JP3291310B2 - 支持装置 - Google Patents

支持装置

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JP3291310B2
JP3291310B2 JP04818692A JP4818692A JP3291310B2 JP 3291310 B2 JP3291310 B2 JP 3291310B2 JP 04818692 A JP04818692 A JP 04818692A JP 4818692 A JP4818692 A JP 4818692A JP 3291310 B2 JP3291310 B2 JP 3291310B2
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アーエスエム リソグラフィ ベスローテン フェンノートシャップ
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は基面に沿って支持装置を
案内するための第2の支承ユニットを支持する第1支承
ユニットと、基面に平行に延在する直線案内と、支持ユ
ニットをもち、前記支持ユニットは物体テーブルと剛性
化部材を備えかつ力アクチュエータシステムによって、
基面に直角をなすz方向に平行に第1支承ユニットに対
して変位できて成る支持装置に関する。本発明は更に、
本発明の支持装置を備えた光学リトグラフ装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】本文冒頭に記載した型式の支持装置は米
国特許第4,698,575 号から既知である。この既知の支持
装置では、力アクチュエータシステムは剛性化部材を第
1支承ユニットに連結する平行四辺形機構として作用す
る4本のロッドを備える。第2の支承ユニットは剛性化
部材に直接固着するため、物体テーブルは正確に直線案
内に沿って案内される。10分の数マイクロメータのz
方向に平行な物体テーブルの変位は力アクチュエータに
よって得られ、平行四辺形機構は基面に平行に向く回転
軸線の回りの物体テーブルの傾斜運動を防止する。既知
の支持装置はなかんずく集積半導体回路の製造用の光学
リトグラフ装置に使用される。物体テーブルは照明すべ
き半導体基板の支持面を含む。半導体基板はz方向に平
行な変位によって光学リトグラフ装置のレンズ系に対し
て焦点合わせされる。
【0003】光学リトグラフ装置における支持装置の使
用時に起こる既知支持装置の欠点は基板の焦点合わせが
専らz方向に平行な基板の変位によって行われるという
ことにある。不均一厚さの基板はこの方法では光学的に
焦点合わせされない。更に、既知の支持装置によっては
z方向の基板の比較的小さい変位のみしか行えない。そ
の理由は、剛性化部材が第2支承ユニットに直接固着さ
れるからである。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、基板
の焦点合わせを良好に行うことができると共に、物体テ
ーブルが正確に直線案内に沿って案内されるような本文
冒頭に記載した如き型式の支持装置を提供することにあ
る。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は、支持ユニット力アクチュエータシステ
ムによって基面に平行に向いた少なくとも1つの回転軸
線の回りに第1と第2の支承ユニットに対して回転可能
になっており、また、剛性化部材が連結部材によって第
2支承ユニットに連結されていて、その連結部材の、剛
性化部材に連結された第1の部分が、該連結部材の、第
2支承ユニットに連結された第2の部分に対してz方向
に平行な方向へ弾性変位可能になっていることを特徴と
する。支持ユニットは基面に平行に向いた少なくとも1
つの回転軸線の回りに回転できるので、不均一な厚さを
もつ基板が光学的に焦点合わせされることができると共
に、剛性化部材と第2支承ユニット間に弾性変形可能の
連結部材を使用することによってz方向に平行な支持ユ
ニットの比較的大きな変位が可能になる。
【0006】力アクチュエータシステムが3つの力アク
チュエータによって形成される本発明の支持装置の特別
の実施例は、作動中各力アクチュエータが剛性化部材に
力を加え、それは実質上z方向に平行であることを特徴
とする。前記力アクチュエータの使用によって2つの支
承ユニットへの剛性化部材の静的に決定された連結が提
供され、かくしてz方向に平行な支持装置に基面によっ
て及ぼされる支持力と、基面に平行に向いた軸線の回り
のトルクが第1支承ユニットと力アクチュエータシステ
ムを介して剛性化部材に伝達されると共に、支持装置に
直線案内によって及ぼされる基面に平行な位置決め力
と、z方向に平行に向いた軸線の回りのトルクが第2支
承ユニットと弾性連結部材を介して剛性化部材に伝達さ
れる。
【0007】低ヒステリシスをもつ特に正確な力アクチ
ュエータシステムを有する本発明の支持装置の他の実施
例は、各力アクチュエータはカム及び被動カム從動子を
備え、カムは基面に平行に向いた回転可能のカムシャフ
トに固着され、カム從動子はカムシャフトに平行に向い
た駆動モータの出力シャフトに連結されることを特徴と
する。カムとカム從動子間の伝動比を最適化することに
よって、駆動モータとカム從動子間の減速機構の使用は
避けられ、それ故特に簡単な、コンパクトな迅速作動の
力アクチュエータシステムが得られる。
【0008】駆動モータとカムシャフトの実際的配列を
提供する本発明の支持装置の他の実施例は、駆動モータ
が第1支承ユニットに固着される一方、カムシャフトは
剛性化部材に連結されることを特徴とする。
【0009】簡単で、コンパクトで有効な剛性化部材を
もつ本発明の支持装置の他の実施例は、剛性化部材は物
体テーブルを支持するための3つの支持素子を含み、前
記素子はz方向を横切る平面内で互いに三角形に配置さ
れ、支持素子は板形のストリップによって相互連結され
る一方、各支持素子は前記平面内に延在する弾性連結部
材によって第2支承ユニットに連結されることを特徴と
する。
【0010】第2支承ユニットに対する剛性化部材の特
に剛性の、静的に決定された連結を提供する本発明の支
持装置の他の実施例は、各弾性連結部材が板形のストリ
ップを含み、前記ストリップは関連の支持素子に隣接し
た三角形の二等分線を横切って延びかつその両端に、関
連の二等分線に実質的に平行に延びる縮小部分を備える
ことを特徴とする。
【0011】本発明の支持装置の更に他の実施例は、各
支持素子が支持ボールを含むことを特徴とする。
【0012】第1支承ユニットに対する剛性化部材の特
に剛性で、静的に決定された連結を提供する本発明の実
施例は、剛性化部材の各支持素子が弾性ロッドによって
力アクチュエータシステムの力アクチュエータの1つに
連結され、前記ロッドはz方向に平行な方向に延びるこ
とを特徴とする。
【0013】弾性ロッドが有効な方法で形成される本発
明の支持装置の他の実施例は、各弾性ロッドがz方向に
平行に延びかつ両端に2つの相互に直角をなす縮小部分
を備えたコラムを含むことを特徴とする。
【0014】本発明の支持装置の特別の実施例は、z方
向に見て剛性化部材は第1と第2の支承ユニット間に配
置し、物体テーブルは弾性支持コラムによって剛性化部
材に固着する一方、第2支承ユニットはz方向に平行に
剛性化部材と並んで延びる固着部材によって第1支承ユ
ニットに固着したことを特徴とする。剛性化部材は第1
と第2の支承ユニット間に配置されるので、剛性化部材
と物体テーブルによって形成される支持ユニットの重心
はz方向に見て第2支承ユニットの近くに位置し、それ
故支持装置は特に安定した方法で直線案内に沿って案内
される。
【0015】第2支承ユニットに対する剛性化部材の特
に剛性の連結を提供する本発明の支持装置の他の実施例
は、剛性化部材がz方向を横切って延びる3つの板ばね
によって第2の支承ユニットに連結したことを特徴とす
る。
【0016】剛性化部材に対する物体テーブルの特に剛
性の、静的に決定された連結を提供する本発明の支持装
置の更に他の実施例は、物体テーブルが3つの弾性支持
コラムによって剛性化部材に固着し、各前記コラムは第
1と第2の端部に基面に平行に延在する第1縮小部分と
第1縮小部分に平行に延在する第2縮小部分を夫々備
え、かつ第1と第2の縮小部分間に第1と第2の縮小部
分を横切って延びる第3の縮小部分を備えたことを特徴
とする。
【0017】駆動モータとカムシャフトの実際的配置を
提供する本発明の支持装置の他の実施例は、駆動モータ
は剛性化部材に固着する一方、カムシャフトは第1支承
ユニットに固着することを特徴とする。
【0018】使用する支持装置の特性が特に明らかにな
る光学リトグラフ装置はz方向に光学リトグラフ装置が
連続的に前記支持装置、z方向に平行に向いた主光軸を
もつレンズ系、マスク用のマニピュレータ及び基面を反
復照明するためのシヤッタをもつ光源を備え、前記基板
は支持装置によって支持され、物体テーブルは主光軸と
実質的に直角をなす基板のための支持面を含むことを特
徴とする。
【0019】米国特許第4,746,800 号はマニピュレータ
と物体テーブル間の連結を介する3つの弾性的に変形す
るロッドを開示する。しかし制御可能の力アクチュエー
タはそこには説明されていない。以下、本発明を図示の
実施例につき説明する。
【0020】
【実施例】図1〜4に示す本発明の支持装置1の第1実
施例は第1支承ユニット2を備え、前記ユニットはいわ
ゆる空気静力学的脚部3をもつ。空気静力学的脚部は米
国特許第4,698,575 号から既知であり、或る圧力下で
(Underpressure )によって予応力を与えられた静的気
体軸受を備える。支持装置1は絶えず基面5に沿って案
内され、前記基面は図1、2に示すz方向に直角に延び
る。図2に示すように、第1支承ユニット2は空気静力
学的脚部3の円周に沿って延びる直立金属壁7と、直立
壁7を横切って延びる径方向金属仕切り壁9を備える。
2つの仕切り壁9のみを図2には示す。直立壁7と仕切
り壁9の使用は第1支承ユニット2の構造を特に剛性に
なし、従って案内基面5に沿う支持装置1の正確な、安
定した案内が第1支承ユニット2によって得られる。
【0021】支持装置1は更に第2支承ユニット11を
備え、このユニットは第1支承ユニット2上に固着され
る。第2支承ユニット11は直線案内13に沿って支持
装置1を案内し、この案内は図2に略示され、基面5に
平行に延びる。直線案内13は丸い、平行なロッド1
5、17を備え、第2支承ユニット11はローラ部材を
備える。ローラ部材は図1、2には示していないが、こ
れらはロッド15、17に沿って第2支承ユニット11
を案内する。かかる案内は前記米国特許第4,698,575 号
から既知である。光学リトグラフ装置における支持装置
1の特に適した使用において第2支承ユニット11が基
面5と直線案内13に沿う支持装置1の変位のために光
学リトグラフ装置の駆動ユニットに結合される仕方につ
いては後述する。
【0022】図1に示すように、支持装置1は支持面2
1を含む物体テーブル19を備え、前記支持面はz方向
を横切り、その上に物体が置かれる。物体テーブル19
は剛性化部材23上に備え、この部材は物体テーブル1
9を除外して図2に示す。剛性化部材23は実質的に三
角形金属板として構成され、その板には凹所25、27
が設けられ、その板はz方向を横切って延びる。剛性化
部材23はサファイア支持ボール31をその各角29の
近くに備える。図1にその下側を示す物体テーブル19
は図には見えないが3つのV形溝を備え、前記溝は物体
テーブル19の中心に対して径方向に延び、それらの相
対的位置は支持ボール31の相対的位置に対応し、前記
テーブルは図1に示す組立体では3つの支持ボール31
上に載る。支持ボール31は各々物体テーブル19に支
持力を及ぼす。前記力は実質的にz方向に平行に向く。
支持ボール31の使用は剛性化部材23から物体19に
曲げトルクが伝わるのを防止する。それ故物体テーブル
19の正確な、無応力の支持が得られる。物体テーブル
19のかかる無応力の支持は支持装置1を光学リトグラ
フ装置に使用するのに特に有利であることは後述する。
【0023】図2に示すように、剛性化部材23は弾性
連結部材35によって第2支承ユニット11にかつ各角
29の近くで力アクチュエータ37を介して第1支承ユ
ニット2に連結される。1つの力アクチュエータ37の
みを図2に示し、2つの他の力アクチュエータ37は一
部だけが見える。
【0024】連結部材35は剛性化部材23と完全な一
体構造をなし、各々板形ストリップ39によって形成さ
れる。前記ストリップはz方向を横切る平面内にあり、
対応する角29の角度の二等分線を横切る。各連結部材
35はその端近くに第1の円筒形の縮小部分41を備
え、この部分は関連する二等分線に平行な凹所によって
形成される。縮小部分41は各々関連する二等分線に平
行なヒンジ軸線をもつ弾性ヒンジを形成し、従って剛性
化部材23の角29に連結された連結部材35の端部は
z方向に平行に変位できる。基面5に平行に向きかつ支
持装置1に直線案内13によって作動中及ぼされる位置
決め力と、z方向に平行に延びる軸線の回りの位置決め
力によって生じるトルクは弾性連結部材35によって直
接剛性化部材23に伝えられる。第2支承ユニット11
への剛性化部材23の連結はz方向を横切る方向で見て
高い剛性をもつ。従って物体テーブル19は直線案内1
3に沿って正確に案内される。
【0025】剛性化部材23の各角29は上記の力アク
チュエータ37によってz方向に平行に変位できる。3
つの力アクチュエータ37が同じ方法で駆動されると、
物体テーブル19をもつ剛性化部材23は第1の縮小部
分41の弾性変形の下でz方向に平行に変位させられ、
それによってz方向に平行な回転軸線の回りにおける剛
性化部材23と物体テーブル19の僅かな回転が起こ
る。この回転はそれ自身望ましくない。支持ボール31
の近くにこの回転の結果として生じる望ましくない機械
的応力は防止される。というのは、各弾性連結部材35
が図2に示されかつその2つの端部近くでz方向に平行
に延びる第2の縮小部分42を与えられるからである。
後述する如く、この望ましくない物体テーブル19の回
転は光学リトグラフ装置に支持装置1を使用して簡単な
方法で打ち消すことができる。縮小部分41、42をも
つ連結部材35の使用は物体テーブル19をz方向に平
行にほぼ1mm変位させる。3つの力アクチュエータ37
が異なった仕方で駆動されると、z方向に平行な物体テ
ーブル19の変位のみならず、基面5に平行な回転軸線
の回りの物体テーブル19の回転も得られる。光学リト
グラフ装置に支持装置1を使用した場合のかかる回転の
使用は詳細に後述する。
【0026】図3は力アクチュエータ37を詳細に示
す。力アクチュエータ37は金属のカム形ディスク43
を備え、このディスクは2つのジャーナル45によって
2つの玉軸受47内に回転自在に支持される。玉軸受4
7をもつ1つのジャーナル45だけを図3に示す。基面
5に平行に延びる共通の中心線49をもつ玉軸受47は
力アクチュエータ37の第1のU形軸受ブロック51の
2つの脚部に設けられる。図4は、カム形ディスク43
において中心線49上にあるディスク43の中心Mとデ
ィスク43の円周上にある点P間の距離rは図示の角度
φの一次関数である。即ち、
【数1】r=r0 +Δr.φ/2π r0 の値はほぼ15mmであるが、Δrの値はほぼ1mmで
ある。図4に示すように、力アクチュエータ37は更に
丸い金属のカム從動子53を備え、この從動子はカム形
ディスク43に衝合する。カム從動子53は第1支承ユ
ニット2に固着される電気モータ57の図3に示す出力
シャフト55の端部に備える。出力シャフト55は2つ
の軸受59に回転自在に支持される。図3にはその1つ
だけが示される。玉軸受59は基面5に平行に延びる共
通の中心線61をもち、第2のU形軸受ブロック63内
に備え、このブロックは図2に示す如く空気静力学的脚
部3の周囲近くで第1の支承ユニット2に固着される。
カム從動子53はほぼ4mmの直径をもつ。
【0027】図3に示すように、第2軸受ブロック63
は直立壁65を備え、この壁は2つの連結板67、69
によって第1軸受ブロック51に連結され、この連結板
は基面5に平行に延びる。各連結板67、69はそれら
の2つの端部近くに円筒形の縮小部分71をもち、この
縮小部分は中心線49、61に平行に延びる。縮小部分
71の使用によって、第1軸受ブロック51、第2軸受
ブロック63の直立壁65、2つの連結板67、69は
平行四辺形機構を形成し、これによって第1軸受ブロッ
ク51は縮小部分71の弾性変形の下でz方向に平行に
第2軸受ブロック63に対して変位できる。更に、第1
軸受ブロック51はクロスビーム73を備え、このクロ
スビームは連結板67、69に平行に延びる。図4に示
す如く、クロスビーム73と連結板67はこの連結板6
7を横切って延びる同軸の穿孔75をもつ。穿孔75は
小さい隙間で止ねじ77を包囲する。止ねじは図4に示
すように第2軸受ブロック73のねじ山付孔78に回転
自在に設ける。機械的螺旋ばね83は止ねじ77とクロ
スビーム73の上面81間で予応力を与えられている。
前記ばねはカム形ディスク43とカム從動子53間に圧
縮力を生ぜしめる。前記圧縮力の値は止ねじ77の回転
によって変更できる。調節可能の摩擦力をもつカム形デ
ィスク43とカム從動子53間の摩擦伝達はこうして得
られる。
【0028】もしカム從動子53が電気モータによって
回転させられると、カム形ディスク43は回転し、第1
軸受ブロック51はz方向に平行に第2軸受ブロック6
3に対して変位する。こうして、関連する力アクチュエ
ータ37に連結した剛性化部材23の角29はz方向に
平行に第1支承ユニット2に対して変位する。カム從動
子53の直径(4mm)とΔrの値(1mm)の両者はカム
形ディスク43の平均直径(30mm)に比べて小さいの
で、力アクチュエータ37はカム從動子53の回転1角
度当たりにほぼ0,4 μm の変位の比較的小さい伝動比を
もつ。この小さい伝動比に起因して、電気モータ57と
カム從動子53間の減速機構は必要がなく、従って力ア
クチュエータ37はその構造が特にコンパクトで小型に
なる。駆動されるカム從動子53をもつカム形ディスク
43の使用は低ヒステリシスをもつ特に正確な力アクチ
ュエータ37が提供される。
【0029】図2、3に示す如く、各力アクチュエータ
37はz方向に平行に延びる弾性ロッド85によって剛
性化部材23に連結する。前記弾性ロッド85は各々z
方向に平行に延びるコラム87と連結ブロック89によ
って形成する。このブロックには剛性化部材23の関連
した角29を固着する。図3に示すように、コラム87
は基面5に平行に延びる2つの互いに直角をなす縮小部
分91、93をその2つの端部の各々の近くに備える。
基面5に平行に向くヒンジ軸線をもつ弾性ヒンジを各々
形成する縮小部分91、93の使用により、z方向に平
行に向く支持力と基面5に平行な回転軸線の回りの前記
支持力によって決まるトルクは専ら第1支承ユニット2
から剛性化部材23に弾性ロッド85を経て伝達され
る。第1支承ユニット2への剛性化部材23の連結はz
方向に平行な方向に見て高い剛性をもち、従って物体テ
ーブル19は基面5に沿って正確に案内される。
【0030】z方向に平行な方向に特に剛性でありかつ
z方向を横切る方向に比較的緩んでいる弾性ロッド85
と、z方向を横切る方向に特に剛性でありかつz方向に
平行な方向に比較的緩んでいる弾性変形可能の連結部材
35の使用により第1支承ユニット2と第2支承ユニッ
ト11に剛性化部材23の静的決定される連結が与えら
れる。
【0031】本発明の支持装置1の第2実施例を示す図
5〜8では、上記の第1実施例中の関連する支持装置の
部品に対応する部品には同じ参照数字を付している。第
2実施例の支持装置1は第1支承ユニット2を備え、こ
れは関連する図に示すz方向と直角をなす基面5に沿っ
て支持装置1の無接触案内のための丸い空気静力学的脚
部3をもつ。第1支承ユニット2はz方向に見て、図
1、2に示す第1支承ユニット2より高さが低く、また
図1、2に示す直立壁7に比して比較的低いリム95を
空気静力学的脚部3の円周に沿って備える。図5、6に
示す支持装置1は更に、第2支承ユニット11を備え、
これによって、支持装置1は直線案内13に沿って案内
され、この案内は基面5に平行に延びかつ図5に概略示
されている。直線案内13は図1、2に示す直線案内1
3と同じ種類のものであり、平行な丸いバー15、17
を備える。上記バーに沿って第2支承ユニット11が図
5、6には示していないローラ部材によって案内され
る。第2支承ユニット11は3つの連結脚部97を備
え、上記脚部はz方向に平行に延び、互いに三角形に配
置され、脚部99をもち、上記脚部は第1支承ユニット
2のリム95に固着する。連結脚部97は1つだけ図5
に示すが、図6はすべての脚部97を示す。
【0032】支持装置1の第2実施例はz方向を横切っ
て延びる支持面21をもつ物体テーブル19を備え、そ
の上に物体を置く。物体テーブ19は剛性化部材23に
3つの支持コラム101によって連結し、上記部材はz
方向に見て、第1支承ユニット2と第2支承ユニット1
1の間に置く。図5には支持コラム101を1つだけ示
すが、図6は互いに三角形に配置した3つの支持コラム
のうちの2つを示す。支持コラム101はz方向に平行
に第2支承ユニット11に沿って延び、各々剛性化部材
23に固着した端部の近くで基面5に平行に向いた第1
縮小部分103(図6参照)を備える。物体テーブル1
9に固着したそれらの端部近くで、支持コラムは各々第
2の縮小部分105を備え、上記部分は対応する第1縮
小部分103に平行に延びる。図6に示すように、支持
コラム101は各々第3の縮小部分107を備え、上記
縮小部分は第1縮小部分103と第2縮小部分105間
で、第1縮小部分103と第2縮小部分105を横切っ
て延びる。各々弾性ヒンジを形成する縮小部分103、
105、107をもつ支持コラム101の使用によっ
て、剛性化部材23への物体19の特に剛性の、静的に
決定される連結が与えられる。支持コラム101の使用
によって、物体テーブ19の変形が防止される。上記変
形は例えば物体テーブ19と剛性化部材23間の熱膨張
差によって起こる。膨張のかかる差は縮小部分103、
105、107の弾性変形によって吸収されるが、剛性
化部材23への物体テーブ10の剛性連結は維持され
る。剛性化部材23への物体テーブ19のこの静的に決
定される連結は光学リトグラフ装置の支持装置の使用に
おいて特に有利であることは以下の説明から明らかにな
るであろう。
【0033】図5、6に示す如く、基面5を横切って延
びかつ互いに三角形に配列した3つの連結板109は剛
性化部材23上に備える。図5には2つの連結板109
のみを部分的に示すが、図6は2つの連結板109を完
全に示す。各連結板109は支持コラム101の1つに
平行に配置し、付随する支持コラム101と同様に、図
5に示す組立体中に第2の支承ユニット11と並んで延
びる。z方向を横切って延びる図7に示す板形の連結部
材113は第2支承ユニット11の図6に示す上面11
1に固着する。連結部材113は図5には示されない
が、連結部材113は図6に概略を示す。図7に示すよ
うに、連結部材113は三角形の中心板115を備え、
上記板は第2支承ユニット11の上面111上にねじ締
めされる。連結部材113は更に3つの側板117を備
え、これらの側板は各々支持部材23の連結部材109
の1つの図6に示す上面121上のそれらの端部119
の近くにねじ締めされる。連結部材113の側板117
は各々板ばねを形成し、上記板ばねはz方向を横切って
延び、z方向に平行な方向に撓み得る。基面5に平行に
向きかつ直線案内13によって支持装置1に及ぼされる
位置決め力と、z方向に平行に向く回転軸線の回りのこ
の位置決め力によって決定されるトルクは側板117と
連結板109を経て第2支承ユニット11から剛性化部
材23に伝達される。連結板109の三角形配置に起因
して、z方向を横切る方向に見て、剛性化部材23への
連結部材113の連結は特に剛性になる。
【0034】剛性化部材23は更に3つの力アクチュエ
ータ123によって第2支承ユニット2に連結される。
互いに三角形に配置しかつ図6に概略を示される力アク
チュエータ123は各々支持コラム101の1つの下に
位置する。1つの力アクチュエータ123を図8に示
す。
【0035】図8に示すように、力アクチュエータ12
3は2つのジャーナル127をもつ金属のカム形ディス
ク125を備える。ジャーナル127は2つの玉軸受1
29に回転可能に支持する。上記軸受は基面5に平行に
向く共通の中心線131をもち、第1支承ユニット2の
U形軸受ブロック133内に備える。力アクチュエータ
123は更に、丸い金属のカム從動子135を備え、前
記カム從動子はカム形ディスク125に載り、2つの玉
軸受137内に支持される。基面5に平行に向く共通の
直線線139をもつ玉軸受137はU形軸受ブロック1
41内に備え、前記ブロックは剛性化部材23に固着す
る。図8に示すように、カム從動子135は連結部材1
43を介して、電気モータの出力シャフト145に連結
し、前記モータは剛性化部材23に固着する。
【0036】カム形ディスク125とカム從動子135
は図4に示す支持装置の第1実施例のカム形ディスク4
3及びカム從動子53と同じ形状をもつ。カム從動子1
35が電気モータ147によって回転すると、カム形デ
ィスク125も回転し、それ故関連の力アクチュエータ
123の近くにある物体テーブル19の支持コラム10
1はz方向に実質的に平行に変位する。もし3つの力ア
クチュエータ123の電気モータ147が同じ角度回転
すれば、物体テーブル19はz方向に平行に変位する
が、連結部材113の3つの側板117は曲がる。板形
の連結部材113の使用によって、支持装置1の第1実
施例の場合と同様に、z方向に平行にほぼ1mmの物体テ
ーブルの変位を生ぜしめる。もし電気モータ147が異
なった角度回転すれば、基面5に平行に向く回転軸線の
回りの物体テーブル19の回転が得られる。図には示し
ていない予応力を与えられた機械的ばねは力アクチュエ
ータ123の近くに置く。圧縮力は前記機械的ばねによ
ってカム形ディスク125とカム從動子135間に備
え、前記ばねの第1端部は第1支承ユニット2に固着
し、第2端部は剛性化部材23に固着し、従ってカム形
ディスク125の低ヒステリシス駆動が得られる。
【0037】図8に示すように、カム從動子135はカ
ム形ディスク125に載る。従って基面5を横切る向き
の支持力と、この支持力によって決定される基面5に平
行に向く回転軸線の回りのトルクは専ら第1支承ユニッ
ト2から剛性化部材23に力アクチュエータ123を経
て伝達される。z方向を横切る方向に特に剛性でありか
つz方向に平行な方向には比較的緩んでいる連結部材1
13を、力アクチュエータ123と組合わせて、使用す
ることによって、直接的な剛性の従って正確に決定され
る、基面5と直線案内13によって支持装置に及ぼされ
る力の伝達が支持装置1の第2実施例に得られる。第2
支承ユニット11は物体テーブル19と剛性化部材23
間にあるので、物体テーブル19と剛性化部材23によ
って形成されるユニットの重心はz方向で見て実質的に
直線案内13のレベルに位置することが追加的に達成さ
れる。従って直線案内13により支持装置1に及ぼされ
る位置決め力はその重心近くで前記ユニットに加えら
れ、それ故直線案内13に沿う物体テーブル19の特に
安定した案内が得られる。
【0038】2つの実施例について上述した本発明支持
装置1はその剛性の、遊び無しの低ヒステリシス構造に
起因して、図9、10に示す本発明の光学リトグラフ装
置149に使用するのが特に適する。装置149は10
分の数マイクロメータ程度の小さい寸法の構造をもつ集
積半導体回路の製造に使用する。装置149は光投射シ
ステムを形成し、このシステムによってマスク上に設け
た電子半導体回路のパターンが同形の集積回路に対応す
る半導体基板153の多数の場所に縮尺で繰り返し描か
れる。支持装置1の物体テーブル19上に置いた半導体
基板153はその目的で、x方向と、このx方向と直角
をなすy方向に平行に光学レンズ系17に相対的に支持
装置1に連結した駆動ユニット155によって段歩的に
変位させられる。上記両方向はz方向に平行なレンズ系
157の主光軸159と直角をなす。
【0039】光学リトグラフ装置149の構造を以下簡
単に説明する。図9に示すように、レンズ系157は取
付け部材163に下側近くで取付けリング161によっ
て固着する。上記取付け部材は装置149のフレーム1
65の一部を形成し、実質的に三角形板として構成す
る。前記三角形板は主光軸159に直角をなす平面内に
延在する。レンズ系157の上側近くに装置149はレ
ンズ系157に対してマスク151を位置決めしかつ支
持するためのマスクマニピュレータ167を備える。作
業中、光源169からくる光ビームはレンズ系157に
よって支持装置1上に置いた半導体基板153上に焦点
合わせされる鏡171、173を経てマスクを通して導
かれる。取付け部材163は下部フレーム支持体177
上に各々載る3つの角部分175を備える。図9には2
つの角部分と2つの下部フレーム支持体177のみを示
す。下部フレーム支持体177は調節部材181によっ
て平らな基礎上に置かれたフレームの箱形基台179上
に置かれる。装置149は望ましくない振動が基台から
下部フレーム支持体177を通してレンズ系157と支
持装置1に伝達されるのを防止するために下部フレーム
支持体177によって基台に対して低振動数をもつばね
で据え付けられる。
【0040】図9、10に示すように、第1支承ユニッ
ト2によって支持装置1が案内される基面5は花崗岩ス
ラブの形の支持部材185の上面によって形成する。こ
の上面は主光軸159に直角に延びる。支持部材185
は支持装置1及び駆動ユニット155と共にフレーム1
65のキャリア189上に備える。キャリア189は実
質的に三角形の板からなり、前記板は主光軸159に直
角に延在し、主縁191をもつ。この主縁は2つのフレ
ーム支持体177間に各々延在する。更に、キャリア1
89は3つの板形の吊り素子193によって図9に示す
取付け部材163の下側195から吊り下げられる。図
3は2つの吊り素子のみを示すが、各吊り素子は主光軸
159に平行な垂直面内に延びる板によって形成され
る。前記垂直面はお互に実質的に60°の角度をなす。
【0041】図10は前記ユニット187を詳細に説明
する。図示の如く、支持装置1に連結した駆動ユニット
155は3つのリニヤ電気モータ197、199、20
1を備える。リニヤモータ197はx方向に平行に延び
るx−固定子を含み、x方向に平行に延びるロッド1
5、17をもつ直線案内13が前記固定子と結合されて
いる。リニヤモータ197は永久磁石をもつx−トラン
スレータ205を含み、前記永久磁石は支持装置1の第
2の支承ユニット11と結合されている。リニヤモータ
199と201は永久磁石を備えかつx−固定子203
の第1端に固着されたy−トランスレータ211を有す
るy方向に平行に延びるy−固定子207と、永久磁石
を備えかつx−固定子203の第2端に固着されたy−
トランスレータ217を有するy方向に平行に延びるy
−固定子213を夫々含む。y方向に平行な案内ロッド
219、221と、y−方向に平行な案内ロッド22
3、225は夫々y−固定子207と213に固着され
る。y−トランスレータ211、217はy−トランス
レータ211、217を案内ロッド219、221と案
内ロッド223、225に沿って夫々案内するために、
図10に示していないローラ部材を備える。更にy−固
定子207、213は駆動ユニット155の窓枠227
に固着し、その窓枠はその角近くで支持部材185の上
面183に固着する。支持装置1の物体テーブル19は
リニヤモータ197によってx方向に平行に変位する
が、物体テーブル19はy方向に平行に変位し、リニヤ
モータ199、201によって主光軸159に平行な回
転軸線の回りに或る限定された角度だけ回転する。こう
して、物体テーブル19を回転させることによって、z
方向に平行な回転軸線の回りの前記物体テーブル19の
望ましくない回転は打ち消される。この望ましくない回
転は支持装置1の第1実施例においてはz方向に平行な
物体テーブル19の変位が起こったときに生じる。
【0042】半導体基板153は力アクチュエータ37
(第1実施例)又は力アクチュエータ(第2実施例)に
よって物体テーブル19のz方向に平行な変位によって
レンズ系157に対して焦点合わせされる。実際には、
半導体基板153は製造公差に起因して不均一な厚さを
もち、それ故、半導体基板全体の最適の焦点合わせは他
の手段なしには不可能である。力アクチュエータ37、
123によって基面に平行な回転軸線の回りに或る限定
された角度だけ半導体基板153を傾斜させることによ
って、最適の焦点合わせは半導体基板153の不均一厚
さの場合に得ることができる。
【0043】x方向とy方向における物体テーブル19
の位置は図9、10には図示していないそれ自体既知の
レーザ干渉計システムによって装置149で測定され
る。前記レーザ干渉計システムに属する鏡233、23
5はx方向と直角に延在しかつ図10に示される物体テ
ーブル19の第1側面229上と、y方向と直角に延在
する第2側面231上に夫々備える。作業中、物体テー
ブル19は例えば第1と第2の支承ユニット2、11の
熱膨張と弾性変形によって起こる変形を免れて維持され
る。これは、支持ボール31によって剛性化部材23上
に物体テーブル19を応力無しで支持すること(支持装
置1の第1実施例)又は支持コラム101による剛性化
部材23への物体テーブル19の静的に決定される連結
(支持装置1の第2実施例)のお陰である。物体テーブ
ル19の支持面21に対する2つの鏡233、235の
正確に決定された位置はこうして得られ、従って半導体
基板の特に正確な位置決定がレーザ干渉計システムによ
って可能になる。
【0044】上記両実施例の支持装置1に静的気体軸受
を備える第1支承ユニット2は別の方法によっても設計
できることは注目すべきである。従って、第1支承ユニ
ット2は例えば予応力を与えられた電磁気軸受を備える
ことができ、基面5は磁気材料から作られる。第2支承
ユニット11もまた例えば電磁気的軸受を備えることが
でき、これは磁気材料からなる直線案内の両側に置か
れ、電磁石は基面5に平行に延びる。
【0045】基面5に平行な所望の回転軸線の回りの物
体テーブル19の傾斜は3つの力アクチュエータ37、
123を使用して得られることも注目すべきである。か
かる傾斜は代わりの力アクチュエータシステムによって
得られる、例えば基面5に平行なx−軸線の回りに傾斜
可能となすφ−アクチュエータと、基面5に平行でかつ
x−軸線を横切るy−軸線の回りに傾斜可能となするφ
−アクチュエータに関連するΨ−アクチュエータを含む
力アクチュエータによって得られる。しかし、かかる力
アクチュエータシステムを使用した場合、第1と第2の
支承ユニット2、11に対する剛性化部材23の静的に
決定される連結を行うのは更に困難にである。
【0046】各力アクチュエータ37、123がz方向
に実質上平行に向いた剛性化部材23に力を及ぼすこと
は注目すべきである。カム形ディスク43、125とカ
ム−從動子53、135をもつ力アクチュエータ37、
123の代わりに、他の力アクチュエータ、例えばz方
向に作用するリニヤモータを備えた力アクチュエータ
(例えば可動コイルモータ)又は圧電アクチュエータと
組合せたリニヤモータも使用できる。かかる代わりの力
アクチュエータはしかし一般に複雑な構造をもつ。
【0047】本発明の支持装置は一般に調査及び/又は
処理すべき材料や物体の摩擦無し、遊び無しのかつ低ヒ
ステリシスの変位に使用できることは注目すべきであ
る。かかる場合の多くにおいては、正確な変位がz方向
に要求され、又は基面5に平行に向いた回転軸線の回り
の正確な傾斜が要求される。
【0048】互いにH形に配置したリニヤモータ19
7、199は米国特許第4,737,823 号からそれ自体既知
である。光学リトグラフ装置に使用する場合、支持装置
は代わりの駆動ユニット、例えばオランダ国特許出願第
8902471 号から既知の2段階式駆動ユニットと組合せる
ことができる。この2段階式駆動ユニットでは、物体テ
ーブルは2つの座標方向で基面に対して変位できるキャ
リジによって案内される。この場合物体テーブルは専ら
ローレンツ力によって同じ座標方向にキャリジに相対的
に駆動される。
【0049】上述の光学リトグラフ装置が集積電子回路
の製造において半導体基板を照明させるのに極めて適す
ることは既に説明した。かかるリトグラフ装置はマスク
パターンを該装置によって基板上に描く場合のように、
10分の数マイクロメータ程度の微細寸法をもつ構造を
備える他の製品の製造にも使用できる。例としては集積
光学システムの構造、磁区メモリの伝導及び検出パター
ン、液晶影像表示パターン等がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の支持装置の第1実施例を示す図であ
る。
【図2】支持装置の物体テーブルを除外して図1の支持
装置を示す図である。
【図3】図1の支持装置の力アクチュエータシステムの
一部を形成する力アクチュエータを示す図である。
【図4】図3の力アクチュエータの断面図である。
【図5】本発明の支持装置の第2実施例を示す図であ
る。
【図6】図5の支持装置の数個の部品を示す図である。
【図7】図5の支持装置の弾性的に変形可能の連結部材
を示す図である。
【図8】図5の支持装置の力アクチュエータシステムの
一部を形成する力アクチュエータの断面図である。
【図9】本発明の支持装置を備えた光学リトグラフ装置
を示す図である。
【図10】支持装置と図9の光学リトグラフ装置の支持
部材とによって形成されるユニットを示す図である。
【符号の説明】
1 支持装置 2 第1支承ユニット 11 第2支承ユニット 19 物体テーブル 21 支持面 23 剛性化部材 31 支持ボール 35 弾性連結部材 37 力アクチュエータ 43 カム形ディスク 53 カム從動子 55 出力シャフト 67 連結板 69 連結板 91 縮小部分 93 縮小部分 101 支持コラム 103 縮小部分 109 連結板 113 連結部材 123 力アクチュエータ 125 カム形ディスク 147 電気モータ 149 光学リトグラフ装置 153 半導体基板 155 駆動ユニット 157 光学レンズ系 159 主光軸 171 鏡 189 キャリア 197 リニヤ電気モータ 233 鏡
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 マルセル クンラート マリー バーヘ ン オランダ国 5671 アーエル ヌエネン ボールドスウェッハ 65 (72)発明者 ヘンリクス ウィルヘルムス アルディ シウス ヤンセン オランダ国 5643 ベーベー アインド ーフェンカムペルフッリーラーン 15 (72)発明者 ペトルス ルトヘルス バルトライ オランダ国 5813 ベーエル エイセル ステイン ペテル ヤンセンウェッハ 34 (72)発明者 ヤン ファン エイク オランダ国 5621 ベーアー アインド ーフェンフルーネバウツウェッハ 1 (56)参考文献 特開 平2−139146(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/027 G03F 7/20 G12B 5/00

Claims (14)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基面に沿って支持装置を案内するための
    第2の支承ユニットを支持する第1支承ユニットと、基
    面に平行に延在する直線案内と、支持ユニットをもち、
    前記支持ユニットは物体テーブルと剛性化部材を備えか
    つ力アクチュエータシステムによって、基面に直角をな
    すz方向に平行に第1支承ユニットに対して変位できて
    成る支持装置において、 支持ユニットは力アクチュエータシステムによって基面
    に平行に向いた少なくとも1つの回転軸線の回りに第1
    と第2の支承ユニットに対して回転可能になっており、
    また、剛性化部材は連結部材によって第2支承ユニット
    に連結されていて、その連結部材の、剛性化部材に連結
    された第1の部分が、該連結部材の、第2支承ユニット
    に連結された第2の部分に対してz方向に平行な方向へ
    弾性変位可能になっていることを特徴とする支持装置。
  2. 【請求項2】 力アクチュエータシステムが3つの力ア
    クチュエータによって形成される請求項1に記載の支持
    装置において、作動中各力アクチュエータが剛性化部材
    に力を加え、それは実質上z方向に平行であることを特
    徴とする支持装置。
  3. 【請求項3】 各力アクチュエータはカム及び被動カム
    從動子を備え、カムは基面に平行に向いた回転可能のカ
    ムシャフトに固着され、カム從動子はカムシャフトに平
    行に向いた駆動モータの出力シャフトに連結されること
    を特徴とする請求項2に記載の支持装置。
  4. 【請求項4】 駆動モータは第1支承ユニットに固着さ
    れる一方、カムシャフトは剛性化部材に連結されること
    を特徴とする請求項3に記載の支持装置。
  5. 【請求項5】 剛性化部材は物体テーブルを支持するた
    めの3つの支持素子を含み、前記素子はz方向を横切る
    平面内で互いに三角形に配置され、支持素子は板形のス
    トリップによって相互連結される一方、各支持素子は前
    記平面内に延在する弾性連結部材によって第2支承ユニ
    ットに連結されることを特徴とする請求項4に記載の支
    持装置。
  6. 【請求項6】 各弾性連結部材は板形のストリップを含
    み、前記ストリップは関連の支持素子に隣接した三角形
    の二等分線を横切って延びかつその両端に、関連の二等
    分線に実質的に平行に延びる縮小部分を備えることを特
    徴とする請求項5に記載の支持装置。
  7. 【請求項7】 各支持素子は支持ボールを含むことを特
    徴とする請求項5又は6に記載の支持装置。
  8. 【請求項8】 剛性化部材の各支持素子は弾性ロッドに
    よって力アクチュエータシステムの力アクチュエータの
    1つに連結され、前記ロッドはz方向に平行な方向に延
    びることを特徴とする請求項5から7の何れか1項に記
    載の支持装置。
  9. 【請求項9】各弾性ロッドはz方向に平行に延びかつ両
    端に2つの相互に直角をなす縮小部分を備えたコラムを
    含むことを特徴とする請求項8に記載の支持装置。
  10. 【請求項10】 z方向に見て剛性化部材は第1と第2
    の支承ユニット間に配置し、物体テーブルは弾性支持コ
    ラムによって剛性化部材に固着する一方、第2支承ユニ
    ットはz方向に平行に剛性化部材と並んで延びる固着部
    材によって第1支承ユニットに固着したことを特徴とす
    る請求項1から3の何れか1項に記載の支持装置。
  11. 【請求項11】 剛性化部材はz方向を横切って延びる
    3つの板ばねによって第2の支承ユニットに連結したこ
    とを特徴とする請求項10に記載の支持装置。
  12. 【請求項12】 物体テーブルは3つの弾性支持コラム
    によって剛性化部材に固着し、各前記コラムは第1と第
    2の端部に基面に平行に延在する第1縮小部分と第1縮
    小部分に平行に延在する第2縮小部分を夫々備え、かつ
    第1と第2の縮小部分間に第1と第2の縮小部分を横切
    って延びる第3の縮小部分を備えたことを特徴とする請
    求項10又は11に記載の支持装置。
  13. 【請求項13】 駆動モータは剛性化部材に固着する一
    方、カムシャフトは第1支承ユニットに固着することを
    特徴とする請求項10から13の何れか1項に記載の支
    持装置。
  14. 【請求項14】 z方向に光学リトグラフ装置が連続的
    に前記支持装置、z方向に平行に向いた主光軸をもつレ
    ンズ系、マスク用のマニピュレータ及び基面を反復照明
    するためのシヤッタをもつ光源を備え、前記基板は支持
    装置によって支持され、物体テーブルは主光軸と実質的
    に直角をなす基板のための支持面を含むことを特徴とす
    る請求項1から13の何れか1項に記載の支持装置を備
    えた光学リトグラフ装置。
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Families Citing this family (44)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5813287A (en) * 1994-03-02 1998-09-29 Renishaw Plc Coordinate positioning machine
DE69536045D1 (de) * 1994-03-02 2010-04-01 Renishaw Plc Koordinaten-Positionierungsmaschine
JP3221823B2 (ja) * 1995-11-24 2001-10-22 キヤノン株式会社 投影露光装置およびこれを用いた露光方法ならびに半導体製造方法
US5991005A (en) * 1996-04-11 1999-11-23 Nikon Corporation Stage apparatus and exposure apparatus having the same
JP3659529B2 (ja) * 1996-06-06 2005-06-15 キヤノン株式会社 露光装置およびデバイス製造方法
JPH10521A (ja) * 1996-06-07 1998-01-06 Nikon Corp 支持装置
US5815246A (en) * 1996-12-24 1998-09-29 U.S. Philips Corporation Two-dimensionally balanced positioning device, and lithographic device provided with such a positioning device
US5835198A (en) * 1997-01-06 1998-11-10 Etec Systems, Inc. Articulated platform mechanism for laser pattern generation on a workpiece
JPH10209035A (ja) * 1997-01-23 1998-08-07 Nikon Corp 露光装置
JPH11191585A (ja) * 1997-12-26 1999-07-13 Canon Inc ステージ装置、およびこれを用いた露光装置、ならびにデバイス製造方法
US6054784A (en) * 1997-12-29 2000-04-25 Asm Lithography B.V. Positioning device having three coil systems mutually enclosing angles of 120° and lithographic device comprising such a positioning device
DE19805875C1 (de) * 1998-02-13 1999-04-08 Schott Glas Trägertisch für eine Photomaske in einer Vorrichtung zur Mikrochip-Herstellung
US6621556B2 (en) * 2000-02-28 2003-09-16 Nikon Corporation Projection exposure apparatus and manufacturing and adjusting methods thereof
TW509823B (en) * 2000-04-17 2002-11-11 Asml Netherlands Bv Lithographic apparatus, device manufacturing method, and device manufactured thereby
DE10062713C1 (de) * 2000-12-15 2002-09-05 Zeiss Carl Verfahren zum Beschichten von Substraten und Maskenhaltern
US6646719B2 (en) * 2001-01-31 2003-11-11 Nikon Corporation Support assembly for an exposure apparatus
EP1243969A1 (en) * 2001-03-20 2002-09-25 Asm Lithography B.V. Lithographic projection apparatus and positioning system
DE10115915A1 (de) * 2001-03-30 2002-10-02 Zeiss Carl Vorrichtung zur Justierung von Einrichtungen und zum Einstellen von Verstellwegen
DE10136387A1 (de) * 2001-07-26 2003-02-13 Zeiss Carl Objektiv, insbesondere Objektiv für die Halbleiter-Lithographie
DE10140174B4 (de) * 2001-08-22 2005-11-10 Leica Microsystems Semiconductor Gmbh Koordinaten-Messtisch und Koordinaten-Messgerät
DE10219514A1 (de) * 2002-04-30 2003-11-13 Zeiss Carl Smt Ag Beleuchtungssystem, insbesondere für die EUV-Lithographie
US7760452B2 (en) * 2003-04-25 2010-07-20 Canon Kabushiki Kaisha Driving apparatus, optical system, exposure apparatus and device fabrication method
ATE441876T1 (de) * 2003-07-17 2009-09-15 Newport Corp Hochauflísender dynamischer positionierungsmechanismus
US7265917B2 (en) 2003-12-23 2007-09-04 Carl Zeiss Smt Ag Replacement apparatus for an optical element
US7515359B2 (en) 2004-04-14 2009-04-07 Carl Zeiss Smt Ag Support device for positioning an optical element
JP2007025374A (ja) * 2005-07-19 2007-02-01 Mitsubishi Electric Corp 反射鏡支持調整機構
TWI372271B (en) * 2005-09-13 2012-09-11 Zeiss Carl Smt Gmbh Optical element unit, optical element holder, method of manufacturing an optical element holder, optical element module, optical exposure apparatus, and method of manufacturing a semiconductor device
DE102006034455A1 (de) * 2006-07-26 2008-01-31 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Lageveränderliche Werkstückauflage für eine Maschine und Bearbeitungsanlage mit einer entsprechenden Werkstückauflage
KR101302300B1 (ko) * 2006-12-22 2013-09-03 주식회사 케이씨텍 대면적 기판의 방향 전환장치
DE102008000967B4 (de) * 2008-04-03 2015-04-09 Carl Zeiss Smt Gmbh Projektionsbelichtungsanlage für die EUV-Mikrolithographie
US8305701B2 (en) * 2008-09-17 2012-11-06 Carl Zeiss Smt Gmbh Connecting arrangement for an optical device
EP2629930B1 (en) * 2010-10-21 2018-12-26 Thorlabs, Inc. Parallellism conservation mechanism for nanopositioner
US8542450B2 (en) * 2011-02-08 2013-09-24 Utah State University Research Foundation Kinematic optic mount
US20130125793A1 (en) * 2011-11-22 2013-05-23 Alex K. Deyhim Two degrees of freedom optical table
CN103066894B (zh) * 2012-12-12 2015-05-20 清华大学 一种六自由度磁悬浮工件台
CN104062854B (zh) * 2013-03-21 2016-08-03 上海微电子装备有限公司 用于光刻设备的调平调焦装置
CN104110561B (zh) * 2014-06-25 2016-06-29 华南理工大学 一种基于柔顺机构的大行程平面三自由度精密定位平台
KR102296804B1 (ko) * 2014-07-03 2021-08-31 뉴포트 코포레이션 다축 포지셔닝 장치
GB2541171A (en) * 2015-07-29 2017-02-15 Skf Ab A device for adjusting the positioning of an apparatus relative to a foundation in a shaft alignment process and a method thereof
WO2017207016A1 (en) * 2016-05-30 2017-12-07 Carl Zeiss Smt Gmbh Optical imaging arrangement with a piezoelectric device
CN111650816B (zh) * 2019-03-04 2021-07-23 上海微电子装备(集团)股份有限公司 柔性连接装置、测量系统及光刻机
CN112756996A (zh) * 2020-12-29 2021-05-07 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种六自由度调节装置
EP4376060A1 (de) * 2022-11-22 2024-05-29 Schneeberger Holding AG Positioniervorrichtung zum positionieren eines beweglichen elements
GB2626305A (en) * 2023-01-10 2024-07-24 Fives Landis Ltd A machine tool and a rotary machine drive for a machine tool

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4431304A (en) * 1981-11-25 1984-02-14 Mayer Herbert E Apparatus for the projection copying of mask patterns on a workpiece
US4473291A (en) * 1983-03-24 1984-09-25 Opti-Copy, Inc. Support arrangement for track mounted cameras, projectors and camera/projectors
US4676649A (en) * 1985-11-27 1987-06-30 Compact Spindle Bearing Corp. Multi-axis gas bearing stage assembly
JPS62200726A (ja) * 1986-02-28 1987-09-04 Canon Inc 露光装置
NL8600785A (nl) * 1986-03-27 1987-10-16 Asm Lithography Bv Positioneerinrichting met een z-manipulator en een o-manipulator.
NL8601095A (nl) * 1986-04-29 1987-11-16 Philips Nv Positioneerinrichting.
NL8601547A (nl) * 1986-06-16 1988-01-18 Philips Nv Optisch litografische inrichting met verplaatsbaar lenzenstelsel en werkwijze voor het regelen van de afbeeldingseigenschappen van een lenzenstelsel in een dergelijke inrichting.
JPH0812843B2 (ja) * 1989-03-15 1996-02-07 日本精工株式会社 光学結像装置及び方法
NL8902471A (nl) * 1989-10-05 1991-05-01 Philips Nv Tweetraps positioneerinrichting.
US5130747A (en) * 1990-09-28 1992-07-14 Kabushiki Kaisha Toshiba Carrier apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
KR100233614B1 (ko) 1999-12-01
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