JP3362370B2 - 導電性ボール配列シートおよび導電性ボール配列シート製造装置 - Google Patents

導電性ボール配列シートおよび導電性ボール配列シート製造装置

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JP3362370B2
JP3362370B2 JP13186798A JP13186798A JP3362370B2 JP 3362370 B2 JP3362370 B2 JP 3362370B2 JP 13186798 A JP13186798 A JP 13186798A JP 13186798 A JP13186798 A JP 13186798A JP 3362370 B2 JP3362370 B2 JP 3362370B2
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Sumitomo Bakelite Co Ltd
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Sumitomo Bakelite Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば半導体パッ
ケージにおいて、半導体素子や回路基板の電極上に、バ
ンプを形成するための導電性ボール配列シートおよびそ
の製造装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の半導体パッケージにおいて、例え
ば半導体素子は樹脂等により封止され、この封止樹脂の
側面から外側に向かって金属板状の外部端子であるリー
ドフレームが延び、各リードフレームは回路基板の対応
する電極に電気的に接続される。このようなリードフレ
ームを用いた半導体パッケージは、外部端子数の増加に
伴い大型化するため、小型化の要求に対応できない。そ
こで、近年ではリードフレームの代わりに、外部端子と
して封止樹脂の底面に半田による突起電極、即ちバンプ
を形成するBGA(Ball Grid Array )方式が提案さ
れ、端子数の増加および小型化の要求に対処している。
また、回路基板および半導体素子にそれぞれバンプを形
成し、対応するバンプをそれぞれ半田付けすることによ
り、半導体素子を直接回路基板に接着するフリップチッ
プ方式も提案されている。
【0003】このようなバンプは、例えば半田ボール等
の導電性ボールを封止樹脂あるいは半導体素子等の多数
の電極上に配列させ、これらの導電性ボールを一括して
加熱融着させることにより得られる。導電性ボールを半
導体素子上で配列させるために、例えば予め別の基板上
に配列させた導電性ボールを、半導体素子の電極に一度
に転写する、あるいは電極に対応した穴を有するマスク
を半導体素子に被せて導電性ボールを刷毛によって各穴
に挿入する、即ちスクイーズすることが行われる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記のような
導電性ボールの配列には次のような問題点がある。前者
のように転写により配列させる場合、転写時において導
電性ボールの位置ずれまたは落下が生じる他、転写用の
基板が反りまたは変形を有していると転写が正確に行わ
れないことがある。また、導電性ボールは基板への加圧
によって押圧され、これにより基板から半導体素子へ転
写されるため、導電性ボールの変形は避けられない。半
導体素子表面からの導電性ボールの高さが不均一である
と、回路基板へ接着しない導電性ボールが生じる恐れが
ある。このため半導体パッケージ製造後に、半導体素子
の全電極が回路基板の対応する電極に接続されたかどう
かを検査する工程と、接続不良の電極を修復する工程が
必要となり、生産効率が悪いことが問題である。
【0005】後者のように穴を有するマスクを用いて配
列させる場合、前者のように導電性ボールの位置ずれ、
落下および変形は防止されるが、半導体素子をスクイー
ズする工程と、導電性ボールが確実に全穴に入ったかど
うかを確認する工程とが必要であり、この場合も生産効
率が悪いことが問題となる。
【0006】この様な点に鑑み、本発明は半導体素子や
回路基板の電極上への容易かつ高精度な導電性ボールの
配列を可能にする導電性ボール配列シートおよび導電性
ボール配列シート製造装置を提供することが目的であ
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明による導電性ボー
ル配列シートは、熱可塑性樹脂を主成分とし、所定の厚
みを有する絶縁性シートと、この絶縁性シートの厚み方
向に貫通した少なくとも1つ以上の貫通孔に保持され、
前記絶縁性シートの少なくとも一方の表面から一部が露
出している導電性ボールとを備え、前記貫通孔が前記厚
み方向に沿ったテーパーであり、この貫通孔の小さい方
の開口の直径が前記導電性ボールの直径よりも小さい
とを特徴としている。
【0008】
【0009】
【0010】また、本発明の導電性ボール配列シート製
造装置は、熱可塑性樹脂を主成分とし、所定の厚みを有
する絶縁性シートの厚み方向に、少なくとも1つ以上の
貫通孔を形成する貫通孔形成手段と、貫通孔形成手段に
より形成された貫通孔に導電性ボールを配列させる配列
手段と、配列手段により導電性ボールが配列された絶縁
性シートを加熱することにより、熱可塑性樹脂を軟化さ
せ、同時に導電性ボールを絶縁性シートに向かって加圧
することにより、導電性ボールを貫通孔内に密着固定さ
せる固定手段とを備えることを特徴とする。
【0011】導電性ボール配列シート製造装置におい
て、貫通孔形成手段によって、貫通孔が、厚み方向に沿
ってテーパー状に形成され、かつこの貫通孔の小さい方
の開口の直径が、導電性ボールの直径よりも小さくなる
ように形成されてもよい。
【0012】導電性ボール配列シート製造装置におい
て、貫通孔形成手段はレーザであってもよいし、パン
チ、あるいはドリルであってもよい。
【0013】導電性ボール配列シート製造装置におい
て、絶縁性シートの熱可塑性樹脂に感光性反応基を導入
することにより、熱可塑性樹脂に感光性を付与する感光
性付与手段を更に備えてもよく、この場合貫通孔形成手
段が、感光性が付与された絶縁性シートを露光・現像す
ることにより、貫通孔を形成することが好ましい。
【0014】
【0015】
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明による導電性ボール
配列シートおよび導電性ボール配列シート製造装置の実
施形態について添付図面を参照して説明する。
【0017】図1には、第1実施形態である導電性ボー
ル配列シートの断面図が示される。導電性ボール配列シ
ート10は、熱可塑性樹脂を主成分とするほぼ透明の絶
縁性シート12と、この絶縁性シート12に埋め込まれ
た導電性ボール14とを備える。導電性ボール14は絶
縁性シート12の上面12uから突出しており、絶縁性
シート12の下面12bにおいてわずかに露出してい
る。
【0018】熱可塑性樹脂はシリコーン(オルガノポリ
シロキサン類の総称)で変性されたポリイミドであり、
このシリコーン変性ポリイミドに熱硬化性樹脂であるエ
ポキシ樹脂を混合することにより絶縁性シート12が得
られる。熱可塑性のポリイミドは耐熱性が優れており、
半導体パッケージへの使用時に好適である。このポリイ
ミドをシリコーンで変性すると耐湿性が向上する。さら
にこのシリコーン変性ポリイミドに熱硬化性樹脂である
エポキシ樹脂を添加すると、金属や他の樹脂への接着性
が向上し、半導体素子等のバンプ形成に好適となる。
【0019】熱可塑性樹脂は、シリコーン変性ポリイミ
ドに限定されず、他にポリイミド系樹脂、ポリアミド系
樹脂、ポリエステル系樹脂、フッ素系樹脂、シリコーン
系樹脂、アクリル系樹脂、合成ゴム系樹脂等の熱軟化性
の樹脂であればよい。また、第一実施形態では熱硬化性
樹脂としてエポキシ樹脂を添加しているが、熱可塑性樹
脂単独で絶縁性シート12を形成してもよい。あるいは
熱硬化性樹脂の他、必要に応じて、さらに着色料、無機
充填剤、各種カップリング剤を添加してもよい。
【0020】導電性ボール14は、錫40%、鉛60%
からなる半田ボールであり、その直径Dは絶縁性シート
の厚みThより大きい。導電性ボール14の材料とし
て、その材料の融点(半田の場合は共晶点に相当する)
が絶縁性シート12の熱可塑性樹脂成分のガラス転移温
度よりも高いものが選択される。これは、導電性ボール
14を変形させることなく、熱可塑性樹脂成分を熱軟化
させ、絶縁性シート12に埋込むためである。
【0021】導電性ボール14の材料は半田に限定され
ず、他に金、銀、銅等の金属の単体、あるいはこれら金
属の合金でもよい。さらに、ポリマー粒子に金属メッキ
を施したものや、メタルコアメッキ、即ち金属粒子に別
の金属メッキを施したものでもよい。金属メッキに用い
られる金属は主に金であるが、他に銀、銅、半田、およ
びこれらの合金を金属メッキとして用いてもよい。
【0022】図2は、図1に示す導電性ボール配列シー
ト10を製造するための導電性ボール配列シート製造装
置の構成を簡略化して示すブロック図である。図3〜図
6は導電性ボール配列シート製造装置における製造工程
を模式的に示す断面図である。導電性ボール配列シート
製造装置は、絶縁性シート製造装置20、貫通孔形成装
置22、導電性ボール配列装置24、加熱加圧装置2
6、および搬送装置28とを備える。
【0023】絶縁性シート製造装置20において、液状
の熱可塑性樹脂は必要に応じて他の成分が添加され、硬
化させられる。硬化時に熱可塑性樹脂は所定の厚みTh
を有するシート状に成型される。これにより絶縁性シー
ト12が得られる(図3参照)。絶縁性シート12はベ
ルトコンベア等の搬送装置28により絶縁性シート製造
装置20から貫通孔形成装置22へ搬送される。
【0024】貫通孔形成装置22において、絶縁性シー
ト製造装置20により得られた絶縁性シート12の所定
の位置に導電性ボール14を挿入するための貫通孔12
a(図4参照)が形成される。貫通孔12aの形成は、
レーザにより行われる。即ち、絶縁性シート12は図示
しない基台上に載置され、基台と接する面の反対側か
ら、絶縁性シート12の厚み方向に沿って、レーザが絶
縁性シート12の所定位置に向かって照射される。これ
により、厚み方向に貫通した円筒形の貫通孔12aが形
成される。用いられるレーザは例えば炭酸ガスレーザで
あるが、この他YAGレーザ、エキシマレーザ、フェム
ト秒レーザ等でもよい。
【0025】なお貫通孔12aは、レーザの他、微細な
ドリルやパンチによって形成されてもよい。
【0026】導電性ボール14を所定位置に配列させる
ための孔が、絶縁性シート12の厚み方向全体に渡る貫
通孔12aであるため、半導体素子や回路基板の電極に
導電性ボール14を転写する際に、絶縁性シート12の
両面のどちらからでも容易に導電性ボール14を視認で
きる。従って、従来のように複雑な位置決め装置を用い
ることなく、容易に位置決めできる。
【0027】貫通孔形成装置22によって貫通孔12a
が形成された絶縁性シート12は、搬送装置28により
導電性ボール配列装置24へ搬送される。導電性ボール
配列装置24において、絶縁性シート12の各貫通孔1
2aに直径Dの導電性ボール14が配列される(図5参
照)。即ち、絶縁性シート12は微少振動可能な保持手
段(図示せず)により水平に保持され、図上方から少な
くとも凹部の数より多い導電性ボール14が絶縁性シー
ト12上に蒔かれる。導電性ボール14が蒔かれた後、
絶縁性シート12は微少振動させられる。これにより絶
縁性シート12の上面12u上の導電性ボール14は、
貫通孔12aに一部が収容されることにより貫通孔12
a上に位置決めされるか、あるいは絶縁性シート12上
から転がり落ちる。このようにして、貫通孔12aの位
置に対応して導電性ボール14が配列される。
【0028】貫通孔12aの孔径dは、導電性ボールの
直径Dより小さく形成される。これにより、配列時にお
ける絶縁性シート12の下面12bからの導電性ボール
14の抜け落ちが防止される。しかし孔径dが直径Dに
比べて極端に小さい場合、配列時に導電性ボール14が
貫通孔12aにより保持されにくくなるので、導電性ボ
ール14の配列が困難となる。以上のことから、孔径d
は導電性ボールの直径Dの65〜98%に設定される。
最適な割合は80〜95%である。孔径dが直径Dの6
5%より小さい場合、上述したように導電性ボール14
が貫通孔12a上に位置決めされない。また孔径dが直
径Dの98%より大きい場合、後述する加熱加圧時に絶
縁性シート12の下面12bから導電性ボール14が抜
け落ちる確率が高くなる。
【0029】導電性ボール14の貫通孔12aへの位置
決めは、振動の他、スキージと呼ばれる刷毛等で絶縁性
シート12aの上面12uを掃いて貫通孔12aに挿入
させる(以下、スクイーズすると記載する)ことによっ
てでもよい。
【0030】導電性ボール配列装置24によって各貫通
孔12aに導電性ボール14が配列された絶縁性シート
12は、搬送装置28により加熱加圧装置26へ搬送さ
れる。加熱加圧装置26において、絶縁性シート12の
熱可塑性樹脂が熱軟化させられ、同時に導電性ボール1
4が押圧されることにより貫通孔12a内において、絶
縁性シート12に密着固定させられる(図6参照)。
【0031】加熱加圧装置26は、任意の温度に設定可
能な板状のヒートブロック262と、被加熱部材である
絶縁性シート12を支持し、このヒートブロック262
とで絶縁性シート12を挟む冷却台264とを備える。
搬送装置28により絶縁性シート12は冷却台264に
載置される。導電性ボール14の上方から、所定の温度
に加熱した板状のヒートブロック262が下降し、導電
性ボール14の表面に接する。これにより導電性ボール
14は加熱されると共に、冷却台264側、即ち絶縁性
シート12に向かって加圧される。
【0032】導電性ボール14が加熱されることによ
り、導電性ボール14の周辺、即ち貫通孔12aの周辺
の熱可塑性樹脂成分が軟化させられ、同時に導電性ボー
ル14が加圧されるので絶縁性シート中に埋め込まれ
る。このようにして、導電性ボール14は熱可塑性樹脂
成分に密着固定させられる。
【0033】加熱は導電性ボール14に対して行われる
ので、絶縁性シート12の熱可塑性樹脂成分は導電性ボ
ール14の周辺部から熱せられる。従って、導電性ボー
ル14を効率よく、かつ絶縁性シート12の水平面にお
ける位置を高精度で埋め込むことができる。
【0034】なお、ヒートブロック262の加熱温度
は、熱可塑性樹脂成分のガラス転移温度より高く、かつ
導電性ボール14の軟化・変形・変質を生じさせない温
度、例えば半田の融点である共晶点より低い温度に設定
される。
【0035】このようにして、各装置の処理により図1
に示す導電性ボール配列シート10が得られる。
【0036】図7および図8を参照して、図1に示す導
電性ボール配列シート10を用いた半導体パッケージに
ついて説明する。図7は導電性ボール配列シート10を
回路基板50に載置するための位置決め処理を模式的に
示す図であり、図8は導電性ボール配列シート10を介
して回路基板50と半導体素子70とを接続した半導体
パッケージを示す図である。
【0037】回路基板50は図示しない基台上に載置さ
れ、上面50uには所定のパターンの電極52が形成さ
れる。導電性ボール配列シート10は上述の処理により
形成されるが、このとき回路基板50と略同じ大きさに
切断され、導電性ボール14は電極52に対応した位置
に配列される。導電性ボール配列シート10は回路基板
50の上面50u側、即ち電極52側に、回路基板50
に対して所定の距離離れた位置に図示しない支持手段に
より支持される。導電性ボール配列シート10は上面5
0uに平行な面内において2次元方向に移動自在であ
る。導電性ボール配列シート10のさらに上方にはカメ
ラ60が設けられ、このカメラ60は破線矢印で示す鉛
直方向に向けられている。これにより導電性ボール配列
シート10および回路基板50が同時に視認される。
【0038】カメラ60により電極52と導電性ボール
14とが監視され、電極52と対応する導電性ボール1
4の位置が水平面において一致するように、導電性ボー
ル配列シート10が移動させられる。導電性ボール配列
シート10は水平面における位置が決定された後、鉛直
下方に下降せしめられ、回路基板50の上面50uに載
置される。
【0039】導電性ボール配列シート10が回路基板5
0に載置された後、再び上方からヒートブロックにより
加熱加圧され、導電性ボール14は回路基板50に密着
固定させられる。このとき、ヒートブロックの加熱温度
は導電性ボール14の融点より高く設定される。従っ
て、加熱加圧により導電性ボール14は融解し、電極5
2に接合される。このときヒートブロックの加熱温度は
絶縁性シート12の熱可塑性樹脂成分のガラス転移温度
より高いので、熱可塑性樹脂成分は軟化し、これにより
電極52および導電性ボール14との接合部が封止され
る。
【0040】このようにして導電性ボール配列シート1
0が回路基板50に密着固定されると、次に導電性ボー
ル配列シート10の回路基板50と密着する面と反対側
の面に半導体素子70が配置される。この半導体素子7
0は、導電性ボール配列シート10と対向する面に、導
電性ボール14と対応する電極72が形成される。
【0041】半導体素子70を導電性ボール配列シート
10を介して回路基板50に接合する装置として、公知
のフリップチップマウンタが用いられる。ここではフリ
ップチップマウンタの説明は省略する。フリップチップ
マウンタにより、導電性ボール14、即ち回路基板50
の電極52に電極72がそれぞれ対応するように位置決
めされ、導電性ボール14と電極72とが融着される。
そして熱可塑性樹脂成分により電極72および導電性ボ
ール14との接合部が封止される。
【0042】このようにして、図8に示す半導体パッケ
ージが形成される。回路基板50と半導体素子70とは
絶縁性シート12の熱可塑性樹脂成分により互いに密着
固定され、回路基板50の電極52と半導体素子70の
電極72とは、導電性ボール14により接続される、即
ち半田付けされる。導電性ボール14は半導体パッケー
ジにおける回路基板50と半導体素子70とのバンプの
役割を果たす。電極52と電極72との接合部は絶縁性
シート12により封止され、外部環境から保護される。
【0043】第1実施形態によると、半導体パッケージ
のバンプ形成を容易かつ高精度に行うことを可能にする
導電性ボール配列シートが得られる。
【0044】図9を参照して本発明の第2実施形態につ
いて説明する。図9(a)は導電性ボール配列シートの
断面図であり、図9(b)はその上面図である。第2実
施形態において、導電性ボール配列シート110は、絶
縁性シート112の厚みThと導電性ボール114の直
径Dとが略同じであること以外は、第1実施形態と同様
の構成および製造工程であり、同じ構成および製造工程
の説明は省略する。導電性ボール配列シート10と同様
の構成は、符号に100が加算されて示される。
【0045】絶縁性シート112の上面112uおよび
下面112bにおいて、導電性ボール114の表面の一
部は露出している。したがって第2実施形態において
も、第1実施形態と同様、半導体パッケージにおけるバ
ンプ形成の際に、半導体素子または回路基板のバンプと
なる導電性ボール114の位置決めが容易に行える。
【0046】図10は本発明の第3実施形態を示す図で
あり、導電性ボール配列後の絶縁性シートの断面図であ
る。第3実施形態の導電性ボール配列シート210は、
絶縁性シート212に形成する貫通孔212aの形状が
テーパーであること以外は、第1実施形態の導電性ボー
ル配列シート10と同じ構成、および製造工程であり、
ここではその説明を省略する。導電性ボール配列シート
10と同様の構成は、符号に200が加算されて示され
る。
【0047】貫通孔212aは、絶縁性シート212の
厚み方向にテーパー状に形成され、絶縁性シート212
の上面212uおよび下面212bにおいてそれぞれ開
口している。上方の開口径はd’、下方の開口径はd”
(d”<d’)である。上方の開口径d’は、導電性ボ
ール214の直径Dより大きく、これにより導電性ボー
ル配列装置における配列処理が容易に行える。また下方
の開口径d”は直径Dより小さく、これにより導電性ボ
ール配列装置における配列処理、および加熱加圧装置に
おける加熱加圧処理において、絶縁性シート212から
の抜落ちが防止される。
【0048】このように、第3実施形態においても、半
導体パッケージの製造を容易にする導電性ボール配列シ
ートが得られるだけでなく、導電性ボールをさらに容易
かつ確実に絶縁性シートに埋め込むことができる。
【0049】図11を参照して、本発明の第4実施形態
について説明する。図11は貫通孔312aが形成され
た絶縁性シート312の断面図である。第4実施形態で
は、貫通孔312aの形成がレーザでなく、露光・現像
によること以外は第3実施形態と同様であり、ここでは
同様の構成については説明を省略する。第3実施形態と
同様の構成は、符号にさらに100を加算して示され
る。
【0050】絶縁性シート製造装置において、熱可塑性
樹脂の合成段階で感光性反応基を導入することにより、
感光性が付与された絶縁性シート312が得られる。次
に貫通孔形成装置において、所定のパターンに沿って穴
が形成されたマスク330が絶縁性シート312の上面
312uに設けられ、マスク330の上方から露光し、
さらに現像を行うことにより、貫通孔312aが形成さ
れる。露光・現像後、マスク330は除去される。露光
および現像については公知の技術であるので、ここでは
説明を省略する。貫通孔形成処理後の処理は、第1〜第
3実施形態と同様である。
【0051】第4実施形態においても、第3実施形態と
同様に、導電性ボールが容易かつ高精度に絶縁性シート
上に配列された導電性ボール配列シートが得られ、この
導電性ボール配列シートを用いることにより、半導体パ
ッケージにおけるバンプ形成が容易になる。
【0052】このように、第1〜第4の各実施形態の導
電性ボール配列シートによれば、予め高精度でバンプと
なる導電性ボールを配列固定させることができるので、
半導体パッケージの半導体素子や回路基板にバンプを形
成する際に、一括して多数のバンプを高精度に形成で
き、従来より半導体パッケージの生産性が向上する。
【0053】また、導電性ボール配列シートにおいて、
導電性ボールが導電性ボール配列シート表面から露出し
ているので、半導体素子や回路基板へ導電性ボールを転
写する面の反対側から導電性ボールの位置が視認でき
る。従来は、導電性ボールと半導体素子あるいは回路基
板との間に特殊な位置合せ専用のカメラを設け、対向す
る2つの面を同時に視認することが必要であったが、本
実施形態の場合は、導電性ボール配列シートの半導体素
子あるいは回路基板に対向する面の反対側に視認用カメ
ラを設置でき、特殊な位置合せ用カメラを用いることな
く、容易かつ高精度に位置あわせできる。
【0054】
【実施例】以下、実施例および比較例をあげて本発明を
説明する。以下に示す表1は各実施例および比較例にお
いて用いられた絶縁性シートの構成を示し、表2は各実
施例および比較例において用いられた導電性ボールの構
成を示す。
【0055】
【表1】
【0056】
【表2】
【0057】〔実施例1〕表1に示す実施例シート1が
絶縁性シートとして用いられ、表2に示す実施例ボール
1が導電性ボールとして用いられた。実施例シート1に
用いられる樹脂Aは、ガラス転移温度が145℃の熱可
塑性シリコーン変性ポリイミド樹脂と、エポキシ樹脂と
の混合樹脂である。この樹脂Aの溶液から厚み300μ
mの実施例シート1が得られた。炭酸ガスレーザを用い
て、実施例シート1に直径(孔径d)400μmの円筒
状の貫通孔が、800μmの間隔で格子状に形成され
た。孔径dは実施例ボール1の直径の80%であった。
【0058】実施例ボール1として、共晶点183℃の
半田(錫40%、鉛60%)から形成された、直径50
0μmの半田ボール(千住金属工業株式会社製)が用い
られた。この実施例ボール1が孔加工された実施例シー
ト1上に蒔かれ、振動により各々の貫通孔に実施例ボー
ル1を配列させた。
【0059】実施例ボール1が配列された実施例シート
1は、冷却板に載置され、実施例ボール1の上方からヒ
ートブロックにより加熱加圧され、実施例ボール1が実
施例シート1に埋め込まれた。ヒートブロックの加熱温
度は160℃、加圧圧力は121半田ボール当たり1〜
5kgfであった。
【0060】目視により、実施例ボール1は、実施例シ
ート1の厚み方向において直径の約6割が実施例シート
1中に密着固定されたことが確認された。
【0061】〔実施例2〕表1に示す実施例シート2お
よび表2に示す実施例ボール2が用いられた。実施例シ
ート2に用いられる樹脂Bは、ガラス転移温度が135
℃の熱可塑性シリコーン変性ポリイミド樹脂のみであ
る。この樹脂Bの溶液から厚み150μmの実施例シー
ト2が得られた。パンチを用いて、実施例シート2に1
20μmの孔径dを有する円筒状の貫通孔が、200μ
mの間隔で格子状に形成された。孔径dは実施例ボール
2の直径の80%であった。実施例ボール2として、材
質が実施例ボール1と同じ半田であり、直径が実施例シ
ート2の厚みと同じ150μmの半田ボール(千住金属
工業株式会社製)が用いられた。
【0062】この実施例ボール2の実施例シート2上へ
の配列、および加熱加圧の処理は、実施例1と同様の手
法で行われた。
【0063】目視により、実施例ボール2は実施例シー
ト2中に密着固定されたことが確認された。
【0064】〔実施例3〕実施例シート3(表1)およ
び実施例ボール3(表2)が用いられた。樹脂Aの溶液
から厚み150μmの実施例シート3が得られた。Kr
Fエキシマレーザを用いて、実施例シート3にテーパー
状の貫通孔が、200μmの間隔で格子状に形成され
た。貫通孔の上方の開口径d’は120μm、下方の開
口径d”は100μmであった。実施例ボール3とし
て、実施例ボール2と同じ材質、大きさの半田ボールが
用いられた。下方の開口径d”は実施例ボール3の直径
の約67%であった。
【0065】この実施例ボール3の実施例シート3上へ
の配列、および加熱加圧の処理は、実施例1〜2と同様
の手法で行われた。
【0066】目視により、実施例ボール3は実施例シー
ト3中に密着固定されたことが確認された。
【0067】〔実施例4〕実施例シート4(表1)およ
び実施例ボール4(表2)が用いられた。実施例シート
4は貫通孔の形成処理、貫通孔の大きさ、および格子間
隔が異なること以外は実施例シート3と同一である。テ
ーパー状の貫通孔がテーパドリルにより、250μmの
間隔で格子状に形成された。上方の開口径d’は135
μm、下方の開口径d”は110μmである。実施例ボ
ール4として、実施例ボール2と同じ材質、大きさの半
田ボールが用いられた。下方の開口径d”は実施例ボー
ル4の直径の約73%であった。
【0068】この実施例ボール4の実施例シート4上へ
の配列、および加熱加圧の処理は、実施例1〜3と同様
の手法で行われた。
【0069】目視により、実施例ボール4は実施例シー
ト4中に密着固定されたことが確認された。
【0070】〔実施例5〕実施例シート5(表1)およ
び実施例ボール5(表2)が用いられた。実施例シート
5に用いられる樹脂Cは、ガラス転移温度が120℃の
熱可塑性シリコーン変性ポリイミド樹脂のみである。こ
の樹脂Cの溶液から厚み50μmの実施例シート5が得
られた。テーパー状の貫通孔が、実施例3と同様、Kr
Fエキシマレーザにより、80μmの間隔で格子状に形
成された。上方の開口径d’は45μm、下方の開口径
d”は35μmである。実施例ボール5として、直径が
実施例シート5の厚みと同じ50μmのポリマー粒子に
金メッキを施したものが用いられた。下方の開口径d”
は実施例ボール5の直径の70%であった。
【0071】この実施例ボール5の実施例シート5上へ
の配列、および加熱加圧の処理は、ヒートブロックの加
熱温度が140℃であること以外は、実施例1〜4と同
様の手法で行われた。
【0072】目視により、実施例ボール5は実施例シー
ト5中に密着固定されたことが確認された。
【0073】〔実施例6〕実施例シート6(表1)およ
び実施例ボール6(表2)が用いられた。実施例シート
6に用いられる樹脂Dは、ガラス転移温度が145℃の
熱可塑性シリコーン変性ポリイミド樹脂に感光性反応基
を付加したものである。この樹脂Dの溶液から厚み50
μmの実施例シート6が得られた。実施例シート6の上
面にマスクが設けられ、露光・現像によりテーパー状の
貫通孔が200μmの間隔で格子状に形成された。上方
の開口径d’は55μm、下方の開口径d”は45μm
である。実施例ボール6として、銀ボールに金メッキを
施したものが用いられた。実施例ボール6の直径は50
μmである。下方の開口径d”は実施例ボール6の直径
の90%であった。
【0074】この実施例ボール6の実施例シート6上へ
の配列、および加熱加圧の処理は、実施例1〜4と同様
の手法で行われた。
【0075】目視により、実施例ボール6は実施例シー
ト6中に密着固定されたことが確認された。
【0076】〔実施例7〕実施例シート7(表1)およ
び実施例ボール7(表2)が用いられた。樹脂Aの溶液
から厚み50μmの実施例シート7が得られた。KrF
エキシマレーザを用いて、実施例シート7にテーパー状
の貫通孔が、所定のパターンに従って形成された。貫通
孔の上方の開口径d’は60μm、下方の開口径d”は
40μmであった。実施例ボール7として、直径が実施
例シート7の厚みと同じ50μm、かつ材質が実施例ボ
ール1〜4と同じ半田ボールが用いられた。下方の開口
径d”は実施例ボール3の直径の80%であった。
【0077】この実施例ボール7の実施例シート7上へ
の配列、および加熱加圧の処理は、実施例1〜4と同様
の手法で行われた。
【0078】目視により、実施例ボール7は実施例シー
ト7中に密着固定されたことが確認された。
【0079】次にこの実施例シート7と、一方の面に電
極が形成された半導体チップ(半導体素子)と、この半
導体チップに対向する面にそれぞれ対応する電極が形成
された実装基板(回路基板)とを用いて、半導体パッケ
ージが作製された。実施例シート7の所定のパターン
は、貫通孔および導電性ボールが半導体チップの電極に
対応するように設定された。
【0080】前述の処理により得られた実施例シート7
は、カメラ等により監視されながら実装基板に対する位
置決めが行われ、実装基板の電極が形成された面に装着
された。装着された際に、実装基板の電極と対応する導
電性ボールとは互いに対向していた。実施例シート7の
実装基板に対向する面の反対側の面から、ヒートブロッ
クにより加熱温度180℃で5秒間加熱加圧された。こ
れにより、実施例シート7が実装基板に密着固定され
た。
【0081】次に、フリップチップマウンタを用いて、
半導体チップを実施例シート7を介して実装基板に接続
させた。即ち、半導体チップを実施例シート7の実装基
板に対向する面の反対側の面に位置決めして装着された
後、半導体チップの実施例シート7対向する面の反対側
の面からヒートブロックにより加熱温度180℃で5秒
間加熱加圧され、これにより半導体チップが実装基板に
実装された。導電性ボール7は半導体チップの電極と実
装基板の電極とを半田接続するバンプの役割を果たし、
実施例シート7の熱可塑性樹脂は半導体チップと実装基
板とを強固に接続する接着剤、電極同士の接続部分を保
護する封止樹脂の役割を果たした。
【0082】〔比較例〕比較例シート(表1)および比
較例ボール(表2)が用いられた。比較例シートは厚
み、貫通孔の大きさ、および格子間隔が異なること以外
は実施例シート3と同一である。比較例シートの厚みは
100μmである。テーパー状の貫通孔が300μmの
間隔で格子状に形成された。上方の開口径d’は200
μm、下方の開口径d”は180μmである。比較例ボ
ールとして、実施例ボール3と同じ材質、大きさの半田
ボールが用いられた。下方の開口径d”は比較例ボール
の直径の120%であった。
【0083】この比較例ボールの比較例シート上への配
列、および加熱加圧の処理は、実施例3と同様の手法で
行われた。
【0084】目視により、比較例シートは軟化したが、
比較例ボールは比較例シート中に密着固定されなかった
ことが確認された。
【0085】以上のように、実施例1〜6のいずれにお
いても、導電性ボール配列シートが得られた。即ち、下
方の開口径d”が導電性ボールの直径の65〜98%の
範囲内にある各実施例において、導電性ボールと絶縁性
シートとの接着は良好であるが、下方の開口径d”が導
電性ボールの直径の120%である比較例では、導電性
ボールと絶縁性シートの良好な接着は行われなかった。
【0086】貫通孔の形状は円筒でもテーパーでも導電
性ボールの良好な接着が可能であり、また貫通孔は炭酸
ガスレーザ、KrFエキシマレーザ、パンチ、テーパド
リル、露光・現像のいずれの手段によっても良好に形成
された。さらに、絶縁性シートの厚みが導電性ボールの
直径と同じ(実施例2〜5)、または導電性ボールの直
径より小さい(実施例1)場合のどちらの場合において
も、導電性ボールの良好な接着が行われた。
【0087】このように、各実施例の導電性ボール配列
シートによれば、予め高精度でバンプとなる導電性ボー
ルを配列固定させることができるので、半導体パッケー
ジの半導体素子や回路基板にバンプを形成する際に、一
括して多数のバンプを高精度に形成でき、従来より半導
体パッケージの生産性が向上する。また、導電性ボール
配列シートにおいて、導電性ボールが導電性ボール配列
シート表面から露出しているので、半導体素子や回路基
板へ導電性ボールを転写する面の反対側から導電性ボー
ルの位置が視認できる。
【0088】
【発明の効果】本発明によると、半導体パッケージのバ
ンプ形成が容易かつ高精度に行える導電性ボール配列シ
ートが得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による導電性ボール配列シートの第1実
施形態を示す図であり、導電性ボール配列シートの断面
図である。
【図2】導電性ボール配列シート製造装置の構成を示す
ブロック図である。
【図3】図1に示す導電性ボール配列シートに用いられ
る絶縁性シートを示す断面図である。
【図4】図2に示す絶縁性シートに貫通孔を形成する工
程を模式的に示す断面図である。
【図5】図2に示す絶縁性シートに導電性ボールを配列
する工程を模式的に示す断面図である。
【図6】導電性ボール配列シートを加圧加熱する工程を
模式的に示す断面図である。
【図7】導電性ボール配列シートを回路基板に対して位
置決めする工程を模式的に示す断面図である。
【図8】半導体パッケージの断面図であえる。
【図9】本発明による導電性ボール配列シートの第2実
施形態を示す図であり、導電性ボール配列シートの断面
図である。
【図10】本発明による導電性ボール配列シートの第3
実施形態を示す図であり、絶縁性シートと配列された導
電性ボールとを共に示す断面図である。
【図11】本発明による導電性ボール配列シートの第4
実施形態を示す図であり、貫通孔が形成された絶縁性シ
ートの断面図である。
【符号の説明】
10 導電性ボール配列シート 12 絶縁性シート 12a 貫通孔 14 導電性ボール 20 絶縁性シート製造装置 22 貫通孔形成装置 24 導電性ボール配列装置 26 加圧加熱装置 28 搬送装置 50 回路基板 70 半導体素子
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 渋谷 明信 東京都港区芝五丁目7番1号 日本電気 株式会社内 (72)発明者 船矢 琢央 東京都港区芝五丁目7番1号 日本電気 株式会社内 (56)参考文献 特開 平9−293753(JP,A) 特開 平11−145325(JP,A) 特開 平8−153727(JP,A) 特開 平8−78568(JP,A) 特開 平10−335567(JP,A) 特開 昭58−23173(JP,A) 特開 平7−220538(JP,A) 特開 平10−41627(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01R 11/01 H01L 21/60 H01L 23/12

Claims (7)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 熱可塑性樹脂を主成分とし、所定の厚み
    を有する絶縁性シートと、この絶縁性シートの厚み方向
    に貫通した少なくとも1つ以上の貫通孔に保持され、前
    記絶縁性シートの少なくとも一方の表面から一部が露出
    している導電性ボールとを備え、前記貫通孔が前記厚み
    方向に沿ったテーパーであり、この貫通孔の小さい方の
    開口の直径が前記導電性ボールの直径よりも小さいこと
    を特徴とする導電性ボール配列シート。
  2. 【請求項2】 熱可塑性樹脂を主成分とし、所定の厚み
    を有する絶縁性シートの厚み方向に、少なくとも1つ以
    上の貫通孔を形成する貫通孔形成手段と、 前記貫通孔形成手段により形成された貫通孔に導電性ボ
    ールを配列させる配列手段と、 前記配列手段により前記導電性ボールが配列された前記
    絶縁性シートを加熱することにより、前記熱可塑性樹脂
    を軟化させ、同時に前記導電性ボールを前記絶縁性シー
    トに向かって加圧することにより、前記導電性ボールを
    前記貫通孔内に密着固定させる固定手段とを備えたこと
    を特徴とする導電性ボール配列シート製造装置。
  3. 【請求項3】 前記貫通孔形成手段によって、前記貫通
    孔が、前記厚み方向に沿ってテーパー状に形成され、か
    つこの貫通孔の小さい方の開口の直径が、前記導電性ボ
    ールの直径よりも小さくなるように形成されることを特
    徴とする請求項2に記載の導電性ボール配列シート製造
    装置。
  4. 【請求項4】 前記貫通孔形成手段が、レーザであるこ
    とを特徴とする請求項2に記載の導電性ボール配列シー
    ト製造装置。
  5. 【請求項5】 前記貫通孔形成手段が、パンチであるこ
    とを特徴とする請求項2に記載の導電性ボール配列シー
    ト製造装置。
  6. 【請求項6】 前記貫通孔形成手段が、ドリルであるこ
    とを特徴とする請求項2に記載の導電性ボール配列シー
    ト製造装置。
  7. 【請求項7】 前記絶縁性シートの熱可塑性樹脂に感光
    性反応基を導入することにより、熱可塑性樹脂に感光性
    を付与する感光性付与手段を更に備え、前記貫通孔形成
    手段が、感光性が付与された前記絶縁性シートを露光・
    現像すること により、前記貫通孔を形成することを特徴
    とする請求項2に記載の導電性ボール配列シート製造装
    置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20170093170A (ko) * 2015-01-13 2017-08-14 데쿠세리아루즈 가부시키가이샤 범프 형성용 필름, 반도체 장치 및 그의 제조 방법 및 접속 구조체

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4663158B2 (ja) * 2000-06-14 2011-03-30 積水化学工業株式会社 微粒子配置フィルム、導電接続フィルム、導電接続構造体及び微粒子の配置方法
JP4179312B2 (ja) 2004-09-15 2008-11-12 セイコーエプソン株式会社 半導体装置の実装方法、半導体装置
JP5119678B2 (ja) 2007-02-20 2013-01-16 富士通株式会社 実装構造、接続部材の製造方法、および半導体装置
JP5018399B2 (ja) * 2007-10-26 2012-09-05 富士通株式会社 回路基板の製造方法
US10037941B2 (en) * 2014-12-12 2018-07-31 Qualcomm Incorporated Integrated device package comprising photo sensitive fill between a substrate and a die

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20170093170A (ko) * 2015-01-13 2017-08-14 데쿠세리아루즈 가부시키가이샤 범프 형성용 필름, 반도체 장치 및 그의 제조 방법 및 접속 구조체
US20180218990A1 (en) * 2015-01-13 2018-08-02 Dexerials Corporation Bump-forming film, semiconductor device and manufacturing method thereof, and connection structure
KR102182945B1 (ko) * 2015-01-13 2020-11-25 데쿠세리아루즈 가부시키가이샤 범프 형성용 필름, 반도체 장치 및 그의 제조 방법 및 접속 구조체
US10943879B2 (en) * 2015-01-13 2021-03-09 Dexerials Corporation Bump-forming film, semiconductor device and manufacturing method thereof, and connection structure
TWI774640B (zh) * 2015-01-13 2022-08-21 日商迪睿合股份有限公司 凸塊形成用膜、半導體裝置及其製造方法、以及連接構造體
TWI824412B (zh) * 2015-01-13 2023-12-01 日商迪睿合股份有限公司 凸塊形成用膜、半導體裝置及其製造方法、以及連接構造體

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