JP3405202B2 - リードフレームおよびそれを用いた樹脂封止型半導体装置およびその製造方法 - Google Patents

リードフレームおよびそれを用いた樹脂封止型半導体装置およびその製造方法

Info

Publication number
JP3405202B2
JP3405202B2 JP18014098A JP18014098A JP3405202B2 JP 3405202 B2 JP3405202 B2 JP 3405202B2 JP 18014098 A JP18014098 A JP 18014098A JP 18014098 A JP18014098 A JP 18014098A JP 3405202 B2 JP3405202 B2 JP 3405202B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin
lead portion
lead
die pad
semiconductor device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP18014098A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2000012758A (ja
Inventor
幸雄 山口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Corp
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Panasonic Corp
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Corp, Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Panasonic Corp
Priority to JP18014098A priority Critical patent/JP3405202B2/ja
Publication of JP2000012758A publication Critical patent/JP2000012758A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3405202B2 publication Critical patent/JP3405202B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45138Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/45144Gold (Au) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item

Landscapes

  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体素子及び半
導体素子に接続される信号接続用リード部を封止樹脂に
より封止した樹脂封止型半導体装置とその製造方法、お
よび樹脂封止型半導体装置の製造に適したリードフレー
ムに係り、特に信号接続用リード部の一部が底面から露
出した樹脂封止型半導体装置の構造に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】近年、電子機器の小型化に対応するため
に、電子機器に搭載される半導体部品を高密度に実装す
ることが要求され、それにともなって、半導体部品の小
型、薄型化が進んでいる。
【0003】以下、従来の樹脂封止型半導体装置につい
て説明する。図11は、従来の樹脂封止型半導体装置を
示す断面図である。図11に示すように、従来の樹脂封
止型半導体装置は、裏面側に外部電極を有するタイプの
樹脂封止型半導体装置である。
【0004】従来の樹脂封止型半導体装置は、インナー
リード部1と、ダイパッド部2と、そのダイパッド部2
を支持する吊りリード部(図示)を有し、ダイパッド部
2上に半導体素子3が接着剤により接合されており、半
導体素子3の電極パッド(図示せず)とインナーリード
部1とは、金属細線4により電気的に接続されている。
【0005】そして、ダイパッド部2、半導体素子3、
インナーリード部1の一部、吊りリード部および金属細
線4は封止樹脂5により封止されている。この構造で
は、インナーリード部1の裏面側には封止樹脂5は存在
せず、インナーリード部1の裏面側は露出されており、
この露出面を含むインナーリード部1の下部が外部電極
部6となっている。またインナーリード部1と接続した
アウターリード部7が封止樹脂5の面より突出して設け
られている。なお、封止樹脂5との密着性を確保するた
めに、インナーリード部1やダイパッド部2の側面を表
裏の面に対して直交するのではなく、上方に向かって拡
大するようにテーパ状にしている。
【0006】このような従来の樹脂封止型半導体装置に
おいては、封止樹脂5の裏面とダイパッド部2の裏面と
は共通の面上にある。すなわち、リードフレームの裏面
側は実質的に封止されていないので、薄型の樹脂封止型
半導体装置が実現する。
【0007】図11に示す構造を有する樹脂封止型半導
体装置の製造工程においては、まず、インナーリード部
1、ダイパッド部2を有するリードフレームを用意し、
機械的または化学的加工を行なって、リードフレームの
側面をテーパ状にする。用意したリードフレームのダイ
パッド部2の上に半導体素子3を接着剤により接合した
後、半導体素子3とインナーリード部1とを金属細線4
により電気的に接続する。金属細線4には、アルミニウ
ム(Al)線、金(Au)線などが適宜用いられる。次
に、ダイパッド部2、半導体素子3、インナーリード部
1、吊りリード部の一部及び金属細線4を封止樹脂5に
より封止する。この場合、半導体素子3が接合されたリ
ードフレームが封止金型内に収納されて、トランスファ
ーモールドされるが、特にリードフレームの裏面が封止
金型の上金型又は下金型に接触した状態で、樹脂封止が
行なわれる。最後に、樹脂封止後に封止樹脂5から外方
に突出しているアウターリード7を所定の長さに切断し
て、樹脂封止型半導体装置が完成する。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら従来の樹
脂封止型半導体装置では、薄型化を実現するために、実
質的にはリードフレームの半導体素子が搭載された面、
すなわちリードフレームの上面のみを封止樹脂で封止し
た構造である。
【0009】このため、インナーリード部の底面が樹脂
封止型半導体装置の底面に一部露出しており、樹脂との
密着性が弱く樹脂と離れやすい、実装基板と接合する実
装においてもその機械的、熱的応力により信頼性が悪い
という課題があった。また、リード数(電極数)の増大
により樹脂封止型半導体装置の外形寸法が大きくなり、
それにより外部端子間も長くなり実装信頼性がより悪く
なる。また、半導体素子が小さい場合、特に金属細線の
接続が長くなり生産性、品質の課題があった。さらにプ
リント基板への実装後の応力により、金属細線で接続さ
れたインナーリード部に負荷がかかり、接続不良が発生
するという課題もあった。また、実装基板と樹脂封止型
半導体装置との実装において、ダイパッド部の裏面上に
封止樹脂の一部がはみ出していわゆる樹脂バリが介在す
ると、放熱パッド等との接触が不十分となり、放熱特性
などの所望の特性を十分発揮できない恐れがある。一
方、この樹脂バリはウォータージェットなどの利用によ
って除去できるが、かかる処理は煩雑な手間を要し、し
かも、ウォータージェット工程によって、実際にはリー
ド上に形成しているニッケル、パラジウム、金のメッキ
層が剥がれ、また不純物が付着することから、樹脂封止
工程後に封止樹脂から露出している部分に再度、メッキ
を施すことが必要となり、作業能率の低下、信頼性の悪
化を招く恐れもあった。
【0010】一方、ダイパッド部を封止樹脂内に内蔵し
たタイプの半導体装置においては、上記の共通課題のほ
か、インナーリード部の先端部に段差があり先端部が変
形するという課題があり、また、金属細線の接続工程に
おいて生産安定性に課題があった。また、封止工程でも
金属細線が互いに接触するという課題があり、インナー
リード部の先端部の位置がばらつくため、段差部の下に
樹脂が充填されないという品質上の課題もあった。
【0011】本発明は、前記従来の樹脂封止型半導体装
置における課題に鑑みてなされたものであり、前記従来
の課題を解決し、リードフレームおよびそれを用いた樹
脂封止型半導体装置およびその製造方法を提供すること
を目的とする。具体的には本発明の第1の目的は、半導
体素子の大きさの変化に対応可能で、信頼性の向上が可
能なリードフレームとそれを用いた小型の樹脂封止型半
導体装置を提供する。また、本発明の第2の目的は、信
号接続用リード部の外部端子部と半導体素子との距離が
ある樹脂封止型半導体装置の信号接続用リード部に補強
手段を講ずることにより、小型の半導体装置を提供す
る。そして本発明の第3の目的は、信号接続用リード部
の先端部に段差を有し、段差部の一部に突出部を設ける
ことにより実装品質の良い小型の樹脂封止型半導体装置
を提供する。
【0012】
【課題を解決するための手段】前記した目的を達成する
ために本発明のリードフレームおよびそれを用いた樹脂
封止型半導体装置およびその製造方法は、以下のような
構成を有している。すなわち、リードフレームにおいて
は、ダイパッド部と、前記ダイパッド部の近傍にその各
先端部が延在して配置された信号接続用リード部と、前
記信号接続用リード部と連続して接続するアウターリー
ド部とよりなるリードフレームにおいて、前記信号接続
用リード部の先端部は前記アウターリード部に対して厚
さが薄い薄厚部を有し、前記薄厚部の領域内に下方に突
出した突出部を有し、前記突出部の表面と前記アウター
リード部の底面とは同一面であり、前記信号接続用リー
ド部の上面には2本の溝部が設けられているリードフレ
ームである。また、ダイパッド部と、前記ダイパッド部
の近傍にその各先端部が延在して配置された信号接続用
リード部と、前記信号接続用リード部に連続して接続す
るアウターリード部と、アウターリード部の他端を支持
したフレーム枠とよりなるリードフレームにおいて、少
なくともフレーム枠、信号接続用リード部の一部、およ
びダイパッド部底面に樹脂フィルムが貼付されたリード
フレームである。また、信号接続用リード部の先端部は
薄厚部を有し、前記薄厚部の領域内の前記信号接続用リ
ード部表面には複数個の溝部が設けられているリードフ
レームであり、信号接続用リード部には幅広部が形成さ
れているリードフレームである。
【0013】また樹脂封止型半導体装置においては、ダ
イパッド部上に搭載された半導体素子と、前記半導体素
子と金属細線により電気的に接続された信号接続用リー
ド部と、前記ダイパッド部、半導体素子、金属細線の領
域を封止し、少なくとも前記信号接続用リード部の裏面
の一部を突出させて封止した封止樹脂とよりなる樹脂封
止型半導体装置であって、前記信号接続用リード部はそ
の先端部付近に突出部を有し、前記突出部が前記封止樹
脂面から突出して露出し、前記信号接続用リード部の上
面には2本の溝部が設けられている樹脂封止型半導体装
置である。そして信号接続用リード部はその表面に溝部
を有しているものである。また、信号接続用リード部は
その表面に幅広部を有しているものである。また、信号
接続用リード部はその先端部付近に突出部を有し、前記
突出部の先端部が幅広部を有し、その幅広部の表面が封
止樹脂面から露出しているものである。
【0014】また、樹脂封止型半導体装置の製造方法に
おいては、ダイパッド部と、前記ダイパッド部の近傍に
その各先端部が延在して配置された信号接続用リード部
と、前記信号接続用リード部と連続して接続するアウタ
ーリード部と、前記アウターリード部の他端を支持した
フレーム枠とよりなるリードフレームであって、少なく
ともフレーム枠、信号接続用リード部の一部、およびダ
イパッド部底面に樹脂フィルムが貼付され、前記信号接
続用リード部の先端部は前記アウターリード部に対して
厚さが薄い薄厚部を有し、前記薄厚部の領域内に下方に
突出した突出部を有し、前記突出部の表面と前記アウタ
ーリード部の底面とは同一面であり、前記信号接続用リ
ード部の上面には2本の溝部が設けられているリードフ
レーム対して、半導体素子を前記ダイパッド部上に接
着する工程と、前記ダイパッド部上に接着した半導体素
子と前記信号接続用リード部とを金属細線により電気的
に接続する工程と、前記信号接続リード部、アウターリ
ード部およびダイパット部底面を前記樹脂フィルムとと
もに樹脂封止用の金型面に押圧して封止樹脂により、前
記半導体素子、金属細線、信号接続用リード部の領域を
樹脂封止する工程と、前記樹脂フィルムを除去し、底面
の封止樹脂面より突出したアウターリード部よりなる外
部電極部、突出部およびダイパット部を形成する工程
と、前記外部電極部の前記フレーム枠と接続した部分を
切断し、外部電極部の先端面と封止樹脂の側面とをほぼ
同一面に形成する工程とよりなる樹脂封止型半導体装置
の製造方法である。
【0015】前記構成により、本発明のリードフレーム
は、信号接続用リードの先端部近傍に下方に突出する突
出部を有したことにより、金属細線を安定に接続するこ
とができ、生産性、品質、実装信頼性の良い樹脂封止型
半導体装置に適したリードフレームを提供できる。
【0016】また本発明の樹脂封止型半導体装置は、突
出部が封止樹脂の底面領域に配列されるため、信号接続
用リード部と封止樹脂の結合性が良く、実装信頼性の高
い樹脂封止型半導体装置を提供できる。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、本発明のリードフレームお
よびそれを用いた樹脂封止型半導体装置およびその製造
方法について、その実施形態を図面を参照しながら説明
する。
【0018】本実施形態の樹脂封止型半導体装置は、外
部端子部と段差部の突出部底面あるいは幅広部底面を封
止樹脂の裏面から露出させた共通の構成を有しており、
その中の各種の実施形態と製造方法、また使用されるリ
ードフレームの各種形態とその製造方法について説明す
る。
【0019】まず図1〜図4を参照しながら本実施形態
のリードフレームについて説明する。図1は本実施形態
のリードフレームを示す平面図であり、図2は信号接続
用リード部の部分を示す平面図(a)および断面図
(b)であり、図3は信号接続用リード部の部分を示す
平面図(a)および断面図(b)であり、図4は信号接
続用リード部の部分を示す平面図(a)および断面図
(b)である。
【0020】まず図1に示すように本実施形態のリード
フレームにおいては、信号接続用リード部8がアウター
リード部9と接続して、フレーム枠10により支持され
ている。そして少なくとも信号接続用リード部8、アウ
ターリード部9、フレーム枠10の底面の一部は、樹脂
フィルム11の面に密着している。樹脂フィルム11は
フレーム枠10の裏面側に貼付され、フレーム枠10の
開口部面にその接着部分が露出しているものである。ま
た半導体素子を搭載するダイパッド部12は、フレーム
枠10の開口部に露出した樹脂フィルム11上に密着し
て設けられ、信号接続用リード部8の各先端部が延在し
て配置された中央部に固着されている。また、ダイパッ
ド部12は吊りリード部13により支持されてフレーム
枠10に接続されているが、吊りリード部13を廃して
樹脂フィルム11に直接固着してもよい。なお、ダイパ
ッド部12が封止樹脂内に内蔵の樹脂封止型半導体装置
では、吊りリード部13が存在する場合、その吊りリー
ド部13に段差を設け、ダイパッド部12がアップセッ
トされているものである。また、吊りリード部13を有
した樹脂封止型半導体装置に使用する本実施形態のリー
ドフレームは樹脂フィルム11を使用しないことも可能
であり、樹脂封止型半導体装置の大きさにより、樹脂フ
ィルム11を使用しても良いが、突出部8aの下面に樹
脂バリが発生しなければ不要である。ダイパッド部内蔵
型の樹脂封止型半導体装置のダイパッド部12の下面に
は樹脂フィルム11は接着されず、ダイパッド部12は
浮き上がった状態である。そしてダイパッド部12は、
その形状を目的とする樹脂封止型半導体装置の特性、搭
載する半導体素子の大きさ、厚さ、実装条件、要求信頼
性等により決定し、樹脂フィルム11上に固着すること
により構成される。なお、本実施形態のリードフレーム
は、樹脂封止の際、封止樹脂の流出を止めるタイバーを
設けていないリードフレームである。また、本実施形態
において、信号接続用リード部8は、直線的に構成され
ており、曲げ加工等が施されていないリード構成であ
る。
【0021】さらに、本実施形態のリードフレームは、
実際には図1に示した構成よりなるパターンが1つでは
なく、複数個、左右、上下の連続した配列になっている
ものである。図1において、破線で示した領域は、半導
体素子をダイパッド部12上に搭載し、樹脂封止型半導
体装置を構成する際に樹脂封止する領域であり、また一
点鎖線で示した領域は、樹脂フィルム11がリードフレ
ーム裏面に貼付された領域を示している。すなわち、破
線で示した内側の領域はインナーリード部である信号接
続用リード部8を構成し、外側の領域はアウターリード
部9を構成するものである。
【0022】次に図2〜図4に示すように信号接続用リ
ード部8は、突出部8a、薄厚部8b、幅広部8d、溝
部8cを有しており、封止樹脂との密着性向上、実装基
板との接合性向上および生産性向上を図っている。図2
に示したリード構造では、信号接続用リード部8は、そ
の先端部に突出部8aを有し、突出部8aを含むリード
先端部が薄厚部8bを構成している。また、図3に示し
たリード構造では、信号接続用リード部8は、その先端
部に突出部8aを有し、リードの表面には溝部8cが設
けられ、それらを含むリード先端部が薄厚部8bを構成
している。また、図4に示したリード構造では、信号接
続用リード部8は、その先端部に突出部8aを有し、そ
の突出部8aの先端部は平面的に突出して幅広部8dを
有し、その突出部8aを含むリード先端部が薄厚部8b
を構成している。なお、図2〜図4に示した信号接続用
リード部8の構成については、突出部8a、薄厚部8
b、幅広部8d、溝部8cの各構成を適宜、組み合わせ
てもよい。なお、突出部8aの表面と信号接続用リード
部8の薄厚部8b以外(アウターリード部)の底面と
は、同一面で構成されている。
【0023】なお、樹脂フィルム11の第1の働きは、
特に信号接続用リード部8の各先端部の段差部の突出部
8aに接着し、突出部8aの固定を図り、半導体素子を
搭載した後のワイヤーボンド時の金属細線の接続安定性
の役割を果たすものである。また、第2の働きは、信号
接続用リード部8の各先端部の段差部の下面に封止樹脂
を安定して充填する働きである。また、第3の働きは、
ダイパッド部12の下面側および信号接続用リード部8
の裏面側の外部端子部を構成する部分、突出部8a表面
に樹脂封止時に封止樹脂が回り込まないようにするマス
ク的な役割を果たすためのものであり、この樹脂フィル
ム11の存在によって、ダイパッド部12の下面や、信
号接続用リード部8の裏面側である外部端子部を構成す
る面、突出部8aの裏面に樹脂バリが形成されるのを防
止するものである。
【0024】この樹脂フィルム11は、ポリエチレンテ
レフタレート、ポリイミド、ポリカーボネートなどを主
成分とする樹脂をベースとしたフィルム状またはテープ
状のものであり、樹脂封止後は容易に剥がすことがで
き、また樹脂封止時における高温環境に耐性があるもの
であればよい。なお樹脂バリとは、樹脂封止の際に発生
するリードフレームに対する残余樹脂であり、樹脂成形
上、不必要な部分である。
【0025】また、樹脂封止の際、片方の金型はこの樹
脂フィルム11の働きにより、封止樹脂と接することが
ないため、樹脂バリの発生のほかにも、離型のための押
し出しピンや封止樹脂から金型変形を防止する焼き入れ
等の金型構造を単純化することが出来る。
【0026】以上、本実施形態のリードフレームは、フ
レーム枠10の裏面に接着面を有した樹脂フィルム11
が貼付され、開口部から露出した部分には吊りリード部
13で支持されたダイパッド部12が設けられ、また開
口部には、ダイパッド部12の周囲近傍に延在する折り
曲げ加工のない直線的な信号接続用リード部8と、その
信号接続用リード部8と連続して接続したアウターリー
ド部9が設けられ、樹脂フィルム11上に固着されてい
るものである。そして信号接続用リード部8の先端部
は、薄厚部8bを有するとともに、薄厚部8bの領域内
では、下方に突出する突出部8aが設けられ、突出部8
bの下面が樹脂フィルム11に固着しているものであ
る。さらに薄厚部8bの領域内では、リード表面に溝部
8cや、突出部8aの先端部には幅広部8dが設けられ
ているものである。なお、ダイパッド部12がアップセ
ットされている場合においては、ダイパッド部12の下
面は樹脂フィルム11に固着されず、樹脂フィルム11
とダイパッド部12との間には隙間が形成されているも
のである。
【0027】次に本実施形態の樹脂封止型半導体装置に
ついて図面を参照しながら説明する。図5は本実施形態
の樹脂封止型半導体装置を示す斜視平面図であり、図6
はその斜視底面図、図7は主としてダイパッド部/半導
体素子部/信号接続用リード部の部分断面図である。
【0028】図5〜図7に示すように、本実施形態の樹
脂封止型半導体装置の外観構造としては、外部電極部1
4が封止樹脂15の周囲に配置され、裏面の封止樹脂1
5にはダイパッド部12の裏面が露出した構造である。
また、裏面の封止樹脂15の外部電極部14の内側領域
には、信号接続用リード部8の突出部8aの裏面が露出
している構造である。そして本実施形態の樹脂封止型半
導体装置の内部構造としては、ダイパッド部12上に半
導体素子16が接着剤により搭載され、半導体素子16
の電極パッド(図示せず)と信号接続用リード部8の先
端部とが金属細線17により電気的に接続され、ダイパ
ッド部12の裏面以外の領域、半導体素子16、信号接
続用リード部8の裏面以外の領域は封止樹脂15により
封止されているものである。すなわち、ダイパッド部1
2と信号接続用リード部8の裏面を除く領域が封止樹脂
15により封止された構造である。また信号接続用リー
ド部8の上面部分には、溝部18a,18bが設けられ
ているものである。図8には、本実施形態の信号接続用
リード部8の部分平面図(a)とその部分断面図(b)
を示す。図示するように、信号接続用リード8部は、先
端部に突出部8aとその突出部8aを含む先端部領域に
薄厚部8bが設けられ、またリードの上面部分には、溝
部18a,18bおよび幅広部19が設けられているも
のである。
【0029】また、信号接続用リード部8の外側領域の
下面側には封止樹脂15は存在せず、信号接続用リード
部8の下面が露出されており、外部電極部14を構成し
ている。この信号接続用リード部8の露出した下面、お
よび先端部の突出部8a、ダイパット部12の下面が実
装基板との接続面となる。そして、ダイパッド部12の
露出部および外部電極部14、リードの突出部8aの下
面には、樹脂封止工程における樹脂のはみ出し部分であ
る樹脂バリが存在せず、実装基板の電極との接合の信頼
性が向上する。なお、ダイパッド部12および外部電極
部14、突出部8aの構造は後述する製造方法によって
実現できるものである。
【0030】なお、本実施形態の樹脂封止型半導体装置
では、信号接続用リード部8の側方には実質的に外部電
極端子となるアウターリード部が存在せず、信号接続用
リード部8の下部が外部電極部14となっているので、
樹脂封止型半導体装置の小型化を図ることができる。
【0031】また封止樹脂の裏面において、外部電極部
14(信号接続用リード部8の裏面部分)、突出部8a
およびダイパッド部12が封止樹脂15の面より突出し
て形成されているため、実装基板に樹脂封止型半導体装
置を実装する際の外部電極部14、突出部8aおよびダ
イパッド部12と実装基板の電極との接合において、外
部電極部14、突出部8aおよびダイパッド部12のス
タンドオフ高さが予め確保されていることになる。した
がって、外部電極部14をそのまま外部端子として用い
ることができ、実装基板への実装のために外部電極部1
4にはんだボールを付設する必要はなく、製造工数、製
造コスト的に有利となる。また突出部8aは実装信頼性
が保てる場合は実装基板への接合を必ずしもしなくても
良い。また、突出部8aのみを実装基板に接続しても良
くまた、半田ボールを付けて接続することもできる。
【0032】ここで、本実施形態の第1の特徴は、図1
のようにダイパッド部12と、突出部8aとを有した信
号接続用リード部8と、信号接続用リード部8に接続す
る外部電極部14とよりなるリードフレームの底面側に
接着性を有した樹脂フィルム11を密着させたリードフ
レームを使用することにある。このことにより、突出部
8aの底面に樹脂バリの付着をなくし生産性、製造上の
従来の課題を解決することが可能になった。第2の特徴
は、先端部は外部端子部に対して段差(薄厚部8b)を
有し、薄厚部の一部に突出部8aを有しているため、封
止樹脂が突出部8aの周辺に埋め込まれ、強固な接合が
可能になる。第3の特徴は、実装時に信号接続用リード
部8にかかる応力は、信号接続用リード部8の上面の溝
部18a,18bおよび幅広部19と先端部の突出部8
aにより緩和され、実装信頼性を向上させることができ
る。
【0033】次に、本実施形態の樹脂封止型半導体装置
の製造方法について、図面を参照しながら説明する。
【0034】図9は本実施形態の樹脂封止型半導体装置
の製造工程を示す断面図であり、工程別に示した図であ
る。
【0035】まず、図9(a)に示すように、信号接続
用リード部8に連結するアウターリード部9よりなるリ
ードフレームの下面および、信号接続用リード部8の先
端部に設けた突出部、ダイパッド部12に樹脂フィルム
11を密着させたリードフレーム20構成体を用意す
る。図中、信号接続用リード部8、アウターリード部
9、および信号接続用リード部8の先端に設けた突出
部、ダイパッド部12の底面は、少なくとも樹脂フィル
ム11によって固着されている。なお、信号接続用リー
ド部8は、図で示したような形状を構成しているもので
あるが、図9においては詳細な図示は省略している。ま
た信号接続用リード部8(および連結するアウターリー
ド部9)の外方はフレーム枠に接続されている。フレー
ム枠は信号接続用リード部8と連続しているために、こ
の図面では境界が現れていない。さらに、用意するリー
ドフレーム20は、樹脂封止の際、封止樹脂の流出を止
めるタイバーを設けていないリードフレームである。ま
た、本実施形態におけるリードフレーム20は、銅(C
u)素材のフレームに対して、下地メッキとしてニッケ
ル(Ni)層が、その上にパラジウム(Pd)層が、最
上層に薄膜の金(Au)層がそれぞれメッキされた3層
の金属メッキ済みのリードフレームである。ただし、銅
(Cu)素材以外にも42アロイ材等の素材を使用で
き、また、ニッケル(Ni),パラジウム(Pd),金
(Au)以外の貴金属メッキが施されていてもよく、さ
らに、かならずしも3層メッキでなくてもよい。
【0036】次に、図9(b)に示すように、用意した
リードフレーム20のダイパッド部12上に半導体素子
16を搭載して、接着剤により両者を互いに接合する。
この工程は、いわゆるダイボンド工程である。
【0037】そして、図9(c)に示すように、ダイパ
ッド部12上に接合した半導体素子16と信号接続用リ
ード部8とを金属細線17により電気的に接合する。こ
の工程は、いわゆるワイヤーボンド工程である。なお、
実際には、信号接続用リード部8の上面に設けた溝部と
溝部との間の領域に金属細線をボンディングすることに
より、樹脂封止した際、溝部に樹脂が充填され、金属細
線17の接続の信頼性向上が図れるものである。また、
信号接続用リード部8の先端部に設けた突出部の近傍に
金属細線17をボンデイングするため、突出部の働きに
より、接続安定性が得られる。
【0038】次に、図9(d)に示すように、半導体素
子16が接合され、金属細線17により電気的接続がな
され、樹脂フィルム11が貼り付けられたリードフレー
ム20を樹脂封止用の金型内に収納し、金型でリードフ
レーム20の信号接続用リード8の先端側を樹脂フィル
ム11とともに押圧して、金型内に封止樹脂15を流し
込んで樹脂封止を行う。この樹脂フィルム11は、特に
ダイパッド部12の下面側、および信号接続用リード部
8の裏面側に樹脂封止時に封止樹脂15が回り込まない
ようにするマスク的な役割を果たし、この樹脂フィルム
11の存在によって、ダイパッド部12の下面や、信号
接続用リード部8の裏面に樹脂バリが形成されるのを防
止することができる。なお、この樹脂フィルム11は、
ポリエチレンテレフタレート、ポリイミド、ポリカーボ
ネートなどを主成分とする樹脂をベースとしたテープで
あり、樹脂封止後は容易に剥がすことができ、また樹脂
封止時における高温環境に耐性があるものであればよ
い。本実施形態では、ポリイミドを主成分とした接着性
を有した樹脂フィルム11を用い、厚みは50[μm]
とした。
【0039】次に、図9(e)に示すように、樹脂封止
後、ダイパッド部12の下面、信号接続用リード部8の
裏面、信号接続用リード部の先端の突出部の裏面に貼付
した樹脂フィルム11をピールオフにより除去する。こ
れにより、ダイパッド部12の下面、信号接続用リード
部8の裏面の一部、信号接続用リード部の先端の突出部
の裏面側に封止樹脂15の裏面よりも下方に突出した構
造が得られ、封止樹脂15の裏面より突出した外部電極
部が形成される。
【0040】最後に、図9(f)に示すように、信号接
続用リード部8の他端、すなわちアウターリード部9側
を、封止樹脂15の側面とがほぼ同一面になるように切
り離すことにより、樹脂封止型半導体装置が完成され
る。ここで、ダイパッド部12の下面、信号接続用リー
ド部8の裏面に貼付した樹脂フィルム11を除去する前
に、信号接続用リード部8の他端側をレーザーあるい
は、金型でカットしても良い。なお、信号接続用リード
部8の裏面の露出した部分が外部電極部14を構成す
る。
【0041】本実施形態の樹脂封止型半導体装置の製造
方法によると、樹脂封止工程の前に予めダイパッド部1
2の下面、および信号接続用リード部8の裏面領域に樹
脂フィルム11を貼付しているので、樹脂封止際、封止
樹脂15が回り込むことがなく、ダイパッド部12や、
信号接続用リード部8の先端に設けた突出部、外部電極
となる信号接続用リード部8の裏面には樹脂バリの発生
はない。したがって、信号接続用リード部8の下面を露
出させる従来の樹脂封止型半導体装置の製造方法のごと
く、ダイパッド部12の下面や外部電極部14上に形成
された樹脂バリをウォータージェットなどによって除去
する必要はない。すなわち、この樹脂バリを除去するた
めの面倒な工程の削除によって、樹脂封止型半導体装置
の量産工程における工程の簡略化が可能となる。また、
従来、ウォータージェットなどによる樹脂バリ除去工程
において生じるおそれのあったリードフレームのニッケ
ル(Ni)、パラジウム(Pd)、金(Au)などの金
属メッキ層の剥がれや不純物の付着は解消できる。その
ため、樹脂封止工程前における各金属層のプリメッキ品
質が向上する。なお、ウォータージェットによる樹脂バ
リ除去工程を削除できるかわりに、樹脂フィルム11を
貼付する工程が新たに必要となるが、樹脂フィルム11
を貼付する工程の方が、ウォータージェット工程よりも
コスト的に安価であり、また工程管理も容易であるた
め、確実に工程の簡略化が図れる。なによりも、従来必
要であったウォータージェット工程では、リードフレー
ムの金属メッキが剥がれる、不純物が付着するという品
質上のトラブルが発生するが、本実施形態の方法では、
樹脂フィルム11の貼付により、ウォータージェットが
不要となって、メッキ剥がれをなくすことができる点は
大きな工程上の利点となる。
【0042】なお、樹脂封止工程においては、封止金型
の熱によって樹脂フィルム11が軟化するとともに熱収
縮するので、ダイパッド部12、信号接続用リード部8
の突出部および信号接続用リード部8が樹脂フィルム1
1に食い込み、ダイパッド部12と封止樹脂15の裏面
との間、信号接続用リード部8の裏面と封止樹脂15の
裏面との間、突出部の裏面と封止樹脂15の裏面との間
には、それぞれ段差が形成される。したがって、ダイパ
ッド部12の裏面および信号接続用リード部8に設けた
突出部の突出面は、封止樹脂15の裏面から突出した構
造となり、ダイパッド部12のスタンドオフ高さや、信
号接続用リード部8の下部である外部電極部14の突出
量(スタンドオフ高さ)を確保できる。例えば、本実施
形態では、樹脂フィルム11の厚みを50[μm]とし
ているので、外部電極部14の突出量を例えば20[μ
m]程度にできる。
【0043】半導体素子の電極と信号接続用リード部と
を接続する金属細線の長さは外部電極部の数、半導体素
子の大きさにより決まり、その長さは生産性、品質に影
響を与える。特に樹脂封止工程での樹脂の流れによる金
属細線のショートによる影響は大きな課題であったが、
外部電極部より薄く加工した信号接続用リード部の突出
部を好適に配することにより、金属細線の接続長さを短
くすることができ、突出部は、金属細線の接続信頼性を
向上し、また、信号接続用リード部と接続した外部電極
部の露出面および突出の下面を、封止樹脂面より突出し
配列することにより、実装基板と半導体装置の実装後の
信頼性に好適な樹脂封止型半導体装置を提供できる。ま
た、突出部に樹脂フィルムを密着するため、金属細線の
接続も容易でまた、樹脂封止性に優れ生産性が良い樹脂
封止型半導体装置を提供できる。
【0044】次に本発明の樹脂封止型半導体装置の構成
について、別の実施形態について図面を参照しながら説
明する。図10は本実施形態の樹脂封止型半導体装置を
示す部分的な断面図である。
【0045】図示するように、本実施形態における樹脂
封止型半導体装置の基本的な構造は、上記第1の実施形
態における図7に示した構造と同様であるが、信号接続
用リード部8の形状が異なる。そこで、本実施形態にお
いては、信号接続用リード部8の形状について説明し、
他の部分についての説明は省略する。
【0046】本実施形態の樹脂封止型半導体装置は、信
号接続用リード部8と、半導体素子16を支持するため
のダイパッド部12とよりなり、ダイパッド部12上に
半導体素子16が接着剤により接合されており、半導体
素子16の電極パッドと信号接続用リード部8とは、金
属細線17により互いに電気的に接続されている。そし
て、信号接続用リード部8、半導体素子16および金属
細線17は、封止樹脂15内に封止されている構造であ
る。また、封止樹脂15の底面において、信号接続用リ
ード部8の底面側が外部電極部14を構成している。
【0047】ここで本実施形態の樹脂封止型半導体装置
は、図7で示した構造に対して、信号接続用リード部8
の先端部に突出部8aが設けられ、かつその突出部8a
の近傍のリード上面に溝部8cが設けられているもので
ある。また信号接続用リード部8の上面には、溝部18
a,18bも設けられており、金属細線17は溝部18
aと溝部18bとの間に接続されているものである。ま
た信号接続用リード部8はその先端部に薄厚部8bを有
している。なお、信号接続用リード部8は、平面方向に
幅広部を有したり、突出部8aの先端部に幅広部を有し
たり、それらを組み合わせた構造を有していてもよい。
突出部8aの先端部の幅広部の働きについて、その一つ
は、封止樹脂15が突出部8aの周辺に埋め込まれ、幅
広部の働きにより底面方向にも強固な接合が可能になる
ことである。
【0048】本実施形態の樹脂封止型半導体装置は、信
号接続用リード部8には溝部18または幅広部、さらに
はその両方を有することにより、リード部と封止樹脂1
5との密着性(アンカー効果)を向上させることがで
き、製品の外部電極部14に加わるストレスや金属細線
17の接続部分へのストレスを緩和させることができ、
製品の信頼性を保つことができる。すなわち、封止樹脂
15から外部電極部14のヌケはがれを防止できるもの
である。
【0049】そして信号接続用リード部8の先端部付近
に突出部8aを有しているため、封止樹脂15が突出部
8aの周辺に埋め込まれ、強固な接合が可能になる。ま
た、信号接続用リード部8の上面の溝部8cの働きによ
り、封止樹脂15と信号接続用リード部8の密着性(ア
ンカー効果)を向上させることができ、金属細線17を
この近傍に接続する際には、封止樹脂15によるストレ
スを緩和できる。さらに実装時にも信頼性上の働きがあ
る。外部電極部14に対しては、実装基板との接合によ
る応力が印加されることになるが、外部電極部14の上
側部には溝部18a,18bが設けられ、その溝部18
a,18bによって、外部電極部14に加わる応力を吸
収し、緩和することができるとともに、突出部8aを有
しているため、封止樹脂15との結合が強固で機械的、
熱的応力等の実装信頼性が飛躍的に向上する。また突出
部8aの露出面を実装基板と接合することも可能でより
実装信頼性が向上する。
【0050】また、本発明の要旨を越えない限り種々の
変形実施が可能であることはいうまでもない。例えば、
突出部8aの働きで安定した金属細線17と信号接続用
リード部8の接着強度が得られるため、金線細線の接続
部分を信号接続用リード部8の上部の溝部18a,18
bより離して配置しても良く、金属細線17の接続長さ
を短くでき、生産性を向上させることができる。
【0051】
【発明の効果】以上、本発明のリードフレームとそれを
用いた樹脂封止型半導体装置およびその製造方法におい
て、信号接続用リード部の先端部付近に下方に突出した
突出部を有し、その突出部により樹脂封止した際、リー
ド部が封止樹脂に密着し、信頼性の高い樹脂封止型半導
体装置の構造を得ることができる。また信号接続用リー
ド部の先端部に突出部を設けているため、金属細線によ
る接続の際、安定して接続することができる。また突出
部の露出面を実装基板と接合することも可能であり、よ
り実装信頼性を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態におけるリードフレームを
示す平面図
【図2】本発明の一実施形態におけるリードフレームを
示す図
【図3】本発明の一実施形態におけるリードフレームを
示す図
【図4】本発明の一実施形態におけるリードフレームを
示す図
【図5】本発明の一実施形態における樹脂封止型半導体
装置を示す斜視図
【図6】本発明の一実施形態における樹脂封止型半導体
装置を示す斜視図
【図7】本発明の一実施形態における樹脂封止型半導体
装置を示す断面図
【図8】本発明の一実施形態における樹脂封止型半導体
装置のリードを示す図
【図9】本発明の一実施形態における樹脂封止型半導体
装置の製造方法を示す断面図
【図10】本発明の一実施形態における樹脂封止型半導
体装置を示す断面図
【図11】従来の樹脂封止型半導体装置を示す断面図
【符号の説明】 1 インナーリード部 2 ダイパッド部 3 半導体素子 4 金属細線 5 封止樹脂 6 外部電極部 7 アウターリード部 8 信号接続用リード部 9 アウターリード部 10 フレーム枠 11 樹脂フィルム 12 ダイパッド部 13 吊りリード部 14 外部電極部 15 封止樹脂 16 半導体素子 17 金属細線 18a、18b 溝部 19 幅広部 20 リードフレーム

Claims (12)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ダイパッド部と、前記ダイパッド部の近
    傍にその各先端部が延在して配置された信号接続用リー
    ド部と、前記信号接続用リード部と連続して接続するア
    ウターリード部とよりなるリードフレームにおいて、前
    記信号接続用リード部の先端部は前記アウターリード部
    に対して厚さが薄い薄厚部を有し、前記薄厚部の領域内
    に下方に突出した突出部を有し、前記突出部の表面と前
    記アウターリード部の底面とは同一面であり、前記信号
    接続用リード部の上面には2本の溝部が設けられている
    ことを特徴とするリードフレーム。
  2. 【請求項2】 2本の溝部は、信号接続用リード部の長
    手方向と略垂直方向に設けられていることを特徴とする
    請求項1に記載のリードフレーム。
  3. 【請求項3】 ダイパッド部と、前記ダイパッド部の近
    傍にその各先端部が延在して配置された信号接続用リー
    ド部と、前記信号接続用リード部に連続して接続するア
    ウターリード部と、アウターリード部の他端を支持した
    フレーム枠とよりなるリードフレームにおいて、少なく
    ともフレーム枠、信号接続用リード部の一部、およびダ
    イパッド部底面に樹脂フィルムが貼付されたことを特徴
    とする請求項1に記載のリードフレーム。
  4. 【請求項4】 信号接続用リード部は幅広部が形成され
    ていることを特徴とする請求項1に記載のリードフレー
    ム。
  5. 【請求項5】 ダイパッド部上に搭載された半導体素子
    と、前記半導体素子と金属細線により電気的に接続され
    た信号接続用リード部と、前記ダイパッド部、半導体素
    子、金属細線の領域を封止し、少なくとも前記信号接続
    用リード部の裏面の一部を突出させて封止した封止樹脂
    とよりなる樹脂封止型半導体装置であって、前記信号接
    続用リード部はその先端部付近に突出部を有し、前記突
    出部が前記封止樹脂面から突出して露出し、前記信号接
    続用リード部の上面には2本の溝部が設けられている
    とを特徴とする樹脂封止型半導体装置。
  6. 【請求項6】 2本の溝部は、信号接続用リード部の長
    手方向と略垂直方向に設けられていることを特徴とする
    請求項5に記載の樹脂封止型半導体装置。
  7. 【請求項7】 信号接続用リード部に設けられた2本の
    溝部の間に金属細線が接続されていることを特徴とする
    請求項5に記載の樹脂封止型半導体装置。
  8. 【請求項8】 信号接続用リード部はその表面に幅広部
    を有していることを特徴とする請求項5に記載の樹脂封
    止型半導体装置。
  9. 【請求項9】 出部の先端部が幅広部を有し、その幅
    広部の表面が封止樹脂面から露出していることを特徴と
    する請求項5に記載の樹脂封止型半導体装置。
  10. 【請求項10】 ダイパッド部と、前記ダイパッド部の
    近傍にその各先端部が延在して配置された信号接続用リ
    ード部と、前記信号接続用リード部と連続して接続する
    アウターリード部と、前記アウターリード部の他端を支
    持したフレーム枠とよりなるリードフレームであって、
    少なくともフレーム枠、信号接続用リード部の一部、お
    よびダイパッド部底面に樹脂フィルムが貼付され、前記
    信号接続用リード部の先端部は前記アウターリード部に
    対して厚さが薄い薄厚部を有し、前記薄厚部の領域内に
    下方に突出した突出部を有し、前記突出部の表面と前記
    アウターリード部の底面とは同一面であり、前記信号接
    続用リード部の上面には2本の溝部が設けられている
    ードフレームに対して、半導体素子を前記ダイパッド部
    上に接着する工程と、前記ダイパッド部上に接着した半
    導体素子と前記信号接続用リード部とを金属細線により
    電気的に接続する工程と、前記信号接続用リード部、ア
    ウターリード部およびダイパット部底面を前記樹脂フィ
    ルムとともに樹脂封止用の金型面に押圧して封止樹脂に
    より、前記半導体素子、金属細線、信号接続用リード部
    の領域を樹脂封止する工程と、前記樹脂フィルムを除去
    し、底面の封止樹脂面より突出したアウターリード部よ
    りなる外部電極部、突出部およびダイパット部を形成す
    る工程と、前記外部電極部の前記フレーム枠と接続した
    部分を切断し、外部電極部の先端面と封止樹脂の側面と
    をほぼ同一面に形成する工程とよりなることを特徴とす
    る樹脂封止型半導体装置の製造方法。
  11. 【請求項11】 2本の溝部は、信号接続用リード部の
    長手方向と略垂直方向に設けられていることを特徴とす
    る請求項10に記載の樹脂封止型半導体装置の製造方
    法。
  12. 【請求項12】 信号接続用リード部に設けられた2本
    の溝部の間に金属細線を接続することを特徴とする請求
    項11に記載の樹脂封止型半導体装置の製造方法。
JP18014098A 1998-06-26 1998-06-26 リードフレームおよびそれを用いた樹脂封止型半導体装置およびその製造方法 Expired - Fee Related JP3405202B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18014098A JP3405202B2 (ja) 1998-06-26 1998-06-26 リードフレームおよびそれを用いた樹脂封止型半導体装置およびその製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18014098A JP3405202B2 (ja) 1998-06-26 1998-06-26 リードフレームおよびそれを用いた樹脂封止型半導体装置およびその製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000012758A JP2000012758A (ja) 2000-01-14
JP3405202B2 true JP3405202B2 (ja) 2003-05-12

Family

ID=16078118

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP18014098A Expired - Fee Related JP3405202B2 (ja) 1998-06-26 1998-06-26 リードフレームおよびそれを用いた樹脂封止型半導体装置およびその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3405202B2 (ja)

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
MY133357A (en) 1999-06-30 2007-11-30 Hitachi Ltd A semiconductor device and a method of manufacturing the same
JP3768762B2 (ja) * 2000-02-03 2006-04-19 ローム株式会社 樹脂パッケージ型半導体装置
JP3751496B2 (ja) * 2000-03-02 2006-03-01 松下電器産業株式会社 リードフレーム及びそれを用いた樹脂封止型半導体装置の製造方法
JP2001313362A (ja) * 2000-04-28 2001-11-09 Mitsui High Tec Inc 半導体装置
KR20020009316A (ko) * 2000-07-26 2002-02-01 듀흐 마리 에스. 박형 반도체 패키지의 제조 방법
WO2002069402A1 (fr) * 2001-02-28 2002-09-06 Hitachi, Ltd. Dispositif a semi-conducteur et son procede de production
JP3436253B2 (ja) 2001-03-01 2003-08-11 松下電器産業株式会社 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法
US7170149B2 (en) 2001-04-13 2007-01-30 Yamaha Corporation Semiconductor device and package, and method of manufacture therefor
JP3879452B2 (ja) * 2001-07-23 2007-02-14 松下電器産業株式会社 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法
JP2005191158A (ja) * 2003-12-25 2005-07-14 Renesas Technology Corp 半導体装置及びその製造方法
JP4525277B2 (ja) * 2004-09-30 2010-08-18 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
EP1659628A1 (en) * 2004-11-23 2006-05-24 Optium Care International Tech. Inc. High lead density electronic device
US20060131708A1 (en) * 2004-12-16 2006-06-22 Ng Kee Y Packaged electronic devices, and method for making same
JP2007129068A (ja) * 2005-11-04 2007-05-24 Toshiba Corp 半導体装置とその製造方法、及びその製造に用いる基板
JP5532570B2 (ja) * 2008-09-29 2014-06-25 凸版印刷株式会社 リードフレーム型基板とその製造方法ならびに半導体装置
JP6030970B2 (ja) * 2013-02-12 2016-11-24 エスアイアイ・セミコンダクタ株式会社 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2000012758A (ja) 2000-01-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3562311B2 (ja) リードフレームおよび樹脂封止型半導体装置の製造方法
JP3461720B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置
KR100500919B1 (ko) 수지봉입형 반도체장치 및 그 제조방법
US6861734B2 (en) Resin-molded semiconductor device
US7507606B2 (en) Semiconductor device and method of manufacturing the same
US6338984B2 (en) Resin-molded semiconductor device, method for manufacturing the same, and leadframe
JP3405202B2 (ja) リードフレームおよびそれを用いた樹脂封止型半導体装置およびその製造方法
JP3470111B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置の製造方法
JPH11354572A (ja) 半導体チップパッケ―ジ及びその製造方法
JP3458057B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置
JP3445930B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置
JP2001024133A (ja) リードフレームとそれを用いた樹脂封止型半導体装置およびその製造方法
JP3443406B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置
JP4590788B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置の製造方法
JP4066050B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置及びその製造方法
JP2001077285A (ja) リードフレームとそれを用いた樹脂封止型半導体装置の製造方法
JP3578759B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置
JP2001077275A (ja) リードフレームとそれを用いた樹脂封止型半導体装置の製造方法
JP2006216993A (ja) 樹脂封止型半導体装置
JP3419922B2 (ja) 半導体装置
JP3795047B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置
JP3541751B2 (ja) リードフレームとそれを用いた樹脂封止型半導体装置およびその製造方法
JP3915338B2 (ja) リードフレームとそれを用いた樹脂封止型半導体装置の製造方法
JP2001127196A (ja) ターミナルランドフレーム及びその製造方法、並びに樹脂封止型半導体装置及びその製造方法
JP4153813B2 (ja) 半導体装置及びその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees