JP4554190B2 - 印刷検査装置および印刷検査方法 - Google Patents
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スク10はホルダ11にマスクプレート12を装着して構成されている。基板6は基板位置決め部1によってマスクプレート12に対して位置合わせされ下方から当接する。基板6の回路形成面の半田印刷範囲6a内には、図4(a)に示すように種類の異なる電子部品P1,P2,P3,P4を接合するための電極6b、6c、6d、6eが設けられている。
スク開口データがマスク開口データライブラリ27cに含まれていない場合には、現物のマスクプレート12を用いて図7に示すデータと同様のデータを取得することができる。この場合には、カメラ20および画像処理部30が、スクリーン印刷に用いられるマスクプレート12から検出されたマスク開口データに基づいて取得された検査対象位置データを提供する位置データ提供手段となる。
に書き込まれる。そして後述する検査用データ作成においては、データ記憶部27から読み出される。したがって、データ記憶部27は、各グループ毎に検査頻度を付与した検査頻度データを提供する検査頻度データ提供手段となっている。
プは各電子部品(P1,P2・・)によって特定される。
により、今回の検査動作において検査対象となるグループと、検査対象とならないグループとを識別する。
しているが、半田印刷後に基板に搭載された電子部品を検査対象物とする場合においても、本発明を適用することができる。この場合には、図5に示す構成からスキージユニット13およびスキージ移動機構17を除いた構成の検査装置が外観検査装置として用いられる。
6 基板
6b,6c,6d,6e 電極
9 クリーム半田
12 マスクプレート
13 スキージヘッド
16、16a、16b、16c、16d パターン孔
20 カメラ
25 演算部
26 プログラム記憶部
26c 印刷良否判定プログラム
26d グループ化処理プログラム
26f 検査頻度付与処理プログラム
27 データ記憶部
27c マスク開口データライブラリ
27f 検査頻度データ
30 画像処理部
Claims (2)
- 基板の電子部品接合用の電極にマスクプレートのパターン孔を介して印刷された複数の半田を撮像して印刷検査を行う印刷検査装置であって、前記印刷された複数の半田を撮像して画像データを取得する撮像手段と、この撮像手段による撮像視野を前記基板上で相対移動させる視野移動手段と、前記画像データに基づいて前記検査の結果判定を行う判定手段と、前記印刷された複数の半田の位置となる前記パターン孔の開口位置を示す検査対象位置データを提供する位置データ提供手段と、前記検査対象位置データをポインティングデバイスによってグループ化対象となるパターン孔のみを囲む前記基板の表面における幾何学的範囲を設定することにより個別の同一検査しきい値付与範囲や同一検査頻度付与範囲のグループにグループ化したグループ化データを提供するグループ化データ提供手段と、前記グループ毎に検査が実行される頻度を付与した検査頻度データを提供する検査頻度データ提供手段と、搬入・搬出される前記基板の枚数をカウントする基板カウント部と、前記検査対象位置データ、グループ化データおよび検査頻度データに基づいて前記視野移動手段、撮像手段および判定手段を制御する検査実行制御手段とを備え、
前記検査実行制御手段が前記視野移動手段、撮像手段および判定手段を制御することにより実行される印刷検査において、当該基板の前記個別のグループについて、各グループについて付与された検査頻度と前記基板カウント部によってカウントされた基板枚数とを参照することにより、検査動作において検査対象となるグループと検査対象とならないグループとを識別し、検査対象となるグループの検査を実行することを特徴とする印刷検査装置。 - 基板の電子部品接合用の電極にマスクプレートのパターン孔を介して印刷された複数の半田を撮像して画像データを取得する撮像手段と、この撮像手段による撮像視野を前記基板上で相対移動させる視野移動手段と、前記画像データに基づいて前記検査の結果判定を行う判定手段と、前記印刷された複数の半田の位置となる前記パターン孔の開口位置を示す検査対象位置データを提供する位置データ提供手段と、前記検査対象位置データをポインティングデバイスによってグループ化対象となるパターン孔のみを囲む前記基板の表面における幾何学的範囲を設定することにより個別の同一検査しきい値付与範囲や同一検査頻度付与範囲のグループにグループ化したグループ化データを提供するグループ化データ提供手段と、前記グループ毎に検査が実行される頻度を付与した検査頻度データを提供する検査頻度データ提供手段と、搬入・搬出される前記基板の枚数をカウントする基板カウント部とを備えた印刷検査装置によって、前記基板に印刷された半田を撮像して印刷検査を行う印刷検査方法であって、
複数の基板を対象として連続して前記検査を実行する過程において、前記検査対象位置データ、グループ化データおよび検査頻度データに基づいて前記視野移動手段、撮像手段および判定手段を検査実行制御手段によって制御して、当該基板の前記個別のグループについて、各グループについて付与された検査頻度と前記基板カウント部によってカウントされた基板枚数とを参照することにより、検査動作において検査対象となるグループと、検査対象とならないグループとを識別し、検査対象となるグループの印刷検査を実行することを特徴とする印刷検査方法。
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