JP3182936B2 - リード端部検出方法 - Google Patents
リード端部検出方法Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、カメラ画像のみにより
リード端部の座標を正確に検出できるようにしたリード
端部検出方法に関するものである。
リード端部の座標を正確に検出できるようにしたリード
端部検出方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】ＳＯＰ、ＱＦＰのような電子部品を基板
に実装する分野において、例えば、この電子部品から延
出するリードに半田付けが良好になされているかどうか
など、種々の判定が行われる。このような判定に先立
ち、まず判定の要部であるリードの端部の座標位置を求
めることが必要となる。
に実装する分野において、例えば、この電子部品から延
出するリードに半田付けが良好になされているかどうか
など、種々の判定が行われる。このような判定に先立
ち、まず判定の要部であるリードの端部の座標位置を求
めることが必要となる。
【０００３】さて、このような座標位置を求めるには、
従来、先端部の形状を含むパターンを作成し、このパタ
ーンがマッチングする座標を探すことにより行われてい
た。
従来、先端部の形状を含むパターンを作成し、このパタ
ーンがマッチングする座標を探すことにより行われてい
た。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、リード
の画像には、基板を照らす光源からの光が、他の電子部
品のリードなどにより２次反射して輝度が上昇すること
により、２次反射を受けない部分の輝度が相対的に低下
したり、リードの曲がりや電子部品の傾斜などにより輝
度が低下したりすることも多く、各リードについて一様
な画像が得られることは少ない。したがって、上記従来
手段では、リードの端部を示す像が欠けるなどの変形を
生じ、上記パターンと符合しないことがある。よって、
リードの先端部の座標を円滑、正確に検出することが困
難であるという問題点があった。
の画像には、基板を照らす光源からの光が、他の電子部
品のリードなどにより２次反射して輝度が上昇すること
により、２次反射を受けない部分の輝度が相対的に低下
したり、リードの曲がりや電子部品の傾斜などにより輝
度が低下したりすることも多く、各リードについて一様
な画像が得られることは少ない。したがって、上記従来
手段では、リードの端部を示す像が欠けるなどの変形を
生じ、上記パターンと符合しないことがある。よって、
リードの先端部の座標を円滑、正確に検出することが困
難であるという問題点があった。
【０００５】そこで本発明は、リードの端部座標を正確
に検出できるリード端部検出方法を提供することを目的
とする。
に検出できるリード端部検出方法を提供することを目的
とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、電子部品本体
から延出する複数のリード群の画像をカメラから取込む
ステップと、この画像において、リードを横断する第１
方向に予備走査してこのライン上の輝度分布を求め、こ
の輝度分布において所定輝度を備えた位置に第１方向の
走査限界ラインを設定するステップと、第１方向につ
き、走査限界ライン間において走査位置を前記第１方向
に直交する第２方向へ更新しながら繰り返し走査して輝
度累積比を求め、この輝度累積比が急変する座標を端部
の第１方向の座標とするステップと、第１方向に直交す
る第２方向につき、走査位置を更新しながら繰り返し走
査して輝度累積比を求め、この輝度累積比が急変する座
標を端部の第１方向の座標とするステップとを有する。
から延出する複数のリード群の画像をカメラから取込む
ステップと、この画像において、リードを横断する第１
方向に予備走査してこのライン上の輝度分布を求め、こ
の輝度分布において所定輝度を備えた位置に第１方向の
走査限界ラインを設定するステップと、第１方向につ
き、走査限界ライン間において走査位置を前記第１方向
に直交する第２方向へ更新しながら繰り返し走査して輝
度累積比を求め、この輝度累積比が急変する座標を端部
の第１方向の座標とするステップと、第１方向に直交す
る第２方向につき、走査位置を更新しながら繰り返し走
査して輝度累積比を求め、この輝度累積比が急変する座
標を端部の第１方向の座標とするステップとを有する。
【０００７】
【作用】上記構成により、まずリードを横断する第１方
向の予備走査がなされ、この方向の輝度分布から同方向
の走査限界ラインが設定される。ここで、同一のリード
画像中において、例えばノイズなどにより輝度が局部的
に低下していることがあり、同一のリードに関し、均一
な輝度分布が得られるとは限らない。したがって、この
輝度分布から定められる走査限界ラインが、リードの縁
部と一致しないことも多い。しかし、少なくともこの走
査ライン付近にリードが存在していることは確かであ
る。
向の予備走査がなされ、この方向の輝度分布から同方向
の走査限界ラインが設定される。ここで、同一のリード
画像中において、例えばノイズなどにより輝度が局部的
に低下していることがあり、同一のリードに関し、均一
な輝度分布が得られるとは限らない。したがって、この
輝度分布から定められる走査限界ラインが、リードの縁
部と一致しないことも多い。しかし、少なくともこの走
査ライン付近にリードが存在していることは確かであ
る。
【０００８】次いで、この第１方向につき、走査ライン
間において、走査位置を更新し、輝度累積比が急変する
位置が、端部の第１方向座標とされる。ここで、走査限
界ラインは所定輝度を備えた位置に特定されるので、上
記のように輝度が局部的に低下した位置を避けて走査を
行うこともできるし、複数のリードにわたって走査し、
全体として輝度の局部的低下の影響を薄くすることもで
きる。したがって、この輝度累積比及びこの比に基づく
端部の上記第１方向座標の信頼性は高い。そして、第２
方向についても、上記とほぼ同様に、輝度累積比の急変
により、端部の第２方向座標が定まる。よって、端部の
座標を正確に求めることができる。
間において、走査位置を更新し、輝度累積比が急変する
位置が、端部の第１方向座標とされる。ここで、走査限
界ラインは所定輝度を備えた位置に特定されるので、上
記のように輝度が局部的に低下した位置を避けて走査を
行うこともできるし、複数のリードにわたって走査し、
全体として輝度の局部的低下の影響を薄くすることもで
きる。したがって、この輝度累積比及びこの比に基づく
端部の上記第１方向座標の信頼性は高い。そして、第２
方向についても、上記とほぼ同様に、輝度累積比の急変
により、端部の第２方向座標が定まる。よって、端部の
座標を正確に求めることができる。
【０００９】しかも、第１方向については、走査限界ラ
イン間という限定された範囲内のみで精緻な走査が行わ
れるので、電子部品の側辺近傍全体を精密に走査するの
に比べ、走査範囲が狭くそれだけ処理時間を短縮でき
る。
イン間という限定された範囲内のみで精緻な走査が行わ
れるので、電子部品の側辺近傍全体を精密に走査するの
に比べ、走査範囲が狭くそれだけ処理時間を短縮でき
る。
【００１０】
【実施例】次に、図面を参照しながら本発明の一実施例
を説明する。
を説明する。
【００１１】図１は、本発明の一実施例に係るリード端
部検出方法を用いた画像処理系の正面図、図２は同方法
に沿うフローチャート、図３はカメラ画像の例示図、図
４はライン走査の説明図、図５はリード幅方向走査の説
明図、図６は同長さ方向走査の説明図である。ここで、
本明細書中において、ライン走査とは、スタート点の画
素から順に１画素幅で１画素毎にこの画素のデータ（輝
度等）を抽出してゆく処理のことをいう。
部検出方法を用いた画像処理系の正面図、図２は同方法
に沿うフローチャート、図３はカメラ画像の例示図、図
４はライン走査の説明図、図５はリード幅方向走査の説
明図、図６は同長さ方向走査の説明図である。ここで、
本明細書中において、ライン走査とは、スタート点の画
素から順に１画素幅で１画素毎にこの画素のデータ（輝
度等）を抽出してゆく処理のことをいう。
【００１２】さて、図１において、１は回路パターンＤ
（図３参照）が上面に形成された基板、Ｍはこの回路パ
ターンＤ上に搭載されたＳＯＰ，ＱＦＰなどの電子部品
本体、ＬＰはこの本体Ｍの各辺から多数延出するリー
ド、３，４は基板１を位置決めするＸテーブル，Ｙテー
ブル、５，６はこれらＸテーブル３，Ｙテーブル４の駆
動用モータである。
（図３参照）が上面に形成された基板、Ｍはこの回路パ
ターンＤ上に搭載されたＳＯＰ，ＱＦＰなどの電子部品
本体、ＬＰはこの本体Ｍの各辺から多数延出するリー
ド、３，４は基板１を位置決めするＸテーブル，Ｙテー
ブル、５，６はこれらＸテーブル３，Ｙテーブル４の駆
動用モータである。
【００１３】また、７は基板１などを観察するカメラ、
８は光源、９はカメラ７に取込まれた画像データをメモ
リなどの画像データ記憶部１０へ格納したり、このデー
タに対し、図２のフローチャートに沿う処理を施す画像
処理部である。
８は光源、９はカメラ７に取込まれた画像データをメモ
リなどの画像データ記憶部１０へ格納したり、このデー
タに対し、図２のフローチャートに沿う処理を施す画像
処理部である。
【００１４】次に図２のフローチャートに沿って本手段
の各ステップを説明する。まず、カメラ７にリード近傍
の画像を取込む（ステップ１）。図３において、ｘ，ｙ
は横軸と縦軸、ＳＡは半田ＳＤの良否判定を行うべく、
カメラの視野内に所定されるサーチエリア、ＬＱ、Ｌ
Ｒ、ＬＳ、ＬＴはリードである。そして、点（ｘＥ，ｙ
Ｅ１）が求めるリードＬＰの端部座標、点（ｘＥ２，ｙ
Ｅ２）はリードＬＴの端部座標である。そして、上記第
１方向としてのｘ方向をリードＬＰ、・・・の幅方向と
し、この第１方向に直交する上記第２方向としてのｙ方
向をリードＬＰ、・・・の長さ方向にとっている。もち
ろん、この方向を互いに入れ替えても差支えない。
の各ステップを説明する。まず、カメラ７にリード近傍
の画像を取込む（ステップ１）。図３において、ｘ，ｙ
は横軸と縦軸、ＳＡは半田ＳＤの良否判定を行うべく、
カメラの視野内に所定されるサーチエリア、ＬＱ、Ｌ
Ｒ、ＬＳ、ＬＴはリードである。そして、点（ｘＥ，ｙ
Ｅ１）が求めるリードＬＰの端部座標、点（ｘＥ２，ｙ
Ｅ２）はリードＬＴの端部座標である。そして、上記第
１方向としてのｘ方向をリードＬＰ、・・・の幅方向と
し、この第１方向に直交する上記第２方向としてのｙ方
向をリードＬＰ、・・・の長さ方向にとっている。もち
ろん、この方向を互いに入れ替えても差支えない。
【００１５】次に、相隣る２本のリードＬＰ，ＬＱの基
端部を、幅方向（矢印Ｎ１）に予備走査し、このライン
上の輝度分布を取得する（ステップ２）。ここで、予備
走査とは、リードのおおまかな位置を決定するための走
査をいい、その一例として、上記ライン走査をあげるこ
とができる。なお、リードの基端部をライン走査するこ
ととしたのは、この基端部は、通常水平になっており、
リードの曲がりによる輝度変化を生じにくいためであ
る。しかし、図４（ａ）に拡大して示すように、左方の
リードＬＰにはノイズによって輝度が低下した部分Ｎが
ある。したがって、求めた輝度分布（図４（ｂ））にお
いて、左方のリードＬＰの略中央部に輝度低下があらわ
れている。
端部を、幅方向（矢印Ｎ１）に予備走査し、このライン
上の輝度分布を取得する（ステップ２）。ここで、予備
走査とは、リードのおおまかな位置を決定するための走
査をいい、その一例として、上記ライン走査をあげるこ
とができる。なお、リードの基端部をライン走査するこ
ととしたのは、この基端部は、通常水平になっており、
リードの曲がりによる輝度変化を生じにくいためであ
る。しかし、図４（ａ）に拡大して示すように、左方の
リードＬＰにはノイズによって輝度が低下した部分Ｎが
ある。したがって、求めた輝度分布（図４（ｂ））にお
いて、左方のリードＬＰの略中央部に輝度低下があらわ
れている。
【００１６】次いで、この輝度分布において所定輝度Ｔ
Ｈ以上となる限界位置に、走査限界ラインを設定する。
この例では、ｘ１〜ｘ２、ｘ３〜ｘ４、ｘ５〜ｘ６間が
所定輝度ＴＨ以上となっている。本実施例では、ｘ座標
が最小（ｘ１）のラインＬ１と同最大（ｘ６）のライン
Ｌ６を走査限界ラインとし、２本のリードにわたって走
査を行い、上記部分Ｎの影響を減ずることにする。なお
例えば、ラインＬ１とラインＬ２を走査限界ラインとし
ても、後述するのと同様に、座標ｙＥ１を正しく求める
ことができる。
Ｈ以上となる限界位置に、走査限界ラインを設定する。
この例では、ｘ１〜ｘ２、ｘ３〜ｘ４、ｘ５〜ｘ６間が
所定輝度ＴＨ以上となっている。本実施例では、ｘ座標
が最小（ｘ１）のラインＬ１と同最大（ｘ６）のライン
Ｌ６を走査限界ラインとし、２本のリードにわたって走
査を行い、上記部分Ｎの影響を減ずることにする。なお
例えば、ラインＬ１とラインＬ２を走査限界ラインとし
ても、後述するのと同様に、座標ｙＥ１を正しく求める
ことができる。
【００１７】さて、次にリードＬＰ，ＬＱの基端部側に
適当にスタートラインＭ１を設定し、このスタートライ
ンＭ１において、上記走査限界ラインＬ１とラインＬ６
の間をリード幅方向にライン走査し、このライン上の輝
度累積値（画素の輝度情報の累積値）を求める（ステッ
プ４）。またここで、輝度累積比を１としておく。そし
て、次のラインＭ２上で同様に走査し、輝度累積値を求
める。そして、前ラインＭ１における輝度累積値と、現
ラインＭ２における輝度累積値の比（輝度累積比）を求
める。ここで、この累積比が、予め設定されたしきい値
ＴＨ１（例えば、０・５位）と比較される（ステップ
５）。そして、この累積比がしきい値を下回るまで、走
査ラインをリード長さ方向（矢印Ａ参照）へ更新し、上
記処理が繰り返される。
適当にスタートラインＭ１を設定し、このスタートライ
ンＭ１において、上記走査限界ラインＬ１とラインＬ６
の間をリード幅方向にライン走査し、このライン上の輝
度累積値（画素の輝度情報の累積値）を求める（ステッ
プ４）。またここで、輝度累積比を１としておく。そし
て、次のラインＭ２上で同様に走査し、輝度累積値を求
める。そして、前ラインＭ１における輝度累積値と、現
ラインＭ２における輝度累積値の比（輝度累積比）を求
める。ここで、この累積比が、予め設定されたしきい値
ＴＨ１（例えば、０・５位）と比較される（ステップ
５）。そして、この累積比がしきい値を下回るまで、走
査ラインをリード長さ方向（矢印Ａ参照）へ更新し、上
記処理が繰り返される。
【００１８】図５（ｂ）はこのように求めた輝度累積比
の例示図である。この図に示される曲線において、上記
部分Ｎの下部に対応する位置で、輝度累積比の低下があ
るが、上記しきい値ＴＨ１を適切（小さめ）に設定する
ことにより、このような低下の影響をなくすことができ
る。そして、走査ラインＭｎ、Ｍｎ＋１間で、走査ライ
ンがリードの先端部を外れ、輝度累積比が大きく低下
し、しきい値ＴＨ１を低まわる。そして、このときのｙ
座標（ｙＥ１）が、リードの端部のｙ座標と決定される
（ステップ７）。
の例示図である。この図に示される曲線において、上記
部分Ｎの下部に対応する位置で、輝度累積比の低下があ
るが、上記しきい値ＴＨ１を適切（小さめ）に設定する
ことにより、このような低下の影響をなくすことができ
る。そして、走査ラインＭｎ、Ｍｎ＋１間で、走査ライ
ンがリードの先端部を外れ、輝度累積比が大きく低下
し、しきい値ＴＨ１を低まわる。そして、このときのｙ
座標（ｙＥ１）が、リードの端部のｙ座標と決定される
（ステップ７）。
【００１９】次に、図６に示すように、走査方向が上記
と９０度（第２方向に）変更される。ここで、本実施例
では、ラインＬ４とラインＬ５の間の適当な位置にスタ
ートラインＳＴを設定し、リード長さ方向の走査を開始
する（ステップ８）。なお、このスタートラインＳＴ
は、例えばラインＬ４とするなど便宜変更してもよい。
と９０度（第２方向に）変更される。ここで、本実施例
では、ラインＬ４とラインＬ５の間の適当な位置にスタ
ートラインＳＴを設定し、リード長さ方向の走査を開始
する（ステップ８）。なお、このスタートラインＳＴ
は、例えばラインＬ４とするなど便宜変更してもよい。
【００２０】そして、上記処理と同様図６の矢印Ｂのよ
うに輝度累積比がしきい値ＴＨ２を下回るまでライン走
査を繰り返し、下回ったときのｘ座標を求める端部のｘ
座標（ｘＥ１）とする。
うに輝度累積比がしきい値ＴＨ２を下回るまでライン走
査を繰り返し、下回ったときのｘ座標を求める端部のｘ
座標（ｘＥ１）とする。
【００２１】
【発明の効果】本発明によれば、リード画像に対するノ
イズの影響を抑制して、正確な端部検出を行うことがで
きる。
イズの影響を抑制して、正確な端部検出を行うことがで
きる。
【図１】本発明の一実施例に係るリード端部検出方法を
用いた画像処理系の正面図
用いた画像処理系の正面図
【図２】本発明の一実施例に係るリード端部検出方法を
示すフローチャート
示すフローチャート
【図３】本発明の一実施例に係るリード端部検出方法に
よる画像例示図
よる画像例示図
【図４】（ａ） 本発明の一実施例に係るリード端部検
出方法による画像拡大図 （ｂ） 本発明の一実施例に係るリード端部検出方法に
よる輝度分布図
出方法による画像拡大図 （ｂ） 本発明の一実施例に係るリード端部検出方法に
よる輝度分布図
【図５】（ａ） 本発明の一実施例に係るリード端部検
出方法による画像拡大図 （ｂ） 本発明の一実施例に係るリード端部検出方法に
よる輝度累積比分布図
出方法による画像拡大図 （ｂ） 本発明の一実施例に係るリード端部検出方法に
よる輝度累積比分布図
【図６】（ａ） 本発明の一実施例に係るリード端部検
出方法による画像拡大図 （ｂ） 本発明の一実施例に係るリード端部検出方法に
よる輝度累積比分布図
出方法による画像拡大図 （ｂ） 本発明の一実施例に係るリード端部検出方法に
よる輝度累積比分布図
７ カメラ Ｍ 電子部品本体 ＬＰ リード ＬＱ リード Ｌ１ 走査限界ライン Ｌ２ 走査限界ライン
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01B 11/00 - 11/30 102
Claims (3)
- 【請求項１】電子部品本体から延出する複数のリード群
の画像をカメラから取込むステップと、 この画像において、リードを横断する第１方向に予備走
査してこのライン上の輝度分布を求め、この輝度分布に
おいて所定輝度を備えた位置に前記第１方向の走査限界
ラインを設定するステップと、前 記第１方向につき、前記走査限界ライン間において走
査位置を前記第１方向に直交する第２方向へ更新しなが
ら繰り返し走査して輝度累積比を求め、この輝度累積比
が急変する座標を端部の前記第２方向の座標とするステ
ップと、前 記第１方向に直交する第２方向につき、走査位置を更
新しながら繰り返し走査して輝度累積比を求め、この輝
度累積比が急変する座標を端部の前記第１方向の座標と
するステップとを有することを特徴とするリード端部検
出方法。 - 【請求項２】電子部品本体から延出する複数のリード群
の画像をカメラから取込むステップと、 この画像において、リードを横断する第１方向に予備走
査してこのライン上の輝度分布を求め、この輝度分布に
基づいて前記第１方向の走査限界ラインを設定するステ
ップと、 前記走査限界ライン間において、リードの基端部側に設
定した走査ライン上を走査して前記第１方向の輝度情報
の累積値を求めるステップと、 前記走査ラインをリード先端方向へ更新しながら輝度情
報の累積値を求め、前の走査ラインにおける輝度情報の
累積値と現走査ラインにおける輝度情報の累積値との比
が急変する座標をリード端部の座標とするステップを含
むことを特徴とするリード端部検出方法。 - 【請求項３】前記走査ラインは複数のリードを横断する
ことを特徴とする請求項２記載のリード端部検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31472392A JP3182936B2 (ja) | 1992-11-25 | 1992-11-25 | リード端部検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31472392A JP3182936B2 (ja) | 1992-11-25 | 1992-11-25 | リード端部検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06160040A JPH06160040A (ja) | 1994-06-07 |
| JP3182936B2 true JP3182936B2 (ja) | 2001-07-03 |
Family
ID=18056798
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31472392A Expired - Fee Related JP3182936B2 (ja) | 1992-11-25 | 1992-11-25 | リード端部検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3182936B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4596324B2 (ja) * | 2005-11-16 | 2010-12-08 | 富士機械製造株式会社 | 電子部品のリード幅検出位置決定方法及びリード幅検出方法並びにそれらの装置 |
| CN106415192B (zh) * | 2014-06-06 | 2019-05-03 | 株式会社富士 | 引线图像识别方法及识别装置以及图像处理用元件数据生成方法及生成装置 |
| JP6192128B2 (ja) * | 2015-07-28 | 2017-09-06 | 有限会社丸之内マシーナリ | 測定装置 |
-
1992
- 1992-11-25 JP JP31472392A patent/JP3182936B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06160040A (ja) | 1994-06-07 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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