JP2003332799A - 過誤判定データのフィルタリング方法及び装置 - Google Patents

過誤判定データのフィルタリング方法及び装置

Info

Publication number
JP2003332799A
JP2003332799A JP2002137057A JP2002137057A JP2003332799A JP 2003332799 A JP2003332799 A JP 2003332799A JP 2002137057 A JP2002137057 A JP 2002137057A JP 2002137057 A JP2002137057 A JP 2002137057A JP 2003332799 A JP2003332799 A JP 2003332799A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
determination
error
inspection
filtering
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2002137057A
Other languages
English (en)
Inventor
Takuya Harada
琢也 原田
Koichi Kanematsu
宏一 兼松
Yukichi Nishida
裕吉 西田
Masaya Matsumoto
昌也 松本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP2002137057A priority Critical patent/JP2003332799A/ja
Publication of JP2003332799A publication Critical patent/JP2003332799A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 検査機によって判定された不良データ(NG
データ)中から、直ちに過誤判定データをフィルタリン
グして、真のNGデータを得る。 【解決手段】 プリント基板P0の良否判定を行った結
果が不良と判定されたNGデータを全検査データの中か
ら取得するとともに良否判定基準となった判定基準の値
を取得する工程T1と、検査データをフィルタリング処
理する工程T2と、NGデータと判定とされフィルタリ
ング処理された検査データについて2次判定をする工程
T3とを備えた。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、例えば、プリン
ト基板などの製造・検査ラインにおいて良否の判定を行
う際に、不良品として判定されたデータの中から良品な
のに不良品として過誤判定されたデータをフィルタリン
グする(選別して取り除く)ことができる過誤判定デー
タのフィルタリング方法及び装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】例えば、プリント基板に各種部品を実装
させて製品を製造する場合に、その実装された各部品の
実装状態の検査を、検査員が目視によって行っていた
が、近年この検査を機械的に行う検査装置が開発されて
いる。この検査装置では、プリント基板上の各実装部品
のリード端子や基板側のランドなどにおいて、実装部品
の取付位置や角度のずれ或いは高さなどの測定を行い、
良否の判定を行っている。
【0003】通常、良品及び不良品の判断の際の閾値で
ある基準値の設定は、経験的に判断して決めることが多
く、検査装置内のマスタデータとして設定・記憶してお
り、このマスタデータを基準(判定基準)として演算処
理を行い、良否を判断するといったことが行われてい
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、この基準
(判定基準)値は、通常、不良品が製品などとして市場
に出回らないようにするため、その基準(判定基準)値
を控えめに、別言すれば、「厳しめ」に選択・設定して
いる。つまり、不良品を良品と判定されることがないよ
うに、意識的に比較的辛め、換言すれば、「故意に不良
判定になりうる」範囲に抑えている。このため、人間が
判断すれば良品である場合でも、不良品として判断され
てしまう、といった不都合を生じる場合があった。
【0005】さらに、この検査装置にあっては、こうい
った過誤判定をもたらす基準(判定基準)値を修正・変
更しない限り、信頼性が低下して正しいデータの解析が
行えない。その結果、検査後の不良集計処理表示に良品
がカウントされたり、不良判定データ(NGデータ)の
中から真の不良データと判定する工数が余分にかかる、
などといった不都合を生じている。
【0006】しかも、従来のこのような検査装置は、リ
アルタイムに行うことが難しかったので、検査結果が直
ちに反映されない。つまり、過誤判定があったと判明し
てからその直後に基準(判定基準)値を修正・変更する
までの被検査品について、誤った検査基準がそのまま適
用されてしまう。このため、その後、修正・変更するま
での間に真のNGデータの中に混ざり込んでいる検査デ
ータ(NGデータとして過誤判定された正しくはOKデ
ータ)をOKデータとしてフィルタリングするための後
処理には、作業員が手作業で多大な時間と労力を費やす
ことになり、問題となっている。
【0007】そこで、この発明は、上記した事情に鑑
み、検査機によって判定された不良データ(NGデー
タ)中から、直ちに過誤判定データ(本当はOKデータ
であったもの)をフィルタリングして、過誤のない正し
い判定データ(真のNGデータ)を得ることができる過
誤判定データのフィルタリング方法及び装置を提供する
ことを目的とするものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】この発明の過誤判定デー
タのフィルタリング方法は、被検査品の良否判定処理を
行い、この良否判定処理の中で不良と判定されたデータ
をNGデータとし、このNGデータが過誤判定であるか
を判定したうえで、この判定で過誤判定とされた検査デ
ータを前記NGデータの中から選び出してフィルタリン
グする過誤判定データのフィルタリング方法であって、
前記被検査品を検査することにより得られた検査データ
を用いて、予め設定された判定基準に基づき前記被検査
品の良否判定を行ったときに、その結果が不良と判定さ
れた前記NGデータを、前記全検査データの中から選別
し取得する工程と、前記良否判定の基準となった前記判
定基準の値を取得する工程と、前記不良と判定されたと
きの判断に用いた前記検査データを、前記判定基準の値
に基づき解析する工程と、前記NGデータと判定とされ
た検査データの中から、前記解析結果に基づいて過誤と
判定された前記検査データをフィルタリングする工程と
を備えたことを特徴としている。
【0009】これにより、判定基準の解析結果に基づ
き、不良として判定された検査データ(NGデータ)の
中から過誤判定されていたOKデータを選別してフィル
タリング(削除)し、真のNGデータだけを表示・処理
することができる。
【0010】また、この発明過誤判定データのフィルタ
リング方法は、被検査品の良否判定処理を行い、この良
否判定処理の中で不良と判定されたデータをNGデータ
とし、このNGデータが過誤判定であるかの2次判定を
したうえで、この2次判定で過誤判定とされた検査デー
タを前記NGデータの中から選び出してフィルタリング
する過誤判定データのフィルタリング方法であって、前
記被検査品を検査することにより得られた検査データを
用いて、予め設定された判定基準に基づき前記被検査品
の良否判定を行ったときに、その結果が不良と判定され
た前記NGデータを、前記全検査データの中から選別し
取得する工程と、前記良否判定の基準となった前記判定
基準の値を取得する工程と、前記良否判定が過誤判定で
あるか否かの2次判定を行う基準材料となる過誤判定基
準を設定する工程と、不良と判定されたときの判断に用
いた前記検査データを、前記過誤判定基準の値に基づき
解析する工程と、前記解析結果に基づいて前記NGデー
タについての2次判定を行い真のNGデータ以外の過誤
と判定された過誤NGデータをフィルタリングする工程
とを備えたことを特徴としている。
【0011】同様に、判定基準の解析結果に基づき、不
良として判定された検査データ(NGデータ)の中から
過誤判定されていたOKデータを選別してフィルタリン
グ(削除)し、真のNGデータだけを表示・処理するこ
とができる。
【0012】また、この発明過誤判定データのフィルタ
リング方法は、前記解析する工程が、前記不良と判定さ
れたときの前記検査データに対して、予め設定されてい
る閾値フィルタを積算させる所定の演算処理を行うよう
にしてもよい。
【0013】これにより、不良と判定された検査データ
を用いて、数学的に定量的に演算処理を行ってフィルタ
リングを行うことができる。
【0014】また、この発明の過誤判定データのフィル
タリング方法は、前記過誤NGデータを削除するための
基準となる前記過誤判定基準とは異なる過誤判定基準を
新たに設定し記憶する工程、又は前記過誤判定基準を修
正・変更し記憶する工程と、前記2次判定で選別された
前記NGデータ中から再度過誤NGデータをフィルタリ
ングする工程とを備えてもよい。
【0015】これにより、過誤NGデータの含まれない
真のNGデータをリアルタイムに見つけ出すことができ
る。
【0016】また、この発明の過誤判定データのフィル
タリング方法は、前記過誤判定データをフィルタリング
するために新たに前記良否基準を設定し記憶する場合に
は、前記良否判定結果で得られたNGデータに含まれる
エラーコードとは別に前記判定基準の設定内容を保存す
る工程と、検査機により計測した計測データを補正する
ために、前記検査機の種類別に計測項目の設定内容を保
存する工程とを備えることができる。
【0017】これにより、検査機の検査結果であるエラ
ーコードとは別に前記判定基準の設定内容を保存するこ
とにより、各検査機での検査工程に対応した最適な判定
基準の設定及び過誤判定を選別してフィルタリング(削
除)することが可能になる。
【0018】また、この発明の過誤判定データのフィル
タリング方法は、前記検査機での検査データが前記判定
基準で不良と判定された場合には、前記検査機から前検
査データを表示部に取り込むのに先立ち、前記新たに設
定した過誤判定基準の設定内容を適用して、前記NGデ
ータから過誤NGデータをフィルタリングする工程を有
してもよい。
【0019】これにより、リアルタイムに真のNGデー
タを見つけ出して表示手段で表示することができるよう
になる。また、その時点で、これ以上の過誤判定データ
(本当はOKデータであったものが過誤判定されたデー
タ)が発生するのを防止できるようになる。
【0020】また、この発明の過誤判定データのフィル
タリング方法は、前記判定をリアルタイムに行う工程
と、前記判定の結果を表示する工程とを備えてもよい。
【0021】これにより、判定をリアルタイムに行っ
て、直ちにその判定結果を表示手段に表示することがで
き、直ちに不良品の修理などを行うことができる。
【0022】また、この発明の過誤判定データのフィル
タリング方法は、前記真のNGデータに対するリアルタ
イムな集計処理を行う工程を有してもよい。
【0023】これにより、NGデータの集計処理が行え
るので、工程品質(能力)の向上などに供することがで
きる。
【0024】また、この発明の過誤判定データのフィル
タリング装置は、被検査品の良否判定処理を行い、この
良否判定処理の中で不良と判定されたデータをNGデー
タとし、このNGデータが過誤判定であるかを判定した
うえで、この判定で過誤判定とされた検査データを前記
NGデータの中から選び出してフィルタリングする過誤
判定データのフィルタリング装置であって、前記被検査
品を検査することにより得られた検査データを用いて、
予め設定された判定基準に基づき前記被検査品の良否判
定を行ったときに、その結果が不良と判定された前記N
Gデータを全検査データの中から選別し取得する不良選
別手段と、前記良否判定の基準となった前記判定基準の
値を取得する判定基準取得手段と、前記不良と判定され
たときの判断に用いた前記検査データを、前記判定基準
の値に基づき解析する解析手段と、前記不良と判定とさ
れた検査データの中から、前記解析結果に基づいて前記
過誤判定とされた検査データをフィルタリングする過誤
判定データフィルタリング手段とを備えたことを特徴と
している。
【0025】これにより、リアルタイムに真のNGデー
タを見つけ出して表示手段で表示することができるよう
になる。また、その時点で、これ以上の過誤判定データ
(本当はOKデータであったものが過誤判定されたデー
タ)が発生するのを防止できるようになる。
【0026】また、この発明の過誤判定データのフィル
タリング装置は、被検査品の良否判定処理を行い、この
良否判定処理の中で不良と判定されたデータをNGデー
タとし、このNGデータが過誤判定であるかの2次判定
をしたうえで、この2次判定で過誤判定とされた検査デ
ータを前記NGデータの中から選び出してフィルタリン
グする過誤判定データのフィルタリング装置であって、
前記被検査品を検査することにより得られた検査データ
を用いて、予め設定された判定基準に基づき前記被検査
品の良否判定を行ったときに、その結果が不良と判定さ
れた前記NGデータを全検査データの中から選別し取得
する不良選別手段と、前記良否判定の基準となった前記
判定基準の値を前記被検査品の検査を行う検査機から取
得する判定基準取得手段と、前記良否の判定が過誤判定
であるか否かの2次判定を行う基準材料となる過誤判定
基準を設定する過誤判定基準設定手段と、前記不良と判
定されたときの判断に用いた前記検査データを、前記過
誤判定基準に基づき解析する解析手段と、前記NGデー
タの中から、前記解析結果に基づいて前記2次判定で選
別された過誤NGデータをフィルタリングする過誤NG
データフィルタリング手段とを備えたことを特徴として
いる。
【0027】同様に、リアルタイムに真のNGデータを
見つけ出して表示手段で表示することができるようにな
る。また、その時点で、これ以上の過誤判定データが発
生するのを防止できるようになる。
【0028】また、この発明の過誤判定データのフィル
タリング装置は、前記解析手段は、前記不良と判定され
たときの前記検査データに対して、予め設定されている
閾値フィルタを積算させる所定の演算処理を行うように
構成してもよい。
【0029】これにより、不良と判定された検査データ
を用いて、数学的に定量的に演算処理を行ってフィルタ
リングを行うことができる。
【0030】また、この発明の過誤判定データのフィル
タリング装置は、前記過誤判定データを削除するための
基準となる、前記判定基準とは異なる過誤判定基準を新
たに設定して記憶する手段、又は前記過誤判定基準を修
正・変更して記憶する手段と、前記2次判定で選別され
た前記NGデータ中から再度過誤NGデータをフィルタ
リングする手段とを備えてもよい。
【0031】これにより、例えば、既に設定されている
過誤判定基準とこれとは別の厳し目の過誤判定基準との
2段構造の過誤判定基準を用いて、不良品の判定データ
の中から過誤判定データを選別してフィルタリング(削
除)し、真のNGデータを取り出すことができる。
【0032】また、この発明の過誤判定データのフィル
タリング装置は、前記検査データが前記判定基準で不良
と判定された場合には、その検査データを表示手段に取
り込むのに先立ち、前記新たに設定した判定基準の設定
内容を適用して、前記検査データから過誤NGデータを
フィルタリングする手段を備えることができる。
【0033】これにより、NGデータを表示する場合
に、NGデータが正しく表示できるようになり、その後
の素早いアクション(後処理など)が可能になる。
【0034】また、この発明の過誤判定データのフィル
タリング装置は、前記判定をリアルタイムに行う手段
と、前記判定の結果を表示する手段とを備えてもよい。
【0035】これにより、判定をリアルタイムに行っ
て、直ちにその判定結果を表示手段に表示することがで
き、直ちに不良品の修理などを行うことができる。
【0036】また、この発明の過誤判定データのフィル
タリング装置は、前記真のNGデータに対するリアルタ
イムな集計処理を行う手段を備えてもよい。
【0037】これにより、NGデータの集計処理が行え
るので、工程品質(能力)の向上などに供することがで
きる。
【0038】
【発明の実施の形態】以下、この発明に係る実施の形態
について、添付図面を参照しながら詳細に説明する。図
1は、この発明に係る過誤判定データの削除装置を適用
した検査システムを示すものである。この検査システム
の中の過誤判定データフィルタリング装置は、被検査品
である各種部品実装後のプリント基板(未検査基板P
0)に対する外観検査機(C)として設けてあり、大略
構成として、検査機1と、品質分析機2とを備えてい
る。
【0039】この発明の検査機1としては、例えば図2
に示すように、配線パターンが完成されたプリント基板
へ印刷機(E)で半田を塗布・印刷させた後の検査を行
う印刷検査機(A)、高速装着機(F)及び多機能装着
機(G)で搭載された各種部品(電子部品)を検査する
実装検査機(B)、更にはリフロ機(H)により先の各
種部品(電子部品)をプリント基板に搭載させるととも
に各種部品(電子部品)のリフロ後の装着(実装)状態
を検査する外観検査機(C)、及びリフロ後の外観から
BGA(Ball Grid Array)やCSP(Chip Size Packa
ge)などのような電子部品の不良が検出できない電子部
品のX線検査を行うX線検査機(D)へ適用されてい
る。なお、この発明の検査機としては、特に装着検査機
(B)、外観検査機(C)へ適用したものが重要であり
効果的であるが、これら上記した検査機以外にも各種の
分野への適用が可能である。
【0040】また、これらの検査機1は、互いにLAN
(local area network)で接続されてリアルタイムでデー
タの送受信を行うように構成されている。なお、この実
施形態では、検査機1として、高速装着機(F)及び多
機能装着機(G)で搭載された各種実装部品(電子部
品)の外観などを検査する外観検査機(C)について説
明する。
【0041】検査機1は、図1に示すように、各種部品
を実装後のプリント基板の検査用(B)として設けてお
り、具体的には、各部品(電子部品)に対する計測結果
を基にして所要のデータ処理を行い、プリント基板上の
部品のズレ、角度、半田ショート、半田不濡れ状態など
について、OK(合格、良品)又はNG(不合格、不良
品)を判断する。そのため、この実施形態の検査機1に
は、測定部11と、判定部12と、判定基準格納部13
と、データ送信部14とを備えている。
【0042】このうち測定部11では、プリント基板
(未検査基板)P0上の実装すべき各部品(実装部品)
のリード端子やプリント基板P0上の図示外の電極(ラ
ンド)などの測定部位での実装部品の取付位置や角度の
ずれ或いは高さなどの部品実装状態に関して計測(計測
データ)を行っている。このため、この測定部11は、
出力が判定部12の入力に接続されている。
【0043】また、判定部12は、前述した測定部位で
の実装部品の取付位置や角度のずれ或いは高さなどの計
測データ(検査データ)に基づいてその良否を個別に検
査・判定するように構成されており、入力が測定部11
の出力及び判定基準格納部13の出力と接続されている
とともに、出力がデータ送信部14の入力と接続されて
いる。
【0044】判定基準格納部13は、前述した各測定部
位での測定値と予め設定されたデータとをつき合わせて
これらの比較・演算などを行う際の判定の基準となる
値、つまり判定基準を記憶・格納しておくとともに、そ
の記憶・格納された判定基準について現実に変更・修正
が可能となるように構成されている。
【0045】データ送信部14は、前述した各種の測定
部位での検査データ及びその判定結果をそれぞれ測定部
位ごとに後述する品質分析機2側のデータ受信部21へ
出力するようになっている。この検査データの送信は、
プリント基板P0の検査を終了すると、検査データのフ
ァイルを生成して、LANを介して品質分析機2へ送信
するようになっている。このため、このデータ送信部1
4は、入力が判定部12の出力に接続されているととも
に、出力がデータ受信部21の出力に接続されている。
【0046】品質分析機2は、図1に示すように検査機
1での検査データを一元的に収集する検査システムの一
部を構成している。即ち、この品質分析機2は、検査機
1で不良品と判定されたデータ(NGデータ)の中から
真の不良品(真のNGデータ)を絞り込み、例えばどの
プリント基板のどの部位に不良個所があるのかをリアル
タイムに分析したり、どういう個所にエラーが多いかと
いった内部分析をリアルタイムに行い、部品実装の際の
どこが悪いのかを知らせるとともに、過誤により不良デ
ータ(NGデータ)とみなされたOKデータの選別及び
フィルタリング(削除)などを目的とするものである。
【0047】また、この品質分析機2は、部品の実装を
行う実装機のどこの部分が悪いかといった情報を通知す
るといったことを合わせて行う機能を有するとともに、
アクションを起こすための情報を提供するようになって
いる。この実施形態の品質分析機2は、検査データを受
信するとリアルタイムにそれらの分析・表示を行うよう
になっており、データ受信部21と、フィルタリング部
22と、過誤判定基準格納部23と、2次判定部24
と、データ集計部25とを備えている。なお、この品質
分析機2には、集計データの表示部26を端末に設けて
いる。
【0048】データ受信部21は、入力がデータ送信部
14の出力に接続されており、データ送信部14から送
信された検査データを受信するようになっている。
【0049】フィルタリング部22は、検査機1で不良
判定がなされた場合に、後述する過誤判定基準を用いて
2次判定をリアルタイムに行うことにより、不良と判定
されたデータ(NGデータ)の中から過誤判定データ
(本当はOKデータであるがNGデータとして過誤判定
されたもの)をリアルタイムに選別してフィルタリング
(削除)する、つまり真のNGデータをリアルタイムに
(絞り込んで)選別するためのものである。即ち、これ
は、次工程で不良を出さないようにするためにやや厳し
目に検査機1で判定基準が設定されている反面、NGデ
ータの中にはその判定基準に触れる虞の高いややきわど
いデータ(本当のOKデータと近いNGデータ)を含ん
でいるといった事情があるからである。
【0050】そこで、このフィルタリング部22を設け
ることにより、これまで、検査員が目視などこの判別を
行っていたのを避けるとともに、かつ、生産中にこの検
査をリアルタイムに行い、不良個所を早く次の工程など
へ伝えてその後のアクションを早くさせる、例えば不良
個所が早く集計されて伝えられ、不良そのものを早く抑
え込めるようにするようになっている。そのため、この
フィルタリング部22では、過誤判定部位における適正
な判定基準を過誤判定基準格納部23に格納・記憶され
ている過誤判定基準の中から(機種ごとに)選び出して
くるように構成されている。
【0051】過誤判定基準格納部23は、検査機1での
検査データ(例えばエラー項目の内容やエラーコードの
内容。但し、エラー項目によって数値を見る場合と見な
い場合がある)から過誤判定であると判定したデータを
拾い出して削除するための過誤判定基準を設定してこれ
を格納・記憶するとともに、その格納・記憶された過誤
判定基準を修正・変更してこれを格納・記憶するように
構成されている。
【0052】2次判定部24は、不良と判定された検査
データ(NGデータ)の2次判定を行い、不良と判定さ
れたNGデータについて過誤判定データ(本当はOKデ
ータ)か真のNGデータかを判定する、換言すれば、真
の不良品(真のNGデータ)を選別するものである。
【0053】そのため、この2次判定部24は、検査機
1の判定部12で不合格と判断されたデータについての
み、検査データと過誤判定基準格納部13に格納・記憶
されている前述の過誤判定基準とを照合して、データの
比較・演算などを行うように構成されている。
【0054】データ集計部25は、モニタに出すデータ
を生成するとともに、その都度リアルタイムにまとめて
累計して表示部26の適宜の画面上に、例えば表やグラ
フなどで表示させるものである。このため、データ集計
部25は、入力が2次判定部24の出力と接続されてい
る。
【0055】また、この品質分析機2での過誤判定フィ
ルタは、適用対象とする検査機により機械差があるため
に検査機ごとに変更・設定することが可能となってお
り、従って、各検査機別に過誤判定基準の項目を変更し
それに合わせた過誤判定基準を設定しておくことができ
る。また、過誤判定基準値は、対象項目ごとに複数設定
用意しておけば、採用する過誤判定基準値によって対象
項目ごとに設定内容が誰でも容易に変更できる。
【0056】表示部26は、真のNG基板の不良個所の
リアルタイムな表示などを行うものであり、具体的に
は、図3に示すように、フロント画面26Aにおいて、
フィルタの選択項目欄261には例えばエラー項目フィ
ルタ及び閾値フィルタ(図4参照)が表示されるととも
に、検査機の選択項目欄262には例えばIPK#1、
IPK#2、・・・などが表示される。従って、表示部
26のフロント画面26Aにおいて、例えば、フィルタ
タイプとしてエラー項目フィルタを選択し、検査機とし
てIPK#1を選択した場合には、次画面26Bにおい
て、エラー項目の削除(フィルタリングの適用除外)対
象になるものとしては、エラーコード;B21、B2
2、B23、・・・などがあり、これらが表示部26の
次画面26Bにおいて、エラー項目欄263部分に表示
される。また、表示部26の次画面26Bにおいて、エ
ラー項目によって数値を見る場合と見ない場合とがある
ことから、表示部26の次画面26Bにおいて、表示対
象欄264には、数値を見る場合にのみ、それがここに
表示される。
【0057】一方、図4に示すように、表示部26のフ
ロント画面26Aにおいて、例えばフィルタタイプとし
て閾値フィルタを選択し、検査機としてIPK#1を選
択した場合には、図4に示す次画面26Cにおいて、閾
値補正対象エラーコードの選択対象となるか否かについ
ては、対象外の欄265に表示されるものが閾値補正対
象エラーコードの選択対象外となるものであり、対象の
欄266に表示されるものが閾値補正対象エラーコード
の選択対象となるものである。なお、この対象の欄26
6に表示される各項目については、次画面26Cの上部
に表示される各タブ26Dを開き、そこに設けてある閾
値補正値欄267において、個別具体的に、閾値補正値
を設定することができる。
【0058】次に、この発明に係る過誤判定データのフ
ィルタリング方法について、先の実施の形態で用いた検
査システム(検査機1及び品質分析機2)に基づいて説
明する。この過誤判定データ削除方法は、各種部品の製
造ラインにおいて個別に前記実装部品の品質の分析・検
査や実装位置・角度のずれなどの検査を行い、不良判定
の中から過誤判定をフィルタリング(選別して削除)す
るものである。具体的には、図5に示す第1ステップS
1から第5ステップS5からなる検査ステージと、図6
に示す第1ステップT1から第5ステップT5からなる
品質分析ステージとで構成されている。
【0059】<検査ステージについて> (1)初めに、検査機1によるプリント基板P0の良品
/不良品判定を行うのに先立ち、検査機1で行う良品/
不良品の判定(以下、これを第1判定とよぶ)の基準と
なる判定基準(データ)を予め判定基準格納部13に取
得・格納しておく(第1ステップS1)。 (2)そして、各種の実装すべき部品について、その実
装作業が完了したのち、ライン上を流れてくるプリント
基板P0に対して、検査機1の測定部11で測定部位
(回路番号)ごとに所要の測定を行い、計測データを得
る(第2ステップS2)。
【0060】(3)次に、検査機1によるプリント基板
の良品不良品の第1判定をプリント基板別にリアルタイ
ムで行い、不良判定のデータを取得する(第3ステップ
S3)。即ち、検査機1の判定部12では、各プリント
基板の測定部位ごとに得た測定データと判定基準データ
とを用い、個々のプログラムに沿って演算処理を行って
良品不良品の第1判定を行う。 (4)これにより、特に、不良品と判定されたプリント
基板について、全ての検査データを取得する(第4ステ
ップS4)。なお、取得するデータは、不良判定データ
だけでもよい。
【0061】(5)次に、不良品と判定されたプリント
基板P0について、取得した不良判定の検査データを品
質分析ステージのフィルタリング部22へ送信する(第
5ステップS5)。また、この第5ステップS5では、
判定基準格納部13に取得・格納しておいた第1判定の
判定基準(データ)も、品質分析ステージのフィルタリ
ング部22へ送信しておく。なお、この第1判定の判定
基準は、生産品番が新しくなった時などのみに取得す
る。
【0062】なお、ここでの検査データに関する送信デ
ータには、例えば図7に示すように、基板情報ブロック
部DB1と、NG情報ブロック部DB2との2つに大別
される情報を含んでいる。このうち、基本情報ブロック
部DB1には、例えば、日付201、バーコード番号2
02、検査機名称203、検査対象の生産品番名称20
4、検査時刻(日・時・分・秒)205、プリント基板
の検査対象数206、判定結果207などの情報が含ま
れている。例えば、判定結果「1」が合格(良品;OK
品)、「0」は不合格(不良品;NG品)などである。
【0063】一方、NG情報ブロック部DB2には、予
め決められているNG部品の回路番号301、エラーコ
ード(エラー番号)302、計測データ(ズレ量;X,
Y,θ)303などの情報が含まれる。なお、これらの
データは、特にここに記載のフォーマットのものに限定
されないが、特に、プリント基板の属性及びエラーの属
性については、必要である。なお、ここでは、NGの情
報の場合を述べているが、OKの情報を取り込んでもよ
い。また、このOKの情報を取り込んだ場合に、このO
K情報が連なる場合には、このOKの情報を飛ばして読
むように構成してもよい。
【0064】また、検査データのフォーマットは、検査
機1の種類によって異なるが、この検査システムでは、
これらの検査データを受信する際に、検査機1の種類別
にデータフォーマットの分析を行い、処理することで対
応する。なお、品質分析機2に送信するデータについて
は、検査のプリント基板P0がOK品(OK基板P1)
であっても、集計処理のために送信される。この場合、
エラー箇所はないので、NG情報ブロック部DB2は生
成されず、基板情報ブロック部DB1のみで送信され
る。
【0065】<品質分析ステージ> (1)初めに、品質分析機2のフィルタリング部22
で、過誤判定の選出及び削除のための根拠となる判定基
準(データ)を設定し、或いは変更修正などの編集を行
って過誤判定基準格納部23へ格納・記憶させておくと
ともに、フィルタリング部22で処理するためにこれら
のデータをフィルタリング部22へ送り出しておく。ま
た、前述した検査ステージでプリント基板P0が検査さ
れるたびに、検査機1のデータ送信部14から品質分析
機2のデータ受信部21へ検査データが送信されてく
る。従って、不良判定の判断根拠となった各検査データ
(図7参照)をデータ受信部21で受け取り、これをフ
ィルタリング部22へリアルタイムに出力する(第1ス
テップT1)。なお、検査機1の検査データから過誤判
定データを選別しフィルタリング(削除)するための過
誤判定基準をフィルタリング部22で設定し記憶する際
に、検査機1のエラーコード別に対応するように設定内
容を保存するようにしている。
【0066】(2)そして、前述した検査ステージでプ
リント基板P0が検査されるたびに、データ送信部14
から送信されてフィルタリング部22に取り込まれてく
る検査データのうち不良判定の判断根拠となった各検査
データ(図7参照)について、フィルタリング部22に
より、後に詳述するフィルタリング処理が行われる(第
2ステップT2)。
【0067】(3)次に、フィルタリング部22では、
図7に示す検査データのうち、基板情報ブロック部DB
1にある検査基板の判定結果207により、NGデータ
かOKデータかを2次判定する。(第3ステップT
3)。即ち、OKデータについてはフィルタリングを行
わないで、次のプリント基板P0の検査データを待つ。
一方、NGデータと判別した場合には、そのNGデータ
がフィルタに該当しないエラー項目であれば、フィルタ
リングを行わない。逆に、フィルタに該当するエラー項
目であれば、フィルタリングを行う。そして、NGデー
タについて、過誤判定基準格納部23に格納・記憶され
ていた過誤判定基準データ(閾値フィルタ)と測定デー
タとを用いて、所定の演算処理を行い、不良の判定につ
いて、リアルタイムに確認・判定する。つまり、フィル
タリング部22では、エラー項目についてフィルタをか
け、閾値フィルタを掛けるべきものだけに(そのフィル
タをかける対象となった項目のデータについてだけ)、
閾値を掛ける。
【0068】(4)そして、2次判定部24で2次判定
された結果を表示部26に表示する(第4ステップT
4)。
【0069】次に、図6におけるフィルタリング処理T
2について説明する。なお、このフィルタリング処理T
2には、前述した図3に示すエラー項目フィルタと、前
述した図4に示す閾値フィルタとの2種類の処理があ
る。このうち、エラー項目フィルタは、検査データのN
G情報ブロック部DB2から過誤判定基準データに基づ
いてフィルタリング(削除)指定のあるエラーコード3
02(図7参照)があれば、削除して真のNGデータと
判定する。
【0070】初めに、図3に示すエラー項目フィルタに
ついて、設定データの具体例を説明すると、例えばXM
L(Extensive Markup Language)形式で表現する
と、図8のようになる。
【0071】なお、ここで、例えば(1)は、エラーフ
ィルタの対象設備がIPK_1であることを示してい
る。また、(2)は、画面に表示となるエラーコードを
示している。また、(3)は、エラーフィルタの設備対
象がIPK_2であることを示しており、(4)は、検
査設備(検査機)IPK_2でのエラーフィルタを示し
ている。
【0072】一方、閾値フィルタは、検査データのNG
情報ブロック部DB2からXYずれなどの計測データを
読み取って後述する評価判定関数を用いて、2次判定を
行い、この判定結果でNGになった場合にのみ、OKデ
ータでなく真のNGデータとするものである。
【0073】例えば、閾値フィルタリングについて、具
体的には、図4に示すように、X方向ずれ(以下、Xず
れとよぶ)、Y方向ずれ(以下、Yずれとよぶ)、角度
(θ)ずれ(以下、角度ずれとよぶ)などの計測項目に
ついて、各計測データのエラー閾値をN倍して、判定評
価関数Fにて演算処理を行うことによって過誤判定デー
タを削除する。なお、この閾値フィルタリングは、閾値
が設定指示されている計測項目に対してのみ閾値チェッ
ク処理を行う。また、判定用の評価関数F内の閾値を変
更する。ここでは、実用上、N倍しているが、例えばX
ずれであれば、X=Nx+mなどでも構わない。ここ
で、mはNの倍数でない数である。また、判定用の評価
関数Fはプリント基板の製造設備によって異なり、例え
ばXずれであれば、X=F(x)、 但し、X:ずれの真値 x:検査機のずれ計測値 また、Yずれであれば、Y=F(y)、 但し、Y:ずれの真値 y:検査機のずれ計測値 また、角度ずれであればΘ=F(θ) 但し、Θ:ずれの真値 θ:検査機のずれ計測値 である。
【0074】次に、図4に示す閾値フィルタについて、
設定データの具体例を説明すると、例えばXML(Exte
nsive Markup Language)形式で表現すれば、図9の
ようになる。
【0075】なお、ここで、例えば(5)は、検査設備
IPK_1のみに以下の閾値フィルタを適用することを
示す。また、(6)、(7)は、Xずれの閾値フィルタ
(Xずれの閾値変更係数(1.2倍する)を示す。即
ち、(6)は、図10(A)に示すように、中心位置ず
れXの閾値を示している。一方、(7)は、図10
(B)に示すように、中心位置ずれXの閾値として、判
定基準(教示データ)のN倍値を設定することを示して
いる。また、(8)は、要素B11が対象となるエラー
コードであることを示しており、エラーコードがB11
のときにのみ適用される。また、(9)、(10)は、
Yずれの閾値変更係数(1.3倍する)、(11)はエ
ラーコードがB11のときにのみ適用される。また、
(12)、(13)は、角度ずれの閾値変更係数を示す
ものであり、この場合は例えば1.05倍するものであ
り、(14)はエラーコードB12のときのみ適用され
る。なお、この係数値に限るものではなく、XMLによ
り判定評価関数ごとに変更が効くものであり、新しい判
定評価関数があっても任意に対応することができるよう
になっている。
【0076】ここで、この実施の形態での判定評価関数
Fについて説明する。 (1)Xずれの場合: Xずれ判定評価関数F(パラメータ;Xずれ計測値、本体サイズ閾値X、 N倍値) =−〔(本体サイズ閾値X)/2〕・(N倍値) <〔Xずれ計測値〕 ≦−〔本体サイズ閾値X〕/2 ・・・(a) 又は、 Xずれ判定評価関数F(パラメータ;Xずれ計測値、本体サイズ閾値X、 N倍値) =〔本体サイズ閾値X〕/2 ≦〔Xずれ計測値〕 <〔本体サイズ閾値X〕・〔N倍値〕/2 ・・・(b) 即ち、これら(a)又は(b)のいずれかを満たしてい
なければ、真のNGデータとして選別して拾い出す。
【0077】 (2)Yずれの場合: Yずれ判定評価関数F(パラメータ;Yずれ計測値、本体サイズ閾値Y、 N倍値) =−〔(本体サイズ閾値Y)/2〕・(N倍値) <〔Yずれ計測値〕 ≦−〔本体サイズ閾値Y〕/2 ・・・(c) 又は、 Yずれ判定評価関数F(パラメータ;Yずれ計測値、本体サイズ閾値Y、 N倍値) =〔本体サイズ閾値Y〕/2 ≦〔Yずれ計測値〕 <〔本体サイズ閾値Y〕・〔N倍値〕/2 ・・・(d) 即ち、これら(c)又は(d)のいずれかを満たしてい
なければ、真のNGデータとして選別して拾い出す。
【0078】 (3)Θずれの場合: Θずれ判定評価関数F(パラメータ;Θずれ計測値、本体サイズ閾値Θ、N 倍値) =−(ずれ回転閾値)・(N倍値) <〔Θずれ〕 ≦−〔ずれ回転閾値Θ〕 ・・・(e) 又は、 Θずれ判定評価関数F(パラメータ;Θずれ計測値、本体サイズ閾値Θ、N 倍値) <〔ずれ回転閾値Θ〕 ≦〔Θずれ〕 =(ずれ回転閾値)・(N倍値) ・・・(f) 即ち、これら(e)又は(f)のいずれかを満たしてい
なければ、真のNGデータとして選別して拾い出す。
【0079】これにより、〔(a)又は(b)〕、
〔(c)又は(d)〕、〔(e)又は(f)〕を同時に
全て満足するものであれば、真のOKデータとして削除
され、これ以外は真のNGデータとなる。なお、但し、
次に示す場合には、閾値フィルタリングを行わない。 対象エラーコードが既にエラーフィルタリングでフィ
ルタリング(削除)されている場合;(つまり、フィル
タリング(削除)されていないエラーに対しては閾値フ
ィルタがかかる) 計測値がない場合; N倍率が設定されていない場合; もとになる判定基準データがない場合;
【0080】次に、エラー項目フィルタ及び閾値フィル
タがともに有効である場合の具体例について説明する。
なお、検査データにB11のエラーとB21のエラーと
が含まれているものとする。 〔I〕エラー項目フィルタ:初めに、図11を参照しな
がら、エラーフィルタリングについて説明する。
【0081】(1)まず、基板エラーデータを取得する
(第1ステップT21)。 (2)エラー項目フィルタが有効か否かを判定する(第
2ステップT22)。そして、エラー項目フィルタが有
効である場合には、第3ステップT23へ移行する。一
方、エラー項目フィルタが無効である場合には、エラー
フィルタ処理を行わず、終了する。
【0082】(3)この第3ステップでは、表示部26
の次画面26Bに示すように、エラー項目フィルタが設
定有効であるとされている場合、エラー対象について、
過誤判定削除対象のフィルタリング適用除外か否かの判
定を行うためにエラーコードを読み込む(第3ステップ
T23)。 (4)即ち、毎回検査データを取り込む度に、NG情報
ブロック部DB2にあるエラーコード302及びエラー
データについて、逐次読み込んでいく(第4ステップT
24)。
【0083】(5)また、この場合、読み込んだエラー
コードが削除(フィルタリングの適用除外)対象である
か否かを判断する(第5ステップT25)。例えば前述
した図3に示すように、B21;表裏反転、B22;立
ち、B23;エッジ不良、・・・などのエラー対象につ
いては、削除(フィルタリングの適用除外)対象である
から、(後述するように第6ステップT26に移行し
て)画面上に表示せず、また、その後のステップでこれ
については過誤判定処理を行わずに終了する。
【0084】一方、B11;Xずれ、B12;Yずれ、
B13;角度ずれのエラー対象については、ここで削除
(フィルタリング)することなく表示(フィルタリング
の適用)対象としてそのまま残すデータであり、表示す
る候補にするとともに、その後のステップで閾値フィル
タにかけ、過誤判定を行なう。
【0085】このように、エラーコードが削除(フィル
タリングの適用除外)対象である場合には、第6ステッ
プT26へ移行する。一方、非削除(フィルタリングの
適用)対象である場合には、第7ステップT27へ移行
する。
【0086】(6)この第6ステップでは、削除(フィ
ルタリングの適用除外)対象であるので、画面上に表示
しないのと同時に、エラーコードを無効にする(第6ス
テップT26)。 (7)第7ステップでは、非削除(フィルタリングの適
用)対象であるので、最終データとしてその後も残すか
否かを判断する(第7ステップT27)。即ち、NG情
報ブロック部DB2のデータを1個ずつ最後まで読み込
み処理を行ったか否かを判別し、最終のデータではない
場合、第4ステップT24まで戻って、次のエラーデー
タに対して同様の処理を繰り返す。一方、最終のデータ
であると判断された場合には、ここでエラー項目フィル
タについてのフィルタリング処理を終了する。
【0087】〔II〕閾値フィルタリング:次に、図12
に示すように、閾値フィルタにより検査データの閾値フ
ィルタリングを行う。
【0088】(1)初めに、基板エラーデータを検査機
1から取得する(第1ステップT31)。 (2)次に、閾値フィルタが有効か否かを判断する(第
2ステップT32)。そして、有効であると判断された
場合には、そこで、閾値フィルタリングを終了する。一
方、有効ではないと判断された場合には、第3ステップ
T33へ移行する。
【0089】(3)閾値フィルタが有効ではないと判断
された場合、次に、このステップでは、過誤判定対象エ
ラーコードを読み込む(第3ステップT33)。 (4)次に、エラーデータを読み込む(第4ステップT
34)。
【0090】(5)第3ステップT33で読み込んだエ
ラーコードが、閾値フィルタの過誤判定対象エラーコー
ドであるか否かを判別する(第5ステップT35)。例
えば、この実施形態では、検査データにB11のエラー
とB21のエラーとが含まれているので、このうちB1
1で示すXずれのエラー対象については、フィルタリン
グの適用対象であるから、エラーフィルタリング処理に
よって、閾値フィルタリング(過誤判定)を行う。 (6)次に、該当する回路番号の閾値データを検索する
(第6ステップT36)。
【0091】(7)そして、閾値データがあるか否かを
判断する(第7ステップT37)。そして、あると判断
された場合には、第8ステップT38へ移行する。一
方、ないと判断された場合には、第11ステップT41
へ移行する。
【0092】(8)次に、閾値データをN倍し、判定評
価関数Fを引き出す(第8ステップT38)。例えば、
図10に示すように、検査機1での閾値に対して、過誤
判定フィルタでの閾値では、合格となる基準値を拡大さ
せる。即ち、検査機1での閾値からN倍(閾値補正値)
に閾値を広げ、この範囲で全てOKであれば真のOKデ
ータとする。具体的には、B11のエラーデータの回路
番号は、C0123であるので、これに関する基準デー
タ値を求める。例えば、Xずれ計測値に対しては、Xず
れの判定評価関数Fを用いる。なお、この判定評価関数
は、検査機1の評価関数と同一のものを用いる。
【0093】(9)次に、その判定評価関数を満足する
か否かを判定する(第9ステップT39)。そして、満
足する場合には、第10ステップT40へ移行する。一
方、満足しない場合には、第11ステップT41へ移行
する。
【0094】例えば、Xずれの判定評価関数について
は、 F(Xずれ計測値、本体サイズ閾値X、N倍値) =−〔(本体サイズ閾値X)/2〕・(N倍値) <〔Xずれ計測値〕 ≦−〔本体サイズ閾値X〕/2 又は、 F(Xずれ計測値、本体サイズ閾値X、N倍値) =〔本体サイズ閾値X〕/2 ≦〔Xずれ計測値〕 <〔本体サイズ閾値X〕・〔N倍値〕/2 に対して、判定基準(教示データ)から得られ部品回路
番号;C0123の本体サイズ閾値が、具体的には例え
ば200μmである。
【0095】一方、検査データから得られるXずれ計測
値が、具体的には例えば120μm、N倍値が1.3と
すると、上記判定評価関数Fにより、Xずれ閾値が20
0×1.3/2=130μmであるので、Xずれ計測値
120μmについては合格となる。
【0096】また、各実装部品に対して、他の閾値フィ
ルタ対象の項目に対しても同様の処理を行い、全てOK
である場合には、この部品回路;C0123について
は、NGではなく、OKと判定される。全てOKでなけ
れば、NGとなる。
【0097】(10)そして、その判定評価関数を満足
すると判定した部品について、OKとするコードに変更
する(第10ステップT40)。即ち、このような処理
をエラー判定データに対して行い、回路番号別のフィル
タリングを同様に行う。また、回路番号別のフィルタリ
ングの結果、全てのエラーがOKに変更された場合に
は、実装部品としての判定結果を、NGからOKに変更
したデータを作成する。
【0098】(11)同様にして、次の実装部品につい
ても、以上のような処理がNG情報ブロック部DB1の
最終のデータについての処理であるかを、毎回判別する
(第11ステップT41)。そして、NG情報ブロック
部DB1の最終データではないと判断されたならば、第
1ステップT31へ戻る。そして、次のプリント基板P
について再び同様に初めから処理を繰り返す。一方、N
G情報ブロック部DB1の最終のデータであると判断さ
れた場合には、閾値フィルタリングの処理を終了する。
このようにして、各プリント基板に対して実装部品の検
査を行い、最終的に基板のOKかどうかを判定する。
【0099】従って、この実施の形態によれば、このよ
うにして、フィルタリングされたデータを用いて、検査
機1のデータエラーをフィルタリングした結果につい
て、集計表示することで、例えば図13に示すように、
表示部26の画面上に表示できる。
【0100】また、この実施の形態によれば、過誤判定
フィルタの設定値や判定評価関数を変更することで、過
誤判定結果が変更され、フィルタ自身の(設定値や評価
関数の)評価を行うことができる。いったん設定したフ
ィルタデータは、次回の更新まで保存格納させるため、
検査のたびに設定を行う必要はない。
【0101】
【発明の効果】以上説明してきたように、この発明で
は、判定基準を用いて被検査品の良否判定を行ったとき
に、その結果が不良と判定されたNGデータを、全検査
データの中から選別し取得する工程と、良否判定の基準
となった判定基準の値を取得する工程と、不良と判定さ
れたときの判断に用いた検査データを、判定基準の値に
基づき解析する工程と、NGデータと判定とされた検査
データの中から、解析結果に基づいて過誤と判定された
検査データをフィルタリングする工程とを備えている。
【0102】従って、不良品の判定データから過誤判定
データをリアルタイムに選別してフィルタリング(削
除)し、真のNGデータを正しく判定することができる
ので、判定結果の信頼度の向上とともに、不良品の発生
を直ちに現場作業者が確認でき、その後の適切な処理判
断を行うことができるので、真の不良品の発生を最小限
に抑えることが可能になる。
【0103】また、この発明によれば、検査作業におけ
る合格品の比率を、検査精度高めることができるので、
検査作業における不良品のフィルタリング(削除)処理
コスト、具体的には、例えば、それにかかわる直接工
数、間接工数、時間(作業時間、滞留時間、移動時間な
ど)、保管場所などを圧縮・削減させることができる。
【0104】さらに、この発明によれば、真の不良品に
対してリアルタイムな集計処理を行うことができるか
ら、生産中の不良発生個所の追跡などを正確に行えるよ
うになり、その後の迅速なアクション、例えば工程品質
の向上に利用したり、不良品の修理などが速やかに行え
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明に係る過誤判定データの削除装置を適
用した検査システムを示す構成ブロック図である。
【図2】この発明に係る過誤判定データの削除装置を適
用した検査システムでの処理の流れを示す説明図であ
る。
【図3】この発明に係るエアーフィルタリングの編集設
定画面を示す説明図である。
【図4】この発明に係る閾値フィルタリングの編集設定
画面を示す説明図である。
【図5】この発明に係る過誤判定データの削除装置に用
いる検査機の構成ブロック図である。
【図6】この発明に係る過誤判定データの削除装置に用
いる品質分析機の構成ブロック図である。
【図7】この発明に係る過誤判定データの削除装置に用
いる品質分析機に送信される検査データを示す説明図で
ある。
【図8】この発明に係るエラー項目フィルタについてX
ML(Extensive Markup Language)形式で表現した
設定データのDTD(文書型定義)を示す説明図であ
る。
【図9】この発明に係る閾値フィルタについてXML形
式で表現した設定データのDTDを示す説明図である。
【図10】この発明に係る判定基準を示す説明図であ
り、(A)は検査データでの閾値、(B)は過誤判定デ
ータでの閾値を示す。
【図11】この発明に係るエアーフィルタリングのフロ
ーチャートである。
【図12】この発明に係る閾値フィルタリングのフロー
チャートである。
【図13】この発明に係る検査システムの表示例を示す
説明図である。
【符号の説明】
1 検査機 12 判定部 13 判定基準格納部 2 品質分析機 22 フィルタリング部 23 過誤判定基準部 24 評価部 26 表示部 B 実装検査機(プリント基板へ部品を実装後) C 外観検査機(プリント基板の検査対象) P0 プリント基板(未検査) P1 プリント基板(良品) P2 プリント基板(過誤判定品) P3 プリント基板(不良品)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 西田 裕吉 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 松本 昌也 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内

Claims (15)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被検査品の良否判定処理を行い、この良
    否判定処理の中で不良と判定されたデータをNGデータ
    とし、このNGデータが過誤判定であるかを判定したう
    えで、この判定で過誤判定とされた検査データを前記N
    Gデータの中から選び出してフィルタリングする過誤判
    定データのフィルタリング方法であって、 前記被検査品を検査することにより得られた検査データ
    を用いて、予め設定された判定基準に基づき前記被検査
    品の良否判定を行ったときに、その結果が不良と判定さ
    れた前記NGデータを、前記全検査データの中から選別
    し取得する工程と、 前記良否判定の基準となった前記判定基準の値を取得す
    る工程と、 前記不良と判定されたときの判断に用いた前記検査デー
    タを、前記判定基準の値に基づき解析する工程と、 前記NGデータと判定とされた検査データの中から、前
    記解析結果に基づいて過誤と判定された前記検査データ
    をフィルタリングする工程とを備えたことを特徴とする
    過誤判定データのフィルタリング方法。
  2. 【請求項2】 被検査品の良否判定処理を行い、この良
    否判定処理の中で不良と判定されたデータをNGデータ
    とし、このNGデータが過誤判定であるかの2次判定を
    したうえで、この2次判定で過誤判定とされた検査デー
    タを前記NGデータの中から選び出してフィルタリング
    する過誤判定データのフィルタリング方法であって、 前記被検査品を検査することにより得られた検査データ
    を用いて、予め設定された判定基準に基づき前記被検査
    品の良否判定を行ったときに、その結果が不良と判定さ
    れた前記NGデータを、前記全検査データの中から選別
    し取得する工程と、 前記良否判定の基準となった前記判定基準の値を取得す
    る工程と、 前記良否判定が過誤判定であるか否かの2次判定を行う
    基準材料となる過誤判定基準を設定する工程と、 前記不良と判定されたときの判断に用いた前記検査デー
    タを、前記過誤判定基準の値に基づき解析する工程と、 前記解析結果に基づいて前記NGデータについての2次
    判定を行い真のNGデータ以外の過誤と判定された過誤
    NGデータをフィルタリングする工程とを備えたことを
    特徴とする過誤判定データのフィルタリング方法。
  3. 【請求項3】 前記解析する工程は、前記不良と判定さ
    れたときの前記検査データに対して、予め設定されてい
    る閾値フィルタを積算させる所定の演算処理を行うこと
    を特徴とする請求項1又は2に記載の過誤判定データの
    フィルタリング方法。
  4. 【請求項4】 前記過誤NGデータを削除するための基
    準となる前記過誤判定基準とは異なる過誤判定基準を新
    たに設定し記憶する工程、又は前記過誤判定基準を修正
    ・変更し記憶する工程と、 前記2次判定で選別された前記NGデータ中から再度過
    誤NGデータをフィルタリングする工程とを備えたこと
    を特徴とする請求項2に記載の過誤判定データのフィル
    タリング方法。
  5. 【請求項5】 前記過誤判定データをフィルタリングす
    るために新たに前記良否基準を設定し記憶する場合に
    は、 前記良否判定結果で得られたNGデータに含まれるエラ
    ーコードとは別に前記判定基準の設定内容を保存する工
    程と、 検査機により計測した計測データを補正するために、前
    記検査機の種類別に計測項目の設定内容を保存する工程
    とを備えたことを特徴とする請求項4に記載の過誤判定
    データのフィルタリング方法。
  6. 【請求項6】 前記検査機での検査データが前記判定基
    準で不良と判定された場合には、 前記検査機から前検査データを表示部に取り込むのに先
    立ち、前記新たに設定した過誤判定基準の設定内容を適
    用して、前記NGデータから過誤NGデータをフィルタ
    リングする工程を有することを特徴とする請求項4に記
    載の過誤判定データのフィルタリング方法。
  7. 【請求項7】 前記判定をリアルタイムに行う工程と、 前記判定の結果を表示する工程とを備えたことを特徴と
    する請求項1〜6のいずれか1項に記載の過誤判定デー
    タのフィルタリング方法。
  8. 【請求項8】 前記真のNGデータに対するリアルタイ
    ムな集計処理を行う工程を有することを特徴とする請求
    項1〜6のいずれか1項に記載の過誤判定データのフィ
    ルタリング方法。
  9. 【請求項9】 被検査品の良否判定処理を行い、この良
    否判定処理の中で不良と判定されたデータをNGデータ
    とし、このNGデータが過誤判定であるかを判定したう
    えで、この判定で過誤判定とされた検査データを前記N
    Gデータの中から選び出してフィルタリングする過誤判
    定データのフィルタリング装置であって、 前記被検査品を検査することにより得られた検査データ
    を用いて、予め設定された判定基準に基づき前記被検査
    品の良否判定を行ったときに、その結果が不良と判定さ
    れた前記NGデータを全検査データの中から選別し取得
    する不良選別手段と、 前記良否判定の基準となった前記判定基準の値を取得す
    る判定基準取得手段と、 前記不良と判定されたときの判断に用いた前記検査デー
    タを、前記判定基準の値に基づき解析する解析手段と、 前記不良と判定とされた検査データの中から、前記解析
    結果に基づいて前記過誤判定とされた検査データをフィ
    ルタリングする過誤判定データフィルタリング手段とを
    備えたことを特徴とする過誤判定データのフィルタリン
    グ装置。
  10. 【請求項10】 被検査品の良否判定処理を行い、この
    良否判定処理の中で不良と判定されたデータをNGデー
    タとし、このNGデータが過誤判定であるかの2次判定
    をしたうえで、この2次判定で過誤判定とされた検査デ
    ータを前記NGデータの中から選び出してフィルタリン
    グする過誤判定データのフィルタリング装置であって、 前記被検査品を検査することにより得られた検査データ
    を用いて、予め設定された判定基準に基づき前記被検査
    品の良否判定を行ったときに、その結果が不良と判定さ
    れた前記NGデータを全検査データの中から選別し取得
    する不良選別手段と、 前記良否判定の基準となった前記判定基準の値を前記被
    検査品の検査を行う検査機から取得する判定基準取得手
    段と、 前記良否の判定が過誤判定であるか否かの2次判定を行
    う基準材料となる過誤判定基準を設定する過誤判定基準
    設定手段と、 前記不良と判定されたときの判断に用いた前記検査デー
    タを、前記過誤判定基準に基づき解析する解析手段と、 前記NGデータの中から、前記解析結果に基づいて前記
    2次判定で選別された過誤NGデータをフィルタリング
    する過誤NGデータフィルタリング手段とを備えたこと
    を特徴とする過誤判定データのフィルタリング装置。
  11. 【請求項11】 前記解析手段は、前記不良と判定され
    たときの前記検査データに対して、予め設定されている
    閾値フィルタを積算させる所定の演算処理を行うように
    構成したことを特徴とする請求項9又は10に記載の過
    誤判定データのフィルタリング方法。
  12. 【請求項12】 前記過誤判定データを削除するための
    基準となる、前記判定基準とは異なる過誤判定基準を新
    たに設定して記憶する手段、又は前記過誤判定基準を修
    正・変更して記憶する手段と、 前記2次判定で選別された前記NGデータ中から再度過
    誤NGデータをフィルタリングする手段とを備えたこと
    を特徴とする請求項10に記載の過誤判定データのフィ
    ルタリング装置。
  13. 【請求項13】 前記検査データが前記判定基準で不良
    と判定された場合には、その検査データを表示手段に取
    り込むのに先立ち、前記新たに設定した判定基準の設定
    内容を適用して、前記検査データから過誤NGデータを
    フィルタリングする手段を備えたことを特徴とする請求
    項10に記載の過誤判定データのフィルタリング装置。
  14. 【請求項14】 前記判定をリアルタイムに行う手段
    と、前記判定の結果を表示する手段とを備えたことを特
    徴とする請求項9〜13のいずれか1項に記載の過誤判
    定データのフィルタリング装置。
  15. 【請求項15】 前記真のNGデータに対するリアルタ
    イムな集計処理を行う手段を備えたことを特徴とする請
    求項9〜14のいずれか1項に記載の過誤判定データの
    フィルタリング装置。
JP2002137057A 2002-05-13 2002-05-13 過誤判定データのフィルタリング方法及び装置 Pending JP2003332799A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002137057A JP2003332799A (ja) 2002-05-13 2002-05-13 過誤判定データのフィルタリング方法及び装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002137057A JP2003332799A (ja) 2002-05-13 2002-05-13 過誤判定データのフィルタリング方法及び装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003332799A true JP2003332799A (ja) 2003-11-21

Family

ID=29698914

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002137057A Pending JP2003332799A (ja) 2002-05-13 2002-05-13 過誤判定データのフィルタリング方法及び装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2003332799A (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007180060A (ja) * 2005-12-26 2007-07-12 Toshiba Corp 電子機器および部品配置の補正方法
WO2010007748A1 (ja) * 2008-07-14 2010-01-21 パナソニック株式会社 部品実装システム
JP2010232540A (ja) * 2009-03-27 2010-10-14 Sinfonia Technology Co Ltd 電子部品の実装状態検査方法、実装状態検査装置、及び基板
JP2014093533A (ja) * 2012-11-06 2014-05-19 Koh Young Technology Inc 基板検査装置システム及び基板検査方法
WO2019049318A1 (ja) * 2017-09-08 2019-03-14 株式会社Fuji 対基板作業機
JPWO2021024296A1 (ja) * 2019-08-02 2021-02-11
CN114208407A (zh) * 2019-09-12 2022-03-18 欧姆龙株式会社 电子机器、非接触开关以及光电传感器

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007180060A (ja) * 2005-12-26 2007-07-12 Toshiba Corp 電子機器および部品配置の補正方法
WO2010007748A1 (ja) * 2008-07-14 2010-01-21 パナソニック株式会社 部品実装システム
JP2010232540A (ja) * 2009-03-27 2010-10-14 Sinfonia Technology Co Ltd 電子部品の実装状態検査方法、実装状態検査装置、及び基板
JP2014093533A (ja) * 2012-11-06 2014-05-19 Koh Young Technology Inc 基板検査装置システム及び基板検査方法
WO2019049318A1 (ja) * 2017-09-08 2019-03-14 株式会社Fuji 対基板作業機
JPWO2019049318A1 (ja) * 2017-09-08 2020-04-16 株式会社Fuji 対基板作業機
JPWO2021024296A1 (ja) * 2019-08-02 2021-02-11
WO2021024296A1 (ja) * 2019-08-02 2021-02-11 株式会社Fuji 実装装置、実装システム及び検査実装方法
CN114208412A (zh) * 2019-08-02 2022-03-18 株式会社富士 安装装置、安装系统以及检查安装方法
JP7261303B2 (ja) 2019-08-02 2023-04-19 株式会社Fuji 実装装置、実装システム及び検査実装方法
CN114208412B (zh) * 2019-08-02 2023-06-09 株式会社富士 安装装置、安装系统以及检查安装方法
CN114208407A (zh) * 2019-09-12 2022-03-18 欧姆龙株式会社 电子机器、非接触开关以及光电传感器
CN114208407B (zh) * 2019-09-12 2023-07-21 欧姆龙株式会社 电子机器、非接触开关以及光电传感器
US12020888B2 (en) 2019-09-12 2024-06-25 Omron Corporation Electronic apparatus, non-contact switch, and photoelectric sensor

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5625935B2 (ja) 判定基準値の適否判定方法およびその適正値の特定方法ならびに適正値への変更方法、部品実装基板の検査システム、生産現場におけるシミュレーション方法およびシミュレーションシステム
EP3102018A1 (en) Quality management device and method for controlling quality management device
CN110045688B (zh) 检查管理系统、检查管理装置及检查管理方法
JP6988499B2 (ja) 検査管理システム、検査管理装置、検査管理方法
TWI618940B (zh) 印刷電路板的盲孔檢測裝置與方法
CN106168582B (zh) 检查装置及检查方法
JP2019211288A (ja) 食品検査システムおよびプログラム
US11947345B2 (en) System and method for intelligently monitoring a production line
CN113538341A (zh) 自动光学检测辅助方法、装置及存储介质
JP2003332799A (ja) 過誤判定データのフィルタリング方法及び装置
JP2002031606A (ja) 品質評価装置、品質評価方法、品質表示装置、品質表示方法および品質評価システム
JP6907508B2 (ja) 検査システム、検査装置の制御方法及びプログラム
CN113012097B (zh) 图像复检方法、计算机装置及存储介质
TWI732296B (zh) 依據標準值建立檢測模型以確認焊接狀態之系統及方法
CN116298785A (zh) 一种电子信号测试方法、装置、电子设备及存储介质
JP2008186879A (ja) 基板検査方法
JP2003046300A (ja) Pcb製造ラインの管理システムおよびpcb製造管理方法
JPH1164235A (ja) 実装部品自動検査システムおよび実装部品検査基準設定装置および実装部品検査基準設定方法
JP2014032122A (ja) 部品実装検査のための検査基準情報の設定方法および検査基準情報の作成システム
KR101572927B1 (ko) 검사공정에서의 원격 모니터링 방법
US20240053278A1 (en) Method and system for detecting a false error on a component of a board inspected by an aoi machine
WO2020009109A1 (ja) 検査方法、検査システム及びプログラム
JP3424483B2 (ja) 半田付け外観検査における検査枠設定方法及び検査枠設定装置
CN115953353A (zh) Pcb板缺陷智能检测系统架构与流程
JP2005093462A (ja) 検査装置