JP3381394B2 - 故障診断装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、回転体の回転状態を検
出し、断線時の故障を確実に検出可能な故障診断装置に
関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、図１３及び図１４に示すような機
械的及び電気的な構成からなる内燃機関制御装置が知ら
れている。

【０００３】図１３において、１は内燃機関、２はピス
トン、３は点火プラグ、４は排気マニホールド、５は排
気マニホールドに備えられ、排ガス中の残存酸素濃度を
検出する酸素センサ、６は内燃機関１の吸入空気中に燃
料を噴射する燃料噴射弁、７は吸気マニホールド、８は
内燃機関１に送られる吸入空気の温度を検出する吸気温
センサ、９は内燃機関冷却水の温度を検出する水温セン
サ、１０はスロットルバルブ、１１はスロットルバルブ
１０に連動し、スロットルバルブ１０の開度を検出して
信号を出力すると共にスロットルバルブ１０がほぼ全閉
状態ではアイドルスイッチＩＤＬとしてのオン信号を出
力するスロットル開度センサ、１４は吸入空気量を測定
するカルマン渦型流量センサ、１５は吸入空気の脈動を
吸収するサージタンクである。

【０００４】１６は点火に必要な高電圧を出力するイグ
ナイタ、１７は図示しないクランク軸に連動しイグナイ
タ１６で発生した高電圧を各気筒の点火プラグ３に分配
供給するディストリビュータ、１８はディストリビュー
タ１７内に取付けられ、ディストリビュータ１７の１回
転、即ち、クランク軸の２回転に２４発のパルス信号を
出力し、回転角と回転速度とを検出する回転角センサ、
１９はディストリビュータ１７の１回転に１発のパルス
信号を出力する気筒判別センサ、２０はＥＣＵ（Electr
onic Control Unit:電子制御装置）、２１はキースイッ
チ、２２はスタータモータである。２６は車軸に連動
し、車速に応じたパルス信号を発信する車速センサであ
る。

【０００５】図１４は図１３のＥＣＵ２０の内部構成を
示すブロック図である。

【０００６】図１４において、３０は各センサより出力
されるデータを制御プログラムに従って入力及び演算す
ると共に、各種装置を作動制御等するための処理を行う
ＣＰＵ、３１は制御プログラム及び初期データを格納す
るＲＯＭ、３２はＥＣＵ２０に入力されるデータや演算
制御に必要なデータを一時的に格納するＲＡＭ、３３は
キースイッチ２１がオフされても以後の内燃機関作動に
必要なデータを保持するようにバッテリによってバック
アップされた不揮発性メモリとしてのバックアップＲＡ
Ｍ、３５〜３７，４４は各センサの出力信号のバッフ
ァ、３８は各センサの出力信号をＣＰＵ３０に選択的に
出力するマルチプレクサ、３９はアナログ信号をディジ
タル信号に変換するＡ／Ｄ変換器、４０はバッファ３７
を介してまたはバッファ３５，３６、マルチプレクサ３
８及びＡ／Ｄ変換器３９を介して各センサ信号をＣＰＵ
３０に送ると共にＣＰＵ３０からのマルチプレクサ３
８、Ａ／Ｄ変換器３９のコントロール信号を出力する入
出力ポートである。

【０００７】４１は酸素センサ５の出力信号をコンパレ
ータ４２に送るバッファ、４３はカルマン渦型流量セン
サ１４、回転角センサ１８及び気筒判別センサ１９の出
力信号の波形を整形する波形整形回路である。コンパレ
ータ４２の出力、波形整形回路４３の出力、キースイッ
チ２１のオンオフ信号及びスロットル開度センサ１１の
アイドルスイッチ信号は入出力ポート４６に入力され、
この入出力ポート４６を介して各信号がＣＰＵ３０に送
られる。更に、４７，４８は出力ポート４９，５０を介
してＣＰＵ３０からの信号によって燃料噴射弁６、イグ
ナイタ１６を駆動するそれぞれの駆動回路である。ま
た、５１は信号やデータの通路となるバスライン、５２
はＣＰＵ３０を始めＲＯＭ３１、ＲＡＭ３２等に所定の
間隔で制御タイミングとなるクロック信号を送るクロッ
ク回路である。

【０００８】図１３の回転角センサ１８で発生される回
転信号は、ＭＰＵ(Magnet Pick-Up:マグネットピックア
ップ）に磁性体からなる回転体の突起部が周期的に接近
するときのＭＰＵコイルの起電力を利用したもので、そ
の波形形状は図１６にＭＰＵ出力として示されている。
このＭＰＵ出力は波形整形回路４３に入力され、図１６
に示すようなパルス（矩形波）である波形整形出力に変
換される。この場合のパルス状の波形整形出力は、内燃
機関１のクランク軸１回転で１２周期分が発生される。

【０００９】このように構成された内燃機関制御装置に
おける回転体の回転角と回転速度とを検出する回転角セ
ンサ１８の故障診断装置としては、以下に説明するよう
な方法が知られている。

【００１０】一般に、回転角センサ１８を構成するＭＰ
Ｕ自体及びその信号線の断線検出として、所定期間信号
が検出されなかったときに、その直前に記憶された回転
速度が所定値以上であると断線とみなすものである。こ
の方法は、通常の回転体の停止ではイナーシャにより徐
々に回転速度が落ちていくのに対して、断線が生じると
突然にＭＰＵ出力がなくなるという現象を利用したもの
である。

【００１１】上述したように、回転体の回転に伴う回転
角センサ１８からのＭＰＵ出力は、図１５に示すような
内部構成からなる波形整形回路４３で処理され、波形整
形出力に変換されたのちＣＰＵ３０に入力される。この
波形整形回路４３のコンパレータ４３６で設定されてい
るＭＰＵ出力波形に対する閾値(Threshold：スレッショ
ルド）である判定レベルＭＰＵthは、例えば、入力信号
の立上がり時で５０ｍＶ、立下がり時で５ｍＶに設定さ
れる。ここで、波形整形回路４３には抵抗４３１とコン
デンサ４３３とからなるＣＲフィルタがノイズによる誤
動作を防止するために設けてあり、この時定数は例え
ば、抵抗４３１が１０ｋΩ、コンデンサ４３３が０．０
１μＦのとき０．１ｍｓ程度となる。

【００１２】次に、ＣＰＵ３０の処理について図１７及
び図１８のフローチャートに基づいて説明する。なお、
図１７は波形整形回路４３からの波形整形出力の立上が
りエッジによる割込み処理ルーチン、図１８は１６ｍｓ
毎のタイマ割込み処理ルーチンである。また、図１６に
示す判定用カウンタは図１８の処理ルーチンと同様に１
６ｍｓ毎にカウントアップされ、図１７と同様に波形整
形回路４３からの波形整形出力の立上がりエッジにより
クリアされる。

【００１３】図１７において、ステップＳ１０１で、割
込み開始である今回のエッジ時刻からＲＡＭ３２の所定
領域に記憶された前回のエッジ時刻が減算され、今回の
波形整形出力の所要時間ＴMPU としてＲＡＭの所定領域
に記憶される。次にステップＳ１０２に移行して、今回
のエッジ時刻が前回のエッジ時刻としてＲＡＭ３２の所
定領域に記憶され、本プログラムを終了する。

【００１４】図１８において、ステップＳ２０１で判定
用カウンタの値から１００ｍｓ以上の時間、ＭＰＵ出力
に基づく波形整形出力の立上がりエッジがないかが判定
される。ステップＳ２０１の判定条件が成立しないとき
には、本プログラムを終了する。即ち、ＭＰＵ出力に基
づく波形整形出力の立上がりエッジが１００ｍｓ以内に
あるときには、ＭＰＵ断線は生じていないとしてその判
定処理がバイパスされるのである。そして、ステップＳ
２０１の判定条件が成立するときには、ステップＳ２０
２に移行し、図１７のステップＳ１０１で記憶された波
形整形出力の所要時間ＴMPU が予め設定された所定回転
数の逆数で設定される時間未満であるかが判定される。
ステップＳ２０２の判定条件が成立しないときには、本
プログラムを終了する。即ち、ＭＰＵ出力に基づく波形
整形出力の立上がりエッジが１００ｍｓ以上なくて、波
形整形出力の所要時間ＴMPU が所定回転数の逆数で設定
される時間以上であるときにも、ＭＰＵ断線は生じてい
ないとしてその判定処理がバイパスされるのである。こ
こで、ステップＳ２０２の判定条件が成立するときに
は、ステップＳ２０３に移行し、ＭＰＵ出力に基づく波
形整形出力の立上がりエッジが１００ｍｓ以上なく、波
形整形出力の所要時間ＴMPU が十分小さいとして、ＭＰ
Ｕの断線であるとする判定処理が実行される。この処理
では、回転角センサ１８及びその信号線を含めた系統が
断線しているとしてバックアップＲＡＭ３３内にその内
容が記憶されると共に、メータ内の警告灯が点灯された
のち、本プログラムを終了する。

【００１５】上述したように、ＭＰＵに断線が生じると
突然入力がなくなるため、最新の波形整形出力の所要時
間ＴMPU として十分に小さい値が記憶されていれば入力
の断線とみなし、運転者による内燃機関の通常の停止で
あれば機関回転数はゆっくりと下がり、機関停止直前に
記憶された最新の波形整形出力の所要時間ＴMPU の値は
十分大きな値となっているため、入力の断線とはみなさ
れない。このように、機関停止直前の最新の波形整形出
力の所要時間ＴMPU の大小により入力の断線を判定して
いた。

【００１６】

【発明が解決しようとする課題】ところで、図１６に示
す断線に伴った最新のＭＰＵ出力波形は、前述したよう
に、ノイズ除去のための図１５の波形整形回路４３の抵
抗４３１とコンデンサ４３３とからなるＣＲフィルタの
時定数の影響を受ける。そして、コンパレータ４３６の
反転入力側の波形はゆっくりと０に近づいて行き、それ
までの波形とは異なった減衰波形となる。このため、Ｍ
ＰＵ出力に対する波形整形回路４３における判定レベル
ＭＰＵthによる波形整形出力の矩形波の立上がりエッジ
間隔に基づく最新の波形整形出力の所要時間ＴMPU が前
回の所要時間ＴMPU-1 より長くなり不正確になってしま
う。このような現象に起因して、上記所要時間ＴMPU が
長い方にずれると実際には断線であっても、所要時間Ｔ
MPU から算出された回転速度を低回転とみなしてしまう
こととなり正確な断線判定をすることができないという
不具合があった。

【００１７】そこで、この発明は、かかる不具合を解決
するためになされたもので、回転体からの回転信号を入
力する信号線の断線検出における誤判定を防止した故障
診断装置の提供を課題としている。

【００１８】

【課題を解決するための手段】請求項１にかかる故障診
断装置は、回転体の回転角度に同期した出力信号の周期
の所要時間を計測する時間計測手段と、前記時間計測手
段で計測される所要時間を記憶する時間記憶手段と、予
め設定された所定時間内に前記時間計測手段で前記所要
時間が計測できなかったときには、前記時間記憶手段に
記憶された前回の所要時間の大きさに基づいて前記回転
体に対する信号線を含めた系統の断線を判定する判定手
段とを具備するものである。 請求項２にかかる故障診
断装置は、請求項１の具備する手段に加えて、前記判定
手段が、前記時間計測手段で計測された所要時間の大き
さに対応して断線を判定するための判定用時間を変更す
るものである。

【００１９】請求項３にかかる故障診断装置は、回転体
の回転角度に同期した出力信号の周期の所要時間を計測
する時間計測手段と、前記時間計測手段で計測される所
要時間を記憶する時間記憶手段と、予め設定された所定
時間内に前記時間計測手段で前記所要時間が計測できな
かったときには、前記時間記憶手段に記憶された前回の
所要時間の大きさと前回以前の複数の所要時間を平均し
た平均所要時間の大きさとに基づいて前記回転体に対す
る信号線を含めた系統の断線を判定する判定手段とを具
備するものである。

【００２０】請求項４にかかる故障診断装置は、回転体
の回転角度に同期した出力信号をコンパレータを介して
波形整形する波形整形回路と、前記波形整形回路の前記
コンパレータの一方の入力側の閾値電位を他方の入力側
に対して低くなるようにオフセットし、正電源のみで負
の判定レベルを設定する判定レベル設定手段と、前記判
定レベル設定手段で設定された負の判定レベルに基づき
前記出力信号の周期の所要時間を計測する時間計測手段
と、前記時間計測手段で計測される所要時間を記憶する
時間記憶手段と、予め設定された所定時間内に前記時間
計測手段で前記所要時間が計測できなかったときには、
前記時間記憶手段に記憶された最新の前記所要時間の大
きさに基づいて前記回転体に対する信号線を含めた系統
の断線を判定する判定手段とを具備するものである。

【００２１】

【作用】請求項１においては、時間計測手段で計測され
る回転体からの出力信号の周期の所要時間が随時、時間
記憶手段に記憶される。そして、判定手段では所定時間
内に所要時間が計測できなくなると回転体からの出力信
号が途絶えたとし、このときに時間記憶手段に記憶され
ている前回の所要時間の大きさが所定回転数に対応する
時間より短いときには回転体に対する信号線を含めた系
統の断線であると判定される。

【００２２】請求項２の故障診断装置の判定手段は、請
求項１の作用に加えて、判定手段では所定時間内に所要
時間が計測できなくなると回転体からの出力信号が途絶
えたとし、このときに時間記憶手段に記憶されている前
回の所要時間の大きさが所要時間が計測される度に更新
される判定用時間より短いときには回転体に対する信号
線を含めた系統の断線であると判定される。

【００２３】請求項３においては、時間計測手段で計測
される回転体からの出力信号の周期の所要時間が随時、
時間記憶手段に記憶される。そして、判定手段では所定
時間内に所要時間が計測できなくなると回転体からの出
力信号が途絶えたとし、このときに時間記憶手段に記憶
されている前回の所要時間の大きさが所定回転数に対応
する時間より短く、更に、前回以前の複数の平均所要時
間が所定回転数に対応する時間より短いときには回転体
に対する信号線を含めた系統の断線であると判定され
る。

【００２４】請求項４においては、回転体からの出力信
号の周期の所要時間が波形整形回路のコンパレータの一
方の入力側の閾値電位を他方の入力側に対して低くなる
ようにオフセットさせることで、正電源のみで設定され
る負の判定レベルに基づき時間計測手段で計測され、随
時、時間記憶手段に記憶される。そして、判定手段では
所定時間内に所要時間が計測できなくなると回転体から
の出力信号が途絶えたとし、このときに時間記憶手段に
記憶されている最新の所要時間の大きさが所定回転数に
対応する時間より短いときには回転体に対する信号線を
含めた系統の断線であると判定される。

【００２５】

【実施例】以下、本発明を具体的な実施例に基づいて説
明する。

【００２６】〈第一実施例〉図１は本発明の第一実施例
にかかる故障診断装置におけるＭＰＵ出力と波形整形出
力とを示すタイミングチャート、図２及び図３は本発明
の第一実施例にかかる故障診断装置における断線判定フ
ローチャートである。ここで、図２は波形整形回路４３
からの波形整形出力の立上がりエッジによる割込み処理
ルーチン、図３は１６ｍｓ毎のタイマ割込み処理ルーチ
ンである。また、処理ルーチン中で使用されている判定
用カウンタは、図１６に示された判定用カウンタと同
様、１６ｍｓ毎にカウントアップされ、波形整形回路４
３からの波形整形出力の立上がりエッジによりクリアさ
れる。なお、本実施例の故障診断装置が使用される内燃
機関制御装置の機械的及び電気的な構成は、図１３及び
図１４に示された従来装置と同様であり、また、図１３
の波形整形回路４３の内部構成も図１５に示された従来
構成と同様であり、それらの詳細な説明を省略する。

【００２７】図１４のＣＰＵ３０における本実施例の処
理について図２及び図３のフローチャートに基づいて説
明する。

【００２８】図２において、まず、ステップＳ１１で、
ＲＡＭ３２の所定領域に記憶された所要時間ＴMPU が前
回の波形整形出力の所要時間ＴMPUoldにシフトされＲＡ
Ｍ３２の所定領域に記憶される。次にステップＳ１２に
移行して、割込み開始である今回のエッジ時刻からＲＡ
Ｍ３２の所定領域に記憶された前回のエッジ時刻が減算
され、今回の波形整形出力の所要時間ＴMPU としてＲＡ
Ｍの所定領域に記憶される。次にステップＳ１３に移行
して、今回のエッジ時刻が前回のエッジ時刻にシフトさ
れＲＡＭ３２の所定領域に記憶され、本プログラムを終
了する。

【００２９】図３において、ステップＳ２１で判定用カ
ウンタの値から１００ｍｓ以上の時間、ＭＰＵ出力に基
づく波形整形出力の立上がりエッジがないかが判定され
る。ステップＳ２１の判定条件が成立しないときには、
本プログラムを終了する。即ち、ＭＰＵ出力に基づく波
形整形出力の立上がりエッジが１００ｍｓ以内にあると
きには、ＭＰＵ断線は生じていないとしてその判定処理
がバイパスされるのである。そして、ステップＳ２１の
判定条件が成立するときには、ステップＳ２２に移行
し、図２のステップＳ１１で記憶された前回の波形整形
出力の所要時間ＴMPUoldが予め設定された所定回転数の
逆数で設定される時間未満であるかが判定される。ステ
ップＳ２２の判定条件が成立しないときには、本プログ
ラムを終了する。即ち、ＭＰＵ出力に基づく波形整形出
力の立上がりエッジが１００ｍｓ以上なくて、前回の波
形整形出力の所要時間ＴMPUoldが所定回転数の逆数で設
定される時間以上であるときにも、ＭＰＵ断線は生じて
いないとしてその判定処理がバイパスされるのである。
ここで、ステップＳ２２の判定条件が成立するときに
は、ステップＳ２３に移行し、ＭＰＵ出力に基づく波形
整形出力の立上がりエッジが１００ｍｓ以上なく、波形
整形出力の所要時間ＴMPUoldが十分小さいとして、ＭＰ
Ｕの断線であるとする判定処理が実行される。この処理
では、回転角センサ１８及びその信号線を含めた系統が
断線しているとしてバックアップＲＡＭ３３内にその内
容が記憶されると共に、メータ内の警告灯が点灯された
のち、本プログラムを終了する。

【００３０】上述したように、ＭＰＵに断線が生じると
突然入力がなくなるが、最新の波形整形出力の所要時間
ＴMPU には、波形整形回路４３のＣＲフィルタの時定数
によりゆっくりと０に近づくことにより断線時のＭＰＵ
出力に基づく波形整形出力が反映されない。

【００３１】そこで、断線時の不正確な波形整形出力の
所要時間は必ず１発のみであるということを利用し、本
実施例では最新の波形整形出力の所要時間ＴMPU を無視
し、前回の波形整形出力の所要時間ＴMPUoldを比較判定
に用い、その所要時間ＴMPUoldの大小により入力の断線
が判定される。

【００３２】このように、本実施例の故障診断装置は、
内燃機関１のクランク軸に連動して回転するディストリ
ビュータ１７内の回転体の回転角度に同期した出力信号
の周期の所要時間を計測する回転角センサ１８及びＥＣ
Ｕ２０内の波形整形回路４３、入出力ポート４６、バス
ライン５１、ＣＰＵ３０にて達成される時間計測手段
と、前記時間計測手段で計測される所要時間ＴMPU,ＴMP
Uoldを記憶するＥＣＵ２０内のＲＡＭ３２にて達成され
る時間記憶手段と、予め設定された所定時間（１００ｍ
ｓ）内に前記時間計測手段で前記所要時間が計測できな
かったときには、前記時間記憶手段に記憶された前回の
所要時間ＴMPUoldの大きさに基づいて前記回転体に対す
る回転角センサ１８の信号線を含めた系統の断線を判定
するＥＣＵ２０内のＣＰＵ３０にて達成される判定手段
とを具備するものであり、これを請求項１の実施例とす
ることができる。

【００３３】したがって、時間計測手段で計測される回
転体からの出力信号の周期の所要時間が随時、時間記憶
手段に記憶される。そして、判定手段では所定時間内に
所要時間が計測できなくなると回転体からの出力信号が
途絶えたとし、このときに時間記憶手段に記憶されてい
る前回の所要時間ＴMPUoldの大きさが所定回転数に対応
する時間より短いときには回転体に対する回転角センサ
１８の信号線を含めた系統の断線であると判定される。

【００３４】故に、ＭＰＵ出力信号に基づき随時計測さ
れる所要時間のうち断線判定では、信頼性の低い今回
（最新）の所要時間ＴMPU が無視され、ＭＰＵ出力信号
の安定状態において計測された前回の所要時間ＴMPUold
の大きさに基づいて判定される。これにより、断線検出
における誤判定要因が除去されるため、断線判定が極め
て正確となる。

【００３５】〈第二実施例〉図４は本発明の第二実施例
にかかる故障診断装置におけるＭＰＵ出力と波形整形出
力とを示すタイミングチャート、図５及び図６は本発明
の第二実施例にかかる故障診断装置における断線判定フ
ローチャートである。ここで、図５は波形整形回路４３
からの波形整形出力の立上がりエッジによる割込み処理
ルーチン、図６は１６ｍｓ毎のタイマ割込み処理ルーチ
ンである。また、処理ルーチン中で使用されている判定
用カウンタは、図１６に示された判定用カウンタと同
様、１６ｍｓ毎にカウントアップされ、波形整形回路４
３からの波形整形出力の立上がりエッジによりクリアさ
れる。なお、本実施例の故障診断装置が使用される内燃
機関制御装置の機械的及び電気的な構成は、図１３及び
図１４に示された従来装置と同様であり、また、図１３
の波形整形回路４３の内部構成も図１５に示された従来
構成と同様であり、それらの詳細な説明を省略する。

【００３６】図１４のＣＰＵ３０における本実施例の処
理について図５及び図６のフローチャートに基づいて説
明する。

【００３７】図５において、まず、ステップＳ３１で、
ＲＡＭ３２の所定領域に記憶された過去の波形整形出力
の所要時間ＴMPUoldi が更に、１つずつ過去の所要時間
にシフト（ＴMPUoldi-1 ←ＴMPUoldi ）され、ＲＡＭ３
２の所定領域に記憶される。次にステップＳ３２に移行
して、所要時間ＴMPU として記憶された値が前回の波形
整形出力の所要時間ＴMPUold1 にシフトされＲＡＭの所
定領域に記憶される。次にステップＳ３３に移行して、
過去の４つのＴMPUold1 〜ＴMPUold4 が加算されＴMPUo
ld′としてＲＡＭ３２の所定領域に記憶される。次にス
テップＳ３４に移行して、割込み開始である今回のエッ
ジ時刻からＲＡＭ３２の所定領域に記憶された前回のエ
ッジ時刻が減算され、今回の波形整形出力の所要時間Ｔ
MPU としてＲＡＭの所定領域に記憶される。次にステッ
プＳ３５に移行して、今回のエッジ時刻が前回のエッジ
時刻にシフトされＲＡＭ３２の所定領域に記憶され、本
プログラムを終了する。

【００３８】図６において、ステップＳ４１で判定用カ
ウンタの値から１００ｍｓ以上の時間、ＭＰＵ出力に基
づく波形整形出力の立上がりエッジがないかが判定され
る。ステップＳ４１の判定条件が成立しないときには、
本プログラムを終了する。即ち、ＭＰＵ出力に基づく波
形整形出力の立上がりエッジが１００ｍｓ以内にあると
きには、ＭＰＵ断線は生じていないとしてその判定処理
がバイパスされるのである。そして、ステップＳ４１の
判定条件が成立するときには、ステップＳ４２に移行
し、図５のステップＳ３２で記憶された前回の波形整形
出力の所要時間ＴMPUold1 が予め設定された所定回転数
１の逆数で設定される時間未満であるかが判定される。
ステップＳ４２の判定条件が成立しないときには、本プ
ログラムを終了する。即ち、ＭＰＵ出力に基づく波形整
形出力の立上がりエッジが１００ｍｓ以上なくて、前回
の波形整形出力の所要時間ＴMPUold1 が所定回転数１の
逆数で設定される時間以上であるときにも、ＭＰＵ断線
は生じていないとしてその判定処理がバイパスされるの
である。

【００３９】一方、ステップＳ４２の判定条件が成立す
るときには、ステップＳ４３に移行し、図５のステップ
Ｓ３３でＲＡＭ３２の所定領域に記憶された過去の４つ
の波形整形出力の所要時間ＴMPUold′を４で除算した値
が予め設定された所定回転数２の逆数で設定される時間
未満であるかが判定される。ステップＳ４３の判定条件
が成立しないときには、本プログラムを終了する。即
ち、ＭＰＵ出力に基づく波形整形出力の立上がりエッジ
が１００ｍｓ以上なくて、前回の波形整形出力の所要時
間ＴMPUold′を４で除算した値が所定回転数２の逆数で
設定される時間以上であるときにも、ＭＰＵ断線は生じ
ていないとしてその判定処理がバイパスされるのであ
る。なお、所定回転数１及び所定回転数２は例えば、６
００rpm ，１０００rpm または６００rpm ，６００rpm
等の回転数が設定される。

【００４０】一方、ステップＳ４３の判定条件が成立す
るときには、ステップＳ４４に移行し、ＭＰＵ出力に基
づく波形整形出力の立上がりエッジが１００ｍｓ以上な
く、波形整形出力の所要時間ＴMPUold1 及びＴMPUold′
／４が十分小さいとして、ＭＰＵの断線であるとする判
定処理が実行される。この処理では、回転角センサ１８
及びその信号線を含めた系統が断線しているとしてバッ
クアップＲＡＭ３３内にその内容が記憶されると共に、
メータ内の警告灯が点灯されたのち、本プログラムを終
了する。

【００４１】上述したように、ＭＰＵに断線が生じると
突然入力がなくなるが、最新の波形整形出力の所要時間
ＴMPU には、波形整形回路４３のＣＲフィルタの時定数
によりゆっくりと０に近づくことにより断線時のＭＰＵ
出力に基づく波形整形出力が反映されない。

【００４２】そこで、断線時の不正確な波形整形出力の
所要時間は必ず１発のみであるということを利用し、本
実施例では最新の波形整形出力の所要時間ＴMPU を無視
し、前回の波形整形出力の所要時間ＴMPUold1 及び過去
の４つの波形整形出力の所要時間の平均値ＴMPUold′／
４を比較判定に用い、その所要時間ＴMPUold1 及びＴMP
Uold′／４の大小により入力の断線が判定される。

【００４３】このように、本実施例の故障診断装置は、
内燃機関１のクランク軸に連動して回転するディストリ
ビュータ１７内の回転体の回転角度に同期した出力信号
の周期の所要時間を計測する回転角センサ１８及びＥＣ
Ｕ２０内の波形整形回路４３、入出力ポート４６、バス
ライン５１、ＣＰＵ３０にて達成される時間計測手段
と、前記時間計測手段で計測される所要時間ＴMPU,ＴMP
Uold1,ＴMPUold2,ＴMPUold3,ＴMPUold4 を記憶するＥＣ
Ｕ２０内のＲＡＭ３２にて達成される時間記憶手段と、
予め設定された所定時間（１００ｍｓ）内に前記時間計
測手段で前記所要時間が計測できなかったときには、前
記時間記憶手段に記憶された前回の所要時間ＴMPUold1
の大きさと前回以前の４つの所要時間ＴMPUold′を平均
した平均所要時間ＴMPUold′／４の大きさとに基づいて
前記回転体に対する回転角センサ１８の信号線を含めた
系統の断線を判定するＥＣＵ２０内のＣＰＵ３０にて達
成される判定手段とを具備するものであり、これを請求
項３の実施例とすることができる。

【００４４】したがって、時間計測手段で計測される回
転体からの出力信号の周期の所要時間が随時、時間記憶
手段に記憶される。そして、判定手段では所定時間内に
所要時間が計測できなくなると回転体からの出力信号が
途絶えたとし、このときに時間記憶手段に記憶されてい
る前回の所要時間ＴMPUold1 の大きさが所定回転数１に
対応する時間より短く、更に、前回以前の４つの平均所
要時間ＴMPUold′／４が所定回転数２に対応する時間よ
り短いときには回転体に対する回転角センサ１８の信号
線を含めた系統の断線であると判定される。

【００４５】故に、ＭＰＵ出力信号に基づき随時計測さ
れる所要時間のうち断線判定では、信頼性の低い今回
（最新）の所要時間ＴMPU が無視され、ＭＰＵ出力信号
の安定状態において計測された前回の所要時間ＴMPUold
及び前回以前の４つの平均所要時間ＴMPUold′／４の大
きさに基づいて判定される。したがって、平均周期も合
わせて判定されることで、上記第一実施例による効果に
加えて、ノイズによりＴMPUoldに誤差を生じた場合にも
誤判定を防止することが可能である。

【００４６】〈第三実施例〉図７は本発明の第三実施例
にかかる故障診断装置におけるＭＰＵ出力と波形整形出
力とを示すタイミングチャート、図８は本発明の第三実
施例にかかる故障診断装置で用いられる波形整形回路４
３のコンパレータ４３６の内部等価回路を示す回路図で
ある。なお、本実施例の故障診断装置が使用される内燃
機関制御装置の機械的及び電気的な構成は、図１３及び
図１４に示された従来装置と同様であり、また、図１３
の波形整形回路４３の内部構成も図１５に示された従来
構成と同様であり、それらの詳細な説明を省略する。

【００４７】本実施例は、図１５に示す波形整形回路４
３の抵抗４３１及びコンデンサ４３３からなるＣＲフィ
ルタの時定数の影響により、コンパレータ４３６の反転
入力（−）側の波形がゆっくりと０に近づき、波形整形
回路４３のコンパレータ４３６で設定されているＭＰＵ
出力波形に対する判定レベルＭＰＵthを横切るのに時間
がかかることに起因する不具合に対処するものである。

【００４８】図８において、Ｉ1,Ｉ2,Ｉ3 は電流源、Ｔ
r1〜Ｔr6はトランジスタ、Ｒは抵抗である。ここで、ト
ランジスタＴr1とトランジスタＴr2、トランジスタＴr3
とトランジスタＴr4、トランジスタＴr5とトランジスタ
Ｔr6はそれぞれ特性が等しくなるように構成されてい
る。この回路では、ベースを非反転入力（＋）側に接続
されたトランジスタＴr4のエミッタとトランジスタＴr1
のベースとの間にオフセット設定用の抵抗Ｒが挿入接続
されている。ここで、例えば、抵抗Ｒ＝３ｋΩ、電流源
Ｉ1 ＝１０μＡとすると、相対的にトランジスタＴr4の
ベース電位は抵抗Ｒを挿入しない場合に比べ、３ｋΩ×
１０μＡ＝３０ｍＶだけ下がることになる。したがっ
て、反転入力（−）側を０ｍＶとした場合には、非反転
入力（＋）側の判定レベル（閾値）は−３０ｍＶとな
り、負の判定レベルＭＰＵ-th （図７参照）を実現する
ことができる。

【００４９】このため、図７に破線で示すように、ＭＰ
Ｕ出力波形に対する正の判定レベルＭＰＵthに対応して
出力されていた従来の波形整形出力の立上がりエッジが
発生しなくなる。したがって、本実施例においては、Ｃ
ＰＵ３０の処理ルーチンとして、従来の図１７及び図１
８を用い、今回（最新）の所要時間ＴMPU の大きさに基
づいて正確なＭＰＵ断線判定処理が実行できる。なお、
図１７及び図１８の各処理ルーチンの説明は省略する。

【００５０】このように、本実施例の故障診断装置は、
内燃機関１のクランク軸に連動して回転するディストリ
ビュータ１７内の回転体の回転角度に同期した出力信号
をコンパレータ４３６を介して波形整形する波形整形回
路４３と、波形整形回路４３のコンパレータ４３６の非
反転入力（＋）側の電位をその反転入力（−）側に対し
て低くなるようにオフセットし、正電源（＋５Ｖ）のみ
で負の判定レベルＭＰＵ-th を設定する図８の等価回路
からなる判定レベル設定手段と、前記判定レベル設定手
段で設定された負の判定レベルＭＰＵ-th に基づき前記
出力信号の周期の所要時間を計測する回転角センサ１８
及びＥＣＵ２０内の波形整形回路４３、入出力ポート４
６、バスライン５１、ＣＰＵ３０にて達成される時間計
測手段と、前記時間計測手段で計測される所要時間ＴMP
U を記憶するＥＣＵ２０内のＲＡＭ３２にて達成される
時間記憶手段と、予め設定された所定時間（１００ｍ
ｓ）内に前記時間計測手段で前記所要時間が計測できな
かったときには、その直前に計測された最新の所要時間
ＴMPU の大きさに基づいて前記回転体に対する回転角セ
ンサ１８の信号線を含めた系統の断線を判定するＥＣＵ
２０内のＣＰＵ３０にて達成される判定手段とを具備す
るものであり、これを請求項４の実施例とすることがで
きる。

【００５１】したがって、時間計測手段で計測される回
転体からの出力信号の周期の所要時間が随時、時間記憶
手段に記憶される。そして、判定手段では所定時間内に
所要時間が計測できなくなると回転体からの出力信号が
途絶えたとし、このときに時間記憶手段に記憶されてい
る直前に計測された最新の所要時間ＴMPU の大きさが所
定回転数に対応する時間より短いときには回転体に対す
る回転角センサ１８の信号線を含めた系統の断線である
と判定される。

【００５２】故に、ＭＰＵ出力信号に基づき随時計測さ
れる所要時間のうち今回（最新）の所要時間ＴMPU の信
頼性が高くなり、断線判定ではその所要時間ＴMPU の大
きさに基づいて判定される。これにより、断線検出にお
ける誤判定要因が除去されるため、断線判定が極めて正
確となる。

【００５３】ところで、上記実施例の判定レベル設定手
段は、コンパレータにおける負の判定レベルを正電源の
みを用いて設定するものであればよく、本発明を実施す
る場合には、図８の等価回路に限定されることなく、コ
ンパレータの一方の入力側の閾値電位を他方の入力側に
対して低くなるようにオフセットできればよい。

【００５４】〈第四実施例〉図９は本発明の第四実施例
にかかる故障診断装置におけるＭＰＵ出力と波形整形出
力とその波形整形出力に対する判定用時間ＴMPUth を示
すタイミングチャート、図１０及び図１１は本発明の第
四実施例にかかる故障診断装置における断線判定フロー
チャートである。ここで、図１０は波形整形回路４３か
らの波形整形出力の立上がりエッジによる割込み処理ル
ーチン、図１１は１６ｍｓ毎のタイマ割込み処理ルーチ
ンである。また、処理ルーチン中で使用されている判定
用カウンタは、図１６に示された判定用カウンタと同
様、１６ｍｓ毎にカウントアップされ、波形整形回路４
３からの波形整形出力の立上がりエッジによりクリアさ
れる。また、図１２は機関回転数ＮＥと判定用時間ＴMP
Uth との関係を示す対応図である。なお、本実施例の故
障診断装置が使用される内燃機関制御装置の機械的及び
電気的な構成は、図１３及び図１４に示された従来装置
と同様であり、また、図１３の波形整形回路４３の内部
構成も図１５に示された従来構成と同様であり、それら
の詳細な説明を省略する。

【００５５】図１４のＣＰＵ３０における本実施例の処
理について図１０及び図１１のフローチャートに基づい
て説明する。

【００５６】図１０において、まず、ステップＳ５１
で、ＲＡＭ３２の所定領域に記憶された所要時間ＴMPU
が前回の波形整形出力の所要時間ＴMPUoldにシフトされ
ＲＡＭ３２の所定領域に記憶される。次にステップＳ５
２に移行して、割込み開始である今回のエッジ時刻から
ＲＡＭ３２の所定領域に記憶された前回のエッジ時刻が
減算され、今回の波形整形出力の所要時間ＴMPU として
ＲＡＭの所定領域に記憶される。次にステップＳ５３に
移行して、今回のエッジ時刻が前回のエッジ時刻として
ＲＡＭ３２の所定領域に記憶される。次にステップＳ５
４に移行して、予め設定された判定用時間ＴMPUth と今
回の波形整形出力の所要時間ＴMPU とを加算して２で除
算した値〔（ＴMPUth ＋ＴMPU ）／２〕にて判定用時間
ＴMPUth を更新し、本プログラムを終了する。なお、上
述のステップＳ５４では、所謂１／２なましの手法を用
いて最新の所要時間ＴMPU で判定用時間ＴMPUth を更新
しているが必要に応じて〔（ＴMPUth ＊３＋ＴMPU ）／
４〕の１／４なまし等の手法を用いてもよい。また、判
定用時間ＴMPUth は、図１２に示すように、車速センサ
２６（図１３参照）からの機関回転数ＮＥ信号に基づき
所定の回転数ＮＥｂを屈曲点として低回転側では一定、
高回転側では徐々に長くなるように変移される。

【００５７】図１１において、ステップＳ６１で判定用
カウンタの値から１００ｍｓ以上の時間、ＭＰＵ出力に
基づく波形整形出力の立上がりエッジがないかが判定さ
れる。ステップＳ６１の判定条件が成立しないときに
は、本プログラムを終了する。即ち、ＭＰＵ出力に基づ
く波形整形出力の立上がりエッジが１００ｍｓ以内にあ
るときには、ＭＰＵ断線は生じていないとしてその判定
処理がバイパスされるのである。そして、ステップＳ６
１の判定条件が成立するときには、ステップＳ６２に移
行し、図１０のステップＳ５１で記憶された前回の波形
整形出力の所要時間ＴMPUoldが図１０のステップＳ５３
で更新された判定用時間ＴMPUth ×α未満（ＴMPUold＜
ＴMPUth ×α）であるかが判定される。ここで、αは安
全係数であり、１よりやや大きな値の例えば、１．２に
設定される。ステップＳ６２の判定条件が成立しないと
きには、本プログラムを終了する。即ち、ＭＰＵ出力に
基づく波形整形出力の立上がりエッジが１００ｍｓ以上
なくて、前回の波形整形出力の所要時間ＴMPUoldが判定
用時間ＴMPUth ×α以上であるときにも、ＭＰＵ断線は
生じていないとしてその判定処理がバイパスされるので
ある。

【００５８】一方、ステップＳ６２の判定条件が成立す
るときには、ステップＳ６３に移行し、ＭＰＵ出力に基
づく波形整形出力の立上がりエッジが１００ｍｓ以上な
く、前回の波形整形出力の所要時間ＴMPUoldが十分小さ
いとして、ＭＰＵの断線であるとする判定処理が実行さ
れる。この処理では、回転角センサ１８及びその信号線
を含めた系統が断線しているとしてバックアップＲＡＭ
３３内にその内容が記憶されると共に、メータ内の警告
灯が点灯されたのち、本プログラムを終了する。

【００５９】上述したように、ＭＰＵに断線が生じると
突然入力がなくなるが、最新の波形整形出力の所要時間
ＴMPU には、波形整形回路４３のＣＲフィルタの時定数
によりゆっくりと０に近づくことにより断線時のＭＰＵ
出力に基づく波形整形出力が反映されない。

【００６０】そこで、断線時の不正確な波形整形出力の
所要時間は必ず１発のみであるということを利用し、本
実施例では最新の波形整形出力の所要時間ＴMPU を無視
し、前回の波形整形出力の所要時間ＴMPUoldを比較判定
に用い、その所要時間ＴMPUoldと所要時間ＴMPU が計測
される度に更新される判定用時間ＴMPUth との大小関係
により入力の断線が判定される。

【００６１】このように、本実施例の故障診断装置にお
けるＥＣＵ２０内のＣＰＵ３０にて達成される判定手段
は、回転角センサ１８及びＥＣＵ２０内の波形整形回路
４３、入出力ポート４６、バスライン５１、ＣＰＵ３０
にて達成される時間計測手段で計測された所要時間ＴMP
U の大きさに対応して断線を判定するための判定用時間
ＴMPUth を変更するものであり、これを請求項２の実施
例とすることができる。

【００６２】したがって、時間計測手段で計測される回
転体からの出力信号の周期の所要時間が随時、時間記憶
手段に記憶される。そして、判定手段では所定時間内に
所要時間が計測できなくなると回転体からの出力信号が
途絶えたとし、このときに時間記憶手段に記憶されてい
る前回の所要時間ＴMPUoldの大きさが所要時間が計測さ
れる度に更新される判定用時間ＴMPUth より短いときに
は回転体に対する回転角センサ１８の信号線を含めた系
統の断線であると判定される。

【００６３】故に、ＭＰＵ出力信号に基づき随時計測さ
れる所要時間のうち断線判定では、信頼性の低い今回
（最新）の所要時間ＴMPU が無視され、ＭＰＵ出力信号
の安定状態において計測された前回の所要時間ＴMPUold
と所要時間が計測される度に更新される判定用時間ＴMP
Uth との大きさに基づいて判定される。これにより、内
燃機関が高回転から低回転に遷移するときの断線検出に
おける誤判定要因が除去されるため、断線判定が極めて
正確となる。

【００６４】ところで、上記各実施例の時間計測手段
は、回転体の回転角度に同期した出力信号の１周期の所
要時間を計測するものであるが、本発明を実施する場合
には、特定の周期を基準にすればよいから１周期に限定
されることなく、その長短に拘束されることなく、周期
が特定され、既知であればよい。

【００６５】また、上記各実施例の時間記憶手段は、時
間計測手段で計測される所要時間のうち今回、前回また
は前回以前の複数の所要時間を記憶するものであるが、
結果的に、計測された周期を記憶できればよい。

【００６６】更に、上記各実施例の判定手段は、回転体
として内燃機関のクランク軸の回転に同期して回転する
ディストリビュータ内の回転軸に対する回転角センサの
信号線を含めた系統の断線を判定するとしているが、本
発明を実施する場合には、これに限定されるものではな
く、通常の回転停止ではイナーシャ等により回転数がゆ
っくりと下がるような回転体であれば全て適用すること
ができる。

【００６７】

【発明の効果】以上説明したように、請求項１の故障診
断装置によれば、時間計測手段で計測される回転体から
の出力信号の周期の所要時間が随時時間記憶手段に記憶
され、判定手段で所定時間内に所要時間が計測できなく
なると回転体からの出力信号が途絶えたとし、このとき
に時間記憶手段に記憶されている前回の所要時間の大き
さが所定回転数に対応する時間より短いときには回転体
に対する信号線を含めた系統の断線であると判定され
る。即ち、この断線判定では、信頼性の低い今回の所要
時間が無視され、出力信号の安定状態において計測され
た前回の所要時間の大きさに基づいて判定される。これ
により、断線検出における誤判定要因が除去されるた
め、断線判定を極めて正確に行うことができる。

【００６８】請求項２の故障診断装置によれば、請求項
１の効果に加えて、判定手段で所定時間内に所要時間が
計測できなくなると回転体からの出力信号が途絶えたと
し、このときに時間記憶手段に記憶されている前回の所
要時間の大きさが所要時間が計測される度に更新される
判定用時間より短いときには回転体に対する信号線を含
めた系統の断線であると判定される。即ち、この断線判
定では、信頼性の低い今回の所要時間が無視され、出力
信号の安定状態において計測された前回の所要時間と所
要時間が計測される度に更新される判定用時間との大き
さに基づいて判定される。これにより、内燃機関が高回
転から低回転に遷移するときの断線検出における誤判定
要因が除去されるため、断線判定を極めて正確に行うこ
とができる。

【００６９】請求項３の故障診断装置によれば、時間計
測手段で計測される回転体からの出力信号の周期の所要
時間が随時時間記憶手段に記憶され、判定手段で所定時
間内に所要時間が計測できなくなると回転体からの出力
信号が途絶えたとし、このときに時間記憶手段に記憶さ
れている前回の所要時間の大きさが所定回転数に対応す
る時間より短く、更に、前回以前の複数の平均所要時間
が所定回転数に対応する時間より短いときには回転体に
対する信号線を含めた系統の断線であると判定される。
即ち、この断線判定では、信頼性の低い今回の所要時間
が無視され、出力信号の安定状態において計測された前
回の所要時間及び前回以前の複数の平均所要時間の大き
さに基づいて判定される。これにより、請求項１による
効果に加えて、更に、ノイズにより前回の所要時間に誤
差を生じた場合にも誤判定を防止することができる。

【００７０】請求項４の故障診断装置によれば、波形整
形回路のコンパレータの一方の入力側の閾値電位が他方
の入力側に対して低くなるようにオフセットされ、正電
源のみで設定された負の判定レベルに基づき時間計測手
段で計測される回転体からの出力信号の周期の所要時間
が随時時間記憶手段に記憶され、判定手段で所定時間内
に所要時間が計測できなくなると回転体からの出力信号
が途絶えたとし、このときに時間記憶手段に記憶されて
いる直前に計測された最新の所要時間の大きさが所定回
転数に対応する時間より短いときには回転体に対する信
号線を含めた系統の断線であると判定される。即ち、波
形整形回路のコンパレータに設定された負の判定レベル
に基づき随時計測される出力信号の所要時間は、最新の
所要時間の信頼性が高くなり、断線判定ではその所要時
間の大きさに基づいて判定される。これにより、断線検
出における誤判定要因が除去されるため、断線判定を極
めて正確に行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】図１は本発明の第一実施例にかかる故障診断装
置におけるＭＰＵ出力と波形整形出力とを示すタイミン
グチャートである。

【図２】図２は本発明の第一実施例にかかる故障診断装
置における断線判定フローチャートである。

【図３】図３は本発明の第一実施例にかかる故障診断装
置における断線判定フローチャートである。

【図４】図４は本発明の第二実施例にかかる故障診断装
置におけるＭＰＵ出力と波形整形出力とを示すタイミン
グチャートである。

【図５】図５は本発明の第二実施例にかかる故障診断装
置における断線判定フローチャートである。

【図６】図６は本発明の第二実施例にかかる故障診断装
置における断線判定フローチャートである。

【図７】図７は本発明の第三実施例にかかる故障診断装
置におけるＭＰＵ出力と波形整形出力とを示すタイミン
グチャートである。

【図８】図８は本発明の第三実施例にかかる故障診断装
置における波形整形回路のコンパレータの等価回路を示
す回路図である。

【図９】図９は本発明の第四実施例にかかる故障診断装
置におけるＭＰＵ出力と波形整形出力と判定用時間とを
示すタイミングチャートである。

【図１０】図１０は本発明の第四実施例にかかる故障診
断装置における断線判定フローチャートである。

【図１１】図１１は本発明の第四実施例にかかる故障診
断装置における断線判定フローチャートである。

【図１２】図１２は本発明の第四実施例にかかる故障診
断装置における機関回転数と判定用時間との関係を示す
対応図である。

【図１３】図１３は従来及び本発明の第一実施例乃至第
四実施例にかかる故障診断装置が使用される内燃機関制
御装置の機械的構成を示す概略図である。

【図１４】図１４は図１３のＥＣＵの内部構成を示すブ
ロック図である。

【図１５】図１５は図１４の波形整形回路の内部構成を
示す回路図である。

【図１６】図１６は従来の故障診断装置におけるＭＰＵ
出力と波形整形出力と判定用カウンタを示すタイミング
チャートである。

【図１７】図１７は従来の故障診断装置における断線判
定フローチャートである。

【図１８】図１８は従来の故障診断装置における断線判
定フローチャートである。

【符号の説明】

１ 内燃機関 １７ ディストリビュータ １８ 回転角センサ ２０ ＥＣＵ（電子制御装置） ３０ ＣＰＵ ４３ 波形整形回路

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁷ 識別記号 ＦＩ Ｇ０８Ｃ 25/00 Ｇ０８Ｃ 25/00 Ｇ Ｈ０２Ｐ 5/00 Ｈ０２Ｐ 5/00 Ｔ (56)参考文献 特開 昭63−58167（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−42473（ＪＰ，Ａ) 実開 昭62−67262（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭64−37668（ＪＰ，Ｕ) 特公 平４−43829（ＪＰ，Ｂ２) 特公 平６−14087（ＪＰ，Ｂ２) 実公 平７−49866（ＪＰ，Ｙ２) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G08C 19/00 F02D 41/00 F02D 45/00 G01B 7/30 G01B 21/00 G08C 25/00 H02P 5/00 G01P 3/42

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 回転体の回転角度に同期した出力信号の
   周期の所要時間を計測する時間計測手段と、 前記時間計測手段で計測される所要時間を記憶する時間
   記憶手段と、 予め設定された所定時間内に前記時間計測手段で前記所
   要時間が計測できなかったときには、前記時間記憶手段
   に記憶された前回の所要時間の大きさに基づいて前記回
   転体に対する信号線を含めた系統の断線を判定する判定
   手段とを具備することを特徴とする故障診断装置。
2. 【請求項２】 前記判定手段は、前記時間計測手段で計
   測された所要時間の大きさに対応して断線を判定するた
   めの判定用時間を変更することを特徴とする請求項１に
   記載の故障診断装置。
3. 【請求項３】 回転体の回転角度に同期した出力信号の
   周期の所要時間を計測する時間計測手段と、 前記時間計測手段で計測される所要時間を記憶する時間
   記憶手段と、 予め設定された所定時間内に前記時間計測手段で前記所
   要時間が計測できなかったときには、前記時間記憶手段
   に記憶された前回の所要時間の大きさと前回以前の複数
   の所要時間を平均した平均所要時間の大きさとに基づい
   て前記回転体に対する信号線を含めた系統の断線を判定
   する判定手段とを具備することを特徴とする故障診断装
   置。
4. 【請求項４】 回転体の回転角度に同期した出力信号を
   コンパレータを介して波形整形する波形整形回路と、 前記波形整形回路の前記コンパレータの一方の入力側の
   閾値電位を他方の入力側に対して低くなるようにオフセ
   ットし、正電源のみで負の判定レベルを設定する判定レ
   ベル設定手段と、 前記判定レベル設定手段で設定された負の判定レベルに
   基づき前記出力信号の周期の所要時間を計測する時間計
   測手段と、 前記時間計測手段で計測される所要時間を記憶する時間
   記憶手段と、 予め設定された所定時間内に前記時間計測手段で前記所
   要時間が計測できなかったときには、前記時間記憶手段
   に記憶された最新の前記所要時間の大きさに基づいて前
   記回転体に対する信号線を含めた系統の断線を判定する
   判定手段とを具備することを特徴とする故障診断装置。