KR20130084863A - 투과율 측정 장치 - Google Patents

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KR20130084863A
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권윤영
박경욱
남진수
최재영
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Abstract

본 발명은 투과율 측정 장치에 관한 것으로서 더욱 상세하게는 후(後)분광 방식을 통해 패턴 유리의 투과율 측정에 대한 신뢰성을 확보할 수 있는 패턴 유리의 투과율 측정 장치에 관한 것이다.
이를 위해, 본 발명은 측정 대상물의 전방에 배치되어 상기 측정 대상물을 향해 광을 입사시키는 광원부; 상기 광원부의 후방에 배치되고, 전면에 상기 측정 대상물을 거치시키며, 입사되는 광을 적분하는 적분구; 상기 적분구의 후방에 배치되고, 상기 적분구로부터 적분된 후 방출되는 광을 분광시키는 분광부; 및 상기 분광부의 일측에 배치되고, 상기 분광부로부터 분광된 광을 수광하는 수광부를 포함하는 것을 특징으로 하는 투과율 측정 장치를 제공한다.

Description

투과율 측정 장치{APPARATUS FOR MEASURING THE DEGREE OF TRANSMISSION}
본 발명은 투과율 측정 장치에 관한 것으로서 더욱 상세하게는 후(後)분광 방식을 통해 패턴 유리의 투과율 측정에 대한 신뢰성을 확보할 수 있는 패턴 유리의 투과율 측정 장치에 관한 것이다.
최근, 에너지 자원 부족과 환경오염의 대책으로 고효율 광전지 모듈의 개발이 대규모로 이루어지고 있다. 광전지 모듈(photovoltaic module)의 경우 커버유리의 투과율은 광전지 모듈의 효율에 영향을 준다. 이에, 커버유리 조성비를 이용하여 내부 흡수율을 최소화하거나, 코팅에 의하여 투과율을 향상시키는 등 투과율 향상을 위하여 많은 연구개발이 진행되고 있다. 한편, 커버유리의 투과율 향상을 위해, 커버유리의 광 입사면에 2D 어레이 패터닝(array patterning)을 하여 패턴 유리를 형성하기도 한다. 현재, 패턴 유리는 광전지 모듈뿐만 아니라 평판 디스플레이 장치에도 널리 사용되고 있다.
한편, 유리기판을 생산하는 업체에서는 패턴 유리 생산공정 중에 광을 조사하여 연속적으로 생산되는 패턴 유리의 투과율을 실시간으로 정밀 검사하고 있다.
종래의 패턴 유리의 투과율을 측정하기 위해 사용되는 장치로는 분광계(spectrometer)가 있다. 도 1 및 도 2에 도시한 바와 같이, 이러한 종래의 분광계는 광원(11), 분광기(12), 적분구(13), 디텍터(14)의 기본 광학계로 구성된다. 그런데, ISO 9050 국제 표준에 의하면 태양광에 의한 유리기판(G)의 투과율은 파장 별 투과율에 측정용 표준광원(D65)과 측정계의 파장 별 감도 가중치를 곱하여 계산하도록 규정하고 있다. 이에, 종래 분광계는 380~780㎚의 가시광 파장의 빛을 모두 수광한 후 처리 과정을 거쳐 파장 별 투과율을 나타내도록 구현된다. 즉, 종래 분광계를 이용하여 유기기판(G)의 투과율을 측정하기 위해서는 관심 대상의 파장 별 투과율이 모두 필요하다.
그런데, 도 3에 도시한 바와 같이, 패턴 유리의 경우 고정된 디텍터(14)로 수광을 하면, 광의 투과 후 확산이 커, 정확한 투과율을 측정하지 못한다. 이는, 도 3의 (a)에서 알 수 있듯이 입사광이 패턴 유리(G)를 투과한 후 확산이 심한 경우 적분구(13)에 고정된 디텍터(14)에서 빛을 수광하지 못하는 경우가 발생하기 때문이다. 여기서, 도 3의 (b)는 도 2의 (a) 즉, 패턴 유리와 비교하기 위해, 패턴이 없는 유리에 레이저 빔을 통과시킨 후 확산된 레이저 빔의 형상을 도시한 것이다.
이에 따라, 종래 분광계를 이용하여 패턴 유리의 투과율을 측정하는 경우 그 결과를 신뢰할 수 없다는 문제점이 있다. 이는, 도 4에 도시한 바와 같이, 파장 별로 유리에서 공기 중으로 출사각이 달라, 고정된 디텍터(14)에서 수광되는 광량에 측정 에러(error)가 발생할 수 있기 때문인데, 특히, 패턴 유리와 같이, 투과된 광의 산란이 심하여 출사각이 다양한 분포를 가지게 되면, 파장 별로 적분 경로 및 양상이 다르기 때문에, 고정된 디텍터(14)로는 수광 광량 측정에 대한 에러 발생 확률이 더욱 높아진다. 즉, 결정계 태양전지용 커버 유리는 투과율을 높이기 위해 상부에 패턴을 두어 반사를 저감시키고 투과 광량을 향상시키는데, 이러한 패턴이 있는 태양전지용 커버 유리 즉, 패턴 유리를 종래 선(先)분광 후(後)수광 방식의 분광계로 측정할 경우 정확한 투과율을 측정할 수 없고 패턴 유리의 고 투과 효과를 검증할 수 없다.
도 5는 종래 분광계를 이용하여 패턴 유리의 파장 별 투과율 측정 결과를 나타낸 그래프로, 패턴 유리의 투과율이 87.5%로 측정되었으나, 이의 시뮬레이션 투과율은 약 92.3%로 나타났다. 그리고 도 6에 도시한 바와 같이, 패턴 유리(G)를 직투과 방식으로 측정한 경우 복합 파장에 대한 투과율이 약 92.46%로 측정되었으므로, 종래 분광계를 사용하여 패턴 유리(G)의 투과율을 측정할 경우 측정 에러가 있음을 확인할 수 있었다.
하지만, 도 6의 직투과 방식의 투과율 측정은 파장 별 투과율을 볼 수 없는 단점이 있어 패턴 유리의 파장 별 투과율을 확인하는 측정 장치로는 한계가 있다.
즉, 종래의 투과율 측정 장치로는 패턴 유리(G)의 파장 별 투과율을 신뢰성 있게 측정하는데 분명한 한계가 있었다.
본 발명은 상술한 바와 같은 종래기술의 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은 후(後)분광 방식을 통해 패턴 유리의 투과율 측정에 대한 신뢰성을 확보할 수 있는 투과율 측정 장치를 제공하는 것이다.
이를 위해, 본 발명은 측정 대상물의 전방에 배치되어 상기 측정 대상물을 향해 광을 입사시키는 광원부; 상기 광원부의 후방에 배치되고, 전면에 상기 측정 대상물을 거치시키며, 입사되는 광을 적분하는 적분구; 상기 적분구의 후방에 배치되고, 상기 적분구로부터 적분된 후 방출되는 광을 분광시키는 분광부; 및 상기 분광부의 일측에 배치되고, 상기 분광부로부터 분광된 광을 수광하는 수광부를 포함하는 것을 특징으로 하는 투과율 측정 장치를 제공한다.
여기서, 상기 광원부는, 할로겐 램프, 상기 할로겐 램프의 후방에 배치되는 광 필터, 상기 할로겐 램프의 전방에 배치되는 반사판, 및 상기 광 필터의 후방에 배치되는 포커싱 렌즈를 포함할 수 있다.
이때, 상기 할로겐 램프, 상기 광 필터, 상기 반사판 및 상기 포커싱 렌즈는 블랙 쉴드 내에 배치되어 있을 수 있다.
또한, 상기 블랙 쉴드에는 상기 포커싱 렌즈를 통과한 광을 외부로 방출시키는 제1 광섬유가 설치되어 있을 수 있다.
그리고 상기 광원부와 상기 측정 대상물 사이에는 상기 광원부로부터 방출된 광을 평행광으로 만드는 콜리메이션 렌즈가 배치될 수 있다.
이때, 상기 콜리메이션 렌즈와 상기 측정 대상물 사이에는 조리개가 배치될 수 있다.
아울러, 상기 측정 대상물은 상기 적분구의 전면에 밀착될 수 있다.
게다가, 상기 적분구 내에서 적분된 광은 상기 적분구 후면에 설치되어 있는 제2 광섬유를 통해 상기 분광부 측으로 방출될 수 있다.
또한, 상기 수광부로부터 전달되는 신호를 이용하여 상기 측정 대상물의 투과율을 산출하고 표시하는 신호 처리부를 더 포함할 수 있다.
그리고 상기 측정 대상물은 패턴 유리일 수 있다.
본 발명에 따르면, 후(後)분광 방식을 통해 패턴 유리의 투과율을 측정함으로써, 측정된 패턴 유리 투과율 값에 대한 신뢰성을 확보할 수 있다. 즉, 종래의 선(先)분광 후(後)수광 방식에 의한 패턴 유리에 대한 투과광 측정 에러(error)를 최소화할 수 있고, 이를 통해, 종래 투과율 측정 장치로 측정 불가했던 태양전지용 패턴 유리의 파장별 투과율 측정이 가능한 효과가 있다.
또한, 본 발명에 따르면, 패턴의 형상과 크기에 따른 고투과 효과 검증이 가능한 효과가 있다.
또한, 본 발명에 따르면, 태양전지용 유리뿐만 아니라 표면에 구조(structure) 혹은 패턴(pattern)을 가진 플라스틱, 필름 등 다양한 샘플의 투과율 측정이 가능한 효과가 있다.
도 1은 종래 기술에 따른 투과율 측정 장치를 나타낸 모식도.
도 2는 적분구 내부의 광 경로를 나타낸 모식도.
도 3은 샘플의 종류 별 투과광 이미지.
도 4는 패턴 유리의 각 경계면에서 입사각과 출사각과의 관계를 나타낸 도면.
도 5는 종래의 투과율 측정 장치로 고투과 패턴 유리의 투과율 측정 결과를 나타낸 그래프.
도 6은 패턴 유리에 대한 직투과 측정 방식을 나타낸 모식도.
도 7은 본 발명의 실시 예에 따른 투과율 측정 장치를 개략적으로 나타낸 모식도.
도 8은 본 발명의 실시 예에 따른 투과율 측정 장치의 구성도.
도 9는 종래 투과율 측정 장치와 본 발명의 실시 예에 따른 투과율 측정 장치의 투과율 측정 값을 비교하여 나타낸 그래프.
도 10은 본 발명의 실시 예에 따른 투과율 측정 장치로, 평판 유리와 패턴 유리의 투과율 측정값을 비교하여 나타낸 그래프.
이하에서는 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 실시 예에 따른 투과율 측정 장치에 대해 상세히 설명한다.
아울러, 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지 기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단된 경우 그 상세한 설명은 생략한다.
도 7에 도시한 바와 같이, 본 발명의 실시 예에 따른 투과율 측정 장치는 평판 유리는 물론, 표면에 요철 혹은 구조(structure)를 가진 플라스틱, 필름 특히, 태양 전지의 커버유리로 사용되는 패턴 유리의 투과율 측정값에 대한 신뢰성을 확보하기 위해 후(後)분광 방식으로 투과율을 측정하는 장치로, 광원부(110), 적분구(120), 분광부(130) 및 수광부(140)를 포함하여 형성된다.
광원부(110)는 패턴 유리와 같은 측정 대상물(G)의 투과율 측정에 필요한 광을 발생시키는 장치로, 측정 대상물(G)의 전방에 배치되어 측정 대상물(G)을 향해 광을 입사시킨다. 도 8에 도시한 바와 같이, 이러한 광원부(110)는 할로겐 램프(111), 광 필터(112), 반사판(113) 및 포커싱 렌즈(114)를 포함하여 형성될 수 있다. 여기서, 복합 파장을 갖는 할로겐 램프(111)의 후방에 태양광 스펙트럼을 모사할 수 있는 광 필터(112)가 인접 배치되고, 할로겐 램프(111)의 전방에는 할로겐 램프(111)로부터 전방으로 방출되는 광을 측정 대상물(G)이 있는 후방으로 반사시키는 반사판(113)이 배치되며, 광 필터(112) 후방에는 광 필터(112)를 통과하며 발산하는 광을 모아주는 포커싱 렌즈(114)가 배치될 수 있다. 이때, 반사판(113)은 알루미늄(Al) 재질일 수 있다.
한편, 할로겐 램프(111)로부터 방출된 광이 측정 대상물(G)에 입사될 때까지 광축을 벗어난 광이 측정 노이즈로 작용하는 것을 막기 위해, 상기 광원부(110)를 구성하는 구성요소들은 블랙 쉴드(115) 내에 배치되는 것이 바람직하다. 이때, 포커싱 렌즈(114)는 광 필터(112)를 통과하며 발산하는 광을 블랙 쉴드(115)의 후면에 설치되어 있는 제1 광섬유(101)로 모아주게 된다. 이에, 제1 광섬유(101)는 발광부(110)로부터 방출된 광에 대해 손실을 최소화하는 형태로 측정 대상물(G)로 전송하게 된다. 이러한 제1 광섬유(101)은 유리 재질일 수 있다.
이때, 제1 광섬유(101)로부터 출광된 광은 측정 대상물(G)로 입사되기 전, 광원부(110)과 측정 대상물(G) 사이에 배치되어 있는 콜리메이션 렌즈(collimation lens)(116)를 통과하며 평행광으로 만들어진다. 또한, 이 평행광은 콜리메이션 렌즈(116)와 측정 대상물(G) 사이에 배치되어 있는 조리개(aperture)(117)에 의해 측정 대상물(G)에 입사되는 광량이 조절될 수 있다.
적분구(integrating sphere)(120)는 파장에 대하여 되도록 비선택적이고 완전 확산에 가까운 반사물질을 내면에 칠한 중공의 구이다. 이러한 적분구(120)는 광원부(110)의 후방에 배치되어 광을 적분한다. 또한, 적분구(120)의 전면에는 측정 대상물(G)이 거치되는데, 조리개(117)를 통과하는 산란광의 손실을 방지하기 위해, 측정 대상물(G)은 적분구(120)의 전면에 밀착되도록 거치되는 것이 바람직하다. 즉, 측정 대상물(G)에는 할로겐 램프(111)로부터 방출된, 분광되지 않은 복합 파장의 광이 입사되고, 적분구(120)는 측정 대상물(G)을 투과한 광을 동일하게 적분한다. 이때, 측정 대상물(G) 투과 후 산란광이 발생하지 않도록 하기 위해, 적분구(120)의 크기 및 기준광이 입사되는 포트의 크기를 시뮬레이션을 통해 최적화하는 하는 것이 바람직하다. 그리고 이와 같이, 동일하게 적분된 복합 파장의 광은 파장 별로 분광되어 측정 대상물(G)의 투과율로 산출되는데, 이에 대해서는 하기에서 보다 상세히 설명하기로 한다.
한편, 적분구(120) 내에서 적분된 광은 적분구(120)의 후면에 설치되어 있는 제2 광섬유(102)를 통해 광 손실이 최소화된 상태로 분광부(130) 방향으로 방출될 수 있다.
분광부(130)는 적분구(120)로부터 적분된 후 제2 광섬유(102)를 통해 방출되는 광을 분광시키는 장치로, 적분구(120)의 후방에 배치된다. 이를 통해, 본 발명의 실시 예에서는 측정 대상물(G)에 대한 광의 입사 기준으로, 종래의 선(先) 분광 방식이 아닌 후(後) 분광 방식의 투과율 측정 장치(100)를 구성한다. 즉, 본 발명의 실시 예에 따른 투과율 측정 장치(100)는 종래의 측정 방식과 달리, 할로겐 램프(111)로부터 방출된 복합 파장의 광이 측정 대상물(G)을 투과한 후 모두 동일한 조건으로 적분된 광에 대해 파장 별로 후(後) 분광하여 투과율을 계산한다. 이와 같이, 전면에 측정 대상물(G)이 밀착 거치되어 있는 적분구(120)의 후방에 분광부(130)를 배치하면, 적분구(120) 내부의 파장 별 적분 양상의 비 동일성에 의한 에러(error)를 최소화할 수 있고, 이를 통해, 종래 투과율 측정 장치로 측정 불가했던 태양전지용 패턴 유리의 파장 별 투과율을 측정할 수 있게 되고, 아울러, 패턴 유리의 고투과 효과에 대한 검증이 가능해진다.
이러한 분광부(130)는 그레이팅(grating)(131)으로 이루어질 수 있다. 이러한 그레이팅(131)은 적분된 광을 한 번에 모두 분광시키게 된다. 그리고 제2 광섬유(102)의 끝단, 즉, 적분된 광이 방출되는 부분에는 방출된 광을 그레이팅(131)으로 반사시키는 반사판(132)이 설치될 수 있다.
수광부(140)는 분광부(130)로부터 분광된 광을 수광하는 장치로, 분광부(130)의 일측, 즉, 광이 분광되는 방향에 배치된다. 이러한 수광부(140)는 CCD(charge coupled device) 어레이로 구성되어 각 파장 별로 맺힌 투과 광량을 측정할 수 있다. 이때, 수광부(140)는 측정 대상물(G) 거치 전 광량을 측정하여 측정 대상물(G) 거치 후 광량에 대한 비교 값으로 활용할 수 있다. 또한, 수광부(140)는 하나의 디텍터(detector)로 구성되어 광량을 측정할 수도 있다. 이 경우에는 그레이팅(131)을 회전시키면서 파장 별로 굴절되어 나오는 각을 예상하여 디텍터를 회전시키며 광량을 측정할 수 있다.
한편, 이와 같이, 수광부(140)를 통해 측정된 광량은 수치적으로 계산되어 이용자에게 제공되어야 한다. 이를 위해, 본 발명의 실시 예에서는 신호 처리부(150)를 포함할 수 있다. 이러한 신호 처리부(150)는 수광부(140)로부터 전달되는 광량에 대한 전기적 신호를 이용하여 측정 대상물(G)의 투과율을 산출하고 표시하게 된다. 이러한 신호 처리부(150)는 AD 보드 혹은 PC와 같은 DAQ(data acquisition) 시스템으로 구축될 수 있다.
도 9는 종래 투과율 측정 장치와 본 발명의 실시 예에 따른 투과율 측정 장치의 패턴 유리에 대한 투과율 측정 값을 비교하여 나타낸 그래프로, 본 발명의 실시 예에 따른 투과율 측정 장치(100)를 통해 측정한 투과율 값은 92%로 나타났는데, 이는 패턴 유리에 대한 시뮬레이션 투과율 값인 약 92.3%와 거의 동일하게 나타났다. 이에 반해, 종래 투과율 측정 장치를 통해 패턴 유리에 대한 투과율을 측정한 결과, 89%로 나타나 상당한 오차 범위를 갖는 것으로 확인되었다. 즉, 종래 투과율 측정 장치를 통해서는 패턴 유리의 신뢰성 있는 투과율 값을 측정하는 것이 불가능한 것으로 확인되었다.
또한, 도 10은 본 발명의 실시 예에 따른 투과율 측정 장치로, 평판 유리와 패턴 유리의 투과율 측정값을 비교하여 나타낸 그래프이다. 즉, 본 발명의 실시 예에 따른 투과율 측정 장치(100)는 패턴 유리의 투과율 측정에만 국한된 것이 아니라 평판 유리에 대한 신뢰성 있는 투과율을 측정할 수도 있고, 나아가, 표면에 요철 혹은 구조(structure)를 가진 플라스틱, 필름 등 다양한 샘플에 대한 신뢰성 있는 투과율 측정이 가능하다.
이상과 같이 본 발명은 비록 한정된 실시 예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명은 상기의 실시 예에 한정되는 것은 아니며, 본 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이러한 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능하다.
그러므로 본 발명의 범위는 설명된 실시 예에 국한되어 정해져서는 아니 되며, 후술하는 특허청구범위뿐만 아니라 특허청구범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.
100: 투과율 측정 장치 110: 광원부
111: 할로겐 램프 112: 광 필터
113: 반사판 114: 포커싱 렌즈
115: 블랙 쉴드 116: 콜리메이션 렌즈
117: 조리개 120: 적분구
130: 분광부 131: 그레이팅
132: 반사판 140: 수광부
150: 신호 처리부 101: 제1 광섬유
102: 제2 광섬유 G: 측정 대상물

Claims (10)

  1. 측정 대상물의 전방에 배치되어 상기 측정 대상물을 향해 광을 입사시키는 광원부;
    상기 광원부의 후방에 배치되고, 전면에 상기 측정 대상물을 거치시키며, 입사되는 광을 적분하는 적분구;
    상기 적분구의 후방에 배치되고, 상기 적분구로부터 적분된 후 방출되는 광을 분광시키는 분광부; 및
    상기 분광부의 일측에 배치되고, 상기 분광부로부터 분광된 광을 수광하는 수광부;
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 투과율 측정 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 광원부는,
    할로겐 램프,
    상기 할로겐 램프의 후방에 배치되는 광 필터,
    상기 할로겐 램프의 전방에 배치되는 반사판, 및
    상기 광 필터의 후방에 배치되는 포커싱 렌즈를 포함하는 것을 특징으로 하는 투과율 측정 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 할로겐 램프, 상기 광 필터, 상기 반사판 및 상기 포커싱 렌즈는 블랙 쉴드 내에 배치되어 있는 것을 특징으로 하는 투과율 측정 장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 블랙 쉴드에는 상기 포커싱 렌즈를 통과한 광을 외부로 방출시키는 제1 광섬유가 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 투과율 측정 장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 광원부와 상기 측정 대상물 사이에는 상기 광원부로부터 방출된 광을 평행광으로 만드는 콜리메이션 렌즈가 배치되는 것을 특징으로 하는 투과율 측정 장치.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 콜리메이션 렌즈와 상기 측정 대상물 사이에는 조리개가 배치되는 것을 특징으로 하는 투과율 측정 장치.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 측정 대상물은 상기 적분구의 전면에 밀착되는 것을 특징으로 하는 투과율 측정 장치.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 적분구 내에서 적분된 광은 상기 적분구 후면에 설치되어 있는 제2 광섬유를 통해 상기 분광부 측으로 방출되는 것을 특징으로 하는 투과율 측정 장치.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 수광부로부터 전달되는 신호를 이용하여 상기 측정 대상물의 투과율을 산출하고 표시하는 신호 처리부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 투과율 측정 장치.
  10. 제1항 내지 제9항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 측정 대상물은 패턴 유리인 것을 특징으로 하는 투과율 측정 장치.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200126532A (ko) * 2019-04-30 2020-11-09 한국건설생활환경시험연구원 태양광 모듈의 광 투과율 측정 시스템

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101441359B1 (ko) * 2012-01-16 2014-09-23 코닝정밀소재 주식회사 광전지용 커버유리의 투과율 측정장치
CN103472039B (zh) * 2013-09-30 2015-05-27 哈尔滨工业大学 基于积分球反射及透射的半透明材料光谱法向发射率测量方法
DE102014115317A1 (de) * 2014-10-21 2016-04-21 cibite AG Verfahren und Vorrichtung zur Ermittlung des Transmissionsgrads eines Flachglas-Substrats
DE102014115318A1 (de) * 2014-10-21 2016-04-21 cibite AG Verfahren und Vorrichtung zur Überprüfung des Transmissionsgrads eines Flachglas-Substrats
CN105115907A (zh) * 2015-08-17 2015-12-02 中国科学院等离子体物理研究所 一种滤光片光谱透过率测量装置
CN106501221B (zh) * 2016-10-09 2019-07-02 东北石油大学 一种测量含石蜡材料玻璃结构太阳能透射特性的实验装置
CN107064070B (zh) * 2017-05-02 2018-10-26 北京奥博泰科技有限公司 一种用于测量中空玻璃的透射比和反射比的装置及方法
CN108195798B (zh) * 2017-12-22 2020-09-25 苏州玻色智能科技有限公司 应用在极低透光极小光孔的玻璃样品透过率测定仪
CN109000884B (zh) * 2018-05-04 2020-12-01 芜湖良匠机械制造有限公司 一种用于监测玻璃基板透光性的检测装置
CN113376125A (zh) * 2021-06-16 2021-09-10 许闯 一种汽车玻璃透光率检测设备

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR890001688B1 (ko) 1985-08-03 1989-05-13 재단법인 한국표준연구소 시료의 색측정용 분광광도계 시스템
JPH07120323A (ja) 1993-10-25 1995-05-12 Nissan Motor Co Ltd 金属表面色測定装置
DE19528855A1 (de) * 1995-08-05 1997-02-06 Leybold Ag Verfahren und Vorrichtung zur spektralen Remissions- und Transmissionsmessung
JPH10332582A (ja) 1997-05-28 1998-12-18 Kyowa Medex Co Ltd 濁度測定装置
JP3871415B2 (ja) * 1997-11-06 2007-01-24 株式会社トプコン 分光透過率測定装置
JP3341212B2 (ja) 2000-06-15 2002-11-05 スガ試験機株式会社 ヘーズ値測定装置及び測定方法
JP2004108781A (ja) 2002-09-13 2004-04-08 Mamiya Op Co Ltd 小型分光器
KR100970244B1 (ko) 2008-06-24 2010-07-16 주식회사 신코 적분구 탑재형 분광 광도계
JP5161755B2 (ja) 2008-12-25 2013-03-13 浜松ホトニクス株式会社 分光測定装置、分光測定方法、及び分光測定プログラム

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200126532A (ko) * 2019-04-30 2020-11-09 한국건설생활환경시험연구원 태양광 모듈의 광 투과율 측정 시스템

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