JP3265028B2 - 画像処理装置の制御方法 - Google Patents
画像処理装置の制御方法Info
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- JP3265028B2 JP3265028B2 JP01212793A JP1212793A JP3265028B2 JP 3265028 B2 JP3265028 B2 JP 3265028B2 JP 01212793 A JP01212793 A JP 01212793A JP 1212793 A JP1212793 A JP 1212793A JP 3265028 B2 JP3265028 B2 JP 3265028B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は画像処理装置の制御方
法、特に入力された画像データ中の物体の複数のエッジ
位置を検出し、検出したエッジ位置に基づき該物体位置
を検出する画像処理装置の制御方法に関するものであ
る。
法、特に入力された画像データ中の物体の複数のエッジ
位置を検出し、検出したエッジ位置に基づき該物体位置
を検出する画像処理装置の制御方法に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】従来より、電子部品を回路基板に装着す
るチップマウンタにおいて、ＩＣチップなどの吸着位置
を検出する処理が行なわれている。
るチップマウンタにおいて、ＩＣチップなどの吸着位置
を検出する処理が行なわれている。
【０００３】特に、ＱＦＰ、ＳＯＰ等の形式のチップの
中心位置検出はリードの両端エッジを検出し、その中心
位置を求め、各々の中心位置から各辺の中心位置を求め
ＱＦＰ、ＳＯＰ等のＩＣの中心位置を求めていた。
中心位置検出はリードの両端エッジを検出し、その中心
位置を求め、各々の中心位置から各辺の中心位置を求め
ＱＦＰ、ＳＯＰ等のＩＣの中心位置を求めていた。
【０００４】たとえば、従来のリードエッジ検出は、図
１に示す様に配列されたリードエッジＬとクロスする方
向、たとえば、ｙ座標上の走査線ｌa、ｌb、ｌcにより
走査を行なう。ここで、エッジ（Ｘa、ｌa）を検出する
と、次走査ラインｌbではＸaに対し、一定方向にエッジ
があり、部品に傾きがあっても、検出ミスしないと考え
られる範囲、たとえば±２画素以内で走査線ｌb、ｌc上
でのエッジ検出を行ない、（Ｘa、ｌa）（Ｘa、ｌb）
（Ｘa、ｌc）…（Ｘn、ｌa）（Ｘn、ｌb）（Ｘn、ｌc）
のように各リードのエッジ座標群を作るようにしてい
る。
１に示す様に配列されたリードエッジＬとクロスする方
向、たとえば、ｙ座標上の走査線ｌa、ｌb、ｌcにより
走査を行なう。ここで、エッジ（Ｘa、ｌa）を検出する
と、次走査ラインｌbではＸaに対し、一定方向にエッジ
があり、部品に傾きがあっても、検出ミスしないと考え
られる範囲、たとえば±２画素以内で走査線ｌb、ｌc上
でのエッジ検出を行ない、（Ｘa、ｌa）（Ｘa、ｌb）
（Ｘa、ｌc）…（Ｘn、ｌa）（Ｘn、ｌb）（Ｘn、ｌc）
のように各リードのエッジ座標群を作るようにしてい
る。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかし、ＩＣソケット
のリードは図２に示す様にメーカーにより様々な形状を
しており、同一リード上で中心座標が異なったり、２つ
の座標を検出するなどＱＦＰ、ＳＯＰ等のような長方形
状のリード中心位置を検出する手法と同一処理を行なう
と様々な認識エラーが発生していた。
のリードは図２に示す様にメーカーにより様々な形状を
しており、同一リード上で中心座標が異なったり、２つ
の座標を検出するなどＱＦＰ、ＳＯＰ等のような長方形
状のリード中心位置を検出する手法と同一処理を行なう
と様々な認識エラーが発生していた。
【０００６】たとえば、図２に示される様なリード（Ｐ
ＬＣＣ用のＩＣソケットに多い）のエッジを検出する
時、図１の例と同様に各走査線で一定方向にエッジがあ
り、部品に傾きがあっても、検出ミスしないと考えられ
る範囲を±２画素以内に設定するとすれば、ＸaとＸa-
αの差がたとえば３画素以上の時（Ｘa、ｌa）（Ｘa、
ｌb）と（Ｘa-α、ｌc）は別リードのエッジとみなさ
れ、エラーが発生してしまい、また、同様に（Ｘa+β、
ｌc）も別リードのエッジと見なしてしまうという問題
があった。
ＬＣＣ用のＩＣソケットに多い）のエッジを検出する
時、図１の例と同様に各走査線で一定方向にエッジがあ
り、部品に傾きがあっても、検出ミスしないと考えられ
る範囲を±２画素以内に設定するとすれば、ＸaとＸa-
αの差がたとえば３画素以上の時（Ｘa、ｌa）（Ｘa、
ｌb）と（Ｘa-α、ｌc）は別リードのエッジとみなさ
れ、エラーが発生してしまい、また、同様に（Ｘa+β、
ｌc）も別リードのエッジと見なしてしまうという問題
があった。
【０００７】また、単に前走査ライン上でのエッジアド
レスＸaに対し±２から、たとえば±１０の範囲で走査
すると範囲が広がりすぎ、隣のリードエッジを同一グル
ープ座標として認識してしまうこともある。
レスＸaに対し±２から、たとえば±１０の範囲で走査
すると範囲が広がりすぎ、隣のリードエッジを同一グル
ープ座標として認識してしまうこともある。
【０００８】本発明の課題は、以上の問題を解決し、略
矩形の形状以外の種々の形状を有するリードエッジを持
つ電子部品であっても、リードエッジの連続性を認識す
ることにより、その位置、形状を正確に認識できる画像
処理装置の制御方法を提供することにある。
矩形の形状以外の種々の形状を有するリードエッジを持
つ電子部品であっても、リードエッジの連続性を認識す
ることにより、その位置、形状を正確に認識できる画像
処理装置の制御方法を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】以上の課題を解決するた
めに、本発明においては、入力された画像データ中の物
体の複数のエッジ位置を検出し、検出したエッジ位置に
基づき該物体位置を検出する画像処理装置の制御方法に
おいて、画像データの１走査線の各画素にそれぞれ対応
したアドレスに物体の複数の突起部分のエッジを表現す
る値のラベルデータを格納するラベルメモリを有し、画
像データの１走査線の処理中、画像データ中の物体のエ
ッジ位置を検出した場合、該画素に対応するラベルメモ
リのアドレスｎを中心として、連続した同じ物体の突起
部分のエッジと判定するための第１の比較的大きなアド
レス範囲ｎ±ｍ、およびエッジの直線的な連続性を判定
するための比較的小さな範囲ｎ±ｌ（ｌ＜ｍ）において
同一の突起部分に相当するラベルを検索し、その検索結
果に応じて前記ラベルメモリのラベルデータ更新または
前記ラベルメモリに対するラベルデータ書き込みを行な
うことにより、前記ラベルメモリに得られたラベルデー
タに基づき物体の突起部分のエッジを検出する構成を採
用した。
めに、本発明においては、入力された画像データ中の物
体の複数のエッジ位置を検出し、検出したエッジ位置に
基づき該物体位置を検出する画像処理装置の制御方法に
おいて、画像データの１走査線の各画素にそれぞれ対応
したアドレスに物体の複数の突起部分のエッジを表現す
る値のラベルデータを格納するラベルメモリを有し、画
像データの１走査線の処理中、画像データ中の物体のエ
ッジ位置を検出した場合、該画素に対応するラベルメモ
リのアドレスｎを中心として、連続した同じ物体の突起
部分のエッジと判定するための第１の比較的大きなアド
レス範囲ｎ±ｍ、およびエッジの直線的な連続性を判定
するための比較的小さな範囲ｎ±ｌ（ｌ＜ｍ）において
同一の突起部分に相当するラベルを検索し、その検索結
果に応じて前記ラベルメモリのラベルデータ更新または
前記ラベルメモリに対するラベルデータ書き込みを行な
うことにより、前記ラベルメモリに得られたラベルデー
タに基づき物体の突起部分のエッジを検出する構成を採
用した。
【００１０】
【作用】以上の構成によれば、物体の複数の突起部分の
エッジを識別するためのラベルデータの参照、書き換え
を介してｎ±ｍ（画素）の範囲にあるエッジを少なくと
も連続性がありそれぞれ同じリードを構成するものと判
定することができ、また、さらにｎ±ｌ（画素）の範囲
内にあるエッジの直線的な連続性を検出できる。前ライ
ンとの検出エッジのずれがｌ〜ｍのときは、曲線、ある
いは屈曲してはいるが、エッジが連続性を持っているこ
とが認識される。
エッジを識別するためのラベルデータの参照、書き換え
を介してｎ±ｍ（画素）の範囲にあるエッジを少なくと
も連続性がありそれぞれ同じリードを構成するものと判
定することができ、また、さらにｎ±ｌ（画素）の範囲
内にあるエッジの直線的な連続性を検出できる。前ライ
ンとの検出エッジのずれがｌ〜ｍのときは、曲線、ある
いは屈曲してはいるが、エッジが連続性を持っているこ
とが認識される。
【００１１】
【実施例】以下、図面に示す実施例に基づき、本発明を
詳細に説明する。
詳細に説明する。
【００１２】図３に本発明を採用したチップマウンタの
構造を示す。図３において、符号１は電子部品を吸着す
るヘッドで、このヘッド１は電子部品、たとえばＩＣソ
ケット２を吸着し、レンズ４、カメラ５の位置に搬送
し、光源３で照明され、カメラ５により吸着したＩＣソ
ケット２の画像を取得し、画像処理装置６により後述の
画像処理を行なうことによりＩＣソケット２の中心位置
の取得が行なわれる。
構造を示す。図３において、符号１は電子部品を吸着す
るヘッドで、このヘッド１は電子部品、たとえばＩＣソ
ケット２を吸着し、レンズ４、カメラ５の位置に搬送
し、光源３で照明され、カメラ５により吸着したＩＣソ
ケット２の画像を取得し、画像処理装置６により後述の
画像処理を行なうことによりＩＣソケット２の中心位置
の取得が行なわれる。
【００１３】画像処理装置６は、電子部品の画像データ
が格納されるメモリ６２、ＣＰＵ６５、画像入出力の際
のＤＡおよびＡＤ変換のためのＡＤコンバータ６１およ
び、ＤＡコンバータ６３、観察用のモニタ７などから構
成される。
が格納されるメモリ６２、ＣＰＵ６５、画像入出力の際
のＤＡおよびＡＤ変換のためのＡＤコンバータ６１およ
び、ＤＡコンバータ６３、観察用のモニタ７などから構
成される。
【００１４】ＣＰＵ６５で実行される画像処理において
は、ＩＣソケット２の位置検出が行なわれるが、特に、
ＩＣソケット２のリード２１に関して図４、図５に示す
ような処理が行なわれる。図４は、ＣＰＵ６５で実行さ
れる画像処理の制御手順を示している。
は、ＩＣソケット２の位置検出が行なわれるが、特に、
ＩＣソケット２のリード２１に関して図４、図５に示す
ような処理が行なわれる。図４は、ＣＰＵ６５で実行さ
れる画像処理の制御手順を示している。
【００１５】まず、カメラ５から画像データを読み込
み、メモリ６２に格納した（図４ステップＳ１）後、図
５に示すように、リードの各辺に対し、処理ウィンドウ
Ｗを設定する（ステップＳ２）。この処理ウィンドウＷ
は、吸着したチップ周辺の適当な位置にある程度余裕を
もった範囲に設定され、この処理ウィンドウＷ内の画像
データが処理される。
み、メモリ６２に格納した（図４ステップＳ１）後、図
５に示すように、リードの各辺に対し、処理ウィンドウ
Ｗを設定する（ステップＳ２）。この処理ウィンドウＷ
は、吸着したチップ周辺の適当な位置にある程度余裕を
もった範囲に設定され、この処理ウィンドウＷ内の画像
データが処理される。
【００１６】次に、各ウィンドウ別に、図６の左から右
の方向にリードのエッジ検出を始める。また検出したエ
ッジを他のリードと区別するためにラベル付けを行な
う。
の方向にリードのエッジ検出を始める。また検出したエ
ッジを他のリードと区別するためにラベル付けを行な
う。
【００１７】これは図６に示すように、少なくとも１走
査線（ここでは１ライン０〜５１１の５１２画素とす
る）分の画素数に対応した数のメモリセルを持つラベル
メモリを用意し、検出したエッジ座標位置にラベルＮ
ｏ．１〜ｎ（ｎは検出すべきリードエッジの辺の数に相
当する）を付けてゆくものである。
査線（ここでは１ライン０〜５１１の５１２画素とす
る）分の画素数に対応した数のメモリセルを持つラベル
メモリを用意し、検出したエッジ座標位置にラベルＮ
ｏ．１〜ｎ（ｎは検出すべきリードエッジの辺の数に相
当する）を付けてゆくものである。
【００１８】このラベルメモリは、１走査線の処理中に
参照されるもので、たとえばメモリ６２内の所定アドレ
スに確保される。ラベルメモリは、各ウィンドウの走査
開始時には、全て無効データにクリアされているものと
する。
参照されるもので、たとえばメモリ６２内の所定アドレ
スに確保される。ラベルメモリは、各ウィンドウの走査
開始時には、全て無効データにクリアされているものと
する。
【００１９】ここで、エッジを検出すると、リードエッ
ジを検出した座標値（ｘ座標：図の左右に対応）とラベ
ルメモリ内の対応するアドレスの前後の所定範囲のラベ
ルデータが参照される。たとえば、図６で、１番のリー
ドの先端付近のエッジを座標ｎ（左からｎ−１番目の画
素）で検出したとすると、ラベルメモリのｎ±ｍおよび
ｎ±ｌの範囲のアドレスが参照される。
ジを検出した座標値（ｘ座標：図の左右に対応）とラベ
ルメモリ内の対応するアドレスの前後の所定範囲のラベ
ルデータが参照される。たとえば、図６で、１番のリー
ドの先端付近のエッジを座標ｎ（左からｎ−１番目の画
素）で検出したとすると、ラベルメモリのｎ±ｍおよび
ｎ±ｌの範囲のアドレスが参照される。
【００２０】ｍは同じリードのエッジと判定するための
範囲、ｌはエッジの連続性を判定するための範囲で、画
像上での倍率、リードの形状、サイズに応じて設定され
る。すなわち、±ｍは隣りのリードと接しない値で、こ
こではたとえば８画素に設定する。また、ここで±ｌは
連続したエッジがリードの傾きを考慮した値で、ここで
は２画素と設定する。
範囲、ｌはエッジの連続性を判定するための範囲で、画
像上での倍率、リードの形状、サイズに応じて設定され
る。すなわち、±ｍは隣りのリードと接しない値で、こ
こではたとえば８画素に設定する。また、ここで±ｌは
連続したエッジがリードの傾きを考慮した値で、ここで
は２画素と設定する。
【００２１】エッジ検出（ステップＳ４）時、ここでラ
ベルメモリのオフセットｎに相当する画素を読んでいる
とすると、ｎ±ｍの範囲でラベルが存在しない時新たに
ラベルをセットする（ステップＳ５、Ｓ６）。各ウィン
ドウの走査開始時、最初の１ラインの走査では、すべて
このステップＳ５、Ｓ６を通り、ラベルデータの初期値
が作成される。ラベルデータとして書き込む値はリード
の１番目、２番目…を識別できる値であればよく、ここ
では１、２…の数値を書き込むものとする。
ベルメモリのオフセットｎに相当する画素を読んでいる
とすると、ｎ±ｍの範囲でラベルが存在しない時新たに
ラベルをセットする（ステップＳ５、Ｓ６）。各ウィン
ドウの走査開始時、最初の１ラインの走査では、すべて
このステップＳ５、Ｓ６を通り、ラベルデータの初期値
が作成される。ラベルデータとして書き込む値はリード
の１番目、２番目…を識別できる値であればよく、ここ
では１、２…の数値を書き込むものとする。
【００２２】ラベルメモリのオフセットｎ±ｍの範囲で
ラベルが存在する時、検出されたリードはすでに検出さ
れているリードと同一のリードであると判断し、ステッ
プＳ５からＳ７に移行する。
ラベルが存在する時、検出されたリードはすでに検出さ
れているリードと同一のリードであると判断し、ステッ
プＳ５からＳ７に移行する。
【００２３】ｎ±ｌの範囲でラベルが存在する時、ラベ
ルメモリのラベル位置を現在エッジを検出している画素
の位置に書き変える（ステップＳ７）。これにより、多
少チップが傾いているような場合でも、その勾配が隣り
あったラインで±ｌ画素の範囲内であれば順次ラベル位
置が更新されるため、直線をトラックできる。
ルメモリのラベル位置を現在エッジを検出している画素
の位置に書き変える（ステップＳ７）。これにより、多
少チップが傾いているような場合でも、その勾配が隣り
あったラインで±ｌ画素の範囲内であれば順次ラベル位
置が更新されるため、直線をトラックできる。
【００２４】ステップＳ７で、±ｌの範囲でラベルが存
在しない場合には、ラベル位置を書き変えない。したが
って、次のラインの走査でも同じラベル位置が参照され
る。つまり、曲ってはいるが、連続したエッジであると
判断される。また、これにより、ノイズ画素などによ
り、ラインの連続性が乱されることが防止される。
在しない場合には、ラベル位置を書き変えない。したが
って、次のラインの走査でも同じラベル位置が参照され
る。つまり、曲ってはいるが、連続したエッジであると
判断される。また、これにより、ノイズ画素などによ
り、ラインの連続性が乱されることが防止される。
【００２５】たとえば、ラインｐ+1の走査では、ラベル
メモリ上において検出したエッジ位置が直前のライン走
査で作成された１番リードのエッジ位置であるｎに対し
て−３だけずれた位置ｎ−３に対応する画素においてエ
ッジが検出されるが、このとき、３＜ｍなので同一のリ
ードであると判断し、ステップＳ５からＳ７に移行する
が、ステップＳ７では、３＞ｌなのでラベルメモリは更
新されず、以後のラインの走査においてもエッジの基準
位置としてはあいかわらずｎが参照される。
メモリ上において検出したエッジ位置が直前のライン走
査で作成された１番リードのエッジ位置であるｎに対し
て−３だけずれた位置ｎ−３に対応する画素においてエ
ッジが検出されるが、このとき、３＜ｍなので同一のリ
ードであると判断し、ステップＳ５からＳ７に移行する
が、ステップＳ７では、３＞ｌなのでラベルメモリは更
新されず、以後のラインの走査においてもエッジの基準
位置としてはあいかわらずｎが参照される。
【００２６】以上のようにして、各リードのエッジを検
出することができ、検出されたエッジは、１ラインの処
理ごとに各画素データとともに所定のメモリ領域に記録
する。
出することができ、検出されたエッジは、１ラインの処
理ごとに各画素データとともに所定のメモリ領域に記録
する。
【００２７】判定をウィンドウ内の各ライン（リードに
直行する方向）単位に行なうことにより、各ウィンドウ
が処理され、すべてのウィンドウが処理されると（ステ
ップＳ１１〜Ｓ１３の判定）検出されたエッジデータに
基づきリード中心位置の計算、リードの各辺の位置の計
算、デバイス中心位置の計算などが行なわれる（ステッ
プＳ１６）。
直行する方向）単位に行なうことにより、各ウィンドウ
が処理され、すべてのウィンドウが処理されると（ステ
ップＳ１１〜Ｓ１３の判定）検出されたエッジデータに
基づきリード中心位置の計算、リードの各辺の位置の計
算、デバイス中心位置の計算などが行なわれる（ステッ
プＳ１６）。
【００２８】以上の実施例によれば、検出したエッジ座
標値とそれに対応させたラベルメモリを設定し、ラベル
走査を行ないながら、同一リードであるか否かを判定
し、かつ、連続した直線部のみのエッジ位置だけラベル
メモリ上に保存し続けて行くことにより直方形状以外の
リードを有するＩＣソケットもＱＦＰ、ＳＯＰ等と同様
にエッジを検出し、中心位置を計算することが可能とな
り、リードエッジの連続した直線部のみを抽出すること
が可能となり、直方形状以外のリードの中心位置を正確
に計算できる。また、リードのエッジ付近にリードエッ
ジとして認識されそうなゴミ等によるノイズを除去する
ことが可能となる。
標値とそれに対応させたラベルメモリを設定し、ラベル
走査を行ないながら、同一リードであるか否かを判定
し、かつ、連続した直線部のみのエッジ位置だけラベル
メモリ上に保存し続けて行くことにより直方形状以外の
リードを有するＩＣソケットもＱＦＰ、ＳＯＰ等と同様
にエッジを検出し、中心位置を計算することが可能とな
り、リードエッジの連続した直線部のみを抽出すること
が可能となり、直方形状以外のリードの中心位置を正確
に計算できる。また、リードのエッジ付近にリードエッ
ジとして認識されそうなゴミ等によるノイズを除去する
ことが可能となる。
【００２９】
【発明の効果】以上から明らかなように、本発明によれ
ば、入力された画像データ中の物体の複数のエッジ位置
を検出し、検出したエッジ位置に基づき該物体位置を検
出する画像処理装置の制御方法において、画像データの
１走査線の各画素にそれぞれ対応したアドレスに物体の
複数の突起部分のエッジを表現する値のラベルデータを
格納するラベルメモリを有し、画像データの１走査線の
処理中、画像データ中の物体のエッジ位置を検出した場
合、該画素に対応するラベルメモリのアドレスｎを中心
として、連続した同じ物体の突起部分のエッジと判定す
るための第１の比較的大きなアドレス範囲ｎ±ｍ、およ
びエッジの直線的な連続性を判定するための比較的小さ
な範囲ｎ±ｌ（ｌ＜ｍ）において同一の突起部分に相当
するラベルを検索し、その検索結果に応じて前記ラベル
メモリのラベルデータ更新または前記ラベルメモリに対
するラベルデータ書き込みを行なうことにより、前記ラ
ベルメモリに得られたラベルデータに基づき物体の突起
部分のエッジを検出する構成を採用しているので、物体
の複数の突起部分のエッジを識別するためのラベルデー
タの参照、書き換えを介してｎ±ｍ（画素）の範囲にあ
るエッジを少なくとも連続性がありそれぞれ同じ突起部
分を構成するものと判定することができ、また、さらに
ｎ±ｌ（画素）の範囲内にあるエッジの直線的な連続性
を検出でき、従来別のエッジとして判断される可能性の
あった階段状に屈曲した形状であってもその物体のエッ
ジを正確に認識でき、物体の中心位置や形状などを正確
に判断できるという優れた効果がある。
ば、入力された画像データ中の物体の複数のエッジ位置
を検出し、検出したエッジ位置に基づき該物体位置を検
出する画像処理装置の制御方法において、画像データの
１走査線の各画素にそれぞれ対応したアドレスに物体の
複数の突起部分のエッジを表現する値のラベルデータを
格納するラベルメモリを有し、画像データの１走査線の
処理中、画像データ中の物体のエッジ位置を検出した場
合、該画素に対応するラベルメモリのアドレスｎを中心
として、連続した同じ物体の突起部分のエッジと判定す
るための第１の比較的大きなアドレス範囲ｎ±ｍ、およ
びエッジの直線的な連続性を判定するための比較的小さ
な範囲ｎ±ｌ（ｌ＜ｍ）において同一の突起部分に相当
するラベルを検索し、その検索結果に応じて前記ラベル
メモリのラベルデータ更新または前記ラベルメモリに対
するラベルデータ書き込みを行なうことにより、前記ラ
ベルメモリに得られたラベルデータに基づき物体の突起
部分のエッジを検出する構成を採用しているので、物体
の複数の突起部分のエッジを識別するためのラベルデー
タの参照、書き換えを介してｎ±ｍ（画素）の範囲にあ
るエッジを少なくとも連続性がありそれぞれ同じ突起部
分を構成するものと判定することができ、また、さらに
ｎ±ｌ（画素）の範囲内にあるエッジの直線的な連続性
を検出でき、従来別のエッジとして判断される可能性の
あった階段状に屈曲した形状であってもその物体のエッ
ジを正確に認識でき、物体の中心位置や形状などを正確
に判断できるという優れた効果がある。
【図１】従来装置における部品認識方法を説明する説明
図である。
図である。
【図２】従来装置における部品認識の問題点を説明する
説明図である。
説明図である。
【図３】本発明を採用したチップマウンタの構成を示し
た説明図である。
た説明図である。
【図４】図３の装置の部品認識手順を示したフローチャ
ート図である。
ート図である。
【図５】図３の装置の部品認識動作を示した説明図であ
る。
る。
【図６】図３の装置の部品認識動作、およびメモリ制御
を示した説明図である。
を示した説明図である。
１ ヘッド ２ ＩＣソケット ３ 光源 ４ レンズ ５ カメラ ６ 画像処理装置 ６２ メモリ ６５ ＣＰＵ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G06T 7/60 G06T 1/00
Claims (3)
- 【請求項１】 入力された画像データ中の物体の複数の
エッジ位置を検出し、検出したエッジ位置に基づき該物
体位置を検出する画像処理装置の制御方法において、 画像データの１走査線の各画素にそれぞれ対応したアド
レスに物体の複数の突起部分のエッジを表現する値のラ
ベルデータを格納するラベルメモリを有し、 画像データの１走査線の処理中、画像データ中の物体の
エッジ位置を検出した場合、該画素に対応するラベルメ
モリのアドレスｎを中心として、連続した同じ物体の突
起部分のエッジと判定するための第１の比較的大きなア
ドレス範囲ｎ±ｍ、およびエッジの直線的な連続性を判
定するための比較的小さな範囲ｎ±ｌ（ｌ＜ｍ）におい
て同一の突起部分に相当するラベルを検索し、その検索
結果に応じて前記ラベルメモリのラベルデータ更新また
は前記ラベルメモリに対するラベルデータ書き込みを行
なうことにより、前記ラベルメモリに得られたラベルデ
ータに基づき物体の突起部分のエッジを検出することを
特徴とする画像処理装置の制御方法。 - 【請求項２】 前記検索の結果、アドレス範囲ｎ±ｍに
所定の突起部分に相当するラベルデータが存在する場合
検出したエッジをその突起部分のエッジとして判断し、
さらにアドレス範囲ｎ±ｌに所定の突起部分に相当する
ラベルデータが存在する場合前記ラベルメモリの検出し
たエッジに相当するアドレスのラベルデータを前記所定
の突起部分のエッジを表現する値に更新する（ステップ
Ｓ８）ことを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置
の制御方法。 - 【請求項３】 前記検索の結果、アドレス範囲ｎ±ｍに
所定の突起部分に相当するラベルデータが存在するが、
アドレス範囲ｎ±ｌには所定の突起部分に相当するラベ
ルデータが存在しない場合、検出したエッジに相当する
アドレスのラベルデータを更新せず（ステップＳ７〜Ｓ
９）、アドレス範囲ｎ±ｍに所定の突起部分に相当する
ラベルデータが存在しない場合、検出したエッジに相当
するアドレスに突起部分のエッジを表現する値のラベル
データを新しく書き込むことを特徴とする請求項１に記
載の画像処理装置の制御方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP01212793A JP3265028B2 (ja) | 1993-01-28 | 1993-01-28 | 画像処理装置の制御方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP01212793A JP3265028B2 (ja) | 1993-01-28 | 1993-01-28 | 画像処理装置の制御方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06223185A JPH06223185A (ja) | 1994-08-12 |
| JP3265028B2 true JP3265028B2 (ja) | 2002-03-11 |
Family
ID=11796874
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4865653B2 (ja) * | 2006-08-08 | 2012-02-01 | Ｊｕｋｉ株式会社 | 画像処理装置 |
-
1993
- 1993-01-28 JP JP01212793A patent/JP3265028B2/ja not_active Expired - Fee Related
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|---|---|
| JPH06223185A (ja) | 1994-08-12 |
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