JP3266244B2 - 触針及びその組み立て方法 - Google Patents

触針及びその組み立て方法

Info

Publication number
JP3266244B2
JP3266244B2 JP23177989A JP23177989A JP3266244B2 JP 3266244 B2 JP3266244 B2 JP 3266244B2 JP 23177989 A JP23177989 A JP 23177989A JP 23177989 A JP23177989 A JP 23177989A JP 3266244 B2 JP3266244 B2 JP 3266244B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
tubular housing
plunger
stylus
inner portion
open end
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP23177989A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH02108973A (ja
Inventor
ディー コウ トーマス
Original Assignee
キューエイ テクノロジー カンパニー インコーポレイテッド
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by キューエイ テクノロジー カンパニー インコーポレイテッド filed Critical キューエイ テクノロジー カンパニー インコーポレイテッド
Publication of JPH02108973A publication Critical patent/JPH02108973A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3266244B2 publication Critical patent/JP3266244B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06716Elastic
    • G01R1/06722Spring-loaded

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、電気的回路を検査するために使用する触針
に関する。
より詳しくいうと、開口端部と、洗浄用小孔を備える
ほぼ閉じられた端部とを有する管状ハウジングと、前記
管状ハウジングの中に嵌入され、かつ前記管状ハウジン
グ内部に滑り嵌めされる円筒状内方部分、及び前記内方
部分よりも小径の円筒状外方部分とを備え、前記内方部
分と外方部分との会合部に肩部が形成されているプラン
ジャーと、前記プランジャーを延び出す方向に付勢する
べく、管状ハウジングの閉端部と、プランジャーの内方
部分との間に、長手方向に圧縮して設けられたばねと、
管状ハウジングの開口端部を画定し、かつ前記プランジ
ャーの外方部分が貫通しうるようになっているととも
に、この外方部分が滑り嵌合しうる内径を有する細長い
円筒状の保持・摺動支承部とから構成された、検査時に
電気的回路と電気的接触をさせるための触針に関する。
〔従来の技術〕
検査用触針は、検査の際には、数百または数千という
グループとして、プリント回路板に接触させられる。
コンピュータ式テスターを使って、信号を送り、検査
状態の回路板からの出力が分析される。
標準的な工業規格によると、コンピュータ用回路板
や、その他の電子装置の回路板は、100パーセント検査
することとなっている。
このような検査を、効率的かつ正確に行なうために
は、使用される触針は、信頼性の高いものでなければな
らない。
従来の検査用触針には、いくつかの問題点がある。そ
の一つは、触針の先端が、回路板のはんだ被覆パッド上
のフラックスや酸化膜を突いて、孔をあけてしまうこと
である。この問題は、回路板に構成要素を組み付けた
後、回路板自体をウエーブはんだ付けするなどして、各
構成要素を回路板に固定してから、回路の検査をする際
によく起こる。
別の大きな問題点は、触針自体の摩耗により、汚染微
粒子が発生することである。この微粒子は、触針のプラ
ンジャーと管状ハウジングとの間の良好な電気的接触を
妨害する。この摩耗は、ばねの疲労(この疲労によって
破損したばねの尖った先端が、管状ハウジングの内面を
引っ掻いて粒子が生じる。)や、触針に対する横荷重に
よってもたらされる。
横荷重は、触針の尖端が、はんだの塊りや、折った素
子リード線の傾斜側面に当接したり、触針が、被検査回
路板における食い違った位置にある孔に入ったりしたと
きに発生する。
第1図示の触針(10)は、公知のもので、そのストロ
ークは4.1mm(0.16インチ)、取付け中心同士の間が2.5
mm(0.1インチ)である。
プランジャー(12)は、管状ハウジング(16)に滑り
嵌合しうる寸法の外径を有する内方部分(14)と、内方
部分(14)から同軸的に外方へ伸びる外方部分(18)と
を備えている。
外方部分(18)の直径は、内方部分(14)の直径より
も小さく、そのため、それらの会合部位には肩部(20)
が形成されている。ハウジングの端部を、外方部分(1
8)の周りへ向かって折り曲げることにより、プランジ
ャー(12)は、管状ハウジング(16)の中で保持されて
いる。
問題を避けるためには、第2図に示すように、許容誤
差を、極めて正確に保たなければならない。もし、内方
部分(14)の直径と、管状ハウジング(16)の内径との
誤差が正確でないと、矢印(22)で示すように、折曲部
のシャープな縁部でプランジャー(12)は、引っ掻かれ
て、摩耗粒子が生じ、触針(10)の働きは急速に悪くな
ってしまう。もし許容度があまりにも小さいと、プラン
ジャー(12)は、ハウジング(16)の中で締めつけられ
てしまい、触針は動かなくなってしまう。
また、大きな横荷重が作用すると、組み立ての時には
正しく保たれていた許容度とは関係なしに、摩耗が生じ
る。
さらに、既に述べ、矢印(24)で示すように、外方へ
向かって付勢しているばね(26)が破断すると、その鋭
い縁部により引っ掻かれて、有害な粒子が生じ、傷をつ
ける原因となる。
1970年代の後期には、検査上の要求により、従来に比
してストロークの長い触針が求められるようになった。
つまり、外方部分(18)の先端部(28)が、ハウジング
(16)の内方へ向かって移動しうる距離を大きくするこ
とである。
このような要求に応えて、第3図示の構造の触針が採
用されるようになった。この触針は、第1図及び第2図
に示す従来の触針の摩耗問題を解決し、かつストローク
は、要求に応じうるように長いものとなっている。
第3図示の触針(10')は、現在までのところ、最も
広く使われている。例えば、それは、クーニー(Coone
y)による米国特許第4,397,519号、及びコウ(Coe)ら
による同第4,659,987号の各明細書に記載されている。
なお、後者の特許は、本願出願人の所有になるものであ
る。
第3図に示す触針は、従来のものと比べれば、摩耗の
問題は解決され、かつストロークは長くなっているが、
依然として問題が残されている。つまり、触針が使用さ
れる装置の進歩に伴い、その標準的な寸法は小さくな
り、そのため、上で述べた回路板の汚染物を確実に穿孔
するような大きな力を発揮しうる長寿命ばねを収容しう
るスペースがなくなっている。ばねの疲労寿命が長いと
いうことは、特に万能検査ベッドにおいて重要である。
この種のベッドでは、6.5cm2(1平方インチ)当たり、
100本の触針を使用し、また1ベッド当たり、3万とか
4万本の触針を使用することもよくある。
このような形式の検査器では、検査されるすべての回
路板に対して、同じ触針が繰返し使用される。この種の
検査器における触針は、往々にして1年に25万回も繰り
返して使用される。第3図示の触針(10')を用いた場
合、ばねの破断は、重大な問題である。
第3図示の触針(10')における別の問題は、これを
自動装置によって組み立てる際に不安定であるというこ
とである。
触針プランジャー(12')は、内方部分(14')と、こ
れと同じ直径の外方部分(18')と、小径の中間部(3
0)とからなっている。このプランジャー(12')は、内
方部分(14')と中間部(30)との会合部において形成
された肩部(34)と当接する場所で、ハウジング(16)
に設けられている折り曲げ部(32)により、ハウジング
(16)の中に保持されている。
プランジャー(12')は、ハウジング(16)の内部を
滑動する外方部分(18')及び内方部分(14')の協動作
用により、ハウジング(16)の中で長手方向に案内され
る。
しかし、当業者には明らかなように、組み立ての際、
プランジャーを挿入した後、押し下げて、ばね(26)
を、予負荷を与えるように加圧しながら、ハウジング
(16)に折り曲げ部(32)を形成する際に、良好な安定
が保たれるようにするためには、外方部分(18')を、
十分な長さに亘って、ハウジング(16)の中で支持する
必要がある。そのため、ばね(26)の長さは、所望より
も短くなってしまう。
従って、先端部が所望の穿孔力を発揮しうるようにす
るためには、ばね(26)を、相当に強いものとしなけれ
ばならないこととなり、ばね(26)は一層破断し易くな
る。
第3図示の公知の触針(10')におけるばねの寿命
は、全ストロークにおいて、通常、10万サイクル以下で
ある。上で述べた検査ベッドのような装置では、1年に
25万サイクルが繰り返えされる。従って、各ベッドにお
ける3万か4万本の触針のばね寿命は、僅か、4.8か月
にしかならないことになる。それ以上使用すると、引っ
掻きにより、粒子が生成したり、触針の性能が低下し始
めたりする。
〔発明が解決しようとする課題〕
本発明の第1の目的は、触針を劣化させる粒子の生成
原因となる構成要素間の引っ掻き作用を起こさないよう
にした、電気素子の検査ベッドなどに使用する検査用触
針を提供することである。
本発明の第2の目的は、一定の長さのばねにより、大
きなストロークが得られるようにした、電気素子の検査
ベッドなどに使用する検査用触針を提供することであ
る。
本発明の第3の目的は、破断することなく、寿命の長
いばねを有する、電気素子の検査ベッドなどに使用する
検査用触針を提供することである。
〔課題を解決するための手段〕
本発明によれば、管状ハウジング内に設けられ、該管
状ハウジング内に設けられている予負荷圧縮ばねの力で
該管状ハウジングの開口端から外側へ付勢されているプ
ランジャーを有する、検査時に電気回路と電気接触をす
るための触針を組み立てる方法であって、前記開口端を
備える前記管状ハウジングを変形可能な電導材から形成
し、該管状ハウジング内に滑り嵌合される円筒状内方部
分と、該内方部分の先端から連続的に縮径して延出し、
該内方部分との境界に肩部を形成している円筒状外方部
分を備えるプランジャーを形成し、前記圧縮ばね及び前
記プランジャーの前記内方部分を前記開口端から前記管
状ハウジングに挿入し、該開口端を変形させることによ
って前記管状ハウジング内に前記肩部を保持させる工程
を含み、前記プランジャーを前記管状ハウジング内に挿
入し、前記管状ハウジング内から前記開口端を経て前記
管状ハウジングの外に前記外方部分が延在するように前
記プランジャーを配置した後、該管状ハウジングの前記
開口端から長手方向に予め定められた長さの部分を前記
外方部分の回りから圧縮することによって、前記外方部
分と滑り嵌合される細長い円筒形の保持・摺動支承部を
形成し、該保持・摺動支承部により前記外方部分を支持
させることにより、前記内方部分の長手方向の長さを短
くしても前記プランジャーの摺動の安定を確保すること
ができ、その結果、前記保持・摺動支承部の基端部に前
記プランジャーの肩部が係合した状態において、前記圧
縮ばねの長さを大きくとることができ、前記プランジャ
ーの前記内方部分の内端が、前記管状ハウジング内に挿
入される前に傾斜面に形成されることを特徴とする触針
の組立方法を提供する。
さらに、管状ハウジング内に設けられ、軸方向に圧縮
ばねの力で該管状ハウジングの外側へ付勢されているプ
ランジャーを有し、検査時に電気回路と電気接触を与え
るための触針の製造方法であって、開口端を有する前記
管状ハウジングを形成する工程と、該管状ハウジング内
に滑り嵌合される円筒状内方部分と、該内方部分よりも
小さい径を有し、該内方部分との境界部に肩部を形成す
る円筒状外方部分とを備えるプランジャーを形成する工
程と、前記圧縮ばねを前記管状ハウジングに挿入する工
程と、前記プランジャーの前記内方部分を前記管状ハウ
ジングに挿入し、前記圧縮ばねに当接させる工程と、前
記圧縮ばねに予負荷をかけるために前記内方部分で前記
圧縮ばねを圧縮し、前記肩部を前記ハウジングの開口端
から内方に間隔をあけて位置させる工程と、前記圧縮ば
ねが圧縮された状態において、内挿された前記肩部が位
置する前記管状ハウジングの部分と前記開口端との間の
該管状ハウジングの外径を減少させることにより、細長
い保持・摺動支承部を形成する工程と、を有し、該保持
・摺動支承部が、前記プランジャーの前記外方部分の外
径に対し、滑り嵌合される内径を有するように形成され
ることを特徴とする触針の製造方法を提供する。
〔実施例〕
以下、添付の図面を参照して、本発明の好適実施例を
詳細に説明する。
第4図乃至第7図は、本発明による触針(10")を示
す。当業者であれば直ぐ分かるように、この触針(1
0")は、第1図及び第2図を参照して既に説明した公知
の触針(10)を改良したものである。
公知の触針と同じように、本発明による触針の構成要
素は、すべて導電性材料からなっている。しかし、本発
明に基く改良により、第1図及び第2図に示す公知の触
針に比して、容易に想到し得ない予想外の利益がもたら
されるものである。
例えば、従来の触針(10)は、ストロークが短かった
り、折り曲げ部での引っ掻きがあった。しかし、本発明
による触針(10")によると、第3図示の触針(10')へ
切換えることによって達成されるストローク長4.1〜6.4
mm(0.16〜0.25インチ)の工業規格によるシャットハイ
トの範囲で、ストローク長を長くすることができた。
また、試験によると、本発明による触針(10")の内
部のばねは、全ストロークで、最低3,600,000サイクル
の使用に耐えた。この寿命を「最低」と言ったのは、10
0個の触針についてその回数まで試験したが、ばねが破
損したものはなかったからである。
本発明により製造された60個の触針による別の試験に
よると、触針の抵抗値は、30ミリオーム以下であり、か
つ代表抵抗値は、14ミリオームであった。従来の市販の
触針の中には、このような特性を有するものはない。
本発明によると、性能がすぐれ、しかも信頼性に富む
とともに、著しく小型化され、1.3mm(0.050インチ)の
間隔で取付けることができる触針が提供される。従っ
て、次第に小型化している電子回路板の試験における有
利性は、明白である。
性能及び信頼性が、本発明により向上する理由は、勿
論、新規な触針(10")の構成により、ばね(26)の変
更が可能になったためである。これは、各種の従来の触
針と、本発明による触針(10")とを比較した次の表か
ら明白である。
本発明の目的を達成し、かつ予期しない利益を得るた
めに、第1図及び第2図示の従来の触針(10)に対して
行った改良点は、第1図及び第2図示のものと、第4図
乃至第7図示のものとを比較すれば、明らかである。
管状ハウジング(16)は、ばね(26)の形状を維持
し、かつ組み立てが容易なように長くなっている。第3
図示のものと比較して、本発明では、ばねのシャットハ
イトは50%以上増えている。
触針プランジャー(12)の構造は、従来の触針(10)
とほぼ同じであるが、外方部分(18)は、長目になって
いる。
図に示すように、内方部分(14)の内端(36)には、
傾斜をつけるのが好ましい。このようにすると、横方向
の力が発生し、ハウジング(16)からプランジャー(1
2)へかけて優れた電気的接触が得られる。
組み立ての際、第5図に示すように、まずばね(26)
を挿入し、次に、内方部分(14)を挿入する。第3図示
の触針(10')の構成とは対照的に、プランジャー(1
2)は、接触がかなり短いにも拘らず、安定している。
そのため、本発明のものにおけるばねは、従来のもの
よりも、はるかに長く、かつ、更に大きな予負荷を与え
ることができる。この予負荷が大きいことにより、作動
範囲での均一なプランジャー力が得られ、かつ疲れ寿命
は長くなる。従って、上で述べたように、ばねの破損が
なく、サイクル寿命は長くなる。
第5図示のように、プランジャー(12)を挿入してか
ら、第6図に示すように押し下げると、ばね(26)には
予負荷が加えられ、かつ肩部(20)は、ハウジング(1
6)の開口端(38)より下方へ位置する。
次に、第7図に示すように、肩部(20)と開口端(3
8)との間のハウジング(16)領域を、スエージングな
どにより絞ると、小径の保持・摺動支持部(40)が形成
される。
〔発明の効果〕
スペースが広いため、大きいばね力が得られること
と、隙間が小さい細長い保持・摺動支承部(40)とによ
り、横荷重に対する許容度が大となるとともに、電気抵
抗は低くなり寿命が長くなる。
接触領域は、保持・摺動支承部(40)、あるいはプラ
ンジャー(12)と接する管状ハウジング(16)の露出コ
ーナーもしくは露出縁部を有しない延長領域となってい
るので、本発明のものは、従来の触針(10)と比較し
て、縁部による引っ掻きが全くない。
ばねが長いこと、ばねの負荷作用が大きいこと、ばね
の寿命が長いこと、および横荷重が存在しても、構成要
素同士間の引っ掻き作用による粒子生成が全くないこと
により、前述の目的は達成される。また、このことは、
従来の触針とストローク長が同じで、しかも同じシャッ
トハイト範囲内のスペースを有することによっても達成
される。また、本発明の触針の製造方法においては、管
状ハウジングにプランジャーが挿通された状態で、スエ
ージング等の押圧加工により当該管状ハウジングの外径
を減少させ、保持・摺動支承部を形成する。この工程段
階で該保持・摺動支承部はプランジャーの外周に隙間な
く当接させられるが、このスエージング等による押圧力
を取り除いたときには、保持・摺動支承部はその弾性に
よってわずかに外側に広がる。このとき生じた保持・摺
動支承部とプランジャーとのわずかな隙間が、プランジ
ャーを保持・摺動支承部に沿って滑らかに、しかも、ぐ
らつきなく摺動させる。本発明の触針の製造方法によれ
ば、プランジャー側に多少の寸法誤差があっても、スエ
ージング工程等で調整でき、この寸法誤差を吸収でき
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は、従来の検査用触針の一例を示す縦断面図であ
る。 第2図は、第1図示の触針に関連する問題のいくつかを
示すための同様の縦断面図である。 第3図は、従来の検査用触針の別の例を示す縦断面図で
ある。 第4図は、本発明による検査用触針の縦断面図である。 第5図は、第4図示の触針において、組み立ての際、プ
ランジャーを管状ハウジング挿入して、ばねに予負荷を
加える様子を示す部分縦断面図である。 第6図は、第5図示の挿入段階の後、管状ハウジンに挿
入したプランジャーにより、ばねに予負荷を加えている
状態で、前記ハウジングに保持端を形成する直前の段階
を示す、本発明による触針の部分縦断面図である。 第7図は、組み立てに際し、第6図示の状態の後、管状
ハウジングの端部に保持・摺動支承部を形成することに
より、プランジャーを、ばねの予負荷により、管状ハウ
ジングの内部に保持している様子を示す、本発明による
触針の部分縦断面図である。 (10)(10')(10")……触針、(12)(12')……プ
ランジャー (14)(14')……内方部分、(16)……管状ハウジン
グ (18)(18')……外方部分、(20)……肩部 (22)……矢印、(24)……矢印 (26)……ばね、(28)……先端部 (30)……中間部、(32)……折り曲げ部 (34)……肩部、(36)……内端 (38)……開口端、(40)……保持・摺動支承部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭63−90324(JP,A) 実開 昭60−185263(JP,U) 実開 昭56−17563(JP,U) 実開 昭62−76668(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01R 1/067

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】管状ハウジング内に設けられ、該管状ハウ
    ジング内に設けられている予負荷圧縮ばねの力で該管状
    ハウジングの開口端から外側へ付勢されているプランジ
    ャーを有する、検査時に電気回路と電気接触をするため
    の触針を組み立てる方法であって、 前記開口端を備える前記管状ハウジングを変形可能な電
    導材から形成し、 該管状ハウジング内に滑り嵌合される円筒状内方部分
    と、該内方部分の先端から連続的に縮径して延出し、該
    内方部分との境界に肩部を形成している円筒状外方部分
    を備えるプランジャーを形成し、 前記圧縮ばね及び前記プランジャーの前記内方部分を前
    記開口端から前記管状ハウジングに挿入し、 該開口端を変形させることによって前記管状ハウジング
    内に前記肩部を保持させる工程を含み、 前記プランジャーを前記管状ハウジング内に挿入し、前
    記管状ハウジング内から前記開口端を経て前記管状ハウ
    ジングの外に前記外方部分が延在するように前記プラン
    ジャーを配置した後、該管状ハウジングの前記開口端か
    ら長手方向に予め定められた長さの部分を前記外方部分
    の回りから圧縮することによって、前記外方部分と滑り
    嵌合される細長い円筒形の保持・摺動支承部を形成し、
    該保持・摺動支承部により前記外方部分を支持させるこ
    とにより、前記内方部分の長手方向の長さを短くしても
    前記プランジャーの摺動の安定を確保することができ、
    その結果、前記保持・摺動支承部の基端部に前記プラン
    ジャーの肩部が係合した状態において、前記圧縮ばねの
    長さを大きくとることができ、 前記プランジャーの前記内方部分の内端が、前記管状ハ
    ウジング内に挿入される前に傾斜面に形成されることを
    特徴とする触針の組立方法。
  2. 【請求項2】細長い円筒形の保持・摺動支承部がスエー
    ジング加工により形成されることを特徴とする請求項1
    記載の方法。
  3. 【請求項3】管状ハウジング内に設けられ、軸方向に圧
    縮ばねの力で該管状ハウジングの外側へ付勢されている
    プランジャーを有し、検査時に電気回路と電気接触を与
    えるための触針の製造方法であって、 開口端を有する前記管状ハウジングを形成する工程と、 該管状ハウジング内に滑り嵌合される円筒状内方部分
    と、該内方部分よりも小さい径を有し、該内方部分との
    境界部に肩部を形成する円筒状外方部分とを備えるプラ
    ンジャーを形成する工程と、 前記圧縮ばねを前記管状ハウジングに挿入する工程と、 前記プランジャーの前記内方部分を前記管状ハウジング
    に挿入し、前記圧縮ばねに当接させる工程と、 前記圧縮ばねに予負荷をかけるために前記内方部分で前
    記圧縮ばねを圧縮し、前記肩部を前記ハウジングの開口
    端から内方に間隔をあけて位置させる工程と、 前記圧縮ばねが圧縮された状態において、内挿された前
    記肩部が位置する前記管状ハウジングの部分と前記開口
    端との間の該管状ハウジングの外径を減少させることに
    より、細長い保持・摺動支承部を形成する工程と、を有
    し、 該保持・摺動支承部が、前記プランジャーの前記外方部
    分の外径に対し、滑り嵌合される内径を有するように形
    成されることを特徴とする触針の製造方法。
JP23177989A 1988-09-09 1989-09-08 触針及びその組み立て方法 Expired - Fee Related JP3266244B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US242,786 1988-09-09
US07242786 US4885533B1 (en) 1988-09-09 1988-09-09 Electrical circuit test probe having an elongate cylindrical retaining and sliding bearing region

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001313872A Division JP2002162414A (ja) 1988-09-09 2001-10-11 触 針

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH02108973A JPH02108973A (ja) 1990-04-20
JP3266244B2 true JP3266244B2 (ja) 2002-03-18

Family

ID=22916179

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP23177989A Expired - Fee Related JP3266244B2 (ja) 1988-09-09 1989-09-08 触針及びその組み立て方法
JP2001313872A Pending JP2002162414A (ja) 1988-09-09 2001-10-11 触 針

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001313872A Pending JP2002162414A (ja) 1988-09-09 2001-10-11 触 針

Country Status (8)

Country Link
US (1) US4885533B1 (ja)
EP (1) EP0361689B1 (ja)
JP (2) JP3266244B2 (ja)
AT (1) ATE125365T1 (ja)
CA (1) CA1309464C (ja)
DE (1) DE68923517T2 (ja)
ES (1) ES2074466T3 (ja)
IE (1) IE67528B1 (ja)

Families Citing this family (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5982187A (en) * 1993-07-01 1999-11-09 Alphatest Corporation Resilient connector having a tubular spring
JP3659662B2 (ja) * 1993-12-24 2005-06-15 株式会社デンソー プローブコンタクト
US5484306A (en) * 1994-10-20 1996-01-16 Interconnect Devices Inc. Quick-connect terminal and receptacle
DE29519413U1 (de) * 1995-12-07 1996-01-25 Tsk Pruefsysteme Gmbh Prüfstift
US6051982A (en) * 1996-08-02 2000-04-18 International Business Machines Corporation Electronic component test apparatus with rotational probe and conductive spaced apart means
US5804984A (en) * 1996-08-02 1998-09-08 International Business Machines Corporation Electronic component test apparatus with rotational probe
US5801544A (en) * 1997-01-16 1998-09-01 Delaware Capital Formation, Inc. Spring probe and method for biasing
US6104205A (en) * 1998-02-26 2000-08-15 Interconnect Devices, Inc. Probe with tab retainer
US6243655B1 (en) * 1998-08-05 2001-06-05 International Business Machines Corporation Circuit trace probe and method
US6172514B1 (en) * 1999-03-12 2001-01-09 Lucent Technologies Inc. Test probe retainer
US6570399B2 (en) * 2000-05-18 2003-05-27 Qa Technology Company, Inc. Test probe and separable mating connector assembly
US6424166B1 (en) * 2000-07-14 2002-07-23 David W. Henry Probe and test socket assembly
US6876530B2 (en) * 2001-01-12 2005-04-05 Qa Technology Company, Inc. Test probe and connector
JP3899075B2 (ja) * 2002-03-05 2007-03-28 リカ デンシ アメリカ, インコーポレイテッド 電子パッケージと試験機器をインターフェースするための装置
TWI233489B (en) * 2003-01-21 2005-06-01 Leeno Ind Inc Contact apparatus and test PCB including the contact apparatus used for testing microwave device, and manufacturing method of the test PCB
US7109732B2 (en) * 2003-07-31 2006-09-19 Endicott Interconnect Technologies, Inc. Electronic component test apparatus
JP2005116724A (ja) * 2003-10-07 2005-04-28 Renesas Technology Corp 半導体装置及びその製造方法
US20050184747A1 (en) * 2004-02-19 2005-08-25 Sanders David L. Spring plunger probe
US7259576B2 (en) * 2005-03-14 2007-08-21 Agilent Technologies, Inc. Method and apparatus for a twisting fixture probe for probing test access point structures
US8253430B2 (en) * 2005-04-22 2012-08-28 Hewlett-Packard Development Company Circuit board testing using a probe
US7453278B2 (en) * 2005-04-22 2008-11-18 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Methods of using a blade probe for probing a node of a circuit
US7248065B2 (en) * 2005-04-22 2007-07-24 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Arcuate blade probe
US7154286B1 (en) * 2005-06-30 2006-12-26 Interconnect Devices, Inc. Dual tapered spring probe
US7279912B2 (en) * 2005-10-13 2007-10-09 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Dual arcuate blade probe tip
US20070084903A1 (en) * 2005-10-13 2007-04-19 Alexander Leon Pronged fork probe tip
ITGE20060052A1 (it) * 2006-05-05 2007-11-06 Hypertac S P A Contatto per connessioni elettriche od elettroniche.
US7616019B2 (en) * 2006-05-08 2009-11-10 Aspen Test Engineering, Inc. Low profile electronic assembly test fixtures
US20080143367A1 (en) * 2006-12-14 2008-06-19 Scott Chabineau-Lovgren Compliant electrical contact having maximized the internal spring volume
US7549884B2 (en) * 2007-01-29 2009-06-23 Samtec, Inc. Probe having a field-replaceable tip
US8410948B2 (en) * 2008-05-12 2013-04-02 John Vander Horst Recreational vehicle holding tank sensor probe
US8506307B2 (en) 2010-12-02 2013-08-13 Interconnect Devices, Inc. Electrical connector with embedded shell layer
JP6841518B2 (ja) * 2019-02-15 2021-03-10 株式会社サンケイエンジニアリング プローブユニット

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3182257A (en) * 1961-05-18 1965-05-04 Motorola Inc Electronic test probe
DE3045882A1 (de) * 1980-12-05 1982-07-08 Ingun Prüfmittelbau GmbH & Co KG Elektronik, 7750 Konstanz Vorrichtung zum pruefen einer elektronischen leiterplatte oder einer entsprechenden elektronischen baugruppe mit kontaktstiften sowie kontaktstift dafuer
US4397519A (en) * 1981-05-12 1983-08-09 Pylon Company, Inc. Electrical contact construction
US4461993A (en) * 1981-09-21 1984-07-24 Everett/Charles, Inc. Low resistance electrical spring probe
US4504780A (en) * 1982-08-25 1985-03-12 Marsella John R Test probe
DE3410093A1 (de) * 1984-03-20 1985-10-03 Feinmetall Gmbh, 7033 Herrenberg Federkontaktstift und verfahren zu seiner herstellung
US4659987A (en) * 1985-03-25 1987-04-21 Qa Technology Company Electrical circuit test probe and connector
US4739259A (en) * 1986-08-01 1988-04-19 Tektronix, Inc. Telescoping pin probe

Also Published As

Publication number Publication date
IE892762L (en) 1990-03-09
DE68923517D1 (de) 1995-08-24
IE67528B1 (en) 1996-04-03
EP0361689B1 (en) 1995-07-19
US4885533A (en) 1989-12-05
ES2074466T3 (es) 1995-09-16
CA1309464C (en) 1992-10-27
JP2002162414A (ja) 2002-06-07
US4885533B1 (en) 1998-11-03
ATE125365T1 (de) 1995-08-15
DE68923517T2 (de) 1996-01-04
JPH02108973A (ja) 1990-04-20
EP0361689A1 (en) 1990-04-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3266244B2 (ja) 触針及びその組み立て方法
US20070018666A1 (en) Spring contact pin for an IC chip tester
JP2810861B2 (ja) 電気デバイスの接触装置及び方法
CN102422170B (zh) 擦拭引发型顺应式电接触
EP0915342B1 (de) Prüfkopf für Mikrostrukturen mit Schnittstelle
JP4911495B2 (ja) 半導体集積回路用ソケット
US4701702A (en) Contact pin having a spring under tension
DE60118465T2 (de) Sonde und Testfassungsanordnung
JPWO2011096067A1 (ja) 接触子及び電気的接続装置
US3562643A (en) Spring loaded test probe assembly
US20040008048A1 (en) Micro compliant interconnect apparatus for integrated circuit devices
JP2012220451A (ja) 検査ユニット
US20230143660A1 (en) Test socket for semiconductor integrated circuits
JP3059385U (ja) 検査用プローブ
JP3088866U (ja) 検査用プローブ
JP3022056B2 (ja) 導通テスト用プロ−ブ
JPH0351766A (ja) 導電接触子
JP3027159U (ja) 検査用プローブ
JP4465250B2 (ja) 検査ユニット及びそれを用いた検査装置
CN220650725U (zh) 一种阻值测试探针夹具
US20210156885A1 (en) Probe
JPS61196170A (ja) スプリングコンタクトプロ−ブ
JPH0543076U (ja) コンタクトプローブ
JPH0763785A (ja) 先端半球付きプローブ・ピン
JP2598376B2 (ja) 電子部品の測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090111

Year of fee payment: 7

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees