JP3424483B2 - 半田付け外観検査における検査枠設定方法及び検査枠設定装置 - Google Patents
半田付け外観検査における検査枠設定方法及び検査枠設定装置Info
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、半田付け外観検査
における検査枠設定方法及び検査枠設定装置に関するも
のである。
における検査枠設定方法及び検査枠設定装置に関するも
のである。
【０００２】
【従来の技術】回路モジュールを製造する分野では、基
板にクリーム半田を印刷し、基板に部品を搭載して、リ
フロー装置でクリーム半田を溶融させた後固化させて、
基板に部品を半田付けする。
板にクリーム半田を印刷し、基板に部品を搭載して、リ
フロー装置でクリーム半田を溶融させた後固化させて、
基板に部品を半田付けする。
【０００３】そして、半田付け外観検査装置を用いて、
半田付けの不良がないかどうかチェックが行われる。
半田付けの不良がないかどうかチェックが行われる。
【０００４】ところで、このような半田付け外観検査を
行うについては、検査に先立って、基板のうち、半田が
付いているはずの狭い領域（基板のランド上）に検査枠
が設定される。次に、この検査枠内の画像を取得し、画
像処理を行って、検査枠内に十分な量の半田が存在して
いるかどうかチェックされる。そして、チェック結果に
不良のものがあれば、半田付け不良と判定される。
行うについては、検査に先立って、基板のうち、半田が
付いているはずの狭い領域（基板のランド上）に検査枠
が設定される。次に、この検査枠内の画像を取得し、画
像処理を行って、検査枠内に十分な量の半田が存在して
いるかどうかチェックされる。そして、チェック結果に
不良のものがあれば、半田付け不良と判定される。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ここで、従来技術で
は、次のような要領で検査枠が設定されていた。即ち、
外観検査装置そのものに、出来の良いマスター基板（半
田付け済のもの）をセットする。次に、作業者が、マス
ター基板を拡大表示したモニター画面を見ながら、手作
業で半田が存在する領域を探し、適当なサイズの検査枠
を設定していた。
は、次のような要領で検査枠が設定されていた。即ち、
外観検査装置そのものに、出来の良いマスター基板（半
田付け済のもの）をセットする。次に、作業者が、マス
ター基板を拡大表示したモニター画面を見ながら、手作
業で半田が存在する領域を探し、適当なサイズの検査枠
を設定していた。
【０００６】しかしながら、このような要領によると、
設定し終わるまでに膨大な時間と労力を要する。という
のは、基板に数百以上の部品が実装されており、又、Ｑ
ＰＦなどの部品では、１つの部品だけで百前後の半田付
け部が存在することも多いからである。
設定し終わるまでに膨大な時間と労力を要する。という
のは、基板に数百以上の部品が実装されており、又、Ｑ
ＰＦなどの部品では、１つの部品だけで百前後の半田付
け部が存在することも多いからである。
【０００７】又、作業者が設定を行うのであるから、作
業者の経験や感覚の違いなどから、同じマスター基板を
用いても、検査枠の設定結果がまちまちになりやすく、
外観検査結果のばらつきの原因になるという問題点もあ
る。
業者の経験や感覚の違いなどから、同じマスター基板を
用いても、検査枠の設定結果がまちまちになりやすく、
外観検査結果のばらつきの原因になるという問題点もあ
る。
【０００８】そこで本発明は、作業者の手を煩わせず短
時間で適切な検査枠を設定できる半田付け外観検査にお
ける検査枠設定方法及び検査枠設定装置を提供すること
を目的とする。
時間で適切な検査枠を設定できる半田付け外観検査にお
ける検査枠設定方法及び検査枠設定装置を提供すること
を目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明の半田付け外観検
査における検査枠設定方法では、基板のランドの寸法及
び位置の情報を含む基板固有のランドデータと、部品の
形状を示す寸法値を含む部品寸法データと、基板におけ
る部品の搭載位置及び角度の情報を含む部品搭載データ
とに基いて演算を行い、半田付け状態を検査するエリア
を示す検査枠の位置及び形状を決定する。
査における検査枠設定方法では、基板のランドの寸法及
び位置の情報を含む基板固有のランドデータと、部品の
形状を示す寸法値を含む部品寸法データと、基板におけ
る部品の搭載位置及び角度の情報を含む部品搭載データ
とに基いて演算を行い、半田付け状態を検査するエリア
を示す検査枠の位置及び形状を決定する。
【００１０】また本発明の検査枠設定装置は、基板のラ
ンドの寸法及び位置の情報を含む基板固有のランドデー
タを記憶するランドデータ記憶部と、部品の形状を示す
寸法値を含む部品寸法データを記憶する部品寸法データ
記憶部と、基板における部品の搭載位置及び角度の情報
を含む部品搭載データを記憶する部品搭載データ記憶部
と、決定された検査枠の位置及び形状を保存する検査枠
データ記憶部と、基板のランドの寸法及び位置の情報を
含むランドデータと、部品の形状を示す寸法値を含む部
品寸法データと、基板における部品の搭載位置及び角度
の情報を含む部品搭載データとに基いて演算を行い検査
枠の位置及び形状を決定して前記検査枠データ記憶部に
保存する処理部とを備えている。
ンドの寸法及び位置の情報を含む基板固有のランドデー
タを記憶するランドデータ記憶部と、部品の形状を示す
寸法値を含む部品寸法データを記憶する部品寸法データ
記憶部と、基板における部品の搭載位置及び角度の情報
を含む部品搭載データを記憶する部品搭載データ記憶部
と、決定された検査枠の位置及び形状を保存する検査枠
データ記憶部と、基板のランドの寸法及び位置の情報を
含むランドデータと、部品の形状を示す寸法値を含む部
品寸法データと、基板における部品の搭載位置及び角度
の情報を含む部品搭載データとに基いて演算を行い検査
枠の位置及び形状を決定して前記検査枠データ記憶部に
保存する処理部とを備えている。
【００１１】
【発明の実施の形態】請求項１記載の半田付け外観検査
における検査枠設定方法では、基板のランドの寸法及び
位置の情報を含むランドデータと、部品の形状を示す寸
法値を含む寸法データと、基板における部品の搭載位置
及び角度の情報を含む部品搭載データとに基いて演算を
行い、半田付状態を検査するエリアを示す検査枠の位置
及び形状を決定する。
における検査枠設定方法では、基板のランドの寸法及び
位置の情報を含むランドデータと、部品の形状を示す寸
法値を含む寸法データと、基板における部品の搭載位置
及び角度の情報を含む部品搭載データとに基いて演算を
行い、半田付状態を検査するエリアを示す検査枠の位置
及び形状を決定する。
【００１２】また請求項３記載の検査枠設定装置は、基
板のランドの寸法及び位置の情報を含むランドデータを
記憶するランドデータ記憶部と、部品の形状を示す寸法
値を含む寸法データを記憶する部品寸法データ記憶部
と、基板における部品の搭載位置及び角度の情報を含む
部品搭載データを記憶する部品搭載データ記憶部と、決
定された検査枠の位置及び形状を保存する検査枠データ
記憶部と、基板のランドの寸法及び位置の情報を含むラ
ンドデータと、部品の形状を示す寸法値を含む寸法デー
タと、基板における部品の搭載位置及び角度の情報を含
む部品搭載データとに基いて演算を行い検査枠の位置及
び形状を決定して前記検査枠データ記憶部に保存する処
理部とを備えている。
板のランドの寸法及び位置の情報を含むランドデータを
記憶するランドデータ記憶部と、部品の形状を示す寸法
値を含む寸法データを記憶する部品寸法データ記憶部
と、基板における部品の搭載位置及び角度の情報を含む
部品搭載データを記憶する部品搭載データ記憶部と、決
定された検査枠の位置及び形状を保存する検査枠データ
記憶部と、基板のランドの寸法及び位置の情報を含むラ
ンドデータと、部品の形状を示す寸法値を含む寸法デー
タと、基板における部品の搭載位置及び角度の情報を含
む部品搭載データとに基いて演算を行い検査枠の位置及
び形状を決定して前記検査枠データ記憶部に保存する処
理部とを備えている。
【００１３】したがって、通常既存のデータとしてライ
ブラリ化して提供される部品寸法データと、基板の品種
ごとに異なるランドデータ及び部品搭載データとを有効
に利用して、電子計算機による演算のみで検査枠を自動
設定できる。
ブラリ化して提供される部品寸法データと、基板の品種
ごとに異なるランドデータ及び部品搭載データとを有効
に利用して、電子計算機による演算のみで検査枠を自動
設定できる。
【００１４】しかも、この設定には、外観検査装置その
ものを利用する必要はなく、検査枠の設定のためだけ
に、外観検査装置を専有することがない。したがって、
それだけ外観検査装置を本来の役割であるところの検査
のために使用でき、稼働率を向上できる。
ものを利用する必要はなく、検査枠の設定のためだけ
に、外観検査装置を専有することがない。したがって、
それだけ外観検査装置を本来の役割であるところの検査
のために使用でき、稼働率を向上できる。
【００１５】次に図面を参照しながら、本発明の実施の
形態を説明する。図１（ａ）に示すように、本形態の検
査枠設定装置は、次の記憶部をＣＤ−ＲＯＭ及びそのド
ライブ装置のような外部記憶装置に備えている。
形態を説明する。図１（ａ）に示すように、本形態の検
査枠設定装置は、次の記憶部をＣＤ−ＲＯＭ及びそのド
ライブ装置のような外部記憶装置に備えている。
【００１６】即ち、ランドデータ記憶部１には、基板の
品種ごとに異なるランドの寸法及び位置の値が含まれて
いる。又、部品寸法データ記憶部２には、部品そのもの
の形状を示す寸法値が入っており、部品搭載データ記憶
部３には、基板における部品の搭載位置及び角度の情報
が入っている。
品種ごとに異なるランドの寸法及び位置の値が含まれて
いる。又、部品寸法データ記憶部２には、部品そのもの
の形状を示す寸法値が入っており、部品搭載データ記憶
部３には、基板における部品の搭載位置及び角度の情報
が入っている。
【００１７】次に、部品寸法データについて説明する。
さて、部品には、様々な品種があるが、本形態では、こ
れをリードなし部品とリード付き部品に大別する。
さて、部品には、様々な品種があるが、本形態では、こ
れをリードなし部品とリード付き部品に大別する。
【００１８】リードなし部品には、図３（ａ）に示すよ
うな角チップがある。角チップは、抵抗、コンデンサ等
機能上さらに細分できるが、外観検査上は、外形形状が
同種であれば、同じように取扱えるので、角チップより
さらに細分化することはしていない。
うな角チップがある。角チップは、抵抗、コンデンサ等
機能上さらに細分できるが、外観検査上は、外形形状が
同種であれば、同じように取扱えるので、角チップより
さらに細分化することはしていない。
【００１９】そして、角チップの場合、図３（ａ）のよ
うに、幅ｂ、長さａ及び厚さｈ１（図示せず）が重要な
寸法値である。そこで、これらの寸法値を、部品名毎に
図４（ａ）のようにまとめて、部品寸法データ記憶部２
に記憶させておく。といっても、このデータは、通常、
部品製造メーカーから、作業者に提供されるものであ
り、作業者自身が用意する必要はない。
うに、幅ｂ、長さａ及び厚さｈ１（図示せず）が重要な
寸法値である。そこで、これらの寸法値を、部品名毎に
図４（ａ）のようにまとめて、部品寸法データ記憶部２
に記憶させておく。といっても、このデータは、通常、
部品製造メーカーから、作業者に提供されるものであ
り、作業者自身が用意する必要はない。
【００２０】一方、リード付き部品には、形状により、
図３（ｂ）のようなトランジスタや図３（ｃ）のような
ＱＦＰ等に分けることができる。そして、これらについ
ても、図４（ｂ），（ｃ）のように、代表的な寸法値
ｃ，ｄ，ｅ，ｆ，ｇ，ｈ，ｉ及びリード厚ｈ２，ｈ３を
部品寸法データ記憶部２に準備する。
図３（ｂ）のようなトランジスタや図３（ｃ）のような
ＱＦＰ等に分けることができる。そして、これらについ
ても、図４（ｂ），（ｃ）のように、代表的な寸法値
ｃ，ｄ，ｅ，ｆ，ｇ，ｈ，ｉ及びリード厚ｈ２，ｈ３を
部品寸法データ記憶部２に準備する。
【００２１】また図４（ａ）（ｂ）（ｃ）に示すよう
に、本形態では、部品名に、その部品の品種を示す分類
情報とその品種内で他の部品と区別するための識別番号
を用いている。
に、本形態では、部品名に、その部品の品種を示す分類
情報とその品種内で他の部品と区別するための識別番号
を用いている。
【００２２】この例では、部品名「Ｐ００１」のうちの
頭の「Ｐ」は角チップを示す分類情報であり、「００
１」の部分は識別番号である。同様に、「Ｔ」はトラン
ジスタ、「Ｑ」はＱＦＰを、それぞれ示す分類情報であ
る。
頭の「Ｐ」は角チップを示す分類情報であり、「００
１」の部分は識別番号である。同様に、「Ｔ」はトラン
ジスタ、「Ｑ」はＱＦＰを、それぞれ示す分類情報であ
る。
【００２３】次に、図５、図６を用いて、基板固有のラ
ンドデータと検査枠設定条件について説明する。
ンドデータと検査枠設定条件について説明する。
【００２４】さて、本例では、基板のランド１つ１つ
に、独立したランド番号（０００１からＭＡＸまで）が
付されているものとする。そして、図５（ａ）に示すよ
うに、ランド番号ごとに、基板のＸＹ座標系上における
ランドの中心座標（Ｘ1，Ｙ1）、幅Ｌｘと長さＬｙ及び
そのランドに搭載される部品名（例えばランド番号「０
００１」では角チップの「Ｐ００１」）が入っている。
に、独立したランド番号（０００１からＭＡＸまで）が
付されているものとする。そして、図５（ａ）に示すよ
うに、ランド番号ごとに、基板のＸＹ座標系上における
ランドの中心座標（Ｘ1，Ｙ1）、幅Ｌｘと長さＬｙ及び
そのランドに搭載される部品名（例えばランド番号「０
００１」では角チップの「Ｐ００１」）が入っている。
【００２５】この部品名が判れば、上述した部品寸法デ
ータ記憶部２を参照して部品寸法データ（図４）から必
要な寸法値を得ることができる。
ータ記憶部２を参照して部品寸法データ（図４）から必
要な寸法値を得ることができる。
【００２６】さてリードなし部品のランド付近を拡大す
ると、図５（ｂ）のようになる。このうち、１０はラン
ド、１１は角チップである。リードなし部品の場合、角
チップ１１の先端部に半田付けがなされなければならな
いので、検査枠ＷＮは幅Ｗｘ、長さＷｙとして、この位
置に設定される。
ると、図５（ｂ）のようになる。このうち、１０はラン
ド、１１は角チップである。リードなし部品の場合、角
チップ１１の先端部に半田付けがなされなければならな
いので、検査枠ＷＮは幅Ｗｘ、長さＷｙとして、この位
置に設定される。
【００２７】これら幅Ｗｘ、長さＷｙは次式で求めるこ
とができる。
とができる。
【００２８】
【数１】
【００２９】なお上式のうち、長さａは部品寸法データ
の一部であり、図５（ｂ）の点（Ｘ2，Ｙ2）は角チップ
１１の中心である。
の一部であり、図５（ｂ）の点（Ｘ2，Ｙ2）は角チップ
１１の中心である。
【００３０】ところで、幅Ｗｘ、長さＷｙは、ランドデ
ータの一部である寸法Ｌｘ，Ｌｙに依存する。また、例
えば、アース部のように、基板のランドには、本来半田
付けするために必要な面積に比べて、極端に寸法が大き
いものもある。このような大きいランドに、半田付けす
るときには、ランドの周辺の部分に半田が広がっていな
くとも、角チップ１１の近傍に十分な量の半田があれ
ば、半田付けは良好として差支えない。
ータの一部である寸法Ｌｘ，Ｌｙに依存する。また、例
えば、アース部のように、基板のランドには、本来半田
付けするために必要な面積に比べて、極端に寸法が大き
いものもある。このような大きいランドに、半田付けす
るときには、ランドの周辺の部分に半田が広がっていな
くとも、角チップ１１の近傍に十分な量の半田があれ
ば、半田付けは良好として差支えない。
【００３１】そこで本形態では、リードなし部品につい
て、図６（ａ）のようなダイヤログボックスを用いて検
査枠設定条件を付けられるようにした。即ち、幅Ｗｘが
部品の幅ｂの何倍の範囲とするかを定められるようにし
た。
て、図６（ａ）のようなダイヤログボックスを用いて検
査枠設定条件を付けられるようにした。即ち、幅Ｗｘが
部品の幅ｂの何倍の範囲とするかを定められるようにし
た。
【００３２】図６（ａ）の例では、１．０６≦Ｗｘ≦
１．５ｂかつ０．５ｈ1≦Ｗｙ≦１．５ｈ1の範囲を検査
枠設定条件としている。そして、上述した式で単純に計
算した幅Ｗｘ、長さＷｙが、この条件に適合していなけ
れば、修正を加えることとしている。
１．５ｂかつ０．５ｈ1≦Ｗｙ≦１．５ｈ1の範囲を検査
枠設定条件としている。そして、上述した式で単純に計
算した幅Ｗｘ、長さＷｙが、この条件に適合していなけ
れば、修正を加えることとしている。
【００３３】例えば、Ｗｘ＞１．５ｂならばＷｘ＝１．
５ｂとし、Ｗｘ＜１．０ｂならばＷｘ＝１．０ｂとす
る。このようにすることにより、基板の回路構成上半田
付け上必要なランドよりも極端にサイズが違うものにつ
いても、半田付け検査上適切なサイズの検査枠が設定さ
れるようになっている。なお、リードなし／付きのいず
れについても、長さＷｙ，Ｗｙ1に高さｈ1，ｈ3を用い
て範囲を決めているのは、フィレットのＹ方向の広がり
はリードなし部品の厚さｈ1等の高さによって異なるか
らである。
５ｂとし、Ｗｘ＜１．０ｂならばＷｘ＝１．０ｂとす
る。このようにすることにより、基板の回路構成上半田
付け上必要なランドよりも極端にサイズが違うものにつ
いても、半田付け検査上適切なサイズの検査枠が設定さ
れるようになっている。なお、リードなし／付きのいず
れについても、長さＷｙ，Ｗｙ1に高さｈ1，ｈ3を用い
て範囲を決めているのは、フィレットのＹ方向の広がり
はリードなし部品の厚さｈ1等の高さによって異なるか
らである。
【００３４】さて、リード付き部品については、上述の
内容と少し異なる。というのは、リード付き部品につい
ては、普通、リードの側部にもサイドフィレットと呼ば
れる半田付部を形成するようにするからである。
内容と少し異なる。というのは、リード付き部品につい
ては、普通、リードの側部にもサイドフィレットと呼ば
れる半田付部を形成するようにするからである。
【００３５】したがって、図６（ｂ）に示すように、検
査枠としては、ランド１２上からリード１３を除いた３
つの検査枠ＷＮ１，ＷＮ２，ＷＮ３を設定可能である。
このうち、検査枠ＷＮ２，ＷＮ３がサイドフィレットの
検査用である。
査枠としては、ランド１２上からリード１３を除いた３
つの検査枠ＷＮ１，ＷＮ２，ＷＮ３を設定可能である。
このうち、検査枠ＷＮ２，ＷＮ３がサイドフィレットの
検査用である。
【００３６】そこで本形態では、図６（ｃ）に示すダイ
ヤログボックスでリード付き部品の検査枠設定条件を決
定できるようにした。ここで、サイドフィレットの検査
をする又はしないの二者択一を指示するためのチェック
ボックスが追加されている。
ヤログボックスでリード付き部品の検査枠設定条件を決
定できるようにした。ここで、サイドフィレットの検査
をする又はしないの二者択一を指示するためのチェック
ボックスが追加されている。
【００３７】そして以上のように、検査枠設定条件が定
まると、その情報は、図１の検査枠設定条件記憶部４に
保持される。また、検査枠ＷＮ，ＷＮ１〜ＷＮ３等の幅
Ｗｘ，・・・、長さＷｙ，・・・は、図１（ｂ）に示す
ように、検査枠番号を付けて、検査枠データ記憶部５に
保持される。
まると、その情報は、図１の検査枠設定条件記憶部４に
保持される。また、検査枠ＷＮ，ＷＮ１〜ＷＮ３等の幅
Ｗｘ，・・・、長さＷｙ，・・・は、図１（ｂ）に示す
ように、検査枠番号を付けて、検査枠データ記憶部５に
保持される。
【００３８】さらに、部品搭載データ記憶部３には、図
４（ｂ）に示すように、部品名ごとの搭載座標、角度を
含む情報が入っている。
４（ｂ）に示すように、部品名ごとの搭載座標、角度を
含む情報が入っている。
【００３９】また図１において、処理部６は、図２のフ
ローチャートに沿うプログラムを記憶するＲＯＭと、一
次記憶用のＲＡＭと、このプログラムを実行するＣＰＵ
からなるものである。この処理部６は、リードなし部品
について、上述した式による計算を行う。なお、表示部
８は図６（ａ），（ｃ）のダイヤログボックスを表示す
るディスプレイよりなり、操作部はこれらのダイヤログ
ボックスに数値や指示を入力するためのキーボードやマ
ウスからなる。
ローチャートに沿うプログラムを記憶するＲＯＭと、一
次記憶用のＲＡＭと、このプログラムを実行するＣＰＵ
からなるものである。この処理部６は、リードなし部品
について、上述した式による計算を行う。なお、表示部
８は図６（ａ），（ｃ）のダイヤログボックスを表示す
るディスプレイよりなり、操作部はこれらのダイヤログ
ボックスに数値や指示を入力するためのキーボードやマ
ウスからなる。
【００４０】本形態の検査枠設定装置は、以上のような
構成よりなり、次に図２を用いてそれを用いた検査枠設
定方法の各プロセスを説明する。
構成よりなり、次に図２を用いてそれを用いた検査枠設
定方法の各プロセスを説明する。
【００４１】さて、処理部６は、ランドデータ記憶部１
のランドデータのうち、注目番号が指示するデータを参
照するものであるが、まずステップ１にてこの注目番号
を「０００１」に初期化する。
のランドデータのうち、注目番号が指示するデータを参
照するものであるが、まずステップ１にてこの注目番号
を「０００１」に初期化する。
【００４２】そして、ランドデータの中心座標Ｘ1（＝
１８．０）、Ｙ1（２０．０）、寸法Ｌｘ（＝０．８
０）、Ｌｙ（＝０．８０）を読取って一次記憶する（ス
テップ２）。また、搭載部品名「Ｐ００１」を読取り
（ステップ３）、その頭の分類情報「Ｐ」から部品寸法
データ記憶部２のうち、角チップの部品寸法データ（図
４（ａ））を開く（ステップ４）。
１８．０）、Ｙ1（２０．０）、寸法Ｌｘ（＝０．８
０）、Ｌｙ（＝０．８０）を読取って一次記憶する（ス
テップ２）。また、搭載部品名「Ｐ００１」を読取り
（ステップ３）、その頭の分類情報「Ｐ」から部品寸法
データ記憶部２のうち、角チップの部品寸法データ（図
４（ａ））を開く（ステップ４）。
【００４３】そして、開いたデータから、寸法値ａ（＝
１．６）、ｂ（＝０．８）、ｈ1（＝０．４）を読取っ
て一次記憶する（ステップ５）。
１．６）、ｂ（＝０．８）、ｈ1（＝０．４）を読取っ
て一次記憶する（ステップ５）。
【００４４】さらに、部品搭載データ記憶部３の部品搭
載データ（図４（ｄ））から、部品名「Ｐ００１」に関
する搭載座標Ｘ2（＝１８．０）、Ｙ2（＝２０．８）、
角度θ（＝０°）を得る（ステップ６）。
載データ（図４（ｄ））から、部品名「Ｐ００１」に関
する搭載座標Ｘ2（＝１８．０）、Ｙ2（＝２０．８）、
角度θ（＝０°）を得る（ステップ６）。
【００４５】以上で上述した式の全パラメータが揃った
ので、処理部６は、この式で演算を行い、幅Ｗｘ、長さ
Ｗｙを求める（ステップ７）。そして、これらの値Ｗ
ｘ，Ｗｙが、検査枠設定条件記憶部４の条件にあうかど
うかチェックする（ステップ８）。
ので、処理部６は、この式で演算を行い、幅Ｗｘ、長さ
Ｗｙを求める（ステップ７）。そして、これらの値Ｗ
ｘ，Ｗｙが、検査枠設定条件記憶部４の条件にあうかど
うかチェックする（ステップ８）。
【００４６】チェックの結果、適合であれば、注目番号
（０００１）の頭に「Ｗ」をつけた検査枠番号「Ｗ００
０１」を付けて検査枠データ記憶部５に保存する（ステ
ップ８，１０）。一方、不適合であれば、上述したよう
に修正して保存する（ステップ８，９，１０）。
（０００１）の頭に「Ｗ」をつけた検査枠番号「Ｗ００
０１」を付けて検査枠データ記憶部５に保存する（ステ
ップ８，１０）。一方、不適合であれば、上述したよう
に修正して保存する（ステップ８，９，１０）。
【００４７】そして、以上の処理を、注目番号が最大値
ＭＡＸになるまで（ステップ１１）、注目番号を「１」
だけ進めながら（ステップ１２）、くり返すものであ
る。
ＭＡＸになるまで（ステップ１１）、注目番号を「１」
だけ進めながら（ステップ１２）、くり返すものであ
る。
【００４８】
【発明の効果】本発明は、以上のように構成したので、
作業者がいちいち大量の検査枠を設定する必要がなく、
簡単かつ短時間で設定を完了できる。また、外観検査装
置外で設定できるから、外観検査装置の稼働率を向上で
きる。
作業者がいちいち大量の検査枠を設定する必要がなく、
簡単かつ短時間で設定を完了できる。また、外観検査装
置外で設定できるから、外観検査装置の稼働率を向上で
きる。
【図１】（ａ）本発明の一実施の形態における検査枠設
定装置のブロック図 （ｂ）本発明の一実施の形態における検査枠データの構
成図
定装置のブロック図 （ｂ）本発明の一実施の形態における検査枠データの構
成図
【図２】本発明の一実施の形態における検査枠設定装置
のフローチャート
のフローチャート
【図３】（ａ）本発明の一実施の形態における部品寸法
データの説明図 （ｂ）本発明の一実施の形態における部品寸法データの
説明図 （ｃ）本発明の一実施の形態における部品寸法データの
説明図
データの説明図 （ｂ）本発明の一実施の形態における部品寸法データの
説明図 （ｃ）本発明の一実施の形態における部品寸法データの
説明図
【図４】（ａ）本発明の一実施の形態における部品寸法
データの構成図 （ｂ）本発明の一実施の形態における部品寸法データの
構成図 （ｃ）本発明の一実施の形態における部品寸法データの
構成図 （ｄ）本発明の一実施の形態における部品搭載データの
構成図
データの構成図 （ｂ）本発明の一実施の形態における部品寸法データの
構成図 （ｃ）本発明の一実施の形態における部品寸法データの
構成図 （ｄ）本発明の一実施の形態における部品搭載データの
構成図
【図５】（ａ）本発明の一実施の形態におけるランドデ
ータの構成図 （ｂ）本発明の一実施の形態におけるランドデータの説
明図
ータの構成図 （ｂ）本発明の一実施の形態におけるランドデータの説
明図
【図６】（ａ）本発明の一実施の形態における検査枠設
定条件の説明図 （ｂ）本発明の一実施の形態における検査枠設定条件の
説明図 （ｃ）本発明の一実施の形態における検査枠設定条件の
説明図
定条件の説明図 （ｂ）本発明の一実施の形態における検査枠設定条件の
説明図 （ｃ）本発明の一実施の形態における検査枠設定条件の
説明図
１ ランドデータ記憶部
２ 部品寸法データ記憶部
３ 部品搭載データ記憶部
４ 検査枠設定条件記憶部
５ 検査枠データ記憶部
６ 処理部
Claims (5)
- 【請求項１】基板のランドの寸法及び位置の情報を含む
基板固有のランドデータと、部品の形状を示す寸法値を
含む部品寸法データと、前記基板における部品の搭載位
置及び角度の情報を含む部品搭載データとに基いて演算
を行い、半田付け状態を検査するエリアを示す検査枠の
位置及び形状を決定することを特徴とする半田付け外観
検査における検査枠設定方法。 - 【請求項２】検査枠の位置及び形状を決定する際に、予
め設定される検査枠設定条件に適合するかどうか検討
し、適合していなければ演算で求めた検査枠の位置及び
形状を検査枠設定条件に適合するように修正することを
特徴とする請求項１記載の半田付け外観検査における検
査枠設定方法。 - 【請求項３】前記ランドデータが当該ランドに搭載され
る部品の部品名を含み、前記部品寸法データと前記部品
搭載データのうち当該部品名に関する部品寸法データ及
び部品搭載データを用いて前記検査枠の位置及び形状を
決定することを特徴とする請求項１記載の半田付け外観
検査における検査枠設定方法。 - 【請求項４】基板のランドの寸法及び位置の情報を含む
基板固有のランドデータを記憶するランドデータ記憶部
と、部品の形状を示す寸法値を含む部品寸法データを記
憶する部品寸法データ記憶部と、前記基板における部品
の搭載位置及び角度の情報を含む部品搭載データを記憶
する部品搭載データ記憶部と、決定された検査枠の位置
及び形状を保存する検査枠データ記憶部と、基板のラン
ドの寸法及び位置の情報を含むランドデータと、部品の
形状を示す寸法値を含む部品寸法データと、基板におけ
る部品の搭載位置及び角度の情報を含む部品搭載データ
とに基いて演算を行い検査枠の位置及び形状を決定して
前記検査枠データ記憶部に保存する処理部とを備えたこ
とを特徴とする検査枠設定装置。 - 【請求項５】前記ランドデータが当該ランドに搭載され
る部品の部品名を含み、前記部品寸法データは部品名毎
に寸法値を含み、前記部品搭載データは部品名毎に前記
基板における部品の搭載位置及び角度の情報を含み、前
記処理部は前記部品寸法データから読取った部品名に関
する部品寸法データ及び部品搭載データを用いて前記検
査枠の位置及び形状を決定することを特徴とする請求項
４記載の検査枠設定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03161297A JP3424483B2 (ja) | 1997-02-17 | 1997-02-17 | 半田付け外観検査における検査枠設定方法及び検査枠設定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03161297A JP3424483B2 (ja) | 1997-02-17 | 1997-02-17 | 半田付け外観検査における検査枠設定方法及び検査枠設定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10227616A JPH10227616A (ja) | 1998-08-25 |
| JP3424483B2 true JP3424483B2 (ja) | 2003-07-07 |
Family
ID=12336039
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP03161297A Expired - Fee Related JP3424483B2 (ja) | 1997-02-17 | 1997-02-17 | 半田付け外観検査における検査枠設定方法及び検査枠設定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3424483B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6009642B1 (ja) * | 2015-10-30 | 2016-10-19 | 日本碍子株式会社 | 組み立て品を検査する方法および接合体を生産する方法 |
-
1997
- 1997-02-17 JP JP03161297A patent/JP3424483B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH10227616A (ja) | 1998-08-25 |
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