JPH0553320B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 この発明は、ピングリツドアレイ等をプリント
基板に搭載するのに、ピンの曲りがプリント基板
の搭載を妨げることを防止するために、ピンから
の反射光によつて映像を作成し、この映像を画像
処理装置の画像メモリに格納して、画像メモリに
基準ピン用ウインドウとピン位置の検査をする検
査ウインドウを設けて、検査ウインドウによつて
求めたピン重心と検査ウインドウの位置からピン
曲りを検出する。

〔産業上の利用分野〕

この発明は、ピン曲り検出方法に係り、特にプ
リント基板に搭載するピングリツドアレイのピン
曲り検出方法に関するものである。

情報、通信等の分野で使用されるプリント基板
は高密度化が要求され、この要求に伴つて高密度
化の図れるピングリツドアレイ（以後PGAと記
す）が広く各方面で使用されている。このPGA
のピン曲りは、プリント基板に搭載する妨げとな
るため、効率よりPGAのピン曲りの検出できる
ピン曲り検出方法が必要とされている。

〔従来の技術〕

従来、ピンの曲りを検出するのに第８図に示す
ような装置が用いられている。即ち、PGA１は
光源２０によつて照明されている。一方、光を照
射されるPGA１は、メタライズパターン１−１
１〜１−１ｎの中心にそれぞれピン１−１〜１−
ｎが植設されている。上記した光源２０は、この
メタライズパターン１−１１〜１−１ｎ部を明る
く照射する。したがつて、PGA１から反射され
る光はメタライズパターン１−１１〜１−１ｎ部
が明るく、TVカメラ６に撮像される。

この撮像状態は、第９図に示すようになる。即
ち、メタライズパターン部分が明るく、ピン部分
がメタライズパターン部分の略中央に暗く撮像さ
れる。従つてピン曲りがあると、ピン曲りの影に
よつてメタライズパターンのその部分が暗くな
り、ピン曲りの検出が可能となる。

〔発明が解決しようとする問題点〕

上記した従来の方式によるピンの曲りは、定量
的なピンの曲りによるピン位置が検出できず、ピ
ン曲りを修正する際に不便であり、不良部品の損
失を招くという問題がある。

この発明は、上記した従来の状況から、ピン曲
りの量を定量的にしかも効率よく検出できるピン
曲り検出方法を提供することを目的とするもので
ある。

〔問題点を解決するための手段〕

この発明は、第１図に示すように、真空吸着ヘ
ツド３によつてPGA１は真空吸着され保持され
る。この真空吸着ヘツド３は、ヘツド可動部４に
よつてＸ、Ｙ、Ｚ方向に移動可能である。この
PGA１のピン１−１〜１−ｎの先端は光学系５
によつて照射されている。ピン１−１〜１−ｎの
先端画像は、TVカメラ６により作成され、作成
された画像は、画像処理装置２で処理される。画
像処理装置２と駆動制御装置７はシステム制御装
置８で制御されるように構成された装置におい
て、 画像処理装置２の画像メモリ２−１に基準ピン
サーチ用ウインドウを設け、この基準ピンサーチ
用ウインドウを分割して、分割したウインドウで
基準ピン１−１の位置を設定し、この基準ピン位
置１−１に基づいて検査ウインドウを設定し、こ
の検査ウインドウ内のピンの重心位置によりピン
の曲りを検出する。

〔作用〕

先端が照射され明るいピン先端の画像は画像メ
モリ２−１に格納され、検査ウインドウによつて
ピン先端の重心位置を求め、重心位置を求めた当
該検査ウインドウの中心位置と上記した重心位置
との差からピン曲がりを検出する。従つて、正確
な定量的な曲りの検出が可能となる。

〔実施例〕

第１図は本発明によるピン曲り検出方法を説明
するための構成図である。真空吸着ヘツド３によ
つてPGA１は真空吸着され保持される。この真
空吸着ヘツド３は、ヘツド可動部４によつてＸ、
Ｙ、Ｚ方向に移動可能である。この真空吸着ヘツ
ド３とヘツド可動部４は駆動制御装置７によつて
駆動される。なお、この駆動制御装置７はシステ
ム制御装置８によつて制御される。

上記したPGA１のピン１−１〜１−ｎの先端
は光学系５によつて照射されている。ピン１−１
〜１−ｎの先端画像は、TVカメラ６により作成
され、作成された画像は、画像処理装置２で処理
される。画像処理装置２は、システム制御装置８
の指示によつて制御される。

以下、本発明の画像処理装置の動作を第２図の
フローチヤートを参照しながら説明する。画像処
理装置２は、TVカメラ６から入力される画像デ
ータをＡ／Ｄ変換器２−２でデイジタルデータに
変換して、このデイジタルデータを画像メモリ２
−１に格納する。第２図ａに示す処理工程であ
る。以後処理工程を括弧付き英字で表す。

次にこの画像メモリ２−１に格納した一画面の
全デイジタルデータに基づいて、第３図に示すよ
うな輝度と画素数との濃度分布を作成して、ピン
全体の断面積に等しい位置の輝度ｔを求めるｂ。
この求めた輝度ｔをスライスレベルとして、デイ
ジタルデータを画像メモリ２−１上で２値化（論
理‘1'、‘0'）とするｃ。この時、論理‘1'は明
るい部分を表し、ピン先端部に相当する。

次にこの画像メモリ２−１上で基準となるピン
位置（部品のコーナーピン）をサーチするため
に、第４図に示す如く最大のピン位置ずれ量を考
慮した大きさの基準ピンサーチ用ウインドウ２−
１−１を画像メモリ２−１内の左上領域に設定す
るｄ。さらに、上記基準ピンの位置検出を容易に
するために、この基準ピンサーチ用ウインドウ２
−１−１の領域を例えば９分割し、この＃１の分
割ウインドウから＃９の分割ウインドウの順に、
各分割ウインドウ内に存在する全画素をスキヤン
して基準ピンサーチ用ウインドウ２−１−１にお
ける上記基準ピンの位置を求めるｅ。

なお、上記した９分割は、基準ピンウインドウ
の大きさによつて16分割でもよいことは言うまで
もない。

上記したように基準ピン位置が求められると、
この基準ピン位置座標から基準ピンに該当する論
理‘1'を全て含む第５図に示す検査ウインドウ２
−１−２を設定するｆ。この検査ウインドウ２−
１−２内をＸ軸方向及びＹ軸方向にスキヤンし
て、Ｘ、Ｙ方向の各軸の中に存在する論理‘1'の
画素数によりそれぞれ第６図、第７図に示す〔よ
うな〕Ｘ、Ｙ軸方向の投影分布を作成するｇ。こ
のＸ、Ｙ軸方向の投影分布の画素数の1/2になる
座標Xg、Ygによつて、検査ウインドウ２−１−
２内における論理‘1'の画素中心位置、即ち基準
ピンの重心位置を求めるｈ。

次に、座標Xg、Ygを基準として画像メモリ２
−１内のＸ方向とＹ方向に向かつて、ピンのピツ
チ分移動させながら、各１列のピンに前記検査ウ
インドウより大きい検査ウインドウをそれぞ設定
して、ｇ、ｈ処理と同じように各ピンの重心位置
を求めるｉ。なお、検出ウインドウは、ピン曲
り、PGA１の傾きを考慮して検査ウインドウよ
り大きくしてある。

上記したように各ピンの重心座標を通る直線の
式（ｙ＝aX＋ｂ）を最小二乗法によつて求めて、
各ピンの重心座標なるＸのｙとの相関係数を求め
て置くｊ。この相関係数（又はＸ、Ｙ方向の分
散）が予め実験により求められた値より小さい場
合（但し分散を用いた場合は大きい場合）は、今
調べた列のピンには曲りが発生していると不良と
する。相関係数が大きい場合（分散をを用いた場
合小さい場合）次ぎの処理をするｋ。

次ぎに、真空吸着ヘツド３に吸着されたPGA
１の回転ブレに対しての画像メモリ２−１内の検
査ウインドウ位置を設定するために、求めた直線
の傾きａとこれに直交する傾きＡを算出するｌ。
基準ピンの重心座標Xg、Ygを通り、傾きａとＡ
を持つ２本の直線を基準直交軸（X′、Y′軸）と
して、再度、基準ピンの座標からX′、Y′方向に
向かつてPGA１のピンのピツチ分だけ移動させ
ながら、すべてのピンについて検査ウインドウを
設定して処理工程ｇ、ｈを繰り返し各ピンの重心
位置を求めるｍ。

上記した各ピンの重心位置を求めるために設定
した各検査ウインドウの中心位置と実際に求めた
各ピンの重心位置の差から全ピンのＸ、Ｙ方向の
ピン曲り量を算出して、ピン曲りを検査するｎ。

〔発明の効果〕

以上の説明から明らかなように、この発明によ
れば、ピン曲りが画像処理装置を用いて簡単に行
え、プリント板を製作する際に、品質を向上する
上できわめて有効な効果を発揮する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明によるピン曲り検出方法を説明
するための構成図、第２図は本発明の動作を説明
するためのフローチヤート、第３図は本発明のス
ライスレベルを決定するための濃度分布図、第４
図は本発明の基準ピンサーチ用ウインドウを示す
模式図、第５図は本発明の検査ウインドウを示す
模式図、第６図は本発明のピンのＸ軸方向の重心
位置を求めるための分布図、第７図は本発明のピ
ンのＹ軸方向の重心位置を求めるための分布図、
第８図は従来のピン曲りを検出する装置の要部構
造図である。第９図は従来装置によるピン先端の
撮像図である。 １はPGA、２は画像処理装置、２−１は画像
メモリ、２−３は主記憶装置、２−４は処理部を
示す。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 部品１のピン１−１〜１−ｎからの反射光に
   よつて映像を作成し、該映像から上記ピン１−１
   〜１−ｎの曲りを検出する画像処理装置であつ
   て、 上記映像をデイジタルデータに変換してＡ／Ｄ
   変換器２−２と、当該デイジタルデータに格納す
   る画像メモリ２−１を備え、 当該画像メモリ２−１に格納した全デイジタル
   データを基づいて輝度と画素数との濃度分布を作
   成して、ピン全体の断面積に等しい位置の輝度を
   スライスレベルとして前記デイジタルデータを上
   記画像メモリ２−１上で２値化し、 一方、上記画像メモリ２−１の特定領域に基準
   ピンサーチ用ウインドウ２−１−１を設定し、当
   該基準ピンサーチ用ウインドウ２−１−１を複数
   に分割して、この分割ウインドウの画素に格納さ
   れた映像輝度ついて直交軸方向の投影分布によ
   り、基準ピン１−１の重心位置を上記基準ピンサ
   ーチ用ウインドウ２−１−１の領域内に設定し、 この基準ピン１−１の位置により上記ピン１−
   １〜１−ｎに対応する検査ウインドウ２−１−２
   をそれぞれ設けて、各検査ウインドウ２−１−２
   においてのピン重心位置を検出し、各ピンの重心
   座標を通る直線の式を最小二乗法によつて求め
   て、前記ピン重心位置の座標に対する相関係数と
   予め設定した値と比較するか、または上記各検査
   ウインドウの中心位置と、実際に求めた各ピンの
   重心位置の差からピンの曲りを検出してなること
   を特徴とするピン曲り検出方法。