JP3361796B2 - 金属検出装置 - Google Patents

金属検出装置

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、金属検出装置、特
に、上方から下方へと被検査物を通過させながら金属の
混入を検出する金属検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】食品、化粧品、薬品などの製造ラインに
おいては、製品中に、あるいは製品に混じって金属片が
存在していないかどうかを調べるために、金属検出装置
が使用される。この金属検出装置では、コイルにより発
生させた磁界中に被検査物を通し、金属片によって生じ
る磁界の変化に基づいて被検査物中の金属の有無を検査
している。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】この種の金属検出装置
は、落下してくる被検査物に対する金属検出処理にも使
用されている。ここでは、磁界発生用及び磁界変動検出
用の複数のコイルを上下に配置し、それらのコイルの中
空部を被検査物の通過域に合わせ、コイルの中空部を通
過して落下していく被検査物中に金属が混入していない
かを検査する。
【0004】このような金属検出装置においては、その
金属検出精度を向上させることが要求されている。特
に、上方から落下してくる物を対象とする金属検出装置
の場合には、被検査物がコイルの中空部のどの領域を通
過するのかが決まらないことが多く、被検査物がコイル
の中空部のいろいろな場所をランダムに通過する傾向に
あるため、金属による磁界の変化を正確に検出すること
が難しい。
【0005】本発明の課題は、上方から下方へと被検査
物を通過させながら金属の混入をコイルを用いて検出す
る金属検出装置において、金属検出の精度を向上させる
ことにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】請求項1に係る金属検出
装置は、被検査物を通過させながら金属の混入を検出す
る金属検出装置であって、コイルと、規制部材とを備え
ている。被検査物は、コイルの中空部を上方から下方に
通過する。規制部材は、コイルの中空部の中心を含む鉛
直軸及びその近傍域(以下、コイル中空部の中心鉛直軸
近傍域という。)を被検査物が通過することがないよう
に、被検査物の通過域を規制する。
【0007】ここでは、金属検出装置に規制部材を設け
ているため、被検査物がコイル中空部の中心鉛直軸近傍
域を通過することがなくなる又は少なくなる。このコイ
ル中空部の中心鉛直軸近傍域は、コイルを用いて金属検
出を行うタイプの金属検出装置においては最も検出感度
が低くなる領域であるため、ここを通過せずに他の領域
だけを被検査物が通過することになれば、金属検出装置
の金属検出精度は向上する。実際にテストを行ったとこ
ろ、規制部材がないものでは検出できなかった金属片
が、規制部材を設けたものでは検出可能となっている。
【0008】このように、ここでは、被検査物がコイル
中空部の中心鉛直軸近傍域を通過しないように規制部材
を設けたため、金属検出の精度が向上する。請求項2に
係る金属検出装置は、請求項1に記載の金属検出装置で
あって、規制部材は、コイルの中空部の中心近傍におい
て、鉛直軸に沿って延設されている。
【0009】ここでは、コイルの中空部の中心近傍の空
間を規制部材が実際に占めるため、被検査物のコイル中
空部の中心鉛直軸近傍域への侵入がより確実に抑えられ
る。請求項3に係る金属検出装置は、請求項2に記載の
金属検出装置であって、規制部材は、コイルの中空部の
上方まで延設されている。
【0010】ここでは、規制部材が、コイルの中空部の
内部に留まらず、コイルの中空部の上方まで延設されて
いる。このため、被検査物が鉛直下向き以外の力成分
(ベクトル)を有する状態で金属検出装置に入ってきた
ときにも、規制部材の上部が被検査物の進む方向を鉛直
方向に沿うように導き、被検査物がコイルの中空部を通
過するときの通過方向の一様性が向上する。
【0011】また、コイルの中空部の下部空間において
規制部材が存在しない場合であっても、規制部材がコイ
ルの中空部の上部や上方において被検査物の通過の方向
性を導き、被検査物がコイルの中空部の下部空間の中心
近傍に侵入して通過することが抑えられる。すなわち、
被検査物のコイル中空部の中心鉛直軸近傍域への侵入が
さらに確実に抑えられる。
【0012】請求項4に係る金属検出装置は、請求項1
から3のいずれかに記載の金属検出装置であって、規制
部材は、柔軟性を有する非金属の材料から形成されてい
る。検出コイル内部に常時金属製の部品が存在すると、
その部品が振動したり移動したりすることで誤検出が発
生する恐れが高まる。これに対し、ここでは規制部材を
非金属製の材料から形成しているため、誤検出の発生が
抑えられる。
【0013】また、規制部材を柔軟性を持つものとして
いるため、規制部材に被検査物が衝突する際の衝撃が抑
えられ、被検査物の損傷や破損が抑えられる。
【0014】
【発明の実施の形態】<金属検出装置50が用いられる
製造ラインの概略>本発明の一実施形態に係る金属検出
装置が用いられる食品の製造ラインの一部を、図1に示
す。この製造ラインの一部では、菓子類や青果、総菜、
乾麺、加工食品等の商品が、所定重量(あるいは所定数
量)ずつ袋詰めされる。
【0015】〔金属検出装置50の前工程〕ここでは、
商品が、まず供給コンベア装置90によって組合せ計量
装置10の上方に搬送されてくる。次に商品は、分散フ
ィーダ11上に載せられ、分散フィーダ11の振動によ
って放射状に分散される。そして、分散フィーダ11に
続く放射トラフ12を介して円周状に複数配置されたプ
ールホッパ13に商品が送られると、そこで一時的にプ
ールされた後、商品は各プールホッパ13の下方に位置
する計量ホッパ14に投入される。計量ホッパ14に投
入された商品の重量は、各計量ホッパ14に対して設け
られているロードセル(重量検出器)によって計測され
る。そして、各計量ホッパ14内の商品の計測重量を基
にどの計量ホッパ14から商品を排出すれば許容範囲内
の重量あるいは数量となるかが組合せ演算され、その結
果に基づいて計量ホッパ14の幾つかが集合排出シュー
ト15に商品を排出する(図2参照)。
【0016】組合せ計量装置10の集合排出シュート1
5から排出された商品は、その下方に配置されている金
属検出装置50を通過して、さらにその下方に設置され
ている製袋包装装置20へと落ちていく。金属検出装置
50については、後に詳述する。
【0017】なお、分散フィーダ11、放射トラフ1
2、プールホッパ13、及び計量ホッパ14は、本体ケ
ース16に取り付けられている本体支持部17によって
支持されている。また、集合排出シュート15も、本体
支持部17によって支持されている。
【0018】〔金属検出装置50の後工程〕製袋包装装
置20は、袋を製造しながら、その袋に商品を充填して
包装する装置である。この製袋包装装置20は、縦型の
ピロー包装機と呼ばれるものであり、まず、フィルムの
ロール128から引き出したシート状のフィルムをフォ
ーマー及びチューブによって筒状に形作り、下に送りな
がら筒状フィルムの重ねられた縦の縁をヒートシール
(熱封止)する。そして、落下してきた商品が筒状フィ
ルム内に充填されると、下部に配置されている横シール
機構が先行する袋の上部と後続の袋の下部とにまたがっ
て横シールを行い、横シール部分の中央がカッターによ
り切断される。
【0019】こうして商品が詰められた袋は、傾斜板2
9により搬送コンベア30に載せられ、後段の重量チェ
ッカー40へと搬送されていく。 <金属検出装置50の構成>金属検出装置50は、上方
に配置されている組合せ計量装置10の集合排出シュー
ト15から落下してくる商品を受け入れて、商品を下方
へと通過させながら金属片の混入を検出する。この金属
検出装置50は、図3に示すように、主として、検出ヘ
ッド51と、円筒部材55と、チューブ56と、ジョー
ゴ58とから構成されている。これらの金属検出装置5
0の各構成部材は、図示しない支持部材によって、組合
せ計量装置10や製袋包装装置20を支持している架台
80に固定される。
【0020】〔検出ヘッド51〕検出ヘッド51は、直
方体の中央部分に上下に貫通する円柱状空間を形成した
ような外形を有するケーシングで覆われており、そのケ
ーシングの中に3つのコイル52,53,54が配置さ
れている。コイル53は、図示しない発振器からの交流
信号により交流磁界を発生させる送信コイルである。コ
イル52,54は、送信コイル53と同軸に巻かれた受
信コイルであり、互いの磁束が等しく鎖交するように配
置されている。
【0021】〔円筒部材55〕円筒部材55は、鉛直方
向に延びるビニル製の部材であり、検出ヘッド51の円
筒状の内部空間を貫通するように配置される。この円筒
部材55の内部空間は、商品の通り道となる。円筒部材
55の上端は、ジョーゴ58の下部の外周を覆ってお
り、その上から止バンド57(後述)が装着される。す
なわち、円筒部材55の上端は、ジョーゴ58と止めバ
ンド57とによって挟持される。そして、このように上
端が固定された状態で、円筒部材55は下方に垂らされ
る。
【0022】〔チューブ56〕チューブ56は、ビニル
製であり、図3に示すように、円筒部材55の内径より
もかなり小さな外径を有している。チューブ56の下端
の高さ位置は、概ね検出ヘッド51の下面位置と一致し
ている。チューブ56は、検出ヘッド51の上面の高さ
位置よりもはるかに高い位置まで鉛直に延びており(図
3(a)参照)、その上端がジョーゴ58の内部空間に
位置している。
【0023】また、チューブ56は、支持棒59によっ
て、その中心が検出ヘッド51の各コイル52,53,
54の中空部中心(コイルの軸)を含む鉛直軸Oに略一
致するように保持される。支持棒59の端部は、ジョー
ゴ58の下部内壁に固定されている。支持棒59の外周
は、ビニル製の被膜で覆われている。
【0024】〔ジョーゴ58〕ジョーゴ58は、金属製
であり、上部のほうが下部よりも開口面積が大きくなる
構造となっている。ジョーゴ58の下部の開口形状は、
円筒部材55の上部開口形状と概ね一致している。組合
せ計量装置10の集合排出シュート15から落下してき
た商品は、まずジョーゴ58に入り、その後円筒部材5
5の中を通り抜けて、下方の製袋包装装置20へと落下
していく。
【0025】<金属検出装置50の動作>金属検出装置
50では、発振器で交流信号を発振させ、送信コイル5
3から所定の周波数の交流磁界を発生させる。この送信
コイル53による交流磁界を受ける受信コイル52,5
4に発生する起電力は、初期設定で互いに等しくなるよ
うに調整されている。
【0026】これらのコイル52,53,54の中空部
を金属片が通過すると、すなわち円筒部材55の中を上
から下に商品に混じって金属片が通過すると、受信コイ
ル52と受信コイル54とで発生する起電力に差が生じ
る。金属検出装置50は、この起電力差を増幅器や検波
回路を用いて検知し、起電力差が所定レベル以上である
ときに、金属片を検出したと判断して金属検出信号を発
する。
【0027】<金属検出装置50の特徴> (1)ここでは、金属検出装置50の中心部にチューブ
56を設けているため、被検査物である商品がコイル5
2,53,54の中空部の中心付近を通過することがな
くなる。このように、コイルを用いて金属検出を行うタ
イプの金属検出装置において最も検出感度が低くなる上
記領域にチューブ56を配置し、金属片がその領域を通
過することによる金属検出のミスを抑えているため、金
属検出精度が向上している。
【0028】実際に微細な針金片を120回通過させる
テストを行ったところ、チューブ56を装着していない
場合には30%の割合で検出ミス(非検出)が発生した
のに対して、チューブ56を備えた上記の金属検出装置
50では、検出ミスの割合が0となった。
【0029】(2)ここでは、チューブ56が、検出ヘ
ッド51の内部に留まらず、その上方のジョーゴ58の
内部にまで延設されている。このため、組合せ計量装置
10の集合排出シュート15から鉛直下向き以外の力成
分(ベクトル)を有する状態でジョーゴ58に入ってく
る商品は、チューブ56によって、鉛直下向き以外の力
成分がある程度削がれる。これにより、商品が検出ヘッ
ド51の高さ位置を通過するときにおける商品の通過方
向(鉛直下向きに近い方向)の一様性が向上し、金属検
出精度の安定性がよくなる。
【0030】(3)ここでは、円筒部材55及びチュー
ブ56がビニル製であり、商品がこれらに衝突する際の
衝撃が抑えられる。さらに、支持棒59の外周もビニル
製の被膜で覆われている。これにより、商品の損傷や破
損が少なくなる。
【0031】特にここでは、図2に示すように、各計量
ホッパ14から集合排出シュート15により集められる
商品が、鉛直下向きの力成分以外に、水平方向の力成分
を有している。このため、金属検出装置50に入る商品
は、チューブ56や円筒部材55に衝突する確率が高
い。しかし、上記のように両部材55,56がビニル製
であり柔軟性を有しているため、商品の損傷や破損が抑
えられる。
【0032】[他の実施形態] (A)上記実施形態では、検出ヘッド51の下面位置ま
でチューブ56が下に延びているが、必ずしも検出ヘッ
ド51の下面位置まで延びていなくてもよい。
【0033】例えば、チューブ56の下端が検出ヘッド
51の中間部や上端までしか延びていなくても、チュー
ブ56の上部により導かれる商品が検出ヘッド51の高
さ位置でほぼ鉛直下向きに通過するような場合には、金
属片を含む商品が検出ヘッド51の中空部において鉛直
軸O付近に侵入する恐れは殆どなく、金属片の検出ミス
が発生する可能性も極めて小さくなる。このようなとき
には、検出ヘッド51の下面位置までチューブ56が下
に延びている必要はない。
【0034】(B)上記実施形態では、チューブ56が
ジョーゴ58の内部空間まで延びているが、検出ヘッド
51の各コイル52,53,54の中空部中心(コイル
の軸)を占有するようにチューブ56が存在していれ
ば、必ずしもジョーゴ58の内部にまでチューブ56が
延びている必要はない。
【0035】(C)上記実施形態では、支持棒59によ
ってチューブ56を保持させているが、支持棒59を使
わずに、組合せ計量装置10の本体ケース16の下部に
チューブ56の上端を支持させ、そこから検出ヘッド5
1の中までチューブ56を垂らすような構成を採ること
も可能である。
【0036】(D)上記実施形態では、3つのコイル5
2,53,54を、図3に示すように検出ヘッド51の
ケーシング内に同軸配置させている金属検出装置に対し
て本発明を適用した例を示しているが、受信コイル5
2,45を同一面内に配置し、各コイル52,53,5
4を商品の通過方向と平行な面上に配置するタイプの金
属検出装置に対して本発明を適用することもできる。こ
のような平行配置タイプの金属検出装置に本発明を適用
した場合にも、上記実施形態のような同軸配置タイプの
金属検出装置に適用した場合と同様に、金属検出精度が
向上する。
【0037】
【発明の効果】本発明では、金属検出装置に規制部材を
設けているため、被検査物がコイル中空部の中心鉛直軸
近傍域を通過することがなくなる又は少なくなる。すな
わち、被検査物は、コイルを用いて金属検出を行うタイ
プの金属検出装置において最も検出感度が低くなるコイ
ル中空部の中心鉛直軸近傍域を通過せずに、他の領域だ
けを通過することになる。このため、金属検出の精度が
向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係る金属検出装置が用い
られる食品製造ラインの一部の側面図。
【図2】組合せ計量装置から金属検出装置へと排出され
る商品の状態を表す図。
【図3】(a)金属検出装置の側面図。 (b)b-b矢視図。
【符号の説明】
50 金属検出装置 51 検出ヘッド 52,53,54 コイル 55 円筒部材 56 チューブ(規制部材) 59 支持棒 O 鉛直軸
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭51−120792(JP,A) 特開 昭63−63986(JP,A) 特開 平4−357489(JP,A) 特開 平11−216383(JP,A) 実開 昭62−105107(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01V 3/10 G01N 27/72 G01V 3/11

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】被検査物を通過させながら金属の混入を検
    出する金属検出装置であって、 被検査物が上方から下方に通過する中空部を有するコイ
    ルと、 前記コイルの中空部の中心を含む鉛直軸及びその近傍域
    を被検査物が通過することがないように、被検査物の通
    過域を規制する規制部材と、を備えた金属検出装置。
  2. 【請求項2】前記規制部材は、前記コイルの中空部の中
    心近傍において、前記鉛直軸に沿って延設されている、
    請求項1に記載の金属検出装置。
  3. 【請求項3】前記規制部材は、前記コイルの中空部の上
    方まで延設されている、請求項2に記載の金属検出装
    置。
  4. 【請求項4】前記規制部材は、柔軟性を有する非金属の
    材料から形成されている、請求項1から3のいずれかに
    記載の金属検出装置。
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JP6331012B2 (ja) * 2014-04-30 2018-05-30 マイクロマグネ有限会社 異物検出装置
JP2017166976A (ja) * 2016-03-16 2017-09-21 株式会社イシダ 検査ユニット支持装置、および、検査装置
JP6233542B1 (ja) * 2016-08-09 2017-11-22 一般財団法人雑賀技術研究所 金属検出装置

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