JPH09145351A - フレーム形状測定方式 - Google Patents

フレーム形状測定方式

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JPH09145351A
JPH09145351A JP30170795A JP30170795A JPH09145351A JP H09145351 A JPH09145351 A JP H09145351A JP 30170795 A JP30170795 A JP 30170795A JP 30170795 A JP30170795 A JP 30170795A JP H09145351 A JPH09145351 A JP H09145351A
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孝司 大丸
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 フレーム保持装置に固定されたレンズ枠の傾
きによる形状の誤差を低コストでかつ簡単な装置構造に
より補正して、正確な形状データを得る。 【解決手段】 2次元形状測定制御手段4は、平面移動
機構部3を制御してスタイラス2aの平面方向の移動を
行い、平面位置検出手段5によって検出された平面方向
の所定間隔毎の位置に基づいて、レンズ枠の2次元形状
の測定データを生成する。上下動位置検出手段6は、ス
タイラス2aを平面方向の複数の所定停止位置で停止さ
せ、上下動モータ2eを駆動することによりスタイラス
支持部材2bを上下方向に移動させ、この途中、下端部
検出センサ2dにより下端部2cが検出されたときの上
下動モータ2eの移動量に基づいてスタイラス2aの上
下動位置を検出する。こうして、複数の所定停止位置に
おいて検出された上下動位置に基づいて、形状補正手段
7は、測定された2次元形状を補正する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は眼鏡フレームのレン
ズ枠の形状を測定するためのフレーム形状測定方式に関
し、特にレンズ枠の傾きに応じて測定値を補正するフレ
ーム形状測定方式に関する。
【0002】
【従来の技術】スタイラスを使用したフレーム形状の測
定では、通常、眼鏡フレーム保持装置にレンズ枠を水平
にした状態で固定し、このレンズ枠の内側の溝に沿って
スタイラスを移動させるようにしている。そして、この
スタイラスの移動中、微小間隔でスタイラスの位置を検
出することによりレンズ枠形状のデータを得る。このと
き、スタイラスの位置データとしては、レンズ枠の水平
面方向の位置と、上下動方向の位置とが検出される。こ
れは、レンズ枠は必ずしも正確に水平に固定されている
わけではないので、2次元的な測定だけではレンズ枠の
傾きによる誤差を生じるからである。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、スタイラスの
上下動方向の位置は、従来は、スタイラスの移動中に水
平面方向の位置と同時に検出していたので、応答性の高
い位置センサを使用する必要があった。このため、位置
センサには、CCDセンサが用いられていたが、CCD
センサは高価であり、構造も複雑になるという問題点が
あった。
【0004】本発明はこのような点に鑑みてなされたも
のであり、レンズ枠形状の正確な測定を低コストでかつ
簡単な装置構造により行うことのできるフレーム形状測
定方式および測定方法を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明では上記課題を解
決するために、眼鏡フレームのレンズ枠の形状を測定す
るためのフレーム形状測定方式において、フレーム保持
装置に固定された眼鏡フレームのレンズ枠に沿って移動
可能に取り付けられるスタイラスと、前記スタイラスの
平面方向の移動を制御する平面移動機構部と、前記スタ
イラスの平面方向の位置を所定間隔毎に検出する平面位
置検出手段と、一端側が軸支されて他端側が上下方向に
移動可能に取り付けられるとともに、前記他端側で前記
スタイラスのシャフトを下から支持するスタイラス支持
部材と、前記スタイラス支持部材の他端側に取り付けら
れて前記スタイラスのシャフトの下端部を検出する下端
部検出センサと、前記スタイラス支持部材を上下動させ
る上下動モータと、を有する上下動機構部と、前記平面
移動機構部を制御して前記スタイラスの移動を行うとと
もに、前記平面位置検出手段の検出した前記所定間隔毎
の平面方向の位置に基づいて、前記レンズ枠の2次元形
状を測定する2次元形状測定制御手段と、前記スタイラ
スを平面方向の予め設定された複数の所定停止位置で停
止させ、前記各所定停止位置において、前記上下動モー
タを駆動することにより前記スタイラス支持部材を上下
方向に移動させ、前記移動中に、前記下端部検出センサ
により前記下端部が検出されたときの前記上下動モータ
の移動量に基づいて前記スタイラスの上下動位置を検出
する上下動位置検出手段と、前記複数の所定停止位置に
おいて検出された上下動位置に基づいて、前記測定され
た2次元形状を補正する形状補正手段と、を有すること
を特徴とするフレーム形状測定方式が提供される。
【0006】このような構成のフレーム形状の測定方式
では、2次元形状測定制御手段が、平面移動機構部を制
御することにより、スタイラスの平面方向の移動を行
い、平面位置検出手段により検出されたスタイラスの平
面方向の所定間隔毎の位置に基づいて、レンズ枠の2次
元形状を測定する。上下動位置検出手段は、スタイラス
を平面方向の予め設定された複数の所定停止位置で停止
させ、各所定停止位置において、上下動モータを駆動す
ることによりスタイラス支持部材を上下方向に移動さ
せ、この移動中、下端部検出センサにより下端部が検出
されたときの上下動モータの現在位置に基づいてスタイ
ラスの上下動位置を検出する。
【0007】こうして、複数の所定停止位置において検
出された上下動位置に基づいて、形状補正手段は、測定
された2次元形状を補正する。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一形態を図面に基
づいて説明する。図1は本形態の機能の概念図である。
眼鏡フレーム1は、上下動機構部2のスタイラス2aに
よって、そのレンズ枠1aの形状がトレースされる。上
下動機構部2は、一端が回動自在に取り付けられるとと
もに他端側がスタイラス2aのシャフトを下から支持す
るスタイラス支持部材2bと、スタイラス支持部材2b
の他端側に取り付けられてスタイラス2aのシャフトの
下端部2cを検出する下端部検出センサ2dと、スタイ
ラス支持部材2bを上下動させる上下動モータ2eとか
ら構成される。また、スタイラス2aは、平面移動機構
部3によって、レンズ枠1aの平面方向の移動がなされ
る。
【0009】このような機構において、2次元形状測定
制御手段4は、平面移動機構部3を制御することによ
り、スタイラス2aの平面方向の移動を行う。このと
き、平面位置検出手段5は、スタイラスの平面方向の位
置を所定間隔毎に検出する。2次元形状測定制御手段4
は、この検出された平面方向の所定間隔毎の位置に基づ
いて、レンズ枠の2次元形状の測定データを生成する。
【0010】上下動位置検出手段6は、スタイラス2a
を平面方向の予め設定された複数の所定停止位置で停止
させ、各所定停止位置において、上下動モータ2eを駆
動することによりスタイラス支持部材2bを上下方向に
移動させ、この途中、下端部検出センサ2dにより下端
部2cが検出されたときの上下動モータ2eの移動量に
基づいてスタイラス2aの上下動位置を検出する。
【0011】こうして、複数の所定停止位置において検
出された上下動位置に基づいて、形状補正手段7は、測
定された2次元形状を補正する。図2は本形態のレンズ
研削装置の外観を示す斜視図である。レンズ研削装置1
0は、主にフレーム形状測定部11、研削操作部12、
およびレンズ研削部13から構成されている。フレーム
形状測定部11は、形状測定操作パネル111、形状測
定機構部112、およびフレーム保持レバー113を有
している。形状測定機構部112は、後述の眼鏡フレー
ム保持装置やトレーサ機構部から構成されている。フレ
ーム保持レバー113は、眼鏡フレーム保持装置に測定
用の眼鏡フレームを固定するためのレバーである。眼鏡
用フレームが固定された状態で、形状測定操作パネル1
11の図示されていないスタートボタンを押すことによ
り、眼鏡用フレームの左右一方のフレーム形状を、後述
の方法により測定することができる。
【0012】研削操作部12は、表示パネル121およ
び研削操作パネル122を有している。表示パネル12
1は、液晶表示装置(LCD)であり、被加工レンズの
加工に必要なデータ入力を行うための様々な画面を表示
する。研削操作パネル122は、形状測定機構部112
で測定された片側のフレーム形状データに基づいてフレ
ーム幾何学中心距離の測定を行ったり、他のレンズ加工
データを入力または測定するために用いられる。
【0013】レンズ研削部13は、最終的に得られた加
工データに基づいて被加工レンズを加工する機構部であ
る。この研削のための操作も研削操作部12によって行
われる。
【0014】また、レンズ研削装置10内には、後述の
制御装置100が設けられており、フレーム形状測定部
11全体の制御を行う。図3は形状測定機構部112の
概略構成を示す側面図である。形状測定機構部112
は、主に、眼鏡フレームを固定するためのフレーム保持
装置20と、フレーム保持装置20に固定された眼鏡フ
レームのレンズ枠の形状を測定するトレーサ機構部30
とから構成されている。
【0015】フレーム保持装置20には、基台21上に
スライド可能なように前側保持部22および後側保持部
23が設けられている。これら前側保持部22および後
側保持部23の間には、レンズ枠がほぼ水平になるよう
に眼鏡フレームが挟持される。そして、フレーム保持レ
バー113が所定の位置に回動されることにより、フレ
ーム形状の測定が可能な状態になる。
【0016】トレーサ機構部30は、フレーム保持装置
20の下方に設けられている。トレーサ機構部30に
は、図示されていない回転動作機構部により回転制御さ
れる筐体31が設けられ、この筐体31内にはスタイラ
スユニット32が設けられている。スタイラスユニット
32は、スタイラス321を上下動させる機構部であ
る。また、このスタイラスユニット32は、筐体31と
ともに回転動作する一方、筐体31内に設けられたスラ
イド機構部によって、水平面方向にスライド可能となっ
ている。これにより、スタイラスユニット32は、その
スタイラス321によって後述するようなレンズ枠形状
の測定を行う。なお、スタイラスユニット32の回転動
作機構部やスライド機構部に関しては、一般に使用され
ている技術と同様なので、ここでは説明を省略する。
【0017】図4はスタイラスユニット32の具体的な
構成を示す側面図である。また、図5は図4のX−X線
に沿う断面図である。まず、図4に示すように、スタイ
ラスユニット32の基板41には、スタイラス支持台4
2が固定され、さらにスタイラス支持台42を介して、
取り付け板43,44が固定されている。スタイラス支
持台42内部には、図示されていない孔が形成されてお
り、この孔にはベアリングを介してスタイラス45の軸
451が上下動自在に挿入されている。
【0018】スタイラス45の軸451で下端部451
aよりやや上の部分には、図5に示すように、ベアリン
グ用軸46が軸451と垂直な方向に貫通している。こ
のベアリング用軸46には、スタイラス45の軸451
を挟むように2つのベアリング47,48が取り付けら
れている。
【0019】また、スタイラス支持台42には、ガイド
板49が固定されている。ガイド板49は、そのスタイ
ラス45側の面が2つのベアリング47,48と当接す
るように設けられている。これにより、スタイラス45
は、その最上部の接触部452が常に一定方向を向くよ
うになっている。
【0020】取り付け板43,44は、取り付け板50
によって連結されている。取り付け板50には、スタイ
ラス支持部材52の端部52aが、軸51を介して回動
自在に取り付けられている。スタイラス支持部材52
は、その端部52bがベアリング47,48の下側に位
置するように取り付けられている。また、スタイラス支
持部材52は、バネ53を介して取り付け板43と連結
され、所定の弾性力で常に下方に引っ張られている。
【0021】スタイラス支持部材52の端部52b側に
は、光センサ54が固定されている。光センサ54は、
図示されていない発光素子および受光素子を有し、図5
に示すように、その凹部54a内が遮断されたときにオ
ンとなる。ここでは、スタイラス支持部材52の端部5
2bが下方からベアリング用軸46と接触する直前の位
置で、スタイラス45の軸451の下端部451aが検
出されるようにセットされている。
【0022】取り付け板43には、パルスモータ55が
固定されている。パルスモータ55は、その軸551の
上端551aが、スタイラス支持部材52に形成された
当接片521に下方から当接可能な位置に固定されてい
る。パルスモータ55は、後述の制御装置100と電気
的に接続されており、制御装置100からの制御パルス
信号に応じて軸551が上下動する。制御装置100側
は、制御パルス信号の出力数によって、軸551の現在
の上下位置を認識する。軸551の原点位置(最下位
置)は、取り付け片56を介して取り付け板43に固定
された光センサ57が、軸551の下端部551bを検
出することによって判断される。
【0023】次に、このような構成のスタイラスユニッ
ト32を有するフレーム形状測定部11によるフレーム
形状測定の具体的な手順について説明する。まず、作業
者は、図3に示した前側保持部22と後側保持部23と
の間に眼鏡フレームを挟持し、フレーム保持レバー11
3を回して固定する。そして、形状測定操作パネル11
1の図示されていないスタートボタンを押すことによ
り、スタイラス45によるフレーム形状の測定が開始さ
れる。
【0024】図6は測定開始時のスタイラスユニット3
2の動作状態を示す図である。測定を開始する場合に
は、パルスモータ55が駆動してその軸551が上昇す
る。これにより、軸551の上端部551aが、当接片
521を介してスタイラス支持部材52を押し上げる。
また、スタイラス支持部材52が、その端部52bによ
りベアリング用軸46を介してスタイラス45を押し上
げる。そして、スタイラス45の接触部452が、レン
ズ枠60の溝60aとほぼ同じ高さに設定された測定開
始位置まで移動したときに、パルスモータ55が停止す
る。次いで、図示されていない回転動作機構部やスライ
ド機構部の駆動により、スタイラスユニット32全体が
平面方向に移動して、平面方向の測定開始位置まで移動
して、スタイラス45の接触部452をレンズ枠60の
溝60aと嵌合させる。
【0025】図7はスタイラス45の接触部452がレ
ンズ枠60の溝60aと嵌合した状態を示す図である。
図に示すように、接触部452が溝60aに嵌合する
と、パルスモータ55は、逆動作を行って軸551を原
点位置まで下降させる。これにより、スタイラス支持部
材52も、バネ53の張力と自重により端部52b側が
下降する。このとき、スタイラス45は、その接触部4
52が溝60aに嵌合し、図示されていないバネによっ
て図面左側に付勢されているので、眼鏡フレーム60に
嵌合した状態を維持している。
【0026】この状態で、図示されていない回転動作機
構部やスライド機構部が駆動することにより、スタイラ
ス45によるレンズ枠60の形状測定が行われる。図8
はレンズ枠60の形状測定順序を説明する図である。本
形態では、スタイラス45の移動中に、レンズ枠60の
2次元形状60bのデータとして、点θ=φ〜1499
の合計1500点の平面位置R〔θ〕を検出する。ま
た、ここでは、スタイラス45をθ=1125の位置か
ら時計回りに移動させて平面位置R〔θ〕を検出するも
のとする。
【0027】スタイラス45の接触部452をレンズ枠
60の溝60aに沿って1周させ、2次元形状60bの
データの測定が終了すると、今度は、反転して反時計回
りにスタイラス45の接触部452を移動させる。そし
て、予め設定された4つの所定停止位置θ=φ、375
(1500/4)、750(2×1500/4)、11
25(3×1500/4)に接触部452を移動させて
停止させ、各所定停止位置において、以下に示す手順に
より接触部452の上下動位置Z〔φ〕、Z〔37
5〕、Z〔750〕、Z〔1125〕を検出する。
【0028】まず、スタイラス45によって2次元形状
60bを測定しているときには、スタイラスユニット3
2の各機構部は、図7で示した状態にある。すなわち、
スタイラス45の接触部452がレンズ枠60の溝60
aに嵌合する一方、パルスモータ55はその軸551が
原点位置にあり、スタイラス支持部材52も端部52b
が下がっている。
【0029】この2次元形状60bの測定後、スタイラ
ス45を所定停止位置に移動させて停止させると、次に
は図9に示すように、パルスモータ55が駆動して、軸
551を原点位置から徐々に上昇させていく。このと
き、軸551の上昇した距離は、後述の制御装置100
側でカウントされている。
【0030】軸551を上昇させていく途中で、スタイ
ラス支持部材52の端部52bがベアリング用軸46と
接触する直前に、光センサ54がスタイラス45の軸4
51の下端部451aを検出してオンとなる。これと同
時に、パルスモータ55の駆動が停止し、そのときのパ
ルスモータ55の軸551の移動距離が検出される。こ
の検出値が、スタイラス45の接触部452の上下動位
置Z〔θ〕のデータとなる。
【0031】各所定停止位置θ=φ、375、750、
1125において、スタイラス45の接触部452の上
下動位置Z〔φ〕、Z〔375〕、Z〔750〕、Z
〔1125〕が検出されると、次式(1)に基づいて、
2次元形状60bの各平面位置R〔θ〕を3次元形状に
補正し、補正値R〔θr 〕を最終的なフレーム形状デー
タとする。
【0032】
【数1】
【0033】このように、所定停止位置θ=φ、37
5、750、1125におけるスタイラス45の上下動
位置Z〔φ〕、Z〔375〕、Z〔750〕、Z〔11
25〕を検出することにより、フレーム保持装置20に
固定されたレンズ枠の平面方向に対する傾きが分かり、
式(1)にこれらの値を代入することにより、測定され
た2次元形状60aの各平面位置R〔θ〕を容易に補正
することができる。
【0034】なお、本形態では、所定停止位置θを4点
としたが、少なくとも3点あれば、これに限られること
はない。図10はレンズ研削装置の制御装置を中心とし
たハードウェアの構成を示すブロックである。制御装置
100は、CPU101を中心に構成されている。CP
U101は、バス108を介して接続されたROM10
2に格納されたシステムプログラムに従って、レンズ研
削装置10全体を制御する。RAM103には、測定さ
れたフレーム形状データ等が一時的に格納される。パネ
ル用インタフェース(I/F)104は、CPU101
からの指令を受けて、表示パネル121に表示指令信号
を送る。これを受けた表示パネル121は、内蔵のドラ
イバにより駆動され、指令通りの画面表示を行う。
【0035】ドライバ105は、レンズ研削部13およ
びフレーム形状測定部11に設けられた種々のモータ
を、CPU101からの指令に基づいて駆動制御する。
これにより、フレーム形状の測定や被加工レンズの加工
が実行される。フレーム形状測定部11には、回転動作
機構部71、スライド機構部72、スタイラスユニット
32等が設けられており、図4等で示したパルスモータ
55等もドライバ105を介して駆動制御される。
【0036】センサ用インタフェース(I/F)106
は、レンズ研削部13およびフレーム形状測定部11に
設けられた図示されていない種々のセンサのオン・オフ
状態を読み取り、バス108を介してCPU101に送
る。図4等で示した光センサ54,57等の出力信号
も、このセンサ用インタフェース(I/F)106を介
してCPU101側に送られる。
【0037】スイッチ用インタフェース(I/F)10
7は、研削操作パネル122および形状測定操作パネル
111上でのスイッチ操作の状態を読み取り、バス10
8を介してCPU101に送る。また、スイッチの操作
状態に応じて、各パネル上のLEDの点灯等を行う。
【0038】図11は本形態のフレーム形状測定の制御
装置100側の処理手順を示すフローチャートである。
なお、このフローチャートは、形状測定操作パネル11
1のスタートボタンが押されたときから開始する。 〔S1〕パルスモータ55を駆動してスタイラス45を
上昇させ、測定開始位置の高さまでの移動を開始する。 〔S2〕ステップS1の動作が完了したか否かを判断
し、完了すればステップステップS3に進み、しなけれ
ばステップS2を繰り返す。 〔S3〕回転動作機構部71およびスライド機構部72
を駆動して、スタイラス45を平面方向に移動させて、
接触部452をレンズ枠60の溝60aに嵌合させる動
作を開始する。 〔S4〕ステップS3の動作が完了したか否かを判断
し、完了すればステップステップS5に進み、しなけれ
ばステップS4を繰り返す。 〔S5〕パルスモータ55を逆転駆動して、軸551を
原点位置まで下降させる動作を開始する。 〔S6〕光センサ57がオンになり、軸551が原点位
置まで下降完了したか否かを判断し、完了すればステッ
プS7に進み、しなければステップS6を繰り返す。 〔S7〕回転動作機構部71およびスライド機構部72
を駆動して、レンズ枠60の2次元形状60bの測定を
開始する。 〔S8〕2次元形状60bの測定が完了したか否かを判
断し、完了すればステップS9に進み、しなければステ
ップS8を繰り返す。 〔S9〕所定停止位置におけるスタイラス45の接触部
452の上下動位置Z〔θ〕を測定する。 〔S10〕ステップS9で検出された位置Z〔θ〕の値
を式(1)に代入して、2次元形状60bを3次元形状
データに補正する。
【0039】図12は図11のフローチャートにおける
ステップS9の具体的な処理手順を示すフローチャート
である。 〔S11〕所定停止位置θ=φまでスタイラス45を移
動開始させる。 〔S12〕移動が完了したか否かを判断し、完了すれば
ステップS13に進み、しなければステップS12を繰
り返す。 〔S13〕スタイラス45の移動を停止させる。 〔S14〕パルスモータ55を駆動して、スタイラス支
持部材52の端部52bを上昇させる。 〔S15〕光センサ54によってスタイラス45の下端
部451aが検出されたか否かを判断し、検出されれば
ステップS16に進み、されなければステップS15を
繰り返す。 〔S16〕パルスモータ55を停止させる。 〔S17〕パルスモータ55の移動量に基づいて、スタ
イラス45の接触部452の上下動位置Z〔θ〕を確定
する。 〔S18〕全ての所定停止位置での測定が完了したか否
かを判断し、完了すれば本フローチャートを終了し、し
なければステップS19に進む。 〔S19〕パルスモータ55を逆転駆動して、軸551
を原点位置まで下降させる。 〔S20〕次の所定停止位置までスタイラス45を移動
させる。
【0040】このように、本形態では、スタイラス45
により2次元形状60bを測定した後に、複数の所定停
止位置においてスタイラス45を停止させ、そのときの
接触部452の上下動位置Z〔θ〕を測定し、測定され
た上下動位置Z〔θ〕に基づいて2次元形状60bを補
正するようにしたので、CCD等のように、複雑な機構
を用いることなく、低コストで正確なレンズ枠形状を求
めることができる。
【0041】また、本形態では、2次元形状60bの測
定後、スタイラス45の移動方向を逆転させて上下動位
置Z〔θ〕を測定するようにしたので、装置を初期状態
に復帰させる動作も兼ねながらレンズ枠形状を測定する
ことができる。よって作業効率が向上する。
【0042】なお、本形態では、2次元形状60bを1
500点測定する例を示したが、これに限られることは
ない。また、本形態では、スタイラス45の軸451の
下端部451aを検出するセンサとして、光センサ54
を使用する例を示したが、タッチセンサ等を使用しても
よい。
【0043】
【発明の効果】以上説明したように本発明では、スタイ
ラスを平面方向の予め設定された複数の所定停止位置で
停止させ、各所定停止位置において、上下動モータを駆
動することによりスタイラス支持部材を上下動させ、下
端部検出センサにより下端部が検出されたときの上下動
モータの移動量に基づいてスタイラスの上下動位置を検
出し、これらの上下動位置に基づいて、予め測定された
2次元形状を補正するようにしたので、CCDのように
精密なセンサを用いることなく、低コストで正確なレン
ズ枠の形状を測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本形態の機能の概念図である。
【図2】本形態のレンズ研削装置の外観を示す斜視図で
ある。
【図3】形状測定機構部の概略構成を示す側面図であ
る。
【図4】スタイラスユニットの具体的な構成を示す側面
図である。
【図5】図4のX−X線に沿う断面図である。
【図6】測定開始時のスタイラスユニットの動作状態を
示す図である。
【図7】スタイラスの接触部がレンズ枠の溝と嵌合した
状態を示す図である。
【図8】レンズ枠の形状測定順序を説明する図である。
【図9】スタイラスの接触部の上下方向の位置の検出動
作を示す図である。
【図10】レンズ研削装置の制御装置を中心としたハー
ドウェアの構成を示すブロックである。
【図11】本形態のフレーム形状測定の制御装置側の処
理手順を示すフローチャートである。
【図12】図11のフローチャートにおけるステップS
9の具体的な処理手順を示すフローチャートである。
【符号の説明】
1 眼鏡フレーム 1a レンズ枠 2 上下動機構部 2a スタイラス 2b スタイラス支持部材 2c 下端部 2d 下端部センサ 2e 上下動モータ 3 平面移動機構部 4 2次元形状測定制御手段 5 平面位置検出手段 6 上下動位置検出手段 7 形状補正手段 10 レンズ研削装置 11 フレーム形状測定部 20 フレーム保持装置 30 トレーサ機構部 32 スタイラスユニット 45 スタイラス 46 ベアリング用軸 47,48 ベアリング 52 スタイラス支持部材 54 光センサ 55 パルスモータ 60 レンズ枠 60b 2次元形状

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 眼鏡フレームのレンズ枠の形状を測定す
    るためのフレーム形状測定方式において、 フレーム保持装置に固定された眼鏡フレームのレンズ枠
    に沿って移動可能に取り付けられるスタイラスと、 前記スタイラスの平面方向の移動を制御する平面移動機
    構部と、 前記スタイラスの平面方向の位置を所定間隔毎に検出す
    る平面位置検出手段と、 一端側が軸支されて他端側が上下方向に移動可能に取り
    付けられるとともに、前記他端側で前記スタイラスのシ
    ャフトを下から支持するスタイラス支持部材と、前記ス
    タイラス支持部材の他端側に取り付けられて前記スタイ
    ラスのシャフトの下端部を検出する下端部検出センサ
    と、前記スタイラス支持部材を上下動させる上下動モー
    タと、を有する上下動機構部と、 前記平面移動機構部を制御して前記スタイラスの移動を
    行うとともに、前記平面位置検出手段の検出した前記所
    定間隔毎の平面方向の位置に基づいて、前記レンズ枠の
    2次元形状を測定する2次元形状測定制御手段と、 前記スタイラスを平面方向の予め設定された複数の所定
    停止位置で停止させ、前記各所定停止位置において、前
    記上下動モータを駆動することにより前記スタイラス支
    持部材を上下方向に移動させ、前記移動中、前記下端部
    検出センサにより前記下端部が検出されたときの前記上
    下動モータの移動量に基づいて前記スタイラスの上下動
    位置を検出する上下動位置検出手段と、 前記複数の所定停止位置において検出された上下動位置
    に基づいて、前記測定された2次元形状を補正する形状
    補正手段と、 を有することを特徴とするフレーム形状測定方式。
  2. 【請求項2】 前記スタイラスが前記複数の所定停止位
    置へ移動する場合には、前記2次元形状の測定方向と反
    対方向に移動するように構成されていることを特徴とす
    る請求項1記載のフレーム形状測定方式。
  3. 【請求項3】 前記下端部検出センサは、光センサであ
    ることを特徴とする請求項1記載のフレーム形状測定方
    式。
  4. 【請求項4】 前記上下動モータは、パルスモータであ
    ることを特徴とする請求項1記載のフレーム形状測定方
    式。
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