true JP3440393B2 (ja) | 2003-08-25 |
Family
ID=15670524
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15838395A Expired - Fee Related JP3440393B2 (ja) | 1995-05-31 | 1995-05-31 | 光沢スイッチ及び検出スイッチ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3440393B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002357669A (ja) * | 2001-05-31 | 2002-12-13 | Sunx Ltd | 光電センサ |
| JP5052204B2 (ja) * | 2007-05-17 | 2012-10-17 | ホーチキ株式会社 | 開閉センサ |
| JP5469890B2 (ja) * | 2008-04-17 | 2014-04-16 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 熱処理装置 |
| JP5284764B2 (ja) * | 2008-11-30 | 2013-09-11 | ホーチキ株式会社 | 窓開閉検出装置 |
| JP6316233B2 (ja) * | 2015-03-26 | 2018-04-25 | アズビル株式会社 | 光電センサにおける調整モードの切り替え方法 |
-
1995
- 1995-05-31 JP JP15838395A patent/JP3440393B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08330931A (ja) | 1996-12-13 |
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Legal Events
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