JP3399323B2 - 半田バンプ付電子部品の熱圧着方法 - Google Patents

半田バンプ付電子部品の熱圧着方法

Info

Publication number
JP3399323B2
JP3399323B2 JP30686397A JP30686397A JP3399323B2 JP 3399323 B2 JP3399323 B2 JP 3399323B2 JP 30686397 A JP30686397 A JP 30686397A JP 30686397 A JP30686397 A JP 30686397A JP 3399323 B2 JP3399323 B2 JP 3399323B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electronic component
load
thermocompression bonding
solder bumps
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP30686397A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH11145196A (ja
Inventor
聖一 佐藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Corp
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Panasonic Corp
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Corp, Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Panasonic Corp
Priority to JP30686397A priority Critical patent/JP3399323B2/ja
Priority to US09/187,222 priority patent/US6131795A/en
Publication of JPH11145196A publication Critical patent/JPH11145196A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3399323B2 publication Critical patent/JP3399323B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L24/81Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H01L24/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/81Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
    • H01L2224/8112Aligning
    • H01L2224/81121Active alignment, i.e. by apparatus steering, e.g. optical alignment using marks or sensors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/81Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
    • H01L2224/818Bonding techniques
    • H01L2224/81801Soldering or alloying
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01004Beryllium [Be]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01005Boron [B]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01006Carbon [C]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01033Arsenic [As]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01067Holmium [Ho]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01074Tungsten [W]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/013Alloys
    • H01L2924/014Solder alloys
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/341Surface mounted components
    • H05K3/3431Leadless components
    • H05K3/3436Leadless components having an array of bottom contacts, e.g. pad grid array or ball grid array components
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/3494Heating methods for reflowing of solder

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【発明の属する技術分野】本発明は、フリップチップな
どの半田バンプ付電子部品を基板に熱圧着する半田バン
プ付電子部品の熱圧着方法に関するものである。 【0002】 【従来の技術】フリップチップなどの半田バンプ付電子
部品を基板にボンディングする方法として、熱圧着によ
る方法が知られている。この方法は熱圧着ツールにより
電子部品を基板に押圧するとともに、電子部品を加熱し
て電子部品の半田バンプを溶融させ、基板の電極に半田
接合するものである。この熱圧着過程において、半田バ
ンプが溶融した後も押圧を続けると、溶融半田を熱圧着
ツールで押しつぶすこととなるため、半田バンプの溶融
前に熱圧着ツールの高さ位置を固定し、前述の半田バン
プの押しつぶしを防止することが行われる。 【0003】 【発明が解決しようとする課題】ところが、熱圧着ツー
ルの高さ位置が固定された状態においても、熱圧着ツー
ルはある押圧荷重で電子部品を基板に押圧しており、押
圧荷重の反力を受ける熱圧着装置の押圧機構にはこの押
圧荷重に相当する弾性歪が発生している。したがって半
田バンプが溶融して半田バンプに負荷された押圧荷重が
消失すると同時に、これらの弾性歪は解放され、その結
果熱圧着ツールは押圧機構の弾性歪相当分だけ下方へ変
位する。そしてこの変位量が大きい場合には溶融した半
田バンプを押しつぶすことがある。 【0004】従来の熱圧着装置には、押圧荷重の伝達経
路中に荷重検出手段としてロードセルなどの歪式の荷重
センサが介装されており、この場合には大部分の弾性歪
がこのロードセルに吸収される。そしてロードセルの歪
量は半田バンプを押しつぶすに十分な量であるため、熱
圧着ツールの高さ位置を固定していても溶融時の半田バ
ンプの押しつぶしを無くすことはできず、場合によって
は隣接したバンプと連結するブリッジなどの不具合を発
生することがあるという問題点があった。 【0005】そこで本発明は、半田バンプの溶融時に熱
圧着ツールによる押しつぶしが発生しない半田バンプ付
電子部品の熱圧着方法を提供することを目的とする。 【0006】 【課題を解決するための手段】本発明の半田バンプ付電
子部品の熱圧着方法は、昇降手段によって昇降する熱圧
着ツールにより半田バンプ付の電子部品を基板に押圧
し、この押圧力を歪式の荷重検出手段によって検出しな
がら前記電子部品を基板に熱圧着する半田バンプ付電子
部品の熱圧着方法であって、熱圧着ツールを下降させて
前記電子部品の半田バンプを基板の電極に押圧する工程
と、半田バンプの溶融前に前記荷重検出手段の歪が設定
された所定値以下となるように前記昇降手段を駆動する
工程と、前記電子部品を加熱して半田バンプを溶融させ
る工程とを含む。 【0007】本発明によれば、熱圧着ツールを下降させ
て電子部品の半田バンプを基板に押圧した後、半田バン
プの溶融前に荷重検出手段の歪が設定された所定値以下
となるように昇降手段を駆動することにより、半田バン
プが溶融した後の熱圧着ツールの下方への変位量を少な
くし、半田バンプの押しつぶしを防止することができ
る。 【0008】 【発明の実施の形態】次に本発明の実施の形態を図面を
参照して説明する。図1は本発明の一実施の形態の半田
バンプ付電子部品の熱圧着装置の側面図、図2は同半田
バンプ付電子部品の熱圧着装置の荷重検出部の部分側面
図、図3は同半田バンプ付電子部品の熱圧着方法のタイ
ミングチャートである。 【0009】まず図1を参照して半田バンプ付電子部品
の熱圧着装置の構造について説明する。図1において、
基台1上には可動テーブル2が設けられている。可動テ
ーブル2上には基板3が載置されており、基板3の側方
には電子部品5の供給部4が配設されている。可動テー
ブル2を駆動することにより、基板3、供給部4は水平
面内で移動する。可動テーブル2の上方には電子部品5
が熱圧着ツール6に保持されている。熱圧着ツール6は
圧着ヘッド7に装着されており、圧着ヘッド7は更に第
1の昇降ブロック10に装着されている。 【0010】第1の昇降ブロック10の背面にはスライ
ダ11が固着されており、スライダ11は第1のフレー
ム13の前面に配設された垂直なガイドレール12に上
下方向にスライド自在に嵌合している。また第1の昇降
ブロック10の上部には逆L字状の張り出し部14が設
けられている。張り出し部14の下面には後述する荷重
検出手段であるロードセルが当接する。 【0011】第1の昇降ブロック10の上方には第2の
昇降ブロック20が設けられている。第2の昇降ブロッ
ク20の背面にはスライダ21が設けられており、スラ
イダ21は第2のフレーム23の前面に配設された垂直
なガイドレール22に上下方向にスライド自在に嵌合し
ている。第2の昇降ブロック20の下部には逆L字状の
張り出し部24が設けられている。張り出し部24の上
面には歪式の荷重検出手段であるロードセル26が配設
されており、ロードセル26は張り出し部24の下面に
当接している。また第2の昇降ブロック20の下面には
シリンダ25が下向きに装着されており、シリンダ25
のロッド25aは張り出し部24の上面に当接している
(図2参照)。 【0012】第2のフレーム23の上部には断面がコ字
型のブラケット30が固着されている。ブラケット30
上にはモータ31が配設されており、モータ31の回転
軸は垂直な送りネジ27と接続されている。送りネジ2
7は第2の昇降ブロック20に内蔵されたナット28に
螺入している。したがってモータ31が正逆回転すると
ナット28は送りネジ27に沿って昇降し、第2の昇降
ブロック20および第1の昇降ブロック10は昇降す
る。すなわちモータ31、送りネジ27およびナット2
8は第1の昇降部ブロック10とともに、熱圧着ツール
6を昇降させる昇降手段となっている。 【0013】モータ31は昇降モータ駆動部33と接続
されており、昇降モータ駆動部33は制御部34からの
指令を受けモータ31の回転を制御するとともに、エン
コーダ32の回転数信号を制御部34へ伝達する。第1
のフレーム12の下方にはカメラ37が設けられてい
る。カメラ37は前方へ突出する鏡筒36を備えてお
り、鏡筒36の先端に装着されたレンズにより前進時
(鎖線で示す36参照)に電子部品5および基板3の画
像を取り込む。カメラ37には電子部品5及び基板3の
位置認識を行う画像認識部35が接続されており、画像
認識部35は制御部34と接続されている。カメラ37
に取込まれた画像データは画像認識部35へ送られ、認
識された基板3や電子部品5の位置データは制御部34
に送られる。 【0014】次に電子部品5に与えられる押圧力と荷重
検出手段の歪量との関係について図2を参照して説明す
る。図2は、圧着荷重が作用していない状態(A)と、
圧着荷重が作用している状態(B)での、荷重検出手段
であるロードセル26と、シリンダ25の動作を示すも
のである。Aの状態では、シリンダ25のロッド25a
が突出することにより、エア圧力によって定められる所
定の突出力F0を第1の昇降ブロック10に伝える。ま
た、この状態では第1の昇降ブロック10やその下端部
に装着される圧着ヘッド7などの自重Wもロードセル2
6に負荷される。すなわち、圧着荷重が作用していない
状態では、シリンダ25による突出力F0と第1の昇降
ブロック10の自重Wの和(F0+W)がロードセル2
6に予圧foとして作用する。ここでは、説明を簡単に
するためこの状態を荷重検出手段の歪量がゼロの状態と
定義する。 【0015】これに対して、Bで示す電子部品5の圧着
時、すなわち第1の昇降部ブロック10に圧着ツール6
を介して上向きの圧着荷重の反力Fが作用している状態
では、反力Fの分だけロードセル26の検出荷重fが減
少し、fはF0+W−Fで表される。すなわちロードセ
ル26の検出荷重fの減少値が圧着荷重に相当する。そ
してこの検出荷重fの減少値に相当する変位量dだけロ
ードセル26は伸びる。すなわち、この変位量dが圧着
荷重Fによって荷重検出手段に蓄えられる歪量に相当す
る。そして圧着荷重Fと変位量(歪量)dは比例関係に
ある。なお図2では、比較のため、A,Bのそれぞれの
第2の昇降ブロック20の高さ位置を等しく画いている
が、実際には圧着荷重Fを作用させるためには圧着ツー
ル6を下方に押圧する、すなわち昇降手段を下方に駆動
する必要があり、圧着荷重Fに相当する分だけ第2の昇
降ブロック20は下降している。 【0016】次に、圧着ツール6の高さ位置を固定した
状態、すなわち図2に示す第2の昇降ブロック20の高
さ位置が固定された状態で、圧着荷重Fが減少または消
失した場合に発生する現象について説明する。この場合
は、図2のBの状態からAの状態に変化した場合に相当
する。すなわち、圧着荷重Fが減少または消失するた
め、ロードセル26に負荷される荷重fは逆に増加し、
ロードセル26はこの荷重増加分だけ押し縮められ、そ
の結果第1の昇降ブロック10及びその下端部にある圧
着ツール6は下方に変位する。そしてこのときの変位量
は圧着荷重の減少値に比例する。言い換えると、昇降手
段の駆動を固定した状態で圧着荷重が減少すると、その
減少分に相当するロードセル26の歪量だけ圧着ツール
6は下降する。 【0017】この半田バンプ付電子部品の熱圧着装置は
上記のような構成より成り、次に動作を説明する。図1
において、可動テーブル2を駆動して電子部品5の供給
部4を圧着ツール6の下方に位置させる。次いで圧着ツ
ール6を下降させて圧着ツール6に電子部品5を真空吸
着により保持させてピックアップする。次に再び可動テ
ーブル2を駆動して基板3を圧着ツール6の下方に位置
させ、この状態でカメラ37を前進させ、基板3および
圧着ツール6に保持された電子部品5の位置を認識す
る。この位置認識結果に基づいて可動テーブル2により
基板3の位置決めを行う。 【0018】この後、圧着ツール6を下降させて電子部
品5を基板3に押圧するが、このときの圧着ツール6の
高さ位置、ロードセル26の検出荷重およびヒータ通電
のそれぞれのタイミングについて図3を参照して説明す
る。図3において、Aに示すグラフは熱圧着過程におけ
る圧着ツール6の高さ位置を示したものであり、電子部
品5のバンプ5aの下端部が基板3の電極に当接した位
置を基準高さとして示している。図3のBは、ロードセ
ル26の検出荷重の減少値、すなわち圧着荷重を示した
ものであり、また図3のCは電子部品5の半田バンプ5
aを半田の融点温度以上に加熱するためのヒータ通電の
ON−OFFのタイミングを示している。 【0019】まずt0において圧着ツール6が高速で下
降を開始し、タイミングt1にて下降速度を低速に切換
える。その後タイミングt2にて図3の(イ)に示すよ
うに電子部品5のバンプ5aの1つが電極2に当接す
る。この結果、タイミングt2から圧着ツール6には上
向きの圧着荷重の反力が作用するようになり、圧着ツー
ル6を更に下降させることにより圧着荷重(ロードセル
26の検出荷重の減少値)は増加する。圧着荷重が目標
荷重値F1になるまで第2の昇降ブロック20を下降さ
せてすべてのバンプを電極2に確実に当接させる。 【0020】次にヒータに通電して電子部品5のバンプ
5aを半田融点以上の温度に加熱するタイミングt4の
わずか手前のタイミングt3’において、モータ31を
駆動して第2の昇降ブロック20をわずかに上昇させ、
電子部品5を押圧する荷重をBに示す所定値F2以下と
なるようにする。この所定値F2は、ロードセル26の
歪が開放されたときに溶融した半田バンプ5aを押しつ
ぶすことのないような歪量に対応する荷重値として、予
め試行により設定される。これによりロードセル26の
歪は大部分が半田バンプ5aの溶融前に解放され、溶融
時に残留している歪は大幅に減少する。 【0021】次にタイミングt4にてヒータに通電さ
れ、圧着ツール6を介して電子部品5やバンプ5aを加
熱する。この結果バンプ5aの温度は上昇し、タイミン
グt5にて半田の融点温度に到達しバンプ5aは溶融す
る。この結果、電子部品5が圧着ツール6に対して伝え
ていた圧着反力の大部分が消失するとともに、前述のよ
うに圧着ツール6は溶融前の圧着荷重に相当する歪量だ
け下降する(図3に示す(ハ)参照)。このとき、タイ
ミングt3’にて圧着荷重を所定値以下に減少させてお
り、歪量は大幅に減少しているため圧着ツール6の低下
量はわずかであり、図3の(ホ)に示すようなバンプ5
aの押しつぶしなどの不具合が発生しない。 【0022】次に圧着荷重値が低下して原荷重値に復帰
するタイミングt6にて、圧着ツール6を所定高さまで
上昇させる。そして圧着ツール6が所定高さに到達した
タイミングt7にてヒータの通電をOFFにする。その
後圧着ツール6を所定高さ位置でタイミングt8まで保
持し、溶融した半田を冷却・固化させることにより、図
4の(ニ)に示すような鼓状の半田接合部を得ることが
できる。半田接合部をこのような鼓状のものとすること
により、半田接合部の止端部形状がなめらかとなり、不
連続形状の発生を防止して耐破断性を向上させるととも
に、高さの高い半田接合部を得ることができる。この後
圧着ツール6は電子部品5を解放して上昇し、タイミン
グt9にて原位置に復帰して半田バンプ付電子部品の熱
圧着の1サイクルが終了する。 【0023】なお、本実施の形態では、ロードセル26
の使用方法としてロードセル26に予め予圧を与えてお
き、予圧の減少分が圧着荷重に相当するような配置とし
ているが、圧着ツール6と圧着ツール6を押圧する押圧
手段の間に直列にロードセルを介在させて圧着荷重を直
接的に検出するような配置であってもよい。 【0024】 【発明の効果】本発明によれば、熱圧着ツールを下降さ
せて電子部品の半田バンプを基板に押圧した後、半田バ
ンプの溶融前に荷重検出手段の歪が所定値以下となるよ
うに昇降手段を駆動するようにしたので、半田バンプが
溶融した後に押圧荷重による歪が解放されてその歪相当
分だけ圧着ツールが下降するときの下降量を小さくする
ことができ、したがって圧着ツールが下降することによ
る半田バンプの押しつぶしが発生せず、隣接する半田バ
ンプが繋がるブリッジ発生の不具合を防止することがで
きる。
【図面の簡単な説明】 【図1】本発明の一実施の形態の半田バンプ付電子部品
の熱圧着装置の側面図 【図2】本発明の一実施の形態の半田バンプ付電子部品
の熱圧着装置の荷重検出部の部分側面図 【図3】本発明の一実施の形態の半田バンプ付電子部品
の熱圧着方法のタイミングチャート 【符号の説明】 2 可動テーブル 3 基板 5 電子部品 6 熱圧着ツール 7 圧着ヘッド 10 第1の昇降部ブロック 20 第2の昇降部ブロック 25 シリンダ 26 ロードセル 27 送りネジ 28 ナット 31 モータ 33 昇降モータ駆動部 34 制御部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平5−21529(JP,A) 特開 平9−199542(JP,A) 特開 平10−163273(JP,A) 特開 平10−163260(JP,A) 特開 平9−199545(JP,A) 特開 平9−64119(JP,A) 特開 平11−145197(JP,A) 特開 平11−145203(JP,A) 米国特許5985064(US,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/60 311 H01L 21/603 H05K 3/34 507

Claims (1)

  1. (57)【特許請求の範囲】 【請求項1】昇降手段によって昇降する熱圧着ツールに
    より半田バンプ付の電子部品を基板に押圧し、この押圧
    力を歪式の荷重検出手段によって検出しながら前記電子
    部品を基板に熱圧着する半田バンプ付電子部品の熱圧着
    方法であって、熱圧着ツールを下降させて前記電子部品
    の半田バンプを基板の電極に押圧する工程と、半田バン
    プの溶融前に前記荷重検出手段の歪が設定された所定値
    以下となるように前記昇降手段を駆動する工程と、前記
    電子部品を加熱して半田バンプを溶融させる工程とを含
    むことを特徴とする半田バンプ付電子部品の熱圧着方
    法。
JP30686397A 1997-11-10 1997-11-10 半田バンプ付電子部品の熱圧着方法 Expired - Fee Related JP3399323B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30686397A JP3399323B2 (ja) 1997-11-10 1997-11-10 半田バンプ付電子部品の熱圧着方法
US09/187,222 US6131795A (en) 1997-11-10 1998-11-06 Thermal compression bonding method of electronic part with solder bump

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30686397A JP3399323B2 (ja) 1997-11-10 1997-11-10 半田バンプ付電子部品の熱圧着方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11145196A JPH11145196A (ja) 1999-05-28
JP3399323B2 true JP3399323B2 (ja) 2003-04-21

Family

ID=17962172

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP30686397A Expired - Fee Related JP3399323B2 (ja) 1997-11-10 1997-11-10 半田バンプ付電子部品の熱圧着方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3399323B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9603262B2 (en) 2010-06-04 2017-03-21 Shinkawa Ltd. Electronic component mounting apparatus and method

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006324289A (ja) * 2005-05-17 2006-11-30 Sony Corp 半導体チップの実装方法
JP4773197B2 (ja) * 2005-12-22 2011-09-14 日本アビオニクス株式会社 リフローハンダ付け方法および装置
EP3561870A4 (en) * 2016-12-23 2020-11-25 Lumens Co., Ltd. MICRO-LED MODULE AND ITS MANUFACTURING PROCESS
CN108296590A (zh) * 2017-10-26 2018-07-20 江苏诺森特电子科技有限公司 一种热压焊头缓压焊锡装置及其焊锡工艺
CN108296589A (zh) * 2017-10-26 2018-07-20 江苏诺森特电子科技有限公司 一种热压焊头再提升式焊锡装置及其焊锡工艺
JP7207152B2 (ja) * 2019-05-16 2023-01-18 株式会社デンソー スリーブはんだ付け装置および電子装置の製造方法
WO2022030006A1 (ja) * 2020-08-07 2022-02-10 株式会社新川 半導体装置の製造装置および製造方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9603262B2 (en) 2010-06-04 2017-03-21 Shinkawa Ltd. Electronic component mounting apparatus and method

Also Published As

Publication number Publication date
JPH11145196A (ja) 1999-05-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6131795A (en) Thermal compression bonding method of electronic part with solder bump
US20070181644A1 (en) Component mounting method and component mounting apparatus
JP2014123731A (ja) 基板上に半導体チップを実装するための熱圧着ボンディング方法および装置
JP3399324B2 (ja) 半田バンプ付電子部品の熱圧着方法
JP3399323B2 (ja) 半田バンプ付電子部品の熱圧着方法
KR20080011358A (ko) 전자부품 실장장치의 접촉하중 제어방법
JP3475776B2 (ja) フリップチップボンディング装置及びフリップチップボンディング方法
JP2007329306A (ja) 熱圧着装置
US20030009876A1 (en) Method and device for chip mounting
JP3449139B2 (ja) チップの圧着装置
CN113363219B (zh) 一种bga产品、热压设备及热压工艺
JP2765524B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JP3714097B2 (ja) バンプ付電子部品の実装方法
JP3449140B2 (ja) チップの圧着方法
JP3399325B2 (ja) 電子部品の圧着方法
JP3606214B2 (ja) チップの圧着方法
JPH09153522A (ja) ボンディング装置およびボンディング方法
KR100645003B1 (ko) 백업플레이트에서 열을 가하는 열 압착 방법 및 압착부
JP3365275B2 (ja) ワークの熱圧着方法
JP3060701B2 (ja) アウターリードのボンディング方法
EP1255293A1 (en) Method and device for chip mounting
JP2002110740A (ja) 半導体装置の実装方法及び実装装置
JP3567898B2 (ja) チップの圧着装置
KR20130141461A (ko) 실장장치 및 실장방법
JP2817700B2 (ja) 半導体装置の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080221

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090221

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100221

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100221

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110221

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120221

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130221

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130221

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140221

Year of fee payment: 11

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees