JP3432653B2 - フレーム形状測定方式 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は眼鏡フレームのレン
ズ枠の形状を測定するためのフレーム形状測定方式に関
し、特にレンズ枠の傾きに応じて測定値を補正するフレ
ーム形状測定方式に関する。

【０００２】

【従来の技術】スタイラスを使用したフレーム形状の測
定では、通常、眼鏡フレーム保持装置にレンズ枠を水平
にした状態で固定し、このレンズ枠の内側の溝に沿って
スタイラスを移動させるようにしている。そして、この
スタイラスの移動中、微小間隔でスタイラスの位置を検
出することによりレンズ枠形状のデータを得る。このと
き、スタイラスの位置データとしては、レンズ枠の水平
面方向の位置と、上下動方向の位置とが検出される。こ
れは、レンズ枠は必ずしも正確に水平に固定されている
わけではないので、２次元的な測定だけではレンズ枠の
傾きによる誤差を生じるからである。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかし、スタイラスの
上下動方向の位置は、従来は、スタイラスの移動中に水
平面方向の位置と同時に検出していたので、応答性の高
い位置センサを使用する必要があった。このため、位置
センサには、ＣＣＤセンサが用いられていたが、ＣＣＤ
センサは高価であり、構造も複雑になるという問題点が
あった。

【０００４】本発明はこのような点に鑑みてなされたも
のであり、レンズ枠形状の正確な測定を低コストでかつ
簡単な装置構造により行うことのできるフレーム形状測
定方式および測定方法を提供することを目的とする。

【０００５】

【課題を解決するための手段】本発明では上記課題を解
決するために、眼鏡フレームのレンズ枠の形状を測定す
るためのフレーム形状測定方式において、フレーム保持
装置に固定された眼鏡フレームのレンズ枠に沿って移動
可能に取り付けられるスタイラスと、前記スタイラスの
平面方向の移動を制御する平面移動機構部と、前記スタ
イラスの平面方向の位置を所定間隔毎に検出する平面位
置検出手段と、一端側が軸支されて他端側が上下方向に
移動可能に取り付けられるとともに、前記他端側で前記
スタイラスのシャフトを下から支持するスタイラス支持
部材と、前記スタイラス支持部材の他端側に取り付けら
れて前記スタイラスのシャフトの下端部を検出する下端
部検出センサと、前記スタイラス支持部材を上下動させ
る上下動モータと、を有する上下動機構部と、前記平面
移動機構部を制御して前記スタイラスの移動を行うとと
もに、前記平面位置検出手段の検出した前記所定間隔毎
の平面方向の位置に基づいて、前記レンズ枠の２次元形
状を測定する２次元形状測定制御手段と、前記スタイラ
スを平面方向の予め設定された複数の所定停止位置で停
止させ、前記各所定停止位置において、前記上下動モー
タを駆動することにより前記スタイラス支持部材を上下
方向に移動させ、前記移動中に、前記下端部検出センサ
により前記下端部が検出されたときの前記上下動モータ
の移動量に基づいて前記スタイラスの上下動位置を検出
する上下動位置検出手段と、前記複数の所定停止位置に
おいて検出された上下動位置に基づいて、前記測定され
た２次元形状を補正する形状補正手段と、を有すること
を特徴とするフレーム形状測定方式が提供される。

【０００６】このような構成のフレーム形状の測定方式
では、２次元形状測定制御手段が、平面移動機構部を制
御することにより、スタイラスの平面方向の移動を行
い、平面位置検出手段により検出されたスタイラスの平
面方向の所定間隔毎の位置に基づいて、レンズ枠の２次
元形状を測定する。上下動位置検出手段は、スタイラス
を平面方向の予め設定された複数の所定停止位置で停止
させ、各所定停止位置において、上下動モータを駆動す
ることによりスタイラス支持部材を上下方向に移動さ
せ、この移動中、下端部検出センサにより下端部が検出
されたときの上下動モータの現在位置に基づいてスタイ
ラスの上下動位置を検出する。

【０００７】こうして、複数の所定停止位置において検
出された上下動位置に基づいて、形状補正手段は、測定
された２次元形状を補正する。

【０００８】

【発明の実施の形態】以下、本発明の一形態を図面に基
づいて説明する。図１は本形態の機能の概念図である。
眼鏡フレーム１は、上下動機構部２のスタイラス２ａに
よって、そのレンズ枠１ａの形状がトレースされる。上
下動機構部２は、一端が回動自在に取り付けられるとと
もに他端側がスタイラス２ａのシャフトを下から支持す
るスタイラス支持部材２ｂと、スタイラス支持部材２ｂ
の他端側に取り付けられてスタイラス２ａのシャフトの
下端部２ｃを検出する下端部検出センサ２ｄと、スタイ
ラス支持部材２ｂを上下動させる上下動モータ２ｅとか
ら構成される。また、スタイラス２ａは、平面移動機構
部３によって、レンズ枠１ａの平面方向の移動がなされ
る。

【０００９】このような機構において、２次元形状測定
制御手段４は、平面移動機構部３を制御することによ
り、スタイラス２ａの平面方向の移動を行う。このと
き、平面位置検出手段５は、スタイラスの平面方向の位
置を所定間隔毎に検出する。２次元形状測定制御手段４
は、この検出された平面方向の所定間隔毎の位置に基づ
いて、レンズ枠の２次元形状の測定データを生成する。

【００１０】上下動位置検出手段６は、スタイラス２ａ
を平面方向の予め設定された複数の所定停止位置で停止
させ、各所定停止位置において、上下動モータ２ｅを駆
動することによりスタイラス支持部材２ｂを上下方向に
移動させ、この途中、下端部検出センサ２ｄにより下端
部２ｃが検出されたときの上下動モータ２ｅの移動量に
基づいてスタイラス２ａの上下動位置を検出する。

【００１１】こうして、複数の所定停止位置において検
出された上下動位置に基づいて、形状補正手段７は、測
定された２次元形状を補正する。図２は本形態のレンズ
研削装置の外観を示す斜視図である。レンズ研削装置１
０は、主にフレーム形状測定部１１、研削操作部１２、
およびレンズ研削部１３から構成されている。フレーム
形状測定部１１は、形状測定操作パネル１１１、形状測
定機構部１１２、およびフレーム保持レバー１１３を有
している。形状測定機構部１１２は、後述の眼鏡フレー
ム保持装置やトレーサ機構部から構成されている。フレ
ーム保持レバー１１３は、眼鏡フレーム保持装置に測定
用の眼鏡フレームを固定するためのレバーである。眼鏡
用フレームが固定された状態で、形状測定操作パネル１
１１の図示されていないスタートボタンを押すことによ
り、眼鏡用フレームの左右一方のフレーム形状を、後述
の方法により測定することができる。

【００１２】研削操作部１２は、表示パネル１２１およ
び研削操作パネル１２２を有している。表示パネル１２
１は、液晶表示装置（ＬＣＤ）であり、被加工レンズの
加工に必要なデータ入力を行うための様々な画面を表示
する。研削操作パネル１２２は、形状測定機構部１１２
で測定された片側のフレーム形状データに基づいてフレ
ーム幾何学中心距離の測定を行ったり、他のレンズ加工
データを入力または測定するために用いられる。

【００１３】レンズ研削部１３は、最終的に得られた加
工データに基づいて被加工レンズを加工する機構部であ
る。この研削のための操作も研削操作部１２によって行
われる。

【００１４】また、レンズ研削装置１０内には、後述の
制御装置１００が設けられており、フレーム形状測定部
１１全体の制御を行う。図３は形状測定機構部１１２の
概略構成を示す側面図である。形状測定機構部１１２
は、主に、眼鏡フレームを固定するためのフレーム保持
装置２０と、フレーム保持装置２０に固定された眼鏡フ
レームのレンズ枠の形状を測定するトレーサ機構部３０
とから構成されている。

【００１５】フレーム保持装置２０には、基台２１上に
スライド可能なように前側保持部２２および後側保持部
２３が設けられている。これら前側保持部２２および後
側保持部２３の間には、レンズ枠がほぼ水平になるよう
に眼鏡フレームが挟持される。そして、フレーム保持レ
バー１１３が所定の位置に回動されることにより、フレ
ーム形状の測定が可能な状態になる。

【００１６】トレーサ機構部３０は、フレーム保持装置
２０の下方に設けられている。トレーサ機構部３０に
は、図示されていない回転動作機構部により回転制御さ
れる筐体３１が設けられ、この筐体３１内にはスタイラ
スユニット３２が設けられている。スタイラスユニット
３２は、スタイラス３２１を上下動させる機構部であ
る。また、このスタイラスユニット３２は、筐体３１と
ともに回転動作する一方、筐体３１内に設けられたスラ
イド機構部によって、水平面方向にスライド可能となっ
ている。これにより、スタイラスユニット３２は、その
スタイラス３２１によって後述するようなレンズ枠形状
の測定を行う。なお、スタイラスユニット３２の回転動
作機構部やスライド機構部に関しては、一般に使用され
ている技術と同様なので、ここでは説明を省略する。

【００１７】図４はスタイラスユニット３２の具体的な
構成を示す側面図である。また、図５は図４のＸ−Ｘ線
に沿う断面図である。まず、図４に示すように、スタイ
ラスユニット３２の基板４１には、スタイラス支持台４
２が固定され、さらにスタイラス支持台４２を介して、
取り付け板４３，４４が固定されている。スタイラス支
持台４２内部には、図示されていない孔が形成されてお
り、この孔にはベアリングを介してスタイラス４５の軸
４５１が上下動自在に挿入されている。

【００１８】スタイラス４５の軸４５１で下端部４５１
ａよりやや上の部分には、図５に示すように、ベアリン
グ用軸４６が軸４５１と垂直な方向に貫通している。こ
のベアリング用軸４６には、スタイラス４５の軸４５１
を挟むように２つのベアリング４７，４８が取り付けら
れている。

【００１９】また、スタイラス支持台４２には、ガイド
板４９が固定されている。ガイド板４９は、そのスタイ
ラス４５側の面が２つのベアリング４７，４８と当接す
るように設けられている。これにより、スタイラス４５
は、その最上部の接触部４５２が常に一定方向を向くよ
うになっている。

【００２０】取り付け板４３，４４は、取り付け板５０
によって連結されている。取り付け板５０には、スタイ
ラス支持部材５２の端部５２ａが、軸５１を介して回動
自在に取り付けられている。スタイラス支持部材５２
は、その端部５２ｂがベアリング４７，４８の下側に位
置するように取り付けられている。また、スタイラス支
持部材５２は、バネ５３を介して取り付け板４３と連結
され、所定の弾性力で常に下方に引っ張られている。

【００２１】スタイラス支持部材５２の端部５２ｂ側に
は、光センサ５４が固定されている。光センサ５４は、
図示されていない発光素子および受光素子を有し、図５
に示すように、その凹部５４ａ内が遮断されたときにオ
ンとなる。ここでは、スタイラス支持部材５２の端部５
２ｂが下方からベアリング用軸４６と接触する直前の位
置で、スタイラス４５の軸４５１の下端部４５１ａが検
出されるようにセットされている。

【００２２】取り付け板４３には、パルスモータ５５が
固定されている。パルスモータ５５は、その軸５５１の
上端５５１ａが、スタイラス支持部材５２に形成された
当接片５２１に下方から当接可能な位置に固定されてい
る。パルスモータ５５は、後述の制御装置１００と電気
的に接続されており、制御装置１００からの制御パルス
信号に応じて軸５５１が上下動する。制御装置１００側
は、制御パルス信号の出力数によって、軸５５１の現在
の上下位置を認識する。軸５５１の原点位置（最下位
置）は、取り付け片５６を介して取り付け板４３に固定
された光センサ５７が、軸５５１の下端部５５１ｂを検
出することによって判断される。

【００２３】次に、このような構成のスタイラスユニッ
ト３２を有するフレーム形状測定部１１によるフレーム
形状測定の具体的な手順について説明する。まず、作業
者は、図３に示した前側保持部２２と後側保持部２３と
の間に眼鏡フレームを挟持し、フレーム保持レバー１１
３を回して固定する。そして、形状測定操作パネル１１
１の図示されていないスタートボタンを押すことによ
り、スタイラス４５によるフレーム形状の測定が開始さ
れる。

【００２４】図６は測定開始時のスタイラスユニット３
２の動作状態を示す図である。測定を開始する場合に
は、パルスモータ５５が駆動してその軸５５１が上昇す
る。これにより、軸５５１の上端部５５１ａが、当接片
５２１を介してスタイラス支持部材５２を押し上げる。
また、スタイラス支持部材５２が、その端部５２ｂによ
りベアリング用軸４６を介してスタイラス４５を押し上
げる。そして、スタイラス４５の接触部４５２が、レン
ズ枠６０の溝６０ａとほぼ同じ高さに設定された測定開
始位置まで移動したときに、パルスモータ５５が停止す
る。次いで、図示されていない回転動作機構部やスライ
ド機構部の駆動により、スタイラスユニット３２全体が
平面方向に移動して、平面方向の測定開始位置まで移動
して、スタイラス４５の接触部４５２をレンズ枠６０の
溝６０ａと嵌合させる。

【００２５】図７はスタイラス４５の接触部４５２がレ
ンズ枠６０の溝６０ａと嵌合した状態を示す図である。
図に示すように、接触部４５２が溝６０ａに嵌合する
と、パルスモータ５５は、逆動作を行って軸５５１を原
点位置まで下降させる。これにより、スタイラス支持部
材５２も、バネ５３の張力と自重により端部５２ｂ側が
下降する。このとき、スタイラス４５は、その接触部４
５２が溝６０ａに嵌合し、図示されていないバネによっ
て図面左側に付勢されているので、眼鏡フレーム６０に
嵌合した状態を維持している。

【００２６】この状態で、図示されていない回転動作機
構部やスライド機構部が駆動することにより、スタイラ
ス４５によるレンズ枠６０の形状測定が行われる。図８
はレンズ枠６０の形状測定順序を説明する図である。本
形態では、スタイラス４５の移動中に、レンズ枠６０の
２次元形状６０ｂのデータとして、点θ＝φ〜１４９９
の合計１５００点の平面位置Ｒ〔θ〕を検出する。ま
た、ここでは、スタイラス４５をθ＝１１２５の位置か
ら時計回りに移動させて平面位置Ｒ〔θ〕を検出するも
のとする。

【００２７】スタイラス４５の接触部４５２をレンズ枠
６０の溝６０ａに沿って１周させ、２次元形状６０ｂの
データの測定が終了すると、今度は、反転して反時計回
りにスタイラス４５の接触部４５２を移動させる。そし
て、予め設定された４つの所定停止位置θ＝φ、３７５
（１５００／４）、７５０（２×１５００／４）、１１
２５（３×１５００／４）に接触部４５２を移動させて
停止させ、各所定停止位置において、以下に示す手順に
より接触部４５２の上下動位置Ｚ〔φ〕、Ｚ〔３７
５〕、Ｚ〔７５０〕、Ｚ〔１１２５〕を検出する。

【００２８】まず、スタイラス４５によって２次元形状
６０ｂを測定しているときには、スタイラスユニット３
２の各機構部は、図７で示した状態にある。すなわち、
スタイラス４５の接触部４５２がレンズ枠６０の溝６０
ａに嵌合する一方、パルスモータ５５はその軸５５１が
原点位置にあり、スタイラス支持部材５２も端部５２ｂ
が下がっている。

【００２９】この２次元形状６０ｂの測定後、スタイラ
ス４５を所定停止位置に移動させて停止させると、次に
は図９に示すように、パルスモータ５５が駆動して、軸
５５１を原点位置から徐々に上昇させていく。このと
き、軸５５１の上昇した距離は、後述の制御装置１００
側でカウントされている。

【００３０】軸５５１を上昇させていく途中で、スタイ
ラス支持部材５２の端部５２ｂがベアリング用軸４６と
接触する直前に、光センサ５４がスタイラス４５の軸４
５１の下端部４５１ａを検出してオンとなる。これと同
時に、パルスモータ５５の駆動が停止し、そのときのパ
ルスモータ５５の軸５５１の移動距離が検出される。こ
の検出値が、スタイラス４５の接触部４５２の上下動位
置Ｚ〔θ〕のデータとなる。

【００３１】各所定停止位置θ＝φ、３７５、７５０、
１１２５において、スタイラス４５の接触部４５２の上
下動位置Ｚ〔φ〕、Ｚ〔３７５〕、Ｚ〔７５０〕、Ｚ
〔１１２５〕が検出されると、次式（１）に基づいて、
２次元形状６０ｂの各平面位置Ｒ〔θ〕を３次元形状に
補正し、補正値Ｒ〔θ_r 〕を最終的なフレーム形状デー
タとする。

【００３２】

【数１】

【００３３】このように、所定停止位置θ＝φ、３７
５、７５０、１１２５におけるスタイラス４５の上下動
位置Ｚ〔φ〕、Ｚ〔３７５〕、Ｚ〔７５０〕、Ｚ〔１１
２５〕を検出することにより、フレーム保持装置２０に
固定されたレンズ枠の平面方向に対する傾きが分かり、
式（１）にこれらの値を代入することにより、測定され
た２次元形状６０ａの各平面位置Ｒ〔θ〕を容易に補正
することができる。

【００３４】なお、本形態では、所定停止位置θを４点
としたが、少なくとも３点あれば、これに限られること
はない。図１０はレンズ研削装置の制御装置を中心とし
たハードウェアの構成を示すブロックである。制御装置
１００は、ＣＰＵ１０１を中心に構成されている。ＣＰ
Ｕ１０１は、バス１０８を介して接続されたＲＯＭ１０
２に格納されたシステムプログラムに従って、レンズ研
削装置１０全体を制御する。ＲＡＭ１０３には、測定さ
れたフレーム形状データ等が一時的に格納される。パネ
ル用インタフェース（Ｉ／Ｆ）１０４は、ＣＰＵ１０１
からの指令を受けて、表示パネル１２１に表示指令信号
を送る。これを受けた表示パネル１２１は、内蔵のドラ
イバにより駆動され、指令通りの画面表示を行う。

【００３５】ドライバ１０５は、レンズ研削部１３およ
びフレーム形状測定部１１に設けられた種々のモータ
を、ＣＰＵ１０１からの指令に基づいて駆動制御する。
これにより、フレーム形状の測定や被加工レンズの加工
が実行される。フレーム形状測定部１１には、回転動作
機構部７１、スライド機構部７２、スタイラスユニット
３２等が設けられており、図４等で示したパルスモータ
５５等もドライバ１０５を介して駆動制御される。

【００３６】センサ用インタフェース（Ｉ／Ｆ）１０６
は、レンズ研削部１３およびフレーム形状測定部１１に
設けられた図示されていない種々のセンサのオン・オフ
状態を読み取り、バス１０８を介してＣＰＵ１０１に送
る。図４等で示した光センサ５４，５７等の出力信号
も、このセンサ用インタフェース（Ｉ／Ｆ）１０６を介
してＣＰＵ１０１側に送られる。

【００３７】スイッチ用インタフェース（Ｉ／Ｆ）１０
７は、研削操作パネル１２２および形状測定操作パネル
１１１上でのスイッチ操作の状態を読み取り、バス１０
８を介してＣＰＵ１０１に送る。また、スイッチの操作
状態に応じて、各パネル上のＬＥＤの点灯等を行う。

【００３８】図１１は本形態のフレーム形状測定の制御
装置１００側の処理手順を示すフローチャートである。
なお、このフローチャートは、形状測定操作パネル１１
１のスタートボタンが押されたときから開始する。 〔Ｓ１〕パルスモータ５５を駆動してスタイラス４５を
上昇させ、測定開始位置の高さまでの移動を開始する。 〔Ｓ２〕ステップＳ１の動作が完了したか否かを判断
し、完了すればステップステップＳ３に進み、しなけれ
ばステップＳ２を繰り返す。 〔Ｓ３〕回転動作機構部７１およびスライド機構部７２
を駆動して、スタイラス４５を平面方向に移動させて、
接触部４５２をレンズ枠６０の溝６０ａに嵌合させる動
作を開始する。 〔Ｓ４〕ステップＳ３の動作が完了したか否かを判断
し、完了すればステップステップＳ５に進み、しなけれ
ばステップＳ４を繰り返す。 〔Ｓ５〕パルスモータ５５を逆転駆動して、軸５５１を
原点位置まで下降させる動作を開始する。 〔Ｓ６〕光センサ５７がオンになり、軸５５１が原点位
置まで下降完了したか否かを判断し、完了すればステッ
プＳ７に進み、しなければステップＳ６を繰り返す。 〔Ｓ７〕回転動作機構部７１およびスライド機構部７２
を駆動して、レンズ枠６０の２次元形状６０ｂの測定を
開始する。 〔Ｓ８〕２次元形状６０ｂの測定が完了したか否かを判
断し、完了すればステップＳ９に進み、しなければステ
ップＳ８を繰り返す。 〔Ｓ９〕所定停止位置におけるスタイラス４５の接触部
４５２の上下動位置Ｚ〔θ〕を測定する。 〔Ｓ１０〕ステップＳ９で検出された位置Ｚ〔θ〕の値
を式（１）に代入して、２次元形状６０ｂを３次元形状
データに補正する。

【００３９】図１２は図１１のフローチャートにおける
ステップＳ９の具体的な処理手順を示すフローチャート
である。 〔Ｓ１１〕所定停止位置θ＝φまでスタイラス４５を移
動開始させる。 〔Ｓ１２〕移動が完了したか否かを判断し、完了すれば
ステップＳ１３に進み、しなければステップＳ１２を繰
り返す。 〔Ｓ１３〕スタイラス４５の移動を停止させる。 〔Ｓ１４〕パルスモータ５５を駆動して、スタイラス支
持部材５２の端部５２ｂを上昇させる。 〔Ｓ１５〕光センサ５４によってスタイラス４５の下端
部４５１ａが検出されたか否かを判断し、検出されれば
ステップＳ１６に進み、されなければステップＳ１５を
繰り返す。 〔Ｓ１６〕パルスモータ５５を停止させる。 〔Ｓ１７〕パルスモータ５５の移動量に基づいて、スタ
イラス４５の接触部４５２の上下動位置Ｚ〔θ〕を確定
する。 〔Ｓ１８〕全ての所定停止位置での測定が完了したか否
かを判断し、完了すれば本フローチャートを終了し、し
なければステップＳ１９に進む。 〔Ｓ１９〕パルスモータ５５を逆転駆動して、軸５５１
を原点位置まで下降させる。 〔Ｓ２０〕次の所定停止位置までスタイラス４５を移動
させる。

【００４０】このように、本形態では、スタイラス４５
により２次元形状６０ｂを測定した後に、複数の所定停
止位置においてスタイラス４５を停止させ、そのときの
接触部４５２の上下動位置Ｚ〔θ〕を測定し、測定され
た上下動位置Ｚ〔θ〕に基づいて２次元形状６０ｂを補
正するようにしたので、ＣＣＤ等のように、複雑な機構
を用いることなく、低コストで正確なレンズ枠形状を求
めることができる。

【００４１】また、本形態では、２次元形状６０ｂの測
定後、スタイラス４５の移動方向を逆転させて上下動位
置Ｚ〔θ〕を測定するようにしたので、装置を初期状態
に復帰させる動作も兼ねながらレンズ枠形状を測定する
ことができる。よって作業効率が向上する。

【００４２】なお、本形態では、２次元形状６０ｂを１
５００点測定する例を示したが、これに限られることは
ない。また、本形態では、スタイラス４５の軸４５１の
下端部４５１ａを検出するセンサとして、光センサ５４
を使用する例を示したが、タッチセンサ等を使用しても
よい。

【００４３】

【発明の効果】以上説明したように本発明では、スタイ
ラスを平面方向の予め設定された複数の所定停止位置で
停止させ、各所定停止位置において、上下動モータを駆
動することによりスタイラス支持部材を上下動させ、下
端部検出センサにより下端部が検出されたときの上下動
モータの移動量に基づいてスタイラスの上下動位置を検
出し、これらの上下動位置に基づいて、予め測定された
２次元形状を補正するようにしたので、ＣＣＤのように
精密なセンサを用いることなく、低コストで正確なレン
ズ枠の形状を測定することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本形態の機能の概念図である。

【図２】本形態のレンズ研削装置の外観を示す斜視図で
ある。

【図３】形状測定機構部の概略構成を示す側面図であ
る。

【図４】スタイラスユニットの具体的な構成を示す側面
図である。

【図５】図４のＸ−Ｘ線に沿う断面図である。

【図６】測定開始時のスタイラスユニットの動作状態を
示す図である。

【図７】スタイラスの接触部がレンズ枠の溝と嵌合した
状態を示す図である。

【図８】レンズ枠の形状測定順序を説明する図である。

【図９】スタイラスの接触部の上下方向の位置の検出動
作を示す図である。

【図１０】レンズ研削装置の制御装置を中心としたハー
ドウェアの構成を示すブロックである。

【図１１】本形態のフレーム形状測定の制御装置側の処
理手順を示すフローチャートである。

【図１２】図１１のフローチャートにおけるステップＳ
９の具体的な処理手順を示すフローチャートである。

【符号の説明】

１ 眼鏡フレーム １ａ レンズ枠 ２ 上下動機構部 ２ａ スタイラス ２ｂ スタイラス支持部材 ２ｃ 下端部 ２ｄ 下端部センサ ２ｅ 上下動モータ ３ 平面移動機構部 ４ ２次元形状測定制御手段 ５ 平面位置検出手段 ６ 上下動位置検出手段 ７ 形状補正手段 １０ レンズ研削装置 １１ フレーム形状測定部 ２０ フレーム保持装置 ３０ トレーサ機構部 ３２ スタイラスユニット ４５ スタイラス ４６ ベアリング用軸 ４７，４８ ベアリング ５２ スタイラス支持部材 ５４ 光センサ ５５ パルスモータ ６０ レンズ枠 ６０ｂ ２次元形状

フロントページの続き (56)参考文献 特開 平７−223154（ＪＰ，Ａ) 特開 昭64−38720（ＪＰ，Ａ) 特開 昭64−409（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−46201（ＪＰ，Ａ) 特開 平７−43142（ＪＰ，Ａ) 特開 平７−223153（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G01B 21/20 G01B 5/20 G02C 13/00

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 眼鏡フレームのレンズ枠の形状を測定す
   るためのフレーム形状測定方式において、 フレーム保持装置に固定された眼鏡フレームのレンズ枠
   に沿って移動可能に取り付けられるスタイラスと、 前記スタイラスの平面方向の移動を制御する平面移動機
   構部と、 前記スタイラスの平面方向の位置を所定間隔毎に検出す
   る平面位置検出手段と、 一端側が軸支されて他端側が上下方向に移動可能に取り
   付けられるとともに、前記他端側で前記スタイラスのシ
   ャフトを下から支持するスタイラス支持部材と、前記ス
   タイラス支持部材の他端側に取り付けられて前記スタイ
   ラスのシャフトの下端部を検出する下端部検出センサ
   と、前記スタイラス支持部材を上下動させる上下動モー
   タと、を有する上下動機構部と、 前記平面移動機構部を制御して前記スタイラスの移動を
   行うとともに、前記平面位置検出手段の検出した前記所
   定間隔毎の平面方向の位置に基づいて、前記レンズ枠の
   ２次元形状を測定する２次元形状測定制御手段と、 前記スタイラスを平面方向の予め設定された複数の所定
   停止位置で停止させ、前記各所定停止位置において、前
   記上下動モータを駆動することにより前記スタイラス支
   持部材を上下方向に移動させ、前記移動中、前記下端部
   検出センサにより前記下端部が検出されたときの前記上
   下動モータの移動量に基づいて前記スタイラスの上下動
   位置を検出する上下動位置検出手段と、 前記複数の所定停止位置において検出された上下動位置
   に基づいて、前記測定された２次元形状を補正する形状
   補正手段と、 を有することを特徴とするフレーム形状測定方式。
2. 【請求項２】 前記スタイラスが前記複数の所定停止位
   置へ移動する場合には、前記２次元形状の測定方向と反
   対方向に移動するように構成されていることを特徴とす
   る請求項１記載のフレーム形状測定方式。
3. 【請求項３】 前記下端部検出センサは、光センサであ
   ることを特徴とする請求項１記載のフレーム形状測定方
   式。
4. 【請求項４】 前記上下動モータは、パルスモータであ
   ることを特徴とする請求項１記載のフレーム形状測定方
   式。