JP3341212B2 - ヘーズ値測定装置及び測定方法 - Google Patents
ヘーズ値測定装置及び測定方法Info
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- JP3341212B2 JP3341212B2 JP2000180029A JP2000180029A JP3341212B2 JP 3341212 B2 JP3341212 B2 JP 3341212B2 JP 2000180029 A JP2000180029 A JP 2000180029A JP 2000180029 A JP2000180029 A JP 2000180029A JP 3341212 B2 JP3341212 B2 JP 3341212B2
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】ガラス、プラスチックなどの
透明性材料の光の透過性をヘーズ値として測定する装置
及び方法に関し、より詳細には、光源からの平行光束が
試料の測定したい面に正確に入射され、透過し、積分球
内に入るように目視により確認できるようにした構成
と、正確な測定結果を得るためのヘーズ標準板を用いた
測定方法に関する。
透明性材料の光の透過性をヘーズ値として測定する装置
及び方法に関し、より詳細には、光源からの平行光束が
試料の測定したい面に正確に入射され、透過し、積分球
内に入るように目視により確認できるようにした構成
と、正確な測定結果を得るためのヘーズ標準板を用いた
測定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】透明性材料の特性や品質評価の一要素と
して、材料を透過した光の量をヘーズ値として測定する
装置、或いは方法はすでにＩＳＯ、ＪＩＳに規定されて
いる。その例として、「ＪＩＳ Ｋ ７１０５ プラス
チックの光学的特性試験方法」や、「ＩＳＯ １４７８
２ Plastics - Determination of haze for transpare
nt materials」、これに基づく翻訳規格「ＪＩＳ Ｋ
７１３６ プラスチック−透明材料のヘーズの求め方」
などがある。前記ＪＩＳ Ｋ ７１０５には、ヘーズ値
（曇価）は、全光線透過率（Ｔｔ）に対する拡散光透過
率（Ｔｄ）の比として、式（１）に示すように Ｈ＝Ｔｄ／Ｔｔ×１００ （１） と定義されている。また、前記ＪＩＳ Ｋ ７１３６に
おいては、「試験片を通過する透過光のうち、前方散乱
によって、入射光から０．０４４ｒａｄ（２．５°）以
上それた透過光の百分率」と定義している。
して、材料を透過した光の量をヘーズ値として測定する
装置、或いは方法はすでにＩＳＯ、ＪＩＳに規定されて
いる。その例として、「ＪＩＳ Ｋ ７１０５ プラス
チックの光学的特性試験方法」や、「ＩＳＯ １４７８
２ Plastics - Determination of haze for transpare
nt materials」、これに基づく翻訳規格「ＪＩＳ Ｋ
７１３６ プラスチック−透明材料のヘーズの求め方」
などがある。前記ＪＩＳ Ｋ ７１０５には、ヘーズ値
（曇価）は、全光線透過率（Ｔｔ）に対する拡散光透過
率（Ｔｄ）の比として、式（１）に示すように Ｈ＝Ｔｄ／Ｔｔ×１００ （１） と定義されている。また、前記ＪＩＳ Ｋ ７１３６に
おいては、「試験片を通過する透過光のうち、前方散乱
によって、入射光から０．０４４ｒａｄ（２．５°）以
上それた透過光の百分率」と定義している。
【０００３】装置の原理は図２に示す通り、光源からの
光が複数のレンズを通り、試料を通り、積分球に入る１
光路方式であり、積分球には受光器、ライトトラップを
備えた構造である。
光が複数のレンズを通り、試料を通り、積分球に入る１
光路方式であり、積分球には受光器、ライトトラップを
備えた構造である。
【０００４】前記試料は、ＪＩＳ Ｋ ７１０５によれ
ば、試料であるプラスチックスは、フィルム状、板状、
及び成形品のものであり、試験の大きさは、ヘーズ値が
小さい（３０％未満）の場合、５０×５０ｍｍ、厚さは
原厚とし、ヘーズ値が大きく（３０％以上）、厚い場合
は、円形とし、試料ホルダーの内側に密着する大きさと
される。
ば、試料であるプラスチックスは、フィルム状、板状、
及び成形品のものであり、試験の大きさは、ヘーズ値が
小さい（３０％未満）の場合、５０×５０ｍｍ、厚さは
原厚とし、ヘーズ値が大きく（３０％以上）、厚い場合
は、円形とし、試料ホルダーの内側に密着する大きさと
される。
【０００５】更に、具体例として、自動車用安全ガラス
において、車内で使用される内装材のＰＶＣシート、布
地などに含有される低沸点の添加剤や、可塑剤などによ
る、前記ガラスの曇りを評価するウインドウフォギング
テストでは、試験体であるシートや、布地を加熱処理し
て所定のガラスに付着した揮発成分による曇りをヘーズ
値で評価している。この場合、１１０×１１０×３の大
きさのガラス面の数ヶ所を測定し、その平均値を求める
ため、揮発成分の付着した曇りの部分に適確に光をあて
て、測定する必要がある。
において、車内で使用される内装材のＰＶＣシート、布
地などに含有される低沸点の添加剤や、可塑剤などによ
る、前記ガラスの曇りを評価するウインドウフォギング
テストでは、試験体であるシートや、布地を加熱処理し
て所定のガラスに付着した揮発成分による曇りをヘーズ
値で評価している。この場合、１１０×１１０×３の大
きさのガラス面の数ヶ所を測定し、その平均値を求める
ため、揮発成分の付着した曇りの部分に適確に光をあて
て、測定する必要がある。
【０００６】このように、ヘーズ値の測定対象となる試
料には、様々な形態、即ち寸法や厚みの違う試料、自立
性のないフィルムなどがあり、また、成形品から切り出
した試料などがある。図２に示したように、測定試料を
レンズと積分球との間の空間に試料ホルダーを入れて、
或いは試料自体を挿入して積分球開口に密着載置させる
には、前記空間が狭く、手探りで位置調整する必要があ
り、測定したい面が確実に、前記開口に密着載置されて
いるかの確認が容易でなかった。また、その出し入れが
容易でない問題点があった。
料には、様々な形態、即ち寸法や厚みの違う試料、自立
性のないフィルムなどがあり、また、成形品から切り出
した試料などがある。図２に示したように、測定試料を
レンズと積分球との間の空間に試料ホルダーを入れて、
或いは試料自体を挿入して積分球開口に密着載置させる
には、前記空間が狭く、手探りで位置調整する必要があ
り、測定したい面が確実に、前記開口に密着載置されて
いるかの確認が容易でなかった。また、その出し入れが
容易でない問題点があった。
【０００７】一方、このような測定装置を用いたヘーズ
値測定方法については、その計算方式は、 Ｈ＝［（Ｔ４／Ｔ２）−Ｔ３（Ｔ２／Ｔ１）］×１００ （５） 式（５）に示す通りであり、前記装置に基づく拡散光分
を考慮するため、複雑な計算方式になっている。ちなみ
に、Ｔ１は入射光の光束、Ｔ２は試験を透過した全光
束、Ｔ３は装置で拡散した光束、Ｔ４は装置及び試験で
拡散した光束である。
値測定方法については、その計算方式は、 Ｈ＝［（Ｔ４／Ｔ２）−Ｔ３（Ｔ２／Ｔ１）］×１００ （５） 式（５）に示す通りであり、前記装置に基づく拡散光分
を考慮するため、複雑な計算方式になっている。ちなみ
に、Ｔ１は入射光の光束、Ｔ２は試験を透過した全光
束、Ｔ３は装置で拡散した光束、Ｔ４は装置及び試験で
拡散した光束である。
【０００８】前記式（５）の計算方式に示す通りに各項
の測定をするには、入口開口では、試料の出し入れ、出
口開口では、白板とライトトラップとの切換えが必要で
ある。即ち、（イ）入射光の光束のＴ１を測定する時
は、入口開口に試料は入れず、出口開口に参照白板を置
き、（ロ）試験片を透過した全光束のＴ２を測定する時
は、Ｔ１同様に出口開口に参照白板を置き、（ハ）装置
で拡散した光束のＴ３を測定する時は、試料を外し、出
口開口はライトトラップし、（ニ）装置及び試験片で拡
散した光束のＴ４を測定する時は、試料を取り付け、出
口開口はライトトラップして測る。
の測定をするには、入口開口では、試料の出し入れ、出
口開口では、白板とライトトラップとの切換えが必要で
ある。即ち、（イ）入射光の光束のＴ１を測定する時
は、入口開口に試料は入れず、出口開口に参照白板を置
き、（ロ）試験片を透過した全光束のＴ２を測定する時
は、Ｔ１同様に出口開口に参照白板を置き、（ハ）装置
で拡散した光束のＴ３を測定する時は、試料を外し、出
口開口はライトトラップし、（ニ）装置及び試験片で拡
散した光束のＴ４を測定する時は、試料を取り付け、出
口開口はライトトラップして測る。
【０００９】しかし、このような手順を踏んでヘーズ値
を求めたとしても、前記ＪＩＳ Ｋ７１０５記載の光路
や、前記ＪＩＳ Ｋ ７１３６規定の光路の構成は、い
ずれも１光路方式あり、装置の精度が満足すべきものか
どうか確認する必要があった。即ち前記積分球の汚れ、
受光器の劣化などにより、測定結果の信頼性が必ずしも
確保できているとはいえないという問題点があった。
を求めたとしても、前記ＪＩＳ Ｋ７１０５記載の光路
や、前記ＪＩＳ Ｋ ７１３６規定の光路の構成は、い
ずれも１光路方式あり、装置の精度が満足すべきものか
どうか確認する必要があった。即ち前記積分球の汚れ、
受光器の劣化などにより、測定結果の信頼性が必ずしも
確保できているとはいえないという問題点があった。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】従って、本発明は、測
定対象となる試料の様々な形態、表面性状に対応し、試
料を容易に挿入し、積分球開口に載置できるようにし、
且つ測定したい面が、確実に前記開口に密着しているか
の確認作業が容易にできる手段、即ち試料の出し入れが
容易で挿入された試料の測定したい面への横、縦、或い
は斜め方向への位置の調整移動が容易で、前記測定した
い面と、所定開口の面との一致を肉眼で確認出来るよう
な手段の提供と、前記積分球の汚れ、受光器の劣化など
による装置の精度を確認し、これを補正し、信頼性のあ
る測定結果を確保できるヘーズ値の測定方法の提供を目
的とする。
定対象となる試料の様々な形態、表面性状に対応し、試
料を容易に挿入し、積分球開口に載置できるようにし、
且つ測定したい面が、確実に前記開口に密着しているか
の確認作業が容易にできる手段、即ち試料の出し入れが
容易で挿入された試料の測定したい面への横、縦、或い
は斜め方向への位置の調整移動が容易で、前記測定した
い面と、所定開口の面との一致を肉眼で確認出来るよう
な手段の提供と、前記積分球の汚れ、受光器の劣化など
による装置の精度を確認し、これを補正し、信頼性のあ
る測定結果を確保できるヘーズ値の測定方法の提供を目
的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】上記問題を解決するため
に、請求項１において、ヘーズ値の測定装置について、
光源からの光を２光路に分け、集光レンズを介しピンホ
ールに集光し、更に、コリメータレンズで平行光束にし
反射ミラー、絞り機構を介し積分球の所定開口に導き、
一方の光路は所定開口に密着挿入した試料に透過する光
路であって、前記挿入された試料の測定したい面の横、
縦、或いは斜め方向への位置移動を容易にし、前記測定
したい面と、所定開口の面との一致を確認出来るよう
に、前記コリメータレンズ及び反射ミラーを配設した基
板が、該基板の一隅に配設した回転軸を中心に９０°回
動可能に構成し、所定開口前面に確認作業空間を設けた
ことを特徴とするヘーズ値測定装置とした。
に、請求項１において、ヘーズ値の測定装置について、
光源からの光を２光路に分け、集光レンズを介しピンホ
ールに集光し、更に、コリメータレンズで平行光束にし
反射ミラー、絞り機構を介し積分球の所定開口に導き、
一方の光路は所定開口に密着挿入した試料に透過する光
路であって、前記挿入された試料の測定したい面の横、
縦、或いは斜め方向への位置移動を容易にし、前記測定
したい面と、所定開口の面との一致を確認出来るよう
に、前記コリメータレンズ及び反射ミラーを配設した基
板が、該基板の一隅に配設した回転軸を中心に９０°回
動可能に構成し、所定開口前面に確認作業空間を設けた
ことを特徴とするヘーズ値測定装置とした。
【００１２】請求項２において、測定したい面を正確に
積分球の開口面に容易に合致させるための試料ホルダー
として、試料ホルダーの各辺に微調整可能な螺子付試料
取付板を具備したことを特徴とする請求項１記載のヘー
ズ値測定装置とした。
積分球の開口面に容易に合致させるための試料ホルダー
として、試料ホルダーの各辺に微調整可能な螺子付試料
取付板を具備したことを特徴とする請求項１記載のヘー
ズ値測定装置とした。
【００１３】請求項３として、プラスチック、ガラス、
フィルムなどの透明性材料のヘーズ値測定に関するもの
で、光源からの光を、２光路に分け、それぞれ集光レン
ズを介しピンホールに集光し、更に、コリメータレンズ
で平行光束にし反射ミラーを介し積分球の所定開口に導
き、一方の光路の入口開口に密着挿入した試料又はヘー
ズ標準板に透過させるようにし、前記コリメータレンズ
及び反射ミラーを配設した基板を回動可能に構成し、前
記試料又はヘーズ標準板の測定したい面と、入口開口の
面との一致を確記認出来るようにしたヘーズ値測定装置
において、前記平行光束が空気層を通り前記入口開口か
ら積分球に入る入射光量と、前記平行光束を自動にライ
トトラップして装置の拡散光量を測定したのち、ヘーズ
値（Ｈ）、及び全光線透過率（Ｔｔ）の真値が値付けさ
れたヘーズ標準板の拡散透過率（Ｔｄ）を式（１）を変
換した式（２）で求め、次いで該ヘーズ標準板を測定
し、得られた全光線透過率（Ｔｔ１）と、拡散光透過率
（Ｔｄ１）とを、式（３）、式（４）に代入し、 Ｈ＝Ｔｄ／Ｔｔ×１００ （１） Ｔｄ＝Ｈ×Ｔｔ／１００ （２） Ｔｔ／Ｔｔ１＝Ｋｔ （３） Ｔｄ／Ｔｄ１＝Ｋｄ （４） 全光線透過率と、拡散光透過率の補正係数（Ｋｔ）、
（Ｋｄ）を求めて、これを記憶し、次に、試料の測定を
行い、ヘーズ値（Ｈ）の演算式の右辺に前記補正係数
（Ｋｔ）、（Ｋｄ）を乗じてヘーズ値を算出するように
したヘーズ標準板による標準校正を行うことを特徴とす
るヘーズ値測定方法とした。
フィルムなどの透明性材料のヘーズ値測定に関するもの
で、光源からの光を、２光路に分け、それぞれ集光レン
ズを介しピンホールに集光し、更に、コリメータレンズ
で平行光束にし反射ミラーを介し積分球の所定開口に導
き、一方の光路の入口開口に密着挿入した試料又はヘー
ズ標準板に透過させるようにし、前記コリメータレンズ
及び反射ミラーを配設した基板を回動可能に構成し、前
記試料又はヘーズ標準板の測定したい面と、入口開口の
面との一致を確記認出来るようにしたヘーズ値測定装置
において、前記平行光束が空気層を通り前記入口開口か
ら積分球に入る入射光量と、前記平行光束を自動にライ
トトラップして装置の拡散光量を測定したのち、ヘーズ
値（Ｈ）、及び全光線透過率（Ｔｔ）の真値が値付けさ
れたヘーズ標準板の拡散透過率（Ｔｄ）を式（１）を変
換した式（２）で求め、次いで該ヘーズ標準板を測定
し、得られた全光線透過率（Ｔｔ１）と、拡散光透過率
（Ｔｄ１）とを、式（３）、式（４）に代入し、 Ｈ＝Ｔｄ／Ｔｔ×１００ （１） Ｔｄ＝Ｈ×Ｔｔ／１００ （２） Ｔｔ／Ｔｔ１＝Ｋｔ （３） Ｔｄ／Ｔｄ１＝Ｋｄ （４） 全光線透過率と、拡散光透過率の補正係数（Ｋｔ）、
（Ｋｄ）を求めて、これを記憶し、次に、試料の測定を
行い、ヘーズ値（Ｈ）の演算式の右辺に前記補正係数
（Ｋｔ）、（Ｋｄ）を乗じてヘーズ値を算出するように
したヘーズ標準板による標準校正を行うことを特徴とす
るヘーズ値測定方法とした。
【００１４】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図に基づき
説明する。図１は、本発明の実施例の一つであり、２光
路方式の光学系による平面構成図である。図２は、従来
の１光路方式の光学系による正面構成図である。図３
は、本発明の積分球の開口に対する試料の位置移動の実
施態様を示す図である。図４は、各辺に微調整可能な螺
子付試料取付板を設けた試料ホルダーの構成図である。
説明する。図１は、本発明の実施例の一つであり、２光
路方式の光学系による平面構成図である。図２は、従来
の１光路方式の光学系による正面構成図である。図３
は、本発明の積分球の開口に対する試料の位置移動の実
施態様を示す図である。図４は、各辺に微調整可能な螺
子付試料取付板を設けた試料ホルダーの構成図である。
【００１５】図２は、ヘーズ値測定装置の基本型であ
る。図示するように、光源（２）からの光を集光レンズ
（３）を介しピンホール（６）に集光し、更に、コリメ
ータレンズ（９）で平行光束にして、積分球（１７）の
入口開口（２１）に導き、該入口開口（２１）に密着挿
入した試料（２６）に透過する１光路で形成され、積分
球（１７）には受光器（１８）と、ライトトラップ（１
９）を設けて構成されている。
る。図示するように、光源（２）からの光を集光レンズ
（３）を介しピンホール（６）に集光し、更に、コリメ
ータレンズ（９）で平行光束にして、積分球（１７）の
入口開口（２１）に導き、該入口開口（２１）に密着挿
入した試料（２６）に透過する１光路で形成され、積分
球（１７）には受光器（１８）と、ライトトラップ（１
９）を設けて構成されている。
【００１６】本発明は、図１の構成図に示すように、前
記図２と同様の光路を２光路設けた構成で、第１の光路
（３０）は試料に透過させる光路であり、第２の光路
（３１）は入射する積分球の開口を補償開口（２２）と
してある。即ち、積分球に入射した光は積分球内面に照
射させ、一方の第１の光路（３０）によって、ヘーズ値
を測定している際の補償光路としてある。なお、前記補
償開口（２２）に白板（２４）又は試料（２６’）を載
置して、ＪＩＳ Ｋ ７１３６の１光路方式における補
償もできるようにしてある。
記図２と同様の光路を２光路設けた構成で、第１の光路
（３０）は試料に透過させる光路であり、第２の光路
（３１）は入射する積分球の開口を補償開口（２２）と
してある。即ち、積分球に入射した光は積分球内面に照
射させ、一方の第１の光路（３０）によって、ヘーズ値
を測定している際の補償光路としてある。なお、前記補
償開口（２２）に白板（２４）又は試料（２６’）を載
置して、ＪＩＳ Ｋ ７１３６の１光路方式における補
償もできるようにしてある。
【００１７】そして、第１の光路（３０）において、測
定試料を積分球開口の前面に挿入するには、図示しない
カバーを開け、図１に示すように、コリメータレンズ
（９）及び反射ミラー（１１）を配設した基板（１３）
が、該基板の一隅に配設した回転軸（１６）を中心に９
０°回動できるようにした。第２の光路（３１）の補償
開口（２２）側の基板（１３）も同様に回動可能にして
ある。
定試料を積分球開口の前面に挿入するには、図示しない
カバーを開け、図１に示すように、コリメータレンズ
（９）及び反射ミラー（１１）を配設した基板（１３）
が、該基板の一隅に配設した回転軸（１６）を中心に９
０°回動できるようにした。第２の光路（３１）の補償
開口（２２）側の基板（１３）も同様に回動可能にして
ある。
【００１８】これにより、積分球の開口前面に位置決め
作業空間を設けることができる。即ち、図３は、積分球
の開口の正面に試料（２６）を挿入し、試料の測定した
い面への位置移動を示した図であり、測定者が積分球開
口に正対した位置に立ち、該開口に試料の測定したい位
置を密着させるように、肉眼で確認しながら行う。本実
施態様では揮発分により曇を生じたガラス面を試料とし
て、その測定したい面の位置の（ａ）乃至（ｄ）への移
動を行っている
作業空間を設けることができる。即ち、図３は、積分球
の開口の正面に試料（２６）を挿入し、試料の測定した
い面への位置移動を示した図であり、測定者が積分球開
口に正対した位置に立ち、該開口に試料の測定したい位
置を密着させるように、肉眼で確認しながら行う。本実
施態様では揮発分により曇を生じたガラス面を試料とし
て、その測定したい面の位置の（ａ）乃至（ｄ）への移
動を行っている
【００１９】また、図４に示した前記試料ホルダー（４
０）を用いれば、同一の測定試料面の測定したい面を前
記開口に合致させることが容易になる。即ち試料ホルダ
ー（４０）の各辺に微調整可能な螺子付試料取付板（４
１）を設け、試料の測定したい面を標線（４２）に合わ
せるように上下左右に位置移動して固定できるようにし
てある。
０）を用いれば、同一の測定試料面の測定したい面を前
記開口に合致させることが容易になる。即ち試料ホルダ
ー（４０）の各辺に微調整可能な螺子付試料取付板（４
１）を設け、試料の測定したい面を標線（４２）に合わ
せるように上下左右に位置移動して固定できるようにし
てある。
【００２０】ヘーズ値測定方法については、前述したよ
うに、計算式中の各項毎に、白板の取付け、取外し、ラ
イトトラップの取付け、取外し、試料の取付け、取外
し、試料の出し入れ装置など煩瑣な手順が必要であった
が、本発明によれば、簡素に且つ信頼性のある測定結果
が得られる。
うに、計算式中の各項毎に、白板の取付け、取外し、ラ
イトトラップの取付け、取外し、試料の取付け、取外
し、試料の出し入れ装置など煩瑣な手順が必要であった
が、本発明によれば、簡素に且つ信頼性のある測定結果
が得られる。
【００２１】即ち、はじめに平行光束が空気層を通り、
試料（２６）を置かない開口から積分球（１７）に入る
入射光量と、前記平行光束を自動にライトトラップした
状態の装置の拡散光量とが自動に測定され、記憶され
る。次にヘーズ値（Ｈ）、及び全光線透過率（Ｔｔ）の
真値が値付けされたヘーズ標準板（２５）を測定する。
これにより、ヘーズ値（Ｈ １ ）、全光線透過率（Ｔ
ｔ １ ）、拡散光透過率（Ｔｄ １ ）が得られ、該全光線透
過率（Ｔｔ１）と、拡散光透過率（Ｔｄ１）とを、前記
式（３）及び式（４）に示す計算式に代入し、全光線透
過率と、拡散光透過率の補正係数が自動に演算され、こ
れが記憶される。これに次いで、試料を挿入し測定を行
えば、自動にヘーズ値（Ｈ）演算式、式（１）の右辺に
前記補正係数（Ｋｔ）、（Ｋｄ）を乗じてヘーズ値を算
出する。
試料（２６）を置かない開口から積分球（１７）に入る
入射光量と、前記平行光束を自動にライトトラップした
状態の装置の拡散光量とが自動に測定され、記憶され
る。次にヘーズ値（Ｈ）、及び全光線透過率（Ｔｔ）の
真値が値付けされたヘーズ標準板（２５）を測定する。
これにより、ヘーズ値（Ｈ １ ）、全光線透過率（Ｔ
ｔ １ ）、拡散光透過率（Ｔｄ １ ）が得られ、該全光線透
過率（Ｔｔ１）と、拡散光透過率（Ｔｄ１）とを、前記
式（３）及び式（４）に示す計算式に代入し、全光線透
過率と、拡散光透過率の補正係数が自動に演算され、こ
れが記憶される。これに次いで、試料を挿入し測定を行
えば、自動にヘーズ値（Ｈ）演算式、式（１）の右辺に
前記補正係数（Ｋｔ）、（Ｋｄ）を乗じてヘーズ値を算
出する。
【００２２】ここで、ヘーズ値（Ｈ）が１１．０、及び
全光線透過率（Ｔｔ）が９１．７７という真値が値付け
されたヘーズ標準板を測定試料として、従来の方法と、
本発明の方法による測定結果とを比較してみると、従来
の方法では、ヘーズ値（Ｈ）が１０．７６、及び全光線
透過率（Ｔｔ）が９１．７７となり、ヘーズの真値に対
し０．３４の誤差があったが、本発明の方法の場合、ヘ
ーズ値（Ｈ）が１１．０、及び全光線透過率（Ｔｔ）が
９１．７６であり、ヘーズの真値に対し誤差のない結果
が出ている。
全光線透過率（Ｔｔ）が９１．７７という真値が値付け
されたヘーズ標準板を測定試料として、従来の方法と、
本発明の方法による測定結果とを比較してみると、従来
の方法では、ヘーズ値（Ｈ）が１０．７６、及び全光線
透過率（Ｔｔ）が９１．７７となり、ヘーズの真値に対
し０．３４の誤差があったが、本発明の方法の場合、ヘ
ーズ値（Ｈ）が１１．０、及び全光線透過率（Ｔｔ）が
９１．７６であり、ヘーズの真値に対し誤差のない結果
が出ている。
【００２３】
【発明の効果】このように、測定対象となる試料の測定
したい面に正確に積分球の開口にあて、密着させること
を肉眼で確かめる事ができるような積分球の前面の空間
を、回動する基板によって設けることができるように構
成した結果、測定したい面への横、縦、或いは斜め方向
への位置の調整移動が容易で、所定開口の面との一致を
肉眼で確認でき、様々な形態、表面性状に対応できるよ
うになった効果は顕著である。また、本発明のヘーズ値
の測定方法は、該方法中に積分球の汚れ、受光器の劣化
などによる装置の精度の低下を補正する過程を組み込ん
であるため、個々のヘーズ値の測定結果が信頼性のある
ものになり、絶対値的な測定を可能とするものになった
効果も顕著である。
したい面に正確に積分球の開口にあて、密着させること
を肉眼で確かめる事ができるような積分球の前面の空間
を、回動する基板によって設けることができるように構
成した結果、測定したい面への横、縦、或いは斜め方向
への位置の調整移動が容易で、所定開口の面との一致を
肉眼で確認でき、様々な形態、表面性状に対応できるよ
うになった効果は顕著である。また、本発明のヘーズ値
の測定方法は、該方法中に積分球の汚れ、受光器の劣化
などによる装置の精度の低下を補正する過程を組み込ん
であるため、個々のヘーズ値の測定結果が信頼性のある
ものになり、絶対値的な測定を可能とするものになった
効果も顕著である。
【図１】本発明の２光路方式のヘーズ値測定装置の平面
構成図である。
構成図である。
【図２】従来の１光路方式による装置の正面構成図であ
る。
る。
【図３】本発明の積分球の開口に対する試料の位置移動
の実施態様図である。
の実施態様図である。
【図４】本発明の実施例の一つである試料ホルダーの構
成図である。
成図である。
１ ヘーズ値測定装置 ２ 光源 ３，４ 集光レンズ ５，６ ピンホール ７，８ シャッター ９，１０ コリメータレンズ １１，１２ 反射ミラー １３，１４ 基板 １５，１６ 回転軸 １７ 積分球 １８ 受光器 １９ ライトトラップ ２０，２４ 白板 ２１ 入口開口 ２２ 補償開口 ２５ 標準板 ２６，２６’ 試料 ３０ 第１の光路 ３１ 第２の光路 ４０ 試料ホルダー ４１ 螺子付試料取付板 ４２ 標線
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平５−281045（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−143939（ＪＰ，Ａ) 実公 平６−42198（ＪＰ，Ｙ２) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 21/00 - 21/74 ＪＩＣＳＴファイル（ＪＯＩＳ)
Claims (3)
- 【請求項１】 プラスチック、ガラス、フィルムなどの
透明性材料のヘーズ値測定に関するもので、光源（２）
からの光を２光路に分け、それぞれ集光レンズ（３）
（４）を介しピンホール（５）（６）に集光し、更に、
コリメータレンズ（９）（１０）で平行光束にし反射ミ
ラー（１１）（１２）を介し積分球の所定開口（２１）
（２２）に導き、一方の光路は、入口開口（２１）に密
着挿入した試料（２６）に透過する光路であって、前記
挿入された試料（２６）の測定したい面の横、縦、或い
は斜め方向への位置移動を容易にし、前記測定したい面
と、入口開口の面との一致を確認出来るように、前記コ
リメータレンズ及び反射ミラーを配設した基板（１３）
が、該基板（１３）の一隅に配設した回転軸（１５）を
中心に９０°回動可能に構成し、入口開口（２１）前面
に確認作業空間を設けたことを特徴とするヘーズ値測定
装置。 - 【請求項２】 多様な形態の試料の前記測定したい面を
正確に積分球の開口面に合致させるために、試料ホルダ
ー（４０）の各辺に微調整可能な螺子付試料取付板を設
けた試料ホルダーを具備したことを特徴とする請求項１
記載のヘーズ値測定装置。 - 【請求項３】 プラスチック、ガラス、フィルムなどの
透明性材料のヘーズ値測定に関するもので、光源からの
光を、２光路に分け、それぞれ集光レンズを介しピンホ
ールに集光し、更に、コリメータレンズで平行光束にし
反射ミラーを介し積分球の入口開口に導き、一方の光路
の入口開口に密着挿入した試料又はヘーズ標準板に透過
させるようにし、前記コリメータレンズ及び反射ミラー
を配設した基板を回動可能に構成し、前記試料又はヘー
ズ標準板の測定したい面と、入口開口の面との一致を確
認出来るようにしたヘーズ値測定装置において、前記平
行光束が空気層を通り前記入口開口から積分球に入る入
射光量と、前記平行光束を自動にライトトラップして装
置の拡散光量を測定したのち、ヘーズ値（Ｈ）、及び全
光線透過率（Ｔｔ）の真値が値付けされたヘーズ標準板
の拡散透過率（Ｔｄ）を式（１）を変換した式（２）で
求め、次いで該ヘーズ標準板を測定し、得られた全光線
透過率（Ｔｔ１）と、拡散光透過率（Ｔｄ１）とを、式
（３）、式（４）に代入し、 Ｈ＝Ｔｄ／Ｔｔ×１００ （１） Ｔｄ＝Ｈ×Ｔｔ／１００ （２） Ｔｔ／Ｔｔ１＝Ｋｔ （３） Ｔｄ／Ｔｄ１＝Ｋｄ （４） 全光線透過率と、拡散光透過率の補正係数（Ｋｔ）、
（Ｋｄ）を求めて、これを記憶し、次に、試料の測定を
行い、ヘーズ値（Ｈ）の演算式の右辺に前記補正係数
（Ｋｔ）、（Ｋｄ）を乗じてヘーズ値を算出するように
したヘーズ標準板による標準校正を行うことを特徴とす
るヘーズ値測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000180029A JP3341212B2 (ja) | 2000-06-15 | 2000-06-15 | ヘーズ値測定装置及び測定方法 |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000180029A JP3341212B2 (ja) | 2000-06-15 | 2000-06-15 | ヘーズ値測定装置及び測定方法 |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001356092A JP2001356092A (ja) | 2001-12-26 |
| JP3341212B2 true JP3341212B2 (ja) | 2002-11-05 |
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ID=18681199
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000180029A Expired - Lifetime JP3341212B2 (ja) | 2000-06-15 | 2000-06-15 | ヘーズ値測定装置及び測定方法 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN102165282A (zh) * | 2009-02-27 | 2011-08-24 | 三菱重工业株式会社 | 薄膜的检查装置和检查方法 |
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| CN106454241B (zh) * | 2016-10-13 | 2020-02-21 | 北京师范大学 | 一种基于监控视频与社交网络数据的灰霾来源确定方法 |
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-
2000
- 2000-06-15 JP JP2000180029A patent/JP3341212B2/ja not_active Expired - Lifetime
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