JPH06160040A

JPH06160040A - リード端部検出方法

Info

Publication number: JPH06160040A
Application number: JP4314723A
Authority: JP
Inventors: Hirofumi Matsuzaki; 浩文松崎
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 1992-11-25
Filing date: 1992-11-25
Publication date: 1994-06-07
Anticipated expiration: 2016-07-03
Also published as: JP3182936B2

Abstract

(57)【要約】【目的】正確なリード端部検出を行えるリード端部検
出方法を提供する。【構成】電子部品本体から延出する、複数のリード群
の画像をカメラから取込むステップと、この画像におい
て、リードを横断する方向に予備走査し、このライン上
の輝度分布を求め、この輝度分布において、所定輝度を
備えた位置に、第１方向の走査限界ラインを設定するス
テップと、第１方向につき、走査限界ライン間におい
て、走査位置を更新しながら、繰り返し走査して、輝度
累積比が急変する座標を、端部の第１方向の座標とする
ステップと、第１方向に直交する第２方向につき、走査
位置を更新しながら、繰り返し走査して、輝度累積比が
急変する座標を、端部の第２方向の座標とするステップ
とを有する。【効果】ノイズによる輝度低下の影響を小さくでき
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、カメラ画像のみにより
リード端部の座標を正確に検出できるようにしたリード
端部検出方法に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】ＳＯＰ、ＱＦＰのような電子部品を基板
に実装する分野において、例えば、この電子部品から延
出するリードに半田付けが良好になされているかどうか
など、種々の判定が行われる。このような判定に先立
ち、まず判定の要部であるリードの端部の座標位置を求
めることが必要となる。

【０００３】さて、このような座標位置を求めるには、
従来、先端部の形状を含むパターンを作成し、このパタ
ーンがマッチングする座標を探すことにより行われてい
た。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、リード
の画像には、基板を照らす光源からの光が、他の電子部
品のリードなどにより２次反射して輝度が上昇すること
により、２次反射を受けない部分の輝度が相対的に低下
したり、リードの曲がりや電子部品の傾斜などにより輝
度が低下したりすることも多く、各リードについて一様
な画像が得られることは少ない。したがって、上記従来
手段では、リードの端部を示す像が欠けるなどの変形を
生じ、上記パターンと符合しないことがある。よって、
リードの先端部の座標を円滑、正確に検出することが困
難であるという問題点があった。

【０００５】そこで本発明は、リードの端部座標を正確
に検出できるリード端部検出方法を提供することを目的
とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】本発明は、電子部品本体
から延出する、複数のリード群の画像をカメラから取込
むステップと、この画像において、リードを横断する第
１方向に予備走査し、このライン上の輝度分布を求め、
この輝度分布において、所定輝度を備えた位置に、第１
方向の走査限界ラインを設定するステップと、第１方向
につき、走査限界ライン間において、走査位置を更新し
ながら、繰り返し走査して、輝度累積比が急変する座標
を、端部の第１方向の座標とするステップと、第１方向
に直交する第２方向につき、走査位置を更新しながら、
繰り返し走査して、輝度累積比が急変する座標を、端部
の第２方向の座標とするステップとを有する。

【０００７】

【作用】上記構成により、まずリードを横断する第１方
向の予備走査がなされ、この方向の輝度分布から同方向
の走査限界ラインが設定される。ここで、同一のリード
画像中において、例えばノイズなどにより輝度が局部的
に低下していることがあり、同一のリードに関し、均一
な輝度分布が得られるとは限らない。したがって、この
輝度分布から定められる走査限界ラインが、リードの縁
部と一致しないことも多い。しかし、少なくともこの走
査ライン付近にリードが存在していることは確かであ
る。

【０００８】次いで、この第１方向につき、走査ライン
間において、走査位置を更新し、輝度累積比が急変する
位置が、端部の第１方向座標とされる。ここで、走査限
界ラインは所定輝度を備えた位置に特定されるので、上
記のように輝度が局部的に低下した位置を避けて走査を
行うこともできるし、複数のリードにわたって走査し、
全体として輝度の局部的低下の影響を薄くすることもで
きる。したがって、この輝度累積比及びこの比に基づく
端部の上記第１方向座標の信頼性は高い。そして、第２
方向についても、上記とほぼ同様に、輝度累積比の急変
により、端部の第２方向座標が定まる。よって、端部の
座標を正確に求めることができる。

【０００９】しかも、第１方向については、走査限界ラ
イン間という限定された範囲内のみで精緻な走査が行わ
れるので、電子部品の側辺近傍全体を精密に走査するの
に比べ、走査範囲が狭くそれだけ処理時間を短縮でき
る。

【００１０】

【実施例】次に、図面を参照しながら本発明の一実施例
を説明する。

【００１１】図１は、本発明の一実施例に係るリード端
部検出方法を用いた画像処理系の正面図、図２は同方法
に沿うフローチャート、図３はカメラ画像の例示図、図
４はライン走査の説明図、図５はリード幅方向走査の説
明図、図６は同長さ方向走査の説明図である。ここで、
本明細書中において、ライン走査とは、スタート点の画
素から順に１画素幅で１画素毎にこの画素のデータ（輝
度等）を抽出してゆく処理のことをいう。

【００１２】さて、図１において、１は回路パターンＤ
（図３参照）が上面に形成された基板、Ｍはこの回路パ
ターンＤ上に搭載されたＳＯＰ，ＱＦＰなどの電子部品
本体、ＬＰはこの本体Ｍの各辺から多数延出するリー
ド、３，４は基板１を位置決めするＸテーブル，Ｙテー
ブル、５，６はこれらＸテーブル３，Ｙテーブル４の駆
動用モータである。

【００１３】また、７は基板１などを観察するカメラ、
８は光源、９はカメラ７に取込まれた画像データをメモ
リなどの画像データ記憶部１０へ格納したり、このデー
タに対し、図２のフローチャートに沿う処理を施す画像
処理部である。

【００１４】次に図２のフローチャートに沿って本手段
の各ステップを説明する。まず、カメラ７にリード近傍
の画像を取込む（ステップ１）。図３において、ｘ，ｙ
は横軸と縦軸、ＳＡは半田ＳＤの良否判定を行うべく、
カメラの視野内に所定されるサーチエリア、ＬＱ、Ｌ
Ｒ、ＬＳ、ＬＴはリードである。そして、点（ｘＥ，ｙ
Ｅ１）が求めるリードＬＰの端部座標、点（ｘＥ２，ｙ
Ｅ２）はリードＬＴの端部座標である。そして、上記第
１方向としてのｘ方向をリードＬＰ、・・・の幅方向と
し、この第１方向に直交する上記第２方向としてのｙ方
向をリードＬＰ、・・・の長さ方向にとっている。もち
ろん、この方向を互いに入れ替えても差支えない。

【００１５】次に、相隣る２本のリードＬＰ，ＬＱの基
端部を、幅方向（矢印Ｎ１）に予備走査し、このライン
上の輝度分布を取得する（ステップ２）。ここで、予備
走査とは、リードのおおまかな位置を決定するための走
査をいい、その一例として、上記ライン走査をあげるこ
とができる。なお、リードの基端部をライン走査するこ
ととしたのは、この基端部は、通常水平になっており、
リードの曲がりによる輝度変化を生じにくいためであ
る。しかし、図４（ａ）に拡大して示すように、左方の
リードＬＰにはノイズによって輝度が低下した部分Ｎが
ある。したがって、求めた輝度分布（図４（ｂ））にお
いて、左方のリードＬＰの略中央部に輝度低下があらわ
れている。

【００１６】次いで、この輝度分布において所定輝度Ｔ
Ｈ以上となる限界位置に、走査限界ラインを設定する。
この例では、ｘ１〜ｘ２、ｘ３〜ｘ４、ｘ５〜ｘ６間が
所定輝度ＴＨ以上となっている。本実施例では、ｘ座標
が最小（ｘ１）のラインＬ１と同最大（ｘ６）のライン
Ｌ６を走査限界ラインとし、２本のリードにわたって走
査を行い、上記部分Ｎの影響を減ずることにする。なお
例えば、ラインＬ１とラインＬ２を走査限界ラインとし
ても、後述するのと同様に、座標ｙＥ１を正しく求める
ことができる。

【００１７】さて、次にリードＬＰ，ＬＱの基端部側に
適当にスタートラインＭ１を設定し、このスタートライ
ンＭ１において、上記走査限界ラインＬ１とラインＬ６
の間をリード幅方向にライン走査し、このライン上の輝
度累積値（画素の輝度情報の累積値）を求める（ステッ
プ４）。またここで、輝度累積比を１としておく。そし
て、次のラインＭ２上で同様に走査し、輝度累積値を求
める。そして、前ラインＭ１における輝度累積値と、現
ラインＭ２における輝度累積値の比（輝度累積比）を求
める。ここで、この累積比が、予め設定されたしきい値
ＴＨ１（例えば、０・５位）と比較される（ステップ
５）。そして、この累積比がしきい値を下回るまで、走
査ラインをリード長さ方向（矢印Ａ参照）へ更新し、上
記処理が繰り返される。

【００１８】図５（ｂ）はこのように求めた輝度累積比
の例示図である。この図に示される曲線において、上記
部分Ｎの下部に対応する位置で、輝度累積比の低下があ
るが、上記しきい値ＴＨ１を適切（小さめ）に設定する
ことにより、このような低下の影響をなくすことができ
る。そして、走査ラインＭｎ、Ｍｎ＋１間で、走査ライ
ンがリードの先端部を外れ、輝度累積比が大きく低下
し、しきい値ＴＨ１を低まわる。そして、このときのｙ
座標（ｙＥ１）が、リードの端部のｙ座標と決定される
（ステップ７）。

【００１９】次に、図６に示すように、走査方向が上記
と９０度（第２方向に）変更される。ここで、本実施例
では、ラインＬ４とラインＬ５の間の適当な位置にスタ
ートラインＳＴを設定し、リード長さ方向の走査を開始
する（ステップ８）。なお、このスタートラインＳＴ
は、例えばラインＬ４とするなど便宜変更してもよい。

【００２０】そして、上記処理と同様図６の矢印Ｂのよ
うに輝度累積比がしきい値ＴＨ２を下回るまでライン走
査を繰り返し、下回ったときのｘ座標を求める端部のｘ
座標（ｘＥ１）とする。

【００２１】

【発明の効果】本発明は、電子部品本体から延出する、
複数のリード群の画像をカメラから取込むステップと、
この画像において、リードを横断する第１方向に予備走
査し、このライン上の輝度分布を求め、この輝度分布に
おいて、所定輝度を備えた位置に、第１方向の走査限界
ラインを設定するステップと、第１方向につき、走査限
界ライン間において、走査位置を更新しながら、繰り返
し走査して、輝度累積比が急変する座標を、端部の第１
方向の座標とするステップと、第１方向に直交する第２
方向につき、走査位置を更新しながら、繰り返し走査し
て、輝度累積比が急変する座標を、端部の第２方向の座
標とするステップとを有する。したがって、リード画像
に対するノイズの影響を抑制して、正確な端部検出を行
うことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例に係るリード端部検出方法を
用いた画像処理系の正面図

【図２】本発明の一実施例に係るリード端部検出方法を
示すフローチャート

【図３】本発明の一実施例に係るリード端部検出方法に
よる画像例示図

【図４】（ａ）本発明の一実施例に係るリード端部検
出方法による画像拡大図（ｂ）本発明の一実施例に係るリード端部検出方法に
よる輝度分布図

【図５】（ａ）本発明の一実施例に係るリード端部検
出方法による画像拡大図（ｂ）本発明の一実施例に係るリード端部検出方法に
よる輝度累積比分布図

【図６】（ａ）本発明の一実施例に係るリード端部検
出方法による画像拡大図（ｂ）本発明の一実施例に係るリード端部検出方法に
よる輝度累積比分布図

【符号の説明】

７カメラＭ電子部品本体ＬＰリードＬＱリードＬ１走査限界ラインＬ２走査限界ライン

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】電子部品本体から延出する、複数のリード
群の画像をカメラから取込むステップと、この画像において、リードを横断する第１方向に予備走
査し、このライン上の輝度分布を求め、この輝度分布に
おいて、所定輝度を備えた位置に、上記第１方向の走査
限界ラインを設定するステップと、上記第１方向につき、上記走査限界ライン間において、
走査位置を更新しながら、繰り返し走査して、輝度累積
比が急変する座標を、端部の上記第１方向の座標とする
ステップと、上記第１方向に直交する第２方向につき、走査位置を更
新しながら、繰り返し走査して、輝度累積比が急変する
座標を、端部の上記第２方向の座標とするステップとを
有することを特徴とするリード端部検出方法。