JP3354414B2 - 刺繍データ処理装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、針落点の位置デー
タを備えた刺繍データを処理する刺繍データ処理装置に
関し、詳しくは、その刺繍データに対応する刺繍模様の
輪郭に関わる処理を行う刺繍データ処理装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、刺繍ミシン等の縫製装置を制御す
るためのデータとして、針落点の位置データを備えた刺
繍データ（例えば一針データ等）が使用されている。ま
た、近年、刺繍を施す製品の多様化に伴い、刺繍模様に
拡大・縮小等の変換を行う要望が高まっている。ところ
が、刺繍模様の拡大・縮小等を行う場合、刺繍データに
対応する針落点の間隔をそのまま拡大・縮小すると次の
ような問題が発生する。すなわち、拡大を行った場合、
針落点の間隔が広くなり過ぎて、すなわち糸密度が疎に
なりすぎて、刺繍糸の間から布地が透けて見える場合が
ある。また、縮小を行った場合、糸密度が密になりすぎ
て縫製が困難になる場合がある。

【０００３】そこで、刺繍模様の輪郭を表すブロックデ
ータを針落点の位置データから作成し、そのブロックデ
ータに拡大・縮小等の変換を行った後、再び針落点の位
置データに戻すことが考えられている。例えば、変換後
のブロック内に、予め定められた糸密度となるように針
落点の位置データを設定するのである。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】ところが、針落点の位
置データを、ブロックデータ等のように刺繍模様の輪郭
に関わるデータに変換する処理はきわめて困難であり、
充分な精度で上記変換のできる技術はなかった。特に、
円弧等の刺繍模様を縫製する場合は、円弧等の内側と外
側とで糸密度を均一にするため、図１４（Ａ）に例示す
る一針データのように、内側の輪郭Ｒの手前に配設され
る針落点Ｑ、いわゆるハーフステッチの針落点が設けら
れる。従来の処理では、このようなハーフステッチの針
落点を刺繍模様の輪郭Ｒを構成する針落点（いわゆる輪
郭点）と区別することができず、図１４（Ｂ）に例示す
るように、内側の輪郭に小刻みに凹凸が形成されたブロ
ックデータに変換してしまう場合があった。

【０００５】そこで、本発明は、ハーフステッチの針落
点を良好に検出することのできる刺繍データ処理装置を
提供することを目的としてなされた。

【０００６】

【課題を解決するための手段および発明の効果】上記目
的を達するためになされた請求項１記載の発明は、ジグ
ザグに配設された針落点の位置データを縫製順に備えた
刺繍データから、刺繍模様の内側の輪郭の手前に配設さ
れるハーフステッチの針落点を検出する刺繍データ処理
装置であって、上記ジグザグの頂点を構成する針落点の
ｉ（ｉは自然数）番目の点とｉ＋４番目の点とを結ぶ線
分を想定する線分想定手段と、上記頂点を構成する針落
点のｉ＋２番目の点が、上記想定された線分に対して、
上記頂点を構成する針落点のｉ＋１番目またはｉ＋３番
目の点と同様の側に存在する場合、そのｉ＋２番目の点
をハーフステッチの針落点と判断するハーフステッチ判
断手段と、を備えたことを特徴としている。

【０００７】針落点がジグザグに配設された刺繍データ
では、そのジグザグの頂点を構成する針落点のｉ番目の
点，ｉ＋２番目の点，およびｉ＋４番目の点は、通常同
じ側の輪郭を構成する。ところが、ｉ＋２番目の点がハ
ーフステッチの針落点である場合は、その点がｉ番目お
よびｉ＋４番目の点より刺繍模様の内側に、すなわち、
上記頂点を構成する針落点のｉ＋１番目またはｉ＋３番
目の点と同様の側にずれて存在する。そこで、本発明で
は、上記ｉ番目の点と上記ｉ＋４番目の点とを結ぶ線分
を線分想定手段により想定し、ハーフステッチ判断手段
は、上記ｉ＋２番目の点がその線分に対して上記ｉ＋１
番目またはｉ＋３番目の点と同様の側に存在する場合、
そのｉ＋２番目の点をハーフステッチの針落点と判断し
ている。従って、本発明では、ハーフステッチの針落点
を良好に検出することができる。

【０００８】請求項２記載の発明は、請求項１記載の構
成に加え、上記ハーフステッチ判断手段が、上記ｉ＋２
番目の点が上記線分から所定距離以上離れているときに
のみ、その点をハーフステッチの針落点と判断すること
を特徴としている。円弧の内側などでは、上記ｉ＋２番
目の点は、その点が輪郭点であっても上記線分に対して
上記ｉ＋１番目またはｉ＋３番目の点と同様の側に存在
する場合がある。そこで、本発明では、ハーフステッチ
判断手段が、上記ｉ＋２番目の点が上記線分から所定距
離以上離れているときにのみ、その点をハーフステッチ
の針落点と判断している。このため、上記所定距離を適
切に設定すれば、円弧の内側等に配設された輪郭点と、
ハーフステッチの針落点とを良好に区別することができ
る。従って、本発明では、請求項１記載の発明の効果に
加え、ハーフステッチの針落点を一層正確に検出するこ
とができるといった効果が生じる。

【０００９】請求項３記載の発明は、請求項１または２
記載の構成に加え、上記ｉ番目の点から上記ｉ＋４番目
の点に向けて第１の座標軸を配設すると共に、そのｉ番
目の点を原点として直交座標系を設定する座標系設定手
段と、該設定された直交座標系で、上記ｉ＋２番目の点
に対して、上記第１の座標軸と直交する第２の座標軸成
分を算出する第２成分算出手段と、上記第２の座標軸
が、上記ｉ＋１番目の点またはｉ＋３番目の点に対して
どちら側に向いているかを判断する方向判断手段と、を
更に備え、上記ハーフステッチ判断手段が、上記第２成
分算出手段により算出された第２の座標軸成分、および
上記方向判断手段の判断結果に基づいて、上記ｉ＋２番
目の点がハーフステッチの針落点であるか否かを判断す
ることを特徴としている。

【００１０】このように構成された本発明では、座標系
設定手段は、上記ｉ番目の点から上記ｉ＋４番目の点に
向けて第１の座標軸を配設すると共に、そのｉ番目の点
を原点として直交座標系を設定する。すると、第２成分
算出手段が、その直交座標系で、上記ｉ＋２番目の点に
対して、第１の座標軸と直交する第２の座標軸成分を算
出する。また、方向判断手段は、上記第２の座標軸が、
上記ｉ＋１番目の点またはｉ＋３番目の点に対してどち
ら側に向いているかを判断する。

【００１１】すると、ハーフステッチ判断手段は、第２
成分算出手段により算出された第２の座標軸成分、およ
び方向判断手段の判断結果に基づいて、上記ｉ＋２番目
の点がハーフステッチの針落点であるか否かを判断す
る。すなわち、上記ｉ＋１番目またはｉ＋３番目の点に
対する第２の座標軸方向と、上記ｉ＋２番目の点の第２
の座標軸成分とに基づき、それらの点が上記線分（第１
の座標軸）に対して同様の側にあるか否かを判断するの
である。このため、本発明では、直交座標系を設定して
その座標軸成分および座標軸の方向を参照するといった
きわめて簡単な処理により、ハーフステッチの針落点を
良好に検出することができる。

【００１２】従って、本発明では、請求項１または２記
載の発明の効果に加えて、処理を一層簡略化することが
できるといった効果が生じる。よって、装置の構成を簡
略化してその製造コストを低減したり、処理速度を向上
させたりすることができる。請求項４記載の発明は、請
求項１〜３のいずれかに記載の構成に加え、上記線分想
定手段が、ｉを２つづつ増加させながら順次上記線分を
想定し、上記針落点のｉ番目の点が上記ハーフステッチ
判断手段によりハーフステッチの針落点であると判断さ
れている場合、上記ｉ番目の点の代わりに上記針落点の
ｉ−２ｋ番目の点（ｋはその針落点がハーフステッチの
点でなくなる最小の自然数）を使用して上記線分を想定
する第１線分想定手段と、ｉを２つづつ減少させながら
順次上記線分を想定し、上記針落点のｉ＋４番目の点が
上記ハーフステッチ判断手段によりハーフステッチの針
落点であると判断されている場合、上記ｉ＋４番目の点
の代わりに上記針落点のｉ＋４＋２ｋ番目の点（ｋはそ
の針落点がハーフステッチの点でなくなる最小の自然
数）を使用して上記線分を想定する第２線分想定手段と
を備え、上記ハーフステッチ判断手段が、上記ｉ＋２番
目の点が上記第１線分想定手段または上記第２線分想定
手段のいずれかに想定された線分に対して、上記ｉ＋１
番目またはｉ＋３番目の点と同様の側に存在する場合、
そのｉ＋２番目の点をハーフステッチの針落点と判断す
ることを特徴としている。

【００１３】このように構成された本発明では、第１線
分想定手段は、ｉを２つづつ増加させながら順次上記線
分を想定する。このため、ハーフステッチ判断手段も、
ｉを２つづつ増加させながら上記ｉ＋２番目の点がハー
フステッチの針落点であるか否かを判断することができ
る。そして、上記ｉ番目の点がハーフステッチの針落点
であると判断されているとき、第１線分想定手段は、上
記ｉ番目の点の代わりにｉ−２ｋ番目の点（ｋはその針
落点がハーフステッチの点でなくなる最小の自然数）を
使用して上記線分を想定する。

【００１４】ハーフステッチの針落点は、刺繍模様の内
側に配設されている点であるので、この点を基準にして
上記線分を想定すると、ハーフステッチが連続する場合
など、ハーフステッチの針落点を検出できない場合があ
る。そこで、第１線分想定手段は、上記ｉ番目の点がハ
ーフステッチの針落点であると予め判っている場合、そ
の点より手前の最も近い点でかつハーフステッチでない
針落点を基準にして上記線分を想定するのである。この
ため、ハーフステッチの針落点を正確に検出することが
できる。

【００１５】また、第２線分想定手段の作用もほぼ同様
で、上記ｉ＋４番目の点がハーフステッチの針落点であ
ると予め判っている場合、その点より後の最も近い点で
かつハーフステッチでない針落点を基準にして上記線分
を想定する。このため、ハーフステッチの針落点を正確
に検出することができる。但し、第１線分想定手段また
は第２線分想定手段の一方のみでは、次のような場合に
ハーフステッチの針落点を検出できない場合がある。す
なわち、ハーフステッチが連続する場合であって、ｉが
増加するに従ってその針落点が刺繍模様の内側に入り込
む程度が激しくなる場合、第１線分想定手段だけではハ
ーフステッチの針落点を検出できないことがある。逆
に、ｉが減少するに従って入り込む程度が激しくなる場
合、第２線分想定手段だけではハーフステッチの針落点
を検出できないことがある。

【００１６】そこで、ハーフステッチ判断手段が、上記
ｉ＋２番目の点が上記第１線分想定手段または上記第２
線分想定手段のいずれかに想定された線分に対して、上
記ｉ＋１番目またはｉ＋３番目の点と同様の側に存在す
る場合、そのｉ＋２番目の点をハーフステッチの針落点
と判断するのである。このため、本発明では、ハーフス
テッチが連続しても、ほとんどの場合に各ハーフステッ
チの針落点を検出することができる。従って、本発明で
は、請求項１〜３のいずれかに記載の発明の効果に加え
て、ハーフステッチの針落点を一層正確に検出すること
ができるといった効果が生じる。

【００１７】

【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態を図面
と共に説明する。図１は、本発明が適用された刺繍デー
タ処理装置としてのパーソナルコンピュータ（以下パソ
コンという）１の構成を概略的に表すブロック図であ
る。

【００１８】図１に示すように、パソコン１は、パソコ
ン本体１１の他に、ＣＲＴ１３，キーボード１５，およ
びマウス１７を備えて構成されている。パソコン本体１
１は、ＣＰＵ２１，ＲＯＭ２３，ＲＡＭ２５を中心に構
成されており、この他、刺繍ミシンや他のデータ処理装
置と通信を行うための通信インタフェース２７と、ＣＲ
Ｔ１３，キーボード１５，マウス１７とのデータの送受
信を行う入出力ポート２９と、記憶媒体としてのフロッ
ピディスク（図示せず）にデータの読み書きを行うフロ
ッピディスクドライバ３１とを備えている。また、ＣＰ
Ｕ２１，ＲＯＭ２３，ＲＡＭ２５，通信インタフェース
２７，入出力ポート２９，およびフロッピディスクドラ
イバ３１は、バス３３を介してデータの送受信可能に接
続されている。

【００１９】次に、ＣＰＵ２１が実行する輪郭データ検
出処理について、図２〜図４のフローチャートを用いて
説明する。なお、ＣＰＵ２１は、フロッピディスクドラ
イバ３１に縫製データ（刺繍データ）を記憶したフロッ
ピディスクが挿入された後、キーボード１５またはマウ
ス１７から所定の入力がなされると、ＲＯＭ２３に記憶
されたプログラムに基づきこの処理を実行する。

【００２０】処理を開始すると、先ず、Ｓ１（Ｓはステ
ップを表す：以下同様）にて、フロッピディスクドライ
バ３１を介してフロッピディスクから縫製データを読み
込む。なお、この縫製データは、各針落点の加工布上の
位置座標を縫製順に従って記憶したいわゆる一針データ
である。続くＳ３では、縫製データに記憶された各針落
点（合計ｎ個とする）を、縫製順にＰｉ（ｉ＝１，２，
…，ｎ）とする。続くＳ５ではｉに１を代入し、更にＳ
７にてｉ＋１＝ｎか否かを判断する。処理開始時にはｉ
＋１＝２であり、通常否定判断してＳ９へ移行する。

【００２１】Ｓ９では、次のようにして針落点Ｐｉを原
点に直交座標系を設定する。すなわち、図５（Ａ），
（Ｂ）に例示するように、針落点Ｐｉから針落点Ｐi+1
へ至る方向にＸ軸を設け、そのＸ軸に対して針落点Ｐｉ
を中心に反時計回りに９０°回転した方向にＹ軸を設け
る。また、このステップでは、針落点Ｐi+1 の座標（Ｘ
i+1 ，０）と、針落点Ｐi+2 の座標（Ｘi+2 ，Ｙi+2 ）
を読み込んで、ＲＡＭ２５の所定の領域に記憶する。

【００２２】続くＳ１１では、Ｓ９で読み込んだＸi+1
とＸi+2 との値を比較し、Ｘｉ+1の方が大きい場合はＳ
１３へ、Ｘi+2 ≧Ｘi+1 の場合はＳ１５へ、それぞれ移
行する。Ｓ１３では、針落点Ｐi+1 の属性を仮輪郭とし
て続くＳ１７へ移行し、Ｓ１５では、針落点Ｐi+1 の属
性を仮走りとして続くＳ１７へ移行する。

【００２３】ここで、図５（Ａ）に例示するように、針
落点Ｐi+1 が輪郭点である場合、その両側のステッチＳ
ｉ，Ｓi+1 に折り返しが発生する。この場合、Ｘi+2 の
値はＸi+1 の値よりも小さくなる（Ｘi+2 ＜Ｘi+1 ）。
そこで、この場合（Ｓ１１：ＹＥＳ）、針落点Ｐi+1 の
属性を、輪郭点と推定されるという意味で仮輪郭とする
のである（Ｓ１３）。逆に、針落点Ｐi+1 が走り点であ
る場合、図５（Ｂ）に例示するように、Ｘi+2 ≧Ｘi+1
となる。そこで、この場合（Ｓ１１：ＮＯ）、針落点Ｐ
i+1 の属性を、走り点と推定されるという意味で仮走り
とするのである（Ｓ１５）。なお、針落点Ｐ1 ，Ｐn に
は、強制的に仮走りの属性を付与する。

【００２４】続くＳ１７では、ｉにｉ＋１を代入して前
述のＳ７へ移行する。こうしてｉの値を順次増加させな
がら、Ｓ７〜Ｓ１７の処理を繰り返し実行する。そし
て、ｉ＋１＝ｎとなると、すなわち、ｉ＋１＝２〜ｎ−
１の全ての針落点Ｐi+1 に対して仮輪郭または仮走りの
属性を付与すると（Ｓ１３，１５）、Ｓ７にて肯定判断
してＳ２１へ移行する。Ｓ２１以降の処理では、前述の
処理で仮輪郭の属性を付与された針落点Ｐi+1 に対し、
更に、次のような分類を行う。

【００２５】先ず、Ｓ２１ではｉに１を代入し、続くＳ
２３ではｉ＋１＝ｎか否かを判断する。ここで否定判断
してＳ２５へ移行すると、針落点Ｐi+1 に仮輪郭の属性
が付与されているか否かを判断する。Ｐi+1 が仮走りの
場合は、否定判断してＳ２７へ移行し、ｉにｉ＋１を代
入した後、Ｓ２３以下の処理を繰り返す。また、Ｓ２５
にて針落点Ｐi+1 が仮輪郭であると判断すると（Ｓ２
５：ＹＥＳ）、続くＳ３１へ移行する。

【００２６】Ｓ３１では、その針落点Ｐi+1 が、仮走り
の属性を付与された針落点と隣接しているか否か、すな
わち、針落点ＰｉまたはＰi+2 のいずれかが仮走りであ
るか否かを判断する。仮走りと隣接している場合は（Ｓ
３１：ＹＥＳ）、Ｓ３３へ移行する。Ｓ３３では、その
針落点Ｐi+1 に仮輪郭の属性を付与したループでＳ９に
て記憶したＹi+2 を読み出し、その針落点Ｐｉの前後に
配設される仮輪郭の針落点に対して同様に記憶されたＹ
i+2 と異符号であるか否かを判断する。針落点Ｐi+1 に
対するＹi+2 が、その前後に配設される各仮輪郭の針落
点に対するＹi+2 と互いに異符号である場合（Ｓ３３：
ＹＥＳ）はＳ３５へ移行し、前後いずれかに配設される
仮輪郭の針落点に対するＹi+2 と同符号である場合（Ｓ
３３：ＮＯ）はＳ３７へ移行する。Ｓ３５では針落点Ｐ
i+1 の属性を仮タタミ輪郭とし、Ｓ３７ではその属性を
仮走りとして、前述のＳ２７へ移行する。

【００２７】ここで、輪郭点は、刺繍模様を挟んで対向
する２辺上に配設される場合が多く、この場合、対向す
る輪郭点の間で、ステッチがジグザグに形成される。ま
た、この場合、ステッチの折り返す方向は交互に入れ替
わり、それに応じてＹi+2 の符号も交互に入れ替わる。
更に、この場合、対向する輪郭点の間に針落点（走り
点）が存在する場合をタタミと呼び、存在しない場合を
サテンと呼んでいる。

【００２８】そこで、上記処理では、仮輪郭の針落点Ｐ
i+1 が仮走りの針落点と隣接しており（Ｓ３１：ＹＥ
Ｓ）、かつ、Ｙi+2 の符号が前後の仮輪郭で交互に入れ
替わっている場合（Ｓ３３：ＹＥＳ）、その針落点Ｐi+
1 を仮タタミ輪郭としている（Ｓ３５）。また、Ｙi+2
の符号が交互に入れ替わっていない場合は（Ｓ３３：Ｎ
Ｏ）、前述のＳ１３の処理による識別を修正して、その
針落点Ｐi+1 を仮走りとしている（Ｓ３７）。

【００２９】一方、仮輪郭の針落点Ｐi+1 が仮走りの針
落点と隣接していない場合は（Ｓ３１：ＮＯ）、Ｓ４３
へ移行し、Ｓ３３と同様にＹi+2 の符号を比較する。そ
して、Ｙi+2 の符号が前後の仮輪郭で交互に入れ替わっ
ている場合（Ｓ４３：ＹＥＳ）、その針落点Ｐi+1 を仮
サテン輪郭として（Ｓ４５）前述のＳ２７へ移行し、Ｙ
i+2 の符号が交互に入れ替わっていない場合は（Ｓ４
３：ＮＯ）、前述のＳ３７へ移行してその針落点Ｐi+1
を仮走りとする。そして、ｉの値を順次増加させながら
（Ｓ２７）、Ｓ２３〜Ｓ４５の処理を繰り返し実行し、
ｉ＋１＝ｎとなると（Ｓ２３：ＹＥＳ）Ｓ５１へ移行す
る。

【００３０】Ｓ５１では、仮タタミ輪郭の属性を付与さ
れた全ての針落点のデータについて、輪郭確定処理が終
了したか否かを判断する。初めてこのステップへ移行し
たときには否定判断し、Ｓ５３へ移行する。Ｓ５３で
は、前後の針落点の形状や、糸密度、タタミパタン等を
検出し、それに基づいて刺繍模様の輪郭を確定する処理
を実行してＳ５１へ移行する。続いて、Ｓ５１，５３の
処理を繰り返しながらこの輪郭確定処理を続行し、全て
の仮タタミ輪郭のデータについて輪郭確定処理が終了す
ると（Ｓ５１：ＹＥＳ）、Ｓ５５へ移行する。

【００３１】Ｓ５５では、仮サテン輪郭の属性を付与さ
れた全ての針落点のデータについて、輪郭確定処理が終
了したか否かを判断する。初めてこのステップへ移行し
たときには否定判断し、Ｓ５７へ移行する。Ｓ５７で
は、前後の針落点の形状，糸密度等を検出し、それに基
づいて刺繍模様の輪郭を確定する処理を実行してＳ５５
へ移行する。続いて、Ｓ５５，５７の処理を繰り返しな
がらこの輪郭確定処理を続行し、全ての仮サテン輪郭の
データについて輪郭確定処理が終了すると（Ｓ５５：Ｙ
ＥＳ）、Ｓ５９へ移行する。

【００３２】Ｓ５９では、Ｓ５３，５７によって輪郭が
確定されなかった残りの針落点のデータに対し、その針
落点を走り点としてピッチと形状に従った確定を行う。
続くＳ６１では、上記確定後のデータをフロッピディス
クドライバ３１を介してフロッピディスクに保存し、処
理を終了する。

【００３３】ＣＰＵ２１は、Ｓ５３，５７で実行される
輪郭確定処理の一形態として、本発明の主要部であるブ
ロックデータ作成ルーチンを実行する。すなわち、この
ブロックデータ作成ルーチンは、ハーフステッチの針落
点を除外して正確な輪郭を表すブロックデータを作成す
る処理である。次に、このブロックデータ作成ルーチン
を、図６，７のフローチャートに基づいて説明する。な
お、Ｓ５３，５７では、この処理の他にも、前後の針落
点の形状等に基づいたより詳細な処理が実施される。ま
た、このブロックデータ作成ルーチンは、Ｓ５３，５７
の両方で実行しても、いずれか一方で実行してもよい。

【００３４】図６に示すように、処理を開始すると、先
ずＳ７１にて、前述の処理で仮輪郭の属性を付与された
針落点を奇数番目と偶数番目とに分割し、続くＳ７３に
てその奇数側の針落点で点列｛Ｑｉ｝を設定する。但
し、ｉは縫製順に１，２，…と増加するように設定す
る。続くＳ７５では、その点列｛Ｑｉ｝に対して、次の
ハーフステッチフラグ設定処理を実行する。図７は、こ
のハーフステッチフラグ設定処理を実行するハーフステ
ッチフラグ設定ルーチンを表すフローチャートである。

【００３５】図７に示すように、このルーチンへ移行す
ると、先ずＳ７７にて、しきい値ｍ，方向フラグＶ，お
よび針落点ｎをセットする。点列｛Ｑｉ｝が円弧状の刺
繍模様の内側等に配設される場合、針落点Ｑｉが輪郭点
であっても、両隣の針落点Ｑi-1 ，Ｑi+1 を結ぶ線分よ
り内側（この場合、偶数側の針落点側）に、その針落点
Ｑｉが存在する場合がある。そこで、このステップで
は、しきい値ｍを、糸密度や前後の針落点の形状等に基
づき、ハーフステッチの針落点と輪郭点とを区別するの
に適切な値に設定するのである。また、このステップで
は、点列｛Ｑｉ｝の要素数をｎとしてセットし、更に、
次のようにして方向フラグＶを設定する。

【００３６】後述のように、このルーチンでは、点列
｛Ｑｉ｝の配列に沿ってＸ軸を有する直交座標系を設定
する。そこで、直交座標系のＹ軸が、刺繍模様に対して
（この場合、偶数側の針落点に対して）どちらの方向に
向いているかによって方向フラグＶを設定するのであ
る。例えば、図８（Ａ）に例示するように、Ｙ軸が刺繍
模様Ｍの反対方向に向いている場合、方向フラグＶを０
に、図８（Ｂ）に例示するように、Ｙ軸が刺繍模様Ｍの
方向に向いている場合、方向フラグＶを１に、それぞれ
設定するのである。

【００３７】続いてｉに１を代入し（Ｓ７９）、続くＳ
８１では、針落点Ｑｉを原点とし、そこから針落点Ｑi+
2 へ向かうベクトルをＸ軸とする直交座標系を設定す
る。続くＳ８３では、その座標系における針落点Ｑi+1
のＹ軸相対座標（Ｙi+1 ）を算出すると共に、方向フラ
グＶi+1 を算出する。ここで、方向フラグＶi+1 は、図
９（Ａ）に例示するように、針落点Ｑi+1 のＹ軸相対座
標（Ｙi+1 ）が正のときは１に、図９（Ｂ）に例示する
ようにＹi+1 が負のときは０に、それぞれ設定されるフ
ラグである。

【００３８】続くＳ８５では、方向フラグＶとＶi+1 と
の値を比較し、更に、続くＳ８７では、Ｙi+1 の絶対値
をしきい値ｍと比較する。ここで、針落点Ｑi+1 がハー
フステッチであれば、Ｖ＝Ｖi+1 （Ｓ８５：ＹＥＳ）
で、かつ、｜Ｙ+1｜＞ｍ（Ｓ８７：ＹＥＳ）となる。こ
れは、ハーフステッチの針落点が、刺繍模様の内側にし
きい値ｍよりも多く入り込んでいるためである。そこ
で、Ｓ８５またはＳ８７のいずれかで否定判断すると、
針落点Ｑi+1 はハーフステッチの針落点でないと判断
し、そのままＳ８９へ移行する。Ｓ８９では、ｉにｉ＋
１を代入してＳ９１へ移行する。Ｓ９１では、ｉ＋１＝
ｎであるか否かを判断し、最初は否定判断して前述のＳ
８１へ移行する。

【００３９】こうして、Ｓ８１〜Ｓ９１の処理を繰り返
す内に、針落点Ｑi+1 がハーフステッチの針落点となっ
た場合、Ｓ８５，８７にて共に肯定判断してＳ９３へ移
行する。Ｓ９３では、針落点Ｑi+1 にハーフステッチで
あることを表すハーフステッチフラグをセットし、続く
Ｓ９４にてｎにｎ−１を代入した後、Ｓ９５へ移行す
る。Ｓ９５では、針落点Ｑi+1 を点列｛Ｑｉ｝から除
き、針落点Ｑi+2 以降の点列｛Ｑｉ｝の添え字を１減算
して、前述のＳ９１へ移行する。すなわち、Ｓ９５で
は、Ｑi+2 ，Ｑi+3 ，……をＱi+1 ，Ｑi+2 ，……とす
る。

【００４０】ここで、この処理の効果について説明す
る。図１０に例示するように、ハーフステッチの針落点
Ｑi+1 ，Ｑi+2 が連続し、かつ、針落点Ｑi+1 の方が深
く入り込んでいる場合、ベクトルＱｉＱi+2 に基づいて
Ｘ軸５１を設定することにより（Ｓ８１）針落点Ｑi+1
がハーフステッチであることを検出することができる
（Ｓ９３）。ところが、この針落点Ｑi+1 と針落点Ｑi+
3 との間にＸ軸５３を設定すると、針落点Ｑi+2 をハー
フステッチでないと判断してしまう。

【００４１】そこで、針落点Ｑi+1 がハーフステッチで
ある場合は、その針落点Ｑi+1 を削除し、Ｑi+2 ，Ｑi+
3 ，……をＱi+1 ，Ｑi+2 ，……とするのである（Ｓ９
５）。また、このときはＳ８９を通らず、直接Ｓ９１へ
移行する。すると、続くＳ８１では、針落点Ｑｉと元の
針落点Ｑi+3 （現在Ｑi+2 ）との間にＸ軸５５が設定さ
れ、元の針落点Ｑi+2 （現在Ｑi+1 ）もハーフステッチ
であることが検出できる。なお、Ｓ９３でセットされた
ハーフステッチフラグは、Ｓ３で設定された針落点Ｐｉ
と対応付けてＲＡＭ２５に記憶される。このため、Ｓ９
５による添え字の変更を行っても、ハーフステッチフラ
グが対応する針落点は変化しない。

【００４２】Ｓ８１〜Ｓ９５の処理を繰り返して、２≦
ｉ＋１≦ｎ−１なる全ての針落点Ｑi+1 にＳ８５，８７
によるハーフステッチの判断を行うと、Ｓ９１にて肯定
判断して図６の処理へ移行する。なお、ｉ＋１＝ｎ−１
である針落点Ｑi+1 がハーフステッチでない場合は、Ｓ
８９にてｉが１加算されることによってＳ９１にて肯定
判断され、ハーフステッチである場合は、Ｓ９４にてｎ
が１減算されることによってＳ９１にて肯定判断され
る。

【００４３】図６へ戻って、続くＳ９７では、偶数側の
針落点で点列｛Ｑｉ｝を設定し、Ｓ９８にて同様のハー
フステッチフラグ設定処理（図７）を実行する。なお、
このとき、Ｓ７７で設定される方向フラグＶの値は一般
的に変化し、しきい値ｍ等も点列｛Ｑｉ｝の配置等に応
じて変化する。偶数側の針落点に対してもハーフステッ
チフラグ設定処理（Ｓ９８）が終了すると、Ｓ９９へ移
行する。Ｓ９９では、ハーフステッチフラグがセットさ
れた針落点を無視して、それ以外の仮輪郭の針落点を、
奇数側同士および偶数側同士で線分で結び、ブロックを
作成して一旦処理を終了する。

【００４４】以上説明したブロックデータ作成ルーチン
の具体例を、図１１に示す。図１１（Ａ）に例示する一
針データ６１に対して、上記ルーチンでは、図１１
（Ｂ）に例示するように、ハーフステッチの針落点を無
視して輪郭６３ａ，６３ｂを設定し、図１１（Ｃ）に例
示するブロック６３を作成することができる。なお、図
１１（Ａ）〜（Ｃ）に例示した図形は、キーボード１５
またはマウス１７からの入力に応じて、所望のものをＣ
ＲＴ１３上に表示することができる。

【００４５】以上詳述したように、本実施の形態では、
直交座標系を設定してその座標軸成分（Ｙi+1 ）および
座標軸の方向（方向フラグＶ）を参照する簡単な処理に
よってハーフステッチの針落点を検出することができ
る。このため、装置の製造コストを低減したり、処理速
度を向上させたりすることができる。また、しきい値ｍ
も適宜設定しているので（Ｓ７７）、ハーフステッチを
正確に検出することができ、ハーフステッチの針落点は
使わずに上記直交座標系を設定しているので（Ｓ９
５）、ハーフステッチを一層正確に検出することができ
る。

【００４６】なお、上記実施の形態において、Ｓ８１の
処理およびその処理のプログラムを記憶したＲＯＭ２３
の記憶領域が線分想定手段および座標系設定手段に、Ｓ
８３の処理の内のＹ軸相対座標Ｙi+1 を算出する処理お
よびその処理のプログラムを記憶したＲＯＭ２３の記憶
領域が第２成分算出手段に、Ｓ７７の処理の内の方向フ
ラグＶを設定する処理およびその処理のプログラムを記
憶したＲＯＭ２３の記憶領域が方向判断手段に、Ｓ８
５，８７の処理およびその処理のプログラムを記憶した
ＲＯＭ２３の記憶領域がハーフステッチ判断手段に、そ
れぞれ相当する。

【００４７】また、本発明は上記実施の形態になんら限
定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲
で種々の形態で実施することができる。例えば、上記実
施の形態では、縫製順に従ってハーフステッチの検出を
行っているが、更に逆方向にも同様の検出を行ってもよ
い。次に、この場合の処理について説明する。

【００４８】この場合、Ｓ７５，９８のハーフステッチ
フラグ設定処理では、図７の処理に続いて図１２に示す
処理を実行する。なお、図７の処理と図１２の処理とで
は、検出の方向が異なるのみであるので、相違点につい
て説明する。また、図１２の処理開始時には、点列｛Ｑ
ｉ｝はＳ９５による変更前の状態に戻される。

【００４９】図１２に示すように、先ず、図７と同様に
しきい値ｍ，方向フラグＶ，針落点数ｎをセットし（Ｓ
１０１）、続いて、ｉにｎを、変数ｋに１を、それぞれ
代入する（Ｓ１０３）。ここで、図７の処理では、ハー
フステッチの針落点を検出する度にｎの値を減算してい
た（Ｓ９４）。すなわち変数ｉの終点を補正していた。
これに対して、本ルーチンでは、ハーフステッチの針落
点を検出する度に変数ｉの始点を補正する必要がある。
変数ｋはこの始点を表す変数である。そこで、処理開始
時には、ｋを１に設定する。

【００５０】続くＳ１０５では、図７とは逆方向に、針
落点ＱｉからＱi-2 へ向かうベクトルをＸ軸として直交
座標系を設定する。続いて、Ｓ１０７〜Ｓ１１１へ移行
し、Ｑi+1 に対して図７で行ったのと同様に、Ｑi-1 に
対し、方向フラグＶi-1 およびＹ軸相対座標（Ｙi-1 ）
を算出し（Ｓ１０７）、それらを方向フラグＶおよびし
きい値ｍのと比較して（Ｓ１０９，１１１）、針落点Ｑ
i-1 がハーフステッチであるか否かを判断する。ハーフ
ステッチでない場合（Ｓ１０９またはＳ１１１でＮＯ）
は、ｉを１減算し（Ｓ１１３）、ｉ−１＝ｋとならなけ
れば（Ｓ１１５：ＮＯ）Ｓ１０５へ移行する。

【００５１】また、針落点Ｑi-1 がハーフステッチであ
る場合（Ｓ１０９およびＳ１１１でＹＥＳ）は、針落点
Ｑi-1 に対してハーフステッチフラグをセットし（Ｓ１
１７）、ｋを１加算して（Ｓ１１９）、Ｓ１２１へ移行
する。Ｓ１２１では、針落点Ｑi-1 を点列｛Ｑｉ｝から
除き、針落点Ｑi-2 以前の点列｛Ｑｉ｝の添え字を１加
算して、前述のＳ１１５へ移行する。すなわち、……，
Ｑi-3 ，Ｑi-2 を……，Ｑi-2 ，Ｑi-1 とする。そし
て、ｉ−１＝ｋとなると図６の処理へ移行する。

【００５２】以上の処理により、図７の処理とは逆方向
にハーフステッチの検出を行うことができる。次に、こ
の処理の効果を説明する。図１３に例示するように、ハ
ーフステッチの針落点Ｑ2 ，Ｑ3 が連続し、針落点Ｑ3
の方が深く入り込むことによって、針落点Ｑ1 ，Ｑ2 ，
Ｑ3 がほぼ一直線上に配設される場合、ベクトルＱ1Ｑ3
に基づいてＸ軸７１を設定しても（Ｓ８１）針落点Ｑ2
がハーフステッチであることを検出できない。これに
対して、逆方向にハーフステッチの検出を行う場合、先
ず、ベクトルＱ4 Ｑ2 に基づいてＸ軸７３を設定するこ
とにより（Ｓ１０５）針落点Ｑ3 がハーフステッチであ
ることを検出し（Ｓ１１３）、続いて、ベクトルＱ4 Ｑ
1 に基づいてＸ軸７５を設定することにより（Ｓ１０
５）針落点Ｑ2 もハーフステッチであることを検出する
ことができる（Ｓ１０５）。

【００５３】このように、双方向からハーフステッチの
検出を行う場合、ハーフステッチの針落点が連続して
も、ほとんどの場合に各ハーフステッチの針落点を検出
することができる。従って、ハーフステッチの針落点を
一層正確に検出することができ、一層良好なブロックデ
ータを作成することができる。なお、この場合、Ｓ８１
の処理およびその処理のプログラムを記憶したＲＯＭ２
３の記憶領域が第１線分想定手段に、Ｓ１０５の処理お
よびその処理のプログラムを記憶したＲＯＭ２３の記憶
領域が第２線分想定手段に、それぞれ相当する。また、
本発明の刺繍データ処理装置は、刺繍ミシンに一体に組
み込んでもよい。更に、本発明は、ハーフステッチの検
出を必要とする処理であれば、ブロックデータの作成以
外にも種々の用途に適用することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明が適用されたパソコンの構成を概略的に
表すブロック図である。

【図２】そのパソコンが実行する輪郭データ検出処理を
表すフローチャートである。

【図３】その輪郭データ検出処理の続きを表すフローチ
ャートである。

【図４】その輪郭データ検出処理の更に続きを表すフロ
ーチャートである。

【図５】その輪郭データ検出処理における輪郭点の検出
原理を表す説明図である。

【図６】その処理のブロックデータ作成ルーチンを表す
フローチャートである。

【図７】その処理のハーフステッチフラグ設定ルーチン
を表すフローチャートである。

【図８】方向フラグＶの設定方法を例示する説明図であ
る。

【図９】方向フラグＶi+1 の設定方法を例示する説明図
である。

【図１０】針落点の添え字変更による効果を例示する説
明図である。

【図１１】上記ブロックデータ作成ルーチンの具体例を
例示する説明図である。

【図１２】逆方向のハーフステッチフラグ設定ルーチン
を表すフローチャートである。

【図１３】双方向にハーフステッチの検出を行う効果を
例示する説明図である。

【図１４】従来技術の課題を表す説明図である。

【符号の説明】

１…パソコン １１…パソコン本体 １３…Ｃ
ＲＴ ２１…ＣＰＵ２３…ＲＯＭ ２５…ＲＡ
Ｍ ３１…フロッピディスクドライバ６３…
ブロック ６３ａ，６３ｂ…輪郭 Ｐｉ，Ｑｉ…針
落点

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ジグザグに配設された針落点の位置デー
   タを縫製順に備えた刺繍データから、刺繍模様の内側の
   輪郭の手前に配設されるハーフステッチの針落点を検出
   する刺繍データ処理装置であって、 上記ジグザグの頂点を構成する針落点のｉ（ｉは自然
   数）番目の点とｉ＋４番目の点とを結ぶ線分を想定する
   線分想定手段と、 上記頂点を構成する針落点のｉ＋２番目の点が、上記想
   定された線分に対して、上記頂点を構成する針落点のｉ
   ＋１番目またはｉ＋３番目の点と同様の側に存在する場
   合、そのｉ＋２番目の点をハーフステッチの針落点と判
   断するハーフステッチ判断手段と、 を備えたことを特徴とする刺繍データ処理装置。
2. 【請求項２】 上記ハーフステッチ判断手段が、上記ｉ
   ＋２番目の点が上記線分から所定距離以上離れていると
   きにのみ、その点をハーフステッチの針落点と判断する
   ことを特徴とする請求項１記載の刺繍データ処理装置。
3. 【請求項３】 上記ｉ番目の点から上記ｉ＋４番目の点
   に向けて第１の座標軸を配設すると共に、そのｉ番目の
   点を原点として直交座標系を設定する座標系設定手段
   と、 該設定された直交座標系で、上記ｉ＋２番目の点に対し
   て、上記第１の座標軸と直交する第２の座標軸成分を算
   出する第２成分算出手段と、 上記第２の座標軸が、上記ｉ＋１番目の点またはｉ＋３
   番目の点に対してどちら側に向いているかを判断する方
   向判断手段と、 を更に備え、 上記ハーフステッチ判断手段が、上記第２成分算出手段
   により算出された第２の座標軸成分、および上記方向判
   断手段の判断結果に基づいて、上記ｉ＋２番目の点がハ
   ーフステッチの針落点であるか否かを判断することを特
   徴とする請求項１または２記載の刺繍データ処理装置。
4. 【請求項４】 上記線分想定手段が、 ｉを２つづつ増加させながら順次上記線分を想定し、上
   記針落点のｉ番目の点が上記ハーフステッチ判断手段に
   よりハーフステッチの針落点であると判断されている場
   合、上記ｉ番目の点の代わりに上記針落点のｉ−２ｋ番
   目の点（ｋはその針落点がハーフステッチの点でなくな
   る最小の自然数）を使用して上記線分を想定する第１線
   分想定手段と、 ｉを２つづつ減少させながら順次上記線分を想定し、上
   記針落点のｉ＋４番目の点が上記ハーフステッチ判断手
   段によりハーフステッチの針落点であると判断されてい
   る場合、上記ｉ＋４番目の点の代わりに上記針落点のｉ
   ＋４＋２ｋ番目の点（ｋはその針落点がハーフステッチ
   の点でなくなる最小の自然数）を使用して上記線分を想
   定する第２線分想定手段とを備え、 上記ハーフステッチ判断手段が、上記ｉ＋２番目の点が
   上記第１線分想定手段または上記第２線分想定手段のい
   ずれかに想定された線分に対して、上記ｉ＋１番目また
   はｉ＋３番目の点と同様の側に存在する場合、そのｉ＋
   ２番目の点をハーフステッチの針落点と判断することを
   特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載の刺繍データ
   処理装置。