CN220650725U - 一种阻值测试探针夹具 - Google Patents
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- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 166
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 67
- 229910001369 Brass Inorganic materials 0.000 claims abstract description 5
- 239000010951 brass Substances 0.000 claims abstract description 5
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims abstract description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 229910052755 nonmetal Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011295 pitch Substances 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
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Abstract
本实用新型涉及机械自动化行业中应用类技术,尤其涉及一种阻值测试探针夹具。它包括探针座和阻值测试探针,所述的探针座呈台阶状,探针座上台阶贯穿设有探针安装孔,所述的探针嵌入探针安装孔;探针安装孔由轴心相重且中空的大空筒和小空筒组成;所述大空筒和小空筒的连接处形成防止探针滑动的台阶面;所述的探针由下至上的组成为探针杆、套接在探针杆上部的弹簧,叠置在弹簧上端且套接探针杆顶端的探针头;所述的探针头是黄铜体,探针头顶部端面是带滚花的测试接触面,测试接触面的面积至少36mm 2,所述的测试探针至少是成对的两个,这两个测试探针的间隙至少是1mm。本实用新型减少设备停机时间,提高直通率、大大提高了生产效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及机械自动化行业中应用类技术,尤其涉及一种阻值测试探针夹具。
背景技术
目前,在线圈产品自动化生产测试中,常常需要测试线圈的导通和阻值。线圈测试机多采用气缸、电机组成的取料机构对线圈进行夹取,然后取料机构将夹取的线圈移动到测试夹具对应的探针位置,进行线圈导通和阻值的测试。测试夹具的非金属探针底座上根据不同系列待测线圈的针脚距离开孔,安装探针套,再将探针安装非金属探针底座上。采用这种测试装置的缺点是:标准探针的探针杆为空心结构,且探针杆和探针套金属壁非常薄,易变形、损坏而无法使用。测试中针套受力,长期使用中非金属底座的探针安装孔易磨损扩大,导致针套松动、下降,探针头不能和被测线圈有效接触,产生误测。不同系列线圈的针脚距离不一样,需要在测试装置的非金属底座上设计不同间距的孔来安装标准探针,并增加程序设计和取料机构的动作来适应不同针脚间距的线圈测试,导致取料机构动作和程序设计复杂。
实用新型内容
针对上述技术问题,本实用新型解决探针的变形损坏和不同系列针脚距离的元件阻值测试复杂的问题,提供一种实用性高的阻值测试探针夹具。
为解决上述技术问题,本实新型提供的技术方案是:一种阻值测试探针夹具,包括探针座和阻值测试探针,所述的探针座呈台阶状,探针座上台阶贯穿设有探针安装孔,所述的探针嵌入探针安装孔;所述的探针安装孔由轴心相重且中空的大空筒和小空筒组成;所述大空筒和小空筒的连接处形成防止探针滑动的台阶面;所述的探针由下至上的组成为探针杆、套接在探针杆上部的弹簧,叠置在弹簧上端且套接探针杆顶端的探针头;所述的探针头是黄铜体,探针头顶部端面是带滚花的测试接触面,解决线圈阻值测试的探针易损、误测问题。测试接触面的面积至少36mm 2。所述的测试探针至少是成对的两个,这两个测试探针的间隙至少是1mm。测试接触面的面积至少36mm 2,能兼容被测元器件(线圈)针脚间距有一定范围的阻值测试。
进一步:在上述阻值测试探针夹具中,探针座下台阶是被测元器件的避空位,避空位用来避免元件壳体干涉。所述的探针杆的底端设有连接测试仪的内凹孔,所述的内凹孔内设有内螺纹。
所述的大空筒是大圆筒;所述的探针头是与大空筒配合的圆柱体。
或者:所述的大空筒是大方筒;所述的探针头是与大空筒配合的方柱体。
所述探针头的高度至少9mm。
探针座下台阶面上设有底座固定孔。
所述的被测元器件是线圈。也可以是有引脚的电阻等。
与现有技术相比,在上述阻值测试探针夹具中,它包括探针座和阻值测试探针,所述的探针座呈台阶状,探针座上台阶贯穿设有探针安装孔,所述的探针嵌入探针安装孔;所述的探针安装孔由轴心相重且中空的大空筒和小空筒组成;所述大空筒和小空筒的连接处形成防止探针滑动的台阶面;所述的探针由下至上的组成为探针杆、套接在探针杆上部的弹簧,叠置在弹簧上端且套接探针杆顶端的探针头;所述的探针头是黄铜体,探针头顶部端面是带滚花的测试接触面,测试接触面的面积至少36mm 2。本实用新型把探针头、探针杆做成实心分体结构,从根本上解决标准探针空心结构易变形、破损。探针安装部不仅用来安装探针还作为每个探针的探针套使用,彻底解决针套松脱、下降导致的误测问题。本实用新型解决线圈阻值测试的探针易损、误测问题,并兼容不同针脚间距规格的元器件(线圈)测试,减少设备停机时间,提高直通率、大大提高了生产效率。
附图说明
图1为实施方式一阻值测试探针夹具的结构示意图;
图2为实施方式一探针座上台阶纵剖结构简图(无探针);
图3为实施方式一探针座上台阶纵剖结构简图(有探针);
图4为实施方式一探针结构爆炸图;
图5为实施方式三阻值测试探针夹具的结构示意图;
其中,1探针座、2阻值测试探针、3探针安装孔、4台阶面、5探针杆、6弹簧、7探针头、8测试接触面、9内凹孔、10底座固定孔。
具体实施方式
为了便于本领域技术人员理解,下面将结合附图以及实施例对本实用新型进行进一步详细描述。
实施方式一:参照图1-4,一种阻值测试探针夹具,包括探针座1和阻值测试探针2,所述的探针座呈台阶状,探针座上台阶贯穿设有探针安装孔3,所述的探针嵌入探针安装孔;所述的探针安装孔由轴心相重且中空的大空筒和小空筒组成;所述大空筒和小空筒的连接处形成防止探针滑动的台阶面4;所述的探针由下至上的组成为探针杆5、套接在探针杆上部的弹簧6,叠置在弹簧上端且套接探针杆顶端的探针头7;所述的探针头是黄铜体,探针头顶部端面是带滚花的测试接触面8,所述的测试探针是成对的两个。探针座下台阶是被测元器件的避空位。所述的探针杆5的底端设有连接测试仪的内凹孔9,所述的内凹孔9内设有内螺纹。所述的大空筒是大圆筒;所述的探针头是与大空筒配合的圆柱体。所述探针头的高度至少9mm。探针座下台阶面上设有底座固定孔10。所述的被测元器件是线圈。
实施方式二:与实施方式一不同的是,所述的大空筒是大方筒;所述的探针头是与大空筒配合的方柱体。
实施方式三:参照图5,与实施方式一不同的是,所述的测试探针是5对,共10个,根据夹具的具体使用方式,测试探针可以是2对、3对、4对、5对等,且对与对的探针组的间际根据实际应用的装置作任意调整。
在上述三个实施例中,成对的两个测试探针的间隙是1mm,探针头的测试端面为测试接触面8,其面积至少36mm2,能兼容被测元器件(线圈)针脚间距为2mm~13mm范围的线圈阻值测试。依此类推,根据测试需要,探针头的测试端面尺寸调整更大,以适用更大范围针脚间距的线圈测试。
显然,本实用新型的上述实施例仅仅是为清楚地说明本实用新型所作的举例,而并非是对本实用新型的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说,在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型权利要求的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种阻值测试探针夹具,包括探针座(1)和阻值测试探针(2),其特征在于:
所述的探针座呈台阶状,探针座上台阶贯穿设有探针安装孔(3),所述的探针嵌入探针安装孔;
所述的探针安装孔由轴心相重且中空的大空筒和小空筒组成;所述大空筒和小空筒的连接处形成防止探针滑动的台阶面(4);
所述的探针由下至上的组成为探针杆(5)、套接在探针杆上部的弹簧(6),叠置在弹簧上端且套接探针杆顶端的探针头(7);
所述的探针头是黄铜体,探针头顶部端面是带滚花的测试接触面(8),测试接触面的面积至少36mm 2;
所述的测试探针至少是成对的两个,这两个测试探针的间隙至少是1mm。
2.根据权利要求1所述的阻值测试探针夹具,其特征在于:探针座下台阶是被测元器件的避空位。
3.根据权利要求1所述的阻值测试探针夹具,其特征在于:所述的探针杆(5)的底端设有连接测试仪的内凹孔(9)。
4.根据权利要求3所述的阻值测试探针夹具,其特征在于:所述的内凹孔内设有内螺纹。
5.根据权利要求1所述的阻值测试探针夹具,其特征在于:所述的大空筒是大圆筒;所述的探针头是与大空筒配合的圆柱体。
6.根据权利要求1所述的阻值测试探针夹具,其特征在于:所述的大空筒是大方筒;所述的探针头是与大空筒配合的方柱体。
7.根据权利要求5或6所述的阻值测试探针夹具,其特征在于:所述探针头的高度至少9mm。
8.根据权利要求7所述的阻值测试探针夹具,其特征在于:探针座下台阶面上设有底座固定孔(10)。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202322113597.8U CN220650725U (zh) | 2023-08-07 | 2023-08-07 | 一种阻值测试探针夹具 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202322113597.8U CN220650725U (zh) | 2023-08-07 | 2023-08-07 | 一种阻值测试探针夹具 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN220650725U true CN220650725U (zh) | 2024-03-22 |
Family
ID=90266281
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202322113597.8U Active CN220650725U (zh) | 2023-08-07 | 2023-08-07 | 一种阻值测试探针夹具 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN220650725U (zh) |
-
2023
- 2023-08-07 CN CN202322113597.8U patent/CN220650725U/zh active Active
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GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |