KR100675216B1 - 헤이즈 측정 방법 및 그 장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 헤이즈 측정 방법 및 그 장치에 관한 것으로, 곡면이 있는 시료와 적분구 사이에 널 렌즈(null lens)를 추가하여 상기 시료를 통해 적분구로 입사하는 광이 굴절되지 않도록 함으로써, 시료의 형상에 상관없이 헤이즈를 정확하게 측정할 수 있는 장점이 있다.
이를 위한 본 발명에 의한 헤이즈 측정 방법은, 광원으로부터 발생된 광을 시료를 통해 투과하는 단계; 상기 시료를 통해 투과된 광을 널 렌즈를 통해 평행광으로 만드는 단계; 및 상기 널 렌즈를 통해 투과된 평행광을 적분구를 통해 평행광과 확산광으로 분리한 후 헤이즈를 측정하는 단계;를 포함한다.
헤이즈(haze), 적분구, 널(null) 렌즈, 평행광, 확산광

Description

헤이즈 측정 방법 및 그 장치{METHOD OF MEASURING HAZE AND APPARATUS THEREOF}
도 1a 및 도 1b는 종래 기술에 따른 헤이즈 측정 방법을 설명하기 위한 도면으로서,
도 1a는 시료의 전광선 투과광을 측정하는 방법을 설명하기 위한 도면이고,
도 1b는 시료의 확산광을 측정하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 2a 및 도 2b는 종래 기술에 따라 평면 시료 및 곡면 시료에 대해 헤이즈를 측정하는 방법을 설명하기 위한 설명도
도 3 및 도 4는 본 발명에 의한 헤이즈 측정 방법을 설명하기 위한 도면으로서,
도 3은 시료의 전광선 투과광을 측정하는 방법을 설명하기 위한 도면이고,
도 4는 시료의 확산광을 측정하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.
<도면의 주요 부호에 대한 설명>
10 : 광원 20 : 시료(곡면이 있는 시료)
30 : 적분구(integrated sphere) 30a : 제 1 개구부
30b : 제 2 개구부 30c : 제 3 개구부
40a : 제 1 센서 40b : 제 2 센서
50 : 널 렌즈(Null Lens)
본 발명은 헤이즈(haze; 탁도) 측정 방법 및 그 장치에 관한 것으로, 특히 육안만으로 평가를 해오던 곡면이 있는 시료의 헤이즈(haze) 특성을 정량화하여 측정할 수 있는 헤이즈 측정 방법 및 그 장치에 관한 것이다.
일반적으로, 헤이즈 측정 장치는 유리(glass), 플라스틱(plastics) 등의 투명성 재료의 빛의 투과성을 헤이즈(haze) 값으로 측정하는 장치이다. 투명한 유리, 플라스틱, 필름 등의 재료를 투과한 빛의 양을 헤이즈 값으로서 측정하는 장치 또는 방법은 이미 국제표준화기구(ISO)에 규정되어 있다. 그 예로서, 「ISO 7105 플라스틱의 광학적 특성 시험 방법」, 「ISO 14782 플라스틱-투명 재료의 헤이즈 측정 방법」 등이 있다.
종래의 헤이즈 측정 장치에 있어서, 평평한 시료에 대한 헤이즈는 측정이 가능하지만 곡면이 있는 시료에 대해서는 측정이 불가능하였다. 따라서, 종래에는 곡면이 있는 시료의 경우 육안으로 헤이즈를 평가할 수밖에 없었다. 이로 인해, 측정 자의 오차 발생으로 인한 측정의 정확성 및 반복성을 만족시킬 수가 없었다.
그러면, 첨부된 도면을 참조하여 종래의 헤이즈 측정 방법에 대해 알아보고 그 문제점에 대해 더 구체적으로 설명하기로 한다.
도 1a 및 도 1b는 종래 기술에 따른 헤이즈 측정 방법을 설명하기 위한 도면으로서, 도 1a는 시료의 전광선(全光線) 투과광을 측정하는 방법을 설명하기 위한 도면이고, 도 1b는 시료의 확산광(擴散光)을 측정하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.
종래의 헤이즈 측정 장치는 도 1a 및 도 1b에 도시된 바와 같이, 광(光)을 발생시키는 광원(1)과, 상기 광원(1)으로부터 발생된 광을 입사하는 시료(2)와, 상기 시료(2)를 투과한 광을 검출하여 헤이즈를 측정하는 적분구(integrated sphere)(3)를 구비한다.
그리고, 상기 적분구(3)에는 상기 시료(2)를 투과한 광을 입사하는 제 1 개구부(3a)와, 상기 제 1 개구부(3a)와 대향되는 위치에 형성된 제 2 개구부(3b)와, 상기 제 1 및 제 2 개구부(3a)(3b)와의 수직 방향에 형성된 제 3 개구부(3c)를 구비한다. 또한, 상기 제 2 개구부(3b)에는 상기 시료(2)를 투과한 광(光) 중에서 평행광(平行光)을 측정하는 제 1 센서(4a)를 구비하고, 상기 제 3 개구부(3c)에는 상기 시료(2)를 투과한 광(光) 중에서 확산광(擴散光)을 측정하는 제 2 센서(4b)를 구비한다. 여기서, 헤이즈를 측정하고자 하는 상기 시료(2)는 유리, 플라스틱 등과 같은 투명성 재질의 평면 시료이다.
상기 광원(1)으로부터 발생된 광(光)은 상기 시료(2)를 통해 평행광(PT)과 확산광(DT) 성분으로 분리되어 상기 적분구(3) 내부로 입사된다. 이때, 상기 적분구(3)에서는 상기 시료(2)를 통해 입사되는 평행광(PT)과 확산광(DT) 성분을 검출하여 헤이즈를 측정하게 된다.
상기 헤이즈(haze)를 구하는 식은 아래 수학식 1과 같이 평행광(또는, 전광선 투과광)(PT)에 대한 확산광(DT)의 비율로 나타낸다.
Figure 112005046275339-pat00001
따라서, 상기 수학식 1로부터 평행광(PT)과 확산광(DT)의 비율을 알 수 있으면 헤이즈를 측정할 수 있다.
여기서, 상기 시료(2)를 투과한 평행광(PT)은 도 1a에 도시된 바와 같이, 상기 적분구(3)의 제 2 개구부(3b)에 설치된 제 1 센서(4a)를 이용하여 측정하고, 상기 시료(2)를 투과한 확산광은 도 1b에 도시된 바와 같이, 상기 적분구(3)의 제 3 개구부(3c)에 설치된 제 2 센서(4b)를 이용하여 측정한다. 이와 같은, 시료의 헤이즈 측정에 관한 규격은 국제표준화기구(ISO) FDIS 14782에 규정되어 있다.
도 2a 및 도 2b는 종래 기술에 따라 평면 시료 및 곡면 시료에 대해 헤이즈를 측정하는 방법을 설명하기 위한 설명도이다.
먼저, 도 2a는 도 1에서와 같이, 시료 면이 평평한 평면 시료(2a)의 헤이즈 를 측정하는 방법을 나타낸 것으로, 상기 평면 시료(2a)를 통과한 광이 평행광(PT)과 확산광(DT)으로 분리되어 적분구(3)를 입사되므로, 상기 평행광(PT)과 확산광(DT)의 비율을 알면 상기 수학식 1로부터 헤이즈를 구할 수 있다. 이때, 상기 평행광(PT)과 확산광(DT)의 비율은 앞에서 설명한 바와 같이, 상기 적분구(3)에 구비된 제 1 및 제 2 센서(4a)(4b)로부터 검출할 수 있다.
그 다음, 도 2b에서는 시료가 평면이 아닌 곡면이 있는 시료(2b)를 사용하여 헤이즈를 측정하였다. 상기 곡면이 있는 시료(2b)의 경우, 상기 광원(1)으로부터 입사된 광이 상기 곡면 시료(2b)를 통과하면서 굴절이 되어 수렴 또는 발산이 일어난다. 따라서, 상기 곡면 시료(2b)를 통해 상기 적분구(3) 내부로 입사하는 광은 수렴 또는 발산이 된 광(光)만이 입사하게 된다. 그러므로, 상기 곡면이 있는 시료(2b)의 경우에는 상기 시료(2b)를 투과한 광이 수렴 또는 발산되므로 평행광(PT)과 확산광(DT)을 정확히 측정할 수 없기 때문에 헤이즈를 측정할 수가 없었다.
이와 같이, 종래의 헤이즈 측정 방법 및 그 장치에서는 필름(film)과 같이 평면을 갖는 시료에 대해서는 헤이즈 측정이 가능하였지만, 렌즈와 같이 곡면을 갖는 시료에 대해서는 적분구로 입사하는 광이 굴절되기 때문에 헤이즈를 정확하게 측정할 수 없는 문제점이 있었다.
따라서, 본 발명은 상기 문제점을 해결하기 위하여 이루어진 것으로, 본 발 명의 목적은 곡면이 있는 시료와 적분구 사이에 널 렌즈(null lens)를 추가하여 상기 시료를 통해 적분구로 입사하는 광이 굴절되지 않도록 함으로써, 시료의 형상에 상관없이 헤이즈를 정확하게 측정할 수 있는 헤이즈 측정 방법 및 그 장치를 제공하는 데 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 의한 헤이즈 측정 방법은, 광원으로부터 발생된 광을 시료를 통해 투과시키는 단계; 상기 시료를 통해 투과된 광을 널 렌즈를 통해 평행광으로 만드는 단계; 및 상기 널 렌즈를 통해 투과된 평행광을 적분구를 통해 평행광과 확산광으로 분리한 후 헤이즈를 측정하는 단계;를 포함한다.
여기서, 상기 헤이즈를 측정하는 방법은,
의 식에 의해 구하는 것을 특징으로 한다.
그리고, 상기 평행광을 검출하는 방법은, 상기 평행광이 입사되는 방향의 적분구 개구부에 센서를 설치하여 검출하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 확산광을 검출하는 방법은, 상기 평행광이 입사되는 방향과 수직 방향의 적분구 개구부에 센서를 설치하여 검출하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 시료는 투명한 평면 시료, 유리 렌즈, 플라스틱 렌즈, 액체 렌즈 중 어느 하나를 사용하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 시료는 곡면 시료인 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 곡면 시료는 오목 렌즈인 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 곡면 시료는 볼록 렌즈인 것을 특징으로 한다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 의한 헤이즈 측정 장치는, 광원으로부터 광을 입사하여 투과시키는 시료; 상기 시료를 통해 투과된 광을 검출하여 헤이즈를 측정하는 적분구; 및 상기 시료와 상기 적분구 사이에 위치하며, 상기 시료를 통해 상기 적분구로 입사하는 광을 평행광으로 바꾸는 널 렌즈(Null Lens);를 포함한다.
여기서, 상기 시료는 투명한 평면 시료, 유리 렌즈, 플라스틱 렌즈, 액체 렌즈 중 어느 하나인 것을 특징으로 한다.
그리고, 상기 시료는 곡면 시료인 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 곡면 시료는 오목 렌즈인 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 곡면 시료는 볼록 렌즈인 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 적분구는, 상기 시료를 투과한 광을 입사하는 제 1 개구부; 상기 제 1 개구부와 대응되는 위치에 형성된 제 2 개구부; 상기 제 1 및 제 2 개구부와 수직 방향에 형성된 제 3 개구부; 상기 제 2 개구부에 설치되며 상기 시료를 투과한 광(光) 중에서 평행광을 측정하는 제 1 센서; 및 상기 제 3 개구부에 설치되며 상기 시료를 투과한 광(光) 중에서 확산광을 측정하는 제 2 센서;를 구비한 것을 특징으로 한다.
따라서, 본 발명에서는 널 렌즈(null lens)를 사용하여 시료의 형상에 상관없이 헤이즈를 정확하게 측정할 수 있는 효과가 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 대해 상세히 설명하기로 한다.
도 3 및 도 4는 본 발명에 의한 헤이즈 측정 방법을 설명하기 위한 도면으로서, 도 3은 시료의 전광선 투과광을 측정하는 방법을 설명하기 위한 도면이고, 도 4는 시료의 확산광을 측정하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.
본 발명에 의한 헤이즈 측정 장치는 도 3 및 도 4에 도시된 바와 같이, 광(光)을 발생시키는 광원(10)과, 상기 광원(10)으로부터 발생된 광을 입사하는 곡면 시료(20)와, 상기 곡면 시료(20)로부터 출력된 광을 입사하여 평행광으로 변환시켜 출력하는 널 렌즈(Null Lens)(50)와, 상기 널 렌즈(50)로부터 출력된 평행광을 입사하여 평행광(PT)과 확산광(DT)으로 분리한 후 분리된 평행광(PT)과 확산광(DT)을 검출하여 헤이즈를 측정하는 적분구(30)를 포함한다.
여기서, 상기 곡면 시료(20)는 유리, 플라스틱 등과 같은 투명성 재질로 된 렌즈와 같은 곡면 시료로서, 유리 렌즈, 플라스틱 렌즈, 액체 렌즈 등이 모두 포함될 수 있다. 또한, 본 발명에서는 상기 곡면 시료(20)뿐만 아니라 평면 시료를 사용하여 헤이즈를 측정할 수도 있으며, 그 밖에 어떠한 형상을 갖는 시료에 대하여도 모두 적용 가능하다.
그리고, 상기 널 렌즈(50)는 상기 곡면 시료(20)에서 수렴 및 발산된 광을 평행광으로 변환시켜 출력하는 렌즈로서, 도시된 바와 같이 상기 곡면 시료(20)가 볼록 렌즈일 경우 오목 렌즈로 구성하는 것이 바람직하다. 반면에, 상기 곡면 시료(20)가 오목 렌즈일 경우 상기 널 렌즈(50)는 반대로 볼록 렌즈로 구성하여 사용할 수 있다.
또한, 상기 적분구(30)는 상기 널 렌즈(50)를 투과한 평행광을 입사하여 평행광(PT)과 확산광(DT)으로 분리하는 제 1 개구부(30a)와, 상기 제 1 개구부(30a)와 대응되는 위치에 형성된 제 2 개구부(30b)와, 상기 제 1 및 제 2 개구부(30a)(30b)와 수직 방향에 형성된 제 3 개구부(30c)를 구비한다. 또한, 상기 제 2 개구부(30b)에는 상기 제 1 개구부(30a)를 통해 분리된 광(光) 중에서 평행광(PT)을 측정하는 제 1 센서(40a)를 구비하고, 상기 제 3 개구부(30c)에는 상기 제 1 개구부(30a)를 통해 분리된 광(光) 중에서 확산광(DT)을 측정하는 제 2 센서(40b)를 구비한다.
상기 광원(10)으로부터 발생된 광(光)은 상기 곡면 시료(20)를 통해 수렴 및 발산에 의해 굴절된다. 그리고, 상기 곡면 시료(20)를 통해 굴절된 광은 상기 널 렌즈(50)를 통해 평행광으로 바뀌게 되고, 상기 널 렌즈(50)를 통해 출력된 평행광이 상기 적분구(30)의 제 1 개구부(30a)를 통해 입사되면서 평행광(PT)과 확산광(DT)으로 분리된다. 따라서, 상기 적분구(30)에서는 내부로 입사되는 상기 평행광(PT)과 확산광(DT)의 성분을 검출하여 헤이즈를 측정하게 된다.
이때, 상기 헤이즈(haze)를 구하는 식은 아래 수학식 2와 같이 종래와 마찬가지로 평행광(PT)에 대한 확산광(DT)의 비율로 나타낸다.
Figure 112005046275339-pat00003
따라서, 상기 수학식 2로부터 평행광(PT)과 확산광(DT)의 비율을 알 수 있으면 헤이즈를 측정할 수 있다.
상기 적분구(30)의 제 1 개구부(30a)를 통해 입사되는 전광선 투과광(또는 평행광)(PT)은 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 적분구(30)의 제 2 개구부(30b)에 설치된 제 1 센서(40a)를 이용하여 측정하고, 상기 적분구(30)의 제 1 개구부(30a)를 통해 입사되는 확산광(DT)은 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 적분구(30)의 제 3 개구부(30c)에 설치된 제 2 센서(40b)를 이용하여 측정한다. 이때, 시료의 헤이즈 측정에 관한 규격은 앞서 언급한 바와 같이 국제표준화기구(ISO) FDIS 14782에 규정되어 있다.
이와 같이, 본 발명에서는 헤이즈를 측정하고자 하는 시료가 곡면이 있는 시료라 할지라도 널 렌즈를 사용하여 헤이즈를 정확하게 측정할 수 있도록 구현하였다. 즉, 광원으로부터 발생된 광이 상기 곡면 시료를 통해 굴절이 되더라도 상기 곡면 시료를 통해 굴절된 광을 널 렌즈를 통해 평행광으로 바꾸어 줌으로써, 헤이즈 측정이 가능하도록 하였다. 즉, 상기 널 렌즈를 통해 출력된 평행광은 상기 적분구의 제 1 개구부를 통해 입사되면서 평행광(PT)과 확산광(DT)으로 분리된다. 그러므로, 적분구(30)의 내부로 분리된 상기 평행광(PT)과 확산광(DT)을 앞에서 설명 한 바와 같이 상기 제 1 및 제 2 센서(40a)(40b)에 의해 검출하게 되면 상기 수학식 2에 의해 헤이즈를 간단하게 측정할 수 있다.
따라서, 본 발명에서는 측정 시료의 형상에 관계없이 어떤 형상을 갖는 측정 시료에 대하여도 정확하게 헤이즈를 측정할 수 있다.
이상의 본 발명은 상기에 기술된 실시예들에 의해 한정되지 않고, 당업자들에 의해 다양한 변형 및 변경을 가져올 수 있으며, 이는 첨부된 특허청구범위에서 정의되는 본 발명의 취지와 범위에 포함되는 것으로 보아야 할 것이다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 의한 헤이즈 측정 방법 및 그 장치에 의하면, 곡면이 있는 시료와 적분구 사이에 널 렌즈(null lens)를 추가하여 상기 시료를 통해 적분구로 입사하는 광이 굴절되지 않도록 함으로써, 시료의 형상에 상관없이 헤이즈를 정량적으로 측정 및 평가할 수 있는 효과가 있다.
이에 의해, 사출 플라스틱 렌즈의 백탁 현상을 평가할 수 있을 뿐만 아니라 육안으로 확인하기 어려운 헤이즈에 대한 평가 기준을 표준화할 수 있는 효과가 있다 .
또한, 액체로 이루어진 액체렌즈의 헤이즈를 렌즈 상태에서 평가할 수 있는 효과가 있다.

Claims (14)

  1. 광원으로부터 발생된 광을 시료를 통해 투과시키는 단계;
    상기 시료를 통해 투과된 광을 널 렌즈(Null Lens)를 통해 평행광으로 만드는 단계; 및
    상기 널 렌즈를 통해 투과된 평행광을 적분구를 통해 평행광과 확산광으로 분리한 후 헤이즈를 측정하는 단계;를 포함하는 헤이즈 측정 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 헤이즈를 측정하는 방법은:
    Figure 112005046275339-pat00004
    의 식에 의해 구하는 것을 특징으로 하는 헤이즈 측정 방법.
  3. 제 2 항에 있어서, 상기 평행광을 검출하는 방법은:
    상기 평행광이 입사되는 방향의 적분구 개구부에 센서를 설치하여 검출하는 것을 특징으로 하는 헤이즈 측정 방법.
  4. 제 2 항에 있어서, 상기 확산광을 검출하는 방법은:
    상기 평행광이 입사되는 방향과 직교하는 방향에 형성된 적분구 개구부에 센 서를 설치하여 검출하는 것을 특징으로 하는 헤이즈 측정 방법.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 시료는 투명한 평면 시료, 유리 렌즈, 플라스틱 렌즈, 액체 렌즈 중 어느 하나를 사용하는 것을 특징으로 하는 헤이즈 측정 방법.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 시료는 곡면 시료인 것을 특징으로 하는 헤이즈 측정 방법.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 곡면 시료는, 오목 렌즈인 것을 특징으로 하는 헤이즈 측정 방법.
  8. 제 6 항에 있어서,
    상기 곡면 시료는, 볼록 렌즈인 것을 특징으로 하는 헤이즈 측정 방법.
  9. 광을 발생하는 광원;
    상기 광원으로부터 광을 입사하여 투과시키는 시료;
    상기 시료를 통해 투과된 광을 검출하여 헤이즈를 측정하는 적분구; 및
    상기 시료와 상기 적분구 사이에 위치하며, 상기 시료를 통해 상기 적분구로 입사하는 광을 평행광으로 바꾸는 널 렌즈(Null Lens);를 포함하는 헤이즈 측정 장 치.
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 시료는 투명한 평면 시료, 유리 렌즈, 플라스틱 렌즈, 액체 렌즈 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 헤이즈 측정 장치.
  11. 제 9 항에 있어서,
    상기 시료는 곡면 시료인 것을 특징으로 하는 헤이즈 측정 장치.
  12. 제 11 항에 있어서,
    상기 곡면 시료는, 오목 렌즈인 것을 특징으로 하는 헤이즈 측정 장치.
  13. 제 11 항에 있어서,
    상기 곡면 시료는, 볼록 렌즈인 것을 특징으로 하는 헤이즈 측정 장치.
  14. 제 8 항에 있어서, 상기 적분구는:
    상기 시료를 투과한 광을 입사하는 제 1 개구부;
    상기 제 1 개구부와 대응되는 위치에 형성된 제 2 개구부;
    상기 제 1 및 제 2 개구부와 수직 방향에 형성된 제 3 개구부;
    상기 제 2 개구부에 설치되며 상기 시료를 투과한 광(光) 중에서 평행광을 측정하는 제 1 센서; 및
    상기 제 3 개구부에 설치되며 상기 시료를 투과한 광(光) 중에서 확산광을 측정하는 제 2 센서;를 구비한 것을 특징으로 하는 헤이즈 측정 장치.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP4105367A1 (en) 2021-06-17 2022-12-21 SENIC Inc. Silicon carbide wafer and semiconductor device

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8184294B2 (en) * 2009-03-09 2012-05-22 Honeywell International Inc. Apparatus and method for measuring haze of sheet materials or other materials
JP5286571B2 (ja) * 2009-05-22 2013-09-11 大塚電子株式会社 全光束測定装置および全光束測定方法
CN102235974B (zh) * 2010-04-20 2013-08-14 中国科学院上海硅酸盐研究所 一种用于测试透明陶瓷块状材料全透过率的装置和测试方法
CN101839802A (zh) * 2010-05-21 2010-09-22 西安工业大学 高反射镜激光积分散射率多角度综合测量装置
CN102538970B (zh) * 2010-12-08 2014-02-26 武汉红金龙印务股份有限公司 用于镭射纸色度检测的分光光度计
CN102305760B (zh) * 2011-05-23 2013-10-02 成都光明光电股份有限公司 光学玻璃耐腐蚀性测试装置及其测试方法
CN102519915B (zh) * 2011-12-28 2014-05-07 北京奥博泰科技有限公司 一种光伏玻璃光谱雾度的分光测量装置及测量方法
CN103994954B (zh) * 2014-05-13 2016-08-24 中国科学技术大学先进技术研究院 一种雾霾测量仪
JP6299668B2 (ja) * 2015-05-13 2018-03-28 信越半導体株式会社 ヘイズの評価方法
US20170109895A1 (en) * 2015-10-19 2017-04-20 Honeywell International Inc. Apparatus and method for measuring haze of sheet materials or other materials using off-axis detector
CN106770050B (zh) * 2016-12-31 2023-08-11 上海复展智能科技股份有限公司 基于积分球的液体光谱透射和散射系数测量装置
CN111239066A (zh) * 2020-02-26 2020-06-05 深圳市杰普特光电股份有限公司 一种光学测试系统

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001356092A (ja) * 2000-06-15 2001-12-26 Suga Test Instr Co Ltd ヘーズ値測定装置及び測定方法
JP2002310902A (ja) * 2001-04-16 2002-10-23 Central Glass Co Ltd 波長選択性のある散乱光測定方法
JP3100120U (ja) * 2003-08-28 2004-04-30 スガ試験機株式会社 ヘーズコンピュータ

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001356092A (ja) * 2000-06-15 2001-12-26 Suga Test Instr Co Ltd ヘーズ値測定装置及び測定方法
JP2002310902A (ja) * 2001-04-16 2002-10-23 Central Glass Co Ltd 波長選択性のある散乱光測定方法
JP3100120U (ja) * 2003-08-28 2004-04-30 スガ試験機株式会社 ヘーズコンピュータ

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
무 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP4105367A1 (en) 2021-06-17 2022-12-21 SENIC Inc. Silicon carbide wafer and semiconductor device

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