JP3423239B2 - バンプ電極形成方法 - Google Patents

バンプ電極形成方法

Info

Publication number
JP3423239B2
JP3423239B2 JP01448999A JP1448999A JP3423239B2 JP 3423239 B2 JP3423239 B2 JP 3423239B2 JP 01448999 A JP01448999 A JP 01448999A JP 1448999 A JP1448999 A JP 1448999A JP 3423239 B2 JP3423239 B2 JP 3423239B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bump electrode
bump
mask
electrode forming
forming
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP01448999A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH11274209A (ja
Inventor
真言 木下
Original Assignee
リコーマイクロエレクトロニクス株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by リコーマイクロエレクトロニクス株式会社 filed Critical リコーマイクロエレクトロニクス株式会社
Priority to JP01448999A priority Critical patent/JP3423239B2/ja
Publication of JPH11274209A publication Critical patent/JPH11274209A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3423239B2 publication Critical patent/JP3423239B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/10Bump connectors ; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/11Manufacturing methods
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/1012Auxiliary members for bump connectors, e.g. spacers
    • H01L2224/10152Auxiliary members for bump connectors, e.g. spacers being formed on an item to be connected not being a semiconductor or solid-state body
    • H01L2224/10165Alignment aids
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/11Manufacturing methods
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/11Manufacturing methods
    • H01L2224/113Manufacturing methods by local deposition of the material of the bump connector
    • H01L2224/1133Manufacturing methods by local deposition of the material of the bump connector in solid form
    • H01L2224/1134Stud bumping, i.e. using a wire-bonding apparatus
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/81Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
    • H01L2224/81009Pre-treatment of the bump connector or the bonding area
    • H01L2224/8103Reshaping the bump connector in the bonding apparatus, e.g. flattening the bump connector
    • H01L2224/81035Reshaping the bump connector in the bonding apparatus, e.g. flattening the bump connector by heating means
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/81Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
    • H01L2224/81009Pre-treatment of the bump connector or the bonding area
    • H01L2224/8103Reshaping the bump connector in the bonding apparatus, e.g. flattening the bump connector
    • H01L2224/81047Reshaping the bump connector in the bonding apparatus, e.g. flattening the bump connector by mechanical means, e.g. severing, pressing, stamping
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/81Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
    • H01L2224/8112Aligning
    • H01L2224/81136Aligning involving guiding structures, e.g. spacers or supporting members
    • H01L2224/81138Aligning involving guiding structures, e.g. spacers or supporting members the guiding structures being at least partially left in the finished device
    • H01L2224/8114Guiding structures outside the body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/013Alloys
    • H01L2924/0132Binary Alloys
    • H01L2924/01322Eutectic Alloys, i.e. obtained by a liquid transforming into two solid phases
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/06Polymers
    • H01L2924/078Adhesive characteristics other than chemical
    • H01L2924/0781Adhesive characteristics other than chemical being an ohmic electrical conductor
    • H01L2924/07811Extrinsic, i.e. with electrical conductive fillers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/14Integrated circuits
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/19Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/1901Structure
    • H01L2924/1904Component type
    • H01L2924/19041Component type being a capacitor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/3025Electromagnetic shielding
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/35Mechanical effects
    • H01L2924/351Thermal stress
    • H01L2924/3511Warping

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、基板上に表面実装
されるIC、LSI等のチップ、該チップがモールドさ
れたBGA、CSP等のパッケージ、コネクタ等の部品
にバンプ電極を形成するバンプ電極形成方法に係り、詳
しくは、複数の上記部品に対してバンプ電極を一括形成
することができる低コストのバンプ電極形成方法に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】最近の電子機器のダウンサイジング化お
よび低コスト化に伴い、IC、LSI等のチップ、該チ
ップがモールドされたBGA、CSP等のパッケージ、
コネクタ等の部品が、バンプ電極を介して基板上に表面
実装されるようになってきた。特に、IC、LSI等の
チップは、パッケージングせずにフリップチップとして
基板上にバンプ電極を介して表面実装される傾向になっ
てきた。このような部品の基板上への表面実装を行うた
めに、部品側にバンプ電極を形成することが考えられ
る。
【0003】従来、上記部品にバンプ電極を形成する方
法としては、部品上にフォトリソによって所定のレジス
トパターンを形成した後、はんだ、金、銅等の金属を電
解メッキで所定の高さまで成長させる電解メッキ法や、
金属ワイヤーでボールを形成し、このボールを部品上に
ボンディングするボールバンプ法が知られている。特に
これらの方法は、半導体のチップにバンプ電極を直接形
成する方法として用いられている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の電解メッキ法やボールバンプ法は工程数が多く、コ
スト高になってしまうという問題点があった。
【0005】本発明は以上の問題点に鑑みなされたもの
であり、その目的は、基板に表面実装されるICチッ
プ、LSIチップ等の部品にバンプ電極を低コストで一
括形成することができるバンプ電極形成方法を提供する
ことである。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1の発明は、複数の部品に分割される前の中
間製造物のバンプ電極形成面に複数のバンプ電極を一括
形成するバンプ電極形成方法であって、バンプ電極形成
用の貫通孔が形成された孔版マスクを該中間製造物のバ
ンプ電極形成面に装着し、該孔版マスクの貫通孔を通し
て導電性ペーストにより該バンプ電極形成面に該バンプ
電極を一括形成するための印刷をするものであり、該孔
版マスクは、該中間製造物のバンプ電極形成面に密着す
る側に遮光層を有し、該導電性ペーストは、光硬化性ペ
ーストであり、該導電性ペーストが該貫通孔に充填さ
れ、露光され、硬化された後、該中間製造物のバンプ電
極形成面上に固着するように、該孔版マスクを該バンプ
電極形成面から分離することを特徴とするものである。
この請求項1のバンプ電極形成方法では、孔版マスクに
形成された貫通孔を通して導電性ペーストを上記中間製
造物のバンプ電極形成面に印刷することにより、該中間
製造物の複数の部品にバンプ電極を一括形成するので、
バンプ電極の形成を低コストで行うことができる。
た、上記孔版マスクの貫通孔内部の光硬化性ペーストを
上記中間製造物のバンプ電極形成面に密着させた状態
で、該孔版マスクの貫通孔を通して露光することにより
該ペーストを硬化させる。そして、硬化した該ペースト
を該バンプ電極形成面に固着するように該孔版マスクを
該バンプ電極形成面から分離することにより、該バンプ
電極形成面に微細なバンプ電極を精度良く形成すること
ができる。
【0007】請求項2の発明は、複数の部品に分割され
る前の中間製造物のバンプ電極形成面に複数のバンプ電
極を一括形成するバンプ電極形成方法であって、バンプ
電極 形成用の貫通孔が形成された孔版マスクを該中間製
造物のバンプ電極形成面に装着し、該孔版マスクの貫通
孔を通して導電性ペーストにより該バンプ電極形成面に
該バンプ電極を一括形成するための印刷をするものであ
り、該 孔版マスクは、光により貫通孔を該孔版マスク
に形成すべく選択的にアブレーション加工が可能なプラ
スチック材料からなることを特徴とするものである。こ
の請求項のバンプ電極形成方法では、孔版マスクに形
成された貫通孔を通して導電性ペーストを上記中間製造
物のバンプ電極形成面に印刷することにより、該中間製
造物の複数の部品にバンプ電極を一括形成するので、バ
ンプ電極の形成を低コストで行うことができる。また、
プラスチック材料にアブレーション加工可能な光を選択
的に照射することによって内壁面が平滑で導電性ペース
トの抜け性がよい貫通孔が形成された孔版マスクを用て
いるので、バンプ欠損等のない高品質のバンプ電極を形
成することができる。
【0008】 請求項の発明は、複数の部品に分割され
る前の中間製造物のバンプ電極形成面に複数のバンプ電
極を一括形成するバンプ電極形成方法であって、バンプ
電極形成用の凹版マスクの凹部に溶融金属又は導電性ペ
ーストを充填し、該凹版マスクの凹部側を該中間製造物
のバンプ電極形成面に密着させることにより、該バンプ
電極形成面に該バンプ電極を一括形成するための印刷を
するものであり、該導電性ペーストは、光硬化性ペース
トであり、該凹版マスクの凹部は、光通過が可能な透明
性を有し、該凹版マスクは、該中間製造物のバンプ電極
形成面に密着する面に遮光層を有し、該導電性ペースト
が該凹部に充填され、露光され、硬化された後、該中間
製造物のバンプ電極形成面上に固着するように、該凹版
マスクを該バンプ電極形成面から分離することを特徴と
するものである。この請求項のバンプ電極形成方法で
は、バンプ電極形成用の凹版マスクの凹部に溶融金属又
は導電性ペーストを充填し、該凹版マスクの凹部側を、
上記中間製造物のバンプ電極形成面に密着させるこによ
り、該バンプ電極形成面にバンプ電極を一括形成するの
で、バンプ電極の形成を低コストで行うことができる。
また、上記凹版マスクの凹部内部の光硬化性ペーストを
上記中間製造物のバン プ電極形成面に密着させた状態
で、該凹版マスクの凹部を通して露光することにより該
ペーストを硬化させる。そして、硬化した該ペーストを
該バンプ電極形成面に固着するように該凹版マスクを該
バンプ電極形成面から分離することにより、該バンプ電
極形成面に微細なバンプ電極を精度良く形成することが
できる。
【0009】請求項4の発明は、 請求項のバンプ電極
形成方法において、上記凹版マスクは、光により上記凹
部を該凹版マスクに形成すべく選択的にアブレーション
加工が可能なプラスチック材料からなることを特徴とす
るものである。この請求項のバンプ電極形成方法で
は、プラスチック材料にアブレーション加工可能な光を
選択的に照射することによって内壁面が平滑で導電性ペ
ーストの抜け性がよい凹部が形成された凹版マスクを用
ているので、バンプ欠損等のない高品質のバンプ電極を
形成することができる。
【0010】 請求項の発明は、請求項のバンプ電極
形成方法において、上記導電性ペーストは、エラストマ
ー樹脂ペーストであることを特徴とするものである。こ
の請求項のバンプ電極形成方法では、高弾力性のエラ
ストマ樹脂からなるバンプ電極を形成することができる
ので、熱膨張のよるストレスを繰り返し受けた場合でも
クラックが発生しないバンプ電極を形成することができ
る。
【0011】 請求項の発明は、請求項1、2又は3
バンプ電極形成方法において、上記バンプ電極は、先端
部が細くなった形状であることを特徴とするものであ
る。この請求項のバンプ電極形成方法では、先端部が
細くなった形状のバンプ電極を形成することにより、バ
ンプ電極のオープンやクラックが発生しないようにす
る。
【0012】 請求項発明は、請求項2又は4のバンプ
電極形成方法において、上記アブレーション加工に用い
る光は、紫外光であることを特徴とするものである
【0013】請 求項の発明は、請求項1、2、3、
4、5、6又は7のバンプ電極形成方法において、上記
中間製造物はウェハーであり、上記部品は該ウェハーか
ら分割されるチップであることを特徴とするものであ
る。この請求項のバンプ電極形成方法では、複数のチ
ップに分割される前のウェハーのバンプ電極形成面にバ
ンプ電極を一括形成することにより、該チップ上のバン
プ電極を低コストで形成することができる。
【0014】 請求項の発明は、複数の部品を並べて載
置し、その上面をバンプ電極形成面とし、該バンプ電極
形成面に複数のバンプ電極を一括形成するバンプ電極形
成方法であって、バンプ電極形成用の貫通孔が形成され
た孔版マスクを該バンプ電極形成面に装着し、該孔版マ
スクの貫通孔を通して導電性ペーストにより該バンプ電
極形成面に該バンプ電極を一括形成するための印刷をす
ものであり、該孔版マスクは、該バンプ電極形成面に
密着する側に遮光層を有し、該導電性ペーストは、光硬
化性ペーストであり、該導電性ペーストが該貫通孔に充
填され、露光され、硬化された後、該バンプ電極形成面
上に固着するように、該孔版マスクを該バンプ電極形成
面から分離することを特徴とするものである。この請求
のバンプ電極形成方法では、孔版マスクに形成され
た貫通孔を通して導電性ペーストを上記バンプ電極形成
面に印刷することにより、複数の部品にバンプ電極を一
括形成するので、バンプ電極の形成を低コストで行うこ
とができる。また、上記孔版マスクの貫通孔内部の光硬
化性ペーストを上記バンプ電極形成面に密着させた状態
で、該孔版マスクの貫通孔を通して露光することにより
該ペーストを硬化させる。そして、硬化した該ペースト
を該バンプ電極形成面に固着するように該孔版マスクを
該バンプ電極形成面から分離することにより、該バンプ
電極形成面に微細なバンプ電極を精度良く形成すること
ができる。
【0015】 請求項10の発明は、複数の部品を並べて
載置し、その上面をバンプ電極形成面とし、該バンプ電
極形成面に複数のバンプ電極を一括形成するバンプ電極
形成方法であって、バンプ電極形成用の貫通孔が形成さ
れた孔版マスクを該バンプ電極形成面に装着し、該孔版
マスクの貫通孔を通して導電性ペーストにより該バン
電極形成面に該バンプ電極を一括形成するための印刷を
するものであり、該孔版マスクは、光により貫通孔を
該孔版マスクに形成すべく選択的にアブレーション加工
が可能なプラスチック材料からなることを特徴とするも
のである。この請求項10のバンプ電極形成方法では、
孔版マスクに形成された貫通孔を通して導電性ペースト
を上記バンプ電極形成面に印刷することにより、複数の
部品にバンプ電極を一括形成するので、バンプ電極の形
成を低コストで行うことができる。また、プラスチック
材料にアブレーション加工可能な光を選択的に照射する
ことによって内壁面が平滑で導電性ペーストの抜け性が
よい貫通孔が形成された孔版マスクを用ているので、バ
ンプ欠損等のない高品質のバンプ電極を形成することが
できる。
【0016】 請求項11の発明は、複数の部品を並べて
載置し、その上面をバンプ電極形成面とし、該バンプ電
極形成面に複数のバンプ電極を一括形成するバンプ電極
形成方法であって、バンプ電極形成用の凹版マスクの凹
部に溶融金属又は導電性ペーストを充填し、該凹版マス
クの凹部側を該バンプ電極形成面に密着させることによ
り、該バンプ電極形成面に該バンプ電極を一括形成する
ための印刷をすることを特徴とするものである。この請
求項11のバンプ電極形成方法では、バンプ電極形成用
の凹版マスクの凹部に溶融金属又は導電性ペーストを充
填し、該凹版マスクの凹部側を、上記バンプ電極形成面
に密着させるこにより、該バンプ電極形成面にバンプ電
極を一括形成するので、バンプ電極の形成を低コストで
行うことができる。
【0017】請求項12の発明は、請求項11のバンプ
電極形成方法において、上記導電性ペーストは、光硬化
性ペーストであり、上記凹版マスクの凹部は、光通過が
可能な透明性を有し、該凹版マスクは、上記バンプ電極
形成面に密着する面に遮光層を有し、該導電性ペースト
が該凹部に充填され、露光され、硬化された後、該バン
プ電極形成面上に固着するように、該凹版マスクを該バ
ンプ電極形成面から分離することを特徴とするものであ
る。この請求項12のバンプ電極形成方法では、上記凹
版マスクの凹部内部の光硬化性ペーストを上記バンプ電
極形成面に密着させた状態で、該凹版マスクの凹部を通
して露光することにより該ペーストを硬化させる。そし
て、硬化した該ペーストを該バンプ電極形成面に固着す
るように該凹版マスクを該バンプ電極形成面から分離す
ることにより、該バンプ電極形成面に微細なバンプ電極
を精度良く形成することができる。
【0018】 請求項13の発明は、請求項11のバンプ
電極形成方法において、上記凹版マスクは、光により上
記凹部を該凹版マスクに形成すべく選択的にアブレーシ
ョン加工が可能なプラスチック材料からなることを特徴
とするものである。この請求項13のバンプ電極形成方
法では、プラスチック材料にアブレーション加工可能な
光を選択的に照射することによって内壁面が平滑で導電
性ペーストの抜け性がよい凹部が形成された凹版マスク
を用ているので、バンプ欠損等のない高品質のバンプ電
極を形成することができる。
【0019】 請求項14の発明は、請求項11のバンプ
電極形成方法において、上記導電性ペーストは、エラス
トマー樹脂ペーストであることを特徴とするものであ
る。この請求項14のバンプ電極形成方法では、高弾力
性のエラストマ樹脂からなるバンプ電極を形成すること
ができるので、熱膨張のよるストレスを繰り返し受けた
場合でもクラックが発生しないバンプ電極を形成するこ
とができる。
【0020】 請求項15の発明は、請求項9、10又は
11のバンプ電極形成方法において、上記バンプ電極
は、先端部が細くなった形状であることを特徴とするも
のである。この請求項15のバンプ電極形成方法では、
先端部が細くなった形状のバンプ電極を形成することに
より、バンプ電極のオープンやクラックが発生しないよ
うにする。
【0021】 請求項16の発明は、請求項10又は13
のバンプ電極形成方法において、上記アブレーション加
工に用いる光は、紫外光であることを特徴とするもので
ある。
【0022】 請求項17の発明は、請求項9、10、1
1、12、13、14、15又は16のバンプ電極形成
方法において、上記部品はウェハーから分割されたチッ
プであることを特徴とするものである。この請求項17
のバンプ電極形成方法では、ウェハーから分割されたチ
ップのバンプ電極形成面にバンプ電極を一括形成するこ
とにより、該チップ上のバンプ電極を低コストで形成す
ることができる。
【0023】
〔実施形態1〕
【0024】 図2は、第1の実施形態に係るバンプ電極
形成方法の説明図である。この方法では、図2(a)に
示すようにバンプ電極形成用の貫通孔5aが形成された
孔版マスク5を、多数の半導体素子が形成されたウェハ
ー1のバンプ電極形成面に装着する。そして、孔版マス
ク5の表面に導電性ペーストである微細粒ペースト7
(Φ≦20μm)をスキージ6で押し当てながら該スキ
ージ6を矢印方向に移動させ、貫通孔5aに該ペースト
7を充填する。そして、上記孔版マスク5をウェハー1
から分離することにより、該ペースト7からなるバンプ
電極2をウェハー1のバンプ電極形成面に印刷すること
ができる。この後、必要に応じてリフロー処理を行う。
【0025】 上記孔版マスク5と上記ペーストとの分離
の際に両者間の離型性が悪い場合は、図3(b)に示す
ように上記分離に先立って上記貫通孔5aに充填したペ
ースト7を硬化させるのが好ましい。このペースト7を
硬化させる方法としては、該ペースト7として熱硬化性
又は光硬化性を有するものを用い、加熱、光照射等の硬
化処理を行う方法が挙げられる。上記ペースト7として
2液性のものを用い、経時的な化学変化により硬化させ
てもよい。このように上記ペースト7を硬化させた後、
孔版マスク5をウェハー1から分離することにより、該
ペースト7からなるバンプ電極2をウェハー1のバンプ
電極形成面に印刷することができる。
【0026】 以上のように、本実施形態に係るバンプ電
極形成方法によれば、従来の電解メッキ法等に比してよ
り低コストでウェハー1上にバンプ電極2を一括形成す
ることができる。
【0027】 〔実施形態2〕 図4は、第2の実施形態に係るバンプ電極形成方法の説
明図である。図4において気密筐体101の下部は溶融
金属槽102となっており、槽内にはバンプ電極用の素
材として、導電性ペーストとしての共晶半田または高温
半田などの溶融金属103が溶解温度(例えば183°
C)以上に保たれて貯留されており、その上部の筐体内
部には溶融金属103の酸化を防止するための窒素ガス
などの不活性ガス104が充填されている。
【0028】 図4のステップAにおいて、バンプ電極2
の雌型形状であるバンプ電極形成用の凹部106を有す
るやや弾力を持たせたプラスチック製などの凹版マスク
105を気密筺体101内の不活性ガス104中に置
き、加減圧装置107により不活性ガス104を減圧す
ることによって凹版マスク105の凹部106にあるガ
スを脱気させたのち、脱気された凹版マスク105を溶
融金属103中に沈潜させ、次いで加減圧装置107で
不活性ガス104を加圧することによって溶融金属10
3を加圧し、凹版マスク105の凹部6の末端細部にま
で溶融解金属103の充填を促進させる。
【0029】 次に、ステップBにおいて、凹版マスク1
05の凹部106の細部にまで溶融金属103の充填が
行なわれたのち、凹版マスク105の凹部開口側表面に
接する面が平坦な遮蔽板108を、凹版マスク105の
面に密着させつつ摺動させ凹版マスク105表面の溶融
金属103を除去しながら凹部106の開口面を遮蔽し
て凹版マスク105の面に遮蔽板108を密着させる。
これにより、凹版マスク105の面と遮蔽板108との
間に溶融金属103を残さないようにしながら凹部10
6内の溶融金属103の充填量が定量化される。
【0030】 ついで、ステップCにおいて、遮蔽板10
8を密着させたまま凹部106に導電性ペーストとして
の溶融金属109の充填された凹版マスク105を溶融
金属103中から取り出し、凹版マスク105の凹部1
06が上向きの水平となってから遮蔽板108をスライ
ドさせて凹版マスク105の面から離脱させる。
【0031】 次に、ステップDにおいて、ヒートショッ
クの緩和のために予熱を行なったウェハー1を、バンプ
電極形成面を下側に向け、位置を整合したのち凹版マス
ク105と密着させて、上下反転する。ついで、ウェハ
ー1と凹版マスク105の上から加圧用装置111によ
って若干の圧が加えられると、プラスチック材料からな
る凹版マスク105に持たせた弾力性によって、凹版マ
スク105の凹部106に充填された溶融金属109は
ウェハー1のパッドへの密着が促進され確保される。な
お、上記ウェハー1のバンプ電極2を形成しない表面は
マスキングで保護しておくことが好ましい。
【0032】 ステップEにおいて、やがて凹版マスク1
05とウェハー1が冷却され、凹部106内の溶融金属
109が固化したのちに、凹版マスク105をウェハー
1から分離することにより、凹版マスク105の凹部1
06に充填された溶融金属109は凹部106の内部形
状のままにウェハー1に転写される。
【0033】 以上のプロセスにより、ウェハー1上の半
導体素子(フリップチップ)の接続用バンプ電極を安価
でバラツキなく一括形成することができる。
【0034】 上記凹版マスク105の凹部106の製法
としては、機械加工や、フォトリソとめっきによって製
作するなどの方法が考えられるが、製作しようとするバ
ンプ電極が微細になるほどこれらの方法は困難かつ高価
となる難点がある。この対応策として、プラスチック板
にエキシマレーザ光等のアプレーション可能な紫外光に
より印刷形状の堀込み加工を行なうことによって、凹部
106としての微小なバンプ電極の雌型形状の凹部に対
応する溝構造をプラスチック板に形成することができ
る。
【0035】 なお、本実施形態において用いる凹版マス
クの材質としては、バンプ電極形成の対象物と同じよう
な熱膨張係数を有するものが好ましい。例えば、対象物
がシリコンのウェハーの場合にはコバール等の金属を使
用する。また、バンプ電極形成の対象物のウェハーが熱
膨張してもそれに追随して凹版マスク側も変形するよう
に、該凹版マスクを弾性体で形成してもよい。
【0036】 また、本実施形態においては、溶解金属を
用いる場合について説明したが、導電性接着剤、異方性
導電接着剤、導電性ポリマ、クリーム半田、錫ペース
ト、銀ペースト、銀パラジウムペースト、カーボンペー
ストなどに代表される導電性ペーストを利用することも
可能である。ただし、導電性接着剤、異方性導電接着
剤、導電性ポリマ、カーボンペーストなどを用いる場合
には、溶融が不要であり、溶融にかかわる加熱や冷却の
必要もなく、各ペーストに応じた硬化手段を講じた後ウ
ェハーから凹版マスクを分離させればよい。
【0037】 一方、クリーム半田、錫ペースト、銀ペー
スト、銀パラジウムペーストなどを用いる場合には、こ
れらを常温で凹版マスクの凹部に充填したあと、上記ウ
ェハー上にその凹版マスクを密着させたままリフローを
行なってペーストを溶融させ、冷却して固化したのちに
凹版マスクを分離させればよい。このような溶融させる
必要のあるペーストを使用する場合には、通常はウェハ
ーのバンプ電極形成面を上向きにし、その上から凹版マ
スクの凹部開口部を下向きにした形で位置合わせを行な
い、密着させてリフローを行なう。
【0038】 溶融させる必要のあるペースト中には体積
比で約50%内外のフラックスが含有されており、この
ため溶融後の金属は上記凹版マスク105の凹部106
内の空間を全て占有することができず、錐形バンプの先
端部分を上方に向けて形成した場合、凹部106の上端
は比重の軽いフラックスによって充填されることにな
り、所定のバンプ形状に対して先端部分の欠けた形状に
なってしまうが、凹版マスク105を横転させた錐形バ
ンプの形成方法によると先端部分の欠損部を錐形バンプ
の側面に移動させことが可能となるため、リフロー後の
柱状バンプ形状は錐形のバンプ形状によって実現できる
リフロー後の柱状バンプとほぼ同様となり、ストレス軽
減効果を維持することができる。
【0039】 〔実施形態3〕 図5は、第3の実施形態に係るバンプ電極形成方法を実
施可能な装置の一例を模式的に示す断面図、図6は該装
置における転写工程における露光・硬化の様子を説明す
る拡大断面図である。図5において、凹版マスク201
は全体としては無端ベルト状になって左右の駆動装置2
04によって矢印方向に移動しながら回転する。凹版マ
スク201の最表面は、図6に示すように、硬質かつ不
透明で耐摩耗性を持つ酸化チタンなどの薄膜202でコ
ーティングされ、バンプ電極形成用の凹部203が形成
されている。上記回転により導電性処理を施したスキー
ジ222の個所まで来た凹版マスク201の凹部203
にはエラストマ樹脂用導電性ペーストとしてのエラスト
マ型紫外線硬化樹脂ペースト205が充填される。凹版
マスク201の凹部203はさらに回転して転写工程へ
進む。
【0040】 一方、前工程から送られてくる半導素子形
成済みのウェハー1は、濡れ性を改善するための表面改
質用紫外線照射装置207を通過し、定盤テーブル20
8上を移動する搬送装置209に乗せられてバンプ電極
形成面210を上にして転写工程へ移送されてくる。こ
のウェハー1と凹版マスク201の凹部203は、転写
工程最前部に位置する画像認識装置211によって位置
ずれ量が測定され、位置合わせが行なわれたあと、互い
に密着させられる。
【0041】 紫外線の透過率の良い石英ガラス製ローラ
212とその内部中空部に設置された樹脂硬化用紫外線
ランプ213によって、凹版マスク201の凹部203
に充填されたエラストマ型紫外線硬化樹脂205はウェ
ハー1表面に押し付けられ密着を促進されながらキュア
され、ウェハー1ヘ固着させられる。
【0042】 すなわち、図6において、バンプ電極形成
面210を上面に向けたウェハー1の上から凹版マスク
201が密着しており、そのウェハー1側には凹版マス
ク201の凹部203中に未硬化のエラストマ型紫外線
硬化樹脂205が充填されており、これには凹版マスク
201の上部から押圧している石英ガラス製ローラ21
2によって圧が加えられ、バンプ電極形成面210への
紫外線硬化樹脂205の粘着が促進されている。
【0043】 その石英ガラス製ローラ212の中空部に
は紫外線ランプ213からの紫外線219が照射されて
いる。この紫外線219は、透明な凹版マスク201を
透過して凹部203中に充填されている未硬化の紫外線
硬化樹脂205を硬化させていく。但し、凹部203周
辺の凹版マスク201の表面には紫外線を透さない遮光
薄膜層202がコーティングしてあるため、その影にな
る凹部の周辺ににじみだした紫外線硬化樹脂220には
紫外線219が当たらない。この紫外線219が当たら
ない部分の樹脂が硬化されることなく露光が完了する。
後処理工程のパネル洗浄槽221において、このにじみ
だしによって未硬化となった紫外線硬化型樹脂220は
容易に除去することができ、バンプ電極形成面210上
に残留することがないため、不要な絶縁層となって各半
導体素子の機能を損なうような不具合が発生しない。
【0044】 凹版マスク201のベルトがさらに移動し
ていくと、やがて分離装置214に至り、凹版マスク2
01のベルトとウェハー1表面とはここで剥離させら
れ、エラストマ型紫外線硬化樹脂205はウェハー1に
転写される。
【0045】 エラストマ型紫外線硬化樹脂205の転写
を完了した凹版マスク201は、駆動装置4を経て凹版
ベルト洗浄装置215において、にじみ出しによって硬
化されなかった未硬化樹脂や特にガラスの微小破片(カ
レット)などの異物が除去される。さらにリンス槽21
6において洗浄剤にすすがれ、乾燥室217で乾燥され
たのち、離型剤塗布装置218によって離型性向上の処
理を行なわれ、樹脂ペースト充填工程まで戻ってくる。
このようにして凹版マスク201は、離型剤塗布の前処
理工程、スキージングの充填工程、密着から剥離までの
転写工程、洗浄から乾燥までの後処理工程を循環し、繰
り返し印刷が行なわれる。
【0046】 上記循環工程のうち、充填工程において紫
外線硬化樹脂205中への泡の巻き込みや凹部への空気
の侵入によって充填が阻害されたり、転写工程において
大気圧により凹版マスク201の剥離が困難となること
に対応するため、少なくとも充填工程から転写工程を含
む範囲を減圧雰囲気または真空とすることが望ましい。
また、工程中の静電気を防止するため、各種の静電防止
対策を行なうことが望ましく、例えばイオナイザを使用
する。
【0047】 以上のように、本実施形態によれば、ウェ
ハー1に微細なバンプ電極を精度良く一括形成すること
ができ、また廃棄するペーストも少ないため更に低コス
トでバンプ電極を形成することができる
【0048】な お、上記各実施形態に用いるマスクとし
ては、プラスチック材にアブレーション加工可能な紫外
光を選択的に照射することによって貫通孔あるいは凹部
が形成されたものを用いるのが好ましい。このようにプ
ラスチック材にアブレーション加工可能な紫外光を選択
的に照射することによって内壁面が平滑で導電性ペース
トの抜け性がよい貫通孔あるいは凹部が形成されたマス
クを用いれば、バンプ欠損等のない高品質のバンプ電極
を形成することができる。
【0049】 図7(a)及び(b)それぞれは、プラス
チック材にアブレーション加工可能な紫外光を出力する
ができるエキシマレーザによって凹版マスクの凹部を形
成する方法の一例を模式的に示す説明図である。図7
(a)において、エキシマレーザ発振器112より照射
されるレーザ光113は、光路途中のミラー114によ
って方向決めや光軸ズレの補正が行なわれたのち、加工
パターン決定用遮光板115によって整形され、パター
ニング後のエキシマレーザ光116はイメージレンズ1
17または118で必要エネルギ密度に集光され、凹版
用の素材プラスチック板121の表面に照射されてアブ
レーション加工が行なわれる。その結果、図7(a)に
示すように、集光率の大きいイメージレンズ117によ
って高エネルギ密度に集光されたレーザ光119ではテ
ーパの小さい加工穴122を加工することができる。一
方、図7(b)に示すように、集光率の小さなイメージ
レンズ118によって低エネルギ密度に集光されたレー
ザ光120ではテーパの大きな加工穴123を加工する
ことができる。
【0050】 また、上記アブレーション加工に用いる光
としては、上記紫外光の他に、上記プラスチック材をア
ブレーション加工できるものであれば可視光や赤外光を
用いることもできる。
【0051】 また、上記各実施形態においてウェハー1
上に一括形成するバンプ電極は、先端部が細くなった形
状のもの、例えば錘状のものが好ましい。このような形
状のバンプ電極を形成するためのマスクは、上述のエキ
シマレーザを用いて作成することができる。このエキシ
マレーザによる錐の先端角度の設定も自由であり、プラ
スチック板に凹部を鈍角や鋭角の錐形状などを自由に加
工することが可能であり、例えば、円柱形、円錐形、載
頭円錐形などの凹部も容易に形成することができる。ま
た凹部の水平断面が円形のものだけではなく、例えば遮
光版の開口形状を四角にすることによって四角柱形、四
角錐形、載頭四角錐形なども容易に形成することができ
る。
【0052】 このような凹部を形成することによって、
特に鋭角の錐形状のバンプ雌型凹部を有する凹版を用い
て、鋭角の錐形状のバンプを上記ウェハー1の半導体素
子などに形成した場合、図8(a)のように湾曲した基
板138であったり、図8(b)のように基板139の
上端面に凹凸がある基板側パッド140の場合、バンプ
先端細部141が容易に変形して湾曲や凹凸を吸収する
ため従来の接続バンプの形状で多く発生していたオープ
ンなどの接合不良の発生を防止することができる。
【0053】 さらに、基板とパッケージの熱膨張率の差
によるストレスを低減するために、図9(a)のよう
に、リフロー時のパッケージを保持し落ちこみを防止す
るスタッドバンプ142と錐形状のバンプ137とを併
用するによって、図9(b)のような柱状バンプ143
を実現させることができる。
【0054】 この錐形状のバンプ137によって、従来
困難であった柱状バンプ接合の実現が容易となり、BG
AやCSP、フリップチップなどのバンプ型接続部にお
ける基板とパッケージの熱膨張率の差によるストレスを
低減し、クラックの発生を防止することができるため、
高信頼化することができる。
【0055】 また、上記各実施形態においては、基板に
表面実装される複数のチップに分割する前のウェハー1
上にバンプ電極を一括形成する場合について説明した
が、本発明は、半導体チップがモールドされたBGA、
CSPタイプのパッケージや、基板に表面実装されるコ
ネクタ類にバンプ電極を形成する場合にも適用すること
ができ、同様な効果が得られるものである。
【0056】 また、ウェハーから分割されたチップや、
該チップをモールドしたパッケージ、コネクタ等の部品
にバンプ電極を形成する場合、バンプ電極形成面が同一
の仮想平面上に位置するように複数の部品を並べ、該複
数の部品のバンプ電極形成面にバンプ電極を一括形成す
るようにしてもよい。
【0057】 図10(a)乃至(c)は、ウェハーから
分割された複数のチップをトレイ上に並べ各チップのバ
ンプ電極形成面にバンプ電極を一括形成する方法を示し
ている。図10(a)及び(b)に示すように、複数の
チップ4が載置されるトレイ300は、チップ4がそれ
ぞれ収容可能な凹部300aが格子状に形成されてい
る。各凹部300aは、各チップ4の上端面(バンプ電
極形成面)が同一仮想平面に位置するように均一に形成
する。更に、各凹部300aの深さは、チップ4の上端
面(バンプ電極形成面)がトレイ300の上端面300
bよりも若干高くなるように設定する。より好ましく
は、チップ4の上端面(バンプ電極形成面)がトレイ3
00の上端面と同じ平面上に位置するように設定するの
が好ましい。このように設定することにより、各チップ
4のバンプ電極形成面にバンプ電極を確実に一括形成す
ることができる。
【0058】 また、上記チップ4をトレイ300上に並
べて載置する場合、図11に示すような位置決め機構を
設けてもよい。この位置決め機構は、各チップ4の載置
部に固定配置されたXY端面基準用の位置決めガイド3
01と、位置決めガイド301のガイド面にチップ4を
XY両方向から押しつけるように移動可能なX方向押し
付けバー302及びY方向押し付けバー303とを用い
て構成されている。このような位置決め機構を設けるこ
とにより、トレイ300上に各チップ4を精度よく載置
することができ、各チップ4にバンプ電極を精度よく一
括形成することができる。
【0059】
【発明の効果】請求項1乃至17の発明によれば、基板
に表面実装される部品にバンプ電極を低コストで一括形
成することができるという効果がある。
【0060】 特に請求項1、3、9及び12の発明によ
れば、上記部品に微細なバンプ電極を精度良く形成する
ことができるという効果がある。
【0061】 特に請求項2、4、7、10、13及び1
の発明によれば、バンプ欠損等のない高品質のバンプ
電極を形成することができるという効果がある。
【0062】 特に請求項5及び14の発明によれば、熱
膨張のよるストレスを繰り返し受けた場合でもクラック
が発生しないバンプ電極を形成することができるという
効果がある。
【0063】 特に請求項6及び15の発明によれば、バ
ンプ電極のオープンやクラックが発生しないという効果
がある
【0064】特 に請求項8及び17の発明によれば、ウ
ェハーから分割される複数のチップ上のバンプ電極を低
コストで一括形成することができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)乃至(c)は、各実施形態におけるウェ
ハーへのバンプ電極の一括形成を示す説明図。
【図2】(a)及び(b)は、第1の実施形態に係るバ
ンプ電極形成方法の説明図。
【図3】(a)乃至(c)は、第1の実施形態の変形例
に係るバンプ電極形成方法の説明図。
【図4】第2の実施形態に係るバンプ電極形成方法を説
明するための装置の一例を模式的に示す断面図。
【図5】第3の実施形態に係るバンプ電極形成方法を説
明するための装置の一例を模式的に示す断面図。
【図6】同バンプ電極形成方法の転写工程における露光
・硬化の様子を説明する拡大断面図。
【図7】(a)及び(b)はそれぞれエキシマレーザに
よって印刷用凹版の凹部を形成する方法の一例を模式的
に示す説明図。
【図8】(a)及び(b)は鋭角の錐形状のバンプを形
成した場合の効果を示す説明図。
【図9】(a)及び(b)は柱状バンプの形成の様子を
示す説明図。
【図10】(a)は他の実施形態に係るバンプ電極形成
方法に用いる、チップを載置したトレイの斜視図。 (b)は同トレイのチップ載置部の拡大断面図。 (c)は同トレイの部分断面斜視図。
【図11】変形例に係るトレイを上方から見た部分拡大
図。
【符号の説明】
1 ウェハー 2 バンプ電極 3 ダイシングソー 4 チップ 5 孔版マスク 6 スキージ 7 導電性微細粒ペースト 8 導電性接着剤 101 気密筐体 102 溶解金属槽 103 溶解金属 104 不活性ガス 105 凹版マスク 106 凹部 107 加減圧装置 108 遮蔽板 109 凹部に充填された溶解金属 111 加圧用装置 112 エキシマレーザ発振器 113 エキシマレーザ光 114 ミラー 115 加工パターン決定用遮光板 116 パターニング後のエキシマレーザ光 117 縮小率の大きいイメージレンズ 118 縮小率の小さいイメージレンズ 119 高いエネルギ密度に集光されたレーザ光 120 低いエネルギ密度に集光されたレーザ光 121 プラスチック板 122 テーパの小さい加工穴 123 テーパの大きい加工穴 137 錐形バンプ 138 湾曲した基板 139 基板 140 上端面に凹凸がある基板側パッド 141 バンプ先端細部 142 スタッドバンプ 143 柱状バンプ 201 凹版マスク 202 薄膜 203 凹部 204 駆動装置 205 エラストマ型紫外線硬化樹脂ペースト 207 表面改質用紫外線照射装置 208 定盤テーブル 209 搬送装置 210 バンプ電極形成面 211 画像認識装置 212 石英ガラス製ローラ 213 樹脂硬化用紫外線ランプ 214 分離装置 215 凹版ベルト洗浄装置 216 リンス槽 217 乾燥室 218 離型剤塗布装置 219 紫外線 220 凹部の周辺ににじみだした紫外線硬化樹脂 221 パネル洗浄槽 222 スキージ 300 トレイ 301 位置決めガイド 302 X方向押し付けバー 303 Y方向押し付けバー

Claims (17)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】複数の部品に分割される前の中間製造物の
    バンプ電極形成面に複数のバンプ電極を一括形成するバ
    ンプ電極形成方法であって、 バンプ電極形成用の貫通孔が形成された孔版マスクを該
    中間製造物のバンプ電極形成面に装着し、該孔版マスク
    の貫通孔を通して導電性ペーストにより該バンプ電極形
    成面に該バンプ電極を一括形成するための印刷をする
    のであり、 該孔版マスクは、該中間製造物のバンプ電極形成面に密
    着する側に遮光層を有し、 該導電性ペーストは、光硬化性ペーストであり、 該導電性ペーストが該貫通孔に充填され、露光され、硬
    化された後、該中間製造物のバンプ電極形成面上に固着
    するように、該孔版マスクを該バンプ電極形成面から分
    離する ことを特徴とするバンプ電極形成方法。
  2. 【請求項2】複数の部品に分割される前の中間製造物の
    バンプ電極形成面に複数のバンプ電極を一括形成するバ
    ンプ電極形成方法であって、 バンプ電極形成用の貫通孔が形成された孔版マスクを該
    中間製造物のバンプ電極形成面に装着し、該孔版マスク
    の貫通孔を通して導電性ペーストにより該バンプ電極形
    成面に該バンプ電極を一括形成するための印刷をするも
    のであり、 該孔版マスクは、光により該貫通孔を該孔版マスクに形
    成すべく選択的にアブレーション加工が可能なプラスチ
    ック材料からなる ことを特徴とするバンプ電極形成方
    法。
  3. 【請求項3】複数の部品に分割される前の中間製造物の
    バンプ電極形成面に複数のバンプ電極を一括形成するバ
    ンプ電極形成方法であって、 バンプ電極形成用の凹版マスクの凹部に溶融金属又は導
    電性ペーストを充填し、該凹版マスクの凹部側を該中間
    製造物のバンプ電極形成面に密着させることに より、該
    バンプ電極形成面に該バンプ電極を一括形成するための
    印刷をするものであり、 該導電性ペーストは、光硬化性ペーストであり、 該凹版マスクの凹部は、光通過が可能な透明性を有し、 該凹版マスクは、該中間製造物のバンプ電極形成面に密
    着する面に遮光層を有し、 該導電性ペーストが該凹部に充填され、露光され、硬化
    された後、該中間製造物のバンプ電極形成面上に固着す
    るように、該凹版マスクを該バンプ電極形成面から分離
    する ことを特徴とするバンプ電極形成方法。
  4. 【請求項4】請求項3のバンプ電極形成方法において、 上記凹版マスクは、光により上記凹部を該凹版マスクに
    形成すべく選択的にアブレーション加工が可能なプラス
    チック材料からなる ことを特徴とするバンプ電極形成方
    法。
  5. 【請求項5】請求項のバンプ電極形成方法において、上記導電性ペーストは、エラストマー樹脂ペーストであ
    ことを特徴とするバンプ電極形成方法。
  6. 【請求項6】請求項1、2又は3のバンプ電極形成方法
    において、上記バンプ電極は、先端部が細くなった形状である こと
    を特徴とするバンプ電極形成方法。
  7. 【請求項7】請求項2又は4のバンプ電極形成方法にお
    いて、上記アブレーション加工に用いる光は、紫外光である
    とを特徴とするバンプ電極形成方法。
  8. 【請求項8】請求項1、2、3、4、5、6又は7のバ
    ンプ電極形成方法において、上記中間製造物はウェハーであり、上記部品は該ウェハ
    ーから分割されるチッ プである ことを特徴とするバンプ
    電極形成方法。
  9. 【請求項9】複数の部品を並べて載置し、その上面をバ
    ンプ電極形成面とし、該バンプ電極形成面に複数のバン
    プ電極を一括形成するバンプ電極形成方法であって、 バンプ電極形成用の貫通孔が形成された孔版マスクを該
    バンプ電極形成面に装着し、該孔版マスクの貫通孔を通
    して導電性ペーストにより該バンプ電極形成面に該バン
    プ電極を一括形成するための印刷をするものであり、 該孔版マスクは、該バンプ電極形成面に密着する側に遮
    光層を有し、 該導電性ペーストは、光硬化性ペーストであり、 該導電性ペーストが該貫通孔に充填され、露光され、硬
    化された後、該バンプ電極形成面上に固着するように、
    該孔版マスクを該バンプ電極形成面から分離する ことを
    特徴とするバンプ電極形成方法。
  10. 【請求項10】複数の部品を並べて載置し、その上面を
    バンプ電極形成面とし、該バンプ電極形成面に複数のバ
    ンプ電極を一括形成するバンプ電極形成方法であって、 バンプ電極形成用の貫通孔が形成された孔版マスクを該
    バンプ電極形成面に装着し、該孔版マスクの貫通孔を通
    して導電性ペーストにより該バンプ電極形成面に該バン
    プ電極を一括形成するための印刷をするものであり、 上記孔版マスクは、光により上記貫通孔を該孔版マスク
    に形成すべく選択的にアブレーション加工が可能なプラ
    スチック材料からなる ことを特徴とするバンプ電極形成
    方法。
  11. 【請求項11】複数の部品を並べて載置し、その上面を
    バンプ電極形成面とし、該バンプ電極形成面に複数のバ
    ンプ電極を一括形成するバンプ電極形成方法であって、 バンプ電極形成用の凹版マスクの凹部に溶融金属又は導
    電性ペーストを充填し、 該凹版マスクの凹部側を該バンプ電極形成面に密着させ
    ることにより、該バンプ電極形成面に該バンプ電極を一
    括形成するための印刷をする ことを特徴とするバンプ電
    極形成方法。
  12. 【請求項12】請求項11のバンプ電極形成方法におい
    て、上記導電性ペーストは、光硬化性ペーストであり、 上記凹版マスクの凹部は、光通過が可能な透明性を有
    し、 該凹版マスクは、上記バンプ電極形成面に密着する面に
    遮光層を有し、 該導電性ペーストが該凹部に充填され、露光され、硬化
    された後、該バンプ電極形成面上に固着するように、該
    凹版マスクを該バンプ電極形成面から分離する ことを特
    徴とするバンプ電極形成方法。
  13. 【請求項13】請求項11のバンプ電極形成方法におい
    て、 上記凹版マスクは、光により上記凹部を該凹版マスクに
    形成すべく選択的にアブレーション加工が可能なプラス
    チック材料からなる ことを特徴とするバンプ電極形成方
    法。
  14. 【請求項14】請求項11のバンプ電極形成方法におい
    て、上記導電性ペーストは、エラストマー樹脂ペーストであ
    ことを特徴とするバンプ電極形成方法。
  15. 【請求項15】請求項9、10又は11のバンプ電極形
    成方法において、上記バンプ電極は、先端部が細くなった形状である こと
    を特徴とするバンプ電極形成方法。
  16. 【請求項16】請求項10又は13のバンプ電極形成方
    法において、 上記アブレーション加工に用いる光は、紫外光である
    とを特徴とするバンプ電極形成方法。
  17. 【請求項17】請求項9、10、11、12、13、1
    4、15又は16のバンプ電極形成方法において、上記部品はウェハーから分割されたチップである ことを
    特徴とするバンプ電極形成方法
JP01448999A 1998-01-22 1999-01-22 バンプ電極形成方法 Expired - Fee Related JP3423239B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP01448999A JP3423239B2 (ja) 1998-01-22 1999-01-22 バンプ電極形成方法

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2514298 1998-01-22
JP10-25142 1998-01-22
JP01448999A JP3423239B2 (ja) 1998-01-22 1999-01-22 バンプ電極形成方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11274209A JPH11274209A (ja) 1999-10-08
JP3423239B2 true JP3423239B2 (ja) 2003-07-07

Family

ID=26350439

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP01448999A Expired - Fee Related JP3423239B2 (ja) 1998-01-22 1999-01-22 バンプ電極形成方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3423239B2 (ja)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100382941B1 (ko) * 2000-10-25 2003-05-09 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 반도체 패키지의 범프 형성 장치 및 방법
JP4744689B2 (ja) * 2000-12-11 2011-08-10 パナソニック株式会社 粘性流体転写装置及び電子部品実装装置
KR100673688B1 (ko) 2005-12-07 2007-01-24 엘에스전선 주식회사 스크린 인쇄를 위한 인쇄 마스크 및 인쇄 방법
CN101578694B (zh) * 2006-12-27 2011-07-13 松下电器产业株式会社 导电性凸块及其形成方法和半导体装置及其制造方法
KR100871034B1 (ko) 2007-06-12 2008-11-27 삼성전기주식회사 인쇄회로기판의 페이스트 범프 형성 방법
EP2852861B1 (en) * 2012-04-25 2024-07-03 Carl Zeiss Vision International GmbH Electrically conductive lens connection and methods of making the same

Also Published As

Publication number Publication date
JPH11274209A (ja) 1999-10-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6225205B1 (en) Method of forming bump electrodes
US6025258A (en) Method for fabricating solder bumps by forming solder balls with a solder ball forming member
US5832600A (en) Method of mounting electronic parts
KR100257420B1 (ko) 결합 재료 범프에 의해 상호접속되는 시스템
US7579684B2 (en) Methods for packing microfeature devices and microfeature devices formed by such methods
US5834062A (en) Material transfer apparatus and method of using the same
EP0689245A2 (en) Electronic device, its arrangement and method of manufacturing the same
US7694869B2 (en) Universal mold for injection molding of solder
KR19980071549A (ko) 凹판 인쇄방법 및 장치, 범프 또는 배선 패턴의 형성방법 및 장치, 범프전극 및 프린트 배선기판
WO2008065926A1 (fr) Structure de montage de composant électronique et procédé de fabrication correspondant
JP2002093830A (ja) チップ状電子部品の製造方法、及びその製造に用いる疑似ウェーハの製造方法
US20220078921A1 (en) Method of producing circuit boards
JP2000349194A (ja) 半導体装置の製造方法および半導体装置
JP3423239B2 (ja) バンプ電極形成方法
JP2024009340A (ja) 半導体装置の製造方法および製造装置
JPH05218137A (ja) 半導体装置の製造方法
JP4181236B2 (ja) 凹版印刷方法、バンプ形成方法,配線パターンの形成方法,並びに,バンプおよび配線パターン形成方法
DE102004033645B4 (de) Herstellungswerkzeug für eine Waferebene-Packung und Verfahren zum Anordnen von Chips
JP7194921B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JP2546351B2 (ja) 半導体集積回路の実装方法
JP2004079816A (ja) チップ状電子部品の製造方法及びチップ状電子部品、並びにその製造に用いる疑似ウェーハの製造方法及び疑似ウェーハ、並びに実装構造
JPH10112474A (ja) 半導体装置、半導体装置の製造方法、接点の形成方法、および電子装置の製造方法
WO2024116844A1 (ja) 半導体装置及びその製造方法
JP2001044231A (ja) はんだバンプ形成方法、配線基板、半導体素子、半導体パッケージ、およびそれらの製造方法
JPH11274206A (ja) バンプ電極形成方法およびその装置

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20030328

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120425

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150425

Year of fee payment: 12

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees