JP3424483B2 - 半田付け外観検査における検査枠設定方法及び検査枠設定装置 - Google Patents
半田付け外観検査における検査枠設定方法及び検査枠設定装置Info
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Description
における検査枠設定方法及び検査枠設定装置に関するも
のである。
板にクリーム半田を印刷し、基板に部品を搭載して、リ
フロー装置でクリーム半田を溶融させた後固化させて、
基板に部品を半田付けする。
半田付けの不良がないかどうかチェックが行われる。
行うについては、検査に先立って、基板のうち、半田が
付いているはずの狭い領域(基板のランド上)に検査枠
が設定される。次に、この検査枠内の画像を取得し、画
像処理を行って、検査枠内に十分な量の半田が存在して
いるかどうかチェックされる。そして、チェック結果に
不良のものがあれば、半田付け不良と判定される。
は、次のような要領で検査枠が設定されていた。即ち、
外観検査装置そのものに、出来の良いマスター基板(半
田付け済のもの)をセットする。次に、作業者が、マス
ター基板を拡大表示したモニター画面を見ながら、手作
業で半田が存在する領域を探し、適当なサイズの検査枠
を設定していた。
設定し終わるまでに膨大な時間と労力を要する。という
のは、基板に数百以上の部品が実装されており、又、Q
PFなどの部品では、1つの部品だけで百前後の半田付
け部が存在することも多いからである。
業者の経験や感覚の違いなどから、同じマスター基板を
用いても、検査枠の設定結果がまちまちになりやすく、
外観検査結果のばらつきの原因になるという問題点もあ
る。
時間で適切な検査枠を設定できる半田付け外観検査にお
ける検査枠設定方法及び検査枠設定装置を提供すること
を目的とする。
査における検査枠設定方法では、基板のランドの寸法及
び位置の情報を含む基板固有のランドデータと、部品の
形状を示す寸法値を含む部品寸法データと、基板におけ
る部品の搭載位置及び角度の情報を含む部品搭載データ
とに基いて演算を行い、半田付け状態を検査するエリア
を示す検査枠の位置及び形状を決定する。
ンドの寸法及び位置の情報を含む基板固有のランドデー
タを記憶するランドデータ記憶部と、部品の形状を示す
寸法値を含む部品寸法データを記憶する部品寸法データ
記憶部と、基板における部品の搭載位置及び角度の情報
を含む部品搭載データを記憶する部品搭載データ記憶部
と、決定された検査枠の位置及び形状を保存する検査枠
データ記憶部と、基板のランドの寸法及び位置の情報を
含むランドデータと、部品の形状を示す寸法値を含む部
品寸法データと、基板における部品の搭載位置及び角度
の情報を含む部品搭載データとに基いて演算を行い検査
枠の位置及び形状を決定して前記検査枠データ記憶部に
保存する処理部とを備えている。
における検査枠設定方法では、基板のランドの寸法及び
位置の情報を含むランドデータと、部品の形状を示す寸
法値を含む寸法データと、基板における部品の搭載位置
及び角度の情報を含む部品搭載データとに基いて演算を
行い、半田付状態を検査するエリアを示す検査枠の位置
及び形状を決定する。
板のランドの寸法及び位置の情報を含むランドデータを
記憶するランドデータ記憶部と、部品の形状を示す寸法
値を含む寸法データを記憶する部品寸法データ記憶部
と、基板における部品の搭載位置及び角度の情報を含む
部品搭載データを記憶する部品搭載データ記憶部と、決
定された検査枠の位置及び形状を保存する検査枠データ
記憶部と、基板のランドの寸法及び位置の情報を含むラ
ンドデータと、部品の形状を示す寸法値を含む寸法デー
タと、基板における部品の搭載位置及び角度の情報を含
む部品搭載データとに基いて演算を行い検査枠の位置及
び形状を決定して前記検査枠データ記憶部に保存する処
理部とを備えている。
ブラリ化して提供される部品寸法データと、基板の品種
ごとに異なるランドデータ及び部品搭載データとを有効
に利用して、電子計算機による演算のみで検査枠を自動
設定できる。
ものを利用する必要はなく、検査枠の設定のためだけ
に、外観検査装置を専有することがない。したがって、
それだけ外観検査装置を本来の役割であるところの検査
のために使用でき、稼働率を向上できる。
形態を説明する。図1(a)に示すように、本形態の検
査枠設定装置は、次の記憶部をCD−ROM及びそのド
ライブ装置のような外部記憶装置に備えている。
品種ごとに異なるランドの寸法及び位置の値が含まれて
いる。又、部品寸法データ記憶部2には、部品そのもの
の形状を示す寸法値が入っており、部品搭載データ記憶
部3には、基板における部品の搭載位置及び角度の情報
が入っている。
さて、部品には、様々な品種があるが、本形態では、こ
れをリードなし部品とリード付き部品に大別する。
うな角チップがある。角チップは、抵抗、コンデンサ等
機能上さらに細分できるが、外観検査上は、外形形状が
同種であれば、同じように取扱えるので、角チップより
さらに細分化することはしていない。
うに、幅b、長さa及び厚さh1(図示せず)が重要な
寸法値である。そこで、これらの寸法値を、部品名毎に
図4(a)のようにまとめて、部品寸法データ記憶部2
に記憶させておく。といっても、このデータは、通常、
部品製造メーカーから、作業者に提供されるものであ
り、作業者自身が用意する必要はない。
図3(b)のようなトランジスタや図3(c)のような
QFP等に分けることができる。そして、これらについ
ても、図4(b),(c)のように、代表的な寸法値
c,d,e,f,g,h,i及びリード厚h2,h3を
部品寸法データ記憶部2に準備する。
に、本形態では、部品名に、その部品の品種を示す分類
情報とその品種内で他の部品と区別するための識別番号
を用いている。
頭の「P」は角チップを示す分類情報であり、「00
1」の部分は識別番号である。同様に、「T」はトラン
ジスタ、「Q」はQFPを、それぞれ示す分類情報であ
る。
ンドデータと検査枠設定条件について説明する。
に、独立したランド番号(0001からMAXまで)が
付されているものとする。そして、図5(a)に示すよ
うに、ランド番号ごとに、基板のXY座標系上における
ランドの中心座標(X1,Y1)、幅Lxと長さLy及び
そのランドに搭載される部品名(例えばランド番号「0
001」では角チップの「P001」)が入っている。
ータ記憶部2を参照して部品寸法データ(図4)から必
要な寸法値を得ることができる。
ると、図5(b)のようになる。このうち、10はラン
ド、11は角チップである。リードなし部品の場合、角
チップ11の先端部に半田付けがなされなければならな
いので、検査枠WNは幅Wx、長さWyとして、この位
置に設定される。
とができる。
の一部であり、図5(b)の点(X2,Y2)は角チップ
11の中心である。
ータの一部である寸法Lx,Lyに依存する。また、例
えば、アース部のように、基板のランドには、本来半田
付けするために必要な面積に比べて、極端に寸法が大き
いものもある。このような大きいランドに、半田付けす
るときには、ランドの周辺の部分に半田が広がっていな
くとも、角チップ11の近傍に十分な量の半田があれ
ば、半田付けは良好として差支えない。
て、図6(a)のようなダイヤログボックスを用いて検
査枠設定条件を付けられるようにした。即ち、幅Wxが
部品の幅bの何倍の範囲とするかを定められるようにし
た。
1.5bかつ0.5h1≦Wy≦1.5h1の範囲を検査
枠設定条件としている。そして、上述した式で単純に計
算した幅Wx、長さWyが、この条件に適合していなけ
れば、修正を加えることとしている。
5bとし、Wx<1.0bならばWx=1.0bとす
る。このようにすることにより、基板の回路構成上半田
付け上必要なランドよりも極端にサイズが違うものにつ
いても、半田付け検査上適切なサイズの検査枠が設定さ
れるようになっている。なお、リードなし/付きのいず
れについても、長さWy,Wy1に高さh1,h3を用い
て範囲を決めているのは、フィレットのY方向の広がり
はリードなし部品の厚さh1等の高さによって異なるか
らである。
内容と少し異なる。というのは、リード付き部品につい
ては、普通、リードの側部にもサイドフィレットと呼ば
れる半田付部を形成するようにするからである。
査枠としては、ランド12上からリード13を除いた3
つの検査枠WN1,WN2,WN3を設定可能である。
このうち、検査枠WN2,WN3がサイドフィレットの
検査用である。
ヤログボックスでリード付き部品の検査枠設定条件を決
定できるようにした。ここで、サイドフィレットの検査
をする又はしないの二者択一を指示するためのチェック
ボックスが追加されている。
まると、その情報は、図1の検査枠設定条件記憶部4に
保持される。また、検査枠WN,WN1〜WN3等の幅
Wx,・・・、長さWy,・・・は、図1(b)に示す
ように、検査枠番号を付けて、検査枠データ記憶部5に
保持される。
4(b)に示すように、部品名ごとの搭載座標、角度を
含む情報が入っている。
ローチャートに沿うプログラムを記憶するROMと、一
次記憶用のRAMと、このプログラムを実行するCPU
からなるものである。この処理部6は、リードなし部品
について、上述した式による計算を行う。なお、表示部
8は図6(a),(c)のダイヤログボックスを表示す
るディスプレイよりなり、操作部はこれらのダイヤログ
ボックスに数値や指示を入力するためのキーボードやマ
ウスからなる。
構成よりなり、次に図2を用いてそれを用いた検査枠設
定方法の各プロセスを説明する。
のランドデータのうち、注目番号が指示するデータを参
照するものであるが、まずステップ1にてこの注目番号
を「0001」に初期化する。
18.0)、Y1(20.0)、寸法Lx(=0.8
0)、Ly(=0.80)を読取って一次記憶する(ス
テップ2)。また、搭載部品名「P001」を読取り
(ステップ3)、その頭の分類情報「P」から部品寸法
データ記憶部2のうち、角チップの部品寸法データ(図
4(a))を開く(ステップ4)。
1.6)、b(=0.8)、h1(=0.4)を読取っ
て一次記憶する(ステップ5)。
載データ(図4(d))から、部品名「P001」に関
する搭載座標X2(=18.0)、Y2(=20.8)、
角度θ(=0°)を得る(ステップ6)。
ので、処理部6は、この式で演算を行い、幅Wx、長さ
Wyを求める(ステップ7)。そして、これらの値W
x,Wyが、検査枠設定条件記憶部4の条件にあうかど
うかチェックする(ステップ8)。
(0001)の頭に「W」をつけた検査枠番号「W00
01」を付けて検査枠データ記憶部5に保存する(ステ
ップ8,10)。一方、不適合であれば、上述したよう
に修正して保存する(ステップ8,9,10)。
MAXになるまで(ステップ11)、注目番号を「1」
だけ進めながら(ステップ12)、くり返すものであ
る。
作業者がいちいち大量の検査枠を設定する必要がなく、
簡単かつ短時間で設定を完了できる。また、外観検査装
置外で設定できるから、外観検査装置の稼働率を向上で
きる。
定装置のブロック図 (b)本発明の一実施の形態における検査枠データの構
成図
のフローチャート
データの説明図 (b)本発明の一実施の形態における部品寸法データの
説明図 (c)本発明の一実施の形態における部品寸法データの
説明図
データの構成図 (b)本発明の一実施の形態における部品寸法データの
構成図 (c)本発明の一実施の形態における部品寸法データの
構成図 (d)本発明の一実施の形態における部品搭載データの
構成図
ータの構成図 (b)本発明の一実施の形態におけるランドデータの説
明図
定条件の説明図 (b)本発明の一実施の形態における検査枠設定条件の
説明図 (c)本発明の一実施の形態における検査枠設定条件の
説明図
Claims (5)
- 【請求項1】基板のランドの寸法及び位置の情報を含む
基板固有のランドデータと、部品の形状を示す寸法値を
含む部品寸法データと、前記基板における部品の搭載位
置及び角度の情報を含む部品搭載データとに基いて演算
を行い、半田付け状態を検査するエリアを示す検査枠の
位置及び形状を決定することを特徴とする半田付け外観
検査における検査枠設定方法。 - 【請求項2】検査枠の位置及び形状を決定する際に、予
め設定される検査枠設定条件に適合するかどうか検討
し、適合していなければ演算で求めた検査枠の位置及び
形状を検査枠設定条件に適合するように修正することを
特徴とする請求項1記載の半田付け外観検査における検
査枠設定方法。 - 【請求項3】前記ランドデータが当該ランドに搭載され
る部品の部品名を含み、前記部品寸法データと前記部品
搭載データのうち当該部品名に関する部品寸法データ及
び部品搭載データを用いて前記検査枠の位置及び形状を
決定することを特徴とする請求項1記載の半田付け外観
検査における検査枠設定方法。 - 【請求項4】基板のランドの寸法及び位置の情報を含む
基板固有のランドデータを記憶するランドデータ記憶部
と、部品の形状を示す寸法値を含む部品寸法データを記
憶する部品寸法データ記憶部と、前記基板における部品
の搭載位置及び角度の情報を含む部品搭載データを記憶
する部品搭載データ記憶部と、決定された検査枠の位置
及び形状を保存する検査枠データ記憶部と、基板のラン
ドの寸法及び位置の情報を含むランドデータと、部品の
形状を示す寸法値を含む部品寸法データと、基板におけ
る部品の搭載位置及び角度の情報を含む部品搭載データ
とに基いて演算を行い検査枠の位置及び形状を決定して
前記検査枠データ記憶部に保存する処理部とを備えたこ
とを特徴とする検査枠設定装置。 - 【請求項5】前記ランドデータが当該ランドに搭載され
る部品の部品名を含み、前記部品寸法データは部品名毎
に寸法値を含み、前記部品搭載データは部品名毎に前記
基板における部品の搭載位置及び角度の情報を含み、前
記処理部は前記部品寸法データから読取った部品名に関
する部品寸法データ及び部品搭載データを用いて前記検
査枠の位置及び形状を決定することを特徴とする請求項
4記載の検査枠設定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP03161297A JP3424483B2 (ja) | 1997-02-17 | 1997-02-17 | 半田付け外観検査における検査枠設定方法及び検査枠設定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP03161297A JP3424483B2 (ja) | 1997-02-17 | 1997-02-17 | 半田付け外観検査における検査枠設定方法及び検査枠設定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10227616A JPH10227616A (ja) | 1998-08-25 |
JP3424483B2 true JP3424483B2 (ja) | 2003-07-07 |
Family
ID=12336039
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP03161297A Expired - Fee Related JP3424483B2 (ja) | 1997-02-17 | 1997-02-17 | 半田付け外観検査における検査枠設定方法及び検査枠設定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3424483B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6009642B1 (ja) * | 2015-10-30 | 2016-10-19 | 日本碍子株式会社 | 組み立て品を検査する方法および接合体を生産する方法 |
-
1997
- 1997-02-17 JP JP03161297A patent/JP3424483B2/ja not_active Expired - Fee Related
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---|---|
JPH10227616A (ja) | 1998-08-25 |
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