JP3038718B2 - リード部品の半田ブリッジ検査方法およびその装置 - Google Patents
リード部品の半田ブリッジ検査方法およびその装置Info
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- JP3038718B2 JP3038718B2 JP1025109A JP2510989A JP3038718B2 JP 3038718 B2 JP3038718 B2 JP 3038718B2 JP 1025109 A JP1025109 A JP 1025109A JP 2510989 A JP2510989 A JP 2510989A JP 3038718 B2 JP3038718 B2 JP 3038718B2
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Description
【発明の詳細な説明】 ＜産業上の利用分野＞ この発明は、複数本のリードを備えたリード部品につ
き隣合うリード間に半田ブリッジが存在するか否かを判
別するための半田ブリッジ検査方法およびその装置に関
する。
き隣合うリード間に半田ブリッジが存在するか否かを判
別するための半田ブリッジ検査方法およびその装置に関
する。
＜従来の技術＞ 従来この種の検査は、第４図に示す如く、基板上に実
装されたリード部品１へ一様な照明（図中矢印Ｌで示
す）を施し、この一様な照明下でリード部品１を撮像装
置２で撮像することにより行われる。
装されたリード部品１へ一様な照明（図中矢印Ｌで示
す）を施し、この一様な照明下でリード部品１を撮像装
置２で撮像することにより行われる。
前記リード部品１は両側に複数本のリード3a〜3dが等
間隔で並び、各リード3a〜3dの先端は基板上のランド部
４に半田付けされる。
間隔で並び、各リード3a〜3dの先端は基板上のランド部
４に半田付けされる。
第５図は、前記撮像装置２で得たリード部品１の画像
１′であって、図中3a′〜3d′は各リード3a〜3dの画像
を示している。これらリードのうち、両端位置のリード
3a,3dは基板へ適正に半田付けされているが、中間位置
のリード3b,3cはその相互間に半田が跨がり、半田ブリ
ッジ５が発生している。なお第５図中、５′は半田ブリ
ッジの画像である。またxy座標系は、画像上の位置を示
すためのものである。
１′であって、図中3a′〜3d′は各リード3a〜3dの画像
を示している。これらリードのうち、両端位置のリード
3a,3dは基板へ適正に半田付けされているが、中間位置
のリード3b,3cはその相互間に半田が跨がり、半田ブリ
ッジ５が発生している。なお第５図中、５′は半田ブリ
ッジの画像である。またxy座標系は、画像上の位置を示
すためのものである。
この半田ブリッジ５の有無を検査するのに、従来は、
各リードの画像間の位置にウィンドウ６を設定して、各
ウィンドウ６内の画像につき明るさの総和を求め、その
値の大小を比較することにより隣合うリード間に半田ブ
リッジが存在するか否かを判別している。
各リードの画像間の位置にウィンドウ６を設定して、各
ウィンドウ６内の画像につき明るさの総和を求め、その
値の大小を比較することにより隣合うリード間に半田ブ
リッジが存在するか否かを判別している。
第６図（１）（２）は、各ウィンドウ６内の画像につ
きリードの長さ方向に沿う画像の明るさの分布を示すも
ので、同図（１）は半田ブリッジが存在しない場合の明
るさの分布を、また同図（２）は半田ブリッジが存在す
る場合の明るさの分布を、それぞれ示している。
きリードの長さ方向に沿う画像の明るさの分布を示すも
ので、同図（１）は半田ブリッジが存在しない場合の明
るさの分布を、また同図（２）は半田ブリッジが存在す
る場合の明るさの分布を、それぞれ示している。
リード3b,3c間に半田ブリッジ５が発生していると、
その半田ブリッジ５の表面での反射光量が増大するた
め、その部分の画像の明るさが増し、その明るさの分布
には、第６図（２）に示すような突出部分７が現れる。
このような明るさの分布において、斜線部分の面積がウ
ィンドウ６内の明るさの総和に相当するもので、半田ブ
リッジの発生の有無に応じて明るさの総和に明確な差異
が現れる。
その半田ブリッジ５の表面での反射光量が増大するた
め、その部分の画像の明るさが増し、その明るさの分布
には、第６図（２）に示すような突出部分７が現れる。
このような明るさの分布において、斜線部分の面積がウ
ィンドウ６内の明るさの総和に相当するもので、半田ブ
リッジの発生の有無に応じて明るさの総和に明確な差異
が現れる。
＜発明が解決しようとする問題点＞ しかしながらこのような判別方法によると、基板が白
い色のセラミック基板である場合に、前記ウィンドウ６
内の画像の明るさの分布は、第７図（１）（２）に示す
如くになる。
い色のセラミック基板である場合に、前記ウィンドウ６
内の画像の明るさの分布は、第７図（１）（２）に示す
如くになる。
第７図（１）は半田ブリッジが存在しない場合の明る
さの分布を、また第７図（２）は半田ブリッジが存在す
る場合の明るさの分布を、それぞれ示している。
さの分布を、また第７図（２）は半田ブリッジが存在す
る場合の明るさの分布を、それぞれ示している。
基板が白い色のセラミック基板の場合、基板表面での
反射が強くなるため、明るさのレベルは、第７図（１）
（２）に示す如く、全体的に高いものとなる。そして半
田ブリッジが存在するものでは、半田ブリッジ５の像位
置での明るさの分布は、前後の傾斜部分8,9では正反射
成分が撮像装置２へ戻らないため落ち込み（第７図
（２）中、A,Bで示す）、中央の平坦部分10で突出（第
７図（２）中、Ｃで示す）するような形態となる。その
結果、ウィンドウ６内の明るさの総和には殆ど差異がな
くなり、総和の大小を比較する方法では半田ブリッジの
有無を判別することは困難である。
反射が強くなるため、明るさのレベルは、第７図（１）
（２）に示す如く、全体的に高いものとなる。そして半
田ブリッジが存在するものでは、半田ブリッジ５の像位
置での明るさの分布は、前後の傾斜部分8,9では正反射
成分が撮像装置２へ戻らないため落ち込み（第７図
（２）中、A,Bで示す）、中央の平坦部分10で突出（第
７図（２）中、Ｃで示す）するような形態となる。その
結果、ウィンドウ６内の明るさの総和には殆ど差異がな
くなり、総和の大小を比較する方法では半田ブリッジの
有無を判別することは困難である。
この発明は、上記問題に着目してなされたもので、リ
ード部品の画像上の各リード間において、リードの長さ
方向に沿って設定された複数のウィンドウ間における明
るさの変化の度合いを用いて半田ブリッジの有無を判別
することにより、基板がセラミック基板のように白い色
であっても、半田ブリッジの有無を安定して判別できる
リード部品の半田ブリッジ検査方法およびその装置を提
供することを目的とする。
ード部品の画像上の各リード間において、リードの長さ
方向に沿って設定された複数のウィンドウ間における明
るさの変化の度合いを用いて半田ブリッジの有無を判別
することにより、基板がセラミック基板のように白い色
であっても、半田ブリッジの有無を安定して判別できる
リード部品の半田ブリッジ検査方法およびその装置を提
供することを目的とする。
＜問題点を解決するための手段＞ 上記目的を達成するため、請求項１の発明では、複数
本のリードを備えたリード部品を一様な照明下で撮像
し、その画像上の各リード間に、それぞれリードの長さ
方向に沿って複数のウィンドウを設定して各ウィンドウ
内の明るさを求めた後、これらリードの長さ方向に沿う
ウィンドウ間の明るさの変化の度合いを所定のしきい値
と比較することにより、隣り合うリード間に半田ブリッ
ジが存在するか否かを判別するようにしている。
本のリードを備えたリード部品を一様な照明下で撮像
し、その画像上の各リード間に、それぞれリードの長さ
方向に沿って複数のウィンドウを設定して各ウィンドウ
内の明るさを求めた後、これらリードの長さ方向に沿う
ウィンドウ間の明るさの変化の度合いを所定のしきい値
と比較することにより、隣り合うリード間に半田ブリッ
ジが存在するか否かを判別するようにしている。
また請求項２の発明は、上記の方法を実施するための
装置であって、複数本のリードを備えたリード部品を一
様な照明下で撮像して得られた画像を入力する画像入力
手段と、前記画像入力手段により入力された画像上の各
リード間に、それぞれリードの長さ方向に沿って複数の
ウィンドウを設定して各ウィンドウ内の明るさを求めた
後、これらリードの長さ方向に沿うウィンドウ間におけ
る明るさの変化の度合いを求める画像処理手段と、前記
画像処理手段により求められた明るさの変化の度合いを
所定のしきい値と比較して、隣合うリード間に半田ブリ
ッジが存在するか否かを判別する判別手段とを備えてい
る。
装置であって、複数本のリードを備えたリード部品を一
様な照明下で撮像して得られた画像を入力する画像入力
手段と、前記画像入力手段により入力された画像上の各
リード間に、それぞれリードの長さ方向に沿って複数の
ウィンドウを設定して各ウィンドウ内の明るさを求めた
後、これらリードの長さ方向に沿うウィンドウ間におけ
る明るさの変化の度合いを求める画像処理手段と、前記
画像処理手段により求められた明るさの変化の度合いを
所定のしきい値と比較して、隣合うリード間に半田ブリ
ッジが存在するか否かを判別する判別手段とを備えてい
る。
＜作用＞ リード部品のリード間に半田ブリッジが存在する場
合、半田ブリッジの傾斜部分では正反射成分がカメラに
戻らず、その他の部分ではカメラに戻ってくるため、両
者間の明るさのギャップは大きなものとなる。このため
セラミック基板のような白い色の基板であっても、部品
の画像上の各リード間の位置において、それぞれリード
の長さ方向に沿って複数のウィンドウを設定し、これら
ウィンドウ間における明るさの変化の度合いを求める
と、リード間にはんだブリッジのある場合とない場合と
では、この度合いに顕著な差異が現れる。したがって画
像上のリード間において求められた明るさの変化の度合
いを所定のしきい値と比較して、はんだブリッジの有無
を判別することにより、安定して半田ブリッジの有無を
判別できる。
合、半田ブリッジの傾斜部分では正反射成分がカメラに
戻らず、その他の部分ではカメラに戻ってくるため、両
者間の明るさのギャップは大きなものとなる。このため
セラミック基板のような白い色の基板であっても、部品
の画像上の各リード間の位置において、それぞれリード
の長さ方向に沿って複数のウィンドウを設定し、これら
ウィンドウ間における明るさの変化の度合いを求める
と、リード間にはんだブリッジのある場合とない場合と
では、この度合いに顕著な差異が現れる。したがって画
像上のリード間において求められた明るさの変化の度合
いを所定のしきい値と比較して、はんだブリッジの有無
を判別することにより、安定して半田ブリッジの有無を
判別できる。
＜実施例＞ 第１図は、この発明の半田ブリッジ検査方法を実施す
るのに用いられる部品検査装置の全体構成を示してい
る。
るのに用いられる部品検査装置の全体構成を示してい
る。
図中、照明装置11は基板15上の被検査部品１へ一様な
照明を施すためのもので、例えばリング状の蛍光灯など
が用いられる。撮像装置２はテレビカメラなどであっ
て、被検査部品１の斜め上方位置にて被検査部品１から
の反射光を撮像する。
照明を施すためのもので、例えばリング状の蛍光灯など
が用いられる。撮像装置２はテレビカメラなどであっ
て、被検査部品１の斜め上方位置にて被検査部品１から
の反射光を撮像する。
制御装置12は、撮像装置２より映像信号を入力してそ
の画像にウィンドウ設定などの画像処理を施し被検査部
品１の隣合うリード間に半田ブリッジ５が生じているか
否かを検査すると共に、照明装置11の投光動作や撮像装
置２の撮像動作を制御信号により制御する。なお画像メ
モリ13は画像を格納し、モニタ14は画像を表示するため
のものである。
の画像にウィンドウ設定などの画像処理を施し被検査部
品１の隣合うリード間に半田ブリッジ５が生じているか
否かを検査すると共に、照明装置11の投光動作や撮像装
置２の撮像動作を制御信号により制御する。なお画像メ
モリ13は画像を格納し、モニタ14は画像を表示するため
のものである。
第２図は、前記撮像装置２で得た被検査部品１の画像
１′であって、図中3a′〜3d′はリード3a〜3dの画像
を、また５′は半田ブリッジ５の画像を、それぞれ示し
ている。これらリードのうち、両端位置のリード3a,3d
は基板へ適正に半田付けされているが、中間位置のリー
ド3b,3cはその相互間に半田が跨がって、半田ブリッジ
５が発生している。
１′であって、図中3a′〜3d′はリード3a〜3dの画像
を、また５′は半田ブリッジ５の画像を、それぞれ示し
ている。これらリードのうち、両端位置のリード3a,3d
は基板へ適正に半田付けされているが、中間位置のリー
ド3b,3cはその相互間に半田が跨がって、半田ブリッジ
５が発生している。
この半田ブリッジ５は、前後の傾斜部分8,9と中間の
平坦部分10とを含むものであり、前後の傾斜部分8,9に
ついては正反射成分は撮像装置２へ戻らず、その明るさ
は低下する（第７図（２）参照）。
平坦部分10とを含むものであり、前後の傾斜部分8,9に
ついては正反射成分は撮像装置２へ戻らず、その明るさ
は低下する（第７図（２）参照）。
この半田ブリッジ５の有無を検査するのに、各リード
の画像3a′,3b′間、3b′,3c′間、3c′,3d′間の各位
置に矩形状のウィンドウ16を設定し、各ウィンドウ16を
図中矢印で示すリードの長さ方向へ走査することによ
り、各ウィンドウ16内の画像につきリードの長さ方向の
明るさの空間微分値を求めている。
の画像3a′,3b′間、3b′,3c′間、3c′,3d′間の各位
置に矩形状のウィンドウ16を設定し、各ウィンドウ16を
図中矢印で示すリードの長さ方向へ走査することによ
り、各ウィンドウ16内の画像につきリードの長さ方向の
明るさの空間微分値を求めている。
この実施例の場合、各ウィンドウ16は縦幅を画像の１
画素に一致させ、また横幅をリード間の間隔に対応させ
ているが、縦幅および横幅は、これに限らないことは勿
論であり、また必要に応じてそのサイズや形状を変更す
ることも可能である。
画素に一致させ、また横幅をリード間の間隔に対応させ
ているが、縦幅および横幅は、これに限らないことは勿
論であり、また必要に応じてそのサイズや形状を変更す
ることも可能である。
そしてこの実施例の場合、前記明るさの空間微分値を
求めるのに、各ウィンドウ16を１画素づつ走査しつつ各
走査位置で各ウィンドウ16内の明るさの平均値（総和で
も良い）を求めると共に、前走査位置での明るさの平均
値と現走査位置での明るさの平均値との差分値を空間微
分値として求めている。
求めるのに、各ウィンドウ16を１画素づつ走査しつつ各
走査位置で各ウィンドウ16内の明るさの平均値（総和で
も良い）を求めると共に、前走査位置での明るさの平均
値と現走査位置での明るさの平均値との差分値を空間微
分値として求めている。
上記の構成において、制御装置12は照明装置11を作動
させて被検査部品１に一様な照明を施し、また撮像装置
２を作動させて被検査部品１からの反射光を撮像させ
る。
させて被検査部品１に一様な照明を施し、また撮像装置
２を作動させて被検査部品１からの反射光を撮像させ
る。
この場合に被検査部品１のリード3b,3c間に半田ブリ
ッジ５が存在する場合、半田ブリッジ５に当たった光の
うち、前後の傾斜部分8,9での正反射成分は撮像装置２
へ戻らず、その他の部分での正反射成分は撮像装置２に
戻ってくるため、基板がセラミック基板のような白い色
であっても、両者間の明るさのギャップは大きなものと
なる。
ッジ５が存在する場合、半田ブリッジ５に当たった光の
うち、前後の傾斜部分8,9での正反射成分は撮像装置２
へ戻らず、その他の部分での正反射成分は撮像装置２に
戻ってくるため、基板がセラミック基板のような白い色
であっても、両者間の明るさのギャップは大きなものと
なる。
この撮像装置２で得た被検査部品１の画像１′は制御
装置12に与えられるもので、制御装置12はその画像１′
の各リード間の位置へウィンドウ16を設定し、各ウィン
ドウ16を１画素づつリードの長さ方向へ走査しつつ各走
査位置で各ウィンドウ16内の明るさの平均値を求めると
共に、前走査位置での明るさの平均値と現走査位置での
明るさの平均値との差分値を空間微分値として求めてゆ
く。
装置12に与えられるもので、制御装置12はその画像１′
の各リード間の位置へウィンドウ16を設定し、各ウィン
ドウ16を１画素づつリードの長さ方向へ走査しつつ各走
査位置で各ウィンドウ16内の明るさの平均値を求めると
共に、前走査位置での明るさの平均値と現走査位置での
明るさの平均値との差分値を空間微分値として求めてゆ
く。
第３図（１）は半田ブリッジ５が存在しない場合の明
るさの差分値の変化を、また第３図（２）は半田ブリッ
ジ５が存在する場合の明るさの差分値の変化を、それぞ
れ示している。
るさの差分値の変化を、また第３図（２）は半田ブリッ
ジ５が存在する場合の明るさの差分値の変化を、それぞ
れ示している。
同図によれば、半田ブリッジの傾斜部分8,9では明る
さの差分値が大きな値（第３図（２）中、D1〜D4）をと
っている。従って明るさの差分値ＳとＳ所定のしきい値
TH1,TH2とを比較し、明るさの差分値がしきい値TH1,TH2
を越えるか否かをチェックすることにより、半田ブリッ
ジが存在するか否かを判別することができる。
さの差分値が大きな値（第３図（２）中、D1〜D4）をと
っている。従って明るさの差分値ＳとＳ所定のしきい値
TH1,TH2とを比較し、明るさの差分値がしきい値TH1,TH2
を越えるか否かをチェックすることにより、半田ブリッ
ジが存在するか否かを判別することができる。
＜発明の効果＞ この発明は上記の如く、複数本のリードを備えたリー
ド部品を一様な照明下で撮像し、その画像上の各リード
間の位置において、それぞれリードの長さ方向に沿って
複数のウィンドウを設定して各ウィンドウ内の明るさを
求め、これらリードの長さ方向に沿うウィンドウ間の明
るさの変化の度合いを所定のしきい値と比較することに
より隣合うリード間に半田ブリッジが存在するか否かを
判別するようにしたから、基板がセラミック基板のよう
に白い色であっても、半田ブリッジの有無を安定して判
別できるなど、発明目的を達成した顕著な効果を奏す
る。
ド部品を一様な照明下で撮像し、その画像上の各リード
間の位置において、それぞれリードの長さ方向に沿って
複数のウィンドウを設定して各ウィンドウ内の明るさを
求め、これらリードの長さ方向に沿うウィンドウ間の明
るさの変化の度合いを所定のしきい値と比較することに
より隣合うリード間に半田ブリッジが存在するか否かを
判別するようにしたから、基板がセラミック基板のよう
に白い色であっても、半田ブリッジの有無を安定して判
別できるなど、発明目的を達成した顕著な効果を奏す
る。
第１図はこの発明の半田ブリッジ検査方法を実施するた
めの部品検査装置の全体構成を示す説明図、第２図は部
品の画像とこの発明にかかるウィンドウの設定位置とを
拡大して示す説明図、第３図はウィンドウ内の明るさの
差分値が変化する状況を示す説明図、第４図は従来の部
品検査方法を示す説明図、第５図は部品の画像と従来の
ウィンドウの設定位置とを拡大して示す説明図、第６図
は通常の基板についてのウィンドウ内の明るさの変化状
況を示す説明図、第７図はセラミック基板についてのウ
ィンドウ内の明るさの変化状況を示す説明図である。 １……部品、3a〜3d……リード ２……撮像装置、５……半田ブリッジ 16……ウィンドウ
めの部品検査装置の全体構成を示す説明図、第２図は部
品の画像とこの発明にかかるウィンドウの設定位置とを
拡大して示す説明図、第３図はウィンドウ内の明るさの
差分値が変化する状況を示す説明図、第４図は従来の部
品検査方法を示す説明図、第５図は部品の画像と従来の
ウィンドウの設定位置とを拡大して示す説明図、第６図
は通常の基板についてのウィンドウ内の明るさの変化状
況を示す説明図、第７図はセラミック基板についてのウ
ィンドウ内の明るさの変化状況を示す説明図である。 １……部品、3a〜3d……リード ２……撮像装置、５……半田ブリッジ 16……ウィンドウ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 21/84 - 21/958 H05K 3/34
Claims (2)
- 【請求項１】複数本のリードを備えたリード部品を一様
な照明下で撮像し、その画像上の各リード間に、それぞ
れリードの長さ方向に沿って複数のウィンドウを設定し
て各ウィンドウ内の明るさを求めた後、これらリードの
長さ方向に沿うウィンドウ間における明るさの変化の度
合いを所定のしきい値と比較することにより隣り合うリ
ード間に半田ブリッジが存在するか否かを判別すること
を特徴とするリード部品の半田ブリッジ検査方法。 - 【請求項２】複数本のリードを備えたリード部品を一様
な照明下で撮像して得られた画像を入力する画像入力手
段と、 前記画像入力手段により入力された画像上の各リード間
に、それぞれリードの長さ方向に沿って複数のウィンド
ウを設定して各ウィンドウ内の明るさを求めた後、これ
らリードの長さ方向に沿うウィンドウ間における明るさ
の変化の度合いを求める画像処理手段と、 前記画像処理手段により求められた明るさの変化の度合
いを所定のしきい値と比較して、隣合うリード間に半田
ブリッジが存在するか否かを判別する判別手段とを備え
て成るリード部品の半田ブリッジ検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1025109A JP3038718B2 (ja) | 1989-02-02 | 1989-02-02 | リード部品の半田ブリッジ検査方法およびその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1025109A JP3038718B2 (ja) | 1989-02-02 | 1989-02-02 | リード部品の半田ブリッジ検査方法およびその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02203258A JPH02203258A (ja) | 1990-08-13 |
| JP3038718B2 true JP3038718B2 (ja) | 2000-05-08 |
Family
ID=12156761
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1025109A Expired - Fee Related JP3038718B2 (ja) | 1989-02-02 | 1989-02-02 | リード部品の半田ブリッジ検査方法およびその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3038718B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2743663B2 (ja) * | 1991-11-11 | 1998-04-22 | 松下電器産業株式会社 | 実装基板外観検査装置 |
| DE102009017695B3 (de) * | 2009-04-15 | 2010-11-25 | Göpel electronic GmbH | Verfahren zur Inspektion von Lötstellen an elektrischen und elektronischen Bauteilen |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02181602A (ja) * | 1989-01-07 | 1990-07-16 | Kunio Yamashita | ガルウィング型リードｉｃの半田付け外観検査装置 |
-
1989
- 1989-02-02 JP JP1025109A patent/JP3038718B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02203258A (ja) | 1990-08-13 |
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