JP3324840B2 - 金属検出装置 - Google Patents
金属検出装置Info
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- JP3324840B2 JP3324840B2 JP23831393A JP23831393A JP3324840B2 JP 3324840 B2 JP3324840 B2 JP 3324840B2 JP 23831393 A JP23831393 A JP 23831393A JP 23831393 A JP23831393 A JP 23831393A JP 3324840 B2 JP3324840 B2 JP 3324840B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、磁界に対し影響をもつ
被検査体について金属混入の検査をする上で磁界に対す
る被検査体の影響が最小限になる状態に精度良く、かつ
短時間に設定することを可能とした金属検出装置に関す
るものである。
被検査体について金属混入の検査をする上で磁界に対す
る被検査体の影響が最小限になる状態に精度良く、かつ
短時間に設定することを可能とした金属検出装置に関す
るものである。
【０００２】
【従来の技術】まず、従来から使用されている金属検出
装置の概要について図５により説明する。この図におい
て、１は発振回路、２は前記発振回路に接続されている
発振コイルである。磁界の変化を受信する２つの受信コ
イル３ａ，３ｂは発振コイル２の交番磁界中に置かれ、
その磁束が等しく鎖交するように配置されている。この
受信コイル３ａ，３ｂに誘起される起電力の差動電圧
が、信号処理回路に入力される受信信号となる。４は差
動バランス調整用の可変抵抗で、受信電圧の振幅が最も
小さくなるように調整される。５は受信信号を増幅する
増幅回路、６は同期信号により同期検波を行う同期検波
回路、７は同期検波回路によって復調された信号の大き
さを判定する電圧比較回路である。なお、１０は前記同
期検波回路６に供給する同期信号の位相を変更する移相
回路で、手動等の手段により移相量が調整可能な移相回
路である。
装置の概要について図５により説明する。この図におい
て、１は発振回路、２は前記発振回路に接続されている
発振コイルである。磁界の変化を受信する２つの受信コ
イル３ａ，３ｂは発振コイル２の交番磁界中に置かれ、
その磁束が等しく鎖交するように配置されている。この
受信コイル３ａ，３ｂに誘起される起電力の差動電圧
が、信号処理回路に入力される受信信号となる。４は差
動バランス調整用の可変抵抗で、受信電圧の振幅が最も
小さくなるように調整される。５は受信信号を増幅する
増幅回路、６は同期信号により同期検波を行う同期検波
回路、７は同期検波回路によって復調された信号の大き
さを判定する電圧比較回路である。なお、１０は前記同
期検波回路６に供給する同期信号の位相を変更する移相
回路で、手動等の手段により移相量が調整可能な移相回
路である。
【０００３】このような構成からなる金属検出装置にお
いて、金属を発振コイル２と受信コイル３ａ，３ｂ間に
通過させた場合、金属により２つの受信コイル３ａ，３
ｂに鎖交する磁束数が不平衡になるため、受信信号が出
力される。出力された受信信号には発振周波数により変
調された金属検出信号（以下変調信号と呼ぶ）が含まれ
ているが、その変調信号は微弱であるため、増幅回路５
により増幅する。変調信号から金属検出信号を抽出する
為に、同期検波回路６において発振周波数と同一の周波
数で同期検波を行い、金属検出信号を復調する。復調さ
れた信号は、アナログフィルタ７を通過することで金属
検出信号のみとなり、整流回路８により整流された後、
電圧比較回路９により金属の検出結果として出力され
る。
いて、金属を発振コイル２と受信コイル３ａ，３ｂ間に
通過させた場合、金属により２つの受信コイル３ａ，３
ｂに鎖交する磁束数が不平衡になるため、受信信号が出
力される。出力された受信信号には発振周波数により変
調された金属検出信号（以下変調信号と呼ぶ）が含まれ
ているが、その変調信号は微弱であるため、増幅回路５
により増幅する。変調信号から金属検出信号を抽出する
為に、同期検波回路６において発振周波数と同一の周波
数で同期検波を行い、金属検出信号を復調する。復調さ
れた信号は、アナログフィルタ７を通過することで金属
検出信号のみとなり、整流回路８により整流された後、
電圧比較回路９により金属の検出結果として出力され
る。
【０００４】次に、塩分を含む物質や金属フィルムで包
まれている物質等、磁界に影響を及ぼす被検査体を金属
検出機に通過させた場合について説明する。このような
被検査体の場合、乾燥物等の被検査体と異なり、被検査
体が磁界に影響を及ぼすため、被検査体が金属と同様に
反応してしまい、正常な金属検出ができなくなってしま
う。そこで被検査体による影響を消去し、被検査体に混
入された金属を検出するため、検査の前に以下のような
操作が必要となる。その操作について以下に説明する。
まれている物質等、磁界に影響を及ぼす被検査体を金属
検出機に通過させた場合について説明する。このような
被検査体の場合、乾燥物等の被検査体と異なり、被検査
体が磁界に影響を及ぼすため、被検査体が金属と同様に
反応してしまい、正常な金属検出ができなくなってしま
う。そこで被検査体による影響を消去し、被検査体に混
入された金属を検出するため、検査の前に以下のような
操作が必要となる。その操作について以下に説明する。
【０００５】同期信号の位相をＸ軸とした信号ベクトル
図（図６参照）において、被検査体による変調信号で同
期検波した場合、整流回路からの出力信号の大きさは変
調信号と同期信号の位相差θの余弦の絶対値（｜ｃｏｓ
θ｜）に比例することが知られている（図７参照）。従
って、被検査体による変調信号に対し９０°の位相差と
なる同期信号により同期検波を行えば、被検査体による
影響を最小限に抑えることができる。このように磁界に
影響を及ぼす被検査体を検査する場合には、同期信号の
位相を調整し、被検査体の磁界に対する影響を最小限に
抑えて混入金属を検査する必要がある。
図（図６参照）において、被検査体による変調信号で同
期検波した場合、整流回路からの出力信号の大きさは変
調信号と同期信号の位相差θの余弦の絶対値（｜ｃｏｓ
θ｜）に比例することが知られている（図７参照）。従
って、被検査体による変調信号に対し９０°の位相差と
なる同期信号により同期検波を行えば、被検査体による
影響を最小限に抑えることができる。このように磁界に
影響を及ぼす被検査体を検査する場合には、同期信号の
位相を調整し、被検査体の磁界に対する影響を最小限に
抑えて混入金属を検査する必要がある。
【０００６】そのため、従来の金属検出装置では、被検
査体を通す毎に電圧比較回路９に付属されている表示器
を見て、被検査体による出力の大きさを確認し、移相回
路１０を調整して、被検査体による出力の大きさが最小
となる位相を見つけていた。次に、その方法について詳
しく説明する。初期状態では調整すべき位相の見当がつ
かないため、図８に示すように、まず初期位相（図中１
回目）に調整した状態で被検査物を通し、その時の整流
回路の出力信号の大きさを表示器により確認する。次
に、ある位相間隔で位相を変えた時（図中２回目）の出
力の大きさを確認し、出力の大きさが小さくなる方向に
位相を変えていく。出力が最小となる位相付近になった
ら位相間隔を狭くし、さらにその位相付近の出力を確認
して、被検査体の影響が最小となる位相を追込み、見つ
けていた。また、被検査体によって被検査体の影響が消
去できる位相は異なるため、被検査体が変わるたびに以
上のような位相の調整をしなければならず、検査をする
までに相当の手間と時間を要していた。
査体を通す毎に電圧比較回路９に付属されている表示器
を見て、被検査体による出力の大きさを確認し、移相回
路１０を調整して、被検査体による出力の大きさが最小
となる位相を見つけていた。次に、その方法について詳
しく説明する。初期状態では調整すべき位相の見当がつ
かないため、図８に示すように、まず初期位相（図中１
回目）に調整した状態で被検査物を通し、その時の整流
回路の出力信号の大きさを表示器により確認する。次
に、ある位相間隔で位相を変えた時（図中２回目）の出
力の大きさを確認し、出力の大きさが小さくなる方向に
位相を変えていく。出力が最小となる位相付近になった
ら位相間隔を狭くし、さらにその位相付近の出力を確認
して、被検査体の影響が最小となる位相を追込み、見つ
けていた。また、被検査体によって被検査体の影響が消
去できる位相は異なるため、被検査体が変わるたびに以
上のような位相の調整をしなければならず、検査をする
までに相当の手間と時間を要していた。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記の課題
を解決し、被検査体の影響が最小となる位相に精度良
く、短時間で設定することができる金属検出装置を提供
することを目的としている。
を解決し、被検査体の影響が最小となる位相に精度良
く、短時間で設定することができる金属検出装置を提供
することを目的としている。
【０００８】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に本発明の金属検出装置では、交番磁界を発生させる発
振コイルと、該磁界の磁束変化を検出する複数の受信コ
イルと、該受信コイルに誘導される差電圧を増幅する増
幅回路と、該増幅回路の出力信号を同期検波して金属検
出信号を出力する第１の同期検波回路と、該同期検波回
路に供給する同期信号の位相を変更する第１の移相回路
とを備えてなる金属検出装置において、該増幅回路の出
力信号を同期検波して金属検出信号を出力する第２の同
期検波回路と、該同期検波回路に供給する同期信号の位
相を変更する第２の移相回路と、金属が混入してない被
検査体を該発振コイルと受信コイルの間に通過させたと
きの該第１及び第２の同期検波回路の出力信号の大きさ
から該被検査体による変調信号と同期信号との位相差を
算出し、算出された位相値から該被検査体自体の磁界に
対する影響を消去できるように該第１及び第２の移相回
路を制御するコンピュータとを設けたことを特徴とす
る。
に本発明の金属検出装置では、交番磁界を発生させる発
振コイルと、該磁界の磁束変化を検出する複数の受信コ
イルと、該受信コイルに誘導される差電圧を増幅する増
幅回路と、該増幅回路の出力信号を同期検波して金属検
出信号を出力する第１の同期検波回路と、該同期検波回
路に供給する同期信号の位相を変更する第１の移相回路
とを備えてなる金属検出装置において、該増幅回路の出
力信号を同期検波して金属検出信号を出力する第２の同
期検波回路と、該同期検波回路に供給する同期信号の位
相を変更する第２の移相回路と、金属が混入してない被
検査体を該発振コイルと受信コイルの間に通過させたと
きの該第１及び第２の同期検波回路の出力信号の大きさ
から該被検査体による変調信号と同期信号との位相差を
算出し、算出された位相値から該被検査体自体の磁界に
対する影響を消去できるように該第１及び第２の移相回
路を制御するコンピュータとを設けたことを特徴とす
る。
【０００９】
【作 用】このように構成された金属検出機は、金属が
混入していない被検査体を１回通過させることにより、
被検査体による変調信号と同時信号の位相差をコンピュ
ータにより算出する。そして、位相回路の移相量を調整
して、コンピュータにより変調信号と同期信号の移相差
が９０度になるようにする。このようにして、被検査体
による影響を最小限に抑えることが即時にできるので、
実際に被検査体の検査を開始するまでの調整時間を短縮
することができる。
混入していない被検査体を１回通過させることにより、
被検査体による変調信号と同時信号の位相差をコンピュ
ータにより算出する。そして、位相回路の移相量を調整
して、コンピュータにより変調信号と同期信号の移相差
が９０度になるようにする。このようにして、被検査体
による影響を最小限に抑えることが即時にできるので、
実際に被検査体の検査を開始するまでの調整時間を短縮
することができる。
【００１０】
【実施例】図１はこの発明の一実施例を示すブロック図
で、符号１、２、３ａ、３ｂ、４、５は図５と同じ構成
要素を示す。１１ａ，１１ｂは第１及び第２同期信号で
同期検波を行う同期検波回路、１２ａ，１２ｂはアナロ
グフィルタ、１３ａ，１３ｂは整流回路、１４ａ，１４
ｂはＡ／Ｄ変換回路、１５ａ，１５ｂは前記同期検波回
路１１ａ，１１ｂに供給する第１、第２同期信号の位相
を変更するための第１、第２移相回路で、コンピュータ
からの設定に応じて第１、第２同期信号の位相を変更す
る。１６は２つのＡ／Ｄ変換回路により測定した結果を
入力し、種々の演算を行い、第１、第２移相回路の移相
量の制御を行うコンピュータである。ここで同期検波回
路１１ａから、アナログフィルタ１２ａを通過し、整流
回路１３ａまでの経路を第１経路、同期検波回路１１ｂ
から、アナログフィルタ１２ｂを通過し、整流回路１３
ｂまでの経路を第２経路と呼ぶ。
で、符号１、２、３ａ、３ｂ、４、５は図５と同じ構成
要素を示す。１１ａ，１１ｂは第１及び第２同期信号で
同期検波を行う同期検波回路、１２ａ，１２ｂはアナロ
グフィルタ、１３ａ，１３ｂは整流回路、１４ａ，１４
ｂはＡ／Ｄ変換回路、１５ａ，１５ｂは前記同期検波回
路１１ａ，１１ｂに供給する第１、第２同期信号の位相
を変更するための第１、第２移相回路で、コンピュータ
からの設定に応じて第１、第２同期信号の位相を変更す
る。１６は２つのＡ／Ｄ変換回路により測定した結果を
入力し、種々の演算を行い、第１、第２移相回路の移相
量の制御を行うコンピュータである。ここで同期検波回
路１１ａから、アナログフィルタ１２ａを通過し、整流
回路１３ａまでの経路を第１経路、同期検波回路１１ｂ
から、アナログフィルタ１２ｂを通過し、整流回路１３
ｂまでの経路を第２経路と呼ぶ。
【００１１】被検査体の磁界に対する影響を消去するた
め位相調整は、第１段階と第２段階の２つに大別され
る。
め位相調整は、第１段階と第２段階の２つに大別され
る。
【００１２】まず、第１段階の位相調整では、第２移相
回路１５ｂの移相量はある移相量φに設定されている。
移相量φは０〜３６０度の任意の値である。第１移相回
路１５ａの移相量は０度とする。被検査体を金属検出機
に通過させると、２つの受信コイル３ａ，３ｂに鎖交す
る磁束数が不平衡状態になり、受信信号が出力される。
受信信号には被検査体により発生した変調信号が含まれ
ており、その変調信号は同期信号に対し被検査体特有の
位相差を持っている。第１及び第２の同期信号で同期検
波され、復調された被検査体の検出信号は、アナログフ
ィルタ１２ａ，１２ｂを通過し、整流回路１３ａ，１３
ｂにはいる。この整流回路１３ａ，１３ｂからの出力信
号は、Ａ／Ｄ変換回路１４ａ，１４ｂにより大きさを測
定される。ここで、大きさと称するものは、出力信号の
ピーク値や出力波形の積分値等である。第１同期信号と
第２同期信号は、第２の移相回路１５ｂによりφ度の位
相差をもつ。図２のように第１同期信号の移相をＸ軸に
とる信号ベクトル図において、被検査体による変調信号
と第１同期信号の位相差をθ1 とすると、前述したよう
に出力信号の大きさは変調信号と同期信号の位相差θの
余弦の絶対値｜ｃｏｓθ｜に比例するから、第１経路で
得られる出力信号の大きさは｜ｃｏｓθ1 ｜に比例し、
第２経路で得られる出力信号の大きさは｜ｃｏｓ（φ−
θ1 ）｜＝｜ｓｉｎ（９０−φ＋θ1 ）｜に比例する。
従って、それぞれの経路で得られる出力信号の大きさの
関係から、被検査体による変調信号と第１同期信号の位
相差θ 1 は、次式により求めることができる。
回路１５ｂの移相量はある移相量φに設定されている。
移相量φは０〜３６０度の任意の値である。第１移相回
路１５ａの移相量は０度とする。被検査体を金属検出機
に通過させると、２つの受信コイル３ａ，３ｂに鎖交す
る磁束数が不平衡状態になり、受信信号が出力される。
受信信号には被検査体により発生した変調信号が含まれ
ており、その変調信号は同期信号に対し被検査体特有の
位相差を持っている。第１及び第２の同期信号で同期検
波され、復調された被検査体の検出信号は、アナログフ
ィルタ１２ａ，１２ｂを通過し、整流回路１３ａ，１３
ｂにはいる。この整流回路１３ａ，１３ｂからの出力信
号は、Ａ／Ｄ変換回路１４ａ，１４ｂにより大きさを測
定される。ここで、大きさと称するものは、出力信号の
ピーク値や出力波形の積分値等である。第１同期信号と
第２同期信号は、第２の移相回路１５ｂによりφ度の位
相差をもつ。図２のように第１同期信号の移相をＸ軸に
とる信号ベクトル図において、被検査体による変調信号
と第１同期信号の位相差をθ1 とすると、前述したよう
に出力信号の大きさは変調信号と同期信号の位相差θの
余弦の絶対値｜ｃｏｓθ｜に比例するから、第１経路で
得られる出力信号の大きさは｜ｃｏｓθ1 ｜に比例し、
第２経路で得られる出力信号の大きさは｜ｃｏｓ（φ−
θ1 ）｜＝｜ｓｉｎ（９０−φ＋θ1 ）｜に比例する。
従って、それぞれの経路で得られる出力信号の大きさの
関係から、被検査体による変調信号と第１同期信号の位
相差θ 1 は、次式により求めることができる。
【００１３】
【数１】
【００１４】上式は、第２移相回路１５ｂの移相範囲が
９０度以内の場合に有効であり、もし第２移相回路の移
相量を９０度に設定できる場合は、次式のように簡略化
できる。
９０度以内の場合に有効であり、もし第２移相回路の移
相量を９０度に設定できる場合は、次式のように簡略化
できる。
【００１５】
【数２】
【００１６】上記の処理は、Ａ／Ｄ変換回路１４ａ，１
４ｂから送られるデジタル値をコンピュータにより演算
することで行われる。
４ｂから送られるデジタル値をコンピュータにより演算
することで行われる。
【００１７】被検査体の影響を消去するためには、変調
信号と同期信号の位相差を９０度にすれば良いから、コ
ンピュータにより現在の第１移相回路１５ａの位相値に
対しθ1 −９０度、もしくはθ1 ＋９０度に移相するこ
とで、変調信号と同期信号の位相差が９０度となり、被
検査体の影響が消去される。ここまでは第１段階の位相
調整である。
信号と同期信号の位相差を９０度にすれば良いから、コ
ンピュータにより現在の第１移相回路１５ａの位相値に
対しθ1 −９０度、もしくはθ1 ＋９０度に移相するこ
とで、変調信号と同期信号の位相差が９０度となり、被
検査体の影響が消去される。ここまでは第１段階の位相
調整である。
【００１８】このような方法により、被検査体による影
響が最小となる位相にほぼ一致させることができる。し
かしながら、Ａ／Ｄ変換回路での測定誤差、第１、第２
経路のゲイン誤差等によりこのような位相に完全に一致
しているとは限らないので、さらに精度よく位相設定を
行う場合は第２段階の位相調整を行う。以下に第２段階
の位相調整の方法について説明する。
響が最小となる位相にほぼ一致させることができる。し
かしながら、Ａ／Ｄ変換回路での測定誤差、第１、第２
経路のゲイン誤差等によりこのような位相に完全に一致
しているとは限らないので、さらに精度よく位相設定を
行う場合は第２段階の位相調整を行う。以下に第２段階
の位相調整の方法について説明する。
【００１９】第１段階の位相調整では、第２移相回路１
５ｂの移相量をφ（度）としていたが、第２段階では移
相量を数度以下になるように移相量を変更する。この状
態において、再度被検査体を金属検出機に通過させ、第
１経路と第２経路から出力される最終出力の大きさをＡ
／Ｄ変換回路により測定し、コンピュータにより２つの
出力信号の大きさの比較を行う。第１経路と第２経路の
出力の大きさを比較することにより、実際の被検査体の
影響が最小となる位相がどちら側にずれているか判定す
る。例えば、第１経路側の出力が大きければ第２同期信
号側に位相がずれており、第２経路側の出力が大きけれ
ば第１同期信号側に位相がずれていることが判定され
る。そして判定される方向に位相を変更する。このよう
な位相調整を数回繰り返し行い第１経路と第２経路の出
力の大きさの差がある範囲内に入ったとき、第２段階の
位相調整を終了する。第２段階の位相調整は、従来の方
法に似ているが、従来では一つの経路で出力を判定して
いたのに対し、第２移相回路１５ｂの移相量を可変とす
ることで、同時に２つの位相値での出力を比較すること
ができる。
５ｂの移相量をφ（度）としていたが、第２段階では移
相量を数度以下になるように移相量を変更する。この状
態において、再度被検査体を金属検出機に通過させ、第
１経路と第２経路から出力される最終出力の大きさをＡ
／Ｄ変換回路により測定し、コンピュータにより２つの
出力信号の大きさの比較を行う。第１経路と第２経路の
出力の大きさを比較することにより、実際の被検査体の
影響が最小となる位相がどちら側にずれているか判定す
る。例えば、第１経路側の出力が大きければ第２同期信
号側に位相がずれており、第２経路側の出力が大きけれ
ば第１同期信号側に位相がずれていることが判定され
る。そして判定される方向に位相を変更する。このよう
な位相調整を数回繰り返し行い第１経路と第２経路の出
力の大きさの差がある範囲内に入ったとき、第２段階の
位相調整を終了する。第２段階の位相調整は、従来の方
法に似ているが、従来では一つの経路で出力を判定して
いたのに対し、第２移相回路１５ｂの移相量を可変とす
ることで、同時に２つの位相値での出力を比較すること
ができる。
【００２０】このように、第１段階の位相調整に続き、
第２段階の位相調整を行うことで、精度良く、短時間に
被検査体による影響を消去することができる。
第２段階の位相調整を行うことで、精度良く、短時間に
被検査体による影響を消去することができる。
【００２１】課題を解決する実施例として、図４のよう
に第１移相回路と第２移相回路を並列に配置する場合も
同様に上記の位相調整を行うことができる。
に第１移相回路と第２移相回路を並列に配置する場合も
同様に上記の位相調整を行うことができる。
【００２２】また、第２段階の位相調整は、周囲温度、
被検査体の温度等により被検査体の変調信号の位相が長
期的に変化してしまい、被検査体の設定が変化してしま
う場合にも有効で、図３のアルゴリズムのように、第１
経路と第２経路の出力の大きさをＮ回平均をとり、その
平均値を比較し第２段階と同様に位相調整を行うことに
より、温度等による被検査体の位相の変化に対して自動
的に追従し、被検査体の影響を消去することができる。
被検査体の温度等により被検査体の変調信号の位相が長
期的に変化してしまい、被検査体の設定が変化してしま
う場合にも有効で、図３のアルゴリズムのように、第１
経路と第２経路の出力の大きさをＮ回平均をとり、その
平均値を比較し第２段階と同様に位相調整を行うことに
より、温度等による被検査体の位相の変化に対して自動
的に追従し、被検査体の影響を消去することができる。
【００２３】
【発明の効果】上述のように本発明によれば、被検査体
が金属検出信号に与える影響を精度よく最小化すること
ができ、さらには稼動中の温度等の変動に対する調整を
自動化することもでき、有用性の高い金属検出装置を提
供することができる。
が金属検出信号に与える影響を精度よく最小化すること
ができ、さらには稼動中の温度等の変動に対する調整を
自動化することもでき、有用性の高い金属検出装置を提
供することができる。
【図１】本発明に係る金属検出装置の構成図である。
【図２】図１の装置の位相調整の説明図である。
【図３】図１の装置における位相追従のアルゴリズムを
示すフローチャートである。
示すフローチャートである。
【図４】図１の変形例を示す図である。
【図５】従来例の構成図である。
【図６】変調信号の位相を示す図である。
【図７】出力信号と変調・同期信号の位相差間の関係を
示す図である。
示す図である。
【図８】従来の位相調整方法を説明する図である。
１ 発振回路 ２ 発振コイル ３ａ，３ｂ 受信コイル ４ 差動バランス調整用の可変抵抗 ５ 差動増幅回路 ６，１１ａ，１１ｂ 同期検波回路 ９ 電圧比較回路 １０ 位相回路 １２ａ，１２ｂ アナログフィルタ １３ａ，１３ｂ 整流回路 １４ａ，１４ｂ Ａ／Ｄ変換回路 １５ａ，１５ｂ 位相回路 １６ コンピュータ
Claims (2)
- 【請求項１】 交番磁界を発生させる発振コイルと、該
磁界の磁束変化を検出する複数の受信コイルと、該受信
コイルに誘導される差電圧を増幅する増幅回路と、該増
幅回路の出力信号を同期検波して金属検出信号を出力す
る第１の同期検波回路と、該同期検波回路に供給する同
期信号の位相を変更する第１の移相回路とを備えてなる
金属検出装置において、 該増幅回路の出力信号を同期検波して金属検出信号を出
力する第２の同期検波回路と、前記第１の検波回路に供給する同期信号の位相と比較し
て、前記第２の同期検波回路に供給する同期信号の位相
を所定の移相量だけ予め 変更する第２の移相回路と、 金属が混入してない被検査体を該発振コイルと該受信コ
イルの間に通過させたときの該第１及び第２の同期検波
回路の出力信号の大きさから該被検査体による変調信号
と同期信号との位相差を算出し、算出された位相値から
該被検査体自体の磁界に対する影響と、前記第１経路及
び第２経路のゲイン誤差の影響とを消去するように前記
第２の同期検波回路における前記所定の移相量を変更し
て該第１及び第２の移相回路を制御するコンピュータと
を設けたことを特徴とする金属検出装置。 - 【請求項２】 前記第２の移相回路の前記所定の移相量
が、０度から３６０度の範囲にあることを特徴とする請
求項１に記載の金属検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23831393A JP3324840B2 (ja) | 1993-09-24 | 1993-09-24 | 金属検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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| JP23831393A JP3324840B2 (ja) | 1993-09-24 | 1993-09-24 | 金属検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0792273A JPH0792273A (ja) | 1995-04-07 |
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23831393A Expired - Fee Related JP3324840B2 (ja) | 1993-09-24 | 1993-09-24 | 金属検出装置 |
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| Country | Link |
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| JP (1) | JP3324840B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106646628A (zh) * | 2016-12-30 | 2017-05-10 | 合肥通用机械研究院 | 一种基于金属探测仪的金属检出装置及其金属检出方法 |
| CN106646627A (zh) * | 2016-12-30 | 2017-05-10 | 合肥通用机械研究院 | 用于定位检测金属杂质的金属探测仪及其金属定位方法 |
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| KR20040035975A (ko) * | 2002-10-14 | 2004-04-30 | 주식회사 한국이미지 | 물체감지용 써치코일 |
-
1993
- 1993-09-24 JP JP23831393A patent/JP3324840B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| JPH0792273A (ja) | 1995-04-07 |
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